JP2009283567A - 半導体装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】必要な電流容量を持つ板厚と、端子部の曲げ加工のし易さとを備え、かつ配線のインダクタンスを低減することができる配線部材を備えた半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、板状導体で形成されるとともに複数の端子部27a,28aを有する正極用配線部材27及び負極用配線部材28が相互に電気的に絶縁された状態で近接して平行に配置されている。端子部27a,28aは、本体部27A,28Aに対してアングル状となるように屈曲形成された屈曲部27c,28cを有するとともに先端側に本体部27A,28Aに対して平行に延びる接合部27b,28bを有し、かつ厚みが本体部27A,28Aの厚みより薄く形成されている。屈曲部27c,28cは、板厚の薄い部分に形成されている。正極用配線部材27及び負極用配線部材28は、段差のない面が対向するように配置されている。接合部27b,28bは、回路パターンに超音波接合で接合されている。
【選択図】図4

Description

本発明は、半導体装置に係り、詳しくは板状の正極用配線部材及び板状の負極用配線部材が相互に電気的に絶縁された状態で近接して平行に配置された半導体装置に関する。
半導体回路によって直流を交流に変換する半導体装置(パワー半導体モジュール)や、前記パワー半導体モジュールと直流平滑回路を構成するコンデンサモジュールとを備えた電力変換装置(インバータ装置)においては、配線のインダクタンスを低減することが必要である。
従来、板状の配線部材を有する半導体装置において、プラス側端子間を接続する板状の配線部材と、マイナス側端子間を接続する板状の配線部材とを相互に電気的に絶縁された状態で近接して平行に配置する構成が提案されている。板状の配線部材を使用するのは、大きな電流が支障無く流れるようにするためである。そして、一般に板状の配線部材を使用する場合、図7に示すように、配線部材51,52の本体部51A,52A及び端子部51a,52aは同じ厚みに形成されている。
端子と絶縁基板上の回路とを接続するハンダ部分の信頼性を向上したパワー半導体装置として、端子を絶縁基板上の金属回路に接合する部分の厚さを、端子に主電流が通流する他の部分より薄くした構成が提案されている(特許文献1参照。)。特許文献1には図8に示すように、半導体素子61と、絶縁基板62上の金属箔回路63との間を金属端子64で接続する構成が開示されている。半導体素子61と金属端子64とはハンダ層65を介して接合され、金属箔回路63と金属端子64とはハンダ層66を介して接合されている。金属端子64の半導体素子61側の厚さt3を図8に示す部分の厚さt4より薄くしている。金属箔回路63側の厚さも同様に薄くしてもよい旨も記載されている。
特開2006−253516号公報
配線部材に電流が流れたときの温度上昇を抑制するため、配線部材に十分な電流容量(必要な電流容量)を持たせるためには板厚を厚くする必要がある。一方、端子部の曲げ加工を容易に行うためや、端子部の接合部の回路パターンへの接合を超音波接合で行うためには、端子部の板厚を薄くする必要がある。また、配線インダクタンスを低減するためには2枚の配線部材の間隔を小さく(狭く)する必要がある。そのため、配線部材の板厚を一定にした構成では、これらの要求を満たすことができない。特許文献1には、端子の接合部の厚さを他の部分の厚さより薄くすることが開示されている。しかし、特許文献1の構成は、端子の接合部にかかる応力の低減を目的としており、電流容量の確保、曲げ加工や超音波接合の容易さ、あるいは配線インダクタンスの低減等に関しては何ら記載されていない。
本発明は、前記従来の問題に鑑みてなされたものであって、その目的は、必要な電流容量を持つ板厚と、端子部の曲げ加工のし易さとを備え、かつ配線のインダクタンスを低減することができる配線部材を備えた半導体装置を提供することにある。
前記の目的を達成するため、請求項1に記載の発明は、板状導体で形成されるとともに複数の端子部を有する正極用配線部材及び負極用配線部材が相互に電気的に絶縁された状態で近接して平行に配置された半導体装置である。そして、前記端子部は、本体部に対してアングル状となるように屈曲形成された屈曲部を有するとともに先端側に前記本体部に対して平行に延びる接合部を有し、かつ厚みが前記本体部の厚みより薄く形成されている。ここで、「アングル状」とは、屈曲部を挟む2つの板部が直角状に配置される状態を意味する。
板状導体製の正極用配線部材及び負極用配線部材が使用されるのは、要求される電流を正極用配線部材及び負極用配線部材に支障なく流すことができるように両配線部材に十分な電流容量を持たせるためである。しかし、配線部材の本体部及び端子部を同じ厚さに形成した場合は、必要な電流容量を確保するために板厚を厚くすると、端子部の曲げ加工が難しくなる。この発明では、端子部は、本体部に対してアングル状となるように屈曲形成された屈曲部を有するとともに先端側に本体部に対して平行に延びる接合部を有し、かつ厚みが本体部の厚みより薄く形成されている。したがって、本体部の厚みを、必要な電流容量を確保するために十分な厚みにしても、端子部の曲げ加工を容易に行うことができる。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記正極用配線部材及び前記負極用配線部材は、段差のない面が対向するように配置されている。この発明では、正極用配線部材及び負極用配線部材は、端子部の部分においても相互に絶縁された状態で近接して平行に配置することが可能になり、正極用配線部材及び負極用配線部材を段差のない面と段差のある面とが対向するように配置する場合に比べて配線インダクタンスを低減することができる。
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記正極用配線部材及び前記負極用配線部材は、段差のない面と段差のある面とが対向するように配置されている。この発明では、端子部の屈曲部の曲げ方向が正極用配線部材及び負極用配線部材で同じに形成されるため、端子部の屈曲部の曲げ方向を異なるように加工する場合に比べて加工が容易になる。
請求項4に記載の発明は、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の発明において、前記屈曲部は、板厚の薄い部分に形成されている。屈曲部は板厚の厚い部分と板厚の薄い部分との境界部に形成することもできる。しかし、この発明では、屈曲部は板厚の薄い部分に形成されるため、境界部に形成するのに比べて曲げ加工が容易になる。また、屈曲部は板厚の薄い部分に形成されるため屈曲部の曲率半径を小さくすることができ、端子部が本体部の幅方向に突出する長さを短くできるため、省スペース化を図ることができる。
請求項5に記載の発明は、請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の発明において、前記接合部は、回路パターンに超音波接合で接合されている。半導体装置によっては、配線部材の接合部を回路パターンに接合する際に周囲に存在する他の部品に悪影響を与えないために、接合時における発熱量を少なくしたい場合がある。この発明では、超音波接合で接合部の接合を行うことにより、半田付けで接合部の接合を行うより発熱量を少なくすることができる。
本発明によれば、必要な電流容量を持つ板厚と、端子部の曲げ加工のし易さとを備え、かつ配線のインダクタンスを低減することができる配線部材を備えた半導体装置を提供することができる。
以下、本発明を3相用のインバータ装置に具体化した一実施形態を図1〜図5にしたがって説明する。
先ずインバータ装置の回路構成を説明する。図1(a)に示すように、インバータ装置11は、6個の半導体チップとしてのスイッチング素子Q1〜Q6を有するインバータ回路12を備えている。各スイッチング素子Q1〜Q6には、MOSFET(metal oxide semiconductor 電界効果トランジスタ)が使用されている。インバータ回路12は、第1及び第2のスイッチング素子Q1,Q2、第3及び第4のスイッチング素子Q3,Q4、第5及び第6のスイッチング素子Q5,Q6がそれぞれ直列に接続されている。各スイッチング素子Q1〜Q6のドレインとソース間には、ダイオードD1〜D6が、逆並列に接続されている。第1、第3及び第5のスイッチング素子Q1,Q3,Q5及び各第1、第3及び第5のスイッチング素子Q1,Q3,Q5に接続されたダイオードD1,D3,D5の組はそれぞれ上アームと呼ばれる。また、第2、第4及び第6のスイッチング素子Q2,Q4,Q6及び第2、第4及び第6のスイッチング素子Q2,Q4,Q6に接続されたダイオードD2,D4,D6の組はそれぞれ下アームと呼ばれる。
第1、第3及び第5のスイッチング素子Q1,Q3,Q5のドレインが、配線13を介して電源入力用のプラス入力端子14に接続され、第2、第4及び第6のスイッチング素子Q2,Q4,Q6が、配線15を介して電源入力用のマイナス入力端子16に接続されている。配線13及び配線15間にはコンデンサ17が複数並列に接続されている。この実施形態ではコンデンサ17として電解コンデンサが使用され、コンデンサ17の正極(プラス)端子が配線13に接続され、コンデンサ17の負極(マイナス)端子が配線15に接続されている。
スイッチング素子Q1,Q2の間の接合点はU相端子Uに、スイッチング素子Q3,Q4の間の接合点はV相端子Vに、スイッチング素子Q5,Q6の間の接合点はW相端子Wに、それぞれ接続されている。各スイッチング素子Q1〜Q6のゲートは駆動信号入力端子G1〜G6に接続されている。各スイッチング素子Q1〜Q6のソースは信号端子S1〜S6に接続されている。図1(a)では各上アーム及び各下アームがそれぞれ、1個のスイッチング素子及び1個のダイオードで示されているが、各アームは、図1(b)に示すように、スイッチング素子QとダイオードDの組が複数並列に接続された構成になっている。この実施形態では各アームはそれぞれ4組のスイッチング素子Q及びダイオードDで構成されている。
次にインバータ装置11の構造を説明する。
図2〜図4に示すように、インバータ装置11は、銅製の金属ベース20と、絶縁基板としてのセラミック基板21とで構成された基板22上に半導体チップ23が実装されている。半導体チップ23は、1個のスイッチング素子(MOSFET)及び1個のダイオードが一つのデバイスとして組み込まれている。即ち、半導体チップ23は、図1(b)に示される一つのスイッチング素子Q及び一つのダイオードDを備えたデバイスとなる。
セラミック基板21は、表面に回路パターン24a,24b,24c,24dを有し、裏面にセラミック基板21と金属ベース20とを接合する接合層として機能する金属板25(図4に図示)を有するセラミック板26で構成されている。セラミック板26は、例えば、窒化アルミニウム、アルミナ、窒化ケイ素等により形成され、回路パターン24a,24b,24c,24d及び金属板25は、例えば、アルミニウムや銅等で形成されている。セラミック基板21は、金属板25を介して半田(図示せず)で金属ベース20に接合されている。以下、この明細書では、金属ベース20をインバータ装置11の底部(下部)として説明する。
回路パターン24aはゲート信号用の回路パターン、回路パターン24bはドレイン用の回路パターン、回路パターン24cはソース用の回路パターン、回路パターン24dはソース信号用の回路パターンである。各回路パターン24a,24b,24c,24dは帯状に形成されている。半導体チップ23は、ドレイン用の回路パターン24b上に半田で接合されている。図5に示すように、半導体チップ23は、ゲートとゲート信号用の回路パターン24aとの間、ソースとソース用の回路パターン24cとの間及びソースとソース信号用の回路パターン24dとの間をワイヤボンディングにより電気的に接続されている。
金属ベース20はほぼ矩形状に形成され、セラミック基板21も矩形状に形成されている。セラミック基板21は12個設けられ、長手方向が金属ベース20の長手方向と直交する状態で各列6個となるように2列、6行に配置されている。そして、各行の2個のセラミック基板21上に配置された半導体チップ23がインバータ回路12の各アームを構成する。この実施形態では、半導体チップ23は、各セラミック基板21上に2個ずつ実装されており、4個の半導体チップ23がそれぞれ1つのアームを構成する。
基板22の上方には配線部材として板状導体で形成された正極用配線部材27及び負極用配線部材28が、基板22と平行に、かつ相互に絶縁された状態で近接して重なるように配置されている。正極用配線部材27及び負極用配線部材28の間には、両者の電気的絶縁性を確保するための絶縁部材29(図4(b)に図示)が配置されている。この実施形態では、正極用配線部材27の上方に負極用配線部材28が配置されている。負極用配線部材28上には、複数(この実施形態では4個)のコンデンサ17が図示しない正極端子及び負極端子が下向きになる状態で配置されている。正極用配線部材27は図1(a)における配線13を、負極用配線部材28は図1(a)における配線15をそれぞれ構成する。
正極用配線部材27及び負極用配線部材28は、それぞれ本体部27A,28Aの幅方向の両端部に端子部27a,28aが複数(この実施形態では3対6個)形成されている。端子部27a,28aは、本体部27A,28Aに対して基板22側に向かってアングル状となるように屈曲形成された屈曲部27c,28cを有し、先端側に本体部27A,28Aに対して平行に延びる接合部27b,28bを有し、かつ厚みが本体部27A,28Aの厚みより薄く形成されている。即ち、端子部27a,28aは、本体部27A,28Aに対してアングル状となるように屈曲形成された屈曲部27c,28cを有し、端子部27a,28aに形成された屈曲部27c,28c等は、板厚の薄い部分に形成されている。本体部27A,28Aは、必要な電流容量を持つ板厚、例えば1mmに形成され、端子部27a,28aは、曲げ加工のし易さ及び接合部27b,28bの超音波接合し易さを確保できる板厚、例えば0.5mmに形成されている。
正極用配線部材27及び負極用配線部材28は、段差のない面が対向するように配置されている。正極用配線部材27は、端子部27aの接合部27bを介して、上アームを構成するセラミック基板21上のドレイン用の回路パターン24bの中央部に超音波接合されている。負極用配線部材28は、端子部28aの接合部28b介して、下アームを構成するセラミック基板21上のソース用の回路パターン24cの中央部に超音波接合されている。
なお、正極用配線部材27及び負極用配線部材28には、幅方向の端部両側に、各端子部27a,28aの一部と連続するとともに互いに重なる状態で配置される垂下部27d,28dが形成されている。また、正極用配線部材27及び負極用配線部材28は、材料金属を帯状の段階でプレス加工により、肉厚部と肉薄部とを有する状態に形成したものを使用して、プレス加工により端子部27a,28aを曲げ加工する。
図2及び図3に示すように、金属ベース20には、その周縁に沿うように電気的絶縁性の支持枠30が、全てのセラミック基板21を枠内に収容する状態に固定されている。正極用配線部材27の長手方向の一端部には、外部電源入力用のプラス入力端子14が、一部が支持枠30の外側に位置するように配置されている。負極用配線部材28には、その長手方向の正極用配線部材27のプラス入力端子14が形成された側と反対側の端部に、外部電源入力用のマイナス入力端子16が形成され、一部が支持枠30の外側に位置するように配置されている。
図2及び図3に示すように、インバータ装置11の3つの出力電極部材32U,32V,32Wは、側面ほぼL字状に形成されるとともに、上方に向かって延びる部分が支持枠30の近くに位置し、横方向に延びる部分が正極用配線部材27の下方においてその長手方向と直交する状態で配置されている。そして、各出力電極部材32U,32V,32Wは、2個の接合部35が水平に延びる部分の先端両側で、2個の接合部35が屈曲部寄りでそれぞれ下側に突出するように形成されている。正極用配線部材27と出力電極部材32U,32V,32Wとは、シリコーンゲル36(図4(a)に図示)で絶縁が確保されている。出力電極部材32Uは、第1のスイッチング素子Q1及びダイオードD1で構成される上アームのソース用の回路パターン24cと、第2のスイッチング素子Q2及びダイオードD2で構成される下アームのドレイン用の回路パターン24bとに超音波接合されている。出力電極部材32Vは、第3のスイッチング素子Q3及びダイオードD3で構成される上アームのソース用の回路パターン24cと、第4のスイッチング素子Q4及びダイオードD4で構成される下アームのドレイン用の回路パターン24bとに超音波接合されている。出力電極部材32Wは、第5のスイッチング素子Q5及びダイオードD5で構成される上アームのソース用の回路パターン24cと、第6のスイッチング素子Q6及びダイオードD6で構成される下アームのドレイン用の回路パターン24bとに超音波接合されている。
各アームに対応するそれぞれ2個のセラミック基板21のうち、出力電極部材32U,32V,32Wの先端側と対応するセラミック基板21のゲート信号用の回路パターン24aには、駆動信号入力端子G1〜G6の第1端部が、ソース信号用の回路パターン24dには信号端子S1〜S6の第1端部が、それぞれ接合されている。各端子G1〜G6,S1〜S6は、第2端部が支持枠30から突出するように、支持枠30を貫通する状態で支持枠30に一体成形されている。なお、各アームを構成する2個のセラミック基板21上に形成された回路パターン24a同士及び回路パターン24d同士は、図5に示すように、それぞれワイヤボンディングで電気的に接続されている。
支持枠30内には半導体チップ23の絶縁性確保や保護のためにシリコーンゲル36が充填、硬化されている。そして、金属ベース20上には、基板22の半導体チップ23、即ちスイッチング素子Q1〜Q6が実装された側の面、正極用配線部材27、負極用配線部材28、コンデンサ17、出力電極部材32U,32V,32W及び支持枠30を囲繞するカバー37がボルトにより固定されるようになっている。
次に前記のように構成されたインバータ装置11の作用を説明する。
