DE102009003548A1 - Verfahren zur hochaufgelösten Erfassung von Nanopartikeln auf zweidimensionalen Messflächen - Google Patents
Verfahren zur hochaufgelösten Erfassung von Nanopartikeln auf zweidimensionalen Messflächen Download PDFInfo
- Publication number
- DE102009003548A1 DE102009003548A1 DE102009003548A DE102009003548A DE102009003548A1 DE 102009003548 A1 DE102009003548 A1 DE 102009003548A1 DE 102009003548 A DE102009003548 A DE 102009003548A DE 102009003548 A DE102009003548 A DE 102009003548A DE 102009003548 A1 DE102009003548 A1 DE 102009003548A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- plasmon resonance
- sensor surface
- resonance spectrometer
- spectrometer according
- surface plasmon
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 title claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 28
- 238000002198 surface plasmon resonance spectroscopy Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 40
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 claims description 15
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 8
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 5
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 claims description 2
- 230000003612 virological effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 claims 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims 1
- 230000010460 detection of virus Effects 0.000 claims 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims 1
- 241000700605 Viruses Species 0.000 description 6
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000001847 surface plasmon resonance imaging Methods 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 229920005372 Plexiglas® Polymers 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000007853 buffer solution Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 description 1
- 235000013870 dimethyl polysiloxane Nutrition 0.000 description 1
- 238000001493 electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 238000001727 in vivo Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 1
- CXQXSVUQTKDNFP-UHFFFAOYSA-N octamethyltrisiloxane Chemical compound C[Si](C)(C)O[Si](C)(C)O[Si](C)(C)C CXQXSVUQTKDNFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000399 optical microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000004987 plasma desorption mass spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 210000001525 retina Anatomy 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G01N15/1433—
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/552—Attenuated total reflection
- G01N21/553—Attenuated total reflection and using surface plasmons
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/0008—Microscopes having a simple construction, e.g. portable microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/008—Details of detection or image processing, including general computer control
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
- G01N2015/0038—Investigating nanoparticles
-
- G01N2015/019—
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/552—Attenuated total reflection
- G01N21/553—Attenuated total reflection and using surface plasmons
- G01N21/554—Attenuated total reflection and using surface plasmons detecting the surface plasmon resonance of nanostructured metals, e.g. localised surface plasmon resonance
Abstract
Ein Oberflächenplasmonenresonanzspektrometer, enthaltend eine Strahlungsquelle, welche im Wesentlichen monochromatische Strahlung emittiert, eine Sensorfläche, eine optische Anordnung zur Beleuchtung der Sensorfläche mit der von der Strahlungsquelle emittierten Strahlung, derart, dass in der Sensorfläche Oberflächenplasmonen erzeugbar sind, einen Detektor mit einer Vielzahl von Bildelementen, und eine Beobachtungsoptik zur Abbildung der von der Sensorfläche reflektierten Strahlung auf den Detektor, ist dadurch gekennzeichnet, dass das Auflösungsvermögen der Beobachtungsoptik und des Detektors größer ist als die mit der Strahlungsquelle erreichbare, beugungsbegrenzte Auflösung.
Description
- Technisches Gebiet
- Die Erfindung betrifft ein Oberflächenplasmonenresonanzspektrometer enthaltend
- (a) eine Strahlungsquelle, welche im wesentlichen monochromatische Strahlung emittiert,
- (c) eine Sensorfläche,
- (b) eine optische Anordnung zur Beleuchtung der Sensorfläche mit der von der Strahlungsquelle emittierten Strahlung, derart, dass in der Sensorfläche Oberflächenplasmonen erzeugbar sind,
- (d) einen Detektor mit einer Vielzahl von Bildelementen, und
- (e) eine Beobachtungsoptik zur Abbildung der von der Sensorfläche reflektierten Strahlung auf den Detektor.
- Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zur optischen Erfassung von einzelnen Nanopartikeln die auf zweidimensionalen Messflächen gebunden sind oder sich im Nahbereich befinden.
- Die Messfläche kann selektiv mit Viren von bestimmten Art zusammenwirkenden Rezeptoren, bzw. Antikörper beschichtet werden. Dies gewährleistet die Selektivität der Detektierung.
- Die Auflösung optischer Anordnungen, d. h. die Fähigkeit beispielsweise bei der optischen Mikroskopie kleine Objekte zu beobachten, ist durch die Beugung begrenzt. Die kleinsten Partikel, die mit einem Lichtmikroskop detektiert werden können, haben einen Durchmesser im Bereich von 0,2 μm entsprechend 200 nm. Die hierfür erforderlichen Anordnungen sind teuer.
- Für die Erfassung von Partikeln mittels Elektronenmikroskopie ist ein Vakuum erforderlich. Auch das ist teuer und begrenzt die Möglichkeiten der detektierbaren Partikel.
- Ein markierungsfreies Verfahren, welches es ermöglicht die Bindung von Viren oder Partikel mit einem Durchmesser im Nanometerbereich (Nanopartikel) auf einer Fläche in Wasser- bzw. Puffer-Lösung in-vivo zu beobachten, ist nicht bekannt.
- Bei der Lichtmikroskopie wird die Änderung der Lichtintensität an bestimmten Stellen der Abbildung analysiert. Bei der Betrachtung mit dem Auge erfolgt dies an der Netzhaut. Die Detektion mit einem Detektor erfolgt beispielsweise mit einem Charge Coupled Device (CCD). Da diese Änderungen durch die Differenz der optischen Eigenschaften des Objektes, wie Transmission, Brechungsindex oder Farbe und der Umgebung bedingt sind, kann man die Eigenschaften des Objektes dadurch charakterisieren.
- Stand der Technik
- Die Veröffentlichung „Imaging of Cell/Substrate Contacts of Living Cells with Surface Plasmon Resonance Microskopy" von K. -F. Giebel et al., Biophysical J. Bd. 76, 1999 S. 509–516 offenbart ein Oberflächen Plasmonen Mikroskop.
- Die Veröffentlichung „Differential Surface Plasmon Resonance Imaging for High-Throughput Bioanalyses" von Boecker et al., Anal. Chem. 2007. Bd. 79, S. 702–709 offenbart ein Oberflächen Plasmonen Mikroskop.
-
DE 10 2004 033 869 B3 offenbart ein Verfahren zur Bestimmung von Oberflächenplasmonenresonanzen an zweidimensionalen Messflächen. -
DE 40 24 476 C1 beschreibt eine Kretschmann-Anordnung, welche zur Bestimmung von Analyten in einer fluiden Probe verwendet wird. - Offenbarung der Erfindung
- Es ist Aufgabe der Erfindung, eine Anordnung und ein Verfahren der eingangs genannten Art zur optischen Erfassung von einzelnen Nanopartikeln zu schaffen, insbesondere von Viren mit höherer Auflösung. Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, dass das Auflösungsvermögen der Beobachtungsoptik und des Detektors größer ist als die mit der Strahlungsquelle unter klassischen Bedingungen erreichbare, beugungsbegrenzte Auflösung. Unter die Auflösung wird die Fähigkeit verstanden, das Signal (Partikel) auf dem Untergrund aufzulösen. Es hat sich überraschenderweise herausgestellt, dass die Beobachtung von Nanopartikeln auch mit Wellenlängen möglich ist, welche wesentlich größer als der Partikeldurchmesser sind. Beispielsweise ist die Beobachtung von Partikeln mit einem Durchmesser von 80 nm auch bei einer Wellenlänge oberhalb von 600 nm möglich. Zur Vermeidung einer Situation, bei der das Signal im Schrotrauschen verschwindet, wird vorzugsweise ein Referenzsignal gebildet, mit dem das Signal normalisiert wird. Das Referenzsignal kann durch Mittelwertbildung der Signale erzeugt werden, die vor der Anlagerung eines Partikels an die Sensorfläche erfasst werden.
- Die Erfassung der Plasmonenresonanz kann mit einer sogenannten Kretschmann-Anordnung erfolgen. Eine lokale Änderung der Reflektivität wird durch die Zusammenwirkung der Nanopartikel mit dem evanescenten Feld hervorgerufen. Bei dieser Anordnung können Partikel detektiert werden, die kleiner als 80 nm sind. Zudem können Flächen mit mehreren Quadratmillimetern gleichzeitig erfasst werden. Wichtig ist es bei der Anordnung, dass die Partikel sich sehr nahe mit einem Abstand unterhalb von 200 nm an der Sensorfläche befinden oder diese berühren. Die Anordnung eignet sich für die Verwendung in der virologischen Forschung und bei der Erfassung von gefährlichen Viren an öffentlichen Flächen. Auch für die hochempfindliche, klinische Diagnostik kann das Verfahren eingesetzt werden.
- Erfindungsgemäß wird die Änderung der Reflektivität der Sensorfläche beobachtet, welche durch ein Partikel hervorgerufen wird. Als Sensor wird eine Fläche benutzt, welche eine möglichst starke Reflektivitätsänderung durch Änderung des Brechungsindexes gewährleistet.
