JPS61226639A - 投入式成分々析計 - Google Patents
投入式成分々析計Info
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- JPS61226639A JPS61226639A JP6883985A JP6883985A JPS61226639A JP S61226639 A JPS61226639 A JP S61226639A JP 6883985 A JP6883985 A JP 6883985A JP 6883985 A JP6883985 A JP 6883985A JP S61226639 A JPS61226639 A JP S61226639A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- prism
- light
- component analyzer
- solution
- incident
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/43—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length by measuring critical angle
- G01N21/431—Dip refractometers, e.g. using optical fibres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は光学式成分々析計において、流動する溶液中の
特定成分をいちいちサンプリングすることなく、その場
所で効率良くしかも連続的に測定できるようにした新た
な光学式成分々析計を提供するものである。
特定成分をいちいちサンプリングすることなく、その場
所で効率良くしかも連続的に測定できるようにした新た
な光学式成分々析計を提供するものである。
従来から溶液中の特定成分を測定する方法として、光学
式成分々析計が使用されて来たが、従来の方法は溶液の
一部をその都度サンプリングし、これを分析してその値
を求めるのが一般的であった。しかしこの方法では成分
を精度よく測定できるという利点はあるが工場等で試料
が連続的に流れている状態、例えばビール工場等におけ
るアルコール濃度の測定等においては測定に時間がか−
りしかも連続的に測定できないため精密な品質の制御が
できない等の欠点があった。しかし従来はこれ等に対す
る適当な対策が無かつたため、上記に示す方法により成
分を測定していたのが現状である。
式成分々析計が使用されて来たが、従来の方法は溶液の
一部をその都度サンプリングし、これを分析してその値
を求めるのが一般的であった。しかしこの方法では成分
を精度よく測定できるという利点はあるが工場等で試料
が連続的に流れている状態、例えばビール工場等におけ
るアルコール濃度の測定等においては測定に時間がか−
りしかも連続的に測定できないため精密な品質の制御が
できない等の欠点があった。しかし従来はこれ等に対す
る適当な対策が無かつたため、上記に示す方法により成
分を測定していたのが現状である。
これに対し本発明は、光学分析計が成分々析に適切であ
ることを利用して、光学分析計のセンサ一部分を直接流
動する液体中に浸漬して成分な測定するようにしたもの
で、センサーにはその内部で光を多重に反射するプリズ
ムを使用し、これにより化学的にも安定で、しかも即応
性を有し又連続的に測定することのできる新規な光学式
成分々析計を提供するものである。
ることを利用して、光学分析計のセンサ一部分を直接流
動する液体中に浸漬して成分な測定するようにしたもの
で、センサーにはその内部で光を多重に反射するプリズ
ムを使用し、これにより化学的にも安定で、しかも即応
性を有し又連続的に測定することのできる新規な光学式
成分々析計を提供するものである。
第1図は本装置の基本構造を示すものである。
図において、光源+11から発した光は特定波長を透過
する回転フィルター(2)を通ってプリズム(3)の入
光部(a)に達し、プリズム(3)内に入った光はプリ
ズム(3)内の両側面(d−d’)を次々と数10回の
反射を繰り返しながら進光し、他端部(C)で屈折反転
して再び両側面(d−d’)での反射を繰り返しながら
入光部(a)に隣接する出光部(b)に到達し、その光
が受光されて受光信号となる。か〜る構造においてプリ
ズム(31部分は溶液中に浸漬可能な構造とし、これに
より入射光の一部は溶液中の成分に吸収され(吸収性を
持たない参照光はそのま匁である。)プリズム(3)を
出た光は受光フィルター(4)を通り受光素子に受は入
れられ電気信号に変換されてその値が指示器を通して読
み取られる。
する回転フィルター(2)を通ってプリズム(3)の入
光部(a)に達し、プリズム(3)内に入った光はプリ
ズム(3)内の両側面(d−d’)を次々と数10回の
反射を繰り返しながら進光し、他端部(C)で屈折反転
して再び両側面(d−d’)での反射を繰り返しながら
入光部(a)に隣接する出光部(b)に到達し、その光
が受光されて受光信号となる。か〜る構造においてプリ
ズム(31部分は溶液中に浸漬可能な構造とし、これに
より入射光の一部は溶液中の成分に吸収され(吸収性を
持たない参照光はそのま匁である。)プリズム(3)を
出た光は受光フィルター(4)を通り受光素子に受は入
れられ電気信号に変換されてその値が指示器を通して読
み取られる。
従って、本装置は溶液中の成分を測定する場合その成分
に吸収され易い光をプリズム(3)内に入射し、且つそ
の中で数10回の全反射をおこさせて光を往復させると
その光の一部が容易に溶液に吸収される、という内反射
方式(ATR方式とも云う)を採用しているもので、プ
リズム(3)内では7〜25回にわたる全反射が行なわ
れている。
に吸収され易い光をプリズム(3)内に入射し、且つそ
の中で数10回の全反射をおこさせて光を往復させると
その光の一部が容易に溶液に吸収される、という内反射
方式(ATR方式とも云う)を採用しているもので、プ
リズム(3)内では7〜25回にわたる全反射が行なわ
れている。
プリズム(3)部分の詳、組構造は第2図に示す如くで
、入光部(a)および出光部(b)はプリズム(3)の
−側端に光が効率よく入出光するようある角度をもって
設げられてあり、他端部(C)も同様の形状に加工して
全反射を行なわせ同時に、鏡面加工(6)も行って光が
完全に反転反射する構造となすものである。
、入光部(a)および出光部(b)はプリズム(3)の
−側端に光が効率よく入出光するようある角度をもって
設げられてあり、他端部(C)も同様の形状に加工して
全反射を行なわせ同時に、鏡面加工(6)も行って光が
完全に反転反射する構造となすものである。
従ってこの構造は本装置の最も特徴となすものでか〜る
形状にすることにより、プリズム(3)の全長は必要長
さの半分にすることができ同時に、入光部(a)と出光
部(b)を同一端面に設けて、プリズム(3)を溶液中
に浸漬可能な構造とするものである。
形状にすることにより、プリズム(3)の全長は必要長
さの半分にすることができ同時に、入光部(a)と出光
部(b)を同一端面に設けて、プリズム(3)を溶液中
に浸漬可能な構造とするものである。
以下具体的実施例について説明する。第3図は最も一般
的なもので本装置を上方より溶液中に投入した図である
。しかしこの場合は液面が大巾に変動する場合は装置自
体も液面に合わせて上下させねばならぬ等面倒な面があ
る。従って第4図。
的なもので本装置を上方より溶液中に投入した図である
。しかしこの場合は液面が大巾に変動する場合は装置自
体も液面に合わせて上下させねばならぬ等面倒な面があ
る。従って第4図。
第5図は、センサ一部αGをネジ込み構造とし同時にセ
ンサ一部f11を下方からネジ込み等により設置した図
である。第6図は液体が細い配管中を通過する場合に適
用するもので、配管の途中に溶液が通過する液体に′つ
いても測定可能となすものである。又第5図に示すミラ
ー03は光信号をプリズム(3)内に入出光する状況を
、ミラーaaを設置することにより自由に変更できるこ
とを示したものである。
ンサ一部f11を下方からネジ込み等により設置した図
である。第6図は液体が細い配管中を通過する場合に適
用するもので、配管の途中に溶液が通過する液体に′つ
いても測定可能となすものである。又第5図に示すミラ
ー03は光信号をプリズム(3)内に入出光する状況を
、ミラーaaを設置することにより自由に変更できるこ
とを示したものである。
本装置の特徴とするところは前にも記した通り従来の方
法では溶液中の成分を測定するのに、成る一定時間毎に
例えばサンプリング測定をし、それにより結果を得てい
たもので結果が出るまでに時間がか〜り即応性を有しな
いと同時に、連続制御が出来ない最大の欠点がありた。
法では溶液中の成分を測定するのに、成る一定時間毎に
例えばサンプリング測定をし、それにより結果を得てい
たもので結果が出るまでに時間がか〜り即応性を有しな
いと同時に、連続制御が出来ない最大の欠点がありた。
これに対し本装置はこれ等の欠点を全て解決するもので
、即応性に富み連続制御が可能で、更に第3図〜6図に
示す如く、バイパス等を設けることもなく直接流動する
溶液中に浸漬して測定ができるので、指示が正確である
と同時に連続制御ができる最大の特徴を有する。
、即応性に富み連続制御が可能で、更に第3図〜6図に
示す如く、バイパス等を設けることもなく直接流動する
溶液中に浸漬して測定ができるので、指示が正確である
と同時に連続制御ができる最大の特徴を有する。
第1図は本装置の基本構造を示す概要図。
第2図はプリズム部の詳細を示す図である。
第3図は第1実施例を示す図である。
第4図はセンサ一部をねじ込み方式とした外観図。
第5図はセンサーを下方取付としたことを示す図。
第6図は第4実施例を示す図である。
(1)・・−・−・・光源、 (2)・・−・−・・回
転フィルター、(3)・・−・−・・プリズム、 (
41・・−・−・・受光フィルター、(5)・・−・−
・・受光素子、 (6)・・−・−・・鏡面、 α1・
・−・−・・センサ一部、 an・・−・−・・ケー
ス、 nz・・−・−・・ミラー、(a)・・−・−・
・入光部、 (b)・・−・−・・出光部、 (C)・
・−・−・・他端部、(d、d’)・・・・・−・・側
面。 以上
転フィルター、(3)・・−・−・・プリズム、 (
41・・−・−・・受光フィルター、(5)・・−・−
・・受光素子、 (6)・・−・−・・鏡面、 α1・
・−・−・・センサ一部、 an・・−・−・・ケー
ス、 nz・・−・−・・ミラー、(a)・・−・−・
・入光部、 (b)・・−・−・・出光部、 (C)・
・−・−・・他端部、(d、d’)・・・・・−・・側
面。 以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)流動する溶液中の成分を測定するため、特定波長を
透過する光学フィルターと、この光が内部を多重に反射
しながら往復するプリズムを有し、プリズムに入光する
面、出光する面および他端反射面は光が効率よく入出光
および反転反射するための適切な角度をもつて加工され
てあり、センサ一部は直接溶液中に浸漬できる構造とな
し、かゝる構造をもつことにより溶液中の特定成分を測
定することを特徴とする投入式成分々析計。 2)上記構造をもつ成分々析計において、プリズム部は
流動する溶液中に上部から任意の深さまで投入する如く
にしたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の投
入式成分々析計。 3)第1項記載の構造をもつ成分々析計においてプリズ
ム部はネジ込み等により交換可能とし下部から挿入した
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の成分々析
計。 4)第1項記載の構造をもつ成分々析計においてプリズ
ムの他端反射面に鏡面加工を施したことを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の成分々析計。 5)第1項記載の構造をもつ成分々析計においてセンサ
ー部をケースを有する容器型となしこれに溶液の入出力
管を接続する構造としたことを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の成分々析計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6883985A JPS61226639A (ja) | 1985-04-01 | 1985-04-01 | 投入式成分々析計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6883985A JPS61226639A (ja) | 1985-04-01 | 1985-04-01 | 投入式成分々析計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61226639A true JPS61226639A (ja) | 1986-10-08 |
Family
ID=13385261
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6883985A Pending JPS61226639A (ja) | 1985-04-01 | 1985-04-01 | 投入式成分々析計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61226639A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63274840A (ja) * | 1987-05-06 | 1988-11-11 | Hamamatsu Photonics Kk | プロセス監視制御装置 |
JPS63281029A (ja) * | 1987-05-13 | 1988-11-17 | Ricoh Co Ltd | 検知装置 |
JPH01248039A (ja) * | 1988-03-29 | 1989-10-03 | Shimadzu Corp | 全反射吸収スペクトル測定装置 |
JPH02131648U (ja) * | 1989-04-07 | 1990-11-01 | ||
JPH0459453U (ja) * | 1990-09-28 | 1992-05-21 |
-
1985
- 1985-04-01 JP JP6883985A patent/JPS61226639A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63274840A (ja) * | 1987-05-06 | 1988-11-11 | Hamamatsu Photonics Kk | プロセス監視制御装置 |
JPS63281029A (ja) * | 1987-05-13 | 1988-11-17 | Ricoh Co Ltd | 検知装置 |
JPH01248039A (ja) * | 1988-03-29 | 1989-10-03 | Shimadzu Corp | 全反射吸収スペクトル測定装置 |
JPH02131648U (ja) * | 1989-04-07 | 1990-11-01 | ||
JPH0459453U (ja) * | 1990-09-28 | 1992-05-21 |
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