JP2009263768A - Al基合金スパッタリングターゲットおよびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】A群(Ni,Co)から選択される少なくとも1種と、B群(Cu,Ge)から選択される少なくとも1種と、C群(La,Gd,Nd)から選択される少なくとも1種を各々含有するAl−(Ni,Co)−(Cu,Ge)−(La,Gd,Nd)系合金スパッタリングターゲットを構成し、そのビッカース硬さ(HV)を35以上にする。
【選択図】なし
Description
A群(Ni,Co)から選択される少なくとも1種と、
B群(Cu,Ge)から選択される少なくとも1種と、
C群(La,Gd,Nd)から選択される少なくとも1種
を各々含有するAl基合金スパッタリングターゲットであって、その硬さがビッカース硬さ(HV)で35以上であることを特徴とするものである。
A群の総含有量を0.05原子%以上、1.5原子%以下、
B群の総含有量を0.1原子%以上、1原子%以下、
C群の総含有量を0.1原子%以上、1原子%以下
とすることが推奨される。
A群からNiのみを選択し、B群からCuのみを選択し、C群からLaのみを選択することが望ましい。
A群からCoのみを選択し、B群からGeのみを選択し、C群からLaのみを選択することが望ましい。
A群からNiのみを選択し、B群からGeのみを選択し、C群からNdのみを選択することが望ましい。
A群からCoのみを選択し、B群からGeのみを選択し、C群からNdのみを選択することが望ましい。
A群(Ni,Co)の総含有量が0.05原子%以上、1.5原子%以下、
B群(Cu,Ge)の総含有量が0.1原子%以上、1原子%以下、
C群(La,Gd,Nd)の総含有量が0.1原子%以上、1原子%以下
であるAl基合金の850〜1000℃の溶湯を得る工程と、
溶湯を、ガス/メタル比が6Nm3/kg以上でガスアトマイズしてAl基合金を微細化する工程と、
微細化したAl基合金をスプレイ距離が900〜1200mmの条件でコレクターに堆積し、プリフォームを得る工程と、
プリフォームを緻密化手段によって緻密化し、緻密体を得る工程と、
緻密体を450℃以下で塑性加工を行う工程と、
塑性加工後の緻密体を100〜300℃で焼鈍を行う工程と
を包含するものである。
A群からNiのみを選択し、B群からCuのみを選択し、C群からLaのみを選択することが望ましい。
A群からCoのみを選択し、B群からGeのみを選択し、C群からLaのみを選択することが望ましい。
A群からNiのみを選択し、B群からGeのみを選択し、C群からNdのみを選択することが望ましい。
A群からCoのみを選択し、B群からGeのみを選択し、C群からNdのみを選択することが望ましい。
まず、Al−(Ni,Co)−(Cu,Ge)−(La,Gd,Nd)系合金の溶湯を用意する。
Al−Ni−Cu−La系合金を用い、表1,表2に示すような種々の条件のもと、スプレイフォーミング法によってAl基合金プリフォーム(密度:約50〜60%)を得た。
溶解温度 :800〜1100℃(表1,表2を参照)
ガス/メタル比 :5〜8Nm3/kg(表1,表2を参照)
スプレイ距離 :800〜1300mm(表1,表2を参照)
ガスアトマイズ出口角度α(図2参照):7°
コレクター角度β:35°
圧延前の加熱条件:350〜480℃で2時間
総圧下率:50%
焼鈍条件:50〜350℃で2時間
Arガス圧:2.25×10−3Torr
Arガス流量:30sccm、スパッタリングパワー:811W
極間距離:51.6mm
基板温度:室温
スパッタリング時間:81秒間
次に、Al−Co−Ge−La系合金(表3,表4)を用い、実施例1と同様の方法と条件(表3,表4に示す条件を除く)により、Al基合金スパッタリングターゲット(試料)を製造した(番号34〜66)。得られたAl基合金スパッタリングターゲットのビッカース硬さ(HV)を測定し、さらにスパッタリング試験を行うことにより初期スプラッシュの発生を評価した。
次に、Al−Ni−Ge−Nd系合金(表5,表6)を用い、実施例1と同様の方法と条件(表5,表6に示す条件を除く)により、Al基合金スパッタリングターゲット(試料)を製造した(番号67〜99)。得られたAl基合金スパッタリングターゲットのビッカース硬さ(HV)を測定し、さらにスパッタリング試験を行うことにより初期スプラッシュの発生を評価した。
次に、Al−Co−Ge−Nd系合金(表7,表8)を用い、実施例1と同様の方法と条件(表7,表8に示す条件を除く)により、Al基合金スパッタリングターゲット(試料)を製造した(番号100〜132)。得られたAl基合金スパッタリングターゲットのビッカース硬さ(HV)を測定し、さらにスパッタリング試験を行うことにより初期スプラッシュの発生を評価した。
2 Al基合金の溶湯
3a、3b ガスアトマイザー
4a、4b ボビンのガス穴
5 コレクター
6 ノズル
6a、6b ガスアトマイズノズル中心軸
A スプレイ軸
A1 ノズル6の先端
A2 コレクター5の中心
A3 コレクター5の中心A2の水平線がスプレイ軸Aと交差する点
L スプレイ距離
α ガスアトマイズ出口角度
β コレクター角度
Claims (11)
- A群(Ni,Co)から選択される少なくとも1種と、
B群(Cu,Ge)から選択される少なくとも1種と、
C群(La,Gd,Nd)から選択される少なくとも1種
を各々含有するAl基合金スパッタリングターゲットであって、その硬さがビッカース硬さ(HV)で35以上であることを特徴とするAl基合金スパッタリングターゲット。 - 前記A群の総含有量が0.05原子%以上、1.5原子%以下、
前記B群の総含有量が0.1原子%以上、1原子%以下、
前記C群の総含有量が0.1原子%以上、1原子%以下
である請求項1に記載のAl基合金スパッタリングターゲット。 - 前記A群からNiのみが選択され、前記B群からCuのみが選択され、前記C群からLaのみが選択された請求項1または2に記載のAl基合金スパッタリングターゲット。
- A群(Ni,Co)の総含有量が0.05原子%以上、1.5原子%以下、
B群(Cu,Ge)の総含有量が0.1原子%以上、1原子%以下、
C群(La,Gd,Nd)の総含有量が0.1原子%以上、1原子%以下
であるAl基合金の850〜1000℃の溶湯を得る工程と、
前記溶湯を、ガス/メタル比が6Nm3/kg以上でガスアトマイズしてAl基合金を微細化する工程と、
前記微細化したAl基合金をスプレイ距離が900〜1200mmの条件でコレクターに堆積し、プリフォームを得る工程と、
前記プリフォームを緻密化手段によって緻密化し、緻密体を得る工程と、
前記緻密体を450℃以下で塑性加工を行う工程と、
前記塑性加工後の緻密体を100〜300℃で焼鈍を行う工程と
を包含することを特徴とするAl基合金スパッタリングターゲットの製造方法。 - 前記A群からNiのみが選択され、前記B群からCuのみが選択され、前記C群からLaのみが選択された請求項4に記載のAl基合金スパッタリングターゲットの製造方法。
- 前記A群からCoのみが選択され、前記B群からGeのみが選択され、前記C群からLaのみが選択された請求項1または2に記載のAl基合金スパッタリングターゲット。
- 前記A群からCoのみが選択され、前記B群からGeのみが選択され、前記C群からLaのみが選択された請求項4に記載のAl基合金スパッタリングターゲットの製造方法。
- 前記A群からNiのみが選択され、前記B群からGeのみが選択され、前記C群からNdのみが選択された請求項1または2に記載のAl基合金スパッタリングターゲット。
- 前記A群からNiのみが選択され、前記B群からGeのみが選択され、前記C群からNdのみが選択された請求項4に記載のAl基合金スパッタリングターゲットの製造方法。
- 前記A群からCoのみが選択され、前記B群からGeのみが選択され、前記C群からNdのみが選択された請求項1または2に記載のAl基合金スパッタリングターゲット。
- 前記A群からCoのみが選択され、前記B群からGeのみが選択され、前記C群からNdのみが選択された請求項4に記載のAl基合金スパッタリングターゲットの製造方法。
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