JP2009224463A - 樹脂パッケージおよびこれを用いた半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】粘度の高い保護部材を充填する場合でも、保護部材の充填量が低減される樹脂パッケージを提供する。
【解決手段】凹凸部34は、樹脂パッケージ11の第一底部14と第二底部15との間の段差部33に形成されている。充填された第一保護部材31は、粘度が高い場合でも、凹凸部34の毛細管現象によって速やかに樹脂パッケージ11の内部の全体に広がる。これにより、第一保護部材31の充填時間を短縮でき、第一保護部材31の充填量を低減することができる。第一保護部材31の充填量を低減することにより、回路チップ21とセンサチップ22とを接続するボンディングワイヤ25の下方に存在する第一保護部材31の厚さが減少する。そのため、例えば第一保護部材31の膨張または収縮によって、ボンディングワイヤ25に加わる応力は低減される。
【選択図】図1
【解決手段】凹凸部34は、樹脂パッケージ11の第一底部14と第二底部15との間の段差部33に形成されている。充填された第一保護部材31は、粘度が高い場合でも、凹凸部34の毛細管現象によって速やかに樹脂パッケージ11の内部の全体に広がる。これにより、第一保護部材31の充填時間を短縮でき、第一保護部材31の充填量を低減することができる。第一保護部材31の充填量を低減することにより、回路チップ21とセンサチップ22とを接続するボンディングワイヤ25の下方に存在する第一保護部材31の厚さが減少する。そのため、例えば第一保護部材31の膨張または収縮によって、ボンディングワイヤ25に加わる応力は低減される。
【選択図】図1
Description
本発明は、樹脂パッケージおよびこれを用いた半導体装置に関し、特に樹脂パッケージの内部に回路チップおよびセンサチップが収容される樹脂パッケージおよびこれを用いた半導体装置に関する。
特許文献1に開示されている半導体装置にように、半導体で形成されたチップ、ボンディングワイヤおよび導電部などの保護、絶縁性の確保、ならびに腐食の低減を目的として、半導体装置の樹脂パッケージには保護部材が充填されている。特許文献1では、センサチップのセンサ面が露出する保護部材を、粘度の比較的高い樹脂やゴムなどで形成している。
特開平11−304619号公報
保護部材の粘度が高くなると、微少な樹脂パッケージのセンサチップと回路チップとの間に保護部材を十分に充填することが困難である。そのため、保護部材を充填する工程に長時間が必要となる。そこで、保護部材の充填量を増加させることにより、保護部材を充填する工程の短縮が図られている。しかしながら、保護部材の充填量が増加すると、センサチップと回路チップとを電気的に接続するボンディングワイヤの下方に存在する保護部材の量も増加する。その結果、温度変化にともなう保護部材の膨張または収縮による応力がボンディングワイヤに与える影響が増大するという問題がある。
そこで、本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、粘度の高い保護部材を充填する場合でも、保護部材の充填量が低減される樹脂パッケージを提供することにある。
また、本発明の他の目的は、保護部材の充填量を低減することにより、ボンディングワイヤに与える影響を低減し、信頼性が高い半導体装置を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、保護部材の充填量を低減することにより、ボンディングワイヤに与える影響を低減し、信頼性が高い半導体装置を提供することにある。
請求項1記載の発明では、回路チップ支持部が設けられている第一底部とセンサチップ支持部が設けられている第二底部との間に形成される段差部に凹凸部を備えている。凹凸部は、段差部の延伸方向に対し中心軸が概ね垂直に交差しつつ複数設けられている。すなわち、段差部には、凹凸部によって微細な溝が形成される。これにより、例えば粘度の高い充填部材を第一底部または第二底部側に充填すると、充填された充填部材は毛細管現象により凹凸部を経由して広がる。そのため、一方の底部側に充填部材を充填することにより、充填部材は他方の底部側へ速やかに移動する。したがって、充填部材を短時間で充填することができるとともに、充填部材の充填量を低減することができる。
請求項2記載の発明では、凹凸部は段差部のうちボンディングワイヤの下方に位置する部分に設けられている。これにより、回路チップ支持部に支持される回路チップとセンサチップ支持部に支持されるセンサチップとをボンディングワイヤで接続する場合、回路チップ支持部とセンサチップ支持部との間の段差部に充填される充填部材が低減される。したがって、充填部材を充填したとき、ボンディングワイヤの下方に存在する充填部材の量を低減することができる。
請求項3記載の発明では、凹凸部は段差部のうち第二底部の周囲の全周に設けられている。そのため、充填された充填部材は、段差部に設けられた凹凸部における毛細管現象によって薄く均一かつ迅速に広がる。したがって、充填部材を短時間で充填することができるとともに、充填部材の充填量を低減することができる。
請求項4記載の発明では、請求項1、2または3記載の樹脂パッケージを備えている。そのため、センサ面が露出した状態で導電部および導電部の周囲に粘度の高い第一保護部材を充填する場合、充填された第一保護部材は段差部の凹凸部における毛細管現象によって薄く均一かつ迅速に広がる。したがって、保護部材の充填量を低減することができるとともに、ボンディングワイヤに与える影響を低減し、信頼性を高めることができる。
以下、本発明の複数の実施形態を図面に基づいて説明する。なお、複数の実施形態において実質的に同一の構成部位には同一の符号を付し、説明を省略する。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態による半導体装置を適用した圧力センサ装置を図1および図2に示す。圧力センサ装置10は、例えば自動車のエンジンに吸入される吸気の圧力を検出するために用いられる。圧力センサ装置10は、パッケージ本体としての樹脂パッケージ11を備えている。樹脂パッケージ11は、例えばフィラーが充填されたエポキシ樹脂などにより形成されている。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態による半導体装置を適用した圧力センサ装置を図1および図2に示す。圧力センサ装置10は、例えば自動車のエンジンに吸入される吸気の圧力を検出するために用いられる。圧力センサ装置10は、パッケージ本体としての樹脂パッケージ11を備えている。樹脂パッケージ11は、例えばフィラーが充填されたエポキシ樹脂などにより形成されている。
樹脂パッケージ11は、一体に形成されている底部12および壁部13を有している。壁部13は、底部12の周囲から立ち上がって設けられている。これにより、樹脂パッケージ11は、上方が開口した凹状に形成されている。底部12は、深さの異なる第一底部14および第二底部15から構成されている。第二底部15の深さは第一底部14よりも深い。すなわち、第二底部15は、壁部13の底部とは反対側の端部16からの距離が第一底部14よりも長い。これにより、第一底部14は、第二底部15よりも上方に位置している。
樹脂パッケージ11は、上述の第一底部14および第二底部15に加え、回路チップ支持部17およびセンサチップ支持部18を備えている。回路チップ支持部17は、第一底部14に設けられている。回路チップ支持部17には、回路チップ21が支持されている。センサチップ支持部18は、第二底部15に設けられている。センサチップ支持部18には、センサチップ22が支持されている。樹脂パッケージ11は、導電部としてターミナルパッド23がインサート成形されている。ターミナルパッド23は、例えば銅などの導電性の金属で形成されている。
回路チップ21は、集積回路が形成された半導体によって構成されている。回路チップ21は、センサチップ22の出力信号を増幅する増幅回路および増幅回路における増幅率などの回路定数を調節するためのトリミング回路などを含んでいる。回路チップ21は、例えばシリコーン系の接着剤などにより回路チップ支持部17に固定されている。
センサチップ22は、例えばピエゾ抵抗効果を利用した周知の半導体圧力センサチップである。センサチップ22は、上面すなわちセンサチップ支持部18とは反対側の面にセンサ面24を有している。センサ面24には、例えば図示しないダイヤフラムや拡散抵抗などが設けられている。センサチップ22は、回路チップ21と同様に例えばシリコーン系の接着剤などによりセンサチップ支持部18に固定されている。
センサチップ22は、例えばピエゾ抵抗効果を利用した周知の半導体圧力センサチップである。センサチップ22は、上面すなわちセンサチップ支持部18とは反対側の面にセンサ面24を有している。センサ面24には、例えば図示しないダイヤフラムや拡散抵抗などが設けられている。センサチップ22は、回路チップ21と同様に例えばシリコーン系の接着剤などによりセンサチップ支持部18に固定されている。
