JP5305134B2 - 波形生成回路 - Google Patents

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本発明は、例えば、被試験対象を試験するICテスタに設けられ、セット信号、リセット信号により波形を生成する波形生成回路に関し、セット信号、リセット信号の立ち上がり間と同様のパルス幅が出力できる波形生成回路に関するものである。
ICテスタに用いられる波形生成回路は、SRフリップフロップにセット信号、リセット信号を入力し、波形整形を行い、ドライバを介して、被試験対象であるIC等に信号を出力している。このような回路は、例えば、下記特許文献1等に記載されている。
以下、図7を用いて説明を行う。図7において、SRフリップフロップ1は、セット信号setがセット端子Sに入力され、リセット信号rstがリセット端子Rに入力される。シングル差動変換器2は、SRフリップフロップ1の出力端子Qに入力端子が接続され、差動信号に変換して、出力を行う。
このような回路の動作を、図8を用いて説明する。(a)はセット信号set、(b)はリセット信号rst、(c)はSRフリップフロップ1の出力q、(d)はシングル差動変換器2の出力p(n)を示す。なお、出力p,nは差動信号であるが、出力nは出力pの反転出力なので、図示は省略する。
セット信号setが立ち上がると、SRフリップフロップ1の出力qが立ち上がる。そして、リセット信号rstが立ち上がると、SRフリップフロップ1の出力qが立ち下がる。この出力qを入力して、シングル差動変換器2は、差動信号である出力p,nを出力する。
特開平8−293765号公報
SRフリップフロップ1は、出力qの立ち上がりと立ち下がりの特性に差があり、セット信号set、リセット信号rstの立ち上がり間と比較して、出力のパルス幅に誤差が発生してしまう。
そこで、本発明の目的は、セット信号、リセット信号の立ち上がり間と同様のパルス幅が出力できる波形生成回路を実現することにある。
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
セット信号、リセット信号により波形を生成する波形生成回路において、
前記セット信号がセット端子に入力され、前記リセット信号がリセット端子に入力される第1のSRフリップフリップと、
この第1のSRフリップフロップのコンプリメンタリ出力を入力し、コンプリメンタリ出力の一方を非反転で出力し、他方を反転させて出力する反転部と、
前記セット信号、リセット信号に基づいたセレクト信号により、反転部の非反転出力、反転出力を選択して、出力する選択部と
を備えたことを特徴とするものである。
また、請求項2記載の発明は、
セット信号、リセット信号により波形を生成する波形生成回路において、
前記セット信号がセット端子に入力され、前記リセット信号がリセット端子に入力される第1のSRフリップフリップと、
この第1のSRフリップフロップの非反転出力を入力し、差動信号を出力する第1のシングル差動変換回路と、
前記第1のSRフリップフロップの反転出力を入力し、差動信号を出力する第2のシングル差動変換回路と、
前記セット信号、リセット信号に基づいたセレクト信号により、前記第1のシングル差動変換回路の差動信号と前記第2のシングル差動変換回路の差動信号の反転信号とを選択し、出力する選択部と
を備えたことを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載の発明であって、
前記第1のSRフリップフロップは、非反転出力または反転出力をセレクト信号として、前記選択部に入力することを特徴とするものである。
請求項4記載の発明は、請求項1または2記載の発明であって、
前記セット信号がセット端子に入力され、前記リセット信号がリセット端子に入力され、非反転出力または反転出力をセレクト信号として、前記選択部に入力する第2のSRフリップフロップを設けたことを特徴とするものである。
請求項5記載の発明は、請求項1〜4のいずれかに記載の発明であって、
被試験対象を試験するICテスタに用いたことを特徴とするものである。
本発明によれば以下のような効果がある。
請求項1,3〜5によれば、選択部が、セレクト信号により、反転部の非反転出力、反転出力を選択して、第1のSRフリップフロップのコンプリメンタリ出力の立ち上がり基準で、波形整形を行うので、セット信号、リセット信号の立ち上がり間と同様のパルス幅が出力できる。また、セット信号、リセット信号の立ち上がり間と同様のパルス幅が出力できるので、セット信号、リセット信号の信号経路上にディレーラインを設けて、パルス幅の調整を行う必要がない。
