JP2009170596A - 電力変換装置およびその製造方法 - Google Patents
電力変換装置およびその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009170596A JP2009170596A JP2008005938A JP2008005938A JP2009170596A JP 2009170596 A JP2009170596 A JP 2009170596A JP 2008005938 A JP2008005938 A JP 2008005938A JP 2008005938 A JP2008005938 A JP 2008005938A JP 2009170596 A JP2009170596 A JP 2009170596A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- surface electrode
- semiconductor element
- solder
- power converter
- manufacturing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/838—Bonding techniques
- H01L2224/83801—Soldering or alloying
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/84—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
- H01L2224/848—Bonding techniques
- H01L2224/84801—Soldering or alloying
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/84—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/06—Polymers
- H01L2924/078—Adhesive characteristics other than chemical
- H01L2924/07802—Adhesive characteristics other than chemical not being an ohmic electrical conductor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
- H01L2924/13055—Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1306—Field-effect transistor [FET]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1306—Field-effect transistor [FET]
- H01L2924/13091—Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/156—Material
- H01L2924/15786—Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
- H01L2924/15787—Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/35—Mechanical effects
- H01L2924/351—Thermal stress
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Inverter Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】電力変換装置の製造方法は、ハンダを注入すべき複数の開口部(102)が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた上面電極(101)の端部と、半導体素子(100)の少なくとも側面とを絶縁性接着剤(104)で接合して半導体ブロック(110)を形成する工程と、半導体ブロックの上面電極の絶縁部および半導体素子の裏面と、基板の主面とをハンダで接合するハンダ付け接合工程と、上面電極に設けられている複数の開口部の少なくとも1つから、上面電極の裏面と半導体素子の主面と、絶縁部とで囲まれた空間にハンダ(107)を供給してハンダ付けするハンダ付け工程とを有する。
【選択図】図1
Description
ハンダを注入すべき複数の開口部(貫通孔)が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた上面電極の端部(即ち、絶縁部)と、半導体素子の少なくとも側面とを絶縁性接着剤で接合して半導体ブロックを形成する工程と、
前記半導体ブロックの上面電極の絶縁部および半導体素子の裏面と、基板の主面とをハンダで接合するハンダ付け接合工程と、
前記上面電極に設けられている複数の開口部の少なくとも1つから、前記上面電極の裏面と前記半導体素子の主面と、前記絶縁部とで囲まれた空間にハンダを供給してハンダ付けするハンダ付け工程と、
を有する。
本発明の別の実施態様によれば、本製造方法は、
前記ハンダ接合工程と、前記ハンダ付け工程とを同時に行う、
ことを特徴とする。
本発明のさならる実施態様によれば、本製造方法は、
前記基板の主面に突起部品またはスペーサを設ける工程とをさらに有し、
前記スペーサまたは前記突起部品を前記絶縁部に接触させ、前記ハンダ付け接合工程を実行する、ことを特徴とする。
本発明のさならる実施態様によれば、本製造方法では、
前記上面電極が、略平板形状であり、
前記上面電極の周縁に設けた絶縁部が、略平板長方形形状の複数の絶縁領域を含む、
ことを特徴とする。
前記半導体素子が、第1の半導体素子と第2の半導体素子とを含み、