センサチップ22と回路チップ21との間は、ボンディングワイヤ25によって電気的に接続されている。また、回路チップ21とターミナルパッド23との間、およびセンサチップ22とターミナルパッド23との間も、ボンディングワイヤ26によって電気的に接続されている。ボンディングワイヤ25、26は、例えば金などの導電性かつ延性の金属で形成されている。
樹脂パッケージ11の内部には、第一保護部材31および第二保護部材32が二層に充填されている。第一保護部材31および第二保護部材32は、いずれも回路チップ21、センサチップ22およびボンディングワイヤ25、26の保護、電気的な絶縁性の確保、ならびに腐食の低減を目的として充填されている。具体的には、下層側の第一保護部材31は、比較的粘度が高くヤング率も高いフッ素系あるいはフロロシリコーン系の樹脂またはゴム材料から形成されている。第一保護部材31は、センサチップ22のセンサ面24が露出した状態で樹脂パッケージ11に充填されている。すなわち、第一保護部材31は、センサチップ22のセンサ面24を除き、回路チップ21が支持されている回路チップ支持部17およびセンサチップ22が支持されているセンサチップ支持部18の周囲に充填されている。
第二保護部材32は、第一保護部材31に比較して粘度およびヤング率がともに低いフッ素系あるいはフロロシリコーン系のゲル状物質から形成されている。第二保護部材32は、第一保護部材31の上方、すなわちセンサチップ22のセンサ面24、回路チップ21の上方、ターミナルパッド23および各ボンディングワイヤ25、26を覆っている。
上述のように第一底部14と第二底部15とは、深さが異なっている。そのため、回路チップ支持部17が設けられている第一底部14とセンサチップ支持部18が設けられている第二底部15との間には、段差部33が設けられている。第一底部14は、センサチップ支持部18が設けられている部分から第二底部15の周囲にも連続して設けられている。すなわち、矩形状の第二底部15の周囲は、第一底部14に囲まれている。そのため、段差部33は、矩形状の第二底部15の周囲に四辺に沿って形成されている。
上述のように第一底部14と第二底部15とは、深さが異なっている。そのため、回路チップ支持部17が設けられている第一底部14とセンサチップ支持部18が設けられている第二底部15との間には、段差部33が設けられている。第一底部14は、センサチップ支持部18が設けられている部分から第二底部15の周囲にも連続して設けられている。すなわち、矩形状の第二底部15の周囲は、第一底部14に囲まれている。そのため、段差部33は、矩形状の第二底部15の周囲に四辺に沿って形成されている。
段差部33のうち回路チップ支持部17とセンサチップ支持部18との間に位置する段差部331は、凹凸部34を形成している。すなわち、第二底部15のうち矩形状の一辺側が第一底部14のうちセンサチップ支持部18が設けられている部分と段差部331を挟んで隣り合っており、この段差部331に凹凸部34が形成されている。また、この段差部331は、回路チップ21とセンサチップ22とを接続するボンディングワイヤ25の下方に位置している。凹凸部34は、第一底部14と第二底部15とを結ぶ方向へ微細な溝状の複数の凹部35を有しており、この凹部35の間が凸部36を形成している。凹部35は、図3に示すように第一底部14側から第二底部15側へ切り欠かれた溝状に形成されている。これにより、凹凸部34では、凹部35および凸部36の中心軸が段差部33の延伸方向に対し概ね垂直に交差している。また、凹凸部34の各凹部35および各凸部36は、段差部33の延伸方向に対し複数形成されている。
圧力センサ装置10を組み付ける場合、樹脂パッケージ11の回路チップ支持部17に回路チップ21が固定され、センサチップ支持部18にセンサチップ22が固定される。組み付けられた回路チップ21とセンサチップ22との間は、ボンディングワイヤ25によって電気的に接続される。また、回路チップ21およびセンサチップ22とターミナルパッド23との間は、ボンディングワイヤ26によって電気的に接続される。
ボンディングワイヤ25、26で回路チップ21、センサチップ22およびターミナルパッド23の間が相互に接続されると、第一保護部材31が充填される。第一保護部材31は、樹脂パッケージ11の平面視において空間的な余裕が比較的大きな部位から樹脂パッケージ11の内部へ充填される。第一保護部材31は、例えば平面視において第一底部14または第二底部15のターミナルパッド23とは反対側の端部から充填される。回路チップ支持部17とセンサチップ支持部18との間のように間隔が狭く、ボンディングワイヤ25の下方に位置する部分は、例えば第一保護部材31を充填するための図示しないノズルの挿入が困難である。また、充填される第一保護部材31は、上述のように粘度が高く、流動性が低い。第1実施形態の場合、段差部33には細い溝状の凹部35を有する凹凸部34が形成されている。そのため、樹脂パッケージ11の任意の位置に充填された第一保護部材31は、毛細管現象により、段差部33の凹凸部34において細い溝状の凹部35に沿って広がる。これにより、樹脂パッケージ11に粘度の高い第一保護部材31を充填する場合でも、第一保護部材31は短時間でかつ速やかに樹脂パッケージ11の内側の全体に広がる。
ボンディングワイヤ25、26で回路チップ21、センサチップ22およびターミナルパッド23の間が相互に接続されると、第一保護部材31が充填される。第一保護部材31は、樹脂パッケージ11の平面視において空間的な余裕が比較的大きな部位から樹脂パッケージ11の内部へ充填される。第一保護部材31は、例えば平面視において第一底部14または第二底部15のターミナルパッド23とは反対側の端部から充填される。回路チップ支持部17とセンサチップ支持部18との間のように間隔が狭く、ボンディングワイヤ25の下方に位置する部分は、例えば第一保護部材31を充填するための図示しないノズルの挿入が困難である。また、充填される第一保護部材31は、上述のように粘度が高く、流動性が低い。第1実施形態の場合、段差部33には細い溝状の凹部35を有する凹凸部34が形成されている。そのため、樹脂パッケージ11の任意の位置に充填された第一保護部材31は、毛細管現象により、段差部33の凹凸部34において細い溝状の凹部35に沿って広がる。これにより、樹脂パッケージ11に粘度の高い第一保護部材31を充填する場合でも、第一保護部材31は短時間でかつ速やかに樹脂パッケージ11の内側の全体に広がる。
以上説明した第1実施形態では、第一底部14と第二底部15との間の段差部33に凹凸部34が形成されている。そのため、樹脂パッケージ11の内部に充填された第一保護部材31は、粘度が高い場合でも、凹凸部34の毛細管現象によって速やかに樹脂パッケージ11の内部の全体に広がる。したがって、第一保護部材31を短時間で充填することができるとともに、第一保護部材31の充填量を低減することができる。
第1実施形態では、段差部33に凹凸部34を形成して第一保護部材31の充填量を低減することにより、回路チップ21とセンサチップ22とを接続するボンディングワイヤ25の下方に存在する第一保護部材31の厚さは減少する。すなわち、第一保護部材31は、薄く均一に充填される。そのため、例えば温度変化などにより第一保護部材31が膨張または収縮しても、回路チップ21とセンサチップ22とを接続するボンディングワイヤ25に加わる応力は低減される。したがって、ボンディングワイヤ25の損傷が防止され、信頼性を高めることができる。
(第2実施形態)
本発明の第2実施形態による圧力センサ装置を図4に示す。
第2実施形態の圧力センサ装置10は、凹凸部34が段差部33のすべてに設けられている点で第1実施形態と異なる。第一底部14は、矩形の第二底部15の周囲を囲んでいる。そのため、深さの異なる第一底部14と第二底部15との間に形成される段差部33は、センサチップ支持部18が設けられている第二底部15の周囲に設けられている。第2実施例では、この第二底部15を囲む段差部33のすべてに凹凸部34が設けられている。
本発明の第2実施形態による圧力センサ装置を図4に示す。
第2実施形態の圧力センサ装置10は、凹凸部34が段差部33のすべてに設けられている点で第1実施形態と異なる。第一底部14は、矩形の第二底部15の周囲を囲んでいる。そのため、深さの異なる第一底部14と第二底部15との間に形成される段差部33は、センサチップ支持部18が設けられている第二底部15の周囲に設けられている。第2実施例では、この第二底部15を囲む段差部33のすべてに凹凸部34が設けられている。
第2実施形態では、第二底部15を囲む段差部33のすべてに凹凸部34を設けることにより、樹脂パッケージ11の内部に充填された第一保護部材31は樹脂パッケージ11の内部全体に薄くかつ速やかに広がる。そのため、第一保護部材31は、回路チップ21とセンサチップ22とを接続するボンディングワイヤ25の下方だけでなく、回路チップ21およびセンサチップ22とターミナルパッド23とを接続するボンディングワイヤ26の下方においても薄く広がる。したがって、樹脂パッケージ11の内部の全体において第一保護部材31の厚さを低減することができ、各ボンディングワイヤ25、26など樹脂パッケージ11に収容された部品の各部に加わる応力を低減することができる。
(その他の実施形態)
本発明は、上記の複数の実施形態に限らず、以下のように変形することができる。
凹凸部34を構成する凹部35の形状は、上述の第1実施形態で説明したように鋭角状に限らず、平面視が図5に示すように台形状あるいは図6に示すように半円形状であってもよい。これら凹凸部34の形状は、凹凸部34を構成する凹部35のピッチや成形しやすさなどに応じて任意に変更することができる。また、凹凸部34を構成する凹部35の深さや長さなどの形状あるいはピッチなども、任意に変更することができる。
本発明は、上記の複数の実施形態に限らず、以下のように変形することができる。
凹凸部34を構成する凹部35の形状は、上述の第1実施形態で説明したように鋭角状に限らず、平面視が図5に示すように台形状あるいは図6に示すように半円形状であってもよい。これら凹凸部34の形状は、凹凸部34を構成する凹部35のピッチや成形しやすさなどに応じて任意に変更することができる。また、凹凸部34を構成する凹部35の深さや長さなどの形状あるいはピッチなども、任意に変更することができる。
また、段差部33に凹凸部34を形成しても、第一保護部材31の広がりが不十分になる場合がある。このような場合、例えば図7に示すように浅い第一底部14側から第一保護部材31を吸引してもよい。ノズル41から空気を吸い込み第一保護部材31を吸引することにより、第二底部15側の第一保護部材31の移動を促進することができる。逆に、例えば図8に示すように深い第二底部15側から第一保護部材31を加圧してもよい。ノズル42から空気を吹き付け第一保護部材31を加圧することにより、第二底部15側の第一保護部材31の移動を促進することができる。
さらに、第一保護部材31は、温度によって粘度が変化する場合がある。そこで、第一保護部材31や樹脂パッケージ11を加熱することにより温度を高め、段差部33の凹凸部34における毛細管現象による第一保護部材31の移動をより促進する構成としてもよい。
以上説明した複数の実施形態では、圧力センサ装置10を例に説明した。しかし、微少な樹脂パッケージ11の内部に二つ以上のチップを有する半導体装置に本発明を適用してもよい。
以上説明した複数の実施形態では、圧力センサ装置10を例に説明した。しかし、微少な樹脂パッケージ11の内部に二つ以上のチップを有する半導体装置に本発明を適用してもよい。
以上説明した本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の実施形態に適用可能である。
図面中、10は圧力センサ装置(半導体装置)、11は樹脂パッケージ(パッケージ本体)、14は第一底部、15は第二底部、17は回路チップ支持部、18はセンサチップ支持部、21は回路チップ、22はセンサチップ、23はターミナルパッド(導電部)、24はセンサ面、25はボンディングワイヤ、26はボンディングワイヤ、31は第一保護部材、32は第二保護部材、33は段差部、34は凹凸部を示す。
Claims (4)
- 第一底部、および前記第一底部よりも深い第二底部を有するパッケージ本体と、
前記第一底部に設けられ、回路チップを支持する回路チップ支持部と、
前記第二底部に設けられ、センサチップを支持するセンサチップ支持部と、
前記第一底部と前記第二底部との間に形成される段差部に設けられ、前記段差部の延伸方向に対し中心軸が概ね垂直に交差し、前記段差部の延伸方向へ複数設けられている凹凸部と、
を備えることを特徴とする樹脂パッケージ。 - 前記凹凸部は、前記段差部のうち、前記回路チップ支持部に支持される前記回路チップと前記センサチップ支持部に支持される前記センサチップとを電気的に接続するボンディングワイヤの下方に位置する段差部に設けられていることを特徴とする請求項1記載の樹脂パッケージ。
- 前記凹凸部は、前記段差部のうち前記第二底部の周囲の全周に設けられていることを特徴とする請求項1記載の樹脂パッケージ。
- 請求項1、2または3記載の樹脂パッケージと、
前記パッケージ本体にインサート成形されている導電部と、
前記回路チップ支持部に支持されている回路チップと、
センサ面を有し、前記センサチップ支持部に支持されているセンサチップと、
前記回路チップと前記センサチップ、ならびに前記回路チップおよび前記センサチップと前記導電部とを電気的にそれぞれ接続するボンディングワイヤと、
前記パッケージ本体の内側に充填され、前記センサ面が露出した状態で少なくとも前記センサチップおよび前記回路チップの周辺を覆う粘度が比較的高い絶縁材料からなる第一保護部材と、
前記パッケージ本体の内側に充填され、前記センサ面および前記第一保護部材を覆う絶縁材料からなる第二保護部材と、
を備えることを特徴とする半導体装置。
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