請求2〜5によれば、選択部が、セレクト信号により、第1、第2のシングル差動変換器の差動信号を選択して、第1のSRフリップフロップの非反転出力、反転出力(コンプリメンタリ出力)の立ち上がり基準で、波形整形を行うので、セット信号、リセット信号の立ち上がり間と同様のパルス幅が出力できる。また、セット信号、リセット信号の立ち上がり間と同様のパルス幅が出力できるので、セット信号、リセット信号の信号経路上にディレーラインを設けて、パルス幅の調整を行う必要がない。
そして、第2のシングル差動変換器により、第1のSRフリップフロップの反転出力を反転させ、選択部に入力しているので、単純に、シングル出力のインバータを用いたものに比較し、インバータの立ち上がり、立ち下がりの遅延時間がそろわないことによる誤差が発生せず、正確なパルス幅を出力することができる。
請求項5によれば、ICテスタのピン間のタイミング調整を行うために、セット信号、リセット信号の信号経路上にディレーラインを設けたとしても、ディレーラインのパルス幅調整に用いなくてよいので、ピン間のスキュー調整可能範囲を広げることやディレーラインの回路規模を小さくすることができる。
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。
[第1の実施例]
図1は本発明の第1の実施例を示した構成図である。
図1において、SRフリップフロップ1は、セット信号setがセット端子Sに入力され、リセット信号rstがリセット端子Rに入力される。第1のシングル差動変換器2は、SRフリップフロップ1の出力端子Qに入力端子が接続され、差動信号(出力p1,n1)に変換して、出力を行う。第2のシングル差動変換器3は、SRフリップフロップ1の反転出力端子XQに入力端子が接続され、差動信号(出力p2,n2)に変換して、出力を行う。マルチプレクサ4は選択部で、セレクト信号selにより、セレクト信号selがハイレベルのとき、シングル差動変換回路2の差動信号を選択し、セレクト信号selがロウレベルのとき、シングル差動変換回路3の差動信号の反転信号を選択し、出力する。SRフリップフロップ5は、セット信号setがセット端子Sに入力され、リセット信号rstがリセット端子Rに入力され、出力をマルチプレクサ4のセレクト端子SELに入力する。ここで、シングル差動変換器2,3が、SRフリップフロップ1のコンプリメンタリ出力を入力し、コンプリメンタリ出力の一方を非反転で出力し、他方を反転させて出力する反転部を構成する。
このような装置の動作を、図2,3を用いて以下に説明する。図2はSRフリップフロップ1,5の出力の特性が立ち上がりと比較して立ち下がりが遅い場合、図3は出力の特性が立ち上がりに比較して立ち下がりが速い場合である。
図2,3において、(a)はセット信号set、(b)はリセット信号rst、(c)はSRフリップフロップ1の非反転出力q、(d)はSRフリップフロップ1の反転出力xq、(e)はシングル差動変換器2の出力p1(n1)、(f)はシングル差動変換器3の反転出力p2(n2)、(g)はSRフリップフロップ5が出力するセレクト信号sel、(h)はマルチプレクサ4の出力p(n)である。なお、出力p1,n1と反転出力p2,n2と出力p,nとはそれぞれ差動信号であるが、出力n1、反転出力n2、出力nはそれぞれ出力p1、反転出力p2、出力pの反転出力なので、図示は省略する。
まず、図2の動作について説明する。セット信号setが立ち上がると、SRフリップフロップ1の非反転出力qが立ち上がり、SRフリップフロップ5のセレクト信号selが立ち上がる。セット信号setの立ち上がり後、SRフリップフリップ1の立ち上がり、立ち下がり特性の誤差分後、反転出力xqが立ち下がる。シングル差動変換器2は、SRフリップフロップ1の非反転出力qの立ち上がりにより、出力p1が立ち上がり、出力n1が立ち下がる。また、シングル差動変換器3は、SRフリップフロップ1の反転出力xqの立ち下がりにより、反転出力p2が立ち上がり、反転出力n2が立ち下がる。そして、マルチプレクサ4は、セレクト信号selがハイレベルになっているので、シングル差動変換器2の出力p1,n1を選択し、出力p,nとする。
リセット信号rstが立ち上がると、SRフリップフロップ1の反転出力xqが立ち上がる。リセット信号rstの立ち上がり後、SRフリップフロップ1,5の立ち上がり、立下り特性の誤差分後、SRフリップフロップ1の非反転出力qが立ち下がり、SRフリップフロップ5のセレクト信号selが立ち下がる。シングル差動変換器2は、SRフリップフロップ1の非反転出力qの立ち下がりにより、出力p1が立ち下がり、出力n1が立ち上がる。また、シングル差動変換器3は、SRフリップフロップ1の反転出力xqの立ち上がりにより、反転出力p2が立ち下がり、反転出力n2が立ち上がる。そして、マルチプレクサ4は、セレクト信号selがロウレベルになっているので、シングル差動変換器3の反転出力p2,n2を選択し、出力p,nとする。
