JP2009233590A - 有害物質処理方法とその装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】有害物質処理装置1はガスが供給されるガス通過部2と、このガス通過部2内に供給されたガスと接触させる光触媒フィルタ3(光触媒部材)と、この光触媒フィルタ3に含まれる光触媒の励起に必要な光を光触媒フィルタ3に照射する光源5を備える。光触媒フィルタ3は前記ガスに含まれる有害物質よりも酸化還元電位の高い金属または金属酸化物または金属水酸化物が担持された光触媒を含む。前記有害物質が二酸化窒素である場合、前記光触媒に担持させる金属または金属酸化物は銅または酸化銅である。前記光触媒は酸化チタン光触媒である。
【選択図】図1
Description
橋本和仁等編著,「光触媒 基礎・材料開発・応用」,エヌ・ティー・エス出版,2005年5月,p.810
0.1Mの硫酸銅水溶液にアナターゼ結晶型の酸化チタンのゾル液(石原産業(株),STS‐01)を濃度1g/Lとなるように添加した。この溶液に0.1Nのアンモニア水溶液を滴下して中和処理し、ろ過洗浄した後、120℃で一晩乾燥させた。この乾燥体をすり鉢で粉砕して、水酸化銅担持酸化チタン光触媒の粉末を得た。得られた水酸化銅担持酸化チタン光触媒の粉末とシュウ酸チタニルアンモニウム溶液を容積比2:1で混合し、酸化チタン換算で固形分濃度10%の光触媒塗布液を得た。50×100×厚さ20mmのセラミック発泡体にディップコート法により塗布し、480℃、20分の条件で焼成処理して、セラミック発泡体に光触媒を塗布した光触媒フィルタを得た。得られた光触媒フィルタにブラックライトを1日照射し、セラミック発泡体に酸化銅(I)担持酸化チタン光触媒をコートした光触媒フィルタを得た。
実施例1の0.1Mの硫酸銅水溶液の代わりに0.1Mの塩化銀水溶液を用いる以外は、実施例1と同じ調製法及び同仕様のセラミック発泡体に銀担持酸化チタン光触媒をコートした光触媒フィルタを得た。
実施例及び比較例に係る光触媒フィルタによる窒素酸化物の分解能力の測定はJISR1701‐1「光触媒材料の空気浄化性能試験方法−第1部:窒素酸化物の除去性能」に準拠した。ガス通過部2に試験に供する実施例または比較例に係る光触媒フィルタ3に装填し、ブラックライト5で光照射しながらガス通過部2の給気管6からに酸化窒素ガスを供給した。そして、ガス通過部2の排気管7からのガスを窒素酸化物分析計(化学発光式NOx計,堀場製作所,APNA360)に導入し、処理ガスの一酸化窒素と二酸化窒素の濃度を連続的に測定した。
図4は実施例1の酸化銅(I)担持酸化チタン光触媒によって二酸化窒素ガスの分解試験を行った場合のNO、NO2、NOxの濃度の経時的変化である。光照射開始約30分前の時点で二酸化窒素ガス(NO2)を実施例1の光触媒フィルタ3に接触させると、二酸化窒素濃度(NO2)は一時的に減少し、再びもとの濃度レベル近くまで上昇した。この間、光触媒フィルタ3に二酸化窒素ガスが吸着したと考えられる。0分の時点で光照射を開始すると、二酸化窒素濃度(NO2)は急激に減少し、それに応じて一酸化窒素(NO)が上昇した。二酸化窒素濃度の減少量と一酸化窒素の増加量がほぼ一致したことから、二酸化窒素濃度(NO2)ガスが一酸化窒素(NO)に還元されたことがわかる。このことから、酸化銅(I)担持酸化チタン光触媒に光照射しながら二酸化窒素ガス(NO2)を接触させると、一酸化窒素(NO)に還元することができることが確認された。
2…ガス通過部
3…光触媒フィルタ(光触媒部材)
4…反応容器
5…光源
6…給気管
7…排気管
Claims (4)
- 有害物質よりも酸化還元電位の高い金属または金属酸化物または金属水酸化物を担持させた光触媒に光触媒の励起に必要な光を照射すると共に前記有害物質を含んだガスを接触させることで前記有害物質を還元することを特徴とする有害物質処理方法。
- 前記有害物質が二酸化窒素である場合、前記光触媒に担持させる金属または金属酸化物は銅または酸化銅であることを特徴とする請求項1に記載の有害物質処理方法。
- 前記光触媒は酸化チタン光触媒であることを特徴とする請求項2に記載の有害物質処理方法。
- ガスが供給されるガス通過部と、
このガス通過部内に供給されたガスと接触させる光触媒部材と、
この光触媒部材に含まれる光触媒の励起に必要な光を前記光触媒部材に照射する光源と
を備え、
前記光触媒は前記ガスに含まれる有害物質よりも酸化還元電位の高い金属または金属酸化物または金属水酸化物が担持されたこと
を特徴とする有害物質処理装置。
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