該第1の半導体素子と該第2の半導体素子の夫々の厚さが異なる、
ことを特徴とする。
前記第1の放熱器上に前記絶縁物を介して第2の基板を設ける工程をさらに有し、
前記ハンダ付け接合工程が、
前記上面電極の周縁の前記絶縁部を設けていない部分を、前記第2の基板の主面にハンダで接合する工程を含み、
該第2の基板の主面と前記上面電極の周縁の前記絶縁部を設けていない部分を接合するハンダと、前記第1の基板の主面と前記半導体ブロックの上面電極の絶縁部および半導体素子の裏面を接合するハンダとが、分離した領域である、
ことを特徴とする。
前記半導体素子が制御端子を有し、
該制御端子の位置に対応して第2の開口部が前記上面電極に設けられており、
前記製造方法は、
該第2の開口部に、接続線を貫通させる枠体(絶縁性のリング、円筒、角筒など)を設ける工程と、
前記上面電極の主面上に回路基板を設ける工程と、
前記制御端子と該回路基板とを前記接続線で(電気的に)接続する工程とをさらに有する、
ことを特徴とする。
前記第1の半導体ブロックの上面電極上に、絶縁物を介して第2の放熱器と接合する工程、
をさらに有することを特徴とする。
ハンダを注入すべき複数の開口部が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた第1の上面電極の端部と、第1の半導体素子の少なくとも側面とを絶縁性接着剤で接合して第1の半導体ブロックを形成する工程と、
前記第1の半導体ブロックの前記第1の上面電極の絶縁部および前記第1の半導体素子の裏面と、第1の基板の主面とをハンダで接合するハンダ付け接合工程と、
前記第1の上面電極に設けられている複数の開口部の少なくとも1つから、前記第1の上面電極の裏面と前記第1の半導体素子の主面と、前記絶縁部とで囲まれた空間にハンダを供給してハンダ付けするハンダ付け工程と、
ハンダを注入すべき複数の開口部が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた第2の上面電極の端部と、第2の半導体素子の少なくとも側面とを絶縁性接着剤で接合して第2の半導体ブロックを形成する工程と、
前記第2の半導体ブロックの前記第2の上面電極の絶縁部および前記第2の半導体素子の裏面と、第2の基板の主面とをハンダで接合するハンダ付け接合工程と、
前記第2の上面電極に設けられている複数の開口部の少なくとも1つから、前記第2の上面電極の裏面と前記第2の半導体素子の主面と、前記絶縁部とで囲まれた空間にハンダを供給してハンダ付けするハンダ付け工程と、
前記第2の半導体ブロックの第2の上面電極の主面と、前記第2の半導体ブロックの第2の上面電極の主面とを熱伝導性材料を介して接合する工程と、
を有する。
前記第1の半導体素子が、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)またはMOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)であり、
前記第1の半導体素子が、ダイオードである、
ことを特徴とする。
ハンダを注入すべき複数の開口部が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた上面電極と、該上面電極の端部と絶縁性接着剤で少なくとも側面が接合されている半導体素子とで、形成された半導体ブロックと、
前記半導体ブロックの上面電極の絶縁部および半導体素子の裏面に、ハンダで主面が接合されている基板とを具え、
前記上面電極に設けられている複数の開口部の少なくとも1つから、前記上面電極の裏面と前記半導体素子の主面と前記絶縁部とで囲まれた空間に供給したハンダで、該上面電極の裏面と該半導体素子の主面を接続するように構成した、
ことを特徴とする。
ハンダを注入すべき複数の開口部が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた第1の上面電極と、該第1の上面電極の端部と絶縁性接着剤で少なくとも側面が接合されている第1の半導体素子とで、形成された第1の半導体ブロックと、
前記第1の半導体ブロックの第1の上面電極の絶縁部および第1の半導体素子の裏面に、ハンダで主面が接合されている第1の基板と、
ハンダを注入すべき複数の開口部が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた第2の上面電極と、該第2の上面電極の端部と絶縁性接着剤で少なくとも側面が接合されている第2の半導体素子とで、形成された第2の半導体ブロックと、
前記第1の半導体ブロックの第1の上面電極の絶縁部および第2の半導体素子の裏面に、ハンダで主面が接合されている第2の基板と、を具え、
前記第2の半導体ブロックの第2の上面電極の主面と、前記第2の半導体ブロックの第2の上面電極の主面とを熱伝導性材料を介して接合するように構成した、
ことを特徴とする。
図1は、第1実施例による電力変換装置の断面構造を示す模式図である。図2は、本実施例の上面構造を示す模式図である。ここで、図2の(a)は本実施例の上面構造、同図(b)は図1の電力変換装置をA-A’線で切ったときの断面およびそれより下の構造を示す模式図である。図1に示すように、電力変換装置は、半導体素子100と上面電極101とを有する。上面電極101は、近接した複数の開口部102を有すると共に、その裏面側の周縁(端部)に絶縁部103を有する。絶縁部103は、基板105に対向する面に金属箔(図示せず)を有する。
図5は、第2実施例による電力変換装置の断面構造を示す模式図である。図に示すように、電力変換装置は、基板105主面に配置した突起部品200に絶縁部103の側面を接触させると共に、絶縁部103裏面該金属箔と基板の間にスペーサ201を介して、第1のハンダ106の実装工程を行なう構成とする。本構成とすることにより、第1実施例に記した効果に加えて、以下の効果も追加して生じる。半導体ブロック110を基板105にハンダ106を実装する際に、ハンダ106の位置を高精度に調整することができる。特に、図3にに示した製造工程順序によって、予め半導体素子100と上面電極101とが絶縁性接着剤104とで接合固定されているので、絶縁部103を突起部品200に接触させてハンダ106の実装工程をすることにより、半導体素子100のハンダ106の位地を高精度に合わせることが容易にできる。
図6は、第3実施例による電力変換装置の上面電極の構造を示す模式図である。図6の(a)は、上面電極301の断面構造を示す模式図である。図6の(b)は、上面電極301の裏面側の構造を示す模式図である。先ず構造を説明する。図に示すように、上面電極301は略平板形状であり、この上面電極301の裏面端部(周縁の下側)に略平板長方形形状の絶縁部303を複数個接合する構成とする。上面電極301の裏面側端部を、これら絶縁部303が囲むような形状とする。また上面電極301には、ハンダを注入すべき複数の開口部302を設ける。
図7は、第4実施例による電力変換装置の断面構造を示す模式図である。図に示すように、電力変換装置は、半導体素子として、第1の半導体素子401と第2の半導体素子402とを有する。そして、第1の半導体素子401と第2の半導体素子402の夫々の厚さが異なる構成とする。なお、これら半導体素子401、402は共通の上面電極403に絶縁性接着剤104で以って接合され、半導体ブロック410が形成される。この構成とすることにより、前述の各実施例に記した効果に加えて、以下の効果も追加して生じる。例えば、第1の半導体素子401をIGBT、第2の半導体素子402をダイオードとするような異なる半導体素子を用いる場合、各半導体素子の厚さが異なる場合がある。このような場合でも、第1の効果として、同じ上面電極403に容易に各半導体素子を接合できる。即ち半導体素子401、402の厚さが多少異なっていても、絶縁性接着剤104の潰れによって、半導体素子401、402の裏面と上面電極403端部の絶縁部303裏面との段差を吸収して、同一平面にして接合することが容易にできる。特に、図3に示した製造順序を採れば、一層容易に実現できる。この為厚さの異なる複数の半導体素子401、402を同じ上面電極403に接続しても、前述した効果を同様に生じることができる。
図8は、第5実施例による電力変換装置の断面構造を示す模式図である。図に示すように、電力変換装置に、放熱器108上に絶縁物を介して第2の基板502を設ける。上面電極101の端部の一部分が、第2の基板502に第1のハンダ106の実装工程で以って接合される。かつ基板105上の第1のハンダ106部分と、第2の基板502上の第1のハンダ106部分は分離した領域である構成とする。この構成とすることにより、各実施例に記した効果に加えて、以下の効果も追加して生じる。半導体素子100の主面電極から上面電極101を介しての電気的接続を、第2の基板502によって行うことができる。第2の基板502は第1の基板501と同じ工程にて、放熱器108上の絶縁物主面上に設けることが可能である。よって、上面電極101上に接続電極を設ける必要がなく、さらに製造コストを低減できる。
図9は、第6実施例による電力変換装置の平面図である。図に示すように、半導体素子401の制御端子の位置に対応する上面電極403が第2の開口部601を有する。そして、その制御端子の周囲、即ち、第2の開口部601に枠体602を設置する。かつ上面電極403主面上に回路基板603を配置し、制御端子と回路基板603とを電気的に接続する構成とする。この接続には例えばワイヤボンディング線による接続線604を用いる。この構成とすることにより、各実施例に記した効果に加えて、以下の効果も追加して生じる。第1の効果として、半導体素子401が例えばIGBT等であり、ゲートによる制御端子を有する場合においても、この制御端子と回路基板603との電気的接続を容易にかつ省スペースでできる。即ち、第2の開口部601を介して、制御端子と上面電極403上の回路基板603とを容易に電気的に接続できる。なお、枠体602にてこの接続に係る部分は、周辺の他の領域と電気的に絶縁を図ることは容易である。特に、上面電極403上に回路基板603を配置するので、基板105上に回路基板603を設ける特段のスペースを設ける必要がない。よって電力変換装置を小型にできる。
図10は、第7実施例による電力変換装置の断面構造を示す模式図である。図に示すように、第1の半導体ブロック701と第2の半導体ブロック702を有する。半導体ブロック701,702は、前述した実施例の半導体ブロックと同様の構成を持つ。そして、第1の半導体ブロック701は、第1の放熱器108上に絶縁物INSを介して実装すると共に、第2の半導体ブロック702は第2の放熱器708上に絶縁物INSを介して実装する。さらに、第1の半導体ブロック701の上面電極上に、熱伝導性材料703を介して第2の半導体ブロック702の上面電極が載るように、第1と第2の半導体ブロック701、702を積層配置する構成とする。
図11は、第8実施例による電力変換装置の断面構造を示す模式図である。図に示すように、第1の半導体ブロック701の上面電極上に、絶縁物801を介して第2の放熱器800を実装する構成とする。この構成とすることにより、各実施例に記した効果に加えて、以下の効果も追加して生じる。第1の半導体ブロック701の内部に実装されている半導体素子を裏面側のみならず、主面電極側からも容易にかつ効果的に放熱できる。よって電力変換装置を小型化できる。なお、第1の半導体ブロック701の主面上に第2の放熱器800を配置する構造にて説明を行なった。第2の放熱器800の代わりにヒートスプレッダを配置し、そのヒートスプレッダの端部を基板105またはに接触させる構造としても同様な効果を生じる。
101 上面電極
102 開口部
103 絶縁部
104 絶縁性接着剤
105 基板
106 第1のハンダ
107 第2のハンダ
108 放熱器
110 半導体ブロック
111 接続電極
INS 絶縁物
200 突起部品
201 スペーサ
301 上面電極
302 開口部
303 絶縁部
