JP2009124573A - 撮像装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】クロストークに起因する画像データの劣化を防止する。
【解決手段】撮像用画素と焦点検出用画素とが平面上に配列され、光学系による像を撮像する撮像素子212と、撮像用画素から出力される画像データを、該撮像用画素の近傍にある前記焦点検出用画素の出力データに基づいて補正する補正手段214とを備える。
【選択図】図12

Description

本発明は撮像装置に関する。
イメージセンサーの撮像用画素の配列中に瞳分割型位相差検出方式の焦点検出用画素を配列することによって、撮像機能と焦点検出機能を兼ね備えたイメージセンサーを有する撮像装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
この撮像装置のイメージセンサーで画像データを取得する場合には、焦点検出用画素が配置された画素位置の画像データを、この焦点検出用画素の近傍にある撮像用画素の画像データに基づいて補間して求めている。
この出願の発明に関連する先行技術文献としては次のものがある。
特開平01−216306号公報
しかしながら、上述した従来の撮像装置では、画素補間処理により求めた画像データには、焦点検出用画素近傍において画像品質の劣化が発生するという問題がある。
(1) 請求項1の発明は、撮像用画素と焦点検出用画素とが平面上に配列され、光学系による像を撮像する撮像素子と、撮像用画素から出力される画像データを、該撮像用画素の近傍にある焦点検出用画素の出力データに基づいて補正する補正手段とを備える。
(2) 請求項2の発明は、請求項1に記載の撮像装置において、焦点検出用画素は撮像用画素と構造が異なる。
(3) 請求項3の発明は、請求項2に記載の撮像装置において、焦点検出用画素の光電変換部は撮像用画素の光電変換部と面積が異なる。
(4) 請求項4の発明は、請求項2に記載の撮像装置において、焦点検出用画素の光電変換部は撮像用画素の光電変換部と形状が異なる。
(5) 請求項5の発明は、請求項2に記載の撮像装置において、焦点検出用画素の光電変換部は撮像用画素の光電変換部と位置が異なる。
(6) 請求項6の発明は、請求項2に記載の撮像装置において、撮像用画素と焦点検出用画素はともに光電変換部に光を集光させる集光部を備え、焦点検出用画素の集光部は撮像用画素の集光部と構造が異なる。
(7) 請求項7の発明は、請求項1に記載の撮像装置において、焦点検出用画素は撮像用画素と分光感度特性が異なる。
(8) 請求項8の発明は、請求項1〜7のいずれか1項に記載の撮像装置において、補正手段は焦点検出用画素の光電変換部の面積に応じて補正量を変える。
(9) 請求項9の発明は、請求項1〜7のいずれか1項に記載の撮像装置において、補正手段は光学系の絞り開口F値に応じて補正量を変える。
(10) 請求項10の発明は、請求項1〜7のいずれか1項に記載の撮像装置において、補正手段は光学系による画面上の撮像用画素の位置に応じて補正量を変える。
(11) 請求項11の発明は、請求項1〜7のいずれか1項に記載の撮像装置において、補正手段は、焦点検出用画素の光電変換部と撮像用画素の光電変換部との間の距離に応じて補正量を変える。
(12) 請求項12の発明は、請求項1〜7のいずれか1項に記載の撮像装置において、撮像用画素は分光感度特性が異なる複数種類の撮像用画素からなり、補正手段は、撮像用画素の分光感度特性に応じて補正量を変える。
(13) 請求項13の発明は、請求項1〜12のいずれか一項に記載の撮像装置において、焦点検出用画素の位置における画像データを、補正手段による補正後の撮像用画素の画像データに基づいて補間により求める補間手段を備える。
(14) 請求項14の発明は、請求項1〜12のいずれか1項に記載の撮像装置において、焦点検出用画素は、光学系を通過する1対の光束が形成する1対の像に対応した1対の像信号を生成する光電変換部を有し、1対の像信号に基づいて1対の像の相対的なズレ量を求めることによって、光学系の焦点調節状態を検出する焦点検出手段を備える。
(15) 請求項15の発明は、請求項14に記載の撮像装置において、焦点検出用画素は、1つのマイクロレンズと1対の光電変換部を有する。
(16) 請求項16の発明は、請求項14に記載の撮像装置において、焦点検出用画素は、1つのマイクロレンズと1対の光束の内の一方の光束を受光する光電変換部を有する第1の焦点検出用画素と、1つのマイクロレンズと1対の光束の内の他方の光束を受光する光電変換部を有する第2の焦点検出用画素とからなる。
本発明によれば、クロストークに起因する画像データの劣化を防止することができる。
一実施の形態の撮像装置として、レンズ交換式デジタルスチルカメラを例に上げて説明する。図1は一実施の形態のカメラの構成を示す横断面図である。一実施の形態のデジタルスチルカメラ201は交換レンズ202とカメラボディ203から構成され、交換レンズ202がマウント部204を介してカメラボディ203に装着される。
交換レンズ202はレンズ209、ズーミング用レンズ208、フォーカシング用レンズ210、絞り211、レンズ駆動制御装置206などを備えている。レンズ駆動制御装置206は不図示のマイクロコンピューター、メモリ、駆動制御回路などから構成され、フォーカシング用レンズ210および絞り211の駆動制御や、ズーミング用レンズ208、フォーカシング用レンズ210および絞り211の状態検出などを行う他、後述するボディ駆動制御装置214との通信によりレンズ情報の送信とカメラ情報の受信を行う。
カメラボディ203は撮像素子212、ボディ駆動制御装置214、液晶表示素子駆動回路215、液晶表示素子216、接眼レンズ217、メモリカード219などを備えている。撮像素子212には、撮像用画素が二次元状に配置されるとともに、焦点検出位置に対応した部分に焦点検出用画素が組み込まれている。
ボディ駆動制御装置214はマイクロコンピューター、メモリ、駆動制御回路などから構成され、撮像素子212の駆動制御と画像信号および焦点検出信号の読み出し、画像信号の処理と記録、焦点検出信号に基づく焦点検出演算と交換レンズ202の焦点調節、カメラの動作制御を行う。また、ボディ駆動制御装置214は電気接点213を介してレンズ駆動制御装置206と通信を行い、レンズ情報の受信とカメラ情報(デフォーカス量や絞り値等)の送信を行う。
液晶表示素子216は液晶ビューファインダー(EVF:電気的ビューファインダー)として機能する。液晶表示素子駆動回路215は撮像素子212によるスルー画像を液晶表示素子216に表示し、撮影者は接眼レンズ217を介してスルー画像を観察することができる。メモリカード219は、撮像素子212により撮像された画像を記憶する画像ストレージである。
交換レンズ202を通過した光束により撮像素子212の受光面上に被写体像が形成される。この被写体像は撮像素子212により光電変換され、画像信号と焦点検出信号がボディ駆動制御装置214へ送られる。
ボディ駆動制御装置214は、撮像素子212の焦点検出用画素からの焦点検出信号に基づいてデフォーカス量を算出し、このデフォーカス量をレンズ駆動制御装置206へ送る。また、ボディ駆動制御装置214は、撮像素子212からの画像信号を処理してメモリカード219に格納するとともに、撮像素子212からのスルー画像信号を液晶表示素子駆動回路215へ送り、スルー画像を液晶表示素子216に表示させる。さらに、ボディ駆動制御装置214は、レンズ駆動制御装置206へ絞り制御情報を送って絞り211の開口制御を行う。
レンズ駆動制御装置206は、レンズ情報をフォーカシング状態、ズーミング状態、絞り設定状態、絞り開放F値などに応じて変更する。具体的には、ズーミング用レンズ208とフォーカシング用レンズ210の位置と絞り211の絞り値を検出し、これらのレンズ位置と絞り値に応じてレンズ情報を演算したり、あるいは予め用意されたルックアップテーブルからレンズ位置と絞り値に応じたレンズ情報を選択する。
レンズ駆動制御装置206は、受信したデフォーカス量に基づいてレンズ駆動量を算出し、レンズ駆動量に応じてフォーカシング用レンズ210を合焦点へ駆動する。また、レンズ駆動制御装置206は受信した絞り値に応じて絞り211を駆動する。
カメラボディ203にはマウント部204を介して種々の結像光学系を有する交換レンズ202が装着可能であり、カメラボディ203は撮像素子212に組み込まれた焦点検出用画素の出力に基づいて交換レンズ202の焦点調節状態を検出する。
図2は撮影画面上における焦点検出用画素の配置を示す図であり、後述する焦点検出用画素列の出力に基づいて焦点検出を行うときに、撮影画面上で像をサンプリングする領域(焦点検出エリア、焦点検出位置)を示す。この一実施の形態では、撮影画面100の中央および左右の3箇所に焦点検出エリア101〜103が配置された例を示す。長方形で示した焦点検出エリア101〜103の長手方向に焦点検出用画素が直線的に配列される。通常、ユーザーが焦点検出エリア101〜103の中から構図に応じていずれかの焦点検出エリアを手動で選択する。
図3は撮像素子212の詳細な構成を示す正面図であり、図2に示す撮影画面中央の焦点検出エリア101付近を拡大した図である。図3において、縦横(画素の行と列)は図2に示す撮影画面100の縦横に対応している。撮像素子212は、緑画素(G)、青画素(B)および赤画素(R)からなる撮像用画素310と焦点検出用画素311から構成され、焦点検出エリア101(図2参照)には焦点検出用画素311が水平方向に配列されている。焦点検出用画素311は、撮像用画素310の緑画素(G)と青画素(B)が配置されるべき行に直線的に密に配置されている。
図4に示すように、撮像用画素310はマイクロレンズ10、光電変換部11、不図示の色フィルターから構成される。色フィルターには赤(R)、緑(G)、青(B)の3種類があり、それぞれの分光感度は図6に示す特性になっている。撮像素子212では、赤(R)、緑(G)、青(B)の色フィルターを備えた撮像用画素がベイヤー配列されている。