次に、図3の動作について説明する。セット信号setが立ち上がると、SRフリップフロップ1の反転出力xqが立ち下がる。セット信号setの立ち上がり後、SRフリップフリップ1,5の立ち上がり、立ち下がり特性の誤差分後、非反転出力qが立ち上がり、SRフリップフロップ5のセレクト信号selが立ち上がる。シングル差動変換器2は、SRフリップフロップ1の非反転出力qの立ち上がりにより、出力p1が立ち上がり、出力n1が立ち下がる。また、シングル差動変換器3は、SRフリップフロップ1の反転出力xqの立ち下がりにより、反転出力p2が立ち上がり、反転出力n2が立ち下がる。そして、マルチプレクサ4は、セレクト信号selがハイレベルになっているので、シングル差動変換器2の出力p1,n1を選択し、出力p,nとする。
リセット信号rstが立ち上がると、SRフリップフロップ1の非反転出力qが立ち下がり、SRフリップフロップ5のセレクト信号selが立ち下がる。リセット信号rstの立ち上がり後、SRフリップフロップ1の立ち上がり、立下り特性の誤差分後、SRフリップフロップ1の反転出力xqが立ち上がる。シングル差動変換器2は、SRフリップフロップ1の非反転出力qの立ち下がりにより、出力p1が立ち下がり、出力n1が立ち上がる。また、シングル差動変換器3は、SRフリップフロップ1の反転出力xqの立ち上がりにより、反転出力p2が立ち下がり、反転出力n2が立ち上がる。そして、マルチプレクサ4は、セレクト信号selがロウレベルになっているので、シングル差動変換器3の反転出力p2,n2を選択し、出力p,nとする。
このように、マルチプレクサ4が、セレクト信号により、シングル差動変換器2,3の差動信号を選択して、SRフリップフロップ1の非反転出力q,反転出力xq(コンプリメンタリ出力)の立ち上がり基準で、波形整形を行うので、セット信号、リセット信号の立ち上がり間と同様のパルス幅が出力できる。
また、セット信号、リセット信号の立ち上がり間と同様のパルス幅が出力できるので、セット信号、リセット信号の信号経路上にディレーラインを設けて、パルス幅の調整を行う必要がない。上記回路を被試験対象を試験するICテスタに用いた場合、ICテスタのピン間のタイミング調整を行うために、セット信号、リセット信号の信号経路上にディレーラインを設けたとしても、ディレーラインのパルス幅調整に用いなくてよいので、ピン間のスキュー調整可能範囲を広げることやディレーラインの回路規模を小さくすることができる。
そして、シングル差動変換器3により、SRフリップフロップ1の反転出力xqを反転させ、マルチプレクサ4に入力しているので、単純に、シングル出力のインバータを用いた場合に比較し、インバータの立ち上がり、立ち下がりの遅延時間がそろわないことによる誤差が発生せず、正確なパルス幅を出力することができる。なお、シングル差動変換器2は、シングル差動変換器3があることにより特性をあわせるために必要になっている。
[第2の実施例]
図4は本発明の第2の実施例を示した構成図である。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。図1に示す第1の実施例と異なる点は、SRフリップフロップ5を設けずに、SRフリップフロップ1の非反転出力qをセレクト信号とした点である。
このような装置の動作は、SRフリップフロップ5の出力の代わりに、SRフリップフロップ1の非反転出力qをセレクト信号selとしているだけで、その他の動作は図1に示す装置と同様なので説明を省略する。
[第3の実施例]
図5は本発明の第3の実施例を示した構成図である。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。図1に示す第1の実施例と異なる点は、SRフリップフロップ5を設けずに、インバータ6を設けた点である。インバータ6は、SRフリップフロップ1の反転出力xqを入力し、論理を反転させて、セレクト信号selとしてマルチプレクサ4のセレクト端子に入力する。
このような装置の動作は、SRフリップフロップ5の出力の代わりに、インバータ6がSRフリップフロップ1の反転出力xqを論理反転させて、マルチプレクサ4のセレクト端子に入力するだけで、その他の動作は図1に示す装置と同様なので説明を省略する。
[第4の実施例]
