JP5616442B2 - 撮像装置及び画像処理方法 - Google Patents

Description

本発明は、焦点検出用画素を有するイメージセンサを搭載した撮像装置に関するものであり、さらに詳しくは、焦点検出用画素のデータを補正して画像形成に用いる撮像装置及び画像処理方法に関する。

自動焦点調節機能を備えたデジタルカメラ等の撮像装置が普及している。自動焦点調節（以下、ＡＦという）には、被写体に赤外線や超音波等を照射し、反射光の結像位置や反射光が戻るまでの時間等に基づいて測距するアクティブ方式と、撮像レンズ等を通して得られる撮像画像を用いて焦点距離を検出するパッシブ方式が知られている。パッシブ方式のＡＦ機能は、画面の全部又は指定範囲内の画像のコントラストが最大になるように焦点調節を行うコントラスト検出方式や、視差（位相差）がある位置に配置された２つのイメージセンサから出力される画像データの相関関係に基づいて焦点調節を行う位相差検出方式が知られている。

特に近年では、１つのイメージセンサの画素配列の中に、左右（あるいは上下）に非対称な構造を持つ画素を焦点検出用画素（以下、位相差画素という）として設けておくことで、ＡＦ時に１つのイメージセンサで位相差検出方式を行う撮像装置が知られている。しかし、位相差画素は、前述のように非対称な構造を持った画素であるため、通常の画素と比較して感度が低い等、その特性が異なっているために、位相差画素の部分は、撮影画像の中で暗くなったり、色つきが生じたりして、ノイズとなる。このため、位相差画素を有するイメージセンサを用いた撮像装置では、撮影画像における位相差画素のデータを補正することが知られている。

位相差画素のデータを補正する方法としては、平均値補正と、ゲイン補正の２種類の方法が知られている。平均値補正は、位相差画素の周囲に隣接する通常画素の画素値（輝度）を平均し、これを位相差画素の画素値とする補正方法である（特許文献１）。また、ゲイン補正は、位相差画素の画素値に、所定のゲインを乗じて位相差画素の画素値を引き上げる補正方法である（特許文献１，２）。

特開２００９−３０３１９４号公報 特開２０００−３０５０１０号公報

位相差画素の補正方法は、前述のように平均値補正とゲイン補正の２種類が知られているが、撮影画像の内容によっては、良好な補正を行える画像と、補正によってかえってノイズが目立ってしまう画像がある。平均値補正は、位相差画素の周囲に高周波のエッジ成分がない平坦な画像の場合に好適な補正が行える。一方、位相差画素の周囲に高周波のエッジ成分がある画像に平均値補正を施すと、折り返しによる偽色が生じるという欠点がある。また、ゲイン補正は、位相差画素の周囲に高周波のエッジ成分があっても影響を受けずに好適な補正が行える。一方、位相差画素の周囲に高周波のエッジ成分がない平坦な画像の場合には、画素値をゲインを乗じて引き上げるため、かえってノイズが目立つという欠点がある。特に、フレアやゴースト等、通常の入射角度以外の光によって生じるノイズがあるときには、こうしたノイズ成分によって通常画素と位相差画素の感度比がズレてしまうため、ゲイン補正では正確に位相差画素の画素値を補正できないことがある。

こうしたことから、位相差画素の画素値の補正方法として、平均値補正とゲイン補正の一方だけを採用すると、撮影画像の内容によっては位相差画素の画素値を補正したことでかえって画質が劣化し、いわゆる補正痕を発生させることがある。このため、撮影画像の内容に応じてこれらの補正方法を使い分けたり、あるいは補正痕を低減する工夫が求められる。

撮影画像の内容に応じて補正方法を使い分ける例としては、特許文献２に記載されているように、高周波成分の有無を検出し、その結果に応じて前述の２つの補正方法を使い分ける例が知られている。また、位相差画素の画素値を補正する前にガンマ補正処理等の各種画像処理を行うと、位相差画素と通常画素の感度差を反映して偽色等が生じて画質が劣化してしまうため、通常、位相差画素の画素値の補正はこうした各種画像処理を施す前に行われる。しがたって、各種画像処理が施されることによって顕在化するような高周波成分を検出することは難しい。このため、前述のように、高周波成分の有無を検出して、その結果だけにしたがって、平均値補正とゲイン補正のいずれか一方を選択する方法では、良好な補正が行えないことがある。

本発明の目的は、補正痕の発生を低減しながら、位相差画素の画素値を適切に補正する撮像装置及び画像処理方法を提供することにある。

上記目的を達成するために、本発明の撮像装置は、イメージセンサと、合焦評価部と、第１補正値算出部と、焦点検出用画素補正部とを備えている。イメージセンサは、撮像面内に通常画素と焦点検出用画素とが所定パターンで配列され、これらの画素から一画面分の撮像信号を出力する。合焦評価部は、前記一画面分の撮像信号から前記焦点検出用画素の輝度を参照して合焦状態の評価を行う。第１補正値算出部は、前記焦点検出用画素の輝度に所定のゲインを乗じた第１補正値を算出する。焦点検出用画素補正部は、前記第１補正値と、前記焦点検出用画素の周囲に配置された所定数の前記通常画素の輝度を比較し、前記第１補正値が前記所定数の通常画素の輝度のうちの最大値以下かつ最小値以上の通常範囲内である場合には、前記焦点検出用画素の輝度を前記第１補正値に置き換え、前記第１補正値が前記通常範囲外である場合には、前記所定数の通常画素の輝度を平均して第２補正値を算出し、前記焦点検出用画素の輝度を前記第２補正値に置き換える。この置き換えにより、前記焦点検出用画素の輝度が補正される。

前記欠陥画素の輝度を補正する欠陥画素補正部を備えることが好ましい。この欠陥画素補正部は、前記通常画素のなかで欠陥のある欠陥画素の位置が予め記憶されるとともに、前記欠陥画素の周囲に配置された欠陥のない複数の前記通常画素の輝度を平均して第３補正値を算出し、前記欠陥画素の輝度を前記第３補正値に置き換える。

また、前記欠陥画素補正部は、前記欠陥画素が複数隣接し合って欠陥画素群を形成している場合には、前記欠陥画素群の周囲に配置された前記通常画素の輝度を平均して前記第３補正値を算出することが好ましい。

また、前記焦点検出用画素に隣接して前記欠陥画素があるか否かを判別する判別部を備えることが好ましい。この判別部が、前記焦点検出用画素に隣接して前記欠陥画素があることを判別した場合に、前記焦点検出用画素補正部は、前記焦点検出用画素の輝度を前記第１補正値に置き換えることにより、前記焦点検出用画素の輝度を補正する。

