JP2009170940A - 半導体ウェーハの製造方法及び半導体ウェーハ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】シリコン基板SUBの表面にシリコン単結晶をエピタキシャル成長したエピタキシャル層EPを有するエピタキシャルウェーハWを雰囲気ガス中で熱処理する工程を有し、該工程の前記雰囲気ガスは、窒化ガスを含む。
【選択図】図2
Description
また、本発明の半導体ウェーハは、熱処理により内部に新たに空孔が形成された半導体ウェーハであって、上記本発明の半導体ウェーハの製造方法により作製されたことを特徴とする。
すなわち、この半導体ウェーハの製造方法は、シリコン基板及びエピタキシャル層がp型であると共に、シリコン基板が、0.03Ω・cm以上の抵抗であるので、IG特性の不十分ないわゆるp/p-ウェーハでも、上記RTA処理によりIG特性の改善を効果的に図ることができる。
また、本発明の半導体ウェーハは、上記本発明の半導体ウェーハの表面に無欠陥層が形成されていることを特徴とする。
本発明の半導体ウェーハの製造方法及び半導体ウェーハによれば、エピタキシャルウェーハを雰囲気ガス中で熱処理する工程において、雰囲気ガスが窒化ガスを含むので、エピタキシャル成長時に酸素析出核がシリコン基板表面から消滅していても、上記熱処理でエピタキシャル層表面から内部に空孔が注入されて表面近傍に十分な酸素析出核を得ることが可能となる。すなわち、本発明により作製された半導体ウェーハに対し、この後にDZ層及び酸素析出核を形成・安定化する熱処理を行えば、十分なDZ層と表面近傍にゲッタリング効果を有するBMD層とを有した高品質なエピタキシャルウェーハを得ることができる。特に、200mmよりも大きい径の300mmのウェーハにおいて、さらに有効である。
図1にあって、符号1はサセプタ、2は反応室を示している。
図1は、エピタキシャルウェーハ(半導体ウェーハ)Wの熱処理を実施するための枚葉式の熱処理炉を示すものである。該熱処理炉は、図1に示すように、エピタキシャルウェーハWを載置可能な円環状のサセプタ1と、該サセプタ1を内部に収納した反応室2とを備えている。なお、反応室2の外部には、エピタキシャルウェーハWを加熱するランプ(図示略)が配置されている。
反応室2には、エピタキシャルウェーハWの表面に雰囲気ガスGを供給する供給口2a及び供給された雰囲気ガスGを排出する排出口2bが設けられている。
また、供給口2aは、雰囲気ガスGの供給源(図示略)に接続されている。
この熱処理温度及び熱処理時間の範囲であれば、図2の(b)に示すように、内部に十分な空孔Vを注入できる。
なお、このRTA処理後のエピタキシャルウェーハWは、表面に窒化膜が形成されているため、エピタキシャル成長直後に特徴的な活性な表面をもたず、エピタキシャル成長後のプロセス(検査等)での種々の汚染に対する耐性が高いという特徴を有している。また、デバイス作製工程において、この窒化膜をフッ酸で剥離することにより、従来のエピタキシャルウェーハと同様の形態で取り扱うことが可能になる。
また、雰囲気ガスGが、N2が分解可能な温度よりも低い分解温度のNH3等の窒化ガスであるので、熱処理温度の低温化を図ることができ、熱処理時のスリップ発生を抑制することができる。
例えば、上記DZ層形成又は酸素析出のための熱処理を特に行わず、その後のデバイス作製工程に伴って行われる熱処理で行っても構わない。
また、上記実施形態のように、上記RTA処理をRTA用の熱処理炉で行うのではなく、エピタキシャル層成膜用のエピタキシャル成長炉内でエピタキシャル層形成後に引き続き行ってもよい。なお、窒化ガスを用いることから、RTA用の熱処理炉で上記RTA処理を行う方が好ましい。
なお、このp/p+ウェーハの場合、裏面にオートドープ防止用の酸化膜を有する必要があるときは、デバイス作製工程前に表面の窒化膜を除去する際に、エピタキシャル成長面だけをフッ酸に曝すことにより、裏面酸化膜を残したまま、表面側の窒化膜を剥離することが可能である。
また、プラズマ化した上記窒化ガスを雰囲気ガスとしてもよい。この場合、上記窒化ガスがプラズマ化して活性化されているため、さらに表面の窒化及びVacancyの注入が促進される。
また、雰囲気ガスが二種類以上の混合ガスである場合は、含まれる窒化ガスは0.5%以上又は10sccm以上で絶対量の少ない方の量とされることが好ましい。すなわち、この範囲での窒化反応は反応律速であり、この最低限以上の窒化性のガスを含んでいれば、ウェーハ表面に形成される窒化膜厚は同じであり、その結果、導入される原子空孔濃度は同じで、析出量は同じである。なお、これ以下の0.05%以上0.5%未満、又は1sccmを越えて10sccm以下の範囲では、窒化膜厚は同一温度及び時間であれば、窒素の分圧により、窒化量が変化する。したがって、この領域は、拡散律速であり、窒素量により析出量をコントロールすることができる。
また、上記実施形態によりウェーハ表面に形成される窒化膜、酸窒化膜は、Si3N4を代表とするSixNyである。また、酸化膜を窒化した場合には、Si2N2Oを代表とするSi2NxO4−1.5xが形成される。