図6は本発明の第4の実施例を示した構成図である。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。図1に示す装置と異なる点は、インバータ7を設けた点である。インバータ7は、SRフリップフロップ5の反転出力端子XQに入力端を接続し、論理を反転させて、セレクト信号selとしてマルチプレクサ4のセレクト端子に入力する。
このような装置の動作は、SRフリップフロップ5の出力端子Qではなく、反転出力端子XQを用いて、インバータ7でSRフリップフロップ5の反転出力を反転させて、マルチプレクサ4のセレクタ端子に入力するだけで、その他の動作は図1に示す装置と同様なので説明を省略する。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、シングル差動変換器2,3の差動信号を用いる構成を示したが、一方の信号だけ用いる構成でもよい。例えば、シングル差動変換器2は出力p1、シングル差動変換器3は反転出力p2をマルチプレクサ4に出力し、マルチプレクサ4は出力pのみを出力する構成でもよい。
また、マルチプレクサ4はシングル差動変換器2,3の差動信号を受け、出力p,nを出力する構成を示したが、出力p,nの一方だけ出力する構成でもよい。
そして、マルチプレクサ4は、セレクト信号selがハイレベルのとき、シングル差動変換器2の差動信号を選択し、ロウレベルのとき、シングル差動変換器3の差動信号を選択する構成を示したが、セレクト信号selがロウレベルのとき、シングル差動変換器2の差動信号を選択し、ハイレベルのとき、シングル差動変換器3の差動信号を選択する構成でもよい。
また、マルチプレクサ4は、セット信号set、リセット信号rstを、直接、セレクト信号として入力し、選択を行う構成でもよい。この場合、マルチプレクサ4は、セット信号setの立ち上がりで、シングル差動変換器2の差動信号を選択し、リセット信号rstの立ち上がりで、シングル差動変換器3の差動信号を選択する。要するに、マルチプレクサ4が、立ち上がり基準で、シングル差動変換器2,3の差動信号の選択を行える構成であればよい。
本発明の第1の実施例を示した構成図である。 図1に示す回路の動作を示したタイミングチャートである。 図1に示す回路の動作を示したタイミングチャートである。 本発明の第2の実施例を示した構成図である。 本発明の第3の実施例を示した構成図である。 本発明の第4の実施例を示した構成図である。 従来の波形生成回路の構成を示した図である。 図7に示す回路の動作を示したタイミングチャートである。
符号の説明
1,5 SRフリップフロップ
2,3 シングル差動変換器
4 マルチプレクサ
6,7 インバータ

Claims (5)

  1. セット信号、リセット信号により波形を生成する波形生成回路において、
    前記セット信号がセット端子に入力され、前記リセット信号がリセット端子に入力される第1のSRフリップフリップと、
    この第1のSRフリップフロップのコンプリメンタリ出力を入力し、コンプリメンタリ出力の一方を非反転で出力し、他方を反転させて出力する反転部と、
    前記セット信号、リセット信号に基づいたセレクト信号により、反転部の非反転出力、反転出力を選択して、出力する選択部と
    を備えたことを特徴とする波形生成回路。
  2. セット信号、リセット信号により波形を生成する波形生成回路において、
    前記セット信号がセット端子に入力され、前記リセット信号がリセット端子に入力される第1のSRフリップフリップと、
    この第1のSRフリップフロップの非反転出力を入力し、差動信号を出力する第1のシングル差動変換回路と、
    前記第1のSRフリップフロップの反転出力を入力し、差動信号を出力する第2のシングル差動変換回路と、
    前記セット信号、リセット信号に基づいたセレクト信号により、前記第1のシングル差動変換回路の差動信号と前記第2のシングル差動変換回路の差動信号の反転信号とを選択し、出力する選択部と
    を備えたことを特徴とする波形生成回路。
  3. 前記第1のSRフリップフロップは、非反転出力または反転出力をセレクト信号として、前記選択部に入力することを特徴とする請求項1または2記載の波形生成回路。
  4. 前記セット信号がセット端子に入力され、前記リセット信号がリセット端子に入力され、非反転出力または反転出力をセレクト信号として、前記選択部に入力する第2のSRフリップフロップを設けたことを特徴とする請求項1または2記載の波形生成回路。
  5. 被試験対象を試験するICテスタに用いたことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の波形生成回路。
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