JP6602981B2 - 半導体装置 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体装置に関し、より詳しくは、放熱体に取り付けられる半導体装置に関する。
セラミック基板等の絶縁基板に発熱電子部品およびリード部材を実装した後、樹脂封止して構成される半導体装置が知られている。発熱電子部品は、例えば半導体スイッチング素子やダイオード等である。このような半導体装置は絶縁基板の裏面を介してヒートシンクや車体等の放熱体に取り付けられ、発熱電子部品で発生した熱が絶縁基板を通じて放熱体に放熱される。リード部材のアウターリードは、バスバーを介してバッテリー等の外部装置に接続される。
なお、特許文献1には、セラミック基材に導電部を接合した半導体装置が記載されており、この半導体装置では、導電部にAl線とリード部材が接続されている。
特開2006−32617号公報
ところで、上記の半導体装置に接続された外部装置において発生した熱がリード部材を通じて半導体装置の内部に伝播することがある。この場合、発熱電子部品が高温になり、半導体装置の故障の原因となるおそれがある。特許文献1では、リード部材がランド部(導電部)に接続されており、外部装置から伝播した熱の一部は絶縁基板を通じて放熱基板に放熱される。
しかしながら、ランド部に金属ワイヤーとリード部材の両方が接続されるため、ランド部の面積、ひいては絶縁基板が大型化し、半導体装置の低コスト化が困難になるという問題があった。
そこで、本発明は、半導体装置の低コスト化を図りつつ、外部装置から半導体装置の内部に伝播する熱を放熱体に効率的に放熱することが可能な半導体装置を提供することを目的とする。
本発明に係る半導体装置は、
放熱体に取り付けられる半導体装置であって、
第1の主電極および第2の主電極を有する発熱電子部品と、
前記発熱電子部品を封止する封止部と、
前記封止部に封止された第1のインナーリード部、および前記封止部から露出した第1のアウターリード部を有する第1のリード部材と、
前記第2の主電極に電気的に接続され、前記封止部に封止された第2のインナーリード部、および前記封止部から露出した第2のアウターリード部を有する第2のリード部材と、を備え、
前記第1のインナーリード部は、前記第1のアウターリード部から伝播する熱を前記放熱体に逃がす放熱端部と、前記放熱端部および前記第1のアウターリード部の間に位置し且つ前記発熱電子部品の前記第1の主電極に電気的に接続される電気接続部とを有することを特徴とする。
また、前記半導体装置において、
第1の主面および前記第1の主面と反対側の第2の主面を有する絶縁性熱伝導基材と、前記第1の主面に形成された部品実装ランド部と、を有する絶縁基板をさらに備え、
前記第2のリード部材の前記第2のインナーリード部は、前記部品実装ランド部に電気的に接続されていてもよい。
また、前記半導体装置において、
前記絶縁基板は、前記絶縁性熱伝導基材の前記第1の主面に形成され、前記部品実装ランド部から電気的に分離された孤立ランド部をさらに有し、
前記第1のインナーリード部の前記放熱端部は、前記孤立ランド部に電気的に接続され、
前記第1の主電極と前記第1のインナーリード部の前記電気接続部とは、金属ワイヤーにより、前記孤立ランド部を介さずに電気的に接続されていてもよい。
また、前記半導体装置において、
前記絶縁基板は、前記絶縁性熱伝導基材の前記第1の主面に形成され、前記部品実装ランド部から電気的に分離された孤立ランド部をさらに有し、
前記第1のインナーリード部の前記放熱端部は、前記孤立ランド部に電気的に接続され、
前記第1の主電極と前記第1のインナーリード部の前記電気接続部とは、接続子により、前記孤立ランド部を介さずに電気的に接続されていてもよい。
また、前記半導体装置において、
前記絶縁基板は、前記絶縁性熱伝導基材の前記第1の主面に形成され、前記部品実装ランド部から電気的に分離された孤立ランド部をさらに有し、
前記第1のインナーリード部の前記放熱端部は、前記孤立ランド部に電気的に接続され、
前記第1のインナーリード部は、前記電気接続部から延在し且つ前記発熱電子部品の前記第1の主電極に電気的に接続する延在接続部を有してもよい。
また、前記半導体装置において、
前記第1のインナーリード部の前記放熱端部は、前記封止部から露出した露出面を含んでもよい。
また、前記半導体装置において、
前記絶縁基板は、前記絶縁性熱伝導基材の前記第2の主面に形成された露出導電部をさらに有し、前記露出導電部は、前記封止部から露出し前記放熱体と接する露出面を含んでもよい。
また、前記半導体装置において、
前記第1のインナーリード部の前記放熱端部は、前記封止部から露出した露出面を含み、
前記第2のインナーリード部は部品実装部を有しており、前記発熱電子部品は、前記第2の主電極が前記部品実装部に電気的に接続されるように前記部品実装部の上に実装されているようにしてもよい。
