JPH01248039A - 全反射吸収スペクトル測定装置 - Google Patents
全反射吸収スペクトル測定装置Info
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- JPH01248039A JPH01248039A JP63077926A JP7792688A JPH01248039A JP H01248039 A JPH01248039 A JP H01248039A JP 63077926 A JP63077926 A JP 63077926A JP 7792688 A JP7792688 A JP 7792688A JP H01248039 A JPH01248039 A JP H01248039A
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- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 title claims abstract description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 3
- 238000004847 absorption spectroscopy Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/552—Attenuated total reflection
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は、全反射吸収スペクトル測定製雪、より詳しく
は試料との接触部の構造に関する。
は試料との接触部の構造に関する。
（従来技術）
全反射吸収スペクトル測定法は、第５図に示したように
、プリズム作用を有する光学素子Ａの１つの面に試料Ｂ
を密着させて、光を臨界角以上の角度をもって入射させ
、全反射されたてきた光のスペクトルから試料の性質を
調査するものである。
、プリズム作用を有する光学素子Ａの１つの面に試料Ｂ
を密着させて、光を臨界角以上の角度をもって入射させ
、全反射されたてきた光のスペクトルから試料の性質を
調査するものである。
このため、プリズム面に合せて試料を加工せねばならず
、測定に手間が掛るという問題があつた。
、測定に手間が掛るという問題があつた。
（目的）
本発明はこのような問題に鑑みてなされたものであって
、その目的とするところは試料の加工を可及的になくす
ことができる新規な全反射吸収スペクトル測定用の光学
素子を提供することにある。
、その目的とするところは試料の加工を可及的になくす
ことができる新規な全反射吸収スペクトル測定用の光学
素子を提供することにある。
（発明の概要）
すなわち、本発明が特徴とするところは、導光部材の先
端に全反射面を形成しすることにより、試料との接触面
積を可及的に小さくして試料の加工を不要とした点にあ
る。
端に全反射面を形成しすることにより、試料との接触面
積を可及的に小さくして試料の加工を不要とした点にあ
る。
（実施例）
そこで以下に本発明の詳細を図示した実施例に基づいて
説明する。
説明する。
第１図は本発明の一実施例を示したものであって、図中
符号１は、光ファイバー等のフレキシブルな導光材で、
第２図（イ）に示したように一端は、導光材本体２を屋
根型として入射光面３と出射光面４が形成され、入射光
面３には光源５が、また出射光面４にはスペクトル分析
装置６に接続する受光素子７が対向２貫されている。導
光材１の他方の端部には、同図（ロ）に示したように、
導光材本体２の軸方向に垂直な平面８を形成して導光材
本体２がらの光が、平面８で全反射するように成型され
ている。なお、図中符号１ｏは分光器を示す。
符号１は、光ファイバー等のフレキシブルな導光材で、
第２図（イ）に示したように一端は、導光材本体２を屋
根型として入射光面３と出射光面４が形成され、入射光
面３には光源５が、また出射光面４にはスペクトル分析
装置６に接続する受光素子７が対向２貫されている。導
光材１の他方の端部には、同図（ロ）に示したように、
導光材本体２の軸方向に垂直な平面８を形成して導光材
本体２がらの光が、平面８で全反射するように成型され
ている。なお、図中符号１ｏは分光器を示す。
この実施例において、装Ｍを作動させると、発光素子５
からの光は、入射光面３がら導光材１に入射し、導光材
本体２の側壁で反射を繰返しながら先端部に到達する。
からの光は、入射光面３がら導光材１に入射し、導光材
本体２の側壁で反射を繰返しながら先端部に到達する。
先端に到達した段階で、平面８により全反射を受けて再
び導光材本体２８介して受光素子側に伝ばんし、出射光
面４がら分光器１ｏに入射し、試料に接触させない状態
でのスペクトルがスペクトル分析表Ｍ６により測定され
る。
び導光材本体２８介して受光素子側に伝ばんし、出射光
面４がら分光器１ｏに入射し、試料に接触させない状態
でのスペクトルがスペクトル分析表Ｍ６により測定され
る。
この状態で、導光材先端の平面８を試料Ｓに当接させる
と（第３図）、先端部に形成されでいる平面８の面積が
極めて小さいため、平面８は試料Ｓに密着することにな
る。これにより、導光材本体２から出射した光Ｌ１は、
平面８から試料Ｓに若干浸み出し、試料Ｓの組成等によ
り決まる特定の波長の光だけが試料により吸収され、他
の波長の光Ｌ２は平面８で全反射を受けて導光材本体２
を伝ばんし、スペルトル分析表Ｍ６により波長成分が分
析される。
と（第３図）、先端部に形成されでいる平面８の面積が
極めて小さいため、平面８は試料Ｓに密着することにな
る。これにより、導光材本体２から出射した光Ｌ１は、
平面８から試料Ｓに若干浸み出し、試料Ｓの組成等によ
り決まる特定の波長の光だけが試料により吸収され、他
の波長の光Ｌ２は平面８で全反射を受けて導光材本体２
を伝ばんし、スペルトル分析表Ｍ６により波長成分が分
析される。
なお、この実施例においては、入射光側に２つの斜面３
．４を形成して入射光と反射光を分離するようにしでい
るが、第４図に示したように導光材の入射端に半透過鏡
２０を配冒し、例えば発光素子５からの光は半透過鏡で
一旦反射させてから導光材本体２に入射させ、また導光
材本体２からの光は半透過鏡２０を透過させて受光素子
７に入射させるようにしでも同様の作用を奏することは
明らかである。
．４を形成して入射光と反射光を分離するようにしでい
るが、第４図に示したように導光材の入射端に半透過鏡
２０を配冒し、例えば発光素子５からの光は半透過鏡で
一旦反射させてから導光材本体２に入射させ、また導光
材本体２からの光は半透過鏡２０を透過させて受光素子
７に入射させるようにしでも同様の作用を奏することは
明らかである。
ざらに、上述の実施例においては、導光材自体を加工し
て全反射面を形成しているが、他の高屈折率部材を接続
するようにしても同様の作用を奏することは明らかであ
る。
て全反射面を形成しているが、他の高屈折率部材を接続
するようにしても同様の作用を奏することは明らかであ
る。
（効果）
以上、説明したように本発明によれば、導光部材の先端
に全反射面を形成するとともに、後端に発光素子と受光
素子を配設したので、試料接触部か移動自在となるとと
もに、試料との接触面積か小さくなって試料片の切出し
やの平面加工等が不要となり、測定作業の簡素化を図る
ことができる。
に全反射面を形成するとともに、後端に発光素子と受光
素子を配設したので、試料接触部か移動自在となるとと
もに、試料との接触面積か小さくなって試料片の切出し
やの平面加工等が不要となり、測定作業の簡素化を図る
ことができる。
第１図は本発明の一実施例を示す装言の構成図、第２図
（イ）（ロ）は同上製雪における導光材先端の形状を示
す斜視図、第３図は同上製画の動作を示す説明図、第４
図は本発明の他の実施例を示す図、及び第５図は全反射
吸収スペクトル法を示す説明図である。
（イ）（ロ）は同上製雪における導光材先端の形状を示
す斜視図、第３図は同上製画の動作を示す説明図、第４
図は本発明の他の実施例を示す図、及び第５図は全反射
吸収スペクトル法を示す説明図である。
Claims (1)
- 一端に光源手段と受光手段が接続可能な導光材の先端に
、導光材の軸方向に垂直な平面を設けてなる全反射吸収
スペクトル測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7792688A JP2797311B2 (ja) | 1988-03-29 | 1988-03-29 | 全反射吸収スペクトル測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7792688A JP2797311B2 (ja) | 1988-03-29 | 1988-03-29 | 全反射吸収スペクトル測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01248039A true JPH01248039A (ja) | 1989-10-03 |
| JP2797311B2 JP2797311B2 (ja) | 1998-09-17 |
Family
ID=13647694
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7792688A Expired - Fee Related JP2797311B2 (ja) | 1988-03-29 | 1988-03-29 | 全反射吸収スペクトル測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2797311B2 (ja) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5992332A (ja) * | 1982-11-17 | 1984-05-28 | アイ・テイ・テイ・インダストリ−ズ・インコ−ポレ−テツド | 水分検出器 |
| JPS61226639A (ja) * | 1985-04-01 | 1986-10-08 | Iiosu:Kk | 投入式成分々析計 |
| JPS622138A (ja) * | 1985-06-25 | 1987-01-08 | ザ ダウ ケミカル カンパニ− | 流体媒質の光吸収を測定する方法と装置 |
| JPS6291840A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-04-27 | Hitachi Ltd | 燃料性状検出器 |
| WO1987004247A1 (en) * | 1986-01-14 | 1987-07-16 | Levin Herman W | Evanescent wave background fluorescence/absorbance detection |
| JPS63500332A (ja) * | 1985-07-15 | 1988-02-04 | アメリカン テレフオン アンド テレグラフ カムパニ− | 多層薄膜構造の特性を非破壊的に決定する方法及び装置 |
-
1988
- 1988-03-29 JP JP7792688A patent/JP2797311B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5992332A (ja) * | 1982-11-17 | 1984-05-28 | アイ・テイ・テイ・インダストリ−ズ・インコ−ポレ−テツド | 水分検出器 |
| JPS61226639A (ja) * | 1985-04-01 | 1986-10-08 | Iiosu:Kk | 投入式成分々析計 |
| JPS622138A (ja) * | 1985-06-25 | 1987-01-08 | ザ ダウ ケミカル カンパニ− | 流体媒質の光吸収を測定する方法と装置 |
| JPS63500332A (ja) * | 1985-07-15 | 1988-02-04 | アメリカン テレフオン アンド テレグラフ カムパニ− | 多層薄膜構造の特性を非破壊的に決定する方法及び装置 |
| JPS6291840A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-04-27 | Hitachi Ltd | 燃料性状検出器 |
| WO1987004247A1 (en) * | 1986-01-14 | 1987-07-16 | Levin Herman W | Evanescent wave background fluorescence/absorbance detection |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2797311B2 (ja) | 1998-09-17 |
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Legal Events
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