JP2009267335A - 太陽電池用基板および太陽電池 - Google Patents
太陽電池用基板および太陽電池 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009267335A JP2009267335A JP2008249102A JP2008249102A JP2009267335A JP 2009267335 A JP2009267335 A JP 2009267335A JP 2008249102 A JP2008249102 A JP 2008249102A JP 2008249102 A JP2008249102 A JP 2008249102A JP 2009267335 A JP2009267335 A JP 2009267335A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- solar cell
- layer
- group
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 118
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims abstract description 52
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 41
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 40
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 36
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 36
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 25
- 239000011669 selenium Substances 0.000 claims description 17
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 15
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 7
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims description 4
- 239000010955 niobium Substances 0.000 claims description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 claims description 4
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 3
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 34
- 239000010407 anodic oxide Substances 0.000 abstract description 10
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 9
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 77
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 238000007743 anodising Methods 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 10
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 description 9
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 7
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 7
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 7
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000009388 chemical precipitation Methods 0.000 description 6
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 description 6
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 6
- UMGDCJDMYOKAJW-UHFFFAOYSA-N thiourea Chemical compound NC(N)=S UMGDCJDMYOKAJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 5
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 5
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 5
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 4
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 4
- 229910002651 NO3 Inorganic materials 0.000 description 3
- NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N Nitrate Chemical compound [O-][N+]([O-])=O NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XSQUKJJJFZCRTK-UHFFFAOYSA-N Urea Natural products NC(N)=O XSQUKJJJFZCRTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 3
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 3
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 3
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 3
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 3
- 229910000807 Ga alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 2
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 2
- KDYFGRWQOYBRFD-UHFFFAOYSA-N succinic acid Chemical compound OC(=O)CCC(O)=O KDYFGRWQOYBRFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- DVRDHUBQLOKMHZ-UHFFFAOYSA-N chalcopyrite Chemical compound [S-2].[S-2].[Fe+2].[Cu+2] DVRDHUBQLOKMHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052951 chalcopyrite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- UIPVMGDJUWUZEI-UHFFFAOYSA-N copper;selanylideneindium Chemical compound [Cu].[In]=[Se] UIPVMGDJUWUZEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 1
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- VSZWPYCFIRKVQL-UHFFFAOYSA-N selanylidenegallium;selenium Chemical compound [Se].[Se]=[Ga].[Se]=[Ga] VSZWPYCFIRKVQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 description 1
- 239000001384 succinic acid Substances 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/072—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN heterojunction type
- H01L31/0749—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN heterojunction type including a AIBIIICVI compound, e.g. CdS/CulnSe2 [CIS] heterojunction solar cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/541—CuInSe2 material PV cells
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】金属基板上に陽極酸化皮膜を有する太陽電池用基板であって、前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が10nm〜600nmである太陽電池用基板。
【選択図】なし
Description
しかしながら、軽量化を目的として、ガラス基板を薄くすると一層割れやすくなってしまうことから、割れにくくフレキシブルであり、しかもガラス基板よりも軽量化を図ることのできる基板材料の開発が要望されている。
(1)金属基板上に陽極酸化皮膜を有する太陽電池用基板であって、前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が10nm〜600nmであることを特徴とする太陽電池用基板。
(2)前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が25〜600nmである、(1)項に記載の太陽電池用基板。
(3)前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が60〜600nmである、(1)又は(2)項に記載の太陽電池用基板。
(4)前記金属基板が、アルミニウム、ジルコニウム、チタン、マグネシウム、ニオブ及びタンタルからなる群から選択される少なくとも1つの金属を含有する基板である、(1)〜(3)のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
(5)前記金属基板がアルミニウム基板である、(1)〜(4)のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
(6)前記陽極酸化皮膜に形成された細孔の構造がランダムである、(1)〜(5)のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
(7)前記陽極酸化皮膜が、前記金属基板の端面および両面に形成されている、(1)〜(6)のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
(9)前記半導体層が、銅(Cu)、銀(Ag)、インジウム(In)、ガリウム(Ga)、イオウ(S)、セレン(Se)及びテルル(Te)からなる群から選択される少なくとも1つの元素を含有してなる層である、(8)項に記載の太陽電池。
(10)(1)〜(7)のいずれか1項に記載の太陽電池用基板上に光電変換層を設けた太陽電池であって、前記光電変換層として、IVb族元素からなる半導体層、IIIb族元素とVb族元素とからなる半導体層、IIb族元素とVIb族元素とからなる半導体層、Ib族元素からなる層、IIb族元素からなる層、IVb族元素からなる層、及び/又はVIb族元素からなる層を含む、太陽電池。
また、従来、表面粗さが小さいと密着性も小さいが、陽極酸化によってできた細孔により、その上に成膜する金属層との接触面積が増えて、密着性が向上する。表面粗さが大きいと光電変換層の結晶性が劣化し、変換効率の低下を招くが、比較的に表面粗さが小さくすむため、光電変換層の結晶性が向上し、変換効率が低下しない。このようにして結晶性の良い成膜と強い密着性を両立できる。また、細孔構造がランダム構造である場合には、周期構造ができにくくなり、光学的な波長依存特性が出にくくなる。
本発明によれば、陽極酸化を用いて金属基板表面に絶縁性の酸化膜を形成することで、絶縁性を持ったフレキシブル基板が得られ、これを用いることで安価な太陽電池を提供することができる。また、本発明の太陽電池用基板は、密着性に優れ、光電変換層が剥がれにくい。
本発明においては、本陽極酸化処理を比較的高温で行うことにより、マイクロポアの配列を乱し、また、ポア径のばらつきを所定の範囲にすることが容易となる。また、処理時間によっても、ポア径のばらつきを制御することができる。
1)温度範囲5℃〜35℃、濃度範囲0.1mol/L〜0.2mol/Lである硫酸水溶液を電解液として、電圧10V〜30Vの範囲の電圧で、処理時間1分〜30分の範囲で陽極酸化処理を施す。平均ポア径10〜30nm、平均ポア周期40〜70nmのマイクロポアが形成される。
2)温度範囲5℃〜35℃、濃度範囲0.4mol/L〜0.6mol/Lである蓚酸水溶液を電解液として、電圧30V〜120Vの範囲の電圧で、処理時間5分〜2時間の範囲で陽極酸化処理を施す。平均ポア径40nm〜70nm、平均ポア周期120nm〜180nmのマイクロポアが形成される。
3)温度範囲5℃〜35℃、濃度範囲0.01mol/L〜2mol/Lであるコハク酸水溶液を電解液として電圧120V〜240Vの範囲の電圧で、処理時間0.5〜12時間の範囲で陽極酸化処理を施す。平均ポア径100nm〜150nm、平均ポア周期300nm〜600nmのマイクロポアが形成される。
上記の混酸を作製することで、10〜150nmの任意のポア周期に可変できる。
ポア径は、燐酸に浸漬することで、ポア周期までの任意の大きさに拡大できる。
マイクロポアの平均ポア径、平均ポア周期を、SEM表面写真を画像解析することにより測定する。
ポア径に応じてFE-SEM(Field Emission Type Scanning Electron Microscope)にて1〜15万倍に調整して撮影したSEM写真(傾斜0度)より、隣接したポアの中心間隔を30箇所測定し、その平均値を平均ポア周期とする。
ポア径はポアの輪郭を透明なOHPシートに概ね100個、写し取った後、市販画像解析ソフト(商品名:Image Factory Asahi-Hi-Tech co.Ltd製)にて等価円直径に近似して、得られた値を平均ポア径とした。画像解析ソフトは同様の機能を有するものであれば、代替使用することができる。しかし、2値化を行う際の閾値設定の任意性を極力排除する為、OHPシート等の透明シートに写した形状を画像解析対象とすることが好ましい。
以下の実施例では、住友軽金属(株)製 FS003材、面積3cm角のアルミニウム材を使用した。
3cm角のアルミニウム基板を硫酸(濃度170g/l)、温度35℃、直流電圧13Vで陽極酸化を行い平均細孔径21nm、平均隣接細孔中心間距離45nmの陽極酸化アルミナ基板を作製した。一部の基板は、浸漬時間を変えて、細孔径を25nmにした。
また、シュウ酸(濃度0.5M)、温度16℃、直流電圧40Vで陽極酸化を行い平均細孔径56nm、平均隣接細孔中心間距離150nmの陽極酸化アルミナ基板を作製した。一部の基板は、浸漬時間を変えて、細孔径を60nmにした。
陽極酸化アルミナの膜厚は、すべて3μm以上の膜厚にし、アルミニウム基板両面を均等に陽極酸化した。
その後、120℃の基板温度でMoをスパッタ成膜し、520℃に昇温し、室温に下げた。その際に、アルミニウム、アルミナ、Moの熱膨張率が異なることに起因する応力がかかり密着性の弱いMo膜が剥離することを利用し、剥離率の評価を実施した。結果を図1に示す。
図1から明らかなように、細孔を施すことで剥離率が小さくなることがわかった。細孔径25nm以上になると、剥離率が2%以下にまで小さくなる。これは、細孔内部および、壁面に一部Moが成膜されることで、アルミナとMo層の接触面積が増え、密着性が向上したことによると考えられる。
さらに、60nm以上になると、剥離率がゼロになり、より強固な密着性をえることができた。
実施例1と同様の条件で基板の片面に厚さ10μmの陽極酸化膜を設けた後、スパッタ法によって膜厚0.4μmのMo薄膜を形成し、支持体サンプルを作製したところ、陽極酸化層にひび割れ、剥がれが生じた。
基板として、実施例1で用いたシュウ酸細孔径60nmの条件で基板の両面に陽極酸化膜を形成した陽極酸化アルミニウム基板を用いた。この陽極酸化アルミニウム基板上に、RFスパッタリング(高周波スパッタリング)によって、Mo層を形成した後、RFスパッタリングによって、NaF層を形成し、更にRFスパッタリングによって、Mo層を形成した。このようにして堆積したMo/NaF/Mo多層膜の厚みは約1.0μmの厚さであった。前記Mo上にCuInGaSe2薄膜を真空容器内部で堆積した。CuInGaSe2薄膜の堆積は、真空容器1内部にCuInGaSe2の主成分であるCuの蒸着源、Inの蒸着源、Gaの蒸着源、およびSeの蒸着源を用意し、真空度約10-7Torrのもとで、Cu、In、Ga、およびSeの蒸着源ルツボを加熱し、各元素を蒸発させた。その際、ルツボの温度は適宜調節した。CuInGaSe2薄膜は、以下に示すように2層構成とした。すなわち、1層目はInとGaの合計の原子組成に対してCuの原子組成が過剰になるように膜を形成し、続く2層目はCuの原子組成に対してInとGaの合計の原子組成が過剰になるように膜を形成した2層構造である。基板温度は550℃で一定とした。1層目を約2μm蒸着した。この際、原子組成比はCu/(In+Ga)=約1.0〜1.2であった。次に2層目を約1μm蒸着し、最終的な原子組成比がCu/(In+Ga)=0.8〜0.9になるよう蒸着した。
次に、MOCVD法により、透明導電膜として、約200nmの厚さのAl添加ZnO膜を堆積した。
最後に、取り出し電極として、Alを蒸着法で形成し、太陽電池を作製した。
基板として、実施例3と同様の条件で基板の両面に陽極酸化膜を形成した陽極酸化アルミニウム基板を用いた。この陽極酸化アルミニウム基板上に、RFスパッタリング(高周波スパッタリング)によって、Mo層を形成した後、RFスパッタリングによって、NaF層を形成し、更にRFスパッタリングによって、Mo層を形成した。このようにして堆積したMo/NaF/Mo多層膜の厚みは約1.0μmの厚さであった。
前記Mo上にCuInGaSe2薄膜を真空容器内部で堆積した。初めに、Ga/(In+Ga)原子組成比が約0.30になるように、In、Ga、Seの各蒸発源からの蒸着レートを制御して、基板温度400℃でIn、Ga、およびSeからなる薄膜を堆積させた。次に、Cu、Seの各蒸発源から蒸着レートを制御して、基板温度550℃でCu、Seからなる膜を堆積させた。最後にIn、Ga、Seの各蒸発源から蒸着レートを制御して、基板温度550℃でIn、Ga、Seからなる薄膜を堆積させた。このようにして得られたCuInGaSe2膜の厚みは約2.0μmであった。
次に、MOCVD法により、透明導電膜として、約200nmの厚さのAl添加ZnO膜を堆積した。
最後に、取り出し電極として、Alを蒸着法で形成し、太陽電池を作製した。
基板として、実施例3と同様の条件で基板の両面に陽極酸化膜を形成した陽極酸化アルミニウム基板を用いた。この陽極酸化アルミニウム基板上に、RFスパッタリング(高周波スパッタリング)によって、Mo層を形成した後、RFスパッタリングによって、NaF層を形成し、更にRFスパッタリングによって、Mo層を形成した。このようにして堆積したMo/NaF/Mo多層膜の厚みは約1.0μmの厚さであった。
前記Mo上に、スパッタ法によりCu−Ga合金とIn金属をターゲットして、Cu−Ga膜とIn膜の積層膜を形成した。ここで、Cu−Ga合金のGa含有率は30原子%である。スパッタ法は、Arガス雰囲気中で行った。
次に、このCu−Ga膜とIn膜を積層した基板を電気炉の中に入れて、1体積%のH2Seガスを含んだ雰囲気中で約520℃に加熱して熱処理を行った。この処理によって、CuInGaSe2薄膜が形成された。得られた、CuInGaSe2膜の厚みは約2.0μmであった。
次に、MOCVD法により、透明導電膜として、約200nmの厚さのAl添加ZnO膜を堆積した。
最後に、取り出し電極として、Alを蒸着法で形成し、太陽電池を作製した。
Claims (10)
- 金属基板上に陽極酸化皮膜を有する太陽電池用基板であって、前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が10nm〜600nmであることを特徴とする太陽電池用基板。
- 前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が25〜600nmである、請求項1記載の太陽電池用基板。
- 前記陽極酸化皮膜の表面に形成された細孔の直径が60〜600nmである、請求項1又は2に記載の太陽電池用基板。
- 前記金属基板が、アルミニウム、ジルコニウム、チタン、マグネシウム、ニオブ及びタンタルからなる群から選択される少なくとも1つの金属を含有する基板である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
- 前記金属基板がアルミニウム基板である、請求項1〜4のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
- 前記陽極酸化皮膜に形成された細孔の構造がランダムである、請求項1〜5のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
- 前記陽極酸化皮膜が、前記金属基板の端面および両面に形成されている、請求項1〜6のいずれか1項に記載の太陽電池用基板。
- 請求項1〜7のいずれか1項に記載の太陽電池用基板上に光電変換層を設けた太陽電池であって、前記光電変換層が、Ib族元素とIIIb族元素とVIb族元素とからなる半導体層を含む、太陽電池。
- 前記半導体層が、銅(Cu)、銀(Ag)、インジウム(In)、ガリウム(Ga)、イオウ(S)、セレン(Se)及びテルル(Te)からなる群から選択される少なくとも1つの元素を含有してなる層である、請求項8記載の太陽電池。
- 請求項1〜7のいずれか1項に記載の太陽電池用基板上に光電変換層を設けた太陽電池であって、前記光電変換層として、IVb族元素からなる半導体層、IIIb族元素とVb族元素とからなる半導体層、IIb族元素とVIb族元素とからなる半導体層、Ib族元素からなる層、IIb族元素からなる層、IVb族元素からなる層、及び/又はVIb族元素からなる層を含む、太陽電池。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008249102A JP2009267335A (ja) | 2007-09-28 | 2008-09-26 | 太陽電池用基板および太陽電池 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007255657 | 2007-09-28 | ||
JP2008088957 | 2008-03-30 | ||
JP2008249102A JP2009267335A (ja) | 2007-09-28 | 2008-09-26 | 太陽電池用基板および太陽電池 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009267335A true JP2009267335A (ja) | 2009-11-12 |
Family
ID=40511538
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008249102A Pending JP2009267335A (ja) | 2007-09-28 | 2008-09-26 | 太陽電池用基板および太陽電池 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20100229936A1 (ja) |
EP (1) | EP2197038A1 (ja) |
JP (1) | JP2009267335A (ja) |
WO (1) | WO2009041658A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011129322A1 (ja) * | 2010-04-14 | 2011-10-20 | 京セラ株式会社 | 光電変換装置、および光電変換装置の製造方法 |
JP5731478B2 (ja) * | 2010-03-19 | 2015-06-10 | 国立大学法人東京工業大学 | 細孔の中に金属ナノ粒子が担持されている多孔質構造を有する太陽電池 |
EP2532029A4 (en) * | 2010-02-01 | 2017-01-18 | FUJIFILM Corporation | Insulating metal substrate and semiconductor device |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010258255A (ja) * | 2009-04-27 | 2010-11-11 | Fujifilm Corp | 陽極酸化基板、それを用いた光電変換素子の製造方法、光電変換素子及び太陽電池 |
KR101172186B1 (ko) * | 2010-10-05 | 2012-08-07 | 엘지이노텍 주식회사 | 태양광 발전장치 및 이의 제조방법 |
TWI538235B (zh) * | 2011-04-19 | 2016-06-11 | 弗里松股份有限公司 | 薄膜光伏打裝置及製造方法 |
US9373731B2 (en) | 2011-06-30 | 2016-06-21 | Newsouth Innovations Pty Limited | Dielectric structures in solar cells |
US8770262B2 (en) * | 2011-08-11 | 2014-07-08 | Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd. | Stainless steel-and-amorphous alloy composite and method for manufacturing |
US8822816B2 (en) * | 2012-06-27 | 2014-09-02 | International Business Machines Corporation | Niobium thin film stress relieving layer for thin-film solar cells |
US9496422B2 (en) | 2012-07-30 | 2016-11-15 | Globalfoundries Inc. | Multi-element packaging of concentrator photovoltaic cells |
TWI478405B (zh) | 2012-12-13 | 2015-03-21 | Ind Tech Res Inst | 熱電薄膜結構 |
TWI677105B (zh) | 2014-05-23 | 2019-11-11 | 瑞士商弗里松股份有限公司 | 製造薄膜光電子裝置之方法及可藉由該方法獲得的薄膜光電子裝置 |
TWI661991B (zh) | 2014-09-18 | 2019-06-11 | 瑞士商弗里松股份有限公司 | 用於製造薄膜裝置之自組裝圖案化 |
US10651324B2 (en) | 2016-02-11 | 2020-05-12 | Flisom Ag | Self-assembly patterning for fabricating thin-film devices |
HUE053005T2 (hu) | 2016-02-11 | 2021-06-28 | Flisom Ag | Vékonyréteg optoelektronikai eszközök gyártása hozzáadott rubídiummal és/vagy céziummal |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2741954A1 (de) * | 1977-09-17 | 1979-03-29 | Karl Hertel | Verfahren zur herstellung von solarzellen |
JPS6289369A (ja) * | 1985-10-16 | 1987-04-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光起電力装置 |
JPS63250866A (ja) * | 1987-04-07 | 1988-10-18 | Showa Alum Corp | 薄膜太陽電池用基板の製造方法 |
JP2000286432A (ja) * | 1999-03-30 | 2000-10-13 | Toshiba Corp | 太陽電池素子用基板、太陽電池素子及び太陽電池素子の製造方法 |
WO2003007386A1 (en) * | 2001-07-13 | 2003-01-23 | Midwest Research Institute | Thin-film solar cell fabricated on a flexible metallic substrate |
JP2006136782A (ja) * | 2004-11-11 | 2006-06-01 | Asahi Kasei Chemicals Corp | 光触媒アルミニウム部材 |
JP2007030146A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-08 | Fujifilm Corp | ナノ構造体の製造方法 |
JP2007250376A (ja) * | 2006-03-16 | 2007-09-27 | Nippon Foil Mfg Co Ltd | リチウムイオン電池の集電体用アルミニウム箔及びそれを用いたリチウムイオン電池 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000017499A (ja) | 1998-06-26 | 2000-01-18 | Fuji Photo Film Co Ltd | 帯状金属板の電解装置 |
JP2000349320A (ja) | 1999-06-08 | 2000-12-15 | Kobe Steel Ltd | 耐電圧特性に優れたAl合金製絶縁材料およびその製造方法 |
JP2001140100A (ja) | 1999-11-12 | 2001-05-22 | Fuji Photo Film Co Ltd | 金属板電解処理装置及び金属板電解処理用電極 |
US7053294B2 (en) * | 2001-07-13 | 2006-05-30 | Midwest Research Institute | Thin-film solar cell fabricated on a flexible metallic substrate |
JP4522178B2 (ja) | 2004-07-20 | 2010-08-11 | 因幡電機産業株式会社 | ダクト継手 |
JP2006080370A (ja) | 2004-09-10 | 2006-03-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 太陽電池 |
US20060207647A1 (en) * | 2005-03-16 | 2006-09-21 | General Electric Company | High efficiency inorganic nanorod-enhanced photovoltaic devices |
EP1715085B1 (en) * | 2005-04-18 | 2013-04-03 | FUJIFILM Corporation | Method for producing anodized structure |
CN101292365B (zh) * | 2005-06-17 | 2012-04-04 | 依路米尼克斯公司 | 纳米结构的光伏器件及其制造方法 |
JP2007255657A (ja) | 2006-03-24 | 2007-10-04 | Sekisui Chem Co Ltd | 鞘管工法用パイプ |
JP2008088957A (ja) | 2006-10-05 | 2008-04-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 蒸気タービン |
-
2008
- 2008-09-26 EP EP08834094A patent/EP2197038A1/en not_active Withdrawn
- 2008-09-26 JP JP2008249102A patent/JP2009267335A/ja active Pending
- 2008-09-26 WO PCT/JP2008/067557 patent/WO2009041658A1/ja active Application Filing
- 2008-09-26 US US12/680,499 patent/US20100229936A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2741954A1 (de) * | 1977-09-17 | 1979-03-29 | Karl Hertel | Verfahren zur herstellung von solarzellen |
JPS6289369A (ja) * | 1985-10-16 | 1987-04-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光起電力装置 |
JPS63250866A (ja) * | 1987-04-07 | 1988-10-18 | Showa Alum Corp | 薄膜太陽電池用基板の製造方法 |
JP2000286432A (ja) * | 1999-03-30 | 2000-10-13 | Toshiba Corp | 太陽電池素子用基板、太陽電池素子及び太陽電池素子の製造方法 |
WO2003007386A1 (en) * | 2001-07-13 | 2003-01-23 | Midwest Research Institute | Thin-film solar cell fabricated on a flexible metallic substrate |
JP2006136782A (ja) * | 2004-11-11 | 2006-06-01 | Asahi Kasei Chemicals Corp | 光触媒アルミニウム部材 |
JP2007030146A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-08 | Fujifilm Corp | ナノ構造体の製造方法 |
JP2007250376A (ja) * | 2006-03-16 | 2007-09-27 | Nippon Foil Mfg Co Ltd | リチウムイオン電池の集電体用アルミニウム箔及びそれを用いたリチウムイオン電池 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2532029A4 (en) * | 2010-02-01 | 2017-01-18 | FUJIFILM Corporation | Insulating metal substrate and semiconductor device |
JP5731478B2 (ja) * | 2010-03-19 | 2015-06-10 | 国立大学法人東京工業大学 | 細孔の中に金属ナノ粒子が担持されている多孔質構造を有する太陽電池 |
WO2011129322A1 (ja) * | 2010-04-14 | 2011-10-20 | 京セラ株式会社 | 光電変換装置、および光電変換装置の製造方法 |
JP5430748B2 (ja) * | 2010-04-14 | 2014-03-05 | 京セラ株式会社 | 光電変換装置、および光電変換装置の製造方法 |
US8709860B2 (en) | 2010-04-14 | 2014-04-29 | Kyocera Corporation | Method for manufacturing photoelectric conversion device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2197038A1 (en) | 2010-06-16 |
WO2009041658A1 (ja) | 2009-04-02 |
US20100229936A1 (en) | 2010-09-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009267335A (ja) | 太陽電池用基板および太陽電池 | |
JP4629151B2 (ja) | 光電変換素子及び太陽電池、光電変換素子の製造方法 | |
JP2009267337A (ja) | 太陽電池 | |
US20100229938A1 (en) | Aluminum alloy substrate and solar cell substrate | |
JPH0786624A (ja) | 太陽電池吸収層の製造方法 | |
CN110699641B (zh) | 一种复合多层耐蚀薄膜及其应用 | |
JP2009267336A (ja) | 太陽電池用基板および太陽電池 | |
WO2012046808A1 (ja) | 陽極酸化膜の製造方法 | |
Li et al. | Adhesion improvement and characterization of magnetron sputter deposited bilayer molybdenum thin films for rear contact application in CIGS solar cells | |
JP2011190466A (ja) | アルミニウム合金基板および太陽電池用基板 | |
KR20040098575A (ko) | 전해용 전극 및 이의 제조방법 | |
Ju et al. | Fabrication of Ti/TiO2 (Ca)/hydroxyapatite bioceramic material by micro-arc oxidation and electrochemical deposition | |
JP5000779B1 (ja) | モリブデン電極付光電変換素子用基板 | |
JP2009099973A (ja) | 太陽電池 | |
JP2011176285A (ja) | 光電変換素子、薄膜太陽電池および光電変換素子の製造方法 | |
JP2011195953A (ja) | アルミニウム合金板およびその製造方法 | |
TW201123467A (en) | Structure and preparation of CIGS-based solar cells using an anodized substrate with an alkali metal precursor | |
JP2010215945A (ja) | 酸化被膜及びその製造方法 | |
JP2009164412A (ja) | 多孔質金属薄膜およびその製造方法、ならびにコンデンサ | |
JP5634315B2 (ja) | 絶縁層付金属基板および光電変換素子 | |
US20140076402A1 (en) | Controlled deposition of photovoltaic thin films using interfacial wetting layers | |
JP2006286537A (ja) | 水素透過構造体、及びその製造方法 | |
Leenheer et al. | Fabrication of nanoporous titania on glass and transparent conducting oxide substrates by anodization of titanium films | |
JP2010232427A (ja) | 光電変換素子、その製造方法、それに用いられる陽極酸化基板及び太陽電池 | |
Agawane et al. | Investigations on chemo-mechano stabilities of the molybdenum thin films deposited by DC-sputter technique |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100318 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20100331 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20100406 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100420 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20100616 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100616 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100803 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100930 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20100930 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110125 |