401 第1の半導体素子
402 第2の半導体素子
403 上面電極
410 半導体ブロック
501 第1の基板
502 第2の基板
601 第2の開口部
602 枠体
603 回路基板
604 接続線
701 第1の半導体ブロック
702 第2の半導体ブロック
703 熱伝導性材料
705 第1の放熱器
708 第2の放熱器
800 第2の放熱器
801 絶縁物
Claims (13)
- ハンダを注入すべき複数の開口部が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた上面電極の端部と、半導体素子の少なくとも側面とを絶縁性接着剤で接合して半導体ブロックを形成する工程と、
前記半導体ブロックの上面電極の絶縁部および半導体素子の裏面と、基板の主面とをハンダで接合するハンダ付け接合工程と、
前記上面電極に設けられている複数の開口部の少なくとも1つから、前記上面電極の裏面と前記半導体素子の主面と、前記絶縁部とで囲まれた空間にハンダを供給してハンダ付けするハンダ付け工程と、
を有する電力変換装置の製造方法。 - 請求項1に記載の電力変換装置の製造方法において、
前記基板の裏面を絶縁物を介して第1の放熱器と接合する工程、
をさらに有することを特徴とする電力変換装置の製造方法。 - 請求項1または2に記載の電力変換装置の製造方法において、
前記ハンダ接合工程と、前記ハンダ付け工程とを同時に行う、
ことを特徴とする電力変換装置の製造方法。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載の電力変換装置の製造方法において、
前記基板の主面に突起部品またはスペーサを設ける工程とをさらに有し、
前記スペーサまたは前記突起部品を前記絶縁部に接触させ、前記ハンダ付け接合工程を実行する、
ことを特徴とする電力変換装置の製造方法。 - 請求項1〜4のいずれか1項に記載の電力変換装置の製造方法において、
前記上面電極が、略平板形状であり、
前記上面電極の周縁に設けた絶縁部が、略平板長方形形状の複数の絶縁領域を含む、
ことを特徴とする電力変換装置の製造方法。 - 請求項1〜5のいずれか1項に記載の電力変換装置の製造方法において、
前記半導体素子が、第1の半導体素子と第2の半導体素子とを含み、
該第1の半導体素子と該第2の半導体素子の夫々の厚さが異なる、
ことを特徴とする電力変換装置の製造方法。 - 請求項1〜6のいずれか1項に記載の電力変換装置の製造方法において、
前記第1の放熱器上に前記絶縁物を介して第2の基板を設ける工程をさらに有し、
前記ハンダ付け接合工程が、
前記上面電極の周縁の前記絶縁部を設けていない部分を、前記第2の基板の主面にハンダで接合する工程を含み、
該第2の基板の主面と前記上面電極の周縁の前記絶縁部を設けていない部分を接合するハンダと、前記第1の基板の主面と前記半導体ブロックの上面電極の絶縁部および半導体素子の裏面を接合するハンダとが、分離した領域である、
ことを特徴とする電力変換装置の製造方法。 - 請求項1〜7のいずれか1項に記載の電力変換装置の製造方法において、
前記半導体素子が制御端子を有し、
該制御端子の位置に対応して第2の開口部が前記上面電極に設けられており、
前記製造方法は、
該第2の開口部に、接続線を貫通させる枠体を設ける工程と、
前記上面電極の主面上に回路基板を設ける工程と、
前記制御端子と該回路基板とを前記接続線で接続する工程とをさらに有する、
ことを特徴とする電力変換装置の製造方法。 - 請求項1〜8のいずれか1項に記載の電力変換装置の製造方法において、
前記第1の半導体ブロックの上面電極上に、絶縁物を介して第2の放熱器と接合する工程、
をさらに有することを特徴とする電力変換装置の製造方法。 - ハンダを注入すべき複数の開口部が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた第1の上面電極の端部と、第1の半導体素子の少なくとも側面とを絶縁性接着剤で接合して第1の半導体ブロックを形成する工程と、
前記第1の半導体ブロックの前記第1の上面電極の絶縁部および前記第1の半導体素子の裏面と、第1の基板の主面とをハンダで接合するハンダ付け接合工程と、
前記第1の上面電極に設けられている複数の開口部の少なくとも1つから、前記第1の上面電極の裏面と前記第1の半導体素子の主面と、前記絶縁部とで囲まれた空間にハンダを供給してハンダ付けするハンダ付け工程と、
ハンダを注入すべき複数の開口部が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた第2の上面電極の端部と、第2の半導体素子の少なくとも側面とを絶縁性接着剤で接合して第2の半導体ブロックを形成する工程と、
前記第2の半導体ブロックの前記第2の上面電極の絶縁部および前記第2の半導体素子の裏面と、第2の基板の主面とをハンダで接合するハンダ付け接合工程と、
前記第2の上面電極に設けられている複数の開口部の少なくとも1つから、前記第2の上面電極の裏面と前記第2の半導体素子の主面と、前記絶縁部とで囲まれた空間にハンダを供給してハンダ付けするハンダ付け工程と、
前記第2の半導体ブロックの第2の上面電極の主面と、前記第2の半導体ブロックの第2の上面電極の主面とを熱伝導性材料を介して接合する工程と、
を有する電力変換装置の製造方法。 - 請求項6または10に記載の電力変換装置の製造方法において、
前記第1の半導体素子が、IGBTまたはMOSFETであり、
前記第1の半導体素子が、ダイオードである、
ことを特徴とする電力変換装置の製造方法。 - ハンダを注入すべき複数の開口部が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた上面電極と、該上面電極の端部と絶縁性接着剤で少なくとも側面が接合されている半導体素子とで、形成された半導体ブロックと、
前記半導体ブロックの上面電極の絶縁部および半導体素子の裏面に、ハンダで主面が接合されている基板とを具え、
