WO2012076640A1 - Verfahren und anordnung zur bestimmung des brechzahlgradienten eines materials - Google Patents
Verfahren und anordnung zur bestimmung des brechzahlgradienten eines materials Download PDFInfo
- Publication number
- WO2012076640A1 WO2012076640A1 PCT/EP2011/072166 EP2011072166W WO2012076640A1 WO 2012076640 A1 WO2012076640 A1 WO 2012076640A1 EP 2011072166 W EP2011072166 W EP 2011072166W WO 2012076640 A1 WO2012076640 A1 WO 2012076640A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- sample
- refractive index
- light
- focused
- bundle
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/4133—Refractometers, e.g. differential
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9511—Optical elements other than lenses, e.g. mirrors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/552—Attenuated total reflection
Definitions
- the invention relates to a method for determining the refractive index gradient of a material on the basis of the reflection behavior of this material.
- the invention further relates to an arrangement for practicing this method.
- GRIN Gradient Index
- a streak gauge such as the SAG80 from Carl Zeiss operating in transmitted light according to the Töpler method
- the results are not sufficiently accurate.
- a slit image is generated via an illuminated gap. If a measurement sample has different refractive indices, a further shifted slit image is generated due to the light deflection. Depending on the refractive index, the deflection takes place at different angles.
- the gradient can be traced on the basis of the shadow contour.
- the diffuse shadow edges resulting from the continuously changing refractive index proved to be very disadvantageous. They complicate and subjectivize the determination of individual measuring points and cause significant errors in the determination of the deflection angle.
- the method described is associated with a very high time and effort and due to the measurement error is not sufficiently accurate. It can therefore only serve as a means of determining the refractive index gradient.
- both the interferometric and Töpler methods described above operate on the transmitted light principle, that is, the samples are irradiated for measurement. This places very high demands on the sample quality.
- the two opposing measuring surfaces must not only be planar in plan, but also plane-parallel to each other, since otherwise deviations in the refractive index and geometric deviations (for example thickness and angle deviations) are also detected. This makes sample preparation and measurements time and cost consuming. For sufficient accuracy, these samples must be polished to a ring ( ⁇ / 2) and better. The larger the spatial extent of the measurement objects, the more difficult it becomes to achieve this required planarity.
- Another problem is that for accurate representation and evaluation of the interference pattern of the entire measuring body should be irradiated. In the case of larger objects, only partial sections can usually be imaged and measured.
- the interferometric measuring methods have been further developed in recent years, with the aim of determining very small homogeneity fluctuations.
- the detected wavefront deviation can be converted into a refractive index fluctuation.
- the technical requirements for this are so significant that these measuring methods are only used by the major glass-producing companies, such as Schott and Ohara.
- the present invention seeks to provide a cost-effective method of the aforementioned type, which no longer has these disadvantages, as well as at least specify an arrangement suitable for practicing this method, with little effort to implement, in particular for the analysis macro-optical Samples are suitable.
- the following method steps are provided in a method for determining the refractive index gradient of a sample of a material: First, a bundle of light rays is focused and passed through an optically transparent medium, which has a higher refractive index than the material of the sample, to a position on the surface of the sample Sample, the location where the light beam strikes the sample is therefore in focus, so that the bundle is essentially concentrated at a single point. meets.
- the focused light beams of the beam strike the medium and the sample at different angles, this angle range being the incident angle range.
- the angle of incidence range of the focused light rays contains the critical angle of total reflection so that the part of the light rays with angles of incidence greater than the critical angle is reflected at the position on the sample, and the part of the light rays with angles of incidence less than or equal to the critical angle at the position on the sample enters this, that is not reflected.
- the light totally reflected at the position on the surface of the sample ie the reflected light beams, emerge again from the optically transparent medium in a range of reflection angles in accordance with the laws of optics and are detected in a spatially resolved manner after passage through this medium.
- Detection takes place as an intensity profile, i. In areas where the reflected rays hit a detector, a higher intensity is registered than in areas not hit by rays because they correspond to angles of reflection smaller than the critical angle of total reflection. Ideally, therefore, a light-dark field with a sudden transition is detected.
- the spatially resolving detector must therefore be arranged so that it can detect both areas in principle.
- the refractive index at the position of the surface is then determined on the basis of the intensity profile: Where the intensity drops abruptly to zero, the critical angle of total reflection must be located. If a CCD line detector is used, this transition can be assigned to a pixel.
- the steps described above are then repeated for further positions on the surface of the sample, and then the refractive index gradient is determined on the basis of the refractive indices determined for the individual positions.
- the method can also be applied to homogeneous materials.
- the refractive index itself is determined, the refractive index gradient is zero, since the refractive index does not change between different positions.
- the materials whose samples are examined are often transparent materials, such as special gradient optical components.
- partially transparent materials such as silicon wafers or even nontransparent materials are readily available to the measuring method.
- the refractive index of dichroic mirrors or other reflective elements can also be determined.
- the residual light passing through the reflective element which may be about 10% of the total amount of light.
- the light beams - starting from a radiation source - are directed through a high refractive prism as optically transparent medium onto the surface such that the light reflected from the surface passes through the prism again and then encounters a spatially resolving detection device.
- the prism is at least at the measuring position in contact with the surface of the sample, so that the condition of the total reflection is realized or prism and sample are optically coupled.
- the surface of the sample and the corresponding side of the prism for example, both be designed plan by polishing, during the measurement they are then in contact.
- the flat surfaces are temporarily separated from each other along the normal direction of the flat surfaces to avoid inaccuracies in the positioning by static friction and sliding friction.
- an immersion liquid is applied between the prism surface from which the focused light rays emerge and into which the reflected light re-enters on the one hand and the surface of the material on the other hand. In this way, prism and sample can be shifted against each other, without causing friction problems, the separation along the normal direction can be dispensed with.
- the immersion liquid ideally has a refractive index identical to that of the prism, but it may also be smaller than that of the prism, but must be greater than the refractive index of the material of the sample.
- a homogeneity profile of the refractive index for the material can be determined in addition to the refractive index gradient.
- the distance between the prism surface from which the focused light exits and where the reflected light re-enters on the one hand and the surface of the material on the other hand should be kept constant.
- the light beam of a super-luminescent LED can preferably be used for the light beam, and is expediently limited to a narrow-band spectral range approximately around the middle of the spectrum at the fiber output of the SLED, which has the shape of a Gaussian distribution, ie in particular to a region above the FWHM.
- a Gaussian distribution ie in particular to a region above the FWHM.
- speckles on the detector avoid.
- the invention also relates to an arrangement suitable for carrying out the above-described method for determining refractive index gradients of a sample of a material, comprising:
- an optically transparent medium which has a higher refractive index than the material of the sample and is arranged between the light source and the sample,
- optical means for focusing the bundle of light beams emanating from the light source through the optically transparent medium to a position on the surface of the specimen, wherein an incident angle range of the focused light beams contains the critical angles of total reflection
- a spatially resolving detection device for detecting the light reflected from this position of the surface in a range of angles of reflection as an intensity profile
- control and evaluation device connected to the detection device and configured to determine the refractive index of the sample at the position where the bundle of light beams impinges, based on the detected intensity profile, and to form a refractive index gradient for combining the refractive indices determined for all positions is.
- the optically transparent medium is designed as a prism, through which the bundle of light rays is directed onto the surface and through which the reflected light is directed onto the detection device, between a prism surface from which the focused light rays exit and into which reflected light on the one hand and the surface of the sample of the material on the other hand particularly preferably an immersion liquid is provided.
- the immersion liquid has the properties already mentioned above in connection with the method.
- the control and evaluation device is preferably also designed to link the refractive indices determined for all positions to a homogeneity profile.
- the light source is preferably designed as a superluminescent LED (SLED), which - in conjunction with a fiber connector (fiber pigtaif) - emits light in the form of a Gaussian distribution in a broad spectral range of, for example, 100 nm. From this spectral range, the middle region with the highest power density is preferably selected.
- the wavelength range can be varied, for example by changing the LED used to generate light. This change requires adjustment of the focusing optics, which can be done automatically.
- a line detector in the spatially resolving detection device, for example a CCD line, and the bundle of light beams emerging from the optically transparent medium by means of a corresponding optical system, for example with a cylindrical lens to focus linearly on this line detector.
- the new method allows a homogeneity check for refractive index continuity, which is more accurate and much cheaper compared to commercially available methods.
- the measured value acquisition and processing, in conjunction with database systems, can enable validation of the refractive index homogeneity curves.