また、前記半導体装置において、
前記部品実装部は、前記封止部から露出した露出面を含み、
前記第1のインナーリード部の前記放熱端部の露出面および前記部品実装部の露出面を被覆するように前記封止部に貼着された絶縁シートをさらに備えてもよい。
また、前記半導体装置において、
前記第1の主電極と前記第1のインナーリード部とは、金属ワイヤーにより電気的に接続されていてもよい。
また、前記半導体装置において、
前記第1の主電極と前記第1のインナーリード部とは、接続子により電気的に接続されていてもよい。
また、前記半導体装置において、
前記第1のインナーリード部は、前記電気接続部から延在し且つ前記発熱電子部品の前記第1の主電極に電気的に接続される延在接続部を有してもよい。
また、前記半導体装置において、
前記発熱電子部品は、ゲート電極をさらに有する半導体スイッチング素子であってもよい。
また、前記半導体装置において、
前記第1の主電極および前記ゲート電極は前記発熱電子部品の上面に設けられ、前記第2の主電極は前記発熱電子部品の下面に設けられていてもよい。
また、前記半導体装置において、
前記第1のリード部材および前記第2のリード部材のうち、一方のリード部材がバッテリーに電気的に接続され、他方のリード部材がウィンカースイッチに電気的に接続されてもよい。
本発明では、第1のインナーリード部が、第1のアウターリード部から伝播する熱を放熱体に逃がす放熱端部と、放熱端部および第1のアウターリード部の間に位置し且つ発熱電子部品の第1の主電極に電気的に接続される電気接続部とを有する。これにより、本発明によれば、半導体装置の低コスト化を図りつつ、外部装置から半導体装置の内部に伝播する熱を放熱体に効率的に放熱することができる。
第1の実施形態に係る半導体装置の透視斜視図である。 第1の実施形態に係る半導体装置の断面図である。 第1の実施形態に係る半導体装置の製造方法を説明するための斜視図である。 図3Aに続く、第1の実施形態に係る半導体装置の製造方法を説明するための斜視図である。 図3Bに続く、第1の実施形態に係る半導体装置の製造方法を説明するための斜視図である。 図3Cに続く、第1の実施形態に係る半導体装置の製造方法を説明するための斜視図である。 図3Dに続く、第1の実施形態に係る半導体装置の製造方法を説明するための斜視図である。 図3Eに続く、第1の実施形態に係る半導体装置の製造方法を説明するための斜視図である。 第2の実施形態に係る半導体装置の透視斜視図である。 第3の実施形態に係る半導体装置の透視斜視図である。 第4の実施形態に係る半導体装置の断面図である。 第5の実施形態に係る半導体装置の透視斜視図である。 第5の実施形態に係る半導体装置の断面図である。
以下、図面を参照しつつ本発明の実施形態に係る半導体装置について説明する。なお、各図において同等の機能を有する構成要素には同一の符号を付す。
(第1の実施形態)
第1の実施形態に係る半導体装置1について図1および図2を参照して説明する。
半導体装置1は、ヒートシンクや車体等の放熱体(図示せず)に取り付けられる半導体装置である。本実施形態では、半導体装置1はウィンカーリレーであるが、本発明に係る半導体装置はこれに限定されるものではない。
半導体装置1は、図1に示すように、絶縁基板10と、発熱電子部品20と、封止部30と、リード部材40(第1のリード部材)と、リード部材50(第2のリード部材)と、リード部材60と、金属ワイヤー2と、を備えている。半導体装置1は、例えば、ウィンカーリレーとして構成される。半導体装置1がウィンカーリレーの場合、リード部材40およびリード部材50のうち、一方のリード部材はバッテリー(図示せず)に電気的に接続され、他方のリード部材はウィンカースイッチ(図示せず)に電気的に接続される。
絶縁基板10は、図2に示すように、主面11a(第1の主面)および第1の主面と反対側の主面11b(第2の主面)を有する絶縁性熱伝導基材11と、主面11aに形成された部品実装ランド部12と、主面11aに形成された孤立ランド部13と、主面11bに形成された露出導電部15と、を有する。孤立ランド部13は、孤立したランドであって、部品実装ランド部12から電気的に分離されている。露出導電部15は、封止部30から露出し、放熱体と接する露出面15aを含む。
本実施形態では、絶縁基板10はセラミック基板であるが、他の絶縁基板であってもよい。部品実装ランド部12、孤立ランド部13および露出導電部15は、導電材料(本実施形態では銅)からなる。
発熱電子部品20は、縦型構造のデバイスであり、図1および図2に示すように、上面に主電極21(第1の主電極)およびゲート電極23が設けられ、下面に主電極22(第2の主電極)が設けられている。本実施形態では、主電極21はドレイン電極であり、主電極22はソース電極である。発熱電子部品20で発生した熱は、部品実装ランド部12、絶縁性熱伝導基材11および露出導電部15を通じて放熱体に放熱される。一部の熱は、封止部30を通じて空気中に放熱される。
発熱電子部品20は、半導体スイッチング素子である。半導体スイッチング素子は、例えば、電界効果トランジスタ(Metal−Oxide−Semiconductor Field Effect Transistor:MOS FET)、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(Insulated Gate Bipolar Transistor:IGBT)、サイリスタである。
なお、発熱電子部品20は、ダイオード等の他の電子部品であってもよい。また、発熱電子部品20は、主電極21,22およびゲート電極23が上面に設けられた横型構造のデバイスであってもよい。この場合、主電極22と部品実装ランド部12は金属ワイヤーや接続子等により電気的に接続される。
封止部30は、例えば絶縁性の樹脂材料からなり、絶縁基板10、発熱電子部品20、インナーリード部41,51および金属ワイヤー2,3を封止する。なお、絶縁基板10の裏面(露出導電部15)は封止部30により封止されない。
リード部材40は、封止部30に封止されたインナーリード部41(第1のインナーリード部)、および封止部30から露出したアウターリード部42(第1のアウターリード部)を有する。
インナーリード部41は、図1および図2に示すように、放熱端部41cと、垂直延在部41eと、電気接続部41dとを有する。放熱端部41cは、インナーリード部41の先端に設けられ、アウターリード部42から伝播する熱を放熱体に逃がすように構成されている。電気接続部41dは、放熱端部41cおよびアウターリード部42の間に位置し、発熱電子部品20の主電極21に電気的に接続される。この電気接続部41dは、垂直延在部41eとアウターリード部42に挟まれた部分である。垂直延在部41eは、アウターリード部42と放熱体との間に所定の絶縁距離を確保するために設けられている。
インナーリード部41の放熱端部41cは、孤立ランド部13に電気的に接続されている。また、主電極21とインナーリード部41の電気接続部41dとは、図1および図2に示すように、金属ワイヤー2(例えばAlワイヤー)により、孤立ランド部13を介さずに電気的に接続されている。本実施形態では、発熱電子部品20に大電流が流れるため、複数本の金属ワイヤー2が用いられている。金属ワイヤー2の一端は、図2に示すように、インナーリード部41の電気接続部41dの上面に電気的に接続されている。
なお、アウターリード部42には、半導体装置1を放熱体に固定する際に用いられる固定用孔42aが設けられている。
リード部材50は、主電極22に電気的に接続され、封止部30に封止されたインナーリード部51(第2のインナーリード部)、および封止部30から露出したアウターリード部52(第2のアウターリード部)を有する。インナーリード部51は、部品実装ランド部12に電気的に接続されている。なお、アウターリード部52には、半導体装置1を放熱体に固定する際に用いられる固定用孔52aが設けられている。
リード部材60は、図1に示すように、金属ワイヤー3(例えばAuワイヤー)を介して発熱電子部品20のゲート電極23に電気的に接続されている。このリード部材60は、発熱電子部品20の制御信号を出力する駆動装置(図示せず)に接続される。
上記のように、第1の実施形態では、発熱電子部品20の主電極21と、インナーリード部41の電気接続部41dとが金属ワイヤー2により電気的に接続されている。すなわち、主電極21とインナーリード部41は、孤立ランド部13を介さずに電気的に接続されている。これにより、金属ワイヤー2が孤立ランド部13に接続される場合に比べて孤立ランド部13の面積を削減することができる。その結果、絶縁基板10の低コスト化を図ることができる。
さらに、第1の実施形態では、インナーリード部41の放熱端部41cが、孤立ランド部13に接続されており、アウターリード部42から伝播する熱を放熱体に逃がすように構成されている。すなわち、外部装置で発生し、アウターリード部42を通じて半導体装置1内に伝播した熱は、インナーリード部41の放熱端部41c、孤立ランド部13、絶縁性熱伝導基材11および露出導電部15を通じて放熱体に放熱される。これにより、外部装置から半導体装置1の内部に伝播する熱を放熱体に効率的に放熱することができる
よって、第1の実施形態によれば、半導体装置1の低コスト化を図りつつ、外部装置から半導体装置1の内部に伝播する熱を放熱体に効率的に放熱することができる。
<半導体装置1の製造方法>
上記の半導体装置1の製造方法について、図3A〜図3Fを参照して説明する。