図5に示すように、焦点検出用画素311はマイクロレンズ10と1対の光電変換部12、13とから構成され、光電変換部12、13はそれぞれ半円形である。
焦点検出用画素311には光量をかせぐために色フィルターは配置されておらず、その分光特性は光電変換を行うフォトダイオードの分光感度特性と、赤外カットフィルター(不図示)の分光感度特性とを総合した分光感度特性(図7参照)となり、図6に示す緑画素(G)、赤画素(R)および青画素(B)の分光感度特性を加算したような分光感度特性であり、その感度の光波長領域は緑画素(G)、赤画素(R)および青画素(B)の感度の光波長領域を包括している。
撮像用画素310の光電変換部11は、マイクロレンズ10により明るい交換レンズの射出瞳(たとえばF1.0)を通過する光束をすべて受光するような形状に設計されている。焦点検出用画素311の1対の光電変換部12、13は、マイクロレンズ10により交換レンズの特定の射出瞳(たとえばF2.8)を通過する光束をすべて受光するような形状に設計されている。
図8は撮像用画素310の断面図である。撮像用画素310では、撮像用の光電変換部11の前方にマイクロレンズ10が配置され、マイクロレンズ10により光電変換部11の形状が前方に投影される。光電変換部11は半導体回路基板29上に形成され、不図示の色フィルターはマイクロレンズ10と光電変換部11の中間に配置される。
図9は焦点検出用画素311の断面図である。焦点検出用画素311では、1対の光電変換部12、13の前方にマイクロレンズ10が配置され、マイクロレンズ10により光電変換部12、13の形状が前方に投影される。1対の光電変換部12、13は半導体回路基板29上に形成されるとともに、その上にマイクロレンズ10が半導体イメージセンサーの製造工程により一体的かつ固定的に形成される。
図10は、マイクロレンズを用いた瞳分割型位相差検出方式の焦点検出光学系の構成を示す。図において、90は、交換レンズ202(図1参照)の予定結像面に配置されたマイクロレンズの前方dの距離に設定された射出瞳である。距離dは、マイクロレンズの曲率、屈折率、マイクロレンズと光電変換部との間の距離などに応じて決まる距離であって、この明細書では“測距瞳距離”という。91は交換レンズ202の光軸、50、60はマイクロレンズ、(52,53)、(62,63)はマイクロレンズ50,60に対応する光電変換部、72,73、82,83は焦点検出用の光束である。
また、92はマイクロレンズ50,60により射出瞳90に投影された光電変換部52、62の領域であり、この明細書では“測距瞳”という。93はマイクロレンズ50,60により射出瞳90に投影された光電変換部53,63の領域、すなわち測距瞳である。なお、図10ではわかりやすくするために測距瞳92,93を楕円形の領域で示すが、実際は光電変換部52、53、62、63の形状が拡大投影された形状となる。
図10では、光軸91上にある焦点検出用画素(マイクロレンズ50と1対の光電変換部52,53からなる)と、隣接する焦点検出用画素(マイクロレンズ60と1対の光電変換部62,63からなる)を模式的に例示しているが、その他の焦点検出用画素においても、1対の光電変換部はそれぞれ1対の測距瞳92,93から各マイクロレンズに到来する光束を受光する。焦点検出用画素の配列方向は、1対の測距瞳の並び方向、すなわち1対の光電変換部の並び方向と一致させる。
マイクロレンズ50、60は光学系の予定結像面近傍に配置されており、光軸91上に配置されたマイクロレンズ50によってその背後に配置された1対の光電変換部52、53の形状がマイクロレンズ50、60から測距瞳距離dだけ離間した射出瞳90上に投影され、その投影形状は測距瞳92,93を形成する。マイクロレンズ50に隣接して配置されたマイクロレンズ60によってその背後に配置された1対の光電変換部62、63の形状が測距瞳距離dだけ離間した射出瞳90上に投影され、その投影形状は測距瞳92,93を形成する。すなわち、測距瞳距離dにある射出瞳90上で各焦点検出用画素の光電変換部の投影形状(測距瞳92,93)が一致するように、各画素のマイクロレンズと光電変換部の位置関係が決定されている。
光電変換部52は、測距瞳92を通過してマイクロレンズ50に向う焦点検出光束72によって、マイクロレンズ50上に形成される像の強度に対応した信号を出力する。光電変換部53は、測距瞳93を通過してマイクロレンズ50に向う焦点検出光束73によって、マイクロレンズ50上に形成される像の強度に対応した信号を出力する。また、光電変換部62は、測距瞳92を通過してマイクロレンズ60に向う焦点検出光束82によって、マイクロレンズ60上に形成される像の強度に対応した信号を出力する。光電変換部63は、測距瞳93を通過してマイクロレンズ60に向う焦点検出光束83によって、マイクロレンズ60上に形成される像の強度に対応した信号を出力する。
上述した焦点検出用画素を直線状に多数配置し、各画素の1対の光電変換部の出力を測距瞳92および測距瞳93に対応した出力グループにまとめることによって、測距瞳92と測距瞳93をそれぞれ通過する焦点検出光束が焦点検出用画素列上に形成する1対の像の強度分布に関する情報が得られる。この情報に対して後述する像ズレ検出演算処理(相関演算処理、位相差検出処理)を施すことによって、いわゆる瞳分割方式で1対の像の像ズレ量が検出される。さらに、像ズレ量に所定の変換処理を施すことにより、予定結像面に対する現在の結像面(予定結像面上のマイクロレンズアレイの位置に対応した焦点検出位置における結像面)の偏差(デフォーカス量)が算出される。
ここで、画素補間処理により求めた画像データにおいて、焦点検出用画素近傍で画像品質の劣化が発生する問題について説明する。この問題は、画素補間処理の性能向上を図かることによって画像品質をある程度向上できるが、それだけでは画像品質を向上できない部分がある。多数の画像データを収集してさらに検討した結果、画像劣化の原因が焦点検出用画素から撮像用画素へのクロストークであることが判明した。
このようなクロストークが発生する原因は、(1)光電変換部を形成する半導体基板内部において、入射光により光電変換部の端部や深部で発生した電子が周辺の光電変換部に拡散する。(2)半導体表面に形成される遮光メタル層、配線メタル層の間を光が反射伝播する。(3)焦点検出用画素へ入射した光の一部が焦点検出用画素外へ反射され、この反射光がセンサーパッケージ上のカバーガラスなどで再反射されて周辺の撮像用画素に入射する、などが考えられる。このような焦点検出用画素から撮像用画素へのクロストークが発生すると、焦点検出用画素の近傍にある撮像用画素から出力される画像データが劣化してしまうとともに、これらの撮像用画素の画像データを用いて求めた焦点検出用画素位置の画像データも劣化してしまう。
さらに、クロストークについて詳細に説明する。図11は、撮像用画素でクロストークが発生する原因を説明するための図であり、撮像用画素500と焦点検出用画素600の断面構造を示す。撮像用画素500および焦点検出用画素600は、マイクロレンズ、フィルター、遮光メタル、配線メタル、半導体基板上に形成されたフォトダイオードから構成される。なお、焦点検出用画素600にはフィルターを設けなくてもよい。
図11に示す構成において、上述したクロストークの発生原因(1)は、焦点検出用画素600の光電変換部(フォトダイオード)に入射した光がフォトダイオードの外部や深部で光電変換されて電子を発生した後、この電子が拡散して隣接する撮像用画素500の光電変換部に混ざり込むことによるものである。また、クロストークの発生原因(2)は、焦点検出用画素600に入射した光が遮光メタルと配線メタルの隙間を反射伝播して隣接する撮像用画素500の光電変換部に混ざり込むことによるものである。さらに、クロストークの発生原因(3)は、焦点検出用画素600に入射した光がフォトダイオードなどで反射していったん焦点検出用画素外に出射した後、センサパッケージのカバーガラスやオプチカルローパスフィルターや赤外カットフィルターなどで反射され、隣接する撮像用画素の光電変換部に入射して混ざり込むことによるものである。
クロストークの発生原因(1)〜(3)はいずれも、入射光線の角度特性によりクロストークの影響度が変化し、入射光線がマイクロレンズの光軸となす角度が大きくなるにつれてクロストークが増加する傾向にある。基本的には、焦点検出用画素の光電変換部へは測距瞳(例えば図10の92,93)を通過した光線が入射するが、クロストークを発生する光線は測距瞳以外の領域からも焦点検出用画素に入射する。一般に、撮影レンズの絞り開口の周辺部を通る光線の焦点検出用画素への入射角度は、絞り開口の中心部を通る光線の焦点検出用画素への入射角度より大きくなり、クロストークにより大きく影響する。このように、クロストーク量は撮影レンズの絞り開口F値に応じて変化するので、クロストーク補正に用いるクロストーク率を撮影レンズの絞り開口F値に応じて測定し、絞り開口F値に応じたデータとして記憶しておき、クロストーク補正の際には撮像時の絞り開口F値データをレンズ駆動制御装置206(図1参照)から受信し、この絞り開口F値データに応じたクロストーク率を用いて撮像用画素の画像データに対しクロストーク補正を行う。
また、クロストークの発生原因(1)に関しては、半導体基板への侵入深さが深い長波長光(赤)のほうが影響度は大きくなる。このような光波長によるクロストーク率の変動を入射光の分光分布特性に応じて補正するために、クロストーク率の分光特性を予め測定して記憶しておくとともに、焦点検出用画素の周囲の撮像用画素のRGB出力に基づき撮像時の焦点検出用画素への入射光線の分光分布特性を求め、測定された入射光の分光分布特性と記憶されたクロストーク率の分光特性に基づいて、クロストーク補正に用いるクロストーク率を補正するようにしてもよい。
さらに、クロストークの発生原因(3)に関しては、クロストークの発生原因となる光線がクロストークを受ける画素のフィルターを通過することになるので、クロストークの原因となる光の波長に応じてクロストーク率が変動する。このようなクロストーク率の変動を入射光の分光分布特性に応じて補正するために、クロストークを受ける撮像用画素の分光分布(フィルター波長特性)に対するクロストーク率の分光特性を予め測定して記憶しておくとともに、焦点検出用画素の周囲の撮像用画素のRGB出力に基づき撮像時の焦点検出用画素への入射光線の分光分布特性を求め、クロストークを受ける撮像用画素の分光分布(フィルター波長特性)と、測定された入射光の分光分布特性と、記憶されたクロストーク率の分光特性に基づいて、クロストーク補正に用いるクロストーク率を補正するようにしてもよい。
図12は、一実施の形態のデジタルスチルカメラ(撮像装置)の撮像動作を示すフローチャートである。ボディ駆動制御装置214は、ステップ100でカメラの電源スイッチ(不図示)がオンされるとこの動作を開始する。続くステップ110で撮像用画素の画像データを間引き読み出しし、電子ビューファインダーに表示する。ステップ120では焦点検出用画素列から1対の像に対応した1対の像データを読み出す。ここでは、ユーザーが焦点検出エリア選択スイッチ(不図示)を操作していずれかの焦点検出エリアを選択しているものとする。ステップ130において、読み出された1対の像データに基づいて像ズレ検出演算処理(相関演算処理)を行い、像ズレ量を演算し、さらに像ズレ量をデフォーカス量に変換する。なお、相関演算処理については詳細を後述する。
ステップ140において合焦近傍か否か、つまり算出されたデフォーカス量の絶対値が所定値以内であるか否かを調べる。合焦近傍でないと判定した場合はステップ150へ進み、デフォーカス量をレンズ駆動制御装置206に送信し、交換レンズ202のフォーカシングレンズ208を合焦位置に駆動させ、ステップ110へ戻って上述した動作を繰り返す。なお、焦点検出不能な場合もこのステップに分岐し、レンズ駆動制御装置206にスキャン駆動命令を送信し、交換レンズ202のフォーカシングレンズ208を無限から至近までの間でスキャン駆動させ、ステップ110へ戻って上述した動作を繰り返す。
一方、合焦近傍であると判定した場合はステップ160へ進み、シャッターボタン(不図示)によりシャッターレリーズ操作がなされたか否かを判定し、なされていないと判定した場合はステップ110へ戻って上述した動作を繰り返す。シャッターレリーズ操作がなされたと判定した場合はステップ170へ進み、レンズ駆動制御装置206に対して絞り調整命令を送信し、交換レンズ202の絞り値を制御F値(ユーザーまたは自動により設定されたF値)にする。絞り制御が終了した時点で、撮像素子212に撮像動作を行わせ、撮像素子212のすべての撮像用画素の画像データとすべての焦点検出用画素の焦点検出用信号データを読み出す。
ステップ180において、焦点検出用画素の周囲にある撮像用画素のデータをその撮像用画素の近傍の焦点検出用画素のデータに基づいて後述するクロストーク補正する。続くステップ190で、焦点検出用画素列の各画素位置の画素データを焦点検出用画素の周囲の撮像用画素の画像データに基づいて後述する画素補間する。ステップ200では、撮像用画素の画像データおよび補間された画像データからなる画像データをメモリーカード219に保存し、ステップ110へ戻って上述した動作を繰り返す。
次に、図12のステップ130で実行される像ズレ検出演算処理(相関演算処理)の詳細について説明する。焦点検出用画素が検出する1対の像は、測距瞳がレンズの絞り開口によりけられて光量バランスが崩れている可能性があるので、光量バランスが崩れていても像ズレ検出精度を維持できるタイプの相関演算を施す。
焦点検出用画素列から読み出された1対のデータ列(A11〜A1M、A21〜A2M:Mはデータ数)に対し、(1)式により光量バランスが崩れていても像ズレ検出精度を維持できるタイプの相関演算を施し、相関量C(k)を算出する。
C(k)=Σ|A1n・A2n+1+k−A2n+k・A1n+1| ・・・(1)
(1)式において、Σ演算はnについて累積され、nのとる範囲はずらし量kに応じてA1n、A1n+1、A2n+k、A2n+1+kのデータが存在する範囲に限定される。ずらし量kは整数であり、データ列のデータ間隔を単位とした相対的シフト量である。
(1)式の演算結果は、図13(a)に示すように、1対のデータの相関が高いシフト量(図13(a)ではk=kj=2)において相関量C(k)が極小(小さいほど相関度が高い)になる。(2)式〜(5)式による3点内挿の手法を用い、連続的な相関量に対する極小値C(x)を与えるシフト量xを求める。
x=kj+D/SLOP ・・・(2)、
C(x)= C(kj)−|D| ・・・(3)、
D={C(kj-1)−C(kj+1)}/2 ・・・(4)、
SLOP=MAX{C(kj+1)−C(kj),C(kj-1)−C(kj)} ・・・(5)
(2)式で算出されたずらし量xの信頼性があるかどうかは、以下のようにして判定される。図13(b)に示すように、1対のデータの相関度が低い場合は、内挿された相関量の極小値C(x)の値が大きくなる。したがって、C(x)が所定のしきい値以上の場合は算出されたずらし量の信頼性が低いと判定し、算出されたずらし量xをキャンセルする。あるいは、C(x)をデータのコントラストで規格化するために、コントラストに比例した値となるSLOPでC(x)を除した値が所定値以上の場合は、算出されたずらし量の信頼性が低いと判定し、算出されたずらし量xをキャンセルする。あるいはまた、コントラストに比例した値となるSLOPが所定値以下の場合は、被写体が低コントラストであり、算出されたずらし量の信頼性が低いと判定し、算出されたずらし量xをキャンセルする。
図13(c)に示すように、1対のデータの相関度が低く、シフト範囲kmin〜kmaxの間で相関量C(k)の落ち込みがない場合は、極小値C(x)を求めることができず、このような場合は焦点検出不能と判定する。
なお、相関演算式としては上記(1)式に限定されず、測距瞳がレンズの絞り開口によりけられて光量バランスが崩れていても像ズレ検出精度を維持できるタイプの相関演算であれば、この一実施の形態の相関演算に用いることができる。
算出されたずらし量xの信頼性があると判定された場合は、(6)式により像ズレ量shftに換算される。
shft=PY・x ・・・(6)
(6)式において、PYは検出ピッチ(焦点検出用画素の配列ピッチ)である。次に、(6)式で算出された像ズレ量shftに所定の変換係数kを乗じてデフォーカス量defへ変換する。
def=k・shft ・・・(7)
次に、図12のステップ180におけるクロストーク補正処理について説明する。図14、図15は撮像用画素311におけるクロストークの説明図であって、図14は撮像用画素が焦点検出用画素に隣接している場合、図15は撮像用画素が焦点検出用画素に隣接していない場合を示している。変数h、vは、図3に示す2次元画素配置において水平方向および垂直方向の画素の位置を示すための変数である。例えば、焦点検出用画素、R撮像用画素、G撮像用画素、B撮像用画素がh列目、v行目にある場合には、焦点検出用画素から出力される1対の焦点検出用信号データをA1(h,v)、A2(h,v)、R撮像用画素から出力される画像データをR(h,v)、R’(h,v)、G撮像用画素から出力される画像データをG(h,v)、G’(h,v)、B撮像用画素から出力される画像データをB(h,v)、B’(h,v)で表す。
図14に示すように、焦点検出用画素に隣接しているh列目、v行目にあるR撮像用画素の画像データR’(h,v)とh+1列目、v行目にあるG撮像用画素の画像データG’(h+1,v)を隣接している焦点検出用画素の焦点検出用信号データに応じて補正する場合を考える。R撮像用画素、G撮像用画素は、上下左右に隣接する4つの画素と斜め方向に隣接する4つの画素からクロストーク(出力の漏れこみ)を受けるとする。
図14、図15を比較するとわかるように、R撮像用画素、G撮像用画素については、焦点検出用画素に隣接していない状態から焦点検出用画素に隣接している状態に変った場合のクロストーク量の変化量は、図14に示すR撮像用画素、G撮像用画素に隣接するv−1行目の3つの焦点検出用画素からのクロストーク量から図15に示すR撮像用画素、G撮像用画素に隣接するv−1行目の3つの撮像用画素からのクロストーク量を差し引けばよい。
ここで、光電変換部から他の光電変換部へ漏れ出る出力(クロストーク)をその光電変換部の出力で除した比率をクロストーク率と定める。図14において、焦点検出用画素からR撮像用画素へのクロストーク率をαri(i=1〜6)、焦点検出用画素からG撮像用画素へのクロストーク率をαgi(i=1〜6)とする。また、図15において、隣接する撮像用画素からR撮像用画素へのクロストーク率をβi(i=1〜3)、隣接する撮像用画素からG撮像用画素へのクロストーク率をγi(i=1〜3)とする。
クロストーク量は光電変換部間の距離に応じて変化するので、同じ構造の光電変換手段からのクロストーク率であっても距離に応じて異なるクロストーク率を設定できるようにしている。また、クロストーク量は撮像用画素の波長感度に応じて変化するので、上記クロストーク補正においてR撮像用画素へのクロストーク率はG撮像用画素へのクロストーク率とは別々に設定できるようにしている。
クロストーク率αri、αgi、βi、γiは理論的にまたは実験的に予め算出し、ボディ駆動制御装置214(図1参照)に記憶しておく。例えば、実験的に求める場合には、光電変換部に本来の撮像光束が入らないように遮光(光線変換部表面をメタル遮光、マイクロレンズ表面に遮光塗料を塗布、あるいはフィルタを遮光部材に置き換える等)した撮像用画素に周囲を囲まれた単独の焦点検出用画素と撮像用画素を試作し、これらの単独の焦点検出用画素と撮像用画素に光を照射したときに、それらの画素から出力される画像データと焦点検出用信号データとそれらの画素の周囲に設けた遮光画素から出力される信号データとを測定することによって算出することができる。
図15に示すように周囲を撮像用画素だけで囲まれている場合のR撮像用画素、G撮像用画素の画像データをR(h,v)、G(h+1,v)とすると、図14に示すように焦点検出用画素からのクロストークの影響を受けた画像データR’(h,v)、G’(h+1,v)は以下のようになる。
R’(h,v)=R(h,v)+αr1・A1(h−1,v−1)+αr2・A2(h−1,v−1)+αr3・A1(h,v−1)+αr4・A2(h,v−1)+αr5・A1(h+1,v−1)+αr6・A2(h+1,v−1)−β1・B(h−1,v−1)−β2・G(h,v−1)−β3・B(h+1,v−1),
G’(h+1,v)=G(h+1,v)+αg1・A1(h,v−1)+αg2・A2(h,v−1)+αg3・A1(h+1,v−1)+αg4・A2(h+1,v−1)+αg5・A1(h+2,v−1)+αg6・A2(h+2,v−1)−γ1・G(h,v−1)−γ2・B(h+1,v−1)−γ3・G(h+2,v−1) ・・・(8)
(8)式において、B撮像用画素の画像データB(h−1,v−1)、B(h+1,v−1)およびG撮像用画素の画像データG(h−1,v−1)、B(h+1,v−1)は実際には得られないので、(9)式のように焦点検出用画素の焦点検出用信号データより近似する。
B(h−1,v−1)=ηb・(A1(h−1,v−1)+A2(h−1,v−1)),
B(h+1,v−1)=ηb・(A1(h+1,v−1)+A2(h+1,v−1)),
G(h,v−1)=ηg・(A1(h,v−1)+A2(h,v−1)),
G(h+2,v−1)=ηg・(A1(h+2,v−1)+A2(h+2,v−1)),
・・・(9)
(9)式において、ηb、ηgは焦点検出用画素の焦点検出用信号データをB撮像用画素およびG撮像用画素の画像データに近似的に変換するための変換係数であって、予め理論的または実験的に定めてボディ駆動制御装置214(図1参照)に記憶しておく。
(9)式を(8)式に代入して周囲を撮像用画素だけで囲まれている場合のR撮像用画素、G撮像用画素の画像データR(h,v)、G(h+1,v)を求めると(10)式になる。
R(h,v)=R’(h,v)−(αr1−β1・ηb)・A1(h−1,v−1)−(αr2−β1・ηb)・A2(h−1,v−1)−(αr3−β2・ηg)・A1(h,v−1)−(αr4−β2・ηg)・A2(h,v−1)−(αr5−β3・ηb)・A1(h+1,v−1)−(αr6−β3・ηb)・A2(h+1,v−1),
G(h+1,v)=G’(h+1,v)−(αg1−γ1・ηg)・A1(h,v−1)−(αg2−γ1・ηg)・A2(h,v−1)−(αg3−γ2・ηb)・A1(h+1,v−1)−(αg4−γ2・ηb)・A2(h+1,v−1)−(αg5−γ3・ηg)・A1(h+2,v−1)−(αg6−γ3・ηg)・A2(h+2,v−1) ・・・(10)
(10)式の右辺は焦点検出用画素の光電変換部から得られる焦点検出用信号データおよび予め定められたクロストーク率であるから、(10)式を用いて周囲を撮像用画素だけで囲まれている場合のR撮像用画素、G撮像用画素の画像データをR(h,v)、G(h+1,v)を求めることができる。
(10)式において、δr1=αr1−β1・ηb、δr2=αr2−β1・ηb、δr3=αr3−β2・ηg、δr4=αr4−β2・ηg、δr5=αr5−β3・ηb、δr6=αr6−β3・ηb、δg1=αg1−γ1・ηg、δg2=αg2−γ1・ηg、δg3=αg3−γ2・ηb、δg4=αg4−γ2・ηb、δg5=αg5−γ3・ηg、δg6=αg6−γ3・ηgとすれば、(11)式のようなクロストーク補正式が得られる。
R(h,v)=R’(h,v)−δr1・A1(h−1,v−1)−δr2・A2(h−1,v−1)−δr3・A1(h,v−1)−δr4・A2(h,v−1)−δr5・A1(h+1,v−1)−δr6・A2(h+1,v−1),
G(h+1,v)=G’(h+1,v)−δg1・A1(h,v−1)−δg2・A2(h,v−1)−δg3・A1(h+1,v−1)−δg4・A2(h+1,v−1)−δg5・A1(h+2,v−1)−δg6・A2(h+2,v−1) ・・・(11)
(11)において、係数δri、δgi(i=1〜6)を予め計算してボディ駆動制御装置214に記憶しておいてもよい。
クロストークの影響は、後述するように、焦点検出用画素や撮像用画素に対する入射光線の入射角度にも依存するために、クロストーク率は補正される撮像用画素の位置(画面中心からの距離)の関数として定められる。(11)式を焦点検出用画素に隣接する撮像用画素に施すことによって、クロストーク補正処理がなされる。
次に、図12のステップ190における画素補間処理について説明する。図16は、焦点検出用画素の位置の画像データを焦点検出用画素の周囲にある撮像用画素の画像データに基づいて補間する場合の説明図であり、図14に示す画素配列に対応したものである。変数h、vは、図3に示す2次元画素配置において水平方向および垂直方向の画素の位置を示すための変数である。
図16に示すように、h列目、v−1行目にある焦点検出用画素位置の画素データG(h,v−1)と、h+1列目、v−1行目にある焦点検出用画素位置の画素データB(h+1,v−1)とを、隣接している撮像用画素の画像データに応じて補正する場合を考える。ここで、焦点検出用画素の周囲の撮像用画素の画像データは、すでにクロストーク補正処理済みのデータである。h列目、v−1行目の画素位置は、本来G撮像用画素があるべき画素位置であるから、周囲にある4つのG撮像用画素の画像データの平均によりこの画素位置の画像データを(12)式のように補間する。
G(h,v−1)=(G(h−1,v−2)+G(h+1,v−2)+G(h−1,v)+G(h+1,v))/4 ・・・(12)
h+1列目、v−1行目の画素位置は、本来B撮像用画素があるべき画素位置であるから、周囲にある2つのB撮像用画素の画像データの平均によりこの画素位置の画像データを(13)式のように補間する。
B(h+1,v−1)=(B(h+1,v−3)+G(h+1,v+1)/2 ・・・(13)
(12)式、(13)式をすべての焦点検出用画素の位置に対して施すことによって、画素補間処理がなされる。
《一実施の形態の変形例》
焦点検出用画素の光電変換部の面積が図14に示したものと異なる焦点検出用画素を用いることもできる。例えば、図2に示す画面中央の焦点検出領域101では、撮影光学系の絞りによって測距瞳がケラレにくいので、図14に示す焦点検出用画素のように、比較的大きな面積の光電変換部を備えた焦点検出用画素を配列する。一方、画面周辺の焦点検出領域102、103では測距瞳がケラレ易いので、図14に示す焦点検出用画素の光電変換部より面積が小さな光電変換部を備えた焦点検出用画素を配列することができる。
図17は、面積の小さな光電変換部を備えた焦点検出用画素の周辺にある撮像用画素のクロストーク補正の説明図である。図14により説明したように、焦点検出用画素に隣接しているh列目、v行目にあるR撮像用画素の画像データR’(h,v)とh+1列目、v行目にあるG撮像用画素の画像データG’(h+1,v)を隣接している焦点検出用画素の焦点検出用信号データに応じて補正する場合を考える。クロストーク量は焦点検出用画素の光電変換部の面積に応じて変化するので、図14に示すクロストーク率とは異なるクロストーク率を用いなければならない。
図17において、焦点検出用画素からR撮像用画素へのクロストーク率をεri(i=1〜6)、焦点検出用画素からG撮像用画素へのクロストーク率をεgi(i=1〜6)とする。(10)式の導出と同様に、周囲を撮像用画素だけで囲まれている場合のR撮像用画素、G撮像用画素の画像データR(h,v)、G(h+1,v)を求めると(14)式になる。
R(h,v)=R’(h,v)−(εr1−β1・ζb)・A1(h−1,v−1)−(εr2−β1・ζb)・A2(h−1,v−1)−(εr3−β2・ζg)・A1(h,v−1)−(εr4−β2・ζg)・A2(h,v−1)−(εr5−β3・ζb)・A1(h+1,v−1)−(εr6−β3・ζb)・A2(h+1,v−1),
G(h+1,v)=G’(h+1,v)−(εg1−γ1・ζg)・A1(h,v−1)−(εg2−γ1・ζg)・A2(h,v−1)−(εg3−γ2・ζb)・A1(h+1,v−1)−(εg4−γ2・ζb)・A2(h+1,v−1)−(εg5−γ3・ζg)・A1(h+2,v−1)−(εg6−γ3・ζg)・A2(h+2,v−1) ・・・(14)
(14)式において、ζb、ζgは光電変換部の面積が小さい焦点検出用画素の焦点検出用信号データをB撮像用画素およびG撮像用画素の画像データに近似的に変換するための変換係数であって、予め理論的にまたは実験的に定めてボディ駆動制御装置214に記憶しておく。
図3に示す撮像素子212において、焦点検出用画素311はひとつの画素内に1対の光電変換部を備えた例を示したが、図18に示すように焦点検出用画素313,314のそれぞれが画素内にひとつの光電変換部を備えた撮像素子212Aとしてもよい。図18において、焦点検出用画素313と焦点検出用画素314が対になっており、これらの対の焦点検出用画素313、314が図3に示す焦点検出用画素311に相当する。撮像用画素310は、図4に示すようにマイクロレンズ10と光電変換部11から構成される。
焦点検出用画素313は、図19(a)に示すようにマイクロレンズ10と光電変換部16から構成される。また、焦点検出用画素314は、図19(b)に示すようにマイクロレンズ10と光電変換部17から構成される。光電変換部16,17はマイクロレンズ10により交換レンズの射出瞳に投影され、図10に示す測距瞳92,93を形成する。したがって、焦点検出用画素313,314の配列により焦点検出に用いる1対の像の出力を得ることができる。焦点検出用画素内にひとつの光電変換部を備えることによって、撮像素子の読み出し回路構成の複雑化を防止することができる。
図20は、図19(a)、(b)に示すような構成の焦点検出用画素を配列した場合における、焦点検出用画素に隣接する撮像用画素の出力データのクロストーク補正の説明図である。図14で説明したように、焦点検出用画素に隣接しているh列目、v行目にあるR撮像用画素の出力データR’(h,v)とh+1列目、v行目にあるG撮像用画素の出力データG’(h+1,v)を隣接している焦点検出用画素の出力データに応じて補正する場合を考える。図20において、焦点検出用画素からR撮像用画素へのクロストーク率をαri(i=1、4、5)、焦点検出用画素からG撮像用画素へのクロストーク率をαgi(i=2、3、6)とする。
(10)式の導出と同様に、周囲を撮像用画素だけで囲まれている場合のR撮像用画素、G撮像用画素の出力データR(h,v)、G(h+1,v)を求めると(15)式になる。
R(h,v)=R’(h,v)−(αr1−β1・θb)・A1(h−1,v−1)−(αr4−β2・θg)・A2(h,v−1)−(αr5−β3・θb)・A1(h+1,v−1),
G(h+1,v)=G’(h+1,v)−(αg2−γ1・θg)・A2(h,v−1)−(αg3−γ2・θb)・A1(h+1,v−1)−(αg6−γ3・θg)・A2(h+2,v−1) ・・・(15)
(15)式において、θb、θgは焦点検出用画素のひとつの光電変換部から出力される焦点検出用信号データをB撮像用画素およびG撮像用画素の画像データに近似的に変換するための変換係数であり、予め理論的にまたは実験的に定めてボディ駆動制御装置214に記憶しておく。
図21は、画面上の撮像用画素および焦点検出用画素の位置に応じてクロストークの影響が異なることを説明するための図(図では焦点検出用画素で代表している)である。図において、撮影レンズの光軸91上にある1対の光電変換部22,23を備えた焦点検出用画素20と、光軸91から距離Zだけ離れた位置にある1対の光電変換部32,33を備えた焦点検出用画素30を示しており、焦点検出用画素20への入射光線の入射角度(光軸となす角度)より焦点検出用画素30への入射光線の入射角度が大きくなっており、周囲の撮像用画素へのクロストーク量は焦点検出用画素30の方が大きくなる。
このようにクロストーク量が焦点検出用画素位置あるいは撮像用画素位置に応じて変化する場合には、クロストーク率を光軸からの距離に応じて測定して記憶しておき、クロストーク補正を行う際にクロストーク補正を行うデータを出力した焦点検出用画素の位置または撮像用画素の位置(光軸からの距離)に応じたクロストーク率を用いてクロストーク補正を行う。
また、上述したようにクロストークを発生する光線は、測距瞳以外の領域からも焦点検出用画素に入射する。このような光線は撮影光学系の射出瞳の大きさと射出瞳の距離(光軸上の焦点検出用画素から射出瞳までの距離)によって規定され、光軸外に配置された焦点検出用画素30に対しては、射出瞳大きさと射出瞳の距離に応じてクロストーク率が変化する。このような場合に対応するために、クロストーク補正に用いるクロストーク率を撮影光学系の射出瞳の大きさと射出瞳の距離に応じて測定し、射出瞳の大きさおよび射出瞳距離に応じたデータとして記憶しておき、クロストーク補正の際には撮像時の撮影光学系の射出瞳の大きさデータと射出瞳距離データとをレンズ駆動制御装置から受信し、この射出瞳大きさデータと射出瞳距離データに応じたクロストーク率を用いて撮像用画素の画像データに対しクロストーク補正を行う。
(10)、(11)、(14)、(15)式のクロストーク補正演算式においては、撮像用画素に隣接する3つの焦点検出用画素からのクロストーク補正を行っているが、撮像用画素に最も近い1つの焦点検出用画素からのクロストーク補正のみを行ったり、撮像用画素近傍の3つ以上の焦点検出用画素からのクロストーク補正を行うようにしてもよい。例えば、図13においてR’(h,v)を補正するために、A1(h+2,v−1)、A2(h+2,v−1)などを使用することができる。
(10)、(11)、(14)、(15)式のクロストーク補正演算式においては、焦点検出用画素に隣接する撮像用画素の画像データに対してクロストーク補正を行っているが、焦点検出用画素に直接隣接していなくても焦点検出用画素の近傍にあって、焦点検出用画素からのクロストークの影響を受ける撮像用画素の画像データに対して上述したようにクロストーク補正を行うことが可能である。
図22は、隣接した撮像用画素500と焦点検出用画素600の断面図を示す。撮像用画素500と焦点検出用画素600では、以下の項目において相違が考えられる。(1)マイクロレンズの曲率、焦点距離、サイズなどの光学特性、(2)フィルターの分光感度特性などの波長特性、(3)遮光メタルおよび配線メタルのレイアウトや間隔や厚さなどの構造的特性、(4)フォトダイオードの構造。このような相違に起因して、焦点検出用画素が周辺の撮像用画素に与えるクロストークの情況が、通常の撮像用画素が周辺の撮像用画素に与えるクロストークの情況と異なってくる。本発明はこのような焦点検出用画素と撮像用画素の構造の相違に起因したクロストーク量の相違を補正するものに対し、全般的に適用することが可能である。
なお、図3に示す撮像素子212では、撮像用画素がベイヤー配列の色フィルターを備えた例を示したが、色フィルターの構成や配列はこれに限定されることはなく、補色フィルター(緑:G、イエロー:Ye、マゼンタ:Mg,シアン:Cy)の配列を採用してもよい。
また、図3に示す撮像素子212において、焦点検出用画素には色フィルターを設けない例を示したが、撮像用画素と同色の色フィルターの内、ひとつのフィルター(例えば緑フィルター)を設けた場合でも本発明を適用することができる。
図5、図19に示す焦点検出用画素では光電変換部の形状を半円形にした例を示したが、光電変換部の形状はこれに限定されず、他の形状であってもよい。例えば、焦点検出用画素の光電変換部の形状を楕円、矩形、多角形などにすることも可能である。撮像素子の中に形状の異なる光電変換部を備えた焦点検出用画素配列を持つ場合には、それぞれの光電変換部の形状に対応したクロストーク率を測定記憶しておき、クロストーク補正を行う焦点検出用画素の光電変換部形状に応じてクロストーク率を切換えてクロストーク補正を行う。
図3に示す撮像素子212では、撮像用画素と焦点検出用画素を稠密正方格子配列にした例を示したが、これらの画素配列は稠密六方格子配列にしてもよい。
本発明は、CCDイメージセンサー、CMOSイメージセンサーのどちらに対しても適用することができる。
本発明に係わる撮像装置は、交換レンズがカメラボディに着脱可能に装着されるデジタルスチルカメラやフィルムスチルカメラに限定されない。例えば、レンズ一体型のデジタルスチルカメラやフィルムスチルカメラ、あるいはビデオカメラにも適用できる。また、携帯電話などに内蔵される小型カメラモジュールや監視カメラなどにも適用できる。さらには、カメラ以外の焦点検出装置、測距装置、ステレオ測距装置などにも適用できる。
一実施の形態のカメラの構成を示す横断面図 撮影画面上における焦点検出用画素の配置を示す図 撮像素子の詳細な構成を示す正面図 撮像用画素の構成を示す図 焦点検出用画素の構成を示す図 撮像用画素の分光感度特性を示す図 焦点検出用画素の分光感度特性を示す図 撮像用画素の断面図 焦点検出用画素の断面図 マイクロレンズを用いた瞳分割型位相差検出方式の焦点検出光学系の構成を示す図。 撮像用画素でクロストークが発生する原因を説明するための図 一実施の形態のデジタルスチルカメラ(撮像装置)の撮像動作を示すフローチャート 相関演算結果の評価方法を説明するための図 撮像用画素におけるクロストークの説明図 撮像用画素におけるクロストークの説明図 焦点検出用画素の位置の画像データを焦点検出用画素の周囲にある撮像用画素の画像データに基づいて補間する場合の説明図 面積の小さな光電変換部を備えた焦点検出用画素の周辺にある撮像用画素のクロストーク補正の説明図 焦点検出用画素のそれぞれが画素内にひとつの光電変換部を備えた撮像素子 変形例の焦点検出用画素の構成を示す図 図19に示す変形例の焦点検出用画素を配列した場合における、焦点検出用画素に隣接する撮像用画素の出力データのクロストーク補正の説明図 画面上の撮像用画素および焦点検出用画素の位置に応じてクロストークの影響が異なることを説明するための図 隣接した撮像用画素と焦点検出用画素の断面図
符号の説明
10;マイクロレンズ、11〜13、16、17;光電変換部、212、212A;撮像素子、214;ボディ駆動制御装置、310;撮像用画素、311、313、314;焦点検出用画素

Claims (16)

  1. 撮像用画素と焦点検出用画素とが平面上に配列され、光学系による像を撮像する撮像素子と、
    前記撮像用画素から出力される画像データを、該撮像用画素の近傍にある前記焦点検出用画素の出力データに基づいて補正する補正手段とを備えることを特徴とする撮像装置。
  2. 請求項1に記載の撮像装置において、
    前記焦点検出用画素は、前記撮像用画素と構造が異なることを特徴とする撮像装置。
  3. 請求項2に記載の撮像装置において、
    前記焦点検出用画素の光電変換部は、前記撮像用画素の光電変換部と面積が異なることを特徴とする撮像装置。
  4. 請求項2に記載の撮像装置において、
    前記焦点検出用画素の光電変換部は、前記撮像用画素の光電変換部と形状が異なることを特徴とする撮像装置。
  5. 請求項2に記載の撮像装置において、
    前記焦点検出用画素の光電変換部は、前記撮像用画素の光電変換部と位置が異なることを特徴とする撮像装置。
  6. 請求項2に記載の撮像装置において、
    前記撮像用画素と前記焦点検出用画素は、ともに前記光電変換部に光を集光させる集光部を備え、
    前記焦点検出用画素の集光部は、前記撮像用画素の集光部と構造が異なることを特徴とする撮像装置。
  7. 請求項1に記載の撮像装置において、
    前記焦点検出用画素は、前記撮像用画素と分光感度特性が異なることを特徴とする撮像装置。
  8. 請求項1〜7のいずれか1項に記載の撮像装置において、
    前記補正手段は、前記焦点検出用画素の光電変換部の面積に応じて補正量を変えることを特徴とする撮像装置。
  9. 請求項1〜7のいずれか1項に記載の撮像装置において、
    前記補正手段は、前記光学系の絞り開口F値に応じて補正量を変えることを特徴とする撮像装置。
  10. 請求項1〜7のいずれか1項に記載の撮像装置において、
    前記補正手段は、前記光学系による画面上の前記撮像用画素の位置に応じて補正量を変えることを特徴とする撮像装置。
  11. 請求項1〜7のいずれか1項に記載の撮像装置において、
    前記補正手段は、前記焦点検出用画素の光電変換部と前記撮像用画素の光電変換部との間の距離に応じて補正量を変えることを特徴とする撮像装置。
  12. 請求項1〜7のいずれか1項に記載の撮像装置において、
    前記撮像用画素は分光感度特性が異なる複数種類の撮像用画素からなり、
    前記補正手段は、前記撮像用画素の分光感度特性に応じて補正量を変えることを特徴とする撮像装置。
  13. 請求項1〜12のいずれか一項に記載の撮像装置において、
    前記焦点検出用画素の位置における画像データを、前記補正手段による補正後の前記撮像用画素の画像データに基づいて補間により求める補間手段を備えることを特徴とする撮像装置。
  14. 請求項1〜12のいずれか1項に記載の撮像装置において、
    前記焦点検出用画素は、前記光学系を通過する1対の光束が形成する1対の像に対応した1対の像信号を生成する光電変換部を有し、
    前記1対の像信号に基づいて前記1対の像の相対的なズレ量を求めることによって、前記光学系の焦点調節状態を検出する焦点検出手段を備えることを特徴とする撮像装置。
  15. 請求項14に記載の撮像装置において、
    前記焦点検出用画素は、1つのマイクロレンズと1対の光電変換部を有することを特徴とする撮像装置。
  16. 請求項14に記載の撮像装置において、
    前記焦点検出用画素は、1つのマイクロレンズと前記1対の光束の内の一方の光束を受光する光電変換部を有する第1の焦点検出用画素と、1つのマイクロレンズと前記1対の光束の内の他方の光束を受光する光電変換部を有する第2の焦点検出用画素とからなることを特徴とする撮像装置。
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012095061A (ja) * 2010-10-27 2012-05-17 Sony Corp 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法およびプログラム。
JP2013013007A (ja) * 2011-06-30 2013-01-17 Nikon Corp 撮像装置、画像処理装置、及びプログラム、並びに記録媒体
JP2013118573A (ja) * 2011-12-05 2013-06-13 Nikon Corp 撮像装置
JP2013148873A (ja) * 2011-12-19 2013-08-01 Canon Inc 撮像装置及びその制御方法
JP2014135452A (ja) * 2013-01-11 2014-07-24 Fujifilm Corp 固体撮像装置
JP2014178638A (ja) * 2013-03-15 2014-09-25 Canon Inc 撮像素子および撮像装置
JP2014230020A (ja) * 2013-05-21 2014-12-08 オリンパス株式会社 画像処理装置、画像処理方法、および画像処理用プログラム
JP5657184B2 (ja) * 2012-09-12 2015-01-21 富士フイルム株式会社 撮像装置及び信号処理方法
JP2016015590A (ja) * 2014-07-01 2016-01-28 キヤノン株式会社 撮像装置およびその制御方法ならびにプログラム
JP2016166784A (ja) * 2015-03-09 2016-09-15 キヤノン株式会社 計測装置
US9503616B2 (en) 2013-02-27 2016-11-22 Canon Kabushiki Kaisha Image capturing apparatus
WO2018008408A1 (ja) * 2016-07-06 2018-01-11 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置、補正方法、および電子装置
US9936105B2 (en) 2014-12-26 2018-04-03 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus and image processing method
JP2021039066A (ja) * 2019-09-05 2021-03-11 株式会社東芝 光検出装置及び電子装置
JPWO2021044573A1 (ja) * 2019-09-05 2021-03-11

Families Citing this family (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4321579B2 (ja) 2006-11-28 2009-08-26 ソニー株式会社 撮像装置
JP5322561B2 (ja) * 2008-09-25 2013-10-23 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP2010091943A (ja) * 2008-10-10 2010-04-22 Canon Inc 撮像装置
JP5543098B2 (ja) * 2008-11-14 2014-07-09 キヤノン株式会社 撮像装置
JP5152114B2 (ja) * 2009-06-30 2013-02-27 ソニー株式会社 画像処理装置及び画像処理方法、撮像装置、並びにコンピューター・プログラム
US8619163B2 (en) * 2009-09-18 2013-12-31 Canon Kabushiki Kaisha Solid state imaging using a correction parameter for correcting a cross talk between adjacent pixels
JP5126261B2 (ja) * 2010-03-18 2013-01-23 株式会社ニコン カメラ
JP2011244079A (ja) * 2010-05-14 2011-12-01 Canon Inc 立体映像制御装置及び立体映像制御方法
JP5616442B2 (ja) * 2010-06-09 2014-10-29 富士フイルム株式会社 撮像装置及び画像処理方法
WO2012046522A1 (ja) * 2010-10-04 2012-04-12 富士フイルム株式会社 撮像装置及び混色補正方法
JP5762002B2 (ja) * 2011-01-06 2015-08-12 キヤノン株式会社 撮像装置
JP5817301B2 (ja) * 2011-08-02 2015-11-18 ソニー株式会社 撮像素子、並びに、撮像装置および方法
EP2624569B1 (en) * 2012-02-06 2016-09-28 Harvest Imaging bvba Method for correcting image data from an image sensor having image pixels and non-image pixels, and image sensor implementing the same
JP6099892B2 (ja) * 2012-07-09 2017-03-22 パナソニック インテレクチュアル プロパティ コーポレーション オブ アメリカPanasonic Intellectual Property Corporation of America 映像表示装置
US9293500B2 (en) 2013-03-01 2016-03-22 Apple Inc. Exposure control for image sensors
US9276031B2 (en) 2013-03-04 2016-03-01 Apple Inc. Photodiode with different electric potential regions for image sensors
US9741754B2 (en) 2013-03-06 2017-08-22 Apple Inc. Charge transfer circuit with storage nodes in image sensors
US9549099B2 (en) 2013-03-12 2017-01-17 Apple Inc. Hybrid image sensor
US9319611B2 (en) 2013-03-14 2016-04-19 Apple Inc. Image sensor with flexible pixel summing
CN104051484B (zh) * 2013-03-15 2017-09-19 豪威科技股份有限公司 拥有具有增加的光学串扰的像素的图像传感器及其使用
US9215430B2 (en) * 2013-03-15 2015-12-15 Omnivision Technologies, Inc. Image sensor with pixels having increased optical crosstalk
EP2782331A1 (en) * 2013-03-22 2014-09-24 Harvest Imaging bvba Image sensor with focus-detection pixel, and method for reading focus-information
US9596423B1 (en) 2013-11-21 2017-03-14 Apple Inc. Charge summing in an image sensor
US9596420B2 (en) 2013-12-05 2017-03-14 Apple Inc. Image sensor having pixels with different integration periods
US9473706B2 (en) 2013-12-09 2016-10-18 Apple Inc. Image sensor flicker detection
US9349770B2 (en) * 2014-02-11 2016-05-24 Semiconductor Components Industries, Llc Imaging systems with infrared pixels having increased quantum efficiency
US10285626B1 (en) 2014-02-14 2019-05-14 Apple Inc. Activity identification using an optical heart rate monitor
US9232150B2 (en) 2014-03-12 2016-01-05 Apple Inc. System and method for estimating an ambient light condition using an image sensor
US9277144B2 (en) 2014-03-12 2016-03-01 Apple Inc. System and method for estimating an ambient light condition using an image sensor and field-of-view compensation
US9584743B1 (en) 2014-03-13 2017-02-28 Apple Inc. Image sensor with auto-focus and pixel cross-talk compensation
US9497397B1 (en) 2014-04-08 2016-11-15 Apple Inc. Image sensor with auto-focus and color ratio cross-talk comparison
US9538106B2 (en) 2014-04-25 2017-01-03 Apple Inc. Image sensor having a uniform digital power signature
US9686485B2 (en) 2014-05-30 2017-06-20 Apple Inc. Pixel binning in an image sensor
JP6442261B2 (ja) * 2014-06-05 2018-12-19 キヤノン株式会社 撮像素子及び撮像装置、及びその制御方法
JP2016038414A (ja) * 2014-08-05 2016-03-22 キヤノン株式会社 焦点検出装置およびその制御方法、並びに撮像装置
KR102219784B1 (ko) * 2014-12-15 2021-02-24 에스케이하이닉스 주식회사 컬러 필터 어레이 및 이를 구비한 이미지 센서
US9912883B1 (en) 2016-05-10 2018-03-06 Apple Inc. Image sensor with calibrated column analog-to-digital converters
US10438987B2 (en) 2016-09-23 2019-10-08 Apple Inc. Stacked backside illuminated SPAD array
JP2018093257A (ja) * 2016-11-30 2018-06-14 オリンパス株式会社 撮像装置
US10656251B1 (en) 2017-01-25 2020-05-19 Apple Inc. Signal acquisition in a SPAD detector
US10801886B2 (en) 2017-01-25 2020-10-13 Apple Inc. SPAD detector having modulated sensitivity
US10962628B1 (en) 2017-01-26 2021-03-30 Apple Inc. Spatial temporal weighting in a SPAD detector
US20180301484A1 (en) * 2017-04-17 2018-10-18 Semiconductor Components Industries, Llc Image sensors with high dynamic range and autofocusing hexagonal pixels
US10622538B2 (en) 2017-07-18 2020-04-14 Apple Inc. Techniques for providing a haptic output and sensing a haptic input using a piezoelectric body
US10440301B2 (en) 2017-09-08 2019-10-08 Apple Inc. Image capture device, pixel, and method providing improved phase detection auto-focus performance
US10931902B2 (en) 2018-05-08 2021-02-23 Semiconductor Components Industries, Llc Image sensors with non-rectilinear image pixel arrays
US11019294B2 (en) 2018-07-18 2021-05-25 Apple Inc. Seamless readout mode transitions in image sensors
US10848693B2 (en) 2018-07-18 2020-11-24 Apple Inc. Image flare detection using asymmetric pixels
CN117270155A (zh) 2018-07-20 2023-12-22 株式会社尼康 拍摄元件及拍摄装置
US11233966B1 (en) 2018-11-29 2022-01-25 Apple Inc. Breakdown voltage monitoring for avalanche diodes
US11516378B2 (en) * 2020-04-27 2022-11-29 Qualcomm Incorporated Methods and apparatus employing a phase detection autofocus (PDAF) optical system
US11563910B2 (en) 2020-08-04 2023-01-24 Apple Inc. Image capture devices having phase detection auto-focus pixels
US11519858B2 (en) 2021-01-11 2022-12-06 Ysi, Inc. Induced crosstalk circuit for improved sensor linearity
US11546532B1 (en) 2021-03-16 2023-01-03 Apple Inc. Dynamic correlated double sampling for noise rejection in image sensors
US12069384B2 (en) 2021-09-23 2024-08-20 Apple Inc. Image capture devices having phase detection auto-focus pixels

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6432773A (en) * 1987-07-29 1989-02-02 Canon Kk Image sensor
JPH01216306A (ja) * 1988-02-24 1989-08-30 Canon Inc 撮像手段を有した焦点検出装置
JPH10271519A (ja) * 1997-03-26 1998-10-09 Sony Corp 固体撮像装置
JP2000156823A (ja) * 1998-08-20 2000-06-06 Canon Inc 固体撮像装置及びその制御方法及び撮像装置及び光電変換セルの基本配列及び記憶媒体
JP2000305010A (ja) * 1999-04-20 2000-11-02 Olympus Optical Co Ltd 撮像装置
JP2001160973A (ja) * 1999-12-02 2001-06-12 Nikon Corp 固体撮像素子及び電子カメラ
JP2003078822A (ja) * 2001-08-31 2003-03-14 Hitachi Kokusai Electric Inc ビデオカメラ
JP2005116939A (ja) * 2003-10-10 2005-04-28 Nikon Corp 固体撮像素子
JP2005175682A (ja) * 2003-12-09 2005-06-30 Canon Inc 撮像装置
JP2006261594A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Canon Inc 固体撮像装置及びカメラ
JP2007103590A (ja) * 2005-10-03 2007-04-19 Nikon Corp 撮像素子、焦点検出装置、および、撮像システム
JP2007142697A (ja) * 2005-11-17 2007-06-07 Sony Corp 固体撮像素子の信号処理装置および信号処理方法並びに撮像装置
JP2007267228A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Canon Inc 画像処理装置及び画像処理方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6819360B1 (en) * 1999-04-01 2004-11-16 Olympus Corporation Image pickup element and apparatus for focusing
US6750437B2 (en) * 2000-08-28 2004-06-15 Canon Kabushiki Kaisha Image pickup apparatus that suitably adjusts a focus
JP4027113B2 (ja) * 2002-02-19 2007-12-26 キヤノン株式会社 撮像装置及びシステム
KR100784391B1 (ko) * 2006-09-06 2007-12-11 삼성전자주식회사 칼라 필터 어레이 그리고 그것을 포함하는 씨모스 이미지 센서
US20080080028A1 (en) * 2006-10-02 2008-04-03 Micron Technology, Inc. Imaging method, apparatus and system having extended depth of field

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6432773A (en) * 1987-07-29 1989-02-02 Canon Kk Image sensor
JPH01216306A (ja) * 1988-02-24 1989-08-30 Canon Inc 撮像手段を有した焦点検出装置
JPH10271519A (ja) * 1997-03-26 1998-10-09 Sony Corp 固体撮像装置
JP2000156823A (ja) * 1998-08-20 2000-06-06 Canon Inc 固体撮像装置及びその制御方法及び撮像装置及び光電変換セルの基本配列及び記憶媒体
JP2000305010A (ja) * 1999-04-20 2000-11-02 Olympus Optical Co Ltd 撮像装置
JP2001160973A (ja) * 1999-12-02 2001-06-12 Nikon Corp 固体撮像素子及び電子カメラ
JP2003078822A (ja) * 2001-08-31 2003-03-14 Hitachi Kokusai Electric Inc ビデオカメラ
JP2005116939A (ja) * 2003-10-10 2005-04-28 Nikon Corp 固体撮像素子
JP2005175682A (ja) * 2003-12-09 2005-06-30 Canon Inc 撮像装置
JP2006261594A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Canon Inc 固体撮像装置及びカメラ
JP2007103590A (ja) * 2005-10-03 2007-04-19 Nikon Corp 撮像素子、焦点検出装置、および、撮像システム
JP2007142697A (ja) * 2005-11-17 2007-06-07 Sony Corp 固体撮像素子の信号処理装置および信号処理方法並びに撮像装置
JP2007267228A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Canon Inc 画像処理装置及び画像処理方法

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012095061A (ja) * 2010-10-27 2012-05-17 Sony Corp 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法およびプログラム。
JP2013013007A (ja) * 2011-06-30 2013-01-17 Nikon Corp 撮像装置、画像処理装置、及びプログラム、並びに記録媒体
JP2013118573A (ja) * 2011-12-05 2013-06-13 Nikon Corp 撮像装置
US9479688B2 (en) 2011-12-19 2016-10-25 Canon Kabushiki Kaisha Image capture apparatus
JP2013148873A (ja) * 2011-12-19 2013-08-01 Canon Inc 撮像装置及びその制御方法
JP5657184B2 (ja) * 2012-09-12 2015-01-21 富士フイルム株式会社 撮像装置及び信号処理方法
JP2014135452A (ja) * 2013-01-11 2014-07-24 Fujifilm Corp 固体撮像装置
US9503616B2 (en) 2013-02-27 2016-11-22 Canon Kabushiki Kaisha Image capturing apparatus
JP2014178638A (ja) * 2013-03-15 2014-09-25 Canon Inc 撮像素子および撮像装置
JP2014230020A (ja) * 2013-05-21 2014-12-08 オリンパス株式会社 画像処理装置、画像処理方法、および画像処理用プログラム
JP2016015590A (ja) * 2014-07-01 2016-01-28 キヤノン株式会社 撮像装置およびその制御方法ならびにプログラム
US9936105B2 (en) 2014-12-26 2018-04-03 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus and image processing method
JP2016166784A (ja) * 2015-03-09 2016-09-15 キヤノン株式会社 計測装置
JPWO2018008408A1 (ja) * 2016-07-06 2019-04-18 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置、補正方法、および電子装置
JP7235906B2 (ja) 2016-07-06 2023-03-08 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置
US10863124B2 (en) 2016-07-06 2020-12-08 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state image pickup apparatus, correction method, and electronic apparatus
JP7500798B2 (ja) 2016-07-06 2024-06-17 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置、補正方法、および電子装置
US11968462B2 (en) 2016-07-06 2024-04-23 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state image pickup apparatus, correction method, and electronic apparatus
US11632603B2 (en) 2016-07-06 2023-04-18 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state image pickup apparatus, correction method, and electronic apparatus
JP7038050B2 (ja) 2016-07-06 2022-03-17 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置、補正方法、および電子装置
JP2022079483A (ja) * 2016-07-06 2022-05-26 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置
WO2018008408A1 (ja) * 2016-07-06 2018-01-11 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置、補正方法、および電子装置
JP7170889B2 (ja) 2019-09-05 2022-11-14 三菱電機株式会社 画像読取装置
JP7133523B2 (ja) 2019-09-05 2022-09-08 株式会社東芝 光検出装置及び電子装置
WO2021044573A1 (ja) * 2019-09-05 2021-03-11 三菱電機株式会社 画像読取装置
US11942489B2 (en) 2019-09-05 2024-03-26 Mitsubishi Electric Corporation Image reading device
JPWO2021044573A1 (ja) * 2019-09-05 2021-03-11
JP2021039066A (ja) * 2019-09-05 2021-03-11 株式会社東芝 光検出装置及び電子装置

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