JP2009241410A - 離型フィルム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】
少なくとも離型側層(A)と中間層(B)とを有する離型多層フィルムであって、該離型側層(A)が、シンジオタクチックポリスチレンからなり、かつ該離型側層(A)に表面粗さ(Rz:十点平均粗さ)が3〜20μmであるエンボス加工が施されていることを特徴とする離型多層フィルム。
前記離型多層フィルムに、更にポリプロピレンまたはシンジオタクチックポリスチレンからなる離型反対側層(C)を備えている離型多層フィルム。
更に前記該離型反対側層(C)に表面粗さ(Rz:十点平均粗さ)が3〜20μmであるエンボス加工が施されている前記離型多層フィルム。
【選択図】 なし
Description
該離型側層(A)がシンジオタクチックポリスチレンからなり、かつ該離型側層(A)に表面粗さ3〜20μmであるエンボス加工が施されていることを特徴とする離型多層フィルム。
(a)シンジオタクチックポリスチレン(SPS):ザレック S104(出光興産(株)製)
(b)ポリポロピレン(PP):ノーブレン FS2011DG2(住友化学(株)製)
(c)エチレン−メチルアクリレート共重合体(EMMA):
アクリフト WD105−1(住友化学(株)製)
(d) 4−メチル1−ペンテンポリメチルペンテンとαオレフィンとの共重合体(TPX):
MX004(三井化学(株)製)
[実施例1〜10及び比較例1〜6]
(試料調製)
実施例1〜11及び比較例1〜3、および6では、3台の押出機に離型層樹脂、クッション層樹脂、離型層樹脂として、表1に示す各組成のポリマーを供給し、三層ダイス(300℃)より共押出して所定の厚さの離型多層フィルムを作成した。 比較例4,5では、1台の押出機に表1に示す組成の離型層樹脂を供給し、単層ダイス(300℃)より押出して所定の厚さの離型単層フィルムを作成した。 実施例9はオフラインでエンボス加工を施し、その他の実施例、比較例はインラインでエンボス加工を施した。比較例1については、エンボス処理を施さなかった。実施例10については、離型反対側層にPPを、実施例11については中間層にPPを使用した。比較例6については、離型側層および離型反対側層に4−メチル1−ペンテンポリメチルペンテンを使用した。
離型性は「JPCA規格の7.5.7.1項表面の付着物」に準拠し、回路基板製造後に離型フィルムと回路基板の剥離状態を目視で評価した。各符号は以下のとおりである。
×を不合格とし、それ以外を合格とした。
◎:破れ発生率 1.0%未満
○:破れ発生率 1.0%以上2.0%未満
×:破れ発生率 2.0%以上
回路基板にカバーレイフィルムの接着剤層の染み出しがあるか否かを、「JPCA規格の7.5.3.6項のカバーレイの接着剤の流れおよびカバーコートのにじみ」に準拠し、回路端子部へのシミ出し量を評価した。
各符号は以下のとおりである。△および×を不合格とし、それ以外を合格とした。
◎:フロー量 80μm未満
○:フロー量 80μm以上100μm未満
△:フロー量 100μm以上150μm未満
×:フロー量 150μm以上
仕上がり外観シワは、「JPCA規格の7.5.7.2項のシワ」に準じて評価した。
各符号は以下のとおりである。×を不合格とし、それ以外を合格とした。
○:シワ発生率 2.0%未満
×:シワ発生率 2.0%以上
成形性は、「JPCA規格の7.5.3.3項の気泡」に準じて評価した。各符号は、以下の通りである。×を不合格とし、それ以外を合格とした。
○:ボイド発生率 2.0%未満
×:ボイド発生率 2.0%以上
離型フィルム端面シミ出し長さ(フィルム4方向端面からの樹脂がシミ出した長さを測定)により評価した。×を不合格とし、それ以外を合格とした。
○:シミ出し長さ 5mm未満
×:シミ出し長さ 5mm以上
これらの結果を表1〜3に示した。
Claims (4)
- 少なくとも離型側層(A)と中間層(B)とを有する離型多層フィルムであって、該離型側層(A)が、シンジオタクチックポリスチレンからなり、かつ該離型側層(A)に表面粗さ(Rz:十点平均粗さ)が3〜20μmであるエンボス加工が施されていることを特徴とする離型多層フィルム。
- 前記請求項1記載の離型多層フィルムに、更にポリプロピレンまたはシンジオタクチックポリスチレンからなる離型反対側層(C)を備えている離型多層フィルム。
- 前記該離型反対側層(C)に表面粗さ(Rz:十点平均粗さ)が3〜20μmであるエンボス加工が施されている請求項2記載の離型多層フィルム。
- 請求項1〜3いずれかに記載の離型フィルムを用いて製造されたことを特徴とする回路基板の製造方法。
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