JP2009088184A - 画像処理装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】トランスファチャンバ4の外側からに設置され、トランスファチャンバ4に設けられたビューポートを介してウエハ3の少なくとも輪郭線(エッジ部)を含む画像を撮像する1つの撮像カメラ2と、撮像カメラ2で撮像された画像から抽出したウエハのエッジ位置データを用いて、ウエハ3の輪郭を示す関係式を求め、この関係式に基づいてウエハ3の位置を計測する計測部14とを備える。
【選択図】図1
Description
図1は、この発明の実施の形態1による画像処理装置及びこれを利用した半導体製造装置の構成を概略的に示す図であり、トランスファチャンバ4を上方から透かしてその内部構成を記載している。図1に示すように、実施の形態1による画像処理装置1は、枚葉式搬送の半導体製造装置において、ウエハ3の中心位置及びオリフラ部やノッチ部を基準としたウエハ3の回転位置(回転角)を計測する。この半導体製造装置は、トランスファチャンバ(搬送用真空チャンバ)4、プロセスチャンバ(処理チャンバ)5、ロード・アンロード装置6及び制御装置8を備える。
先ず、ロード・アンロード装置6は、制御装置8の制御の下、ロボットアーム10を用いて、例えばウエハ保持棚(不図示)からウエハ3を取り出し、ウエハアライナ7に搬送する。ウエハアライナ7では、エッジセンサを用いてウエハ3のオリフラ部又はノッチ部を検出し、これを基準としたウエハ3の回転位置(回転角)及びウエハ3の中心位置を適正な位置にアライニングする。この後、ロボットアーム10を用いて、ウエハアライナ7からトランスファチャンバ4へウエハ3を搬送する。実施の形態1による画像処理装置1では、トランスファチャンバ4において、以下のようなウエハ3の位置計測を実行する。
(1−1)ウエハ外周の一部を撮像した画像を用いる場合
図3は、トランスファチャンバにおけるウエハ位置計測例を説明するための図であり、図1と同様にトランスファチャンバ4を上方から透かしてその内部構成を記載している。また、図4は、図3中のトランスファチャンバの側面図であり、トランスファチャンバ4の内部構成を示すために側壁を透かして記載している。図4に示すように、撮像カメラ2は、ビューポート4aを介したトランスファチャンバ4の外側に取り付ける。また、透過照明11aは、ビューポート4bを介したトランスファチャンバ4の外側に取り付ける。なお、図3及び図4において、図1で示した構成要素に対応するものには同一符号を付している。
先ず、円推定部16は、画像切り出し部15から画像21aを入力すると、画像21aを画素の列ごとに走査してエッジ位置を抽出する(ステップST1)。
トランスファチャンバ4において、撮像カメラ2の視野にウエハ3の全体を収めることができる大口径のビューポートを取り付けることが寸法上可能であれば、以下のような計測処理を行ってもよい。
図7は、トランスファチャンバにおけるウエハ位置計測の他の例を説明するための図であり、図1と同様にトランスファチャンバ4を上方から透かしてその内部構成を記載している。また、図8は、図7中のトランスファチャンバの側面図であり、トランスファチャンバ4の内部構成を示すために側壁を透かして記載している。なお、図7及び図8において、図1で示した構成要素に対応するものには、同一符号を付している。
先ず、位置ずれ検査部20は、ロード・アンロード装置6でウエハアライナ7によってアライニングされたウエハ3の中心位置及び回転位置(回転角)を取得し、上記(1)で述べたようにしてトランスファチャンバ4内で計測部14により計測されたウエハ3の中心位置及び回転位置(回転角)を取得する。この後、位置ずれ検査部20は、ウエハアライナ7でアライニングされたウエハ3の位置と計測部14による計測結果とを比較し、ウエハアライナ7でアライニングされたウエハ3の位置から計測部14による計測結果がどれだけ位置ずれしているかを判定する。
ウエハ上の膜形成処理等の真空処理が行われるプロセスチャンバ5にビューポートを設けた場合、プロセスチャンバ5の内部で実行される真空処理によってはビューポートの窓材に処理材が付着したり、ビューポートを介して内部に入射される外乱光により真空処理の結果が影響を受ける場合がある。このため、プロセスチャンバ5にビューポートを設けない構成が趨勢となっている。一方、トランスファチャンバ4からプロセスチャンバ5にウエハ3を搬送するまでの間に位置ずれが生じるかどうかを確認することは、ウエハ3の位置再現性を向上させる上でも重要である。
Claims (10)
- 真空処理装置は、処理対象物に対する処理を行う処理チャンバと、前記処理対象物の搬送機構を有し前記処理チャンバに前記処理対象物を搬入搬出する搬送用真空チャンバとを備えるものであり、この真空処理装置の前記処理対象物の位置を計測するために用いる画像処理装置において、
搬送用真空チャンバの外側に設置され、前記搬送用真空チャンバに設けられたビューポートを介して前記処理対象物の少なくとも輪郭線を含む画像を撮像する1つの撮像カメラと、
前記撮像カメラで撮像された画像から抽出した処理対象物の輪郭位置データを用いて、前記処理対象物の輪郭を示す関係式を求め、この関係式に基づいて前記処理対象物の位置を計測する計測手段とを備えたことを特徴とする画像処理装置。 - 処理チャンバの位置に搬送された処理対象物の少なくとも輪郭線を含む画像を撮像する撮像カメラを備え、
計測手段は、前記撮像カメラで撮像された処理チャンバの位置に搬送された処理対象物の画像から抽出した処理対象物の輪郭位置データを用いて、前記処理対象物の輪郭を示す関係式を求め、この関係式に基づいて前記処理対象物の位置を計測することを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。 - 処理チャンバへの搬入前及び前記処理チャンバからの搬出後の搬送用真空チャンバ内の同一位置で計測手段が計測した処理対象物の各位置計測結果を比較して位置ずれを検査する位置ずれ検査手段を備えたことを特徴とする請求項1または請求項2記載の画像処理装置。
- 位置ずれ検査手段は、真空処理装置に設けられたアライナ装置で位置合わせされた処理対象物の位置情報と計測手段による前記処理対象物の位置計測結果とを比較して位置ずれを検査することを特徴とする請求項3記載の画像処理装置。
- 真空処理装置に設けられた搬送機構の動作を制御する制御装置に対し、搬送機構の動作補正用データとして、計測手段による処理対象物の位置計測結果又は位置ずれ検査手段による位置ずれ検査結果を送信する通信制御手段を備えたことを特徴とする請求項1から請求項4のうちのいずれか1項記載の画像処理装置。
- 処理対象物は、外周上に基準部が形成された円盤形状を有しており、
計測手段は、
撮像カメラで撮像された画像から抽出した処理対象物の輪郭位置データを用いて、前記処理対象物の輪郭円を示す関係式を求める円推定手段と、
前記円推定手段で求めた関係式に基づいて、前記処理対象物の中心位置を算出する中心位置計測手段と、
前記中心位置計測手段で求めた中心位置及び前記基準部を通る第1の基準線と、前記中心位置及び所定の基準位置を通る第2の基準線とのなす角を、前記処理対象物の回転位置として算出する回転角計測手段とを備えたことを特徴とする請求項1から請求項5のうちのいずれか1項記載の画像処理装置。 - 計測手段は、処理対象物の輪郭線の一部を含む画像から抽出した輪郭位置データを用いて、前記処理対象物の輪郭全体を近似した関係式を求め、この関係式に基づいて前記処理対象物の位置を計測することを特徴とする請求項1から請求項6のうちのいずれか1項記載の画像処理装置。
- 計測手段は、処理対象物の輪郭全体を含む画像から抽出した輪郭位置データを用いて、前記処理対象物の輪郭を示す関係式を求め、この関係式に基づいて前記処理対象物の位置を計測することを特徴とする請求項1から請求項6のうちのいずれか1項記載の画像処理装置。
- 処理対象物の裏面側から照明を与える透過照明手段を備え、
計測手段は、撮像カメラによって前記透過照明手段から照明を与えられた前記処理対象物の表面側から撮像された画像を用いて、前記処理対象物の位置を計測することを特徴とする請求項1から請求項8のうちのいずれか1項記載の画像処理装置。 - 処理対象物の表面側から照明を与える透過照明手段を備え、
計測手段は、撮像カメラによって前記透過照明手段から照明を与えられた前記処理対象物の裏面側から撮像された画像を用いて、前記処理対象物の位置を計測することを特徴とする請求項1から請求項8のうちのいずれか1項記載の画像処理装置。
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