インバータ装置11は、例えば、車両の電源装置の一部を構成するものとして使用される。インバータ装置11は、プラス入力端子14及びマイナス入力端子16が直流電源(図示せず)に接続され、U相端子U、V相端子V及びW相端子Wがモータ(図示せず)に接続され、駆動信号入力端子G1〜G6及び信号端子S1〜S6が制御装置(図示せず)に接続された状態で使用される。
上アームの第1、第3及び第5のスイッチング素子Q1,Q3,Q5及び下アームの第2、第4及び第6のスイッチング素子Q2,Q4,Q6がそれぞれ所定周期でオン、オフ制御されることによりモータに交流が供給されてモータが駆動される。
正極用配線部材27及び負極用配線部材28には、スイッチング素子Q1〜Q6のスイッチング時に急峻に立ち上がる電流又は立ち下がる電流が流れ、その電流は正極用配線部材27及び負極用配線部材28で逆方向となる。正極用配線部材27及び負極用配線部材28は平行な平板状に形成され、互いに近接して配置されているため、相互インダクタンスの効果により配線インダクタンスが低減する。また、垂下部27d,28dも平行に近接して配置されているため、垂下部27d,28dが存在しない場合に比較して、配線インダクタンスがより低減する。
本体部27A,28Aにはそれぞれ各端子部27aに流れる電流の合計電流が流れる。板状導体製の正極用配線部材27及び負極用配線部材28は、要求される電流を支障なく流すことができる板厚に形成されているため、負荷の要求に応じて電流が支障なく供給される。配線部材の本体部27A,28A及び端子部27a,28aを同じ厚さに形成した場合は、必要な電流容量を確保するために板厚を厚くすると、端子部27a,28aの曲げ加工が難しくなる。しかし、端子部27a,28aは、曲げ加工を容易に行うことが可能な厚みに形成されているため、端子部27a,28aの曲げ加工を容易に行うことができる。端子部27a,28aに流れる電流は、本体部27A,28Aに流れる電流の一部であるため、端子部27a,28aの厚みを端子部27a,28aの曲げ加工を容易に行うことができる厚みや、接合部27b,28bを超音波接合するのに適した厚みに設定しても、各半導体チップ23に必要な大きさの電流が支障なく供給される。
この実施形態によれば、以下に示す効果を得ることができる。
(1)半導体装置は、板状導体で形成されるとともに複数の端子部27a,28aを有する正極用配線部材27及び負極用配線部材28が相互に電気的に絶縁された状態で近接して平行に配置されている。したがって、配線のインダクタンスを低減することができる。
(2)端子部27a,28aは、本体部27A,28Aに対してアングル状となるように屈曲形成された屈曲部27c,28cを有するとともに先端側に本体部27A,28Aに対して平行に延びる接合部27b,28bを有し、かつ厚みが本体部27A,28Aの厚みより薄く形成されている。したがって、本体部27A,28Aの厚みを、必要な電流容量を確保するために十分な厚みにしても、端子部27a,28aの曲げ加工を容易に行うことができる。
(3)正極用配線部材27及び負極用配線部材28は、段差のない面が対向するように配置されている。したがって、正極用配線部材27及び負極用配線部材28は、本体部27A,28A以外の部分においても相互に絶縁された状態で近接して平行に配置することが可能になり、正極用配線部材27及び負極用配線部材28を段差のない面と段差のある面とが対向するように配置する場合に比べて配線インダクタンスを低減することができる。
(4)屈曲部27c,28cは、板厚の厚い部分と板厚の薄い部分との境界部に形成することもできる。しかし、この実施形態では、屈曲部27c,28cは板厚の薄い部分に形成されるため、境界部に形成するのに比べて曲げ加工が容易になる。また、屈曲部27c,28cは板厚の薄い部分に形成されるため屈曲部27c,28cの曲率半径を小さくすることができ、端子部27a,28aが本体部27A,28Aの幅方向に突出する長さを短くできるため、省スペース化を図ることができる。
(5)接合部27b,28bは、回路パターン24b,24cに超音波接合で接合されている。したがって、半田付けで接合部27b,28bの接合を行うより発熱量を少なくすることができる。
(6)負極用配線部材28上に電気的絶縁状態を保って配置されたコンデンサ17と、接合部27b,28bとの距離が近いが、接合時における発熱量が半田付けに比べて少ない超音波接合で行われるため、耐熱性の高い特殊なコンデンサを使用する必要がない。
(7)半導体装置はインバータ装置11であり、正極用配線部材27はインバータ装置11を構成するスイッチング素子に電力を供給するコンデンサ17の正極端子に電気的に接続され、負極用配線部材28は、インバータ装置11を構成するスイッチング素子に電力を供給するコンデンサ17の負極端子に電気的に接続されている。したがって、大電力が使用されるインバータ装置11において、スイッチング素子のスイッチング動作時における配線インダクタンスを低減することができる。
実施形態は前記に限定されるものではなく、例えば、次のように具体化してもよい。
○ 図6に示すように、正極用配線部材27及び負極用配線部材28は、段差のない面と段差のある面とが対向するように配置してもよい。正極用配線部材27及び負極用配線部材28を段差のない面同士が対向するように配置する構成では、端子部27a,28aの屈曲部27c,28cの曲げ方向を異なるように加工する必要があるため、曲げ加工に使用する金型が2種類必要になり、加工に手間がかかりコストも高くなる。これに対して、段差のない面と段差のある面とが対向するように配置する構成では、端子部27a,28aの屈曲部27c,28cの曲げ方向が正極用配線部材27及び負極用配線部材28で同じに形成されるため、屈曲部27c,28cの曲げ方向を異なるように加工する場合に比べて加工が容易になる。
○ 接合部27b,28bの回路パターン24b,24cへの接合は、超音波接合に限らず、例えば、半田付けによる接合やレーザ溶接による接合あってもよい。
○ 半導体チップ23はMOSFETに限らず、他のパワートランジスタ(例えば、IGBT(絶縁ゲートバイポーラ型トランジスタ))やサイリスタを使用してもよい。
○ 各アームを構成するスイッチング素子Q及びダイオードDの組は4組に限らず、各アームを流れる電流量の大きさによって3組以下でも5組以上でもよい。また、複数組に限らず、1組のスイッチング素子Q及びダイオードDの組で構成されてもよい。
○ 各アームを2個のセラミック基板21で構成する代わりに、1個のセラミック基板21で構成したり、あるいは1個のセラミック基板21上に複数のアームを構成したりするようにしてもよい。この場合、ゲート信号用の回路パターン24a間及びソース信号用の回路パターン24d間をそれぞれ電気的に接続するワイヤボンディングが不要になる。
○ セラミック基板21に代えて、絶縁基板として金属基板の表面に絶縁層を形成し、絶縁層上に回路パターン24a,24b,24c,24dを形成した構成の物を使用してもよい。
○ コンデンサ17の数は4個に限らず、インバータ装置11の定格電流値及び使用するコンデンサの容量により決まり、3個以下でも5個以上でもよい。
○ インバータ装置11は、3相交流を出力する構成に限らず、単相交流を出力する構成としてもよい。単相交流を出力する構成では上アーム及び下アームの組が2組存在する。
○ 半導体装置は、インバータ装置11に限らず、例えば、DC−DCコンバータに適用してもよい。
○ 半導体装置は、板状導体で形成されるとともに複数の端子部を有する正極用配線部材及び負極用配線部材が相互に電気的に絶縁された状態で近接して平行に配置された構成を備えた物であれば適用することができ、コンデンサ17のない半導体装置であってもよい。
以下の技術的思想(発明)は前記実施形態から把握できる。
(1)請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載の発明において、前記半導体装置はインバータ装置であり、前記正極用配線部材は前記インバータ装置を構成するスイッチング素子に電力を供給するコンデンサの正極端子に電気的に接続され、前記負極用配線部材は、前記インバータ装置を構成するスイッチング素子に電力を供給するコンデンサの負極端子に電気的に接続されている。
(a)はインバータの回路図、(b)は一つのアームの回路図。 インバータ装置のカバーを省略した平面図。 コンデンサアッシー、金属ベース、支持枠及び出力電極部材の関係を示す模式分解斜視図。 (a)は図2のA−A線断面図、(b)は(a)の一部省略部分拡大図。 半導体チップのソース及びゲートと各回路パターンとのワイヤボンディングの状態を示す部分模式図。 別の実施形態の両配線部材の関係を示す部分模式図。 従来技術の模式図。 別の従来技術の模式図。
符号の説明
11…半導体装置としてのインバータ装置、24b,24c…回路パターン、27…正極用配線部材、27A,28A…本体部、27a,28a…端子部、27b,28b…接合部、27c,28c…屈曲部、28…負極用配線部材。

Claims (5)

  1. 板状導体で形成されるとともに複数の端子部を有する正極用配線部材及び負極用配線部材が相互に電気的に絶縁された状態で近接して平行に配置された半導体装置であって、前記端子部は、本体部に対してアングル状となるように屈曲形成された屈曲部を有するとともに先端側に前記本体部に対して平行に延びる接合部を有し、かつ厚みが前記本体部の厚みより薄く形成されていることを特徴とする半導体装置。