まず、図3Aに示すように、絶縁基板10を準備する。前述のように、絶縁性熱伝導基材11の上面には部品実装ランド部12および孤立ランド部13が設けられている。準備後、部品実装ランド部12および孤立ランド部13の所定部分にクレームはんだ(図示せず)を塗布する。
次に、図3Bに示すように、絶縁基板10の部品実装ランド部12の上に発熱電子部品20を実装する。より詳しくは発熱電子部品20の下面に設けられた主電極22が部品実装ランド部12にクリームはんだを介して電気的に接続するように、発熱電子部品20を部品実装ランド部12上に載置する。
次に、図3Cに示すように、リードフレーム100を準備する。このリードフレーム100は、枠部110と、複数のタイバー120と、枠部110の四隅に設けられた位置決め孔130と、リードフレーム端子部141,142,151,152と、リードフレームゲート端子部160とを有している。リードフレーム端子部141,151はそれぞれインナーリード部41,51になる部分であり、リードフレーム端子部142,152はそれぞれアウターリード部42,52になる部分である。リードフレームゲート端子部160は、リード部材60になる部分である。リードフレーム端子部151,152には、半導体装置1を放熱体に固定する際に用いられる固定用孔42a,52aが設けられている。
次に、リードフレーム100を準備した後、図3Cに示すように、絶縁基板10とリードフレーム100との間の位置合わせを行い、絶縁基板10の上にリードフレーム100を載置する。より詳しくは、リードフレーム端子部141の先端部分が孤立ランド部13の上に位置し、リードフレーム端子部151の先端部分が部品実装ランド部12の上に位置するように位置合わせを行う。その後、リフロー工程を経て、発熱電子部品20は絶縁基板10に固定され、リードフレーム100は絶縁基板10に固定される。
次に、ワイヤーボンディング工程を行う。本工程では、図3Dに示すように、複数本の金属ワイヤー2により、発熱電子部品20の主電極21とリードフレーム端子部141とを電気的に接続する。また、金属ワイヤー3により、発熱電子部品20のゲート電極23と、リードフレームゲート端子部160とを電気的に接続する。本実施形態では、金属ワイヤー2はAlワイヤーであり、金属ワイヤー3はAuワイヤーである。金属ワイヤー2,3は超音波振動により対象物に接合される。
次に、図3Eに示すように、トランスファーモールド法により、絶縁基板10、発熱電子部品20、リードフレーム端子部141,151、および金属ワイヤー2,3を封止して封止部30を形成する。なお、絶縁基板10の裏面は樹脂封止されず、露出導電部15が露出した状態となる。
その後、図3Fに示すように、枠部110およびタイバー120を切り落とすことにより半導体装置1を得る。
(第2の実施形態)
第2の実施形態に係る半導体装置1について図4を参照して説明する。第2の実施形態では、金属ワイヤー2に代えて接続子70を用いる。以下、第1の実施形態との相違点を中心に第2の実施形態について説明する。
第2の実施形態に係る半導体装置1は、図4に示すように、絶縁基板10と、発熱電子部品20と、封止部30と、リード部材40と、リード部材50と、リード部材60と、接続子70と、を備えている。接続子70以外の構成要素については、第1の実施形態と同様であるので詳しい説明を省略する。
接続子70は、導電性の板材であり、発熱電子部品20の主電極21と、インナーリード部41の電気接続部41dとを電気的に接続する。より詳しくは、接続子70の一端は、主電極21にはんだを介して接続され、接続子70の他端はインナーリード部41の電気接続部41dにはんだを介して接続されている。
上記のように、第2の実施形態では、発熱電子部品20の主電極21と、インナーリード部41の電気接続部41dとが接続子70により電気的に接続されている。すなわち、主電極21とインナーリード部41は、孤立ランド部13を介さずに電気的に接続されている。また、インナーリード部41の放熱端部41cは孤立ランド部13に接続されている。
これにより、第1の実施形態と同様に、第2の実施形態によれば、半導体装置1の低コスト化を図りつつ、外部装置から半導体装置1の内部に伝播する熱を放熱体に効率的に放熱することができる。
さらに、第2の実施形態では、複数本の金属ワイヤー2に代えて接続子70を用いるため、金属ワイヤー2のワイヤーボンディング工程が不要となる。本実施形態の場合、絶縁基板10とリードフレーム100との間の位置合わせを行った後(図3C参照)、クリームはんだを介して主電極21とインナーリード部41の上に接続子70を載置し、その後のリフロー工程において固定する。このように、第2の実施形態によれば、金属ワイヤー2のワイヤーボンディング工程が不要となるため、半導体装置の製造工程の簡略化を図ることができ、ひいては半導体装置1のさらなる低コスト化を図ることができる。