- the refractive index can be determined at each point on the sample surface.
- the detection of one- or two-dimensional gradient profiles and, on the other hand, a homogeneity check of the refractive index is possible for both micro- and macro-optics.
- the reflection on the object surface is used in this new method for determining the refractive index;
- the processing of each area to be measured is required and the preparation effort low.
- structural errors in the glass component do not lead to falsification of the measurement results.
- the height of the measurable refractive index is dependent on the refractive index of the prism or of the immersion liquid. This must be higher than that of the glass to be measured.
- GRIN elements which have refractive indices of up to 1.65, prisms and immersion liquids having higher refractive indices, for example 1.7, are therefore to be used.
- Refractive indices of up to 1, 8 can be achieved without further ado, for even higher refractive indices, toxic immersion liquids would have to be used at present, which makes the use more expensive due to necessary protective measures.
- the spatial resolution is improved, the greater the difference between the refractive index of the sample and that of the immersion liquid or of the prism.
- the refractive indices of both are identical, since then the influence of the rays at the interfaces between the two media is the lowest.
- the measurement accuracy of the refractive indices is determined by the resolution of the detector and the precision of the profile detection by the minimum step size of the displacement device and the diameter of the light beam.
- the resolution of the method is essentially determined by the step size of the sample displacement - for example, in areas of less than 1 ⁇ to some ⁇ - and on the other by the resolution of the CCD line.
- the size and shape of the focal point can be designed with appropriate optics, from less than 10 ⁇ up to about 100 ⁇ example. For procedural reasons, this means that it is possible to design both low-resolution measuring arrangements (fast and cost-effective) and very high-resolution systems.
- Fig. 2 shows a modification in the structure of this arrangement.
- the material is transparent, but this is not a mandatory prerequisite, even partially transparent or non-transparent materials can be examined, since the measurement method exploits the reflection on the sample.
- the sample 1 has a planar surface 2, which faces the light inlet and outlet surface 3 of a prism 4 in parallel at a distance a. Between sample 1 and prism 4 is an immersion liquid 14.
- the prism 4 has, in addition to this light input and light exit surface 3, a light entry surface 5 and a light exit surface 6.
- the prism surfaces 3, 5 and 6 are named in the context of this invention, mutatis mutandis, according to the input and output direction of a bundle of light beams 7, starting from a light source 8 by a focusing device 9 passes through the prism 4 to a location 10 of the surface 2 of sample 1 hits.
- the angle ⁇ corresponds approximately to the limiting angle of the total reflection, so that the light beams 7 strike the sample 1 both at angles which are greater than this critical angle and at angles which are smaller than this critical angle.
- the refractive index of the prism and the immersion liquid should be greater than the mean or assumed refractive index of the sample.
- both refractive indices should be the same or almost identical, since then the beam path at the boundary layer is least affected. If, for example, the expected refractive index of the material to be investigated is 1.65, then the refractive index of prism and immersion liquid should be chosen to be about 1.70. The spatial resolution becomes better the larger the difference. From the location 10, the bundle of light rays 7 is reflected at an angle ⁇ due to the total reflection. In the reflection direction of the light, a detection device is arranged, which has a CCD line 1 1.
- the intensity of the incident light beams is detected, so that there is an intensity profile.
- the output signals of the CCD line 1 1 are applied via a signal path 12 to a drive and evaluation circuit 13, which is equipped with an arithmetic function for determining the exact size of the angle ⁇ and for determining the refractive index of the sample material at the location 10.
- the determination of the critical angle is carried out based on an analysis of the intensity profile. Since the intensity changes abruptly when reaching the critical angle of total reflection, the critical angle can first be set in relation to a pixel on the CCD line 11.
- the refractive index of the material at the measured location can be determined.
- the evaluation device can also be calibrated by comparison measurements under the same conditions, in particular with regard to the thickness and type of immersion liquid, to homogeneous glasses of known refractive index, so that each pixel can be uniquely assigned a refractive index.
- a SLED with connecting fiber piece is used as the light source 8.
- This arrangement emits light in a broadband wavelength range, for example, between 30 nm and 60 nm.
- the power density follows a Gaussian distribution, which is why a narrower range, for example between 10 nm and 20 nm, is selected by the maximum of this distribution for the illumination.
- SLED to coherent light sources has the advantage that the occurrence of speckles on the CCD line 1 1 can be prevented.
- a displacement device is provided (not shown in FIG. 1), which serves to vary the position or location 10 at which the bundle of light rays 7 impinges on the surface 2.
- the displacement of the sample 1, which is mounted on a holder - for example by means of fixation in a three-point support - can be done by means of two translational drives, the sampling then takes place in a Cartesian coordinate system. Space saving can be done by means of a rotary drive, which is driven by a fixed mounted linear drive.
- the combination of translational and rotational displacement of the sample then results in a star-shaped measuring point distribution, the minimum step size can be, for example, 5 ⁇ m, and about 80 ⁇ m at the sample edge in the case of star-shaped scanning.
- the refractive index is determined after each change of location at the newly set location and assigned to this location. From a multiplicity of such measurements and their measurement results, the refractive index of the sample 1 is determined with spatial resolution by means of the control and evaluation circuit 13 and a refractive index homogeneity profile or a refractive index gradient, also referred to as gradient index, for the material of which the sample 1 consists, won and saved for further availability.
- a refractive index homogeneity profile or a refractive index gradient also referred to as gradient index
- Fig. 2 shows a modification of the arrangement shown in Fig. 1 is shown, which allows an even more compact design.
- the prism 15 shown here is constructed in the shape of a parallelogram, the side parallel to the light entry surface 5 is mirrored and forms a deflection mirror 16.
- the focusing device 9 here comprises two lenses, with which the bundle of light rays 7 - not parallel - is focused on the sample 1.
- the center beam - characterized by a solid line - falls on the sample 1 at an angle which is slightly larger than the critical angle of total reflection, so that light rays which strike the sample 1 at an even greater angle, like the dotted line Ray, whereas rays which strike the sample 1 at a smaller angle - measured with respect to the normal of the sample surface - pass through the sample as in the case of the dot-dashed ray.
- a cylindrical lens can be installed over the CCD line 11, which focuses the incident light linearly.
- the CCD line 1 1 is positioned in relation to the light exit surface 6 in such a way that the light-dark field corresponding to the transition in the intensity profile is used in the best possible way over the entire possible refractive index range: Since the refractive index is fundamentally nonlinear from the position of this light-dark Transition depends, but in a large range is approximately linear, can be increased by appropriate positioning of the CCD line, 1 1 as the angle to the light exit surface 6, the linear range, which can be the evaluation more accurate.
- the inventive method and the arrangement allow the spatially resolved determination of refractive indices in GRIN devices.
- One- and two-dimensional refractive index profiles are detected independently of the spatial extent of the gradients or of the optical components. As a result, spatially resolved analysis is also possible in particular in micro-optics, in average component geometries and even in very large component dimensions. This is not possible with the prior art.
- the device can also be made very compact, so that it can be designed as a hand-held, mobile device. It is then also possible to determine the refractive index directly on large glass components, for example on float glass plates. This will be the Device placed on the glass plate, wherein between the glass plate and optically transparent medium, an immersion liquid or another medium is applied with the same effect. This can be done in advance, but also by a corresponding, integrated in the device feeder. Varying distances between the object to be examined and the optically transparent medium, ie in particular varying layer thicknesses of the immersion medium, can be taken into account by means of a refocusing of the focusing device that can also be carried out automatically and mathematically in the evaluation circuit.
- optical components which have refractive index gradients in from three spatial directions.
- new optical monolithic functional components in optical design which can also be evaluated metrologically after production.
- An essential advantage of the method according to the invention is the determination of the refractive index values solely by reflection at the object surface. This requires, in contrast to most previous methods, only the processing of a measuring surface. As a result, the process leads to a significant reduction in the time required for the measurement process and the sample preparation as well as the costs for sample preparation. However, it is also decisive that it is possible to measure on the finished component on arbitrarily shaped optical components and contours, up to the aspherical components and free-form surfaces which are increasingly being used in the next few years. On the other hand, known interferometric measuring methods require an individual CGH (computer-generated hologram) for each aspheric form, which requires an additional production cost of between 4,000-1,000 €.
- CGH computer-generated hologram
- the cost-effectiveness is a significant advantage of the method according to the invention over previously known solutions.
- the method can enable the realization of a wide range of measurement tasks, different component assortments of the respective manufacturers, depending on the design of the device configuration.
- the resolution-limiting parameters of the new mode of action allow a modular application of the method.
- Derivable device solutions then permit a modification according to the selected measuring task and user without problems.
- the new method also allows a homogeneity check for refractive index continuity, which is more accurate and cost-efficient compared to commercially available methods.
- the method can be used in very different fields, in particular in the fields of production of optical materials, production of optical components, fiber technology, optoelectronics / sensor technology.
- the method allows the application both for mineral glasses and for other materials, such. As plastics, crystal materials and liquids.
- the user is enabled to be able to determine refractive index profiles spatially resolved in optical components with a comparatively low capital expenditure.
- the new process can also be used for the quality assurance of a wide variety of component assortments of the abovementioned areas close to production.
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Anordnung zur Bestimmung des Brechzahlgradienten einer Probe (1) eines Materials an dessen Oberfläche (2) unter Zugrundelegung des Reflexionsverhaltens dieses Materials. Dabei wird ein Bündel von Lichtstrahlen (7) einer Lichtquelle (8) fokussiert und durch ein optisch transparentes Medium, welches eine höhere Brechzahl als das Material der Probe aufweist, hindurch auf eine Position (10) an der Oberfläche (2) der Probe (1) fokussiert. Das optisch transparente Medium ist zwischen Probe (1) und Lichtquelle (8) angeordnet. Der Einfallswinkelbereich der fokussierten Lichtstrahlen (7) enthält den Grenzwinkel der Totalreflexion. Totalreflektierte Lichtstrahlen (7) werden in einem Ausfallswinkelbereich nach Durchtritt durch das optisch transparente Medium ortsaufgelöst als Intensitätsprofil mit einer Detektierungseinrichtung detektiert. Anhand des Intensitätsprofils wird der Brechungsindex des Materials an der Position der Oberfläche (2) ermittelt. Anschließend wird die Position, auf die das Bündel von Lichtstrahlen fokussiert wird, variiert. Anhand der für die einzelnen Positionen bestimmten Brechungsindizes wird dann mittels einer Ansteuer- und Auswerteeinrichtung ein Brechzahlgradient bestimmt.
Description
Titel
Verfahren und Anordnung zur Bestimmung des Brechzahlgradienten eines Materials
Gebiet der Erfindung
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Bestimmung des Brechzahlgradienten eines Materials unter Zugrundelegung des Reflexionsverhaltens dieses Materials. Die Erfindung bezieht sich weiterhin auf eine Anordnung zur Ausübung dieses Verfahrens.
Stand der Technik
In der modernen Produktion spielen optische Systeme oft eine entscheidende Rolle. Dies reicht von der Prozessüberwachung und -regelung bis hin zur Produktkontrolle und Qualitätssicherung. Die wachsenden Anforderungen der Industrie, welche mit herkömmlichen optischen Bauelementen meist nicht zu realisieren sind, haben in den letzten Jahren zu ei- ner verstärkten Entwicklung von Optiken mit gezielt beeinflussbaren Brechungseigenschaften geführt. Solche gradientenoptischen Bauelemente, kurz als GRIN(Gradientenindex)- Bauelemente bezeichnet, sind Bauelemente aus inhomogenen Medien mit einer sich als Funktion des Ortes kontinuierlich, d.h. stetig, oder auch sprunghaft ändernden Brechzahl n. Für eine erfolgreiche Markteinführung und Produktion von optischen Bauelementen ist die Bestimmung und Kontrolle der Produktparameter, das heißt der Größe und Lage des Brechzahlprofils zwingend erforderlich, d.h. es wird eine Objektivierung der technischen Parameter durch geeignete Mess- und Prüftechnik/Qualitätssicherung benötigt. Zum gegenwärtigen Zeitpunkt gestaltet sich die Erfassung von Brechungsindexprofilen in Gläsern jedoch sehr schwierig bzw. ist für große Gradienten nicht möglich. Mit handelsüblichen Geräten sind Gradientenverläufe aufgrund der verwendeten Mess- und/oder Auswerteverfahren und aufwendiger Probenpräparation entweder nicht detektierbar, wie beispielsweise mit einem Abbe-/Pulfrich-Refraktometer, welches nur für homogene Festkörper geeignet
ist, oder die Messungen sind - wenn man beispielsweise interferometrische, auch interferenzmikroskopische Durchlicht-Verfahren verwendet - sehr arbeitsintensiv und teuer. Die überwiegende Mehrzahl der heutigen Verfahren nutzt die Interferenz von Lichtstrahlen mit unterschiedlichen Phasen zur Bestimmung der optischen Eigenschaften. Die Methode er- laubt die Erfassung der Brechzahl mit hoher Genauigkeit. Solche Verfahren sind beispielsweise in JP 2007 05 73 76 A und JP 2005 33 14 81 A beschrieben.
Bei Verwendung eines Schlierenmessgeräts wie das nach dem Töpler-Verfahren im Durchlicht arbeitende SAG80 der Firma Carl Zeiss - sind die Ergebnisse nicht hinreichend genau. Bei diesem Verfahren wird über einen beleuchteten Spalt ein Spaltbild erzeugt. Weist eine Messprobe unterschiedliche Brechungsindizes auf, so wird auf Grund der Lichtablenkung ein weiteres verschobenes Spaltbild erzeugt. In Abhängigkeit vom Brechungsindex erfolgt die Ablenkung unter unterschiedlichen Winkeln. Durch sukzessives Ausblenden des abgelenkten Lichtes mittels einer Schneidblende kann der Gradient anhand der Schattenkontur ver- folgt werden. Als sehr nachteilig erwiesen sich die aus der sich kontinuierlich ändernden Brechzahl resultierenden diffusen Schattenränder. Sie erschweren und subjektivieren die Festlegung einzelner Messpunkte und verursachen deutliche Fehler bei der Ermittlung der Ablenkwinkel. Die beschriebene Methode ist mit einem sehr hohen Zeit- und Arbeitsaufwand verbunden und aufgrund der Messfehler nicht hinreichend genau. Sie kann daher nur als Behelfsmöglichkeit zur Bestimmung von Brechzahlgradienten dienen.
Jedoch sowohl die interferometrischen als auch das vorangehend beschriebene Töpler- Verfahren arbeiten nach dem Durchlichtprinzip, das heißt die Proben werden zur Messung durchstrahlt. Dies stellt sehr hohe Anforderungen an die Probenqualität. Die beiden gegenü- berstehenden Messflächen müssen nicht nur in sich plan, sondern auch zueinander planparallel sein, da sonst neben den Brechzahländerungen auch geometrische Abweichungen (z.B. Dicken-, Winkelabweichungen) mit erfasst werden. Dies macht Probenpräparation und Messungen zeit- und kostenaufwendig. Für eine hinreichende Genauigkeit müssen diese Proben auf einen Ring (λ/2) und besser poliert werden. Je größer die räumliche Ausdehnung der Messobjekte ist, umso schwieriger wird es, diese erforderliche Planität zu erreichen.
Ein weiteres Problem ist, dass zur genauen Darstellung und Auswertung der Interferenzmuster der gesamte Messkörper durchstrahlt werden sollte. Bei größeren Objekten sind in der Regel nur Teilabschnitte abbild- und messbar.
Für Verfahren, welche zur Ermittlung der Brechzahlverteilung die Reflexion eines Lichtstrahls an der Vorder- und Rückseite des Messobjektes nutzen, gelten dieselben Anforderungen bzw. Einschränkungen.
Somit stellt die derzeit verfügbare Messtechnik eine Hemmschwelle für den Einsatz von innovativen optischen Bauelementen wie GRIN-Optikbauelementen dar.
Für eine zukünftige Produktion von GRIN-Elementen in mittleren bis großen Stückzahlen ist es dringend erforderlich, ein geeignetes Verfahren zur Bestimmung von Brechungsindexprofilen in Gläsern zu entwickeln, welches Messungen mit hinreichender Genauigkeit und vertretbarem Aufwand erlaubt. Im Vergleich zu konventionellen Verfahren sollte keine aufwendige Probenpräparation notwendig sein. Geräte, die diesen Anforderungen zumindest teilweise genügen, sind derzeit ausschließlich für Glasfasern und Mikrooptiken auf dem Markt, sie sind jedoch für größere Bauelemente nicht nutzbar. So wird beispielsweise bei GRIN-Fasern und -Mikrooptiken der Brechzahlgradient häufig nach der sogenannten Refractive-Near-Field-Methoöe bestimmt, welche die ortsabhängige Änderung der Lichtbrechung ausnutzt. Verfahrensbedingt lassen sich nur mikrooptische, kleine Proben mit einem Messbereich von maximal 0,5 x 0,5 mm2 analysieren. Für die Messungen sind zwei polierte Planflächen, die exakt einen Winkel von 90° einschließen, erforderlich. Dies bedingt ebenfalls eine zeitaufwendige Probenpräparation.
