JP2009192528A - ドライバ回路および試験装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】外部から受け取った受信信号に応じた送信信号を出力するドライバ回路であって、入力される第1信号に応じた電圧を出力する第1ドライバと、第1ドライバが出力する電圧を電源電圧として受け取り、入力される第2信号および電源電圧に応じた送信信号を出力する第2ドライバと、受信信号の変化に応じて第1信号および第2信号の両方を変化させて、受信信号に応じた送信信号を第2ドライバから出力させる制御部と、を備えるドライバ回路を提供する。
【選択図】図2
Description
12 試験信号供給部
14 取得部
16 判定部
18 パターン発生部
20 ドライバ回路
22 第1ドライバ
24 第2ドライバ
26 制御部
28 出力端子
30 伝送回路
32 強調回路
34 回路
36 定電圧源
38 減算回路
42 差動バッファ
44 出力抵抗
46 差動抵抗
47 電流源
48 出力スイッチ
50 差動スイッチ
60 合成部
200 被試験デバイス
210 伝送路
Claims (10)
- 外部から受け取った受信信号に応じた送信信号を出力するドライバ回路であって、
入力される第1信号に応じた電圧を出力する第1ドライバと、
前記第1ドライバが出力する電圧を電源電圧として受け取り、入力される第2信号および電源電圧に応じた前記送信信号を出力する第2ドライバと、
前記受信信号の変化に応じて前記第1信号および前記第2信号の両方を変化させて、前記受信信号に応じた前記送信信号を前記第2ドライバから出力させる制御部と、
を備えるドライバ回路。 - 前記第2ドライバは、前記第1ドライバと比較しスイッチング速度が速い請求項1に記載のドライバ回路。
- 前記第2ドライバの出力端子は、伝送路を介して外部の回路の入力端子に接続されるものであり、
前記第1ドライバは、前記第1信号に応じて、前記第2ドライバから出力される矩形波のエッジを強調するように前記第2ドライバに与える電源電圧を変化させて、前記伝送路による波形なまりを予め補償した送信信号を前記第2ドライバから出力させる
請求項2に記載のドライバ回路。 - 前記第2ドライバは、前記第2信号の変化に応じて出力電圧を変化させ、
前記第1ドライバは、前記第2信号の変化に応じて前記第2ドライバの出力電圧が変化した後に、前記第2信号の変化に応じた前記第2ドライバの出力電圧の変化と逆方向に、前記第2信号の変化に応じた前記第2ドライバの出力電圧の変化と比較し緩やかに当該出力電圧が変化するように、前記電源電圧を変化させる
請求項3に記載のドライバ回路。 - 前記第2ドライバは、前記受信信号が第1方向に変化した場合において、出力電圧を増加させて前記送信信号の立上りエッジを出力し、
前記第1ドライバは、前記受信信号が第1方向に変化した場合において、前記第2ドライバが前記送信信号の立上りエッジを出力した後、前記立上りエッジにおける前記出力電圧の増加と比較し緩やかに当該出力電圧が減少するように、前記電源電圧を減少させる
請求項4に記載のドライバ回路。 - 前記第2ドライバの出力端子は、伝送路を介して外部の回路の入力端子に接続されるものであり、
前記第1ドライバは、前記第1信号に応じて、前記第2ドライバから矩形波を出力させるように前記第2ドライバに与える電源電圧を変化させ、
前記第2ドライバは、当該第2ドライバから前記矩形波のエッジを強調する強調波形を出力させる前記第2信号および与えられた前記電源電圧に応じて出力電圧を変化させて、前記伝送路による波形なまりを予め補償した送信信号を出力する
請求項2に記載のドライバ回路。 - 前記第1ドライバは、前記第1信号が変化した場合において、前記第2ドライバに与える電源電圧を変化させることにより前記第2ドライバの出力電圧を変化させて、前記第2ドライバから前記送信信号のエッジを出力させ、
前記第2ドライバは、与えられた前記電源電圧の変化に応じた出力電圧の変化と同方向に出力電圧を変化させる前記第2信号、および、与えられた前記電源電圧に応じて、前記出力電圧を変化させる
請求項6に記載のドライバ回路。 - 前記第2ドライバは、
前記第1ドライバの出力端と当該第2ドライバの出力端子との間に設けられた出力抵抗と、
前記第2信号に応じて、前記抵抗に定電流を流すか否かを切り換える出力スイッチと
を有する
請求項1に記載のドライバ回路。 - 複数の前記第2ドライバを備え、
前記制御部は、前記受信信号の変化に応じて前記第1信号および複数の前記第2信号を変化させて、前記複数の第2ドライバの出力を合成した前記送信信号を前記第2ドライバから出力させる
請求項1に記載のドライバ回路。 - 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスに試験信号を供給する試験信号供給部と、
前記試験信号に応じて前記被試験デバイスが出力する応答信号を取得する取得部と、
前記応答信号を期待値と比較した結果に基づき前記被試験デバイスの良否を判定する判定部と、
を備え、
前記試験信号供給部は、
前記被試験デバイスを試験するための試験パターンを発生するパターン発生部と、
前記試験パターンに応じた前記試験信号を出力するドライバ回路と、
を有し、
前記ドライバ回路は、
入力される第1信号に応じた電圧を出力する第1ドライバと、
前記第1ドライバが出力する電圧を電源電圧として受け取り、入力される第2信号および電源電圧に応じた前記試験信号を出力する第2ドライバと、
前記試験パターンの変化に応じて前記第1信号および前記第2信号の両方を変化させて、前記試験パターンに応じた前記試験信号を前記第2ドライバから出力させる制御部と、
を含む試験装置。
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