JP2009074931A - 二次元座標測定機 - Google Patents

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Abstract

【課題】X軸フレームの両端にサーボモータを備えた二次元座標測定機において、X軸フレームのヨーイング角に起因する測定座標の誤差が出ないようにする。
【解決手段】測定物を載置するテーブル(21)と、測定物上の測定点を検出する検出器(18)と、検出器を軸方向に移動可能に支持するX軸フレーム(14)と、X軸フレームの両端にそれぞれ設けられたY軸移動用のサーボモータと、検出器及びX軸フレームの動作を制御するとともに測定点の位置を算出する演算制御部とを備えた二次元座標測定機において、テーブルの4隅にはそれぞれマーク(M、M、M、M)が付されており、演算制御部は、設置調整直後のマークと、サーボモータをサーボロックした直後のマークの座標を算出して、X軸フレームのヨーイング角(δ)を算出し、このヨーイング角を用いて測定座標の補正を行う。
【選択図】 図3

Description

本発明は、測定物上の測定点の座標を高精度に測定できる二次元座標測定機に関する。
集積回路やプリント配線板の製造に使用されるフォトマスクは、微細なパターンがフィルムに焼付け形成されていて、その寸法形状を高精度に保つ必要性がある。ところで、フィルムに焼き付けられているこの種のパターンは、使用する前に、その寸法及び形状が設計図面と正確に一致しているかどうかの検査が行なわれる。
この検査には、例えば、下記特許文献1に開示されているような二次元座標測定機が用いられる。このような二次元座標測定機では、図1に示したように、基台10上に載置したガラス製のテーブル21上にフォトマスク等の測定物を載置し、テーブル21の下方又は落射照明から照明光を照射し、測定物の上面側に、CCDカメラ等の検出器18を設置し、検出器18により透過光を受光して、パターンの形状や寸法を高精度に測定できる。
上述した検出器18は、二次元座標測定機に固定した直交座標系のX軸に平行なX軸フレーム14上をスライド可能になっている。また、X軸フレーム14は、X軸と直交するY軸と平行な一対のガイドレール12にガイドされてY軸方向へも移動可能になっている。こうして、検出器18は、テーブル21上の任意の点へ自在に移動可能になっている。
X軸とY軸とを正確に直交させるためには、二次元座標測定機の最初の設置調整時に、従来基準の直交パターンのガラス板をテーブル21の上に置き、前記直交パターンを機械座標軸のX軸又はY軸に一致させ、検出器18をX軸又はY軸に沿って移動させて、機械座標軸のX軸又はY軸と直交パターンとの差を検出して、この差を調整することにより、直交度を調整していた。
なお、前述の二次元座標測定機では、X軸フレーム14を移動させるY軸駆動部16は、モータ16aで駆動されるボールねじ16bと、このボールねじ16bに螺合するとともにX軸フレーム14の下部に設けられた連結板30とからなる。これに対して、最近では、X軸フレーム14の両端それぞれにリニアモータ等のサーボモータを設置して、X軸フレーム14を移動可能にしたものも出てきた。
特許第2889083号公報
ところで、前述の直交パターンのガラス板(原板)で直交度を調整する方法は、原板の作成に多大な費用がかかり、そのガラス板の設置時にも再度調整しなければならないことから、時間とコストがかかる。また、X軸フレーム14の両端それぞれにリニアモータ等のサーボモータを設置した二次元座標測定機では、検出器18を原点復帰(イニシャライズ)させて、Y軸移動用のサーボモータをサーボロックし、検出器18をX軸フレーム14に沿って移動させると、図2に示したように、そのときのX軸フレーム14の真のX軸からのヨーイング角(水平面内での揺動角)δをそれ以後保持することになる。このヨーイング角δは、極めて小さな角度であるが、X軸フレーム14とY軸方向との直交度又はX軸フレーム14と真のX軸方向の平行度が変化して、X軸フレーム14が真のX軸からずれるので、高精度が要求される最近の二次元座標測定機では、ヨーイング角δに起因する測定座標の誤差が無視できない問題となってきた。
本発明は、前記問題に鑑みてなされたもので、X軸フレームの両端にサーボモータを備えた二次元座標測定機において、X軸フレームのヨーイング角に起因する測定座標の誤差が出ないようにすることを課題とする。
上記課題を解決するため、請求項1に係る発明では、測定物を載置するテーブルと、前記測定物上の測定点を検出する検出器と、該検出器を軸方向に移動可能に支持するX軸フレームと、該X軸フレームをY軸方向に移動させるため前記X軸フレームの両端にそれぞれ設けられたサーボモータと、前記検出器及び前記X軸フレームの動作を制御するとともに前記測定点の位置を算出する演算制御部とを備えた二次元座標測定機において、前記テーブルには少なくとも2つのマークが付されており、前記演算制御部は、前記二次元座標測定機の設置調整直後に前記マークの座標を算出して記憶しておき、前記サーボモータをサーボロックした直後にも前記マークの座標を算出しておき、測定物上の測定点の座標を算出する際には、少なくとも2つのマークの座標の前記設置調整直後と前記サーボロック直後の変化から、X軸フレームの真のX軸方向からのヨーイング角を算出し、該ヨーイング角を用いて測定座標の補正を行うことを特徴とする。
請求項2に係る発明では、請求項1に係る発明において、前記テーブルの4隅には、それぞれマークM、M、M、Mが付されており、前記演算制御部は、測定物の測定点の座標を算出する際には、前記設置調整後における2つのマークM、Mの座標P、Pを通る直線のX軸となす角αと、前記調整直後における別の2つのマークM3、Mの座標P、Pを通る直線のX軸とからなす角αと、前記角αとαの平均αと、前記サーボロック直後における2つのマークM、Mの座標Q、Qを通る直線のX軸となす角βと、前記サーボロック直後における別の2つのマークM、Mの座標Q、Qを通る直線のX軸となす角βと、前記角βとβの平均βと、X軸フレームの真のX軸方向からのヨーイング角β−αを順次算出し、該ヨーイング角β−αを用いて測定座標の補正をすることを特徴とする。
請求項3に係る発明では、請求項1又は2に係る発明において、前記各マークは、大小2つの十字線からなることを特徴とする。
請求項1に係る発明の二次元座標測定機によれば、テーブルには少なくとも2つのマークが付されているので、この二次元座標測定機の設置調整直後とサーボロック直後に、これらのマークの座標を測定することにより、サーボロック直後のX軸フレームの真のX軸方向からのヨーイング角を算出して、該ヨーイング角を用いて測定座標の補正を行うことができるので、X軸フレームのヨーイング角に起因する測定座標の誤差を取り除くことができる。しかも、テーブルにマークを付す以外には、演算制御部の行う処理プログラムを若干変更するだけであるから、極めて安価に本発明を実施できる。
請求項2に係る発明の二次元座標測定機によれば、さらに、テーブルの4隅には、それぞれマークM、M、M、Mが付されており、演算制御部は、測定物の測定点の座標を算出する際には、二次元座標測定機の設置調整直後における2つのマークM、Mの座標P、Pを通る直線のX軸となす角αと、前記設置調整直後における別の2つのマークM3、Mの座標P、Pを通る直線のX軸となす角αと、前記角αとαの平均αと、サーボロック直後における2つのマークM、Mの座標Q、Qを通る直線のX軸となす角βと、前記サーボロック直後における別の2つのマークM、Mの座標Q、Qを通る直線のX軸となす角βと、前記角βとβの平均βと、X軸フレームの真のX軸方向からのヨーイング角β−αを順次算出し、該ヨーイング角β−αを用いて測定座標の補正をするから、角αとαの平均αと角βとβの平均βをとったことにより、温度変化によるテーブルの膨張収縮による測定座標の誤差を小さくできる。
請求項3に係る発明の二次元座標測定機によれば、さらに、大きな十字線を迅速に検出して、小さな十字線で正確な座標を求めることができるので、迅速に高精度な測定が可能になる。
発明の実施するための最良の形態
以下、本発明の実施の形態について、添附図面を参照して詳細に説明する。
まず、図3〜図5を参照して、本発明の第1の実施例に係る二次元座標測定機について説明する。図3は、この二次元座標測定機の平面図である。図4は、前記二次元座標測定機のテーブルに付されたマークを説明する図である。図5は、前記二次元座標測定機の原理を説明する図である。