Hinsichtlich der Bestimmung von Homogenitätsverläufen in optischen Gläsern wurden in den letzten Jahren die interferometrischen Messverfahren weiterentwickelt, mit dem Ziel sehr kleine Homogenitätsschwankungen zu bestimmen. Die dabei ermittelte Wellenfrontabwei- chung kann in eine Brechzahlschwankung umgerechnet werden. Die gerätetechnischen Anforderungen dafür sind jedoch so erheblich, dass diese Messverfahren lediglich bei den großen glasherstellenden Firmen, wie bspw. Schott und Ohara, zum Einsatz kommen.
Beschreibung der Erfindung
Davon ausgehend liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde ein kostengünstiges Verfahren der vorgenannten Art zu schaffen, das diese Nachteile nicht mehr aufweist, sowie mindes- tens eine zur Ausübung dieses Verfahrens geeignete, mit wenig Aufwand zu realisierende Anordnung anzugeben, die insbesondere auch für die Analyse makrooptischer Proben geeignet sind.
Erfindungsgemäß sind bei einem Verfahren zur Bestimmung des Brechzahlgradienten einer Probe eines Materials folgende Verfahrensschritte vorgesehen: Zunächst wird ein Bündel von Lichtstrahlen fokussiert und durch ein optisch transparentes Medium, welches eine höhere Brechzahl als das Material der Probe aufweist, hindurch auf eine Position an der Oberfläche der Probe fokussiert, der Ort, an dem das Lichtstrahlbündel auf die Probe trifft, liegt also im Fokus, so dass das Bündel im wesentlichen an einem einzigen Punkt zusammen-
trifft. Die fokussierten Lichtstrahlen des Bündels treffen unter verschiedenen Winkeln auf das Medium und die Probe, dieser Winkelbereich ist der Einfallswinkelbereich. Dabei muss darauf geachtet werden, dass der Einfallswinkelbereich der fokussierten Lichtstrahlen den Grenzwinkel der Totalreflexion enthält, so dass der Teil der Lichtstrahlen mit Einfallswinkeln größer als dem Grenzwinkel an der Position auf der Probe reflektiert wird, und der Teil der Lichtstrahlen mit Einfallswinkeln kleiner gleich dem Grenzwinkel an der Position auf der Probe in diese eintritt, d.h. nicht reflektiert wird.
Das an der Position auf der Oberfläche der Probe totalreflektierte Licht, also die reflektierten Lichtstrahlen, treten entsprechend der optischen Gesetze in einem Ausfallswinkelbereich wieder aus dem optisch transparenten Medium aus und werden nach Durchtritt durch dieses Medium ortsaufgelöst detektiert. Die Detektierung erfolgt dabei als Intensitätsprofil, d.h. in Bereichen, auf die die reflektierten Strahlen auf einen Detektor treffen, wird eine höhere Intensität registriert als in Bereichen, auf die keine Strahlen treffen, da sie Ausfallswinkeln kleiner als dem Grenzwinkel der Totalreflexion entsprechen. Idealerweise wird also ein Hell- Dunkel-Feld mit sprunghaftem Übergang detektiert. Der ortsauflösende Detektor muss also so angeordnet sein, dass er grundsätzlich beide Bereiche detektieren kann. Anhand des Intensitätsprofils wird dann der Brechungsindex an der Position der Oberfläche ermittelt: Dort, wo die Intensität sprunghaft auf Null abfällt, ist der Grenzwinkel der Totalreflexion zu lokalisieren. Wird ein CCD-Zeilendetektor verwendet, so lässt sich dieser Übergang einem Pixel zuordnen.
Die vorangehend beschriebenen Schritte werden dann für weitere Positionen auf der Oberfläche der Probe wiederholt, anschließend wird anhand der für die einzelnen Positionen be- stimmten Brechungsindizes der Brechzahlgradient bestimmt. Selbstverständlich lässt sich das Verfahren auch bei homogenen Materialien anwenden. In diesem Fall wird die Brechzahl selbst bestimmt, der Brechzahlgradient ist Null, da sich die Brechzahl zwischen verschiedenen Positionen nicht ändert. Bei den Materialien, deren Proben untersucht werden, handelt es sich oft um transparente Materialien, wie spezielle gradientenoptische Bauelemente. Da jedoch der lokale Brechungsindex über die Reflexion an der Probe bestimmt wird, sind dem Messverfahren ohne weiteres auch teiltransparente Materialien - wie beispielsweise Silizium-Wafer - oder auch nichttransparente Materialien zugänglich. So lässt sich beispielsweise auch die Brechzahl von dichroitischen Spiegeln oder anderen reflektierenden Elementen bestimmen. Dies kann insofern von Bedeutung sein, als manche Anwendungen beispielsweise das durch das reflektierende Element tretende Restlicht, was etwa 10% der gesamten Lichtmenge ausmachen kann, verwenden.
Vorzugsweise werden die Lichtstrahlen - von einer Strahlungsquelle ausgehend - durch ein hochbrechendes Prisma als optisch transparentes Medium hindurch so auf die Oberfläche gerichtet, dass das von der Oberfläche reflektierte Licht wieder durch das Prisma hindurch tritt und danach auf eine ortsauflösende Detektierungseinrichtung trifft. Das Prisma steht dabei zumindest an der Messposition in Kontakt mit der Oberfläche der Probe, so dass die Bedingung der Totalreflexion realisiert wird bzw. Prisma und Probe optisch gekoppelt sind. Hierzu können die Oberfläche der Probe und die entsprechende Seite des Prismas beispielsweise beide durch Polieren plan ausgestaltet sein, während der Messung stehen sie dann in Kontakt. Dies verhindert auch eine mögliche Überlagerung mit Reflexionen, die an Rauhigkeiten an der Oberfläche der Probe entstehen können. Zum Wechsel der Position sind dann zur Vermeidung von Ungenauigkeiten in der Positionierung durch Haft- und Gleitreibung die planen Flächen kurzzeitig voneinander entlang der Normalenrichtung der Planflächen zu trennen. Bei einer besonders bevorzugten Verfahrensweise ist zwischen der Prismenfläche, aus welcher die fokussierten Lichtstrahlen austreten und in die das reflektierte Licht wieder eintritt einerseits und der Oberfläche des Materials andererseits eine Immersionsflüssigkeit aufgebracht. Auf diese Weise können Prisma und Probe gegeneinander verschoben werden, ohne dass Reibungsprobleme entstehen, auf das Trennen entlang der Normalenrichtung kann verzichtet werden. Die Immersionsflüssigkeit hat dabei idealerweise einen zum Prisma identischen Brechungsindex, er kann aber auch kleiner als der des Prismas sein, muss jedoch größer als der Brechungsindex des Materials der Probe sein. Durch kontinuierliche Zufuhr von Immersionsflüssigkeit sorgt man zweckmäßig dafür, dass der Flüssigkeitsfilm bei konstanter Dicke, beispielsweise im Bereich von einigen 10 μιτι bis zu etwa 0,1 mm gehalten und ein Abreißen verhindert wird.
Anhand der Ermittlung des Brechungsindex an einer Vielzahl von Positionen an der Oberfläche kann neben dem Brechzahlgradienten auch ein Homogenitätsverlauf der Brechzahl für das Material bestimmt werden. Während der Variation der Positionen, an denen das Licht- Strahlbündel auf die Oberfläche gerichtet wird, sollte der Abstand zwischen der Prismenfläche, aus welcher das fokussierte Licht austritt und in die das reflektierte Licht wieder eintritt einerseits und der Oberfläche des Materials andererseits konstant gehalten werden.
Für das Lichtstrahlbündel lässt sich vorzugsweise das Licht einer superlumineszenten LED (SLED) verwenden, dabei beschränkt man sich zweckmäßig auf einen schmalbandigen Spektralbereich etwa um die Mitte des Spektrums am Faserausgang der SLED, welches die Form einer Gaußverteilung hat, d.h. insbesondere auf einen Bereich oberhalb der Halbwertsbreite. Auf diese Weise lässt sich das Auftreten von sogenannten Speckies auf dem Detektor, wie bei kohärenten Lichtquellen zu beobachten, vermeiden.