なお、上記実施形態では、熱処理前のエピタキシャルウェーハ表面に自然酸化膜が形成されている場合があるが、自然酸化膜程度の酸化膜であれば上述したようにNH3等のクリーニング効果や酸化膜の窒化により十分なVacancy注入効果を得ることができる。しかしながら、NH3等の上記窒化ガスによる熱処理前に酸素を含む雰囲気ガス等で熱処理をして自然酸化膜よりも厚い酸化膜がエピタキシャルウェーハ表面に形成されていると、NH3等の表面窒化作用によるVacancy注入効果を十分に得ることができない。これは、表面の酸化膜が厚いため、NH3等の雰囲気ガスで熱処理しても良好なVacancy注入効果が可能な窒化膜(酸窒化膜を含む)がSi表面に形成できないためである。したがって、本実施形態におけるNH3等の上記窒化ガスによる熱処理前に、自然酸化膜より厚い酸化膜をエピタキシャルウェーハに積極的に形成したり、当該熱処理前に酸素を含む雰囲気ガス中で熱処理するような処理工程を行うことは好ましくない。また、本実施形態において、NH3等の上記窒化ガスを反応室に供給する前に、雰囲気ガス中に含まれる酸素を除去するパージ処理工程を行うことが好ましい。なお、エピタキシャル成長直後の表面は、活性なSi表面であり、エピタキシャル成長後に同じ炉の中で連続して処理する場合は、このような想定は必要ない。
Claims (8)
- シリコン基板の表面にシリコン単結晶をエピタキシャル成長したエピタキシャル層を有するエピタキシャルウェーハを雰囲気ガス中で熱処理する工程を有し、
該工程の前記雰囲気ガスは、窒化ガスを含むことを特徴とする半導体ウェーハの製造方法。 - 請求項1に記載の半導体ウェーハの製造方法において、
前記雰囲気ガスは、N2が分解可能な温度よりも低い分解温度の窒化ガスを含むことを特徴とする半導体ウェーハの製造方法。 - 請求項2に記載の半導体ウェーハの製造方法において、
前記窒化ガスは、NH3を含むことを特徴とする半導体ウェーハの製造方法。 - 請求項1から3のいずれかに記載の半導体ウェーハの製造方法において、
前記窒化ガスは、ブラズマ化されていることを特徴とする半導体ウェーハの製造方法。 - 請求項1から4のいずれかに記載の半導体ウェーハの製造方法において、
前記シリコン基板及び前記エピタキシャル層はp型であると共に、シリコン基板は、0.03Ω・cm以上の抵抗であることを特徴とする半導体ウェーハの製造方法。 - 請求項1から5のいずれかに記載の半導体ウェーハの製造方法において、
前記シリコン基板に窒素を添加しておくことを特徴とする半導体ウェーハの製造方法。 - 熱処理により内部に新たに空孔が形成された半導体ウェーハであって、
請求項1から6のいずれかに記載の半導体ウェーハの製造方法により作製されたことを特徴とする半導体ウェーハ。 - 請求項7に記載の半導体ウェーハにおいて、
表面に無欠陥層が形成されていることを特徴とする半導体ウェーハ。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016116180A1 (de) * | 2015-01-21 | 2016-07-28 | Siltronic Ag | Epitaktisch beschichtete halbleiterscheibe und verfahren zur herstellung einer epitakisch beschichteten halbleiterscheibe |
WO2019022381A1 (ko) * | 2017-07-25 | 2019-01-31 | 에스케이실트론 주식회사 | 웨이퍼 제조 방법 및 웨이퍼 |
CN112002639A (zh) * | 2020-07-21 | 2020-11-27 | 上海新昇半导体科技有限公司 | 一种外延晶圆的制造方法和外延晶圆 |
CN113380684A (zh) * | 2020-03-10 | 2021-09-10 | 富士电机株式会社 | 制造方法、制造装置、夹具组件、半导体模块和车辆 |
US11195744B2 (en) | 2018-08-29 | 2021-12-07 | Toshiba Memory Corporation | Substrate treatment apparatus and manufacturing method of a semiconductor device |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58164229A (ja) * | 1982-03-25 | 1983-09-29 | Sony Corp | 半導体基板処理法 |
JPH02256235A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-10-17 | Toshiba Corp | 表面処理方法 |
JPH04213816A (ja) * | 1990-12-05 | 1992-08-04 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPH04294540A (ja) * | 1991-03-25 | 1992-10-19 | Nippon Steel Corp | 半導体の製造方法 |
JPH11150119A (ja) * | 1997-11-14 | 1999-06-02 | Sumitomo Sitix Corp | シリコン半導体基板の熱処理方法とその装置 |
JPH11214322A (ja) * | 1998-01-29 | 1999-08-06 | Sumitomo Metal Ind Ltd | シリコン半導体基板の製造方法 |