(第3の実施形態)
第3の実施形態に係る半導体装置1について図5を参照して説明する。第3の実施形態では、金属ワイヤー2ではなく、リード部材40が主電極21に直接接続される。以下、第1の実施形態との相違点を中心に第3の実施形態について説明する。
第3の実施形態に係る半導体装置1は、図5に示すように、絶縁基板10と、発熱電子部品20と、封止部30と、リード部材40Mと、リード部材50と、リード部材60と、を備えている。リード部材40M以外の構成要素については、第1の実施形態と同様であるので詳しい説明を省略する。
リード部材40Mは、封止部30に封止されたインナーリード部41M、および封止部30から露出したアウターリード部42を有する。インナーリード部41Mは、図5に示すように、放熱端部41cおよび電気接続部41dに加えて、延在接続部41aをさらに有する。この延在接続部41aは、電気接続部41dから延在し且つ発熱電子部品20の主電極21に電気的に接続する。本実施形態では、インナーリード部41Mは、図5に示すように、その先端の両側部分が孤立ランド部13に接触するように曲げ加工されている。なお、インナーリード部41Mの形状はこれに限るものではない。
上記のように、第3の実施形態では、インナーリード部41Mの延在接続部41aが、発熱電子部品20の主電極に21に電気的に接続されるとともに、アウターリード部42から伝播する熱を、インナーリード部41の放熱端部41cを通じて放熱体に逃がすように構成されている。すなわち、外部装置で発生し、アウターリード部42を通じて半導体装置1内に伝播した熱は、放熱端部41c、孤立ランド部13、絶縁性熱伝導基材11および露出導電部15を通じて放熱体に放熱される。これにより、第1の実施形態と同様に、第3の実施形態によれば、半導体装置1の低コスト化を図りつつ、外部装置から半導体装置1の内部に伝播する熱を放熱体に効率的に放熱することができる。
さらに、第3の実施形態では、金属ワイヤー2や接続子70を用いずに、インナーリード部41Mは主電極21と孤立ランド部13の両方に接続するように構成されているため、半導体装置の製造工程の簡略化を図ることができる。よって、第3の実施形態によれば、半導体装置1のさらなる低コスト化を図ることができる。
(第4の実施形態)
第4の実施形態に係る半導体装置1について図6を参照して説明する。第4の実施形態では、インナーリード部が絶縁基板を介さずに、放熱体に直接接続される。以下、第1の実施形態との相違点を中心に第4の実施形態について説明する。
第4の実施形態に係る半導体装置1は、図6に示すように、絶縁基板10Nと、発熱電子部品20と、封止部30と、リード部材40Nと、リード部材50と、リード部材60と、を備えている。絶縁基板10Nとリード部材40M以外の構成要素については、第1の実施形態と同様であるので詳しい説明を省略する。
絶縁基板10Nは、主面11aおよび主面11bを有する絶縁性熱伝導基材11と、主面11aに形成された部品実装ランド部12とを有している。孤立ランド部13が設けられていないので、絶縁基板10Nは第1〜第3の実施形態の絶縁基板10に比べて面積が小さい。
リード部材40Nは、封止部30に封止されたインナーリード部41N、および封止部30から露出したアウターリード部42を有する。インナーリード部41Nの放熱端部41cは、露出面(図6では下面)41c1を含む。この露出面41c1は、封止部30から露出しており、半導体装置1が放熱体に取り付けられた状態において当該放熱体と接する。
主電極21とインナーリード部41Nとは、図6に示すように、金属ワイヤー2により電気的に接続されている。すなわち、金属ワイヤー2の一端は発熱電子部品20の主電極21に電気的に接続され、金属ワイヤー2の他端は、インナーリード部41Nに電気的に接続されている。より詳しくは、金属ワイヤー2の他端は、インナーリード部41Nのうち、垂直延在部41eとアウターリード部42に挟まれた電気接続部41dに電気的に接続されている。
上記のように、第4の実施形態では、インナーリード部41Nが、発熱電子部品20の主電極に21に絶縁性熱伝導基材11上のランド部を介さず電気的に接続されるとともに、アウターリード部42から伝播する熱を、放熱体に直接接続された放熱端部41cを通じて逃がすように構成されている。すなわち、外部装置で発生し、アウターリード部42を通じて半導体装置1内に伝播した熱は、絶縁基板10Nを介さず、インナーリード部41Nの放熱端部41cを通じて放熱体に放熱される。本実施形態では絶縁基板を介さない分、半導体装置1内に伝播した熱をより効率的に放熱体に放熱することができる。このように、第4の実施形態によれば、半導体装置1の低コスト化を図りつつ、外部装置から半導体装置1の内部に伝播する熱を放熱体に効率的に放熱することができる。
さらに、第4の実施形態では、孤立ランド部を設けない分だけ絶縁基板の面積を減らすことができるため、絶縁基板のコストを削減することができる。よって、第4の実施形態によれば、半導体装置1のさらなる低コスト化を図ることができる。
なお、本実施形態では、主電極21とインナーリード部41Nを金属ワイヤー2により接続したが、これに限らず、第2の実施形態のように接続子により接続してもよいし、あるいは、第3の実施形態のようにインナーリード部41Nが主電極21に直接接続するようにしてもよい。
(第5の実施形態)
第5の実施形態に係る半導体装置1について図7および図8を参照して説明する。第5の実施形態では、絶縁基板を用いず、発熱電子部品はインナーリード部の上に実装される。以下、第1の実施形態との相違点を中心に第5の実施形態について説明する。
第5の実施形態に係る半導体装置1は、図7および図8に示すように、発熱電子部品20と、封止部30と、リード部材40Nと、リード部材50Nと、リード部材60と、絶縁シート80と、を備えている。発熱電子部品20、封止部30およびリード部材60については第1の実施形態と同様であり、リード部材40Nについては第4の実施形態と同様であるので、これらの構成要素に関する詳しい説明は省略する。
リード部材50Nは、封止部30に封止されたインナーリード部51N、および封止部30から露出したアウターリード部52を有する。インナーリード部51Nは、図7および図8に示すように、部品実装部(ダイパッド)53を有している。この部品実装部53は、封止部30から露出した露出面53aを含む。露出面53aは、半導体装置1が放熱体に取り付けられた状態において当該放熱体と接する。
部品実装部53の上には発熱電子部品20が実装されている。より詳しくは、発熱電子部品20は、主電極22が部品実装部53にはんだを介して電気的に接続されるように部品実装部53の上に実装されている。なお、発熱電子部品20が横型構造のデバイスである場合、主電極22と部品実装部53は金属ワイヤーや接続子等により電気的に接続される。
絶縁シート80は、絶縁材料(例えばポリイミド、PET等)からなり、放熱端部41cの露出面41c1および部品実装部53の露出面53aを被覆するように封止部30に貼着されている。この絶縁シート80により、半導体装置1が導電性の放熱体に取り付けられた状態において、放熱端部41cと部品実装部53間で短絡が発生することが防止される。なお、絶縁シート80は、本実施形態の半導体装置において必須の構成ではなく、放熱体側に絶縁シート80が設けられてもよい。
上記のように、第5の実施形態では、インナーリード部41Nが、発熱電子部品20の主電極に21に絶縁基材上のランド部を介さず電気的に接続されるとともに、アウターリード部42から伝播する熱を、放熱端部41cを通じて放熱体に逃がすように構成されている。すなわち、外部装置で発生し、アウターリード部42を通じて半導体装置1内に伝播した熱は、放熱端部41cを通じて放熱体に放熱される。本実施形態では絶縁基板を介さない分、半導体装置1内に伝播した熱をより効率的に放熱体に放熱することができる。このように、第5の実施形態によれば、半導体装置1の低コスト化を図りつつ、外部装置から半導体装置1の内部に伝播する熱を放熱体に効率的に放熱することができる。
さらに、第5の実施形態では、絶縁基板10を用いないため、半導体装置1の部品コストおよび製造コストを大幅に低減することができる。
なお、本実施形態では、金属ワイヤー2により主電極21とインナーリード部41Nを接続したが、これに限らず、第2の実施形態のように接続子により接続してもよいし、あるいは、第3の実施形態のようにインナーリード部41Nが主電極21に直接接続するようにしてもよい。また、本実施形態では部品実装部53が封止部30から露出しているが、本発明はこれに限られず、部品実装部53が封止部30の内部に埋設されてもよい。
上記の記載に基づいて、当業者であれば、本発明の追加の効果や種々の変形を想到できるかもしれないが、本発明の態様は、上述した個々の実施形態に限定されるものではない。異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。特許請求の範囲に規定された内容及びその均等物から導き出される本発明の概念的な思想と趣旨を逸脱しない範囲で種々の追加、変更及び部分的削除が可能である。
1 半導体装置
2,3 金属ワイヤー
10,10N 絶縁基板
11 絶縁性熱伝導基材
11a,11b 主面
12 部品実装ランド部
13 孤立ランド部
15 露出導電部
20 発熱電子部品
21,22 主電極
23 ゲート電極
30 封止部
40,40M,40N,50,50N,60 リード部材
