JP5017034B2 - 二次元座標測定機 - Google Patents
二次元座標測定機 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5017034B2 JP5017034B2 JP2007244214A JP2007244214A JP5017034B2 JP 5017034 B2 JP5017034 B2 JP 5017034B2 JP 2007244214 A JP2007244214 A JP 2007244214A JP 2007244214 A JP2007244214 A JP 2007244214A JP 5017034 B2 JP5017034 B2 JP 5017034B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- axis
- coordinates
- marks
- angle
- measuring machine
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 46
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
前記テーブルには少なくとも2つのマークが付されており、
前記演算制御部は、前記二次元座標測定機を設置調整直後に前記マークの座標を算出して記憶しておき、前記サーボモータをサーボロックした直後にも前記マークの座標を算出して記憶しておき、測定物の測定点の座標を算出する際には、少なくとも2つのマークの座標の前記設置調整直後と前記サーボロック直後の変化から、X軸フレームの真のX軸方向からのヨーイング角を算出し、該ヨーイング角を用いて測定座標の補正を行う二次元座標測定機であって、
前記テーブルの4隅には、それぞれマークM 1 、M 2 、M 3 、M 4 が付されており、
前記演算制御部は、測定物の測定点の座標を算出する際には、前記設置調整直後における2つのマークM 1 、M 2 の座標P 1 、P 2 を通る直線のX軸となす角α 1 と、前記設置調整後における別の2つのマークM 3 、M 4 の座標P 3 、P 4 を通る直線のX軸となす角α 2 と、前記角α 1 とα 2 の平均αと、前記サーボロック直後における2つのマークM 1 、M 2 の座標Q 1 、Q 2 を通る直線のX軸となす角β 1 と、前記サーボロック直後における別の2つのマークM 3 、M 4 の座標Q 3 、Q 4 を通る直線のX軸となす角β 2 と、前記角β 1 とβ 2 の平均βと、X軸フレームの真のX軸方向からのヨーイング角β−αを順次算出し、該ヨーイング角β−αを用いて測定座標の補正をするように構成してある。
まず、図3〜図5を参照して、本発明の第1の実施例に係る二次元座標測定機について説明する。図3は、この二次元座標測定機の平面図である。図4は、前記二次元座標測定機のテーブルに付されたマークを説明する図である。図5は、前記二次元座標測定機の原理を説明する図である。
18 検出部
21 テーブル
38 十字線
M1、M2、M3、M4 マーク
P1、P2、P3、P4 設置調整直後のマークM1、M2、M3、M4の座標
Q1、Q2、Q3、Q4 Y軸移動用サーボモータのサーボロック直後のマークM1、M2、M3、M4の座標
X X軸
Y Y軸
α1 設置調整直後のX軸と座標P1、P2を結ぶ直線のなす角
α2 設置調整直後のX軸と座標P3、P4を結ぶ直線のなす角
α α1とα2の平均
β1 Y軸移動用サーボモータのサーボロック直後のX軸と座標Q1、Q2を結ぶ直線のなす角
β2 Y軸移動用サーボモータのサーボロック直後のX軸と座標Q3、Q4を結ぶ直線のなす角
β β1とβ2の平均
δ ヨーイング角
Claims (2)
- 測定物を載置するテーブルと、前記測定物上の測定点を検出する検出器と、該検出器を軸方向に移動可能に支持するX軸フレームと、該X軸フレームをY軸方向に移動させるため前記X軸フレームの両端にそれぞれ設けられたサーボモータと、前記検出器及び前記X軸フレームの動作を制御するとともに前記測定点の位置を算出する演算制御部とを備え、
前記テーブルには少なくとも2つのマークが付されており、
前記演算制御部は、前記二次元座標測定機を設置調整直後に前記マークの座標を算出して記憶しておき、前記サーボモータをサーボロックした直後にも前記マークの座標を算出して記憶しておき、測定物の測定点の座標を算出する際には、少なくとも2つのマークの座標の前記設置調整直後と前記サーボロック直後の変化から、X軸フレームの真のX軸方向からのヨーイング角を算出し、該ヨーイング角を用いて測定座標の補正を行う二次元座標測定機であって、
前記テーブルの4隅には、それぞれマークM 1 、M 2 、M 3 、M 4 が付されており、
前記演算制御部は、測定物の測定点の座標を算出する際には、前記設置調整直後における2つのマークM 1 、M 2 の座標P 1 、P 2 を通る直線のX軸となす角α 1 と、前記設置調整後における別の2つのマークM 3 、M 4 の座標P 3 、P 4 を通る直線のX軸となす角α 2 と、前記角α 1 とα 2 の平均αと、前記サーボロック直後における2つのマークM 1 、M 2 の座標Q 1 、Q 2 を通る直線のX軸となす角β 1 と、前記サーボロック直後における別の2つのマークM 3 、M 4 の座標Q 3 、Q 4 を通る直線のX軸となす角β 2 と、前記角β 1 とβ 2 の平均βと、X軸フレームの真のX軸方向からのヨーイング角β−αを順次算出し、該ヨーイング角β−αを用いて測定座標の補正をすることを特徴とする二次元座標測定機。 - 前記各マークは、大小2つの十字線からなることを特徴とする請求項1に記載の二次元座標測定機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007244214A JP5017034B2 (ja) | 2007-09-20 | 2007-09-20 | 二次元座標測定機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007244214A JP5017034B2 (ja) | 2007-09-20 | 2007-09-20 | 二次元座標測定機 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009074931A JP2009074931A (ja) | 2009-04-09 |
JP5017034B2 true JP5017034B2 (ja) | 2012-09-05 |
Family
ID=40610045
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007244214A Active JP5017034B2 (ja) | 2007-09-20 | 2007-09-20 | 二次元座標測定機 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5017034B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108827165A (zh) * | 2018-05-23 | 2018-11-16 | 江苏理工学院 | 一种双激光头多尺寸推杆伺服检测装置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013243200A (ja) * | 2012-05-18 | 2013-12-05 | Denso Corp | 測定装置 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0782390B2 (ja) * | 1986-05-16 | 1995-09-06 | 株式会社ニコン | ステージ位置決め方法 |
JP2707548B2 (ja) * | 1987-05-30 | 1998-01-28 | ソニー株式会社 | 視覚認識装置の座標補正方法 |
JP2694868B2 (ja) * | 1987-08-31 | 1997-12-24 | 株式会社ニコン | 位置検出方法及び装置 |
JPH02138801A (ja) * | 1988-11-18 | 1990-05-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 位置合わせ方法および位置合わせ装置 |
JP3295846B2 (ja) * | 1989-06-08 | 2002-06-24 | 株式会社ニコン | 位置測定方法、位置測定装置、位置決め方法、位置決め装置、および露光装置 |
JPH04245766A (ja) * | 1991-01-31 | 1992-09-02 | Ricoh Co Ltd | 画像読取装置 |
JP3339090B2 (ja) * | 1993-02-25 | 2002-10-28 | ソニー株式会社 | 位置検出方法 |
JP3460984B2 (ja) * | 1993-02-26 | 2003-10-27 | 株式会社ニコン | 投影露光方法及び露光装置 |
JP3198718B2 (ja) * | 1993-04-14 | 2001-08-13 | キヤノン株式会社 | 投影露光装置及びそれを用いた半導体素子の製造方法 |
JP2889083B2 (ja) * | 1993-06-25 | 1999-05-10 | 株式会社ソキア | 二次元座標測定機 |
JPH0766115A (ja) * | 1993-08-23 | 1995-03-10 | Canon Inc | 露光装置 |
JPH08271220A (ja) * | 1995-03-28 | 1996-10-18 | Mitsutoyo Corp | 移動装置及びこれに用いる基準スケールの製造方法 |
JP3530692B2 (ja) * | 1996-11-06 | 2004-05-24 | キヤノン株式会社 | 走査型露光装置及びそれを用いたデバイスの製造方法 |
JPH10207522A (ja) * | 1997-01-23 | 1998-08-07 | Tenryu Technic:Kk | プレイバックロボット制御方法 |
JPH10223510A (ja) * | 1997-02-07 | 1998-08-21 | Nikon Corp | 露光装置 |
JPH10307005A (ja) * | 1997-05-08 | 1998-11-17 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 測長装置 |
JP2000124686A (ja) * | 1998-10-20 | 2000-04-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品の実装方法 |
JP3357943B2 (ja) * | 1998-12-07 | 2002-12-16 | 株式会社ニコン | 露光装置、ステージ制御装置及びステージの位置制御方法 |
JP2004273578A (ja) * | 2003-03-06 | 2004-09-30 | Juki Corp | 電子部品装着方法及び装置 |
JP2004349494A (ja) * | 2003-05-22 | 2004-12-09 | Nsk Ltd | ワークステージ及びその位置測定方法、並びにこれを備えた露光装置 |
JP2005017204A (ja) * | 2003-06-27 | 2005-01-20 | Nsk Ltd | 位置決め装置 |
JP4678204B2 (ja) * | 2005-02-18 | 2011-04-27 | 横河電機株式会社 | Xyステージ |
JP2007041244A (ja) * | 2005-08-03 | 2007-02-15 | Fujifilm Corp | ステージ位置変動情報取得方法および装置 |
-
2007
- 2007-09-20 JP JP2007244214A patent/JP5017034B2/ja active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108827165A (zh) * | 2018-05-23 | 2018-11-16 | 江苏理工学院 | 一种双激光头多尺寸推杆伺服检测装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009074931A (ja) | 2009-04-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20230028351A1 (en) | Laser patterning skew correction | |
TWI645267B (zh) | Optical measuring device and method | |
WO2012029142A1 (ja) | レーザ加工装置および基板位置検出方法 | |
TWI667090B (zh) | 雷射加工裝置 | |
JP2016205957A (ja) | X−y基板検査装置の可動ヘッド位置補正方法およびx−y基板検査装置 | |
JP2014524038A (ja) | 様々な材料および材料流れのための位置合わせシステム | |
KR20180132104A (ko) | 투영식 노광 장치 및 방법 | |
KR102357577B1 (ko) | 투영 노광 장치, 투영 노광 방법, 투영 노광 장치용 포토마스크, 및 기판의 제조 방법 | |
JP5017034B2 (ja) | 二次元座標測定機 | |
JP2010099597A (ja) | 塗布装置および塗布方法 | |
JP2017116401A (ja) | 基板位置調整装置および基板位置調整方法 | |
KR20000076357A (ko) | 전기 소자 제작용 장치를 측정하기 위한 방법 및 장치 | |
US7675633B2 (en) | Method for measuring positions of structures on a substrate with a coordinate measuring machine | |
JP6343524B2 (ja) | 投影露光装置 | |
JP2008065034A (ja) | 描画装置およびアライメント方法 | |
JPH09223650A (ja) | 露光装置 | |
JP2009025304A (ja) | 基板上の構造位置の測定値の補正値決定方法 | |
WO2019155954A1 (ja) | レーザマーキング装置 | |
JP6706164B2 (ja) | アライメント装置、露光装置、およびアライメント方法 | |
JP2012133122A (ja) | 近接露光装置及びそのギャップ測定方法 | |
JP2016205958A (ja) | X−y基板検査装置の可動ヘッド位置補正方法およびx−y基板検査装置 | |
JP2015112671A (ja) | 加工装置 | |
JP2004327922A (ja) | 加工位置補正方法 | |
JP2004349494A (ja) | ワークステージ及びその位置測定方法、並びにこれを備えた露光装置 | |
JP2009237255A (ja) | 露光装置、及び露光方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100729 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20101022 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20101022 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120305 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120313 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120510 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120605 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120611 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150615 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5017034 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |