JP2009250788A - 電子部品測定装置の測子の接触機構及びそれを用いた電子部品測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ケルビンコンタクト方式の電子部品測定装置1の測子を、電子部品4のリード電極7に接触させる機構である。電子部品4のリード電極7の底面7aと接触する第1の測子8と、電子部品4のリード電極7の側面7bと接触する第2の測子9と、第1の測子8と第2の測子9とを有する回転子10と、を備えている。第1の測子8に電子部品4のリード電極7の底面7aを接触させて回転子10を回転させると、第2の測子9が電子部品4のリード電極7の側面7bに接触する構成である。
【選択図】図1
Description
ケルビンコンタクト方式の電子部品測定装置の測子を、電子部品のリード電極に接触させる機構であって、
前記電子部品のリード電極の底面と接触する第1の測子と、
前記電子部品のリード電極の側面と接触する第2の測子と、
前記第1の測子と前記第2の測子とを有する回転子と、を備えており、
前記第1の測子に前記電子部品のリード電極の底面を接触させて前記回転子を回転させると、前記第2の測子が前記電子部品のリード電極の側面に接触する構成である。このような構成により、簡単な機構で、測子をリード電極に確実に接触させることができる。
先ず、図2(a)に示すように、保持機構5によって電子部品4を所定の位置に保持する。次に、図2(b)に示すように、保持機構5を降下させて、電子部品4のリード電極7の底面7aを第1の測子8に接触させる。さらに、図2(c)に示すように、保持機構5を下降させて、電子部品4のリード電極7の底面7aを第1の測子8に接触させた状態で押し込み、回転子10を回転させて第2の測子9を電子部品4のリード電極7の側面7bに接触させる。保持機構5によって電子部品4を押し込むだけで、測子を電子部品のリード電極に確実に接触させることができる。
2 電子部品測定装置の測子の接触機構
4 電子部品
5 保持機構
7 リード電極
7a 底面
7b 側面
8 第1の測子
9 第2の測子
10 回転子
11 回転子の回転に対して抵抗し、第1の測子を電子部品のリード電極の底面に押し付ける機構
L1 軸線
L2 軸線
Claims (5)
- ケルビンコンタクト方式の電子部品測定装置の測子を、電子部品のリード電極に接触させる機構であって、
前記電子部品のリード電極の底面と接触する第1の測子と、
前記電子部品のリード電極の側面と接触する第2の測子と、
前記第1の測子と前記第2の測子とを有する回転子と、を備えており、
前記第1の測子に前記電子部品のリード電極の底面を接触させて前記回転子を回転させると、前記第2の測子が前記電子部品のリード電極の側面に接触する構成の電子部品測定装置の測子の接触機構。 - 前記回転子の回転に対して抵抗し、前記第1の測子を前記電子部品のリード電極の底面に押し付ける機構を備えていることを特徴とする、請求項1に記載の電子部品測定装置の測子の接触機構。
- 前記回転子の回転に対して抵抗し、前記第1の測子を前記電子部品のリード電極の底面に押し付ける機構は圧縮バネであることを特徴とする、請求項2に記載の電子部品測定装置の測子の接触機構。
- 前記回転子には、前記第1の測子の軸線と前記第2の測子の軸線とが略π/2radを成して交差し、且つ前記第1の測子と前記第2の測子とが相反する回転方向に向かうように配置されていることを特徴とする、請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の電子部品測定装置の測子の接触機構。
- ケルビンコンタクト方式の電子部品測定装置であって、
請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の接触機構と、
前記接触機構における回転子の回転軸端部を側面で支持するフレームと、
電子部品を保持する保持機構と、
前記接触機構における第1の測子と第2の測子とが接続されたテスタと、を備えている電子部品測定装置。
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JP2004150981A (ja) * | 2002-10-31 | 2004-05-27 | Ricoh Co Ltd | 半導体装置の電気的特性測定装置及び電気的特性測定方法 |
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