41,41M,41N,51,51N インナーリード部
41a 延在接続部
41c 放熱端部
41d 電気接続部
41e 垂直延在部
42,52 アウターリード部
42a,52a 固定用孔
41c1,53a 露出面
53 部品実装部
70 接続子
80 絶縁シート
100 リードフレーム
110 枠部
120 タイバー
130 位置決め孔
141,142,151,152 リードフレーム端子部
160 リードフレームゲート端子部

Claims (6)

  1. 放熱体に取り付けられる半導体装置であって、
    第1の主電極および第2の主電極を有する発熱電子部品と、
    前記発熱電子部品を封止する封止部と、
    前記封止部に封止された第1のインナーリード部、および前記封止部から露出した第1のアウターリード部を有する第1のリード部材と、
    前記第2の主電極に電気的に接続され、前記封止部に封止された第2のインナーリード部、および前記封止部から露出した第2のアウターリード部を有する第2のリード部材と、
    第1の主面および前記第1の主面と反対側の第2の主面を有する絶縁性熱伝導基材、前記第1の主面に形成され、前記第2のインナーリード部が電気的に接続された部品実装ランド部、および、前記第1の主面に形成され、前記部品実装ランド部から電気的に分離された孤立ランド部を有する絶縁基板と、
    を備え、
    前記第1のインナーリード部は、
    前記孤立ランド部に電気的に接続され、前記第1のアウターリード部から伝播する熱を前記放熱体に逃がす放熱端部と、
    前記放熱端部および前記第1のアウターリード部の間に位置し且つ前記発熱電子部品の前記第1の主電極に電気的に接続される電気接続部と、
    前記電気接続部から延在し且つ前記発熱電子部品の前記第1の主電極に電気的に接続する延在接続部と、
    を有することを特徴とする半導体装置。
  2. 放熱体に取り付けられる半導体装置であって、
    第1の主電極および第2の主電極を有する発熱電子部品と、
    前記発熱電子部品を封止する封止部と、
    前記封止部に封止された第1のインナーリード部、および前記封止部から露出した第1のアウターリード部を有する第1のリード部材と、
    前記第2の主電極に電気的に接続され、前記封止部に封止された第2のインナーリード部、および前記封止部から露出した第2のアウターリード部を有する第2のリード部材と、
    を備え、
    前記第1のインナーリード部は、前記第1のアウターリード部から伝播する熱を前記放熱体に逃がす放熱端部と、前記放熱端部および前記第1のアウターリード部の間に位置し且つ前記発熱電子部品の前記第1の主電極に電気的に接続される電気接続部とを有し、
    前記第1のインナーリード部の前記放熱端部は、前記封止部から露出した露出面を含むことを特徴とする半導体装置。
  3. 前記絶縁基板は、前記絶縁性熱伝導基材の前記第2の主面に形成された露出導電部をさらに有し、前記露出導電部は、前記封止部から露出し前記放熱体と接する露出面を含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  4. 前記発熱電子部品は、ゲート電極をさらに有する半導体スイッチング素子であることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  5. 前記第1の主電極および前記ゲート電極は前記発熱電子部品の上面に設けられ、前記第2の主電極は前記発熱電子部品の下面に設けられていることを特徴とする請求項13に記載の半導体装置。
  6. 前記第1のリード部材および前記第2のリード部材のうち、一方のリード部材がバッテリーに電気的に接続され、他方のリード部材がウィンカースイッチに電気的に接続されることを特徴とする請求項13に記載の半導体装置。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6740959B2 (ja) * 2017-05-17 2020-08-19 株式会社オートネットワーク技術研究所 回路装置
CN216054684U (zh) * 2019-03-25 2022-03-15 新电元工业株式会社 半导体装置、引线框及电源装置
US11270969B2 (en) * 2019-06-04 2022-03-08 Jmj Korea Co., Ltd. Semiconductor package
DE102022103310A1 (de) * 2022-02-11 2023-08-17 Danfoss Silicon Power Gmbh Leistungsformmodul und Leistungsmodul-Baugruppe

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08222673A (ja) * 1995-02-14 1996-08-30 Toppan Printing Co Ltd リードフレーム
JPH10242368A (ja) * 1997-02-25 1998-09-11 Hitachi Ltd 半導体装置およびその製造方法ならびに半導体モジュールおよびicカード
KR100723454B1 (ko) * 2004-08-21 2007-05-30 페어차일드코리아반도체 주식회사 높은 열 방출 능력을 구비한 전력용 모듈 패키지 및 그제조방법
JP4248528B2 (ja) * 2002-10-24 2009-04-02 パナソニック株式会社 リードフレーム及び該リードフレームを用いる樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP4319591B2 (ja) 2004-07-15 2009-08-26 株式会社日立製作所 半導体パワーモジュール
JP2006294729A (ja) * 2005-04-07 2006-10-26 Toshiba Corp 半導体装置
CN101253627B (zh) * 2005-08-31 2011-09-14 三洋电机株式会社 电路装置及其制造方法
JP5332374B2 (ja) * 2008-07-25 2013-11-06 サンケン電気株式会社 半導体装置
DE102009014794B3 (de) 2009-03-28 2010-11-11 Danfoss Silicon Power Gmbh Verfahren zum Herstellen eines für Hochvoltanwendungen geeigneten festen Leistungsmoduls und damit hergestelltes Leistungsmodul
US8097944B2 (en) * 2009-04-30 2012-01-17 Infineon Technologies Ag Semiconductor device
JP2011243752A (ja) * 2010-05-18 2011-12-01 Panasonic Corp 半導体装置の製造方法、半導体内部接続部材および半導体内部接続部材群
US8471373B2 (en) * 2010-06-11 2013-06-25 Panasonic Corporation Resin-sealed semiconductor device and method for fabricating the same
JP5819052B2 (ja) * 2010-09-09 2015-11-18 ローム株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法
US9147637B2 (en) * 2011-12-23 2015-09-29 Infineon Technologies Ag Module including a discrete device mounted on a DCB substrate
JP2013258354A (ja) * 2012-06-14 2013-12-26 Denso Corp モールドパッケージおよびその製造方法
KR20150072898A (ko) * 2013-12-20 2015-06-30 삼성전기주식회사 반도체 패키지 및 그 제조 방법
US9859250B2 (en) * 2013-12-20 2018-01-02 Cyntec Co., Ltd. Substrate and the method to fabricate thereof
KR20150074649A (ko) * 2013-12-24 2015-07-02 삼성전기주식회사 반도체 패키지 및 그 제조 방법
JP6305302B2 (ja) 2014-10-02 2018-04-04 三菱電機株式会社 半導体装置およびその製造方法
US9704828B2 (en) * 2014-10-16 2017-07-11 Shindengen Electric Manufacturing Co., Ltd. Semiconductor module
WO2016162991A1 (ja) * 2015-04-08 2016-10-13 三菱電機株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP6086989B1 (ja) * 2015-04-28 2017-03-01 新電元工業株式会社 半導体モジュール

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