この二次元座標測定機は、図3に示したように、従来のものと同様にX軸フレーム14をY軸方向に移動させるものであるが、X軸フレーム14の両端には、それぞれY軸移動用のサーボモータとして図示しないリニアモータを備えている。また、テーブル21の4隅には、X軸フレーム14の真のX軸方向からのずれ角であるヨーイング角δを検出器18で検出するためのマークM、M、M、Mが付されている。さらに、この二次元座標測定機は、X軸フレーム14及び検出器18の動作を制御するとともに、検出器18で捉えた画像から測定物上の測定点の位置を算出するための図示しない演算制御部(CPU)を備えている。この演算制御部は、後述するように、X軸フレーム14の真のX軸方向となすヨーイング角δを算出して、X軸フレーム14に生じたヨーイング角δによる測定座標の誤差を補正することも行っている。
テーブル21の4隅に付されたマークM、M、M、Mは、図4に示したように、テーブル21の4隅に設けられた丸孔30内にカラス製の鍔32のついた円筒34を下側から挿入して、円筒34の上面36に十字線38をクロム蒸着によって付着させることによって形成される。十字線38の表面はテーブル21の表面より、わずかに内側にされる。なお、これらのマークM、M、M、Mは、必ずしも十字線にする必要はなく、三角形、正方形等、中心等の特定位置を算出できる形状であれば、任意の形状と色が可能である。また、これらのマークは、正確に位置決めする必要はなく、単純にテーブル21表面に目印を付着させるだけでもよい。
この二次元座標測定機では、最初にX軸フレーム14を真のX軸に平行に設置調整した直後に、図5の(A)に示したように、各マークM、M、M、Mの基準位置としての座標P、P、P、Pを算出して、これらの座標P、P、P、Pを演算制御部に記憶する。そして、マークM、Mの座標P、Pから、マークM、Mを通る直線のX軸方向からなす角αを算出する。同様に、マークM、Mの座標P、Pから、マークM、Mを通る直線のX軸方向からなす角αを算出する。そして、角αと角αの平均αを求める。平均をとるのは、温度変化等によるテーブル21の熱膨張等による誤差を軽減するためである。
測定物の測定に際しては、まず、検出器18を原点復帰させてY軸移動用のサーボモータをサーボロックした直後に、検出器18をX軸に沿って移動させて、図5の(B)に示したように、各マークM、M、M、Mの座標Q、Q、Q、Qを算出する。そして、マークM、Mの座標Q、Qから、マークM、Mを通る直線のX軸方向からなす角βを算出する。同様に、マークM、Mの座標Q、Qから、座標Q、Qを通る直線のX軸方向からなす角βを算出する。そして、角βと角βの平均βを求める。本実施例では、予め角αと角αを求めて、この平均αを求めているが、この段階で、角αと角αを求めて、この平均αを求めてもよい。
演算制御部は、X軸フレーム14が真のX軸と平行であること前提にして、前述の角α、α、β、βを算出している。このことから、二次元座標測定機の設置調整直後の2つのマークを結ぶ直線とX軸フレーム14とのなす角の平均がαであり、サーボロック後の2つのマークを結ぶ直線とX軸フレーム14とのなす角の平均がβであることが分かる。さらに、二次元座標測定機の設置調整直後には、X軸フレーム14が真のX軸と平行になっているから、サーボロック後には、X軸フレーム14がヨーイング角δ=β−αだけ真のX軸からずれていることも分かる。
したがって、この二次元座標測定機で得られた測定座標については、X軸フレーム14がヨーイング角δ=β−αだけ真のX軸からずれているとして、測定座標の補正を行うことによって、正確な座標を算出することができる。
本実施例によれば、前述したように、サーボロック直後にX軸フレーム14の真のX軸方向からのヨーイング角δ=β−αを算出しておき、該ヨーイング角δを用いて測定座標の補正を行うので、X軸フレーム14のヨーイング角δに起因する測定座標の誤差を取り除くことができる。また、テーブル21にマークM、M、M、Mを付す以外には、演算制御部の行う処理プログラムを若干変更するだけであるから、極めて安価に本実施例を実施できる。
次に、本発明の第2の実施例について説明する。本実施例では、テーブル21の4隅に付された各マークM、M、M、Mが、図6に示したように、上面36に大小2つの十字線38a、38bを設けた円筒34からなる。本実施例では、X軸に平行に2つの十字線38a、38bを配列するか、Y軸に平行に2つの十字線38a、38bを配列する。もちろん、2つの十字線38a、38bは、その他の適当な配置であってもよい。ここで、大きい十字線38aはサーチ用であり、小さい十字線38bは座標測定用である。この他は、前記第1の実施例と同じである。本実施例によれば、大きな十字線38aを迅速に検出して、小さな十字線38bで正確な座標を求めることができ、迅速に高精度な測定が可能になる。
ところで、本発明は前記実施例に限られるものではなく、種々の変形が可能である。たとえば、前記実施例では、テーブル21の4隅にマークを付したが、定温室に設置されていて、温度変化によるテーブル21の熱膨張を無視できる場合には、マークは測定のじゃまにならない適宜位置に2つ付すだけでもよい。
従来の二次元座標測定機の斜視図である。 従来の二次元座標測定機のX軸フレームの両端にリニアモータを備えたものの問題を説明する図である。 本発明の第1の実施例に係る二次元座標測定機の平面図である。 前記二次元座標測定機のテーブルに付されたマークを説明する図である。 前記二次元座標測定機の原理を説明する図である。 本発明の第2の実施例に係る二次元座標測定機のテーブルに付されたマークを説明する図である。
符号の説明
14 X軸フレーム
18 検出部
21 テーブル
38 十字線
、M、M、Mマーク
、P、P、P設置調整直後のマークM、M、M、Mの座標
、Q、Q、Q Y軸移動用サーボモータのサーボロック直後のマークM、M、M、Mの座標
X X軸
Y Y軸
α設置調整直後のX軸と座標P、Pを結ぶ直線のなす角
α設置調整直後のX軸と座標P、Pを結ぶ直線のなす角
α αとαの平均
βY軸移動用サーボモータのサーボロック直後のX軸と座標Q、Qを結ぶ直線のなす角
βY軸移動用サーボモータのサーボロック直後のX軸と座標Q、Qを結ぶ直線のなす角
β βとβの平均
δ ヨーイング角

Claims (3)

  1. 測定物を載置するテーブルと、前記測定物上の測定点を検出する検出器と、該検出器を軸方向に移動可能に支持するX軸フレームと、該X軸フレームをY軸方向に移動させるため前記X軸フレームの両端にそれぞれ設けられたサーボモータと、前記検出器及び前記X軸フレームの動作を制御するとともに前記測定点の位置を算出する演算制御部とを備えた二次元座標測定機において、
    前記テーブルには少なくとも2つのマークが付されており、
    前記演算制御部は、前記二次元座標測定機を設置調整直後に前記マークの座標を算出して記憶しておき、前記サーボモータをサーボロックした直後にも前記マークの座標を算出して記憶しておき、測定物の測定点の座標を算出する際には、少なくとも2つのマークの座標の前記設置調整直後と前記サーボロック直後の変化から、X軸フレームの真のX軸方向からのヨーイング角を算出し、該ヨーイング角を用いて測定座標の補正を行うことを特徴とする二次元座標測定機。
  2. 前記テーブルの4隅には、それぞれマークM、M、M、Mが付されており、
    前記演算制御部は、測定物の測定点の座標を算出する際には、前記設置調整直後における2つのマークM、Mの座標P、Pを通る直線のX軸となす角αと、前記設置調整後における別の2つのマークM3、Mの座標P、Pを通る直線のX軸とからなす角αと、前記角αとαの平均αと、前記サーボロック直後における2つのマークM、Mの座標Q、Qを通る直線のX軸となす角βと、前記サーボロック直後における別の2つのマークM、Mの座標Q、Qを通る直線のX軸となす角βと、前記角βとβの平均βと、X軸フレームの真のX軸方向からのヨーイング角β−αを順次算出し、該ヨーイング角β−αを用いて測定座標の補正をすることを特徴とする請求項1に記載の二次元座標測定機。
  3. 前記各マークは、大小2つの十字線からなることを特徴とする請求項1又は2に記載の二次元座標測定機。
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