- Eine solche Fläche mit starker Reflektivitätsänderung kann mittels einer Goldfläche in Kretschmann-Anordnung verwirklicht werden. Bei einer Kretschmann-Anordnung ist die Reflektivität bei einem Einfallswinkel nahe dem Resonanzwinkel sehr stark von dem Brechungsindex des Mediums abhängig, dass mit der Goldschicht in Kontakt ist. Wenn sich ein Partikel an die Fläche anlagert, ändert sich die Reflektivität in der Umgebung des Partikels. Diese Änderung zeigt sich als Änderung der Helligkeit an der entsprechender Stelle der Abbildung. Da die Reflektivitätsänderungen durch die Größe und den Brechungsindex des Partikels bedingt sind, können sie zur Charakterisierung des Partikels benutzt werden.
- Alternativ kann die Fläche mit starker Reflektivitätsänderung durch periodische Strukturen verwirklicht werden, die Plasmonenanregung zulassen. Auch entspiegelte Glass- oder Kristall-Flächen sind geeignet. Die Entspiegelung wird durch die Partikel gebrochen und die Reflektivität in der Umgebung steigt. In einer weiteren, alternativen Ausgestaltung der Erfindung wird die Fläche mit starker Reflektivitätsänderung von einer Fläche mit metallischen Nanopartikeln verwirklicht, die bei ausgewählten Wellenlängen die Anregung von lokalisierter Plasmonenresonanz zulassen. Diese metallischen Nanopartikel dienen als Sensorpartikel. Nahe der Resonanz ist die Streuung an einem Partikel abhängig vom Brechungsindex. Wenn sich ein anderer Partikel an einen Sensorpartikel anlagert, ändert sich die Reflektivität der Sensorfläche an dieser Stelle. Schließlich kann die Fläche mit starker Reflektivitätsänderung durch eine optische Mehrschichtstruktur verwirklicht werden, in der auch eine Oberflächenplasmonresonanz angeregt werden kann.
- Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche. Ein Ausführungsbeispiel ist nachstehend unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen näher erläutert.
- Kurze Beschreibung der Zeichnungen
-
1 ist eine schematische Darstellung einer Kretschmann-Anordnung zur Erfassung von Nanopartikeln und Viren. -
2 zeigt den Verlauf eines Reflexionssignals in der Nähe der Resonanzwellenlänge mit und ohne Partikel. -
3 zeigt den Zeitverlauf eines Signals über einen Zeitraum, in dem sich ein Teilchen anlagert. -
4 zeigt die Abhängigkeit des Signals vom Partikeldurchmesser. -
5 zeigt das Bild einer beobachteten Fläche nach verschiedenen Beobachtungszeiträumen für Polystyrolteilchen mit einem Durchmesser von 0,08 μm. -
6 ist eine schematische Darstellung einer Anordnung mit regelmäßigen Strukturen in Form von Goldschicht-Inseln zur Erfassung von Nanopartikeln und Viren. - Beschreibung des Ausführungsbeispiels
-
1 zeigt eine Kretschmann-Anordnung in abbildender Konfiguration, die allgemein mit10 bezeichnet ist. Eine solche Anordnung10 ist bereits bekannt. Die Funktionsweise des Oberflächenplasmonenspektrometers braucht hier daher nicht näher beschrieben werden. Eine Glasscheibe12 ist mit einer 50 nm dicken Goldschicht14 beschichtet. Mit der der Goldschicht14 abgewandten Seite16 ist die Glasscheibe12 an einem Prisma18 befestigt. Zur Befestigung wird Immersionsöl verwendet. - Die Goldschicht
14 wird mit Strahlung20 aus einer Superlumineszenzdiode22 beleuchtet. Ein Beispiel für eine geeignete Diode22 ist eine QSDM-680-9 von Qphotonix, die bei einer Wellenlänge von 670 nm im sichtbaren Bereich abstrahlt. Die Beleuchtung erfolgt durch das Prisma18 bei festem Einfallswinkel24 . Anders als ein Laser als Strahlungsquelle hat eine Superlumineszenzdiode keine Unregelmäßigkeiten im Strahlungsprofil (Specles). Der Einfallswinkel24 ist so gewählt, dass die Wellenlänge der Diode auf der linken Seite des Resonanzminimums, also bei kleinerem Winkel, erscheint. - Zur Erzeugung eines parallelen Strahlungsbündels wird eine Linse
