JP2009002967A - コンタクトプローブ - Google Patents
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Abstract
【課題】削りかすが先端部に付着する量を低減し、被測定面に形成するキズを軽減できるコンタクトプローブを提供する。
【解決手段】コンタクトプローブは、被測定面に接触させるための先端部1と、支持および電気的接続を行なうための支持部3と、上記先端部を上記支持部に接続するスプリング部2とを備える。これらは、先端部1を被測定面に押し当てたときにスプリング部2の弾性変形によって先端部1が被測定面に当接したまま第1の側に変位するように構成されている。先端部1は、そのさらに先端において、前記第1の側に設けられた角部である第1角部としての角部13と、反対側である第2の側に設けられた第2角部としての角部14とを、接続点を介して隣り合うように有し、角部13は、第1の曲率半径で丸みがつけられており、角部14は、前記第1の曲率半径と異なる第2の曲率半径で丸みがつけられている。
【選択図】図3
【解決手段】コンタクトプローブは、被測定面に接触させるための先端部1と、支持および電気的接続を行なうための支持部3と、上記先端部を上記支持部に接続するスプリング部2とを備える。これらは、先端部1を被測定面に押し当てたときにスプリング部2の弾性変形によって先端部1が被測定面に当接したまま第1の側に変位するように構成されている。先端部1は、そのさらに先端において、前記第1の側に設けられた角部である第1角部としての角部13と、反対側である第2の側に設けられた第2角部としての角部14とを、接続点を介して隣り合うように有し、角部13は、第1の曲率半径で丸みがつけられており、角部14は、前記第1の曲率半径と異なる第2の曲率半径で丸みがつけられている。
【選択図】図3
Description
本発明は、半導体基板や液晶表示装置などの電気検査を行なうためのコンタクトプローブに関する。
半導体基板や液晶表示装置などに形成された回路の検査は、一般に、多数のコンタクトプローブを備えた検査装置を用いて行われている。このコンタクトプローブの1本1本の構造としては、従来は、LIGA(Lithographie Galvanoformung Abformung)法によって形成可能なものが提案されている。これは、たとえば、特開2001−343397号公報(特許文献1)に説明されているように一定パターンのマスクを用いて、リソグラフィとメッキによって形成するものである。
LIGA法によって形成するコンタクトプローブの形状としては、たとえば、図12、図13にそれぞれ示すようなものが考えられていた。これらのコンタクトプローブは、それぞれ、被測定面20に接触させるための先端部1と、湾曲部分を有するスプリング部2と、検査装置にコンタクトプローブ自体を取り付ける際にコンタクトプローブを保持するための支持部3とを備える。スプリング部2の形状は、図12、図13に示したような1回湾曲しただけの形に限らず、S字形や波形のものもありうる。
検査において、確実に電気的接触を確保するためには、被測定面上に形成された自然酸化膜やレジスト残留物などの絶縁膜を破ってその下に隠れた電極材料と電気的接触を確保する必要がある。絶縁膜を破るためにはコンタクトプローブの先端部は一般に尖ったものとされる。ここで、尖った先端部を単純に押し当てて絶縁膜を突き通して破るという方法以外に、尖った先端部を被測定面に押し当て、被測定面に沿って引っかくことによって絶縁膜を削り取り、その下の電極材料と電気的接触を確保するという方法もある。この先端部が被測定面を引っかく動作を「スクラブ」という。
スクラブを行なわせるコンタクトプローブの場合、一般に、図14に示すように、先端部1の最下部に平坦面10が設けられる。平坦面の両側を傾斜面15が挟んでいる。
図12に示すコンタクトプローブの保持部3を固定して被測定面20に垂直に押し当てると、先端部1の平坦面10が被測定面20に面接触し、スプリング部2は矢印31に示すように弾性変形する。この弾性変形の際に、先端部1は被測定面20に押し当てられることによって姿勢を拘束されているので、先端部1だけに注目すれば平坦面10が被測定面20にほぼ面接触した姿勢を保ったまま矢印32の向きに変位し、スクラブが行なわれる。
図13に示すコンタクトプローブの場合であれば、コンタクトプローブの保持部3を固定して被測定面20に垂直に押し当てると、先端部1の平坦面10が被測定面20に面接触し、スプリング部2は矢印33に示すように弾性変形する。この弾性変形の際に、先端部1は被測定面20に押し当てられることによって姿勢を拘束されているので、先端部1だけに注目すれば平坦面10が被測定面20にほぼ面接触した姿勢を保ったまま矢印34の向きに変位し、スクラブが行なわれる。
被測定面20に押し当てられた先端部1がいずれの向きに変位するかは、コンタクトプローブが同種材料で一体成形されている場合、先端部1、スプリング部2および支持部3の個々の形状や相対的位置関係によって決まる。また、異種材材料を組合せている場合は、上述の各条件以外に各部分の材質にも依存する。
図15〜図17を参照して、先端部が被測定面に当接し、離脱するまでの一連の動作についてより詳しく説明する。図15に示す例では、測定対象物は、基板21の表面にアルミ電極22が配置されたものであり、アルミ電極22の表面が被測定面20である。アルミ電極22の表面は自然に形成された酸化膜25によって覆われている。図15に示すように真上からコンタクトプローブの先端部1が降下し、平坦部10が被測定面20に当接する。図16に示すようにスプリング部2(図16には表れていない)の弾性変形によって先端部1が変位する。図16の例では、先端部1は右に変位するものと仮定している。このとき、先端部1は被測定面20に対して押しつけられているので、先端部1は平坦面10を被測定面20の接触させた姿勢のまま図中右向きに移動する。すなわち、スクラブが行なわれる。このとき、先端部1によって酸化膜25が削り取られ、キズ24が形成されるが、同時に先端部1は、酸化膜25の下に隠れていたアルミ電極22と電気的接触を確保することができる。この状態でコンタクトプローブを介した測定が行なわれる。
測定が終わった後で、コンタクトプローブは上昇する。このとき、先端部1は、図16の状態から即座に真上に上がるのではなく、図17に示すように、スプリング部2の弾性変形が回復する間に図中左向きにスクラブしながら移動する。そして、その後上昇する。
特開2001−343397号公報
スクラブすることで、先端部1にはアルミ電極22および酸化膜25の削りくず23が付着する(図16、図17参照)。コンタクトプローブで測定を行なう度に、図15〜図17に示したような動作が行なわれることになるが、削りくず23は、コンタクトプローブを押しつける際のスクラブ(図16参照)において付着するのみならず、コンタクトプローブを離脱させる際のスクラブ(図17参照)においても新たに付着する。このうち、離脱の際のスクラブは、測定に何ら貢献しない不要なスクラブである。このように付着した削りくず23は、次回の測定においてコンタクトプローブの電気接触性を低下させてしまう。したがって、ある程度良好な電気接触性を維持するためには、測定作業を一定回数(たとえば1000回)行なった後には、先端部1をクリーニングする必要がある。クリーニングの際には測定作業を中断せざるを得ないため、生産性が低下する原因となる。
また、削りくず23が多く付着した状態では、測定が不正確になり、測定対象製品が本当は不良でない場合にも不良と判断してしまう場合がある。これは不要な歩留り低下をもたらす原因となる。
さらに、先端部1は被測定面20において電気的接触確保に寄与するコンタクトプローブ押しつけ時のスクラブ(図16参照)以外に、測定後の離脱の際のスクラブ(図17参照)にも被測定面20にキズ24を新たに生成してしまうため、アルミ電極22のキズ24が本来絶縁膜を破るのに必要な程度を超えて大きくなってしまう。このことによって、その後のアルミ電極22に対する金線を用いた超音波ボンディングにおいて、金線とアルミ電極22との間で合金化が正常に進まず接合不良を生じる場合がある。
そこで、本発明では、削りくずが先端部に付着する量を低減し、被測定面に形成するキズを軽減したコンタクトプローブを提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明に基づくコンタクトプローブは、被測定面に接触させるための先端部と、支持および電気的接続を行なうための支持部と、上記先端部を上記支持部に接続するスプリング部とを備え、上記先端部、上記支持部および上記スプリング部は、上記支持部を固定して上記先端部を上記被測定面に押し当てたときに上記スプリング部に生じる弾性変形によって上記先端部が上記被測定面に当接したまま第1の側に変位するように構成されており、上記先端部は、そのさらに先端において、上記第1の側に設けられた角部である第1角部と、上記第1の側と反対側である第2の側に設けられた第2角部とを、接続点を介して隣り合うように有し、上記第1角部は、第1の曲率半径で丸みがつけられており、上記第2角部は、上記第1の曲率半径と異なる第2の曲率半径で丸みがつけられている。この構成を採用することにより、被測定面への押しつけ時のスクラブと離脱時のスクラブのうちの一方で被測定面を削って電気的接触を確保し、他方では削りくずを発生しないコンタクトプローブとすることができる。
上記発明において好ましくは、上記第1の曲率半径より上記第2の曲率半径の方が大きくなっている。この構成を採用することにより、押しつけ時のスクラブにおいては被測定面を十分削ることができ、離脱時のスクラブにおいてはあまり削らないコンタクトプローブとすることができる。
上記発明において好ましくは、上記第1角部から見て上記第1の側には、上記第1角部によって生成される削りくずを上記被測定面に向けて押えつけるための抑制部を備える。この構成を採用することにより、第1角部で電気的接触を確保しながらも第1角部が被測定面から生成しようとする削りくずの成長を防止できる。したがって、削りくずの付着に起因する問題を解消することができる。
上記発明において好ましくは、上記抑制部は、上記第1の側に向かって延在し、上記被測定面に対向する抑制面を含む。この構成を採用することにより、削りくずの成長する方向が多少ばらついても抑制面によって削りくずを被測定面の側に押し戻すことができ、簡単な構成でありながら削りくずの成長を確実に抑制することができる。
上記発明において好ましくは、上記抑制部は、複数の上記抑制面を階段状に含む。この構成を採用することにより、第1の側への初期傾きが多少大きくても抑制部のいずれかが作用できることとなり、初期傾きのばらつきに強いコンタクトプローブとすることができる。
上記発明において好ましくは、上記第2の曲率半径より上記第1の曲率半径の方が大きく、上記第2角部から見て上記第2の側には、上記第2角部によって生成される削りくずを上記被測定面に向けて押えつけるための抑制部を備える。この構成を採用することにより、被測定面に押しつける際のスクラブではなく、離脱する際のスクラブで電気的接触を確保し、なおかつ、離脱する際のスクラブで削りくずを成長させないコンタクトプローブとすることができる。
上記発明において好ましくは、上記抑制部は、上記第2の側に向かって延在し、上記被測定面に対向する抑制面を含む。この構成を採用することにより、離脱時のスクラブで生成される削りくずを抑制面によって被測定面の側に押し戻すことができ、簡単な構成でありながら削りくずの成長を確実に抑制することができる。
従来のコンタクトプローブでは、先端部1を拡大すると、図18に示すようになっていた。すなわち、平坦面10とその両側を挟む傾斜面15との境界部分は、角部16となっている。従来のコンタクトプローブにおいては、角部16の形状や大きさにはさほど考慮が払われておらず、押しつけ時のスクラブとして移動する向きに無関係に左右等しく形成されていた。そこで、発明者らは、角部の大きさに注目し、本発明をするに至った。
(実施の形態1)
(構成)
図1を参照して、本発明に基づく実施の形態1におけるコンタクトプローブについて説明する。図1はその先端部1を拡大したものである。このコンタクトプローブにおいては、平坦面10から見て、コンタクトプローブを被測定面に押しつける際のスクラブで移動する側(図1においては左側)の斜面を第1傾斜面11と呼ぶものとする。その反対側の斜面を第2傾斜面12と呼ぶものとする。平坦面10が第1傾斜面11と接する角部13と、平坦面10が第2傾斜面12と接する角部14とで、曲率半径が異なっている。図1に明らかなように角部13の曲率半径R1よりも角部14の曲率半径R2の方が大きくなっている。
(構成)
図1を参照して、本発明に基づく実施の形態1におけるコンタクトプローブについて説明する。図1はその先端部1を拡大したものである。このコンタクトプローブにおいては、平坦面10から見て、コンタクトプローブを被測定面に押しつける際のスクラブで移動する側(図1においては左側)の斜面を第1傾斜面11と呼ぶものとする。その反対側の斜面を第2傾斜面12と呼ぶものとする。平坦面10が第1傾斜面11と接する角部13と、平坦面10が第2傾斜面12と接する角部14とで、曲率半径が異なっている。図1に明らかなように角部13の曲率半径R1よりも角部14の曲率半径R2の方が大きくなっている。
(作用・効果)
このように押しつけ時のスクラブの際に移動する側の角部より、その反対側の角部の曲率半径が大きくなっていることにより、電気的接触確保に寄与する押しつけ時のスクラブにおいては被測定面を十分削ることができ、離脱時のスクラブにおいてはあまり削らないコンタクトプローブとすることができる。したがって、削りくずの付着量を低減することができ、その結果、コンタクトプローブをクリーニングなしに連続使用できる回数が増える。
このように押しつけ時のスクラブの際に移動する側の角部より、その反対側の角部の曲率半径が大きくなっていることにより、電気的接触確保に寄与する押しつけ時のスクラブにおいては被測定面を十分削ることができ、離脱時のスクラブにおいてはあまり削らないコンタクトプローブとすることができる。したがって、削りくずの付着量を低減することができ、その結果、コンタクトプローブをクリーニングなしに連続使用できる回数が増える。
また、離脱時のスクラブにおけるキズ発生を抑えることもできる。その結果、1回の測定当りの電極表面に生じるキズの程度を軽減することができ、ボンディング時の接合不良の発生頻度を低減することができる。
なお、図1に示す程度の曲率半径の差でもある程度の効果はあるが、よりその差を大きくした例を図2に示す。さらに、この先端部1を備えるコンタクトプローブの全体像を図3に示す。図2に示した例のように大きく差をつけた場合、離脱時のスクラブにおける削りくず付着低減やキズ発生軽減の効果はより大きい。発明者らが具体的に検討したところ、角部14の曲率半径が角部13の曲率半径の2倍以上であると、効果が大きいことがわかった。さらに、R1は0.1μm以上5μm以下である場合に、効果がよく確認できることがわかった。その中でも特にR1が0.5μm以上3μm以下である場合に効果が顕著である。角部13,14のなす角度は、いずれも90°以上170°以下である場合に良好な効果を発揮した。一方、170°より大きい場合には、先端部と被測定面との間にゴミが噛みこみやすくなり、信頼性が十分でなかった。
なお、角部13と角部14とは同じ角度であっても異なる角度であってもよい。これらのコンタクトプローブは、LIGA法によって一体的に製作することができるので、こういった先端部の角部の曲率半径や角度の設定はマスクのパターンを設定することで自在に可能である。
(実施の形態2)
(構成)
図4を参照して、本発明に基づく実施の形態2におけるコンタクトプローブについて説明する。図4はその先端部1を拡大したものである。コンタクトプローブを被測定面に押しつける際のスクラブでは、先端部1は、図中の左側に移動する。このようにコンタクトプローブを被測定面に押しつける際にスクラブする向きを「第1の側」とし、反対側(図中の右側)を「第2の側」とする。したがって、第2の側は、コンタクトプローブが被測定面から離脱する際にスクラブする向きに相当する。
(構成)
図4を参照して、本発明に基づく実施の形態2におけるコンタクトプローブについて説明する。図4はその先端部1を拡大したものである。コンタクトプローブを被測定面に押しつける際のスクラブでは、先端部1は、図中の左側に移動する。このようにコンタクトプローブを被測定面に押しつける際にスクラブする向きを「第1の側」とし、反対側(図中の右側)を「第2の側」とする。したがって、第2の側は、コンタクトプローブが被測定面から離脱する際にスクラブする向きに相当する。
このコンタクトプローブの先端部1においては、実施の形態1にあったような平坦面10(図1、図2参照)はない。この先端部1は、接続点Bを介して、第1の側にある第1角部としての角部13(点Bから点Dにかけて)と、第2の側にある第2角部としての角部14(点Bから点Cにかけて)とを有する。
角部13と角部14とは、曲率半径が異なっている。角部13の曲率半径がrであるのに対して、角部14の曲率半径はRであり、図4に明らかなようにR>rである。Rは想定している接触力でも削りくずが出ない大きさに設定されており、rは想定している接触力で被測定面を削って電気的接触を確保できる大きさに設定されている。角部14の曲率の中心は点Oである。接続点Bから見て角部13の点Dの先には、第1傾斜面11があり、角部14の点Cの先には第2傾斜面12がある。
このコンタクトプローブにおいて被測定面に接触させる前の状態で最も被測定面に近くに位置する点を初期最下点Aとする。初期最下点Aは角部13の途中、すなわち接続点Bから点Dまでの途中の1点にある。支持部3を固定した状態でコンタクトプローブを被測定面に向けて垂直に平行移動させていった場合、初期最下点Aが最初に被測定面に接触する。この後、スプリング部2が弾性変形することによって、先端部1全体が図4における時計回りに傾き、先端部1の被測定面に対する接触の中心は初期最下点Aのやや右側の押圧後最下点に移る。この状態で、被測定面に当接したまま、先端部1は第1の側(図中の左側)に変位し、スクラブが行なわれる。
押圧後最下点は、接続点Bに一致することが好ましい。すなわち、角度AOBの大きさΦは、被測定面に対する想定している接触力が得られるときの先端部1の傾き角に等しくすることが好ましい。なぜなら、押圧後最下点が接続点Bに一致している場合、コンタクトプローブを被測定面に押しつける際のスクラブでは角部13の全体が被測定面を削って必要な電気的接触を確保することに寄与できるからである。
しかし、実際には先端部1の傾き角にばらつきがあると考えられる。そのようなばらつきを考慮しても、押圧後最下点は、接続点Bから点Cまでのいずれかの点となることが好ましい。すなわち、角度AOCの大きさΘは、支持部3を被測定面に向けて最も接近させたとき、すなわち、スプリング部2が最も大きく弾性変形したときに生じ得る先端部1の最大傾き角より大きくしておくことが必要である。なぜなら、仮に被測定面への押しつけによって先端部1がΘより大きく傾いてしまった場合、傾斜面12が被測定面に接触してしまうことになり、被測定面を正しく削って電気的接触を確保することができなくなるからである。
(作用・効果)
このように押しつけ時のスクラブの際に移動する側の角部より、その反対側の角部の曲率半径が大きくなっていることにより、実施の形態1と同様の効果が得られる。
このように押しつけ時のスクラブの際に移動する側の角部より、その反対側の角部の曲率半径が大きくなっていることにより、実施の形態1と同様の効果が得られる。
(実施の形態3)
(構成)
図5を参照して、本発明に基づく実施の形態3におけるコンタクトプローブについて説明する。図5はその先端部1を拡大したものである。このコンタクトプローブは、実施の形態2で説明したものと同様に、最下点A、接続点B、第1角部としての角部13、第2角部としての角部14、第1傾斜面11、第2傾斜面12および角部14の曲率の中心点Oを備えている。ただし、実施の形態2のコンタクトプローブと異なることとして、本実施の形態のコンタクトプローブでは、角部13と第1傾斜面11との間に抑制部を備えている。抑制部は、角部13によって被測定面から生成される削りくずを被測定面に向けて押えつけるためのものであり、角部13から第1の側に向かって延在し、被測定面に対向する抑制面41(点Eから点Fまで)を含む。最下点Aから見た抑制面41の高さhは、削りくずが流出しない最大限の高さ以下でなければならない。高さhが高すぎると削りくずは抑制部の外側に流出してしまい削りくずを被測定面に向けて正しく押えつけることができないからである。ただし、高さhが小さすぎると、コンタクトプローブの反時計回りの初期傾きのばらつきに弱くなる。すなわち、コンタクトプローブの初期の傾きのばらつきによっては抑制面41と第1傾斜面との間の角部13dが被測定面に接触してしまい、削りくずを発生させてしまうため、不都合である。高さhは、コンタクトプローブの初期傾きのばらつきによっても角部13dが被測定面に接触しない程度に大きく、なおかつ角部13が生成する削りくずが外部に流出しない程度に小さくなければならない。
(構成)
図5を参照して、本発明に基づく実施の形態3におけるコンタクトプローブについて説明する。図5はその先端部1を拡大したものである。このコンタクトプローブは、実施の形態2で説明したものと同様に、最下点A、接続点B、第1角部としての角部13、第2角部としての角部14、第1傾斜面11、第2傾斜面12および角部14の曲率の中心点Oを備えている。ただし、実施の形態2のコンタクトプローブと異なることとして、本実施の形態のコンタクトプローブでは、角部13と第1傾斜面11との間に抑制部を備えている。抑制部は、角部13によって被測定面から生成される削りくずを被測定面に向けて押えつけるためのものであり、角部13から第1の側に向かって延在し、被測定面に対向する抑制面41(点Eから点Fまで)を含む。最下点Aから見た抑制面41の高さhは、削りくずが流出しない最大限の高さ以下でなければならない。高さhが高すぎると削りくずは抑制部の外側に流出してしまい削りくずを被測定面に向けて正しく押えつけることができないからである。ただし、高さhが小さすぎると、コンタクトプローブの反時計回りの初期傾きのばらつきに弱くなる。すなわち、コンタクトプローブの初期の傾きのばらつきによっては抑制面41と第1傾斜面との間の角部13dが被測定面に接触してしまい、削りくずを発生させてしまうため、不都合である。高さhは、コンタクトプローブの初期傾きのばらつきによっても角部13dが被測定面に接触しない程度に大きく、なおかつ角部13が生成する削りくずが外部に流出しない程度に小さくなければならない。
(作用・効果)
図6〜図9を参照して、抑制部の働きについて説明する。まず、図6、図7は、抑制部のない場合の角部13の近傍を拡大したものである。先端部1が被測定面20に対して当接した状態で第1の側(図中左側)に進行する。図6に示すように角部13が被測定面20の表層部の材料を削ることによって、削りくず23を生成する。削りくず23は、矢印44の向きに押し出される。図7に示すように、削りくず23はそのまま第1傾斜面11に沿って成長を続ける。しかし、ある程度成長した時点で、削りくず23の根元の角部13に対向する部分に応力集中が起こり、破断面46が生じる。破断した削りくず23は、図16、図17に示した削りくず23のように先端部1の不所望な箇所に付着してしまい問題となる。
図6〜図9を参照して、抑制部の働きについて説明する。まず、図6、図7は、抑制部のない場合の角部13の近傍を拡大したものである。先端部1が被測定面20に対して当接した状態で第1の側(図中左側)に進行する。図6に示すように角部13が被測定面20の表層部の材料を削ることによって、削りくず23を生成する。削りくず23は、矢印44の向きに押し出される。図7に示すように、削りくず23はそのまま第1傾斜面11に沿って成長を続ける。しかし、ある程度成長した時点で、削りくず23の根元の角部13に対向する部分に応力集中が起こり、破断面46が生じる。破断した削りくず23は、図16、図17に示した削りくず23のように先端部1の不所望な箇所に付着してしまい問題となる。
一方、図8、図9は、抑制部のある場合の角部13の近傍を拡大したものである。先端部1が被測定面20に対して当接した状態で第1の側(図中左側)に進行する。図8に示すように角部13が被測定面20の表層部の材料を削ることによって、削りくず23を生成する。削りくず23は、当初矢印44の向きに押し出される。しかし、削りくず23が成長する先には抑制部の抑制面41が被測定面に対向するように配置されているので、削りくず23の先頭は抑制面41に衝突し、図9に示す矢印47のように、被測定面20の側へ押し戻される。抑制面41の高さh(図5参照)が削りくず23の外部への流出を許さない程度に低いため、結局、削りくず23は、それ以上成長することなく被測定面20に押しつけられる。削りくず23と先端部1との接触領域Sは広くなるため、応力は分散する。こうして削りくず23の成長は抑制されるため、削りくず23が先端部1に付着し、問題となることは防止される。
再び図5に戻ると、本実施の形態におけるコンタクトプローブでは、実施の形態2と同様の効果が得られることに加えて、角部13と第1傾斜面11との間に抑制面41を含む抑制部を備えているため、削りくずの成長を防止できる。したがって、従来の削りくずに起因する問題を解消することができる。
(実施の形態4)
(構成)
図10を参照して、本発明に基づく実施の形態4におけるコンタクトプローブについて説明する。図10はその先端部1を拡大したものである。このコンタクトプローブは、実施の形態3で説明したものと同様に、最下点A、接続点B、第1角部としての角部13、第2角部としての角部14、第1傾斜面11、第2傾斜面12および角部14の曲率の中心点Oを備えている。さらに、角部13と第1傾斜面11との間に抑制部を備えている。ただし、実施の形態3のコンタクトプローブでは、抑制部は、1つの抑制面41を含むのみであったが、本実施の形態のコンタクトプローブでは、抑制部は複数の抑制面41a,41b,41cを含んでいる。これらの複数の抑制面41a,41b,41cは階段状につながっている。抑制面41a,41bの間には角部13aがあり、抑制面41b,41cの間には角部13bがある。抑制面41cと第1傾斜面11との間には角部13cがある。抑制面41a,41b,41cの第1の側に向かって延びる長さは、順にそれぞれL1,L2,L3であり、L1>L2>L3となっている。
(構成)
図10を参照して、本発明に基づく実施の形態4におけるコンタクトプローブについて説明する。図10はその先端部1を拡大したものである。このコンタクトプローブは、実施の形態3で説明したものと同様に、最下点A、接続点B、第1角部としての角部13、第2角部としての角部14、第1傾斜面11、第2傾斜面12および角部14の曲率の中心点Oを備えている。さらに、角部13と第1傾斜面11との間に抑制部を備えている。ただし、実施の形態3のコンタクトプローブでは、抑制部は、1つの抑制面41を含むのみであったが、本実施の形態のコンタクトプローブでは、抑制部は複数の抑制面41a,41b,41cを含んでいる。これらの複数の抑制面41a,41b,41cは階段状につながっている。抑制面41a,41bの間には角部13aがあり、抑制面41b,41cの間には角部13bがある。抑制面41cと第1傾斜面11との間には角部13cがある。抑制面41a,41b,41cの第1の側に向かって延びる長さは、順にそれぞれL1,L2,L3であり、L1>L2>L3となっている。
ここでは、抑制面を3つ含む抑制部の例を示したが、抑制面の数は、他の値であってもよい。
(作用・効果)
上述のように抑制面を複数備えることによって、実施の形態3の効果に加えて、さらに、初期傾きのばらつきに強いコンタクトプローブとすることができる。このことについて、図10を参照して説明する。
上述のように抑制面を複数備えることによって、実施の形態3の効果に加えて、さらに、初期傾きのばらつきに強いコンタクトプローブとすることができる。このことについて、図10を参照して説明する。
最も理想的な状態では、先端部1の初期傾きは0であり、被測定面20は、直線AXの姿勢で最下点Aに最初に接触する。押圧によって先端部1が若干時計回りに傾いた後に、角部13が被測定面20を削り、抑制面41aが削りくずの成長を抑制しながら、先端部1は第1の向き(図中左側)に進行する。
ここで角部13と角部13aに共通の接線HGをひき、HGとAXとのなす角度をαとする。角部13aと角部13bに共通の接線IJをひき、IJとAXとのなす角度をβとする。角部13bと角部13cに共通の接線MNをひき、MNとAXとのなす角度をγとする。
仮に、先端部1の反時計回りの初期傾きがαより小さかった場合、被測定面20は角部13aには接触しないので、角部13が被測定面20を削り、抑制面41aによって削りくずの成長を抑制することができる。
仮に、先端部1の反時計回りの初期傾きがα以上β未満であった場合、被測定面20は角部13aに接触するが角部13bには接触しないので、角部13aが被測定面20を削り、抑制面41bによって削りくずの成長を抑制することができる。
仮に、先端部1の反時計回りの初期傾きがβ以上γ未満であった場合、被測定面20は角部13bに接触するが角部13cには接触しないので、角部13bが被測定面20を削り、抑制面41cによって削りくずの成長を抑制することができる。
仮に、先端部1の反時計回りの初期傾きがγ以上であった場合、被測定面20は角部13cに接触し、角部13cが被測定面20を削るため、削りくずの成長を抑制することはできない。
以上より、抑制面が41aの1つだけであった場合には、先端部1の反時計回りの初期傾きとして対応可能だった角度はα未満に限られたものが、抑制面を3つに増やしたことによって、γ未満の範囲にまで拡大できたことがわかる。したがって、抑制面を階段状にして増やしたことによって先端部の反時計回りの初期傾きにより強いコンタクトプローブとすることができた。
(実施の形態5)
(構成)
図11を参照して、本発明に基づく実施の形態5におけるコンタクトプローブについて説明する。図11はその先端部1を拡大したものである。このコンタクトプローブにおいても、コンタクトプローブを被測定面に押しつける際にスクラブする向きである「第1の側」は図中左側であり、コンタクトプローブが被測定面から離脱する際にスクラブする向きである「第2の側」は図中の右側である。このコンタクトプローブは、被測定面に押しつける際のスクラブではなく、離脱する際のスクラブで電気的接触を確保することを想定したものである。
(構成)
図11を参照して、本発明に基づく実施の形態5におけるコンタクトプローブについて説明する。図11はその先端部1を拡大したものである。このコンタクトプローブにおいても、コンタクトプローブを被測定面に押しつける際にスクラブする向きである「第1の側」は図中左側であり、コンタクトプローブが被測定面から離脱する際にスクラブする向きである「第2の側」は図中の右側である。このコンタクトプローブは、被測定面に押しつける際のスクラブではなく、離脱する際のスクラブで電気的接触を確保することを想定したものである。
このコンタクトプローブの先端部1では、接続点Bを介して、第1の側にある第1角部としての角部17(点Bから点Cにかけて)と、第2の側にある第2角部としての角部18(点Bから点Dにかけて)とを有する。
角部17と角部18とは、曲率半径が異なっている。角部17の曲率半径がRであるのに対して、角部18の曲率半径はrであり、図11に明らかなようにR>rである。角部17の曲率の中心は点Oである。接続点Bから見て角部17の点Cの先には、第1傾斜面11があり、角部18の点Dの先には抑制面41および角部19を介して第2傾斜面12がある。
このコンタクトプローブにおいて被測定面に接触させる前の状態で最も被測定面に近くに位置する点を初期最下点Aとする。初期最下点Aは角部17の途中、すなわち接続点Bから点Cまでの途中の1点にある。支持部3を固定した状態でコンタクトプローブを被測定面に向けて垂直に平行移動させていった場合、初期最下点Aが最初に被測定面に接触する。この後、スプリング部2が弾性変形することによって、先端部1全体が図11における時計回りに傾き、先端部1の被測定面に対する接触の中心は初期最下点Aのやや右側の押圧後最下点に移る。この状態で、被測定面に当接したまま、先端部1は第1の側(図中の左側)に変位し、スクラブが行なわれる。しかし、角部17は曲率半径Rであるので、削りくずは発生しない。
一方、コンタクトプローブが被測定面20から離脱する際には、先端部1は、第2の側(図中の右側)に変位するが、このとき、角部18によって被測定面20が削られる。しかし、角部18から見て第2の側には、抑制面41があるので、角部18によって生成された削りくずは抑制面41によって被測定面20に向けて押えつけられ成長を抑制される。接続点から見た抑制面41の高さhは、削りくずが流出しない最大限の高さ以下でなければならない。高さhが高すぎると削りくずは抑制部の外側に流出してしまい削りくずを被測定面に向けて正しく押えつけることができないからである。
角部18と角部19とに共通の接線をひいたときにその接線と、角部17に対して最下点Aで最初に接する被測定面20とのなす角度Ψは、支持部3を被測定面に向けて最も接近させたとき、すなわち、スプリング部2が最も大きく弾性変形したときに生じ得る先端部1の最大傾き角より大きくしておくことが必要である。なぜなら、仮に被測定面20への押しつけによって先端部1がΨより大きく傾いてしまった場合、角部19が被測定面20に接触してしまうことになり、角部19が被測定面20を削ることになってしまうからである。
押圧後最下点は、接続点Bに一致することが好ましい。すなわち、角度AOBの大きさΦは、被測定面に対する想定している接触力が得られるときの先端部1の傾き角に等しくすることが好ましい。なぜなら、押圧後最下点が接続点Bに一致している場合、コンタクトプローブを被測定面から離脱する際のスクラブは角部18の全体が被測定面を削る状態から開始することができ、必要な電気的接触を確保する上で有利だからである。
(作用・効果)
このように、構成することで、被測定面に押しつける際のスクラブではなく、離脱する際のスクラブで電気的接触を確保し、なおかつ、離脱する際のスクラブで削りくずを成長させないコンタクトプローブとすることができる。
このように、構成することで、被測定面に押しつける際のスクラブではなく、離脱する際のスクラブで電気的接触を確保し、なおかつ、離脱する際のスクラブで削りくずを成長させないコンタクトプローブとすることができる。
なお、実施の形態2〜5では、実施の形態1にあった平坦面10(図1参照)がなく、接続点Bによって第1角部と第2角部とがつながる形状を前提に説明したが、実施の形態2〜5の考え方を維持したまま、接続点Bの代わりに平坦面10を配置してもよい。
なお、今回開示した上記実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではない。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含むものである。
本発明によれば、押しつけ時のスクラブの際に移動する側の角部より、その反対側の角部の曲率半径が大きくなっているので、電気的接触確保に寄与する押しつけ時のスクラブにおいては被測定面を十分削ることができ、離脱時のスクラブにおいてはあまり削らないコンタクトプローブとすることができる。したがって、削りくずの付着量を低減することができ、被測定面に形成するキズを軽減することができる。
1 先端部、2 スプリング部、3 支持部、10 平坦面、11 第1傾斜面、12 第2傾斜面、13,13a,13b,13c,14,16,17,18,19 角部、15 傾斜面、20 被測定面、21 基板、22 アルミ電極、23 削りくず、24 キズ、25 酸化膜、31,32,33,34 矢印、41 抑制面、44,47 (削りくずの成長方向の)矢印、46 破断面。
Claims (7)
- 被測定面に接触させるための先端部と、
支持および電気的接続を行なうための支持部と、
前記先端部を前記支持部に接続するスプリング部とを備え、
前記先端部、前記支持部および前記スプリング部は、前記支持部を固定して前記先端部を前記被測定面に押し当てたときに前記スプリング部に生じる弾性変形によって前記先端部が前記被測定面に当接したまま第1の側に変位するように構成されており、
前記先端部は、そのさらに先端において、前記第1の側に設けられた角部である第1角部と、前記第1の側と反対側である第2の側に設けられた第2角部とを、接続点を介して隣り合うように有し、
前記第1角部は、第1の曲率半径で丸みがつけられており、
前記第2角部は、前記第1の曲率半径と異なる第2の曲率半径で丸みがつけられている、コンタクトプローブ。 - 前記第1の曲率半径より前記第2の曲率半径の方が大きくなっている、請求項1に記載のコンタクトプローブ。
- 前記第1角部から見て前記第1の側には、前記第1角部によって生成される削りくずを前記被測定面に向けて押えつけるための抑制部を備える、請求項2に記載のコンタクトプローブ。
- 前記抑制部は、前記第1の側に向かって延在し、前記被測定面に対向する抑制面を含む、請求項3に記載のコンタクトプローブ。
- 前記抑制部は、複数の前記抑制面を階段状に含む、請求項4に記載のコンタクトプローブ。
- 前記第2の曲率半径より前記第1の曲率半径の方が大きく、前記第2角部から見て前記第2の側には、前記第2角部によって生成される削りくずを前記被測定面に向けて押えつけるための抑制部を備える、請求項1に記載のコンタクトプローブ。
- 前記抑制部は、前記第2の側に向かって延在し、前記被測定面に対向する抑制面を含む、請求項6に記載のコンタクトプローブ。
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KR101034325B1 (ko) | 2009-04-02 | 2011-05-16 | (주)메리테크 | 반도체 프로브 카드용 프로브 니들 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05273237A (ja) * | 1992-03-26 | 1993-10-22 | Tokyo Electron Yamanashi Kk | プローブカード |
JP2000147004A (ja) * | 1998-08-31 | 2000-05-26 | Mitsubishi Electric Corp | ウエハテスト用プロ―ブ針とその製造方法およびそのプロ―ブ針によってテストした半導体装置 |
JP2001311746A (ja) * | 2000-04-28 | 2001-11-09 | Mitsubishi Materials Corp | コンタクトプローブ及びプローブ装置 |
-
2008
- 2008-09-25 JP JP2008246001A patent/JP2009002967A/ja active Pending
Patent Citations (3)
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JPH05273237A (ja) * | 1992-03-26 | 1993-10-22 | Tokyo Electron Yamanashi Kk | プローブカード |
JP2000147004A (ja) * | 1998-08-31 | 2000-05-26 | Mitsubishi Electric Corp | ウエハテスト用プロ―ブ針とその製造方法およびそのプロ―ブ針によってテストした半導体装置 |
JP2001311746A (ja) * | 2000-04-28 | 2001-11-09 | Mitsubishi Materials Corp | コンタクトプローブ及びプローブ装置 |
Cited By (1)
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---|---|---|---|---|
KR101034325B1 (ko) | 2009-04-02 | 2011-05-16 | (주)메리테크 | 반도체 프로브 카드용 프로브 니들 |
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