  2. 前記正極用配線部材及び前記負極用配線部材は、段差のない面が対向するように配置されている請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記正極用配線部材及び前記負極用配線部材は、段差のない面と段差のある面とが対向するように配置されている請求項1に記載の半導体装置。
  4. 前記屈曲部は、板厚の薄い部分に形成されている請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の半導体装置。
  5. 前記接合部は、回路パターンに超音波接合で接合されている請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の半導体装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013239501A (ja) * 2012-05-12 2013-11-28 Nippon Inter Electronics Corp パワー半導体モジュール
JP2015173595A (ja) * 2015-06-02 2015-10-01 株式会社東芝 半導体装置
JP2016523509A (ja) * 2013-06-26 2016-08-08 プロティアン エレクトリック リミテッドProtean Electric Limited 電気モータまたは発電機用制御モジュール
JP2018182119A (ja) * 2017-04-17 2018-11-15 三菱電機株式会社 半導体装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4897103B1 (ja) * 2011-05-25 2012-03-14 有限会社寺岡商事 コンベア付バケットクレーン

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001060659A (ja) * 1999-08-23 2001-03-06 Toyota Autom Loom Works Ltd 半導体モジュールの接続構造及びインバータ
JP2002043496A (ja) * 2000-07-21 2002-02-08 Hitachi Ltd 半導体装置
JP2006245362A (ja) * 2005-03-04 2006-09-14 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置およびこれに用いられる電極端子
JP2008103502A (ja) * 2006-10-18 2008-05-01 Toyota Motor Corp 回路体

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001060659A (ja) * 1999-08-23 2001-03-06 Toyota Autom Loom Works Ltd 半導体モジュールの接続構造及びインバータ
JP2002043496A (ja) * 2000-07-21 2002-02-08 Hitachi Ltd 半導体装置
JP2006245362A (ja) * 2005-03-04 2006-09-14 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置およびこれに用いられる電極端子
JP2008103502A (ja) * 2006-10-18 2008-05-01 Toyota Motor Corp 回路体

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013239501A (ja) * 2012-05-12 2013-11-28 Nippon Inter Electronics Corp パワー半導体モジュール
JP2016523509A (ja) * 2013-06-26 2016-08-08 プロティアン エレクトリック リミテッドProtean Electric Limited 電気モータまたは発電機用制御モジュール
JP2015173595A (ja) * 2015-06-02 2015-10-01 株式会社東芝 半導体装置
JP2018182119A (ja) * 2017-04-17 2018-11-15 三菱電機株式会社 半導体装置

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