また、前記焦点検出用画素に隣接して前記欠陥画素があるか否かを判別する判別部を備えることが好ましい。この判別部が、前記焦点検出用画素に隣接して前記欠陥画素があると判別した場合、当該焦点検出用画素の輝度を前記欠陥画素補正部によって前記第３補正値で置き換える。

また、前記判別手段は、前記焦点検出用画素に隣接して前記欠陥画素がある場合に、当該焦点検出用画素の位置を前記欠陥画素として登録するのが望ましい。前記欠陥画素補正部は、前記欠陥画素の輝度を補正するときに、登録された前記焦点検出用画素を前記欠陥画素とみなし、前記欠陥画素の輝度及び前記登録された焦点検出用画素の輝度を前記第３補正値で置き換える。

また、前記イメージセンサは、各々独立した条件で動作をする第１画素群と第２画素群を備えるのが望ましい。前記焦点検出用画素補正部は、前記第１画素群と前記第２画素群とが互いに異なる露光時間で撮影を行う場合に、前記所定数の通常画素として同じ群内の前記通常画素を用いる。そして、前記第１画素群と前記第２画素群とが同じ露光時間で撮影を行う場合には、前記所定数の通常画素として、前記第１画素群及び前記第２画素群に含まれる前記通常画素を用いる。

本発明の画像処理方法は、合焦評価ステップと第１補正値算出ステップと焦点検出用画素補正ステップを備える。合焦評価ステップは、撮像面内に通常画素と焦点検出用画素とが所定パターンで配列されたイメージセンサから出力される一画面分の撮像信号から前記焦点検出用画素の輝度を参照して合焦状態の評価を行う。第１補正値算出ステップは、前記焦点検出用画素の輝度に所定のゲインを乗じた第１補正値を算出する。焦点検出用画素補正ステップは、前記第１補正値と、前記焦点検出用画素の周囲に配置された所定数の前記通常画素の輝度を比較し、前記第１補正値が前記所定数の通常画素の輝度のうちの最大値以下かつ最小値以上の通常範囲内である場合には、前記焦点検出用画素の輝度を前記第１補正値に置き換え、前記第１補正値が前記通常範囲外である場合には、前記所定数の通常画素の輝度を平均して第２補正値を算出し、前記焦点検出用画素の輝度を前記第２補正値に置き換えることにより、前記焦点検出用画素の輝度を補正する。

本発明によれば、補正痕の発生を低減しながら、位相差画素の画素値を適切に補正することができる。特に、フレアやゴースト等、通常の入射角度以外の光によって生じるノイズがある場合にも位相差画素の画素値を好適に補正することができる。

デジタルカメラの正面斜視図である。 デジタルカメラの背面図である。 デジタルカメラの電気的構成を概略的に示すブロック図である。 ＣＣＤの画素配列と、画素のうち位相差画素の補正に用いられるものを示す説明図である。 位相差画素の画素値を補正する様態を示すフローチャートである。 欠陥画素に隣接して欠陥画素がある場合に、欠陥画素の画素値を平均値補正によって補正する様態を示す説明図である。 位相差画素の周辺に欠陥画素がある場合に位相差画素の画素値を補正する様態を示すフローチャートである。 位相差画素の周辺に欠陥画素がある場合に特に好適に位相差画素の画素値を補正する様態を示すフローチャートである。 露光時間の異なる２種類の撮影をほぼ同時に行うことができるＣＣＤの画素配列を模式的に示す説明図である。 露光時間が異なる２種類の撮影をほぼ同時に行うことがＣＣＤを用いて、全ての画素を同じ露光時間で用いる場合の様態を示す説明図である。

図１に示すように、デジタルカメラ（撮像装置）１１は、ほぼ直方体状に形成されたカメラ本体１２の前面に、撮影レンズ１３を保持するレンズ鏡筒１４と、撮影実行の際に被写体を照明するフラッシュ発光部１６とが設けられている。また、カメラ本体１２の上面には、撮影実行を指示するレリーズボタン１７、電源のＯＮ／ＯＦＦを切り替える電源ボタン１８、ズーム操作を行うためのズームレバー１９等が設けられている。レリーズボタン１７は、２段階押しのスイッチとなっており、レリーズボタン１７を軽く押圧（半押し）すると、ＡＦ等の各種撮影準備処理が実行される。レリーズボタン１７を半押し状態からさらに押圧（全押し）すると、デジタルカメラ１１に撮影実行が指示され、撮影準備処理が施された１画面分の撮像信号が画像データに変換される。

図２に示すように、カメラ本体１２の背面には、液晶ディスプレイ２１、モード選択ボタン２２、メニューボタン２３が設けられている。液晶ディスプレイ２１には、撮影した画像や、撮影の待機時にスルー表示されるいわゆるスルー画像、各種メニュー画面などが表示される。モード選択ボタン２２は、デジタルカメラ１１の動作モードを切り替える際に操作される。デジタルカメラ１１は、静止画像を取得する静止画撮影モード、動画像を取得する動画撮影モード、取得した各画像を液晶ディスプレイ２１に再生表示する再生モード等の複数の動作モードが設けられており、モード選択ボタン２２の操作によってこれらの各動作モードが切り替わる。メニューボタン２３は、液晶ディスプレイ２１に各種のメニュー画面を表示させる際に操作される。

図３に示すように、レンズ鏡筒１４には、モータ３１が接続されている。モータ３１はギアなどの伝達機構を介してレンズ鏡筒１４に駆動力を伝え、レンズ鏡筒１４の繰り出し／繰り込みを行う。また、図示を簡略化してあるが、撮影レンズ１３は複数枚のレンズからなるレンズ群であり、レンズ鏡筒１４の繰り出し／繰り込みに応じて各レンズの間隔が変化する。さらに、撮影レンズ１３には撮影倍率を変化させる光学系の他に、開口面積を変化させることによって撮影光量を調節する絞り機構や、撮影光軸Ｌ方向に移動することによって撮影レンズ１３の焦点を調節するフォーカシングレンズが設けられている。

撮影レンズ１３の背後には、撮影レンズ１３によって結像された被写体像を撮像するイメージセンサ、例えばＣＣＤ３２が配置されている。ＣＣＤ３２にはタイミングジェネレータ（ＴＧ）３３が接続されており、ＣＣＤ３２は、このＴＧ３３から入力されるタイミング信号により電子シャッタのシャッタ速度やフレームレートが定められる。シャッタ速度とフレームレートは、それぞれに複数の設定が予め用意されており、これらの設定は、メニューボタン２３の押下することにより液晶ディスプレイ２１に表示され、モード選択ボタン２２の操作等により適宜変更される。

また、ＣＣＤ３２は、被写体からの光を光電変換する画素３２ａ（図４参照）が平面に配列されたいわゆるエリアイメージセンサである。但し、ＣＣＤ３２は、撮像面内の全ての画素が、撮影光軸Ｌに対してほぼ対称な構造に形成された通常の画素（以下、通常画素という）からなる通常のエリアイメージセンサとは異なり、被写体からの光の入射角度によってはこれを遮光するように、撮影光軸Ｌに対して非対称な構造に形成された画素（以下、位相差画素という）Ｇ_ＡＦ（図４参照）が撮像面内の複数の所定箇所に設けられている。位相差画素Ｇ_ＡＦは、撮像レンズ３２の光軸に対して上下または左右のいずれかの方向に非対称な構造に形成されていると同時に、上（左）側が遮光された位相差画素Ｇ_ＡＦと、下（右）側が遮光された位相差画素Ｇ_ＡＦが１対になるように、複数配置されている。

前記位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値は、後述するようにＡＦ検出回路４６において合焦評価値の算出に用いられる。同時に、位相差画素Ｇ_ＡＦは非対称構造に形成されているために、通常画素よりも画素値が小さく暗い等の固有の特性を示すが、最終的に液晶ディスプレイに表示されたり、メモリカード６２に記録される撮影画像では、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値（輝度値）は、後述する位相差画素補正部４７によってその値が補正される。また、各位相差画素Ｇ_ＡＦの位置座標や通常画素との感度比やこれに基づいて定められるゲイン補正で用いるゲイン値（後述）は、予め求めておき、これらのデータは後述するＥＥＰＲＯＭ６０に記憶している。

ＣＣＤ３２は、相関二重サンプリング回路（ＣＤＳ）３４に接続され、ＣＤＳ３４によってノイズを除去しながらＣＣＤ３２の各画素３２ａの蓄積電荷量に正確に比例したアナログの撮像信号を出力する。また、ＣＣＤ３２からの撮像信号は、一画面分を単位として出力される。この撮像信号は、増幅器（ＡＭＰ）３６で増幅された後に、Ａ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ）３７でデジタルの画像データに変換され、ＳＤＲＡＭ４１に一時的に記憶される。これらのＣＤＳ３４、ＡＭＰ３６、Ａ／Ｄ３７の動作は、画像入力コントローラ４２によって制御される。画像入力コントローラ４２は、システムバス４３を介してＣＰＵ４４に接続されており、ＣＰＵ４４からの制御命令に応じて、ＣＤＳ３４、ＡＭＰ３６、Ａ／Ｄ３７の動作を制御する。

ＡＦ検出回路４６は、Ａ／Ｄ３７でデジタル化された画像データを基に撮影レンズ１３の合焦評価値を算出し、ＣＰＵ４４に入力する。また、合焦評価値は、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を用いることにより、位相差検出方式によって算出される。ＣＰＵ４４は、こうしてＡＦ検出回路４６から入力される合焦評価値に基づいて、撮影レンズ１３を合焦位置に移動させる。

本実施形態では、画素３２ａには、撮像用の通常画素と、撮像及びＡＦ用の位相差画素Ｇ_ＡＦとがある。また、通常画素には、正常動作する正常画素と、構造的な欠陥によって設計通りに作動しない欠陥画素Ｇ_ＮＧ（図４参照）がある。これらのうち位相差画素Ｇ_ＡＦと、欠陥画素Ｇ_ＮＧは、画素補正（輝度補正）が必要な特殊画素に該当する。

特殊画素補正部４８は、これらの特殊画素に対しては、画素値をＳＤＲＡＭ４１から読み出すと同時に、画素値の補正を行う。このため、特殊画素補正部４８は、各画素の画素値を一つずつ読み読み込むと同時に、その位置座標をＥＥＰＲＯＭ６０に記憶された位相差画素Ｇ_ＡＦや欠陥画素Ｇ_ＮＧの位置座標のデータ（以下、座標データという）と照合し、画素値を読み込んだ画素が、位相差画素Ｇ_ＡＦ，欠陥画素Ｇ_ＮＧ，正常画素のいずれの種類の画素であるか識別する。

また、特殊画素補正部４８は、位相差画素Ｇ_ＡＦや欠陥画素Ｇ_ＮＧの補正（輝度補正）に、ゲイン補正または平均値補正のうち、少なくともいずれか一方の補正方法を用いる。ゲイン補正は、読み込んだ画素値に所定のゲインを乗じた値（第１補正値）を算出し、この値を、新たな画素値として更新する補正方法である。また、平均値補正は、補正対象の画素と同色で、補正対象の画素に最も近接して配置された複数の通常画素の画素値の平均値（第２補正値）を算出し、その値を新たな画素値として更新する補正方法である。

さらに、特殊画素補正部４８は、平均値補正によって欠陥画素の画素値を補正する。すなわち、特殊画素補正部４８は、欠陥画素に隣接して配置された複数の正常画素の画素値の平均値（第３補正値）を算出し、これを欠陥画素の新たな画素値とする。また、このとき、特殊画素補正部４８は、画素値を読み込んだ欠陥画素に隣接して、他の欠陥画素（以下、隣接欠陥画素という）がある場合には、この隣接欠陥画素の画素値は参照せずに、隣接欠陥画素についで補正対象の欠陥画素に近接して配置された正常画素の画素値を参照して、これらの画素の画素値の平均値（第３補正値）を算出することにより、平均値補正を行う。したがって、複数の欠陥画素が隣接している場合には、特殊画素補正部４８は、これらの欠陥画素をまとめて一つの大きな欠陥画素群とみなし、この欠陥画素群の周囲に配置された正常画素の画素値を用いた平均値補正を行う。なお、こうして特殊画素補正部４８によって位相差画素Ｇ_ＡＦや欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値が補正された画像データは、画像信号処理回路５３に入力される。

画像信号処理回路５３には、位相差画素補正部４７によって位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値が補正された画像データが入力される。画像信号処理回路５３は、この画像データに、階調変換処理、ホワイトバランス補正、ガンマ補正処理等の各種画像処理を施してから、再度ＳＤＲＡＭ４１に書き込む。

ＹＣ変換処理回路５６は、画像信号処理回路５３によって各種画像処理が施された画像データをＳＤＲＡＭ４１から読み出し、輝度信号Ｙと色差信号Ｃｒ，Ｃｂとに変換する。得られたＹＣデータは、再びＳＤＲＡＭ４１に記憶される。

ＡＥ／ＡＷＢ検出回路５７は、輝度信号Ｙと色差信号Ｃｒ，Ｃｂとの積算値を基に、被写体の輝度を表す測光値を算出し、この算出結果をＣＰＵ４４に送信する。ＣＰＵ４４は、ＡＥ／ＡＷＢ検出回路５７から送信される測光値に基づいて、露出量及びホワイトバランスの適否を判断するとともに、これらが最適な値になるように撮影レンズ１３の絞り機構やＣＣＤ３２等の動作を制御する。

液晶ドライバ５８は、ＹＣデータをＳＤＲＡＭ４１から読み出し、アナログのコンポジット信号に変換して液晶ディスプレイ２１に表示する。また、ＣＣＤ３２から順次出力される撮像信号に基づいて生成された画像データを、順次液晶ディスプレイ２１に出力することにより、いわゆるスルー画像が液晶ディスプレイ２１に表示される。

圧縮伸張処理回路５９は、ＹＣデータを所定形式のファイルフォーマットに変換することにより、静止画像ファイルや動画像ファイルを生成する。得られた静止画像ファイルや動画像ファイルがいわゆる撮影画像である。

ＣＰＵ４４は、レリーズボタン１７、ズームレバー１９、モード選択ボタン２２、メニューボタン２３等の各種操作部材が接続されている。これらの操作部材の操作が検出されると、その検出信号はＣＰＵ４４に入力される。また、ＣＰＵ４４は、システムバス４３を介してデジタルカメラ１１の各部とドライバ等を介して接続されており、前述の操作部材やデジタルカメラ１１の各部から入力される。そして、ＣＰＵ４４は、これらの各種信号に基づいて、デジタルカメラ１１各部に、制御信号を送信することにより、デジタルカメラ１１を統括的に制御する。

メディアコントローラ６１は、メディアスロット（図示しない）に着脱自在に装着されたメモリカード６２にアクセスし、生成された撮影画像の読み書きを行う。フラッシュ制御部６３は、ＣＰＵ４４から送信されるフラッシュ発光信号に応じてフラッシュ発光部１６を発光させる。

また、デジタルカメラ１１には、ＥＥＰＲＯＭ６０が備えられている。このＥＥＰＲＯＭ６０には、ＣＰＵ４４に読み出され、デジタルカメラ１１を動作させるためのプログラムや、位相差画素Ｇ_ＡＦの座標データ、欠陥画素Ｇ_ＮＧの座標データ、ゲイン補正で用いられるゲイン等が予め記憶されている。

まず、図４に示すように、ＣＣＤ３２の画素３２ａはいわゆるハニカム配列に設けられており、各画素は正方格子を４５度回転させた格子点に配置される。また、各画素３２ａ上に付したＲ，Ｇ，Ｂはカラーフィルタの色を表しており、その配色は、赤色（Ｒ）：緑色（Ｇ）：青色（Ｂ）＝１：２：１の割合で設けられている。Ｒ画素とＢ画素が交互に配置された行（Ｘ方向）と、Ｇ画素だけが配列された行が交互に、かつ、各行１／２画素分だけ画素３２ａの配置をずらしながら配置されている。また、ＣＣＤ３２は、Ｘ方向がデジタルカメラ１１の横方向（長手方向）に対応し、Ｙ方向がデジタルカメラ１１の縦方向（短手方向）に対応するように配置される。

画素３２ａには、Ｘ方向（又はＹ方向）に非対称な構造に形成された位相差画素が含まれている。図４に示す実施形態では、緑色のカラーフィルタＧが配置されたＧ画素のうちの一部が位相差画素Ｇ_ＡＦに形成されている。また、撮像用の通常画素には、正常に動作しない欠陥画素も含まれていることがある。図４では、Ｇ画素の１つを欠陥画素Ｇ_ＮＧとしている。な、位相差画素Ｇ_ＡＦ、欠陥画素Ｇ_ＮＧ以外の画素は、正常動作する正常画素である。

特殊画素補正部４８が位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正するときに参照する画素は、位相差画素Ｇ_ＡＦに最も近接して配置された同色の４つのＧ画素Ｇａ〜Ｇｄの画素値が参照される。同様に、特殊画素補正部４８が欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値を平均値補正する場合には、欠陥画素Ｇ_ＮＧを中心として、位相差画素Ｇ_ＡＦの補正と同様の位置関係にあるＧ画素Ｇｄ，Ｇｃ，Ｇｅ，Ｇｆの画素値が参照される。以下では、補正対象の位相差画素Ｇ_ＡＦや欠陥画素Ｇ_ＮＧを中心として、これに最も近接して配置された同色の通常画素を周辺画素という。したがって、図４では、位相差画素Ｇ_ＡＦの周辺画素はＧ画素Ｇａ〜Ｇｄであり、Ｇ画素Ｇｄ，Ｇｃ，Ｇｅ，Ｇｆは欠陥画素Ｇ_ＮＧの周辺画素である。

次にデジタルカメラ１１の作用について説明する。電源ボタン１８を押下してデジタルカメラ１１の各部を起動させた後、モード選択ボタン２２を押下して静止画撮影モードまたは動画撮影モードを選択し、デジタルカメラ１１を撮影待機状態にする。こうしてデジタルカメラ１１が撮影待機状態になると、ＣＰＵ４４によってＴＧ３３が制御され、ＴＧ３３から出力されるタイミング信号によってＣＣＤ３２が駆動される。このとき、ＣＰＵ４４はメニュー画面を介してユーザが設定したシャッタ速度及びフレームレートに応じてＣＣＤ３２を駆動させる。また、ＣＣＤ３２は、ＴＧ３３からのタイミング信号に応答して、撮影レンズ１３によって撮像面に結像された被写体像に応じた撮像信号を出力し、これをデジタル化した画像データがＳＤＲＡＭ４１に一時的に記憶される。

ＡＦ検出回路４６は、ＣＰＵ４４からの指示に基づいて、こうしてデジタル化された画像データをＳＤＲＡＭ４１から読み出し、これに含まれる位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値に基づいて合焦評価値を算出して、ＣＰＵ４４に入力する（合焦評価ステップ）。ＣＰＵ４４は、入力された合焦評価値に応じて、モータ３１を駆動し、撮影レンズ１３を合焦位置に移動させる。

こうしてＡＦ動作が行われると同時に、特殊画素補正部４８は、ＡＦ検出回路４６で読み出されるものと同じデジタルの画像データをＳＤＲＡＭ４１から読み出して、位相差画素Ｇ_ＡＦ及び欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値を補正し、画像信号処理回路５３に入力する。画像信号処理回路５３では、全画素の画像データ、すなわち位相差画素Ｇ_ＡＦ及び欠陥画素Ｇ_ＮＧの補正済み画像データ及び正常画素の画像データに対してガンマ補正処理等の各種画像処理が施される。画像信号処理回路５３で各種画像処理が施された画像データは、ＹＣ変換処理回路５６でＹＣ変換処理を施された後、液晶ディスプレイ２１に表示されたり、圧縮伸張処理回路５９によってこの画像データに基づいて撮影画像が生成され、メモリカード６２に記憶される。

特殊画素補正部４８による位相差画素Ｇ_ＡＦ及び欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値の補正（輝度補正）は、図５に示す手順に沿って行われる。まず、特殊画素補正部４８は、ＳＤＲＡＭ４１から画像データを読み出すときに、画像データの各画素の画素値を一つずつ読み出す。同時に、特殊画素補正部４８は、画素値を読み出した画素の位置座標と、位相差画素Ｇ_ＡＦの座標データと照合することにより、画素値を読み出した画素が位相差画素Ｇ_ＡＦであるか否かを判別する（ステップＳ１１）。

画素値を読み出した画素が位相差画素Ｇ_ＡＦであった場合、特殊画素補正部４８は、この位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値をゲイン補正した場合の画素値を算出する（ステップＳ１２，第１補正値算出ステップ）。すなわち、特殊画素補正部４８は位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を読み込むと、この位相差画素Ｇ_ＡＦに対応して予め定められたゲインαをＥＥＰＲＯＭ６０から読み出し、画像データとして読み込んだ元の画素値ＣＶに乗じ、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値ＣＶをゲイン補正した場合の画素値α・ＣＶを算出する。

次いで、特殊画素補正部４８は、位相差画素Ｇ_ＡＦに対する周辺画素Ｇａ〜Ｇｄ（図４参照）の画素値を取得し、ゲイン補正後の位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値α・ＣＶを周辺画素Ｇａ〜Ｇｄ（図４参照）の各画素値とそれぞれ比較する（ステップＳ１３，焦点検出用画素補正ステップ）。このとき、ゲイン補正後の位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値が、周辺画素Ｇａ〜Ｇｄの画素値のうち最大値以下の値であり、かつ、最小値以上の値であるとき（通常範囲）には、特殊画素補正部４８は、読み込んだ位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値ＣＶをゲイン補正した場合の画素値α・ＣＶに置き換えることにより、この位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値をゲイン補正する。例えば、周辺画素Ｇａ〜Ｇｄの画素値をそれぞれＣＶ_ａ，ＣＶ_ｂ，ＣＶ_ｃ，ＣＶ_ｄとし、これらの値のうちの最大値がＣＶ_ａ、最小値がＣＶ_ｄであった場合、ＣＶ_ｄ≦α・ＣＶ≦ＣＶ_ａを満たす場合には、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値をもとの画素値ＣＶをゲイン補正後の画素値α・ＣＶで置き換える。

一方、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶが周辺画素Ｇａ〜Ｇｄの画素値のどれよりも大きい場合（α・ＣＶ＞ＣＶ_ａ，ＣＶ_ｂ，ＣＶ_ｃ，ＣＶ_ｄ）、またはゲイン補正後の画素値α・ＣＶが周辺画素の画素値のどれよりも小さい場合（α・ＣＶ＜ＣＶ_ａ，ＣＶ_ｂ，ＣＶ_ｃ，ＣＶ_ｄ）には、特殊画素補正部４８は、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を平均値補正によって補正する（ステップＳ１４，焦点検出用画素補正ステップ）。この２つの場合には、特殊画素補正部４８は、周辺画素Ｇａ〜Ｇｄの画素値ＣＶ_ａ，ＣＶ_ｂ，ＣＶ_ｃ，ＣＶ_ｄの平均値ＣＶ_ＡＶＥを算出し、これを位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を元の画素値ＣＶから周辺画素の画素値の平均ＣＶ_ＡＶＥに置き換える。

こうして、特殊画素補正部４８は、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を読み込むと、ゲイン補正または平均値補正のいずれかによって読み込んだ位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正する。

また、ステップＳ１１で、画素値を読み出した画素の位置座標が位相差画素Ｇ_ＡＦの座標データに登録されておらず、画素値を読み出した画素が位相差画素Ｇ_ＡＦでなかった場合には、特殊画素補正部４８は、さらに、画素値を読み出した画素の位置座標を欠陥画素Ｇ_ＮＧの座標データと照合し、画素値を読み出した画素が欠陥画素Ｇ_ＮＧであるか否かを判別する（ステップＳ１５）。このとき、画素値を読み出した画素の位置座標が欠陥画素Ｇ_ＮＧの座標データに登録されておらず、画素値を読み出した画素が、位相差画素Ｇ_ＡＦでもなく、欠陥画素Ｇ_ＮＧでもない場合には、特殊画素補正部４８は、画素値を読み出した画素が正常画素であると判断する。この正常画素に対しては、ゲイン補正及び平均値補正のいずれも行わずに、読み出した画素値をそのままその画素の画素値とする。

一方、画素値を読み出した画素の位置座標が欠陥画素Ｇ_ＮＧの座標データに登録されており、画素値を読み出した画素が欠陥画素Ｇ_ＮＧであった場合、特殊画素補正部４８は、この欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値を平均値補正によって補正する（ステップＳ１６）。例えば、欠陥画素Ｇ_ＮＧの周辺画素Ｇｄ，Ｇｃ，Ｇｅ，Ｇｆ（図４参照）が全て正常画素である場合には、これらの周辺画素Ｇｄ，Ｇｃ，Ｇｅ，Ｇｆの画素値を平均し、これを欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値を、読み出した元の画素値から、算出した周辺画素Ｇｄ，Ｇｃ，Ｇｅ，Ｇｆの画素値の平均値に置き換える。また、欠陥画素Ｇ_ＮＧの周辺画素Ｇｄ，Ｇｃ，Ｇｅ，Ｇｆに欠陥画素が含まれている場合には、欠陥画素Ｇ_ＮＧとその隣接欠陥画素を一つの欠陥画素群とみなし、この欠陥画素群の周囲の周辺画素の画素値を平均し、その値を欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値とする。

例えば、図６に示すように、欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値を補正する場合に、右隣に位置する周辺画素Ｇｄが欠陥画素（隣接欠陥画素）であるとすると、特殊画素補正部４８は、欠陥画素Ｇ_ＮＧと周辺画素Ｇｄをひとまとまりの欠陥画素群６８とみなす。そして、この欠陥画素群６８に最も近いＧ画素Ｇｃ，Ｇｅ，Ｇｆ，Ｇｇ，Ｇｈ，Ｇｉを周辺画素として、これらの各画素の画素値の平均値を算出し、欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値を、読み出した元の画素値からここで算出した値に置き換える。

こうして画像データの画素のうち、全ての位相差画素Ｇ_ＡＦに対しては、その画素値にゲイン補正または平均値補正が施され、また、全ての欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値に平均値補正が施されるる。特殊画素補正部４８は、全ての特殊画素Ｇ_ＡＦ，Ｇ_ＮＧの画素値の補正が完了した画像データを画像信号処理回路５３に入力する。画像信号処理回路５３は、特殊画素補正部４８から入力される画像データ及び正常画素の画像データに各種画像処理を施し、次にＹＣ変換処理回路５６がＹＣ変換処理を施す。その後、圧縮伸張処理回路５９によって静止画像（動画像）ファイルに変換され、記録画像としてメモリカード６２に記憶されたり、スルー画像として液晶ディスプレイ２１に表示される。

以上のように、デジタルカメラ１１は、１つのイメージセンサを用いて位相差検出方式でＡＦを行うために、焦点検出用の位相差画素Ｇ_ＡＦが設けられた撮像装置であり、ゲイン補正または平均値補正によって位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正して撮影画像を得る。このとき、デジタルカメラ１１は、位相差画素Ｇ_ＡＦの元の画素値ＣＶではなく、ゲイン補正した場合の画素値α・ＣＶを周辺画素の画素値と比較することによって、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値の補正方法としてゲイン補正が適切か否かを判別する。こうして、位相差画素Ｇ_ＡＦの元の画素値Ｃではなく、ゲイン補正した場合の画素値α・ＣＶを基準として、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値をゲイン補正によって補正するか、平均値補正によって補正するかを判別することにより、撮影画像に補正痕が生じにくい補正方法によって位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値が補正されやすくなる。

例えば、画素値を補正する位相差画素Ｇ_ＡＦの近傍に、画素ピッチに対して輝度変化が比較的少ない平坦な像が写されている場合に、この位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値をゲイン補正によって補正すると、周辺画素に対して相対的にノイズ成分の比率が大きくなるので、位相差画素Ｇ_ＡＦのゲイン補正後の画素値α・ＣＶは周辺画素よりも大きくなり易い。しかし、上述のようにゲイン補正後の画素値α・ＣＶと周辺画素の画素値を比較することによって、直接的にゲイン補正の適否が判別されるので、ゲイン補正が原因の補正痕は生じにくい。

また、画素値を補正する位相差画素Ｇ_ＡＦの近傍に、画素ピッチに対して輝度変化が比較的大きい像（高周波成分の像）が写されている場合、周辺画素の画素値もこの像の特徴によって最大値・最小値の幅が大きいので、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶは周辺画素の画素値の間に収まりやすく、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値はゲイン補正によって補正されやすくなる。したがって、デジタルカメラ１１では、高周波の像に平均値補正を施すことによる補正痕は発生しにくい。

特に、フレアやゴースト等、通常の入射角度以外の光によって生じるノイズがある場合には、位相差画素Ｇ_ＡＦが非対称構造となっていることで、位相差画素Ｇ_ＡＦと正常画素の感度比がこうしたノイズがない場合の感度比からずれてしまいやすい。このため、こうしたノイズ成分がある場合にゲイン補正によって位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正すると、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶが周辺画素の画素値よりも突出して大きく（小さく）なって補正痕になりやすいが、上述のように、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶを周辺画素の画素値と直接比較してゲイン補正の適否を判別することによって、こうしたノイズ成分がある場合でも補正痕が生じにくい平均値補正が選択されやすい。

さらに、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶは、位相差画素Ｇ_ＡＦの近傍の像の特徴を数値化した値等と比較されるのではなく、あくまでも周辺画素の画素値と直接比較されるので、画像信号処理回路５３によって各種画像処理が施された後も、上述の特徴は概ね変わらない。例えば、画素値α・ＣＶが周辺画素の画素値の間にあるという点は、各種画像処理前後で多くの場合に同じである。このため、画像信号処理回路５３による各種画像処理の前段階であっても、デジタルカメラ１１では補正痕が生じ難い補正方法が選択されやすい。

また、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正するときに、位相差画素Ｇ_ＡＦ近傍の像が平坦か高周波かを数値化する場合、複雑で比較的時間を要する演算を行うことが必要であることから、全ての位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正すると比較的多くの時間を費やすことになる。しかし、デジタルカメラ１１では、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶの算出と、周辺の画素値との大小比較という簡便な方法によって位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値の補正方法を選択する。このため、デジタルカメラ１１では、前述のように補正痕の発生を抑えながらも、短時間で容易に位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正することができる。

なお、上述の実施形態では、特殊画素補正部４８は、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正するときに、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶを算出すると、周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが含まれているか否かに関わらず、周辺画素の画素値とゲイン補正後の画素値α・ＣＶを比較して、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値の補正方法を選択する例を説明したが、これに限らない。例えば、位相差画素Ｇ_ＡＦの周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが含まれているか否かを判別し、その結果に応じて位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値の補正方法を選択するのがよい。

この場合、例えば、図７に示すように、まず、上述の実施形態と同様にして、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶを算出し（Ｓ１２）、この値が周辺画素の画素値の間にあるか否かを判別する（Ｓ１３）。このとき、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶが周辺画素の画素値の間の値であり、ゲイン補正が位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値の補正に適している場合には、周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが含まれていたとしても、周辺画素が複数あることから、位相差画素Ｇ_ＮＧの画素値の補正方法や補正後の画素値にはそれほど影響はない。したがって、こうした場合には、特殊画素補正部４８は、上述の実施形態と同様に、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値をゲイン補正によって補正する。

一方、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶが周辺画素の画素値の間にない場合には、上述の実施形態では、平均値補正によって位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正するが、平均値補正では前述の通り、周辺画素の画素値が位相差画素Ｇ_ＡＦの補正後の画素値に直接影響を与える。したがって、特殊画素補正部４８は、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を平均値補正によって補正しようとする場合には、欠陥画素Ｇ_ＮＧの座標データを用いて周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧがあるか否かを判別し、その結果に応じて平均値補正によって画素値を補正するか否かを決定する（ステップＳ２１）。

このとき、周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが含まれていなければ上述の実施形態と同様に平均値補正によって位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正する。一方、周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが含まれている時には、ゲイン補正によって位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正する。このように、周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧがある時にゲイン補正によって位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正すると、周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが無く、正常に平均値補正が行える場合と比較すれば補正痕が発生しやすくなるものの、平均値補正によって置き換えられる画素値は期待通りの値は得られず、欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値を用いた平均値補正を行うことによって、より深刻な補正痕が発生することがあることを考慮すれば、こうした深刻な補正痕の発生を抑えられ、良好な撮影画像が得られやすくなる。

ここでは、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶを周辺画素の画素値と比較した後に、周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが含まれるか否かを判別しているが、周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが含まれるか否かの判別は少なくとも平均値補正が行われる前に行われていれば良い。したがって、図７では、平均値補正を行うステップＳ１４以前に欠陥画素Ｇ_ＮＧの有無を判別するステップＳ２１があれば良く、例えば、画素値の読み込み（Ｓ１１）と画素値α・ＣＶと周辺画素の画素値の比較（Ｓ１３）との間（Ｓ１１とＳ１２の間またはＳ１２とＳ１３の間）等で、欠陥画素Ｇ_ＮＧの有無を判別しても良い。

なお、ここでは、周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが含まれるか否かを判別して、周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが含まれる場合には単にゲイン補正を選択する変形例を説明したが、これに限らない。位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値の補正ルーチンでは、位相差画素Ｇ_ＡＦとしては扱わず、欠陥画素として扱うことで、平均値補正によって位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正しつつも、補正痕の発生を抑えることが好ましい。

この場合、例えば、図８に示すように、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶが周辺画素の画素値より大きく（小さく）、ゲイン補正による補正が適さないときには、前述のように位相差画素Ｇ_ＡＦの周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが含まれるか否かを判別する（ステップＳ２１）。そして、周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが含まれる時には、補正対象の位相差画素Ｇ_ＡＦを欠陥画素Ｇ_ＮＧとして欠陥画素の座標データに登録する（ステップＳ２２）。

次いで、上述のように、欠陥画素Ｇ_ＮＧとして扱うことを定めた位相差画素Ｇ_ＡＦは、欠陥画素Ｇ_ＮＧと同様の方法で平均値補正によってその画素値を補正される（ステップＳ１６）。すなわち、欠陥画素Ｇ_ＮＧとして扱うことが定められた位相差画素Ｇ_ＡＦは、隣接する欠陥画素Ｇ_ＮＧと一体になった欠陥画素群６８とみなされ、この欠陥画素群６８の周辺画素を用いた平均値補正によって画素値が補正される。

このように、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を平均値補正する場合に、周辺画素に欠陥画素Ｇ_ＮＧが含まれる位置にある位相差画素Ｇ_ＡＦを欠陥画素Ｇ_ＮＧとして扱うようにすることで、より好適な平均値補正によって位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正することができる。また、こうして欠陥画素Ｇ_ＮＧと隣接した位相差画素Ｇ_ＡＦを欠陥画素Ｇ_ＮＧとして登録しておくことで、特殊画素補正部４８が欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値を平均値補正によって補正するときに、補正後の画素値に問題がある可能性がある位相差画素Ｇ_ＡＦを用いずに、欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値を補正することができるため、欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値を補正したことによる補正痕の発生を低減することができる。

図４及び図６に示すハニカム配列のＣＣＤ３２は、Ｒ画素とＢ画素が交互に配置された行（Ｘ方向）と、Ｇ画素だけが配列された行が交互に、かつ、各行１／２画素分だけ画素の配置をずらしながら配置されている。この他に、図９に示すように、Ｘ方向に、Ｇ_１画素とＢ_１画素を交互に配列した行と、Ｇ_２画素とＢ_２画素を交互に配列した行と、Ｇ_１画素とＲ_１画素を交互に配列した行と、Ｇ_２画素とＲ_２画素を交互に配列した行とを、各行１／２画素分だけ画素の配置をずらしながら配置してもよい。このＣＣＤは、例えば、添字が「１」の第１群画素と、添字が「２」の第２群画素とで露光時間を互いに独立して制御できるように配線構造等が設けられている。図９では、位相差画素Ｇ_ＡＦは第２群画素のＧ_２画素である。

こうした画素配列のＣＣＤに本発明を適用する場合、第１群画素と第２群画素とで異なる露光時間（電荷蓄積時間）となるようにするときには、周辺画素としては、位相差画素Ｇ_ＡＦと同群の画素を参照する。例えば、図９のように第２群画素に設けられた位相差画素Ｇ_ＡＦの場合には、同じ第２群画素の中で、位相差画素Ｇ_ＡＦに最も近接して配置された同色のＧ_２画素Ｇ_２ａ〜Ｇ_２ｄを周辺画素として用いる。

また、上述のような画素配列のＣＣＤを用いる場合であっても、第１群画素と第２群画素とで同じ露光時間で撮影を行うことがある。この場合、図１０に示すように、第２群画素に設けられた位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正するときには、周辺画素として前述と同様の第２群画素のＧ_２画素Ｇ_２ａ，Ｇ_２ｃと、第１群画素の中でＧ_２画素よりも位相差画素Ｇ_ＡＦに近接して配置されたＧ_１画素Ｇ_１α，Ｇ_１βを周辺画素として用いる。

なお、本発明は、ハニカム配列のＣＣＤ３２の他に画素がマトリックスに配置された通常のイメージセンサに対しても好適に用いることができる。例えば、画素がいわゆるベイヤー配列に設けられたＣＣＤを用いても良い。また、本発明はＣＣＤ３２の他に、ＣＭＯＳ型のイメージセンサを用いても良い。

また、赤色画素や青色画素を位相差画素としても良い。また、複数の色の画素に位相差画素が設けられていても良い。但し、複数の色の画素に位相差画素を設ける場合、対となる位相差画素は同色とすることが必要である。

なお、上述の実施形態では、位相差画素Ｇ_ＡＦが撮像面７２の所定位置に設けられているが、位相差画素Ｇ_ＡＦの具体的な配置は、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値に基づいてＡＦを行うことができれば、デジタルカメラ１１の仕様等に応じて任意に定めて良い。また、位相差画素の個数も同様に任意に定めて良い。

なお、上述の実施形態では、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正するときに、位相差画素Ｇ_ＡＦを中心として、位相差画素Ｇ_ＡＦに最も近接して配置された４個の周辺画素Ｇａ〜Ｇｄ（図４参照）の画素値を参照している。この代わりに、例えば、上述の実施形態で参照する４個の周辺画素と、これに次いで位相差画素Ｇ_ＡＦに近接する同色の画素を周辺画素として参照しても良い。

上述の実施形態では、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を補正するときに、ゲイン補正後の画素値α・ＣＶを算出し、これを周辺画素の画素値と比較してから位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値をゲイン補正または平均値補正で置き換えている。この代わりに特殊画素補正部４８が画像データを読み出す段階で、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値をゲイン補正によって予め補正しておいても良い。したがって、例えば、ＣＣＤ３２から位相差画素Ｇ_ＡＦの撮像信号を読み出すときに、画像入力コントローラ４２でＡＭＰ３６のゲインを調節することにより、アナログ信号の段階で位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値にゲイン補正を施しても良い。こうして、アナログ信号の段階で位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値をゲイン補正によって補正すると、特殊画素補正部４８における演算量が低減され、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値の補正を短時間で行うことができる。また、アナログ信号の段階で位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値をゲイン補正した場合であっても、ＡＦ検出回路４６は上述の実施形態と同様に合焦評価値を算出することができる。

なお、上述の実施形態では、位相差画素Ｇ_ＡＦの画素値を平均値補正する場合、欠陥画素Ｇ_ＮＧの画素値を平均値補正する場合に、周辺画素の画素値を単純平均した値をこれらの画素の画素値としている。しかし、欠陥画素Ｇ_ＮＧが複数連続してある場合の平均値補正や、位相差画素Ｇ_ＡＦを欠陥画素Ｇ_ＮＧとして扱い、位相差画素Ｇ_ＡＦと欠陥画素Ｇ_ＮＧを連続した欠陥画素Ｇ_ＮＧとして平均値補正する場合等では、補正対象の位相差画素Ｇ_ＡＦ（欠陥画素Ｇ_ＮＧ）から、全ての周辺画素が等距離ではないことがある。このため、こうした補正対象の画素から等距離にない周辺画素を用いて平均値補正を行うときには、各周辺画素と補正対象の画素との距離に応じて重み付けをして算出した周辺画素の画素値の平均値を、補正対象の画素の新たな画素値として用いることが好ましい。

なお、上述の実施形態では、コンパクトタイプのデジタルカメラ１１を例に説明したが、ＡＦを行う撮像装置であれば、他の任意の撮像装置に本発明を用いることができる。

１１ デジタルカメラ
１２ カメラ本体
１３ 撮影レンズ
３２ ＣＣＤ
３２ａ 画素
６８ 欠陥画素群
Ｒ，Ｒ_１，Ｒ_２ 赤色画素
Ｇ，Ｇ_１，Ｇ_２ 緑色画素
Ｂ，Ｂ_１，Ｂ_２ 青色画素
Ｇ_ＡＦ 位相差画素
Ｇ_ＮＧ 欠陥画素
Ｇ_ａ〜Ｇ_ｉ 周辺画素

Claims (8)

1. 撮像面内に通常画素と焦点検出用画素とが所定パターンで配列され、これらの画素から一画面分の撮像信号を出力するイメージセンサと、
   前記一画面分の撮像信号から前記焦点検出用画素の輝度を参照して合焦状態の評価を行う合焦評価部と、
   前記焦点検出用画素の輝度に所定のゲインを乗じた第１補正値を算出する第１補正値算出部と、
   前記第１補正値と、前記焦点検出用画素の周囲に配置された所定数の前記通常画素の輝度を比較し、前記第１補正値が前記所定数の通常画素の輝度のうちの最大値以下かつ最小値以上の通常範囲内である場合には、前記焦点検出用画素の輝度を前記第１補正値で置き換え、そして前記第１補正値が前記通常範囲外である場合には、前記所定数の通常画素の輝度を平均して第２補正値を算出し、前記焦点検出用画素の輝度を前記第２補正値で置き換えることにより、前記焦点検出用画素の輝度を補正する焦点検出用画素補正部と、
   を備えることを特徴とする撮像装置。
2. 前記通常画素のなかで欠陥のある欠陥画素の位置が予め記憶されるとともに、前記欠陥画素の周囲に配置された欠陥のない複数の前記通常画素の輝度を平均して第３補正値を算出し、前記欠陥画素の輝度を前記第３補正値に置き換えることにより、前記欠陥画素の輝度を補正する欠陥画素補正部を備えることを特徴とする請求の範囲第１項記載の撮像装置。
3. 前記欠陥画素補正部は、前記欠陥画素が複数隣接し合って欠陥画素群を形成している場合には、前記欠陥画素群の周囲に配置された前記通常画素の輝度を平均して前記第３補正値を算出することを特徴とする請求の範囲第２項記載の撮像装置。
4. 前記焦点検出用画素に隣接して前記欠陥画素があるか否かを判別する判別部を備え、
   前記焦点検出用画素補正部は、前記焦点検出用画素に隣接して前記欠陥画素がある場合、前記焦点検出用画素の輝度を前記第１補正値で置き換えることにより、前記焦点検出用画素の輝度を補正することを特徴とする請求の範囲第２項記載の撮像装置。
5. 前記焦点検出用画素に隣接して前記欠陥画素があるか否かを判別する判別部を備え、
   前記焦点検出用画素補正部は、前記焦点検出用画素に隣接して前記欠陥画素がある場合、当該焦点検出用画素の輝度を前記欠陥画素補正部によって前記第３補正値に置き換えることを特徴とする請求の範囲第２項記載の撮像装置。
6. 前記判別部は、前記焦点検出用画素に隣接して前記欠陥画素がある場合に、当該焦点検出用画素の位置を前記欠陥画素として登録し、
   前記欠陥画素補正部は、前記欠陥画素の輝度を補正するときに、登録された前記焦点検出用画素を前記欠陥画素とみなし、前記欠陥画素の輝度及び前記登録された焦点検出用画素の輝度を前記第３補正値に置き換えることを特徴とする請求の範囲第４項記載の撮像装置。
7. 前記イメージセンサは、各々独立した条件で動作をする第１画素群と第２画素群を備え、
   前記焦点検出用画素補正部は、前記第１画素群と前記第２画素群とが互いに異なる露光時間で撮影を行う場合に、前記所定数の通常画素として同じ群内の前記通常画素を用い、前記第１画素群と前記第２画素群とが同じ露光時間で撮影を行う場合に、前記所定数の通常画素として、前記第１画素群及び前記第２画素群に含まれる前記通常画素を用いることを特徴とする請求の範囲第１項記載の撮像装置。
8. 撮像面内に通常画素と焦点検出用画素とが所定パターンで配列された撮像素子から出力される一画面分の撮像信号から前記焦点検出用画素の輝度を参照して合焦状態の評価を行う合焦評価ステップと、
   前記焦点検出用画素の輝度に所定のゲインを乗じた第１補正値を算出する第１補正値算出ステップと、
   前記第１補正値と、前記焦点検出用画素の周囲に配置された所定数の前記通常画素の輝度を比較し、前記第１補正値が前記所定数の通常画素の輝度のうちの最大値以下かつ最小値以上の通常範囲内である場合には、前記焦点検出用画素の輝度を前記第１補正値で置き換え、そして前記第１補正値が前記通常範囲外である場合には、前記所定数の通常画素の輝度を平均して第２補正値を算出し、前記焦点検出用画素の輝度を前記第２補正値で置き換えることにより、前記焦点検出用画素の輝度を補正する焦点検出用画素補正ステップと、
   を備えることを特徴とする画像処理方法。

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