JP2009016596A - 半導体装置及び半導体装置の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1層間絶縁膜31よりも下に配置された第1導電部材2と電気的に接続されたコンタクトプラグ12と、第1層間絶縁膜31上に設けられ、コンタクトプラグ12と電気的に接続された第2導電部材16とを有し、コンタクトプラグ12は、小径部12aと、小径部12a上に配置された大径部12bとを有し、大径部12bの外径D1が、小径部12aの外径D2よりも大きく、大径部12bの面積が、第2導電部材16と大径部12bとの接続面16bの面積よりも平面視で大きい半導体装置とする。
【選択図】図1
Description
このように、容量コンタクトプラグ112の径も下部電極116の底面の面積も小さくなってきており、容量コンタクトプラグ112と下部電極116との接触面積が減少してきている。
また、半導体記憶装置として、ソース接続電極とデータ転送トランジスタのソースとの接続面に凹凸が設けられたものがある(例えば、特許文献2参照)。
さらに、半導体素子として、接続プラグが突出部を有し、突出部の上面と側面とがキャパシタの第1電極と接触しているものも知られている(例えば、特許文献3参照)。
また、半導体素子として、キャパシタの下部電極とプラグとを電気的にコンタクトするためのストレージノードコンタクトプラグの上部面積が下部面積よりも広いものがある(例えば、特許文献5参照)。
また、キャパシタの下部電極と容量コンタクトプラグとの接触面積の減少に伴って、下部電極を形成する際の平面的な位置ずれにより容量コンタクトプラグ上に下部電極が形成されない状態、言い換えると、下部電極が容量コンタクトプラグを踏外した状態となってしまう場合があり、問題となっていた。
本発明の半導体装置は、第1層間絶縁膜を貫通して設けられ、前記第1層間絶縁膜よりも下に配置された第1導電部材と電気的に接続されたコンタクトプラグと、前記第1層間絶縁膜上に設けられ、前記コンタクトプラグと電気的に接続された第2導電部材とを有し、前記コンタクトプラグは、小径部と、前記小径部上に配置された大径部とを有し、前記大径部の外径が、前記小径部の外径よりも大きく、前記大径部の面積が、前記第2導電部材と前記大径部との接続面の面積よりも平面視で大きいことを特徴とする。
しかも、本発明の半導体装置によれば、コンタクトプラグの大径部が、前記小径部の外径よりも大きく、前記大径部の面積が、前記第2導電部材と前記大径部との接続面の面積よりも平面視で大きいものであるので、第2導電部材とコンタクトプラグとの接触面積を十分に確保することができ、第2導電部材とコンタクトプラグとのコンタクト抵抗を下げることができるとともに、第2導電部材とコンタクトプラグとの接続部分において電流の集中が生じにくく、電流の集中に起因するリーク電流増加を低減できる。
このように本発明の半導体装置の製造方法によれば、第2導電部材とコンタクトプラグとの接触面積を十分に確保することができるので、第2導電部材とコンタクトプラグとのコンタクト抵抗の低い半導体装置が得られるとともに、第2導電部材とコンタクトプラグとを容易に接触させることができ、第2導電部材を形成する際に、第2導電部材がコンタクトプラグを踏外すことを防止できる。
図1は、本発明の半導体装置の断面構造を説明するための図であって、図1(a)はゲート配線の平行方向の断面図であり、図1(b)は図1(a)の一部を拡大して示した拡大図である。なお、図1に示す半導体装置において、図8に示す従来の半導体装置と同一の部分には同一の符号を付し、その説明を省略する。
図1に示す半導体装置を製造するには、まず、シリコン基板などからなる基板21上に、公知の技術を用いて、分離絶縁膜によって区画された素子分離領域(STI)22を形成する。その後、基板21上に、公知のリソグラフィ技術、エッチング技術、イオン注入技術、成膜技術などを用いて、ゲート電極24と、ゲート酸化膜25と、ソース23a、23cおよびドレイン23bを構成する不純物拡散層23とを備える選択用のトランジスタを形成する。
続いて、プラグ層間絶縁膜3上のビットコンタクトプラグ4が露出する領域に、窒化タングステン膜5とタングステン膜などの金属膜6とからなる複数のビット線51を形成する。その後、ビット線51上を覆うようにシリコン窒化膜からなるビット線絶縁膜7を形成する(図2(a))。
その後、ビット線層間絶縁膜8上にフォトレジストを塗布し、図3に示すように、フォトレジストグラフィ技術を用いて小径部形成領域Aのビット線層間絶縁膜8を露出する第1レジストマスク9を形成する。ここでの小径部形成領域Aは、セルコンタクトプラグ2と平面視で重なる領域を含み、平面視したときに隣接するビット線51間の位置である領域であって、容量コンタクトプラグ12の小径部12aの形成される領域である。
そして、小径部形成領域Aのビット線層間絶縁膜8およびプラグ層間絶縁膜3をドライエッチングして、隣接するビット線51間に形成され、底面にセルコンタクトプラグ2が露出された第1容量コンタクトホール11aを形成する(第1エッチング工程)(図3)。その後、第1レジストマスク9を除去する。
本実施形態において、ビット線層間絶縁膜8上の大径部形成領域Bは、容量コンタクトプラグ12の大径部12bの形成される領域のうちの小径部12aと平面視重ならない領域であり、平面視したときに隣接するビット線51間に跨る領域である。言い換えると、ビット線層間絶縁膜8上の大径部形成領域Bは、小径部形成領域Aを取り囲む小径部形成領域Aを含まない領域であって、小径部形成領域Aの周辺の領域である。したがって、図4に示すように、ビット線層間絶縁膜8上にフォトレジストを塗布することにより第1容量コンタクトホール11a内に堆積された第2レジストマスク10となるフォトレジストは、ビット線層間絶縁膜8上の大径部形成領域Bを露出させて第2レジストマスク10を形成する際に除去されず、第1容量コンタクトホール11a内に残留して、第2レジストマスク10の一部を形成することになる。このように、第1容量コンタクトホール11a内にも第2レジストマスク10を形成することで、第1容量コンタクトホール11a内が図5に示す第2容量コンタクトホール11bを形成するためのドライエッチングにより破壊されることを防止できる。
その後、下部電極16上および第2層間絶縁膜41上に、酸化アルミニウム膜などからなる容量絶縁膜17を形成し、容量絶縁膜17上に窒化チタン膜などからなる上部電極18を形成し、シリンダ15内を上部電極18で充填してキャパシタ19とする。
また、本実施形態の半導体装置によれば、大径部12bの外径D1が、小径部12aの外径D2よりも大きく、大径部12bの面積が、下部電極16と容量コンタクトプラグ12との接続面16bの面積よりも平面視で大きいものであるので、下部電極16と容量コンタクトプラグ12との接触面積を十分に確保することができ、下部電極16と容量コンタクトプラグ12とのコンタクト抵抗を下げることができるとともに、下部電極16と容量コンタクトプラグ12との接続部分において電流の集中が生じにくく、電流の集中に起因するリーク電流増加を低減できる。
ここで、例えば、図1に示す容量コンタクトプラグ12に代えて、図9に示す半導体装置のように、隣接するビット線間に配置可能な深さ方向に略一定の外径を有する断面視I字型の容量コンタクトプラグ120とした場合には、下部電極160と容量コンタクトプラグ120との接続面160bの面積と、容量コンタクトプラグ120の面積とが平面視で同じものとなり、容量コンタクトプラグ120の上部120aの側面および上面が、下部電極160の底壁160aに食い込んで、下部電極160の底壁160aに段差が形成されやすく、下部電極160と容量コンタクトプラグ120との接続部分における電流の集中が生じやすいものとなる。
例えば、本発明は、上述した実施形態に示したように、第1導電部材がトランジスタの不純物拡散層と電気的に接続されたセルコンタクトプラグであり、第2導電部材がDRAMのキャパシタの下部電極であり、コンタクトプラグがセルコンタクトプラグと下部電極と電気的に接続するための容量コンタクトプラグである場合に好適に用いることができるが、本発明を構成する第1導電部材、第2導電部材、コンタクトプラグはこの例に限定されるものではない。
Claims (11)
- 第1層間絶縁膜を貫通して設けられ、前記第1層間絶縁膜よりも下に配置された第1導電部材と電気的に接続されたコンタクトプラグと、
前記第1層間絶縁膜上に設けられ、前記コンタクトプラグと電気的に接続された第2導電部材とを有し、
前記コンタクトプラグは、小径部と、前記小径部上に配置された大径部とを有し、前記大径部の外径が、前記小径部の外径よりも大きく、前記大径部の面積が、前記第2導電部材と前記大径部との接続面の面積よりも平面視で大きいことを特徴とする半導体装置。 - 前記第1層間絶縁膜は、プラグ層間絶縁膜と、前記プラグ層間絶縁膜上に設けられたビット線層間絶縁膜とからなり、前記プラグ層間絶縁膜と前記ビット線層間絶縁膜との間には、複数のビット線が形成されており、
前記小径部が、隣接するビット線間に配置され、前記大径部が、隣接するビット線間の距離よりも大きい外形を有することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記ビット線は、ビット線絶縁膜に覆われたものであり、
前記ビット線絶縁膜の少なくとも一部が、前記大径部と平面視で重なっていることを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。 - 前記大径部の上面に、前記コンタクトプラグと前記第2導電部材との接触面積を拡大する接触面積拡大穴が形成されていることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載の半導体装置。
- 前記第1導電部材が、トランジスタの不純物拡散層と電気的に接続されたものであり、
前記第2導電部材が、前記第1層間絶縁膜上に設けられた第2層間絶縁膜を貫通して設けられたキャパシタの下部電極であることを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれかに記載の半導体装置。 - 請求項1〜請求項5のいずれかに記載の半導体装置の製造方法であって、
前記第1層間絶縁膜上に、前記小径部の形成される小径部形成領域を露出して第1レジストマスクを形成する工程と、
前記小径部形成領域の前記第1層間絶縁膜をエッチングして底面に第1導電部材が露出された第1容量コンタクトホールを形成する第1エッチング工程と、
前記第1レジストマスクを除去する工程と、
前記第1層間絶縁膜上の前記大径部の形成される大径部形成領域を露出して、前記第1層間絶縁膜上に第2レジストマスクを形成する工程と、
前記大径部形成領域の前記第1層間絶縁膜をエッチングして第2容量コンタクトホールを形成する第2エッチング工程と、
前記第2レジストマスクを除去する工程と、
前記第1容量コンタクトホール内および前記第2容量コンタクトホール内に導電材料を充填して前記小径部および前記大径部を形成することにより、前記コンタクトプラグを形成する工程と、
前記第1層間絶縁膜上および前記大径部上に前記第2層間絶縁膜を設け、前記大径部上に設けられた前記第2層間絶縁膜をエッチングすることにより、前記第2層間絶縁膜を貫通し、底面の少なくとも一部に前記大径部が露出され、前記底面の面積が前記大径部の面積よりも平面視で小さい接続穴を形成する第3エッチング工程と、
前記底面に露出された前記大径部を前記コンタクトプラグとの接続面とする前記第2導電部材を形成する第2導電部材形成工程とを備えることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 前記第1層間絶縁膜は、プラグ層間絶縁膜と、前記プラグ層間絶縁膜上に設けられたビット線層間絶縁膜とからなり、前記プラグ層間絶縁膜と前記ビット線層間絶縁膜との間には、複数のビット線が形成されており、
前記第1エッチング工程において、前記第1容量コンタクトホールを隣接するビット線間に形成し、
前記第2エッチング工程において、前記第2容量コンタクトホールを前記隣接するビット線間の距離よりも大きい外形となるように形成することを特徴とする請求項6に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記ビット線が、ビット線絶縁膜に覆われたものであり、
前記第2エッチング工程において、前記ビット線絶縁膜をエッチングストッパーとして前記第2容量コンタクトホールを形成することを特徴とする請求項7に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記第3エッチング工程において、前記大径部の上面に、前記コンタクトプラグと前記第2導電部材との接触面積を拡大する接触面積拡大穴を形成し、
前記第2導電部材形成工程において、前記接触面積拡大穴の内壁に沿って前記第2導電部材を形成することを特徴とする請求項6〜請求項8のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。 - 前記接続穴が、前記底面の内径を前記大径部の外径よりも小さくしてなるシリンダであり、
前記第2導電部材形成工程において、前記シリンダの内面に沿ってキャパシタの下部電極となる前記第2導電部材を形成することを特徴とする請求項6〜請求項9のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。 - 前記第2レジストマスクを形成する工程において、前記第1容量コンタクトホール内に前記第2レジストマスクを形成することを特徴とする請求項6〜請求項10のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。
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---|---|---|---|
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US12/167,264 US8008159B2 (en) | 2007-07-05 | 2008-07-03 | Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method |
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---|---|---|---|
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---|---|
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012204560A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Elpida Memory Inc | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2014138141A (ja) * | 2013-01-18 | 2014-07-28 | Renesas Electronics Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2015060863A (ja) * | 2013-09-17 | 2015-03-30 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100087915A (ko) * | 2009-01-29 | 2010-08-06 | 삼성전자주식회사 | 실린더형 스토리지 노드를 포함하는 반도체 메모리 소자 및그 제조 방법 |
KR101557871B1 (ko) * | 2009-03-26 | 2015-10-06 | 삼성전자주식회사 | 반도체 소자 및 그 제조 방법 |
US9166054B2 (en) * | 2012-04-13 | 2015-10-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US8779546B1 (en) * | 2013-03-07 | 2014-07-15 | Sony Corporation | Semiconductor memory system with bit line and method of manufacture thereof |
JP2015211108A (ja) * | 2014-04-25 | 2015-11-24 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
MA44700A (fr) * | 2015-05-29 | 2019-02-27 | Dynavax Tech Corp | Combinaison d'un anticorps anti-il-10 et d'un oligonucléotide de type cpg-c pour le traitement du cancer |
CN108962824B (zh) | 2017-05-17 | 2019-08-13 | 联华电子股份有限公司 | 半导体元件及其制作方法 |
US20180350607A1 (en) * | 2017-06-01 | 2018-12-06 | Globalfoundries Inc. | Semiconductor structure |
US11024720B2 (en) | 2019-03-13 | 2021-06-01 | International Business Machines Corporation | Non-self aligned contact semiconductor devices |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11177052A (ja) * | 1997-12-11 | 1999-07-02 | Fujitsu Ltd | 半導体装置とその製造方法 |
JP2000299448A (ja) * | 1999-04-12 | 2000-10-24 | Samsung Electronics Co Ltd | ダイラムセルキャパシタ及び製造方法 |
US20010018273A1 (en) * | 1999-12-23 | 2001-08-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of fabricating copper interconnecting line |
US6589711B1 (en) * | 2001-04-04 | 2003-07-08 | Advanced Micro Devices, Inc. | Dual inlaid process using a bilayer resist |
JP2003528442A (ja) * | 1999-06-30 | 2003-09-24 | インテル・コーポレーション | デュアル・ダマシン処理中に下層の配線層を保護する方法 |
JP2003297952A (ja) * | 2002-03-21 | 2003-10-17 | Samsung Electronics Co Ltd | 円筒型キャパシタを含む半導体素子及びその製造方法 |
JP2004111624A (ja) * | 2002-09-18 | 2004-04-08 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
JP2004282041A (ja) * | 2003-02-26 | 2004-10-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JP2007173470A (ja) * | 2005-12-21 | 2007-07-05 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置の製造方法 |
JP2008311652A (ja) * | 2007-06-12 | 2008-12-25 | Samsung Electronics Co Ltd | 半導体素子及びその製造方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW377495B (en) * | 1996-10-04 | 1999-12-21 | Hitachi Ltd | Method of manufacturing semiconductor memory cells and the same apparatus |
JPH10294441A (ja) | 1997-04-22 | 1998-11-04 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP2001176965A (ja) * | 1999-12-20 | 2001-06-29 | Nec Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
KR100331568B1 (ko) * | 2000-05-26 | 2002-04-06 | 윤종용 | 반도체 메모리 소자 및 그 제조방법 |
US6395632B1 (en) * | 2000-08-31 | 2002-05-28 | Micron Technology, Inc. | Etch stop in damascene interconnect structure and method of making |
KR100386109B1 (ko) * | 2000-11-08 | 2003-06-02 | 삼성전자주식회사 | 2단 메탈콘택구조를 가진 반도체 메모리 장치 및 그제조방법 |
JP2002083881A (ja) | 2001-07-09 | 2002-03-22 | Nec Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2003282734A (ja) | 2002-03-27 | 2003-10-03 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置及びその製造方法 |
JP2004207681A (ja) | 2002-11-07 | 2004-07-22 | Toshiba Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
KR100526869B1 (ko) * | 2003-06-19 | 2005-11-09 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리에서의 커패시터 하부 전극 형성방법 |
KR100524973B1 (ko) * | 2003-06-25 | 2005-10-31 | 삼성전자주식회사 | 커패시터를 포함하는 반도체 소자의 제조방법 |
KR100780610B1 (ko) | 2003-11-28 | 2007-11-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체소자 제조 방법 |
-
2007
- 2007-07-05 JP JP2007177188A patent/JP2009016596A/ja not_active Abandoned
-
2008
- 2008-07-03 US US12/167,264 patent/US8008159B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-08-12 US US13/208,693 patent/US8785999B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11177052A (ja) * | 1997-12-11 | 1999-07-02 | Fujitsu Ltd | 半導体装置とその製造方法 |
JP2000299448A (ja) * | 1999-04-12 | 2000-10-24 | Samsung Electronics Co Ltd | ダイラムセルキャパシタ及び製造方法 |
JP2003528442A (ja) * | 1999-06-30 | 2003-09-24 | インテル・コーポレーション | デュアル・ダマシン処理中に下層の配線層を保護する方法 |
US20010018273A1 (en) * | 1999-12-23 | 2001-08-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of fabricating copper interconnecting line |
US6589711B1 (en) * | 2001-04-04 | 2003-07-08 | Advanced Micro Devices, Inc. | Dual inlaid process using a bilayer resist |
JP2003297952A (ja) * | 2002-03-21 | 2003-10-17 | Samsung Electronics Co Ltd | 円筒型キャパシタを含む半導体素子及びその製造方法 |
JP2004111624A (ja) * | 2002-09-18 | 2004-04-08 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
JP2004282041A (ja) * | 2003-02-26 | 2004-10-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JP2007173470A (ja) * | 2005-12-21 | 2007-07-05 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置の製造方法 |
JP2008311652A (ja) * | 2007-06-12 | 2008-12-25 | Samsung Electronics Co Ltd | 半導体素子及びその製造方法 |
Cited By (3)
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JP2012204560A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Elpida Memory Inc | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2014138141A (ja) * | 2013-01-18 | 2014-07-28 | Renesas Electronics Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2015060863A (ja) * | 2013-09-17 | 2015-03-30 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
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