前記上面電極に設けられている複数の開口部の少なくとも1つから、前記上面電極の裏面と前記半導体素子の主面と前記絶縁部とで囲まれた空間に供給したハンダで、該上面電極の裏面と該半導体素子の主面を接続するように構成した、
ことを特徴とする電力変換装置。 - ハンダを注入すべき複数の開口部が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた第1の上面電極と、該第1の上面電極の端部と絶縁性接着剤で少なくとも側面が接合されている第1の半導体素子とで、形成された第1の半導体ブロックと、
前記第1の半導体ブロックの第1の上面電極の絶縁部および第1の半導体素子の裏面に、ハンダで主面が接合されている第1の基板と、
ハンダを注入すべき複数の開口部が設けられ、周縁に絶縁部が設けられた第2の上面電極と、該第2の上面電極の端部と絶縁性接着剤で少なくとも側面が接合されている第2の半導体素子とで、形成された第2の半導体ブロックと、
前記第1の半導体ブロックの第1の上面電極の絶縁部および第2の半導体素子の裏面に、ハンダで主面が接合されている第2の基板と、を具え、
前記第2の半導体ブロックの第2の上面電極の主面と、前記第2の半導体ブロックの第2の上面電極の主面とを熱伝導性材料を介して接合するように構成した、
ことを特徴とする電力変換装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008005938A JP5217014B2 (ja) | 2008-01-15 | 2008-01-15 | 電力変換装置およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008005938A JP5217014B2 (ja) | 2008-01-15 | 2008-01-15 | 電力変換装置およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009170596A true JP2009170596A (ja) | 2009-07-30 |
JP5217014B2 JP5217014B2 (ja) | 2013-06-19 |
Family
ID=40971460
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008005938A Active JP5217014B2 (ja) | 2008-01-15 | 2008-01-15 | 電力変換装置およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5217014B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017104500A1 (ja) * | 2015-12-16 | 2017-06-22 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7005418B2 (ja) | 2018-04-13 | 2022-01-21 | 東芝テック株式会社 | 商品読取システム |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05160316A (ja) * | 1991-12-10 | 1993-06-25 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体素子 |
JP2002043587A (ja) * | 2000-07-28 | 2002-02-08 | Origin Electric Co Ltd | メサ型ダイオード及びその製造方法 |
JP2004134445A (ja) * | 2002-10-08 | 2004-04-30 | Toyota Motor Corp | 上部電極、パワーモジュール、および上部電極のはんだ付け方法 |
JP2004303869A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Denso Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2007335538A (ja) * | 2006-06-13 | 2007-12-27 | Sanken Electric Co Ltd | 半導体装置の製法 |
-
2008
- 2008-01-15 JP JP2008005938A patent/JP5217014B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05160316A (ja) * | 1991-12-10 | 1993-06-25 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体素子 |
JP2002043587A (ja) * | 2000-07-28 | 2002-02-08 | Origin Electric Co Ltd | メサ型ダイオード及びその製造方法 |
JP2004134445A (ja) * | 2002-10-08 | 2004-04-30 | Toyota Motor Corp | 上部電極、パワーモジュール、および上部電極のはんだ付け方法 |
JP2004303869A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Denso Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2007335538A (ja) * | 2006-06-13 | 2007-12-27 | Sanken Electric Co Ltd | 半導体装置の製法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017104500A1 (ja) * | 2015-12-16 | 2017-06-22 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
JPWO2017104500A1 (ja) * | 2015-12-16 | 2018-05-24 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
CN108369933A (zh) * | 2015-12-16 | 2018-08-03 | 三菱电机株式会社 | 半导体装置及其制造方法 |
CN108369933B (zh) * | 2015-12-16 | 2021-06-29 | 三菱电机株式会社 | 半导体装置及其制造方法 |
DE112016005807B4 (de) | 2015-12-16 | 2024-05-08 | Mitsubishi Electric Corporation | Halbleitereinheit und Verfahren zur Herstellung derselben |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5217014B2 (ja) | 2013-06-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8981552B2 (en) | Power converter, semiconductor device, and method for manufacturing power converter | |
JP6305302B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP5239291B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP6308300B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP5930980B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
WO2017104500A1 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP2017139406A (ja) | 半導体装置 | |
JP7238330B2 (ja) | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 | |
JP6602981B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2017017109A (ja) | 半導体装置 | |
US20140347838A1 (en) | Electronic device and manufacturing method of electronic device | |
JP6043049B2 (ja) | 半導体装置の実装構造及び半導体装置の実装方法 | |
JP2007173703A (ja) | 半導体装置 | |
JP2017123360A (ja) | 半導体モジュール | |
JP5217015B2 (ja) | 電力変換装置及びその製造方法 | |
JP2019083294A (ja) | 半導体装置とその製造方法 | |
JP5217014B2 (ja) | 電力変換装置およびその製造方法 | |
JPWO2019049215A1 (ja) | 半導体装置 | |
JP2009016380A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP5696676B2 (ja) | 電子部品実装方法 | |
JP5145168B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2009164511A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP2020102543A (ja) | 半導体装置とその製造方法 | |
JP7274954B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP6063835B2 (ja) | 半導体チップの実装方法、半導体装置、及び実装治具 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20101222 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20111117 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111209 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20120508 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121030 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121227 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130129 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20130213 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130211 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160315 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5217014 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |