JP2009147254A - 電子ビーム描画装置の描画方法及び電子ビーム描画装置 - Google Patents
電子ビーム描画装置の描画方法及び電子ビーム描画装置 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】ファインピッチコントロール描画機能及び最小インクリメント可変描画機能を用いて試料にパターンを描画する場合において、描画面の高さ変化とそれに伴うフォーカス補正によるフィールド幅と回転のずれを補正する時に、縮小率の設定に対して最適なフィールド幅の高さ補正係数を算出する演算制御手段と、算出した高さ補正係数に基づいて試料に描画を行なう描画手段、とを含んで構成される。
【選択図】図2
Description
Vy(y)’=Vy(y)+(b・Vy(y))+(d・Vx(x)) (2)
ここで、(1)式と(2)式の第2項と第3項はそれぞれフィールド幅と回転の補正の項であり、比例係数a,bとc,dを用いて線形補正を行なっている。比例係数a,b,c,dは描画面の高さhによって決まる値であり、以下のように線形関係で決定することができる。
b=b1・h (4)
c=c1・h (5)
d=d1・h (6)
ここで、比例係数a1,b1とc1,d1はそれぞれフィールド幅と回転の高さ補正係数として実際の装置で測定して決定している。
本発明は、ファインピッチコントロール描画機能や最小インクリメント可変描画機能の描画において、描画面の高さ変化とそれに伴うフォーカス補正によるフィールド幅と回転のズレを補正する時、縮小率の設定に対する最適なフィールド幅の高さ補正係数を自動的に算出するものである。
Δ=(1−h)・α−1・α=−h・α (7)
ここで、フィールド幅のズレΔは、(1),(2)式の第2項を示している。従って、(3),(4)式のフィールド幅の高さ補正係数a1とb1に対して、
a1∝α
b1∝α
が成立する。
a1’=a1・γ (8)
b1’=b1・γ (9)
と算出される。
2段の偏向器5の間には非点収差補正器6が設けられ、電子ビーム3の収差補正を行なう。該非点収差補正器6は、非点収差補正器制御系18により制御される。電子ビーム3は、対物レンズ4により描画材料2上に焦点を結ぶ。この時、XY駆動ステージ1上に載置された描画材料2の高さを高さ測定器12により測定し、信号検出系20に与える。
2 描画材料
3 電子ビーム
4 対物レンズ
5 偏向器
6 非点収差補正器
7 対物絞り
8 対物絞り位置調整機構
9 ズームレンズ
10 ブランキング電極
11 電子銃
12 高さ測定器
13 架体(真空チャンバ)
14 電子銃制御系
15 ビームブランキング制御系
16 電子光学系制御系
17 ビーム走査制御系
18 非点収差補正器制御系
19 XY駆動ステージ制御系
20 信号検出系
21 制御CPU
21a 高さ補正係数算出プログラム
22 描画データファイル
Claims (2)
- スポットビーム方式かつベクタ走査方式の電子ビーム描画装置において、描画面の高さ変化に対してフォーカス補正を行なう機能と、描画面の高さ変化とそれに伴うフォーカス補正によるフィールド幅と回転のずれを補正する機能を組み込んだパターンの描画を行なう描画方法であって、
ファインピッチコントロール描画機能及び最小インクリメント可変描画機能を用いて試料にパターンを描画する場合において、描画面の高さ変化とそれに伴うフォーカス補正によるフィールド幅と回転のずれを補正する時に、縮小率の設定に対して最適なフィールド幅の高さ補正係数を算出し、
算出した高さ補正係数に基づいて試料に描画を行なう、
ことを特徴とする電子ビーム描画装置の描画方法。 - スポットビーム方式かつベクタ走査方式の電子ビーム描画装置において、描画面の高さ変化に対してフォーカス補正を行なう機能と、描画面の高さ変化とそれに伴うフォーカス補正によるフィールド幅と回転のずれを補正する機能を組み込んだパターンの描画を行なう電子ビーム描画装置であって、
ファインピッチコントロール描画機能及び最小インクリメント可変描画機能を用いて試料にパターンを描画する場合において、描画面の高さ変化とそれに伴うフォーカス補正によるフィールド幅と回転のずれを補正する時に、縮小率の設定に対して最適なフィールド幅の高さ補正係数を算出する演算制御手段と、
算出した高さ補正係数に基づいて試料に描画を行なう描画手段、
とを含んで構成されることを特徴とする電子ビーム描画装置。
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