26 eingesetzt. Es versteht sich, dass hier auch ein gekrümmter Spiegel vorgesehen kann. - An der Goldschicht ist ein Probenraum für Flüssigkeiten in Form einer Flusszelle
28 angebracht. Die Flusszelle28 wird von einer 1 mm dicken, S-förmigen PDMS-Dichtung gebildet. Der rückwärtige Teil der Flusszelle32 besteht aus Plexiglas. Ferner sind ein Einlass und ein Auslass in Form von Schläuchen an der Flusszelle28 vorgesehen. Das Zellvolumen der Flusszelle28 ist etwa 300 μL. - Die Glasoberfläche der Scheibe
12 bildet eine Sensoroberfläche. Die Sensoroberfläche wird mittels eines Standard Minolta Photoobjektivs34 auf einen Charge Coupled Device Detektor (CCD)36 . abgebildet. Die Apertur des Objektivs34 ist 1/1.7. Der CCD-Detektor war ein Cappa-100 CCD mit einer Pixelgröße von 6,45 × 6,45 μm. Die Sättigungskapazität des Detektors liegt bei 40000 Elektronen. Der Detektor36 hat eine Fläche von 1 000 × 1000 Pixel. Bei einer 7-fachen Vergrößerung entspricht ein Pixel einer Sensorfläche von etwa ~1 μm. In horizontaler Ebene (p-Ebene) ist das Bild aufgrund der Steigung der Sensoroberfläche relativ zur optischen Achse komprimiert. Hier entspricht ein Pixel einer Sensoroberfläche von etwa ~1,5 μm. Die Steigung verursacht zusätzlich eine signifikante Begrenzung des Bereiches an der Sensorfläche, der scharf abgebildet werden kann. - Zur Beobachtung von Partikeln werden die Bilder mit einer Rate von 16 Bildern/Sekunde ausgelesen. Bei kleineren Ausleseabschnitten ist auch eine Rate von 100 Bildern/Sekunde möglich. Die Bilder werden gespeichert und ausgewertet.
- In einem gut arbeitenden Ausführungsbeispiel wird mit einer Ausleserate von 40 Bildern/Sekunde ausgelesen. Jeweils 10 Bilder werden gemittelt. Der Mittelwert der Intensität wird hierzu für jedes Pixel gebildet und zur Weiterverarbeitung gespeichert.
- Die Intensitätsverteilung des ursprünglichen Bildes ist sehr inhomogen. Dies liegt an der hohen Empfindlichkeit der Sensorfläche gegenüber kleinen Unregelmäßigkeiten auf der Oberfläche. Es sind gewöhnlich viele Punkte zu sehen, die eine Abweichung von einem mittleren Wert von bis zu 70% haben. Die lokale Inhomogenität von ±10% innerhalb eines 20 μm Fleckens auf der Sensorfläche ist typisch für das übrige Bild. Diese Intensitätsverteilung ist zeitlich relativ stabil. Zur Verringerung der Inhomogenität wird eine Normalisierung angewendet. Ein Referenzbild wird erzeugt, indem die Bilder über den Zeitraum
38 (3 ) gemittelt werden, in dem keine Partikelsuspension kommt. Die Intensität in jedem Pixel in den darauffolgenden Bildern40 wurde auf diesen Mittelwert im Referenzbild für jedes Pixel normalisiert. Dadurch wird eine lokale Inhomogenität erreicht, die ±1% nicht überschreitet. - Die Bindung eines Partikels
42 (1 ) an der Sensorfläche12 bewirkt eine stufenförmige Intensitätsänderung44 (3 ) auf den zugehörigen Pixeln. Diese Stufe40 wird über alle Pixel integriert, die durch die Bindung des Partikels berührt werden. Dies bildet das Signal, welches in4 dargestellt ist. Der Wert für die Stufe40 kennzeichnet den gebundenen Partikel38 . - Das Schrotrauschen ist der im wesentlichen begrenzende Faktor für die minimale, erfassbare Intensitätsstufe. Zur Minimierung des Schrotrauschens wird vorzugsweise das maximale Produkt aus der Pixelkapazität C und der Auslesefrequenz F verwendet. Bei einer Pixelkapazität von 40 000 Elektronen können lediglich 10 000 auflaufen. Anderfalls erfolgt eine Sättigung einiger Pixel wegen der signifikanten Inhomogenitäten des Bildes.
- Im vorliegenden Ausführungsbeispiel wird mit einem Mittelwert über 40 Bilder/Sekunde über 10 Pixel integriert. Damit werden 2 × 106 Elektronen in der zum gebundenen Partikel zugehörigen Fläche akkumuliert. Dies entspricht einem Schrotrauschen von 7 × 10–4. Mit dem vorliegenden Verfahren können Schritte in der Größenordnung von 10–3 erfasst werden. Dies bedeutet, dass das Schrotrauschen der begrenzende Faktor ist.
- Die Bilder in
5 wurden mit der CCD-Kamera36 aufgenommen. Auf nacheinander folgenden Aufnahmen kann man die Bindung von Partikeln direkt beobachten. Die Partikel wurden in der 140. Sekunde injiziert. - Um das Signal eines Partikels zu quantifizieren, wurde der zeitliche Verlauf der Intensität im Bereich der Abbildung des Partikels gemessen, wie in der
3 dargestellt. Die Abhängigkeit des Signals von der Partikelgröße ist in4 zu sehen. - ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
- Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
- Zitierte Patentliteratur
-
- - DE 102004033869 B3 [0010]
- - DE 4024476 C1 [0011]
- Zitierte Nicht-Patentliteratur
-
- - „Imaging of Cell/Substrate Contacts of Living Cells with Surface Plasmon Resonance Microskopy” von K. -F. Giebel et al., Biophysical J. Bd. 76, 1999 S. 509–516 [0008]
- - „Differential Surface Plasmon Resonance Imaging for High-Throughput Bioanalyses” von Boecker et al., Anal. Chem. 2007. Bd. 79, S. 702–709 [0009]
Claims (12)
- Oberflächenplasmonenresonanzspektrometer enthaltend (a) eine Strahlungsquelle, welche im wesentlichen monochromatische Strahlung emittiert, (b) eine Sensorfläche, (c) eine optische Anordnung zur Beleuchtung der Sensorfläche mit der von der Strahlungsquelle emittierten Strahlung, derart, dass in der Sensorfläche Oberflächenplasmonen erzeugbar sind, (d) einen Detektor mit einer Vielzahl von Bildelementen, und (e) eine Beobachtungsoptik zur Abbildung der von der Sensorfläche reflektierten Strahlung auf den Detektor, dadurch gekennzeichnet, dass (f) das Auflösungsvermögen der Beobachtungsoptik und des Detektors größer ist als die mit der Strahlungsquelle unter klassischen Bedingungen erreichbare, beugungsbegrenzte Auflösung.
- Oberflächenplasmonenresonanzspektrometer nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Sensorfläche in Kretschmann-Anordnung.
- Oberflächenplasmonenresonanzspektrometer nach einem der vorgehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsquelle eine Superlumineszenzdiode ist.
- Oberflächenplasmonenresonanzspektrometer nach einem der vorgehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorfläche eine Goldbeschichtung aufweist.
- Oberflächenplasmonenresonanzspektrometer nach einem der vorgehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch Mittel zur Herstellung des Kontakts von zu beobachtenden Partikeln mit der Sensorfläche.
- Oberflächenplasmonenresonanzspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorfläche eine Fläche mit starker Reflektivitätsänderung ist, welche durch periodische Strukturen erzeugbar ist, die eine Plasmonenanregung zulassen.
- Oberflächenplasmonenresonanzspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorfläche eine entspiegelte Glass- oder Kristall-Fläche mit starker Reflektivitätsänderung bei Anlagerung von Partikeln ist.
- Oberflächenplasmonenresonanzspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorfläche eine Fläche mit metallischen Nanopartikeln mit starker Reflektivitätsänderung bei Anlagerung von Partikeln ist, die bei der Wellenlänge der Strahlungsquelle die Anregung von lokalisierter Plasmonenresonanz zulassen.
- Oberflächenplasmonenresonanzspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorfläche eine optische Mehrschichtstruktur ist, in der auch eine Oberflächenplasmonresonanz angeregt werden kann.
- Oberflächenplasmonenresonanzspektrometer nach einem der vorgehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor ein Charge Coupled Device zur Aufnahme einer Vielzahl von zeitlich aufeinanderfolgenden Intensitätssignalen für jedes Pixel ist und Auswertemittel vorgesehen sind, mit denen zeitliche Mittelwerte zur Verringerung von Schrotrauschen erzeugbar sind.
- Verwendung eines Oberflächenplasmonenresonanzspektrometers nach einem der vorgehenden Ansprüche in der virologischen Forschung, bei der Erfassung von Viren an öffentlichen Flächen oder bei hochempfindlicher, klinischer Diagnostik.
- Verfahren zur optischen Erfassung von einzelnen Nanopartikeln auf zweidimensionalen Messflächen mittels Oberflächenplasmonenresonanzspektroskopie, mit den Schritten (a) Beleuchten einer Sensorfläche mit Strahlung aus einer monochromatischen Strahlungsquelle derart, dass in der Sensorfläche Oberflächenplasmonen erzeugbar sind, (b) Einbringen von zu beobachtenden Partikeln auf die Sensorfläche oder in den unmittelbaren Nahbereich der Sensorfläche, und (c) Detektieren der von der Sensorfläche reflektierten Strahlung mit einem Detektor mit einer Vielzahl von Bildelementen, dadurch gekennzeichnet, dass (d) die Partikel mit einem Auflösungsvermögen beobachtet werden, welches größer ist als die mit der Strahlungsquelle erreichbare, beugungsbegrenzte Auflösung.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102009003548A DE102009003548A1 (de) | 2009-02-27 | 2009-02-27 | Verfahren zur hochaufgelösten Erfassung von Nanopartikeln auf zweidimensionalen Messflächen |
PCT/EP2010/052229 WO2010097369A1 (de) | 2009-02-27 | 2010-02-23 | Verfahren zur hochaufgelösten erfassung von nanopartikeln auf zweidimensionalen messflächen |
JP2011551477A JP2012519271A (ja) | 2009-02-27 | 2010-02-23 | 2次元検出器表面におけるナノ粒子の高分解能検出のための方法 |
EP10706196A EP2401602A1 (de) | 2009-02-27 | 2010-02-23 | Verfahren zur hochaufgelösten erfassung von nanopartikeln auf zweidimensionalen messflächen |
US13/218,804 US8587786B2 (en) | 2009-02-27 | 2011-08-26 | Method for high-resolution detection of nanoparticles on two-dimensional detector surfaces |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102009003548A DE102009003548A1 (de) | 2009-02-27 | 2009-02-27 | Verfahren zur hochaufgelösten Erfassung von Nanopartikeln auf zweidimensionalen Messflächen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102009003548A1 true DE102009003548A1 (de) | 2010-09-02 |
Family
ID=42111598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102009003548A Pending DE102009003548A1 (de) | 2009-02-27 | 2009-02-27 | Verfahren zur hochaufgelösten Erfassung von Nanopartikeln auf zweidimensionalen Messflächen |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8587786B2 (de) |
EP (1) | EP2401602A1 (de) |
JP (1) | JP2012519271A (de) |
DE (1) | DE102009003548A1 (de) |
WO (1) | WO2010097369A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012076640A1 (de) * | 2010-12-09 | 2012-06-14 | Fachhochschule Jena | Verfahren und anordnung zur bestimmung des brechzahlgradienten eines materials |
WO2012147021A1 (en) * | 2011-04-28 | 2012-11-01 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Evaluating assays which optical inhomogeneities |
US8587786B2 (en) | 2009-02-27 | 2013-11-19 | Leibniz—Institut für Analytische Wissenschaften—ISAS—e.V. | Method for high-resolution detection of nanoparticles on two-dimensional detector surfaces |
DE102017104379A1 (de) | 2017-03-02 | 2018-09-06 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronischer partikelsensor |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102014202844A1 (de) * | 2014-02-17 | 2015-08-20 | Robert Bosch Gmbh | Plasmonische Sensorvorrichtung und Verfahren zur Oberflächenplasmonen-Resonanzspektroskopie |
DE102017116055A1 (de) | 2017-07-17 | 2019-01-17 | Leibniz - Institut Für Analytische Wissenschaften - Isas - E.V. | Verfahren zur optischen Erfassung einzelner Nanoobjekte |
FR3093807B1 (fr) * | 2019-03-13 | 2021-04-16 | Myriade | Dispositif et procédé pour l’observation de microparticules et de nanoparticules. |
US10551313B1 (en) * | 2019-04-15 | 2020-02-04 | The Florida International University Board Of Trustees | Surface plasmon resonance based mechanical sensing of beating heart cells |
CN112557262B (zh) * | 2019-09-26 | 2022-12-09 | 中国科学院微电子研究所 | 一种单个纳米颗粒的探测方法及探测装置 |
FR3139916A1 (fr) * | 2022-09-19 | 2024-03-22 | Institut D'optique Graduate School | Microscope optique avec résonateur |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4024476C1 (de) | 1990-08-02 | 1992-02-27 | Boehringer Mannheim Gmbh, 6800 Mannheim, De | |
DE102004033869B3 (de) | 2004-07-13 | 2006-03-30 | Gesellschaft zur Förderung der Spektrochemie und angewandten Spektroskopie e.V. | Verfahren zur Bestimmung von Oberflächenplasmonenresonanzen an zweidimensionalen Messflächen |
DE102005054495A1 (de) * | 2005-11-16 | 2007-05-24 | Mivitec Gmbh | Verteilte Sensor- und Referenzspots für Chemo- und Biosensoren |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19615366B4 (de) * | 1996-04-19 | 2006-02-09 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren und Einrichtung zum Nachweis physikalischer, chemischer, biologischer oder biochemischer Reaktionen und Wechselwirkungen |
JPH10267841A (ja) * | 1997-03-24 | 1998-10-09 | Kokuritsu Shintai Shogaisha Rehabilitation Center Souchiyou | 表面プラズモン共鳴センシングデバイス |
GB2326229A (en) * | 1997-06-13 | 1998-12-16 | Robert Jeffrey Geddes Carr | Detecting and analysing submicron particles |
JP2003514224A (ja) | 1999-11-12 | 2003-04-15 | サーロメッド・インコーポレーテッド | 表面プラズモン共鳴を使用するバイオセンシング |
JP2006125860A (ja) * | 2004-10-26 | 2006-05-18 | Fujikura Ltd | 表面プラズモンセンサ及び表面プラズモン測定装置 |
JP2006308321A (ja) * | 2005-04-26 | 2006-11-09 | Toyobo Co Ltd | 表面プラズモン共鳴センサ用チップ |
US7233396B1 (en) | 2006-04-17 | 2007-06-19 | Alphasniffer Llc | Polarization based interferometric detector |
GB2459604B (en) * | 2007-02-26 | 2011-07-06 | Wisconsin Alumni Res Found | Surface plasmon resonance compatible carbon thin films |
JP2009042112A (ja) * | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Fujifilm Corp | センシング装置およびこれを用いたセンシング方法 |
DE102009003548A1 (de) | 2009-02-27 | 2010-09-02 | Leibniz-Institut für Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V. | Verfahren zur hochaufgelösten Erfassung von Nanopartikeln auf zweidimensionalen Messflächen |
-
2009
- 2009-02-27 DE DE102009003548A patent/DE102009003548A1/de active Pending
-
2010
- 2010-02-23 EP EP10706196A patent/EP2401602A1/de not_active Withdrawn
- 2010-02-23 JP JP2011551477A patent/JP2012519271A/ja active Pending
- 2010-02-23 WO PCT/EP2010/052229 patent/WO2010097369A1/de active Application Filing
-
2011
- 2011-08-26 US US13/218,804 patent/US8587786B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4024476C1 (de) | 1990-08-02 | 1992-02-27 | Boehringer Mannheim Gmbh, 6800 Mannheim, De | |
DE102004033869B3 (de) | 2004-07-13 | 2006-03-30 | Gesellschaft zur Förderung der Spektrochemie und angewandten Spektroskopie e.V. | Verfahren zur Bestimmung von Oberflächenplasmonenresonanzen an zweidimensionalen Messflächen |
DE102005054495A1 (de) * | 2005-11-16 | 2007-05-24 | Mivitec Gmbh | Verteilte Sensor- und Referenzspots für Chemo- und Biosensoren |
Non-Patent Citations (6)
Title |
---|
"Differential Surface Plasmon Resonance Imaging for High-Throughput Bioanalyses" von Boecker et al., Anal. Chem. 2007. Bd. 79, S. 702-709 |
"Imaging of Cell/Substrate Contacts of Living Cells with Surface Plasmon Resonance Microskopy" von K. -F. Giebel et al., Biophysical J. Bd. 76, 1999 S. 509-516 |
BJÖRN,M. Reinhart,et.al.:Resolving subdiffraction-limit distances,9. Febr.2009,SPIE Newsroom.DOI:10.1117/2.1200902.1452 $ganzes Dokument,insb. Fig.4$ * |
BJÖRN,M. Reinhart,et.al.:Resolving subdiffraction-limit distances,9. Febr.2009,SPIE Newsroom.DOI:10.1117/2.1200902.1452 ganzes Dokument,insb. Fig.4 GUOXIN,Rong.,et.al.:Resolving Sub-Diffraction Limit Encounters in Nanoparticle Tracking Using Live Cell Plasmon Coupling Microscopy Nano Letters,2008,Vol.8,No.10,S,3386-3393 ganzes Dokument,insb. Fig.3 TIMOTHY,M. Chinowsky,et.al.:Optical and electronic design for a high-perfomance surface plasmon resonance imager.In:Proc SPIE Vol.5261,Editor Brian M.Cullum March 2004,S.173-182 Abschn. 3.3,Punkt2.Framerate |
GUOXIN,Rong.,et.al.:Resolving Sub-Diffraction Limit Encounters in Nanoparticle Tracking Using Live Cell Plasmon Coupling Microscopy Nano Letters,2008,Vol.8,No.10,S,3386-3393 $ganzes Dokument,insb. Fig.3$ * |
TIMOTHY,M. Chinowsky,et.al.:Optical and electronic design for a high-perfomance surface plasmon resonance imager.In:Proc SPIE Vol.5261,Editor Brian M.Cullum March 2004,S.173-182 bschn. 3.3,Punkt2.Framerate$ * |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8587786B2 (en) | 2009-02-27 | 2013-11-19 | Leibniz—Institut für Analytische Wissenschaften—ISAS—e.V. | Method for high-resolution detection of nanoparticles on two-dimensional detector surfaces |
WO2012076640A1 (de) * | 2010-12-09 | 2012-06-14 | Fachhochschule Jena | Verfahren und anordnung zur bestimmung des brechzahlgradienten eines materials |
WO2012147021A1 (en) * | 2011-04-28 | 2012-11-01 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Evaluating assays which optical inhomogeneities |
CN103620392A (zh) * | 2011-04-28 | 2014-03-05 | 皇家飞利浦有限公司 | 评估具有光学不均匀性的测定 |
CN103620392B (zh) * | 2011-04-28 | 2017-05-17 | 皇家飞利浦有限公司 | 具有光学不均匀性的测定的评估方法及装置 |
US10466163B2 (en) | 2011-04-28 | 2019-11-05 | Koninklijke Philips N.V. | Concurrently evaluating assays with optical inhomogeneities |
DE102017104379A1 (de) | 2017-03-02 | 2018-09-06 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronischer partikelsensor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8587786B2 (en) | 2013-11-19 |
WO2010097369A1 (de) | 2010-09-02 |
JP2012519271A (ja) | 2012-08-23 |
EP2401602A1 (de) | 2012-01-04 |
US20110311962A1 (en) | 2011-12-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102009003548A1 (de) | Verfahren zur hochaufgelösten Erfassung von Nanopartikeln auf zweidimensionalen Messflächen | |
US8520213B2 (en) | Spatial light interference microscopy and fourier transform light scattering for cell and tissue characterization | |
DE102006027836B4 (de) | Mikroskop mit Autofokuseinrichtung | |
DE60133383T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Oberflächenplasmonenmikroskopie | |
CN105628655B (zh) | 一种基于表面等离子体共振的光学显微镜 | |
DE60109128T2 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung des Volumens einer einzigen roten Blutzelle | |
DE102015003019A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Detektion einer Bewegung in einer biologischen Probe mit räumlicher Ausdehnung | |
US20190195776A1 (en) | Common-path interferometric scattering imaging system and a method of using common-path interferometric scattering imaging to detect an object | |
DE102007017598A1 (de) | Verfahren und Anordnung zum Positionieren eines Lichtblattes in der Fokusebene einer Detektionsoptik | |
WO2012156131A1 (de) | Prüfvorrichtung für eine kamera sowie ein verfahren zur prüfung einer kamera | |
DE112008003430T5 (de) | Oberflächenplasmonenresonanz benutzendes Fluoreszenzmikroskop | |
US20120283516A1 (en) | Dark field endoscopic microscope | |
DE19631498A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Rasternahfeldmikroskopie an Probekörpern in Flüssigkeiten | |
EP2647982B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum bestimmen eines kritischen winkels eines anregungslichtstrahls | |
DE102015210016A1 (de) | Verfahren zum Ermitteln einer ortsaufgelösten Höheninformation einer Probe mit einem Weitfeldmikroskop und Weitfeldmikroskop | |
DE60111010T2 (de) | Verfahren zur Bestimmung des Volumens einer einzigen roten Blutzelle | |
DE102008014335B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung einer Brechzahl eines Messobjekts | |
DE60109261T2 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung des Volumens einer einzigen roten Blutzelle | |
US20090116024A1 (en) | Method for obtaining a high resolution image | |
CN112557363B (zh) | 一种基于飞秒激光调制相位的单粒子快速识别方法 | |
DE102007005147A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung der Anheftung oder Ablösung lebender oder toter Zellen oder zellähnlicher Partikel oder sonstiger Oberflächenbelegung an Oberflächen mittels Plasmonenresonanz sowie Verwendung dieses Verfahrens und dieser Vorrichtung | |
KR101535918B1 (ko) | 선택적 평면 조사 현미경을 이용한 나노 물질 위해성 평가 방법 | |
Brettin et al. | Quantification of resolution in microspherical nanoscopy with biological objects | |
DE60204735T2 (de) | Verfahren zum Kalibrieren der Probenhöhe in einem Analysegerät | |
Inami et al. | Visualization of ultraviolet absorption distribution beyond the diffraction limit of light by electron‐beam excitation‐assisted optical microscope |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
R082 | Change of representative |
Representative=s name: WEISSE, RENATE, DIPL.-PHYS. DR.-ING., DE |
|
R012 | Request for examination validly filed | ||
R016 | Response to examination communication |