JP2000044389A (ja) * | 1998-05-22 | 2000-02-15 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | エピタキシャルシリコン単結晶ウエ―ハの製造方法及びエピタキシャルシリコン単結晶ウエ―ハ |
WO2000013226A1 (en) * | 1998-09-02 | 2000-03-09 | Memc Electronic Materials, Inc. | Process for preparing an ideal oxygen precipitating silicon wafer |
JP2000294550A (ja) * | 1999-04-05 | 2000-10-20 | Tokyo Electron Ltd | 半導体製造方法及び半導体製造装置 |
-
2009
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58164229A (ja) * | 1982-03-25 | 1983-09-29 | Sony Corp | 半導体基板処理法 |
JPH02256235A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-10-17 | Toshiba Corp | 表面処理方法 |
JPH04213816A (ja) * | 1990-12-05 | 1992-08-04 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPH04294540A (ja) * | 1991-03-25 | 1992-10-19 | Nippon Steel Corp | 半導体の製造方法 |
JPH11150119A (ja) * | 1997-11-14 | 1999-06-02 | Sumitomo Sitix Corp | シリコン半導体基板の熱処理方法とその装置 |
JPH11214322A (ja) * | 1998-01-29 | 1999-08-06 | Sumitomo Metal Ind Ltd | シリコン半導体基板の製造方法 |
JP2000044389A (ja) * | 1998-05-22 | 2000-02-15 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | エピタキシャルシリコン単結晶ウエ―ハの製造方法及びエピタキシャルシリコン単結晶ウエ―ハ |
WO2000013226A1 (en) * | 1998-09-02 | 2000-03-09 | Memc Electronic Materials, Inc. | Process for preparing an ideal oxygen precipitating silicon wafer |
JP2000294550A (ja) * | 1999-04-05 | 2000-10-20 | Tokyo Electron Ltd | 半導体製造方法及び半導体製造装置 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016116180A1 (de) * | 2015-01-21 | 2016-07-28 | Siltronic Ag | Epitaktisch beschichtete halbleiterscheibe und verfahren zur herstellung einer epitakisch beschichteten halbleiterscheibe |
CN107210222A (zh) * | 2015-01-21 | 2017-09-26 | 硅电子股份公司 | 外延涂布的半导体晶圆和生产外延涂布的半导体晶圆的方法 |
US10483128B2 (en) | 2015-01-21 | 2019-11-19 | Siltronic Ag | Epitaxially coated semiconductor wafer, and method for producing an epitaxially coated semiconductor wafer |
CN107210222B (zh) * | 2015-01-21 | 2020-09-08 | 硅电子股份公司 | 外延涂布的半导体晶圆和生产外延涂布的半导体晶圆的方法 |
WO2019022381A1 (ko) * | 2017-07-25 | 2019-01-31 | 에스케이실트론 주식회사 | 웨이퍼 제조 방법 및 웨이퍼 |
US11195744B2 (en) | 2018-08-29 | 2021-12-07 | Toshiba Memory Corporation | Substrate treatment apparatus and manufacturing method of a semiconductor device |
CN113380684A (zh) * | 2020-03-10 | 2021-09-10 | 富士电机株式会社 | 制造方法、制造装置、夹具组件、半导体模块和车辆 |
CN112002639A (zh) * | 2020-07-21 | 2020-11-27 | 上海新昇半导体科技有限公司 | 一种外延晶圆的制造方法和外延晶圆 |
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