Zur Verbesserung des Signal-Rausch-Verhältnisses ist es außerdem vorteilhaft, als Detektor einen Zeilendetektor zu verwenden, auf den das aus dem optisch transparenten Medium austretenden Licht linienförmig fokussiert wird.
Die Erfindung bezieht sich außerdem auf eine - insbesondere zur Durchführung des vorangehend beschriebenen Verfahrens geeignete - Anordnung zur Bestimmung von Brechzahlgradienten einer Probe eines Materials, umfassend:
eine Lichtquelle,
ein optisch transparentes Medium, welches eine höhere Brechzahl als das Material der Probe aufweist und zwischen Lichtquelle und Probe angeordnet ist,
eine optische Einrichtung zur Fokussierung des von der Lichtquelle ausgehenden Bündels von Lichtstrahlen durch das optisch transparente Medium hindurch auf eine Position an der Oberfläche der Probe, wobei ein Einfallswinkelbereich der fokussierten Lichtstrahlenden Grenzwinkel der Totalreflexion enthält,
eine ortsauflösende Detektierungseinrichtung für die Detektierung des von dieser Position der Oberfläche in einem Ausfallswinkelbereich reflektierten Lichts als Intensitätsprofil,
eine Einrichtung zur Variation der Position, auf die das Bündel von Lichtstrahlen fokussiert ist, und
eine mit der Detektionseinrichtung verbundene Ansteuer- und Auswerteeinrichtung, die ausgebildet ist zur Bestimmung des Brechungsindex der Probe an der Position, an dem das Bündel von Lichtstrahlen auftrifft, anhand des detektierten Intensitätsprofils, und die zur Verknüpfung der für alle Positionen ermittelten Brechungsindizes zu einem Brechzahlgradienten ausgebildet ist.
Vorzugsweise ist das optisch transparente Medium als Prisma ausgestaltet, durch welches hindurch das Bündel von Lichtstrahlen auf die Oberfläche und durch welches hindurch das reflektierte Licht auf die Detektierungseinrichtung gerichtet ist, wobei zwischen einer Pris- menfläche, aus welcher die fokussierten Lichtstrahlen austreten und in die das reflektierte Licht wieder eintritt einerseits und der Oberfläche der Probe des Materials andererseits besonders bevorzugt eine Immersionsflüssigkeit vorgesehen ist. Die Immersionsflüssigkeit weist dabei die oben bereits im Zusammenhang mit dem Verfahren erwähnten Eigenschaften auf.
Die Ansteuer- und Auswerteeinrichtung ist vorzugsweise auch zur Verknüpfung der für alle Positionen ermittelten Brechzahlen zu einem Homogenitätsverlauf ausgebildet.
Die Lichtquelle ist vorzugsweise als superlumineszente LED (SLED) ausgestaltet, die - in Verbindung mit einem Faser-Anschlussstück (fibre pigtaif) - in einem breiten Spektralbereich von beispielsweise 100 nm Licht in Form einer Gaußverteilung emittiert. Aus diesem Spektralbereich wird vorzugsweise der mittlere Bereich mit der höchsten Leistungsdichte ausge- wählt. Dabei kann - für die Anordnung und das Verfahren gleichermaßen - vorteilhaft der Wellenlängenbereich variiert werden, beispielsweise durch den Wechsel der zur Lichterzeugung verwendeten LED. Dieser Wechsel erfordert eine Einstellung der fokussierenden Optiken, die automatisch vorgenommen werden kann. Zur Verbesserung des Signal-Rausch-Verhältnisses ist es außerdem vorteilhaft, bei der ortsauflösenden Detektierungseinrichtung einen Zeilendetektor zu verwenden, beispielsweise eine CCD-Zeile, und das aus dem optisch transparenten Medium austretende Bündel von Lichtstrahlen mittels einer entsprechenden Optik, beispielsweise mit einer Zylinderlinse, auf diesen Zeilendetektor linienförmig zu fokussieren.
Mit diesem Verfahren und der dazu vorgeschlagenen Anordnung können erstmalig Brechzahlen makrooptischer Bauelemente ortsaufgelöst detektiert und ein- bzw. zweidimensionale Gradientenprofile mit deutlich reduziertem Kostenaufwand ermittelt werden. Damit wird nicht nur für die weitere Entwicklung von neuartigen optischen Bauelementen eine wichtige Voraussetzung geschaffen, sondern auch für deren Markteinführung, Produktion und Qualitätskontrolle.
Des Weiteren erlaubt das neue Verfahren eine Homogenitätsprüfung hinsichtlich Brechzahl- kontinuität, welche im Vergleich zu handelsüblichen Verfahren genauer und wesentlich preiswerter ist. Die Messwerterfassung und -Verarbeitung kann in Verbindung mit Datenbanksystemen eine Validierung der Brechzahlhomogenitätsverläufe ermöglichen.
Die Anwendbarkeit des Verfahrens für eine Vielfalt von Materialien eröffnet einen breiten Markt in den unterschiedlichsten Branchen, wie z.B. in der optischen Industrie, in der Kunststoffherstellung und -Verarbeitung und in der Umformtechnik, hier beispielsweise beim Blankpressen.
Durch definiertes - einachsiges oder zweiachsiges - Verschieben des Messobjektes über dem Prisma kann an jedem Punkt auf der Probenoberfläche die Brechzahl ermittelt werden.
Dadurch ist zum einen die Erfassung von ein- bzw. zweidimensionalen Gradientenprofilen und zum anderen eine Homogenitätsprüfung des Brechungsindex sowohl für Mikro- als auch Makrooptiken möglich.
Im Gegensatz zu den bisherigen Verfahren wird bei diesem neuen Verfahren zur Bestimmung des Brechungsindex die Reflexion an der Objektoberfläche genutzt; somit ist nur die Bearbeitung der jeweils zu messenden Fläche erforderlich und der Präparationsaufwand gering. Ferner führen strukturelle Fehler im Glasbauteil nicht zum Verfälschen der Messergebnisse.
Wie bereits beschrieben, ist die Höhe der messbaren Brechzahl abhängig vom Brechungsindex des Prismas bzw. der Immersionsflüssigkeit. Dieser muss höher sein als der des zu messenden Glases. Für die Vermessung beispielsweise von GRIN-Elementen, die Brechzahlen von bis zu 1 ,65 aufweisen, sind daher Prismen und Immersionsflüssigkeiten mit höheren Brechzahlen, beispielsweise 1 ,7 zu verwenden. Ohne weiteres sind Brechzahlen bis zu 1 ,8 zu erreichen, für noch höhere Brechzahlen müsste derzeit auf toxische Immersionsflüssigkeiten zurückgegriffen werden, was den Einsatz aufgrund notwendiger Schutz- massnahmen aufwändiger werden lässt. Dabei wird die Ortsauflösung verbessert, je größer die Differenz zwischen der Brechzahl der Probe und derjenigen der Immersionsflüssigkeit bzw. des Prismas sind. Vorzugsweise sind die Brechungsindizes beider identisch, da dann die Beeinflussung der Strahlen an den Grenzflächen zwischen beiden Medien am geringsten ist.
Die Messgenauigkeit der Brechwerte wird durch die Auflösung des Detektors und die Präzision der Profilerfassung durch die minimale Schrittweite der Verschiebeeinrichtung und den Durchmesser des Lichtstrahls vorgegeben. Die Auflösung des Verfahrens wird im wesentlichen durch die Schrittweite der Probenverschiebung - beispielsweise in Bereichen von weniger als 1 μιτι bis zu einigen μιτι - und zum anderen durch die Auflösung der CCD-Zeile bestimmt. Auch die Größe und Form des Fokuspunktes lässt sich mit entsprechender Optik gestalten, von weniger als 10 μιτι bis zu etwa 100 μιτι beispielsweise. Damit besteht verfahrensbedingt die Möglichkeit sowohl niedrig auflösender Messanordnungen (schnell und kostengünstig) bis hin zu sehr hoch auflösenden Systemen zu konzipieren.
Es versteht sich, dass die vorstehend genannten und die nachstehend noch zu erläuternden Merkmale nicht nur in den konkret angegebenen Merkmalen, sondern auch in anderen Kombinationen oder in Alleinstellung einsetzbar sind, ohne den Rahmen des Erfindungsgedankens zu verlassen.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
Nachfolgend wird die Erfindung anhand von Zeichnungen, die auch erfindungswesentliche Merkmale zeigen, näher erläutert. Dazu zeigt
Fig.1 ein Ausführungsbeispiel der Anordnung, die zur Ausübung des erfindungsgemäßen Verfahrens geeignet ist, und
Fig. 2 eine Abwandlung im Aufbau dieser Anordnung.
Ausführliche Beschreibung der Zeichnungen
Dargestellt in Fig. 1 ist eine Probe 1 aus einem Material, für welches ein Brechzahlgradient ng = f(x >y) zu bestimmen ist. Im vorliegenden Beispiel ist das Material transparent, dies ist aber keine zwingende Voraussetzung, auch teiltransparente oder nichttransparente Materialien lassen sich untersuchen, da das Messverfahren die Reflexion an der Probe ausnutzt. Die Probe 1 weist eine plane Oberfläche 2 auf, der in einem Abstand a die Lichtein- und Lichtaustrittfläche 3 eines Prismas 4 parallel gegenübersteht. Zwischen Probe 1 und Prisma 4 befindet sich eine Immersionsflüssigkeit 14. Das Prisma 4 weist neben dieser Lichtein- und Lichtaustrittfläche 3 weiterhin eine Lichteintrittfläche 5 sowie eine Lichtaustrittsfläche 6 auf. Die Prismenflächen 3, 5 und 6 sind im Rahmen dieser Erfindung sinngemäß nach der Ein- bzw. Austrittsrichtung eines Bündels von Lichtstrahlen 7 benannt, das von einer Lichtquelle 8 ausgehend durch eine Fokussiereinrichtung 9 hindurch nach Durchtritt durch das Prisma 4 auf einen Ort 10 der Oberfläche 2 der Probe 1 trifft. Der Winkel α entspricht in etwa dem Grenzwinkel der Totalreflexion, so dass die Lichtstrahlen 7 sowohl unter Winkeln, die größer als dieser Grenzwinkel sind, als auch unter Winkeln, die kleiner als dieser Grenzwinkel sind, auf die Probe 1 treffen.
Damit die Lichtstrahlen 7 mindestens teilweise totalreflektiert werden können, ist es erforderlich, dass die Brechzahl des Prismas und der Immersionsflüssigkeit größer als die mittlere oder vermutete Brechzahl der Probe ist. Bevorzugt sollten beide Brechzahlen gleich sein oder nahezu identisch, da dann der Strahlengang an der Grenzschicht am wenigsten beein- flusst wird. Beträgt also die erwartete Brechzahl des zu untersuchenden Materials beispielsweise 1 ,65, so sollte die Brechzahl von Prisma und Immersionsflüssigkeit bei etwa 1 ,70 gewählt werden. Die Ortsauflösung wird dabei umso besser, je größer die Differenz ist. Von dem Ort 10 wird das Bündel von Lichtstrahlen 7 aufgrund der Totalreflexion unter einem Winkel ß reflektiert. In der Reflexionsrichtung des Lichtes ist eine Detektierungseinrichtung angeordnet, die eine CCD-Zeile 1 1 aufweist. Dort wird die Intensität der einfallenden Lichtstrahlen detektiert, so dass sich ein Intensitätsprofil ergibt. Die Ausgangssignale der CCD- Zeile 1 1 liegen über einem Signalweg 12 an einer Ansteuer- und Auswerteschaltung 13 an,
die ausgestattet ist mit einer Rechenfunktion zur Ermittlung der exakten Größe des Winkels ß sowie zur Bestimmung des Brechungsindex des Probenmaterials an dem Ort 10. Die Bestimmung des Grenzwinkels erfolgt dabei anhand einer Analyse des Intensitätsprofils. Da sich beim Erreichen des Grenzwinkels der Totalreflexion die Intensität sprunghaft ändert, lässt sich der Grenzwinkel zunächst in Relation zu einem Pixel auf der CCD-Zeile 1 1 setzen. Anhand der Parameter, die die Anordnung von Lichtquelle, Prisma, Probenoberfläche, und CCD-Zeile in ihren Abmessungen, Abständen und Winkelbeziehungen beschreiben, sowie anhand der Brechzahlen von Prisma und Immersionsflüssigkeit lässt sich die Brechzahl des Materials an dem vermessenen Ort bestimmen. Alternativ kann die Auswerteeinrichtung auch mittels Vergleichsmessungen unter gleichen Bedingungen, insbesondere was die Dicke und Art der Immersionsflüssigkeit betrifft, an homogenen Gläsern bekannter Brechzahl geeicht werden, so dass jedem Pixel eindeutig eine Brechzahl zugeordnet werden kann.
Als Lichtquelle 8 wird eine SLED mit Anschlussfaserstück verwendet. Diese Anordnung emittiert Licht in einem breitbandigen Wellenlängenbereich beispielsweise zwischen 30 nm und 60 nm. Die Leistungsdichte folgt einer gaußförmigen Verteilung, weshalb bevorzugt ein schmalerer Bereich, beispielsweise zwischen 10 nm und 20 nm um das Maximum dieser Verteilung für die Beleuchtung ausgewählt wird Die Verwendung von SLED gegenüber kohärenten Lichtquellen hat den Vorteil, dass das Auftreten von Speckies auf der CCD-Zeile 1 1 verhindert werden kann.
Außerdem ist eine Verschiebeinrichtung vorgesehen (in Fig. 1 nicht dargestellt), die dazu dient, die Position bzw. den Ort 10 zu variieren, an welcher das Bündel von Lichtstrahlen 7 auf die Oberfläche 2 auftrifft. Die Verschiebung der Probe 1 , die auf einem Halter - bei- spielsweise mittels Fixierung in einer Dreipunkt-Auflage - befestigt ist, kann mittels zweier translatorischer Antriebe erfolgen, die Abtastung erfolgt dann in einem kartesischen Koordinatensystem. Platzsparender kann ein Verschieben mittels eines rotatorischen Antriebs erfolgen, der durch einen fest montierten Linearantrieb angetrieben wird. Die Kombination aus translatorischer und rotatorischer Verschiebung der Probe resultiert dann in einer sternför- migen Messpunktverteilung, die minimale Schrittweite kann beispielsweise bei 5 μιτι liegen, und bei etwa 80 μιτι am Probenrand bei sternförmiger Abtastung.
Dabei wird nach jeder Ortsveränderung an dem jeweils neu eingestellten Ort der Brechungsindex bestimmt und diesem Ort zugeordnet. Aus einer Vielzahl solcher Messungen und de- ren Messergebnissen wird mittels der Ansteuer- und Auswerteschaltung 13 der Brechungsindex der Probe 1 ortsaufgelöst bestimmt und daraus ein Brechzahlhomogenitätsverlauf bzw. ein Brechzahlgradient, auch als Gradientenindex bezeichnet, für das Material, aus dem die Probe 1 besteht, gewonnen und zur weiteren Verfügbarkeit gespeichert.
Um eine gute Verschiebbarkeit einerseits und eine konstante Dicke der Schicht mit der Immersionsflüssigkeit andererseits zu gewährleisten wird während der Messung kontinuierlich für eine Zufuhr von Immersionsflüssigkeit gesorgt, so dass der Flüssigkeitsfilm zwischen Prisma 4 und Oberfläche 2 der Probe 1 nicht abreißen kann. Die Dicke der Schicht mit der Immersionsflüssigkeit hängt u.a. von der Viskosität der Flüssigkeit ab und kann beispielsweise zwischen 10 μιτι und 100 μιτι liegen.
In Fig. 2 ist eine Abwandlung der in Fig. 1 gezeigten Anordnung dargestellt, die eine noch kompaktere Bauweise ermöglicht. Das hier gezeigte Prisma 15 ist parallelogrammförmig aufgebaut, die der Lichteintrittsfläche 5 parallele Seite ist verspiegelt und bildet einen Umlenkspiegel 16. Die Fokussiereinrichtung 9 umfasst hier zwei Linsen, mit denen das - nicht parallele - Bündel von Lichtstrahlen 7 auf die Probe 1 fokussiert wird. Der Zentrumsstrahl - durch eine durchgezogene Linie gekennzeichnet - fällt dabei in einem Winkel, der geringfügig größer als der Grenzwinkel der Totalreflexion ist, auf die Probe 1 , so dass Lichtstrahlen, die unter einem noch größeren Winkel auf die Probe 1 treffen, wie der gepunktet dargestellte Strahl, reflektiert werden, wohingegen Strahlen, die unter einem kleineren Winkel - gemessen bezüglich der Normalen der Probenoberfläche - auf die Probe 1 treffen, durch die Probe hindurchtreten, wie es bei dem strichpunktiert dargestellten Strahl der Fall ist. Zur Verbesserung des Signal-Rauschverhältnisses kann über der CCD-Zeile 1 1 eine Zylinderlinse eingebaut werden, die das auftreffende Licht linienförmig fokussiert. Die CCD- Zeile 1 1 wird dabei so in Relation zu der Lichtaustrittsfläche 6 positioniert, dass das dem Übergang im Intensitätsprofil entsprechende Hell-Dunkel-Feld über den gesamten möglichen Brechzahlbereich bestmöglich genutzt wird: Da der Brechungsindex grundsätzlich nichtlinear von der Position dieses Hell-Dunkel-Übergangs abhängt, jedoch in einem großen Bereich annähernd linear verläuft, kann durch entsprechende Positionierung der CCD-Zeile, 1 1 was den Winkel zur Lichtaustrittsfläche 6 betrifft, der lineare Bereich vergrößert werden, was die Auswertung genauer werden lässt. Das erfindungsgemäße Verfahren und die Anordnung dazu ermöglichen die ortsaufgelöste Bestimmung von Brechzahlen in GRIN-Bauelementen. Ein- und zweidimensionale Brechzahlprofile werden unabhängig von der räumlichen Ausdehnung der Gradienten bzw. der optischen Bauelemente erfaßt. Dadurch ist insbesondere auch die ortsaufgelöste Analyse sowohl in Mikrooptiken, in mittleren Bauteilgeometrien bis hin zu sehr großen Bauteilabmes- sungen möglich. Dies ist mit dem Stand der Technik bisher nicht möglich.
Das Gerät lässt sich außerdem sehr kompakt gestalten, so dass es als handgeführtes, mobiles Gerät ausgebildet werden kann. Damit ist es dann auch möglich, an großen Glasbauteilen, beispielsweise an Floatglasplatten, die Brechzahl direkt zu bestimmen. Dazu wird das
Gerät auf die Glasplatte aufgesetzt, wobei zwischen Glasplatte und optisch transparentem Medium eine Immersionsflüssigkeit oder ein anderes Medium mit gleicher Wirkung aufgetragen wird. Dies kann vorab erfolgen, aber auch durch eine entsprechende, im Gerät integrierte Zufuhreinrichtung. Variierende Abstände zwischen dem zu untersuchenden Objekt und dem optisch transparenten Medium, d.h. insbesondere variierende Schichtdicken des Immersionsmediums, lassen sich durch eine auch automatisch durchführbare Neufokussierung der Fokussiereinrichtung und rechnerisch in der Auswerteschaltung berücksichtigen.
Darüber hinaus wird erstmalig die Vermessung von optischen Bauteilen realisierbar, welche Brechungsindexgradienten in aus drei Raumrichtungen aufweisen. Somit besteht auch die Möglichkeit, neue optische monolithische Funktionsbauteile im optical design zu entwickeln, die messtechnisch nach der Herstellung auch bewertet werden können.
Ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens besteht in der Bestimmung der Brechzahlwerte einzig und allein durch Reflexion an der Objektoberfläche. Dies erfordert im Gegensatz zu den meisten bisherigen Verfahren nur die Bearbeitung einer Messfläche. Dadurch führt das Verfahren zu einer deutlichen Reduzierung des Zeitaufwands für den Mess- prozess und der Probenpräparation sowie der Kosten für die Probenpräparation. Entscheidend ist aber auch, dass an beliebig geformten optischen Bauelementen und Konturen, bis hin zu den in den nächsten Jahren verstärkt eingesetzt werdenden asphärischen Bauelementen und Freiformflächen, am fertig bearbeiteten Bauelement gemessen werden kann. Bekannte interferometrische Messverfahren erfordern hingegen für jede asphärische Form ein individuelles CGH (computer-generiertes Hologramm), was zusätzliche Herstellungskosten zwischen 4.000 -1 0.000€ erfordert.
Die Kostengünstigkeit ist ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens gegenüber bisher bekannten Lösungen.
Aus der Einfachheit des Wirkprinzips und der Minimierung der zur Realisierung notwendigen Komponenten resultiert ein wenig störanfälliges und sehr preiswertes Verfahren, das sich auch erstmalig für optische Bauelemente im Niedrigkosten-Bereich anwenden lässt. Somit kann das Verfahren die Realisierung eines breiten Spektrums von Messaufgaben, unterschiedlichster Bauteilsortimente der jeweiligen Hersteller, in Abhängigkeit von der Auslegung der Gerätekonfiguration ermöglichen. Die Auflösung begrenzenden Parameter des neuen Wirkprinzips gestatten eine modulare Anwendung des Verfahrens. Ableitbare Gerätelösungen lassen dann eine Modifizierung entsprechend der gewählten Messaufgabe und - anwender problemlos zu.
Das neue Verfahren erlaubt neben der Bestimmung von Gradientenprofilen auch eine Homogenitätsprüfung hinsichtlich Brechzahlkontinuität, die im Vergleich zu handelsüblichen Verfahren genauer und kosteneffizienter ist. Es ist in sehr unterschiedlichen Fachgebieten einsetzbar, insbesondere in den Bereichen Herstellung optischer Werkstoffe, Herstellung optischer Komponenten, Fasertechnologie, Optoelektronik/Sensorik. Prinzipiell erlaubt das Verfahren die Anwendung sowohl für mineralische Gläser als auch für andere Materialien, wie z. B. Kunststoffe, Kristallwerkstoffe und auch Flüssigkeiten.
Der Anwender wird in die Lage versetzt, Brechzahlverläufe ortsaufgelöst in optischen Kom- ponenten mit einem vergleichsweise niedrigen Investitionsaufwand bestimmen zu können. Darüber hinaus kann das neue Verfahren auch für die Qualitätssicherung unterschiedlichster Bauteilsortimente der o.g. Bereiche fertigungsnah eingesetzt werden.
Bezugszeichenliste
1 Probe
2 Oberfläche
3 Lichtein- und Lichtaustrittfläche
4 Prisma
5 Lichteintrittfläche
6 Lichtaustrittsfläche
7 Lichtstrahl
8 Laserquelle
9 Fokussiereinrichtung
10 Ort
1 1 CCD-Zeile
12 Signalweg
13 Ansteuer- und Auswerteschaltung
14 Immersionsflüssigkeit
15 Prisma
16 Umlenkspiegel a Abstand
α, ß Winkel
25
Claims
Verfahren zur Bestimmung des Brechzahlgradienten einer Probe (1 ) eines Materials an dessen Oberfläche (2), bei dem
ein Bündel von Lichtstrahlen (7) fokussiert und durch ein optisch transparentes Medium, welches eine höhere Brechzahl als das Material der Probe aufweist, hindurch auf eine Position an der Oberfläche (2) der Probe (1 ) fokussiert wird, wobei ein Einfallswinkelbereich der fokussierten Lichtstrahlen (7) den Grenzwinkel der Totalreflexion enthält,
reflektierte Lichtstrahlen in einem Ausfallswinkelbereich nach Durchtritt durch das optisch transparente Medium ortsaufgelöst als Intensitätsprofil detektiert werden, anhand des Intensitätsprofils der Brechungsindex des Materials an der Position der Oberfläche (2) ermittelt wird,
die Schritte a) - d) für weitere Positionen auf der Oberfläche (2) der Probe (1 ) wiederholt werden, und
anhand der für die einzelnen Positionen bestimmten Brechungsindizes der Brechzahlgradient bestimmt wird.
Verfahren nach Anspruch 1 , bei dem als optisch transparentes Medium ein Prisma (4, 15) verwendet wird.
Verfahren nach Anspruch 2, bei dem zwischen einer Prismenfläche, aus welcher die fokussierten Lichtstrahlen austreten und in die das reflektierte Licht wieder eintritt einerseits und der Oberfläche (2) der Probe (1 ) andererseits eine Immersionsflüssigkeit (14) aufgebracht wird.
Verfahren nach Anspruch 3, bei dem während der Variation der Positionen, an denen das Bündel von Lichtstrahlen (7) auf die Oberfläche (2) gerichtet wird, der Abstand zwischen der Prismenfläche, aus welcher die fokussierten Lichtstrahlen (7) austreten und in die das reflektierte Licht wieder eintritt einerseits und der Oberfläche (2) der Probe (1 ) andererseits durch kontinuierliche Zufuhr von Immersionsflüssigkeit (14) konstant gehalten wird.
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem das reflektierte Licht nach Austritt aus dem optisch transparenten Medium linienförmig auf einen Zeilendetektor fokussiert wird.
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, bei dem für die Lichtstrahlen (7) Licht einer superlumineszenten LED verwendet wird.
Anordnung zur Bestimmung von Brechzahlgradienten einer Probe (1 ) eines Materials, umfassend:
eine Lichtquelle (8),
ein optisch transparentes Medium, welches eine höhere Brechzahl als das Material der Probe (1 ) aufweist und zwischen Lichtquelle (8) und Probe (1 ) angeordnet ist, eine optische Einrichtung (9) zur Fokussierung eines von der Lichtquelle (8) ausgehenden Bündels von Lichtstrahlen (7) durch das optisch transparente Medium hindurch auf eine Position (10) an der Oberfläche (2) der Probe(1 ), wobei ein Einfallswinkelbereich der fokussierten Lichtstrahlen (7) den Grenzwinkel der Totalreflexion enthält,
eine ortsauflösende Detektierungseinrichtung für die Detektierung des von dieser Position (10) der Oberfläche in einem Ausfallswinkelbereich totalreflektierten Lichts als Intensitätsprofil,
eine Einrichtung zur Variation der Position, auf die das Bündel von Lichtstrahlen (7) fokussiert ist, und
eine mit der Detektierungseinrichtung verbundene Ansteuer- und Auswerteeinrichtung (13), die ausgebildet ist zur Bestimmung des Brechungsindex der Probe (1 ) an der Position (1 0), an dem das Bündel von Lichtstrahlen auftrifft, anhand des detektierten Intensitätsprofils, und die zur Verknüpfung der für alle Positionen ermittelten Brechungsindizes zu einem Brechzahlgradienten ausgebildet ist.
Anordnung nach Anspruch 7, bei der das optisch transparente Medium als Prisma (4, 15) ausgestaltet ist, wobei zwischen einer Prismenfläche, aus welcher die fokussierten Lichtstrahlen (7) austreten und in die das reflektierte Licht wieder eintritt einerseits und der Oberfläche (2) der Probe (1 ) andererseits eine Immersionsflüssigkeit (14) vorgesehen ist.
9. Anordnung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle (8) als superluminszente LED ausgestaltet ist.
10. Anordnung nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektierungseinrichtung einen Zeilendetektor (1 1 ) und Mittel zur linienförmigen Fokussierung des Bündels von Lichtstrahlen (7) auf diesen umfasst.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102010062719.4 | 2010-12-09 | ||
DE102010062719 | 2010-12-09 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2012076640A1 true WO2012076640A1 (de) | 2012-06-14 |
Family
ID=45375297
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/EP2011/072166 WO2012076640A1 (de) | 2010-12-09 | 2011-12-08 | Verfahren und anordnung zur bestimmung des brechzahlgradienten eines materials |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102011087978A1 (de) |
WO (1) | WO2012076640A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106970045A (zh) * | 2017-05-31 | 2017-07-21 | 华中科技大学 | 一种透射式薄层物质折射率测量装置 |
CN115298536A (zh) * | 2021-08-25 | 2022-11-04 | 深圳市流数科技有限公司 | 一种折光仪、探测装置和探测折射率的方法 |
CN115308164A (zh) * | 2022-10-11 | 2022-11-08 | 成都赛林斯科技实业有限公司 | 在线实时连续测量熔融态玻璃折射率及色散的装置及方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0863395A2 (de) * | 1997-02-07 | 1998-09-09 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Oberflächen-Plasmonen-Sensor |
JP2005331481A (ja) | 2004-05-21 | 2005-12-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 屈折率分布測定方法 |
JP2007057376A (ja) | 2005-08-24 | 2007-03-08 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | ファブリ・ペロー干渉計を用いた屈折率測定装置 |
US20090086211A1 (en) * | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Shinichi Dosaka | Optical measurement apparatus |
DE102009003548A1 (de) * | 2009-02-27 | 2010-09-02 | Leibniz-Institut für Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V. | Verfahren zur hochaufgelösten Erfassung von Nanopartikeln auf zweidimensionalen Messflächen |
-
2011
- 2011-12-08 WO PCT/EP2011/072166 patent/WO2012076640A1/de active Application Filing
- 2011-12-08 DE DE102011087978A patent/DE102011087978A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0863395A2 (de) * | 1997-02-07 | 1998-09-09 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Oberflächen-Plasmonen-Sensor |
JP2005331481A (ja) | 2004-05-21 | 2005-12-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 屈折率分布測定方法 |
JP2007057376A (ja) | 2005-08-24 | 2007-03-08 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | ファブリ・ペロー干渉計を用いた屈折率測定装置 |
US20090086211A1 (en) * | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Shinichi Dosaka | Optical measurement apparatus |
DE102009003548A1 (de) * | 2009-02-27 | 2010-09-02 | Leibniz-Institut für Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V. | Verfahren zur hochaufgelösten Erfassung von Nanopartikeln auf zweidimensionalen Messflächen |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106970045A (zh) * | 2017-05-31 | 2017-07-21 | 华中科技大学 | 一种透射式薄层物质折射率测量装置 |
CN115298536A (zh) * | 2021-08-25 | 2022-11-04 | 深圳市流数科技有限公司 | 一种折光仪、探测装置和探测折射率的方法 |
CN115308164A (zh) * | 2022-10-11 | 2022-11-08 | 成都赛林斯科技实业有限公司 | 在线实时连续测量熔融态玻璃折射率及色散的装置及方法 |
CN115308164B (zh) * | 2022-10-11 | 2022-12-13 | 成都赛林斯科技实业有限公司 | 在线实时连续测量熔融态玻璃折射率及色散的装置及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102011087978A1 (de) | 2012-07-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1152236B1 (de) | Optische Messanordnung mit einem Ellipsometer | |
DE102007003681B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Analyse einer optischen Einrichtung | |
CH654914A5 (de) | Optoelektronisches messverfahren und einrichtung zum bestimmen der oberflaechenguete streuend reflektierender oder transparenter oberflaechen. | |
DE10392315B4 (de) | Optische Konfiguration und Verfahren für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen | |
DE102013113265B4 (de) | Vorrichtung zur berührungslosen optischen Abstandsmessung | |
DE102010004824B4 (de) | V-Block Messvorrichtung zur Bestimmung optischer Materialkonstanten und Verfahren zur Bestimmung optischer Materialkonstanten mittels einer V-Block-Messvorrichtung | |
DE102016115827A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Oberflächenmessung mit Hilfe eines chromatisch konfokalen Sensors | |
WO2019020800A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur optischen oberflächenmessung mit hilfe eines konfokalen sensors | |
DE102017207027A1 (de) | Verfahren und Gerät zur Erkennung einer Fehlstelle in einem transparenten Körper | |
EP1172642A2 (de) | Spektralellipsometer mit einer refraktiven Beleuchtungsoptik | |
WO2006081998A1 (de) | Vorrichtung zur positionsbestimmung voneinander distanzierter bereiche in transparenten und/oder diffusen objekten | |
WO2012076640A1 (de) | Verfahren und anordnung zur bestimmung des brechzahlgradienten eines materials | |
DE102010016462B4 (de) | Schichtmessverfahren und Messvorrichtung | |
DE102014010667B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Form einer Wellenfront eines optischen Strahlungsfeldes | |
DE4033912C2 (de) | Optischer Sensor | |
WO2017045982A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur chromatisch-konfokalen untersuchung einer probe | |
EP2163883B1 (de) | Partikelgrössenmessgerät | |
WO2009040162A1 (de) | Sonde und vorrichtung zum optischen prüfen von messobjekten | |
DE102013107220A1 (de) | Vorrichtung und ein Verfahren zum Untersuchen einer Probe mittels mehrerer Untersuchungsmethoden | |
DE102019102873B4 (de) | Sensorsystem und Verfahren zur Bestimmung von geometrischen Eigenschaften eines Messobjekts sowie Koordinatenmessgerät | |
EP3812697A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur profilmessung von flachen objekten mit unbekannten materialien | |
DE102015213147B4 (de) | Verfahren zur Bestimmung und Messkopf zur Erfassung einer Oberflächeneigenschaft genau einer Seite einer lichtdurchlässigen Probe | |
DE19748552C2 (de) | Auflichtmikroskop | |
DE102004051247B3 (de) | Schnelle Messung hoher Gangunterschiede von doppelbrechenden Medien ohne und mit Falschfarben durch simultane Kombination des Mehrfarben-Senarmont-Verfahrens mit der diskreten Fourier-Analyse | |
DE102015201909B4 (de) | Verfahren und System zum Ermitteln eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden Objekt entstehenden Teillichtwellen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 11799270 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 11799270 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |