JP2003254995A - コンタクトプローブ - Google Patents
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Abstract
測定面に形成するキズを軽減できるコンタクトプローブ
を提供する。 【解決手段】 コンタクトプローブは、被測定面に接触
させるための先端部1と、支持および電気的接続を行な
うための支持部3と、上記先端部を上記支持部に接続す
るスプリング部2とを備える。先端部1は、被測定物に
面接触するために設けられた平坦面10と、上記平坦面
を挟んで設けられた第1傾斜面11および第2傾斜面1
2とを有する。第1傾斜面11は、コンタクトプローブ
を被測定面に押し当てたときにスプリング部に生じる弾
性変形によって平坦面10が被測定面に当接したまま変
位する側の斜面であって、角部13の曲率半径より、角
部14の曲率半径の方が大きくなっている。
Description
表示装置などの電気検査を行なうためのコンタクトプロ
ーブに関する。
れた回路の検査は、一般に、多数のコンタクトプローブ
を備えた検査装置を用いて行われている。このコンタク
トプローブの1本1本の構造としては、従来は、LIG
A(Lithographie Galvanoformung Abformung)法によ
って形成可能なものが提案されている。これは、たとえ
ば、特願2000−164407号(整理番号1000
462)に説明されているように一定パターンのマスク
を用いて、リソグラフィとメッキによって形成するもの
である。
ローブの形状としては、たとえば、図12、図13にそ
れぞれ示すようなものが考えられていた。これらのコン
タクトプローブは、それぞれ、被測定面20に接触させ
るための先端部1と、湾曲部分を有するスプリング部2
と、検査装置にコンタクトプローブ自体を取り付ける際
にコンタクトプローブを保持するための支持部3とを備
える。スプリング部2の形状は、図12、図13に示し
たような1回湾曲しただけの形に限らず、S字形や波形
のものもありうる。
るためには、被測定面上に形成された自然酸化膜やレジ
スト残留物などの絶縁膜を破ってその下に隠れた電極材
料と電気的接触を確保する必要がある。絶縁膜を破るた
めにはコンタクトプローブの先端部は一般に尖ったもの
とされる。ここで、尖った先端部を単純に押し当てて絶
縁膜を突き通して破るという方法以外に、尖った先端部
を被測定面に押し当て、被測定面に沿って引っかくこと
によって絶縁膜を削り取り、その下の電極材料と電気的
接触を確保するという方法もある。この先端部が被測定
面を引っかく動作を「スクラブ」という。
の場合、一般に、図14に示すように、先端部1の最下
部に平坦面10が設けられる。平坦面の両側を傾斜面1
5が挟んでいる。
3を固定して被測定面20に垂直に押し当てると、先端
部1の平坦面10が被測定面20に面接触し、スプリン
グ部2は矢印31に示すように弾性変形する。この弾性
変形の際に、先端部1は被測定面20に押し当てられる
ことによって姿勢を拘束されているので、先端部1だけ
に注目すれば平坦面10が被測定面20にほぼ面接触し
た姿勢を保ったまま矢印32の向きに変位し、スクラブ
が行なわれる。
あれば、コンタクトプローブの保持部3を固定して被測
定面20に垂直に押し当てると、先端部1の平坦面10
が被測定面20に面接触し、スプリング部2は矢印33
に示すように弾性変形する。この弾性変形の際に、先端
部1は被測定面20に押し当てられることによって姿勢
を拘束されているので、先端部1だけに注目すれば平坦
面10が被測定面20にほぼ面接触した姿勢を保ったま
ま矢印34の向きに変位し、スクラブが行なわれる。
いずれの向きに変位するかは、コンタクトプローブが同
種材料で一体成形されている場合、先端部1、スプリン
グ部2および支持部3の個々の形状や相対的位置関係に
よって決まる。また、異種材材料を組合せている場合
は、上述の各条件以外に各部分の材質にも依存する。
定面に当接し、離脱するまでの一連の動作についてより
詳しく説明する。図15に示す例では、測定対象物は、
基板21の表面にアルミ電極22が配置されたものであ
り、アルミ電極22の表面が被測定面20である。アル
ミ電極22の表面は自然に形成された酸化膜25によっ
て覆われている。図15に示すように真上からコンタク
トプローブの先端部1が降下し、平坦部10が被測定面
20に当接する。図16に示すようにスプリング部2
(図16には表れていない)の弾性変形によって先端部
1が変位する。図16の例では、先端部1は右に変位す
るものと仮定している。このとき、先端部1は被測定面
20に対して押しつけられているので、先端部1は平坦
面10を被測定面20の接触させた姿勢のまま図中右向
きに移動する。すなわち、スクラブが行なわれる。この
とき、先端部1によって酸化膜25が削り取られ、キズ
24が形成されるが、同時に先端部1は、酸化膜25の
下に隠れていたアルミ電極22と電気的接触を確保する
ことができる。この状態でコンタクトプローブを介した
測定が行なわれる。
は上昇する。このとき、先端部1は、図16の状態から
即座に真上に上がるのではなく、図17に示すように、
スプリング部2の弾性変形が回復する間に図中左向きに
スクラブしながら移動する。そして、その後上昇する。
先端部1にはアルミ電極22および酸化膜25の削りく
ず23が付着する(図16、図17参照)。コンタクト
プローブで測定を行なう度に、図15〜図17に示した
ような動作が行なわれることになるが、削りくず23
は、コンタクトプローブを押しつける際のスクラブ(図
16参照)において付着するのみならず、コンタクトプ
ローブを離脱させる際のスクラブ(図17参照)におい
ても新たに付着する。このうち、離脱の際のスクラブ
は、測定に何ら貢献しない不要なスクラブである。この
ように付着した削りくず23は、次回の測定においてコ
ンタクトプローブの電気接触性を低下させてしまう。し
たがって、ある程度良好な電気接触性を維持するために
は、測定作業を一定回数(たとえば1000回)行なっ
た後には、先端部1をクリーニングする必要がある。ク
リーニングの際には測定作業を中断せざるを得ないた
め、生産性が低下する原因となる。
は、測定が不正確になり、測定対象製品が本当は不良で
ない場合にも不良と判断してしまう場合がある。これは
不要な歩留り低下をもたらす原因となる。
電気的接触確保に寄与するコンタクトプローブ押しつけ
時のスクラブ(図16参照)以外に、測定後の離脱の際
のスクラブ(図17参照)にも被測定面20にキズ24
を新たに生成してしまうため、アルミ電極22のキズ2
4が本来絶縁膜を破るのに必要な程度を超えて大きくな
ってしまう。このことによって、その後のアルミ電極2
2に対する金線を用いた超音波ボンディングにおいて、
金線とアルミ電極22との間で合金化が正常に進まず接
合不良を生じる場合がある。
付着する量を低減し、被測定面に形成するキズを軽減し
たコンタクトプローブを提供することを目的とする。
め、本発明に基づくコンタクトプローブの一つの局面で
は、被測定面に接触させるための先端部と、支持および
電気的接続を行なうための支持部と、上記先端部を上記
支持部に接続するスプリング部とを備え、上記先端部
は、そのさらに先端において上記被測定物に面接触する
ために設けられた当接平坦面と、上記当接平坦面を挟ん
で設けられた傾斜面である第1傾斜面および第2傾斜面
とを有し、上記先端部、上記支持部および上記スプリン
グ部は、上記支持部を固定して上記当接平坦面を上記被
測定面に押し当てたときに上記スプリング部に生じる弾
性変形によって上記当接平坦面が上記被測定面に当接し
たまま上記当接平坦面から見た上記第1傾斜面の側に変
位するように構成されており、上記第1傾斜面と上記当
接平坦面とのなす角度は、90°以上170°以下であ
り、上記第2傾斜面と上記当接平坦面とのなす角度は、
90°以上170°以下であり、上記第1傾斜面と上記
当接平坦面とに挟まれた角部は、第1の曲率半径で丸み
がつけられており、上記第2傾斜面と上記当接平坦面と
に挟まれた角部は、上記第1の曲率半径より大きな第2
の曲率半径で丸みがつけられている。この構成を採用す
ることにより、押しつけ時のスクラブの際に移動する側
の角部より、その反対側の角部の曲率半径が大きくなっ
ているので、電気的接触確保に寄与する押しつけ時のス
クラブにおいては被測定面を十分削ることができ、離脱
時のスクラブにおいてはあまり削らないコンタクトプロ
ーブとすることができる。したがって、削りくずの付着
量を低減することができ、被測定面に形成するキズを軽
減することができる。
曲率半径は、上記第1の曲率半径の2倍以上である。こ
の構成を採用することにより、より効果的に、離脱時の
スクラブにおいてはあまり削らないコンタクトプローブ
とすることができる。したがって、削りくずの付着量を
より確実に低減することができ、被測定面に形成するキ
ズを軽減することができる。
曲率半径が0.1μm以上5μm以下である。この構成
を採用することにより、押しつけ時のスクラブにおいて
は適度に被測定面を削ることができ、離脱時のスクラブ
においてはあまり削らないコンタクトプローブとするこ
とができる。
コンタクトプローブの他の局面では、被測定面に接触さ
せるための先端部と、支持および電気的接続を行なうた
めの支持部と、上記先端部を上記支持部に接続するスプ
リング部とを備え、上記先端部、上記支持部および上記
スプリング部は、上記支持部を固定して上記先端部を上
記被測定面に押し当てたときに上記スプリング部に生じ
る弾性変形によって上記先端部が上記被測定面に当接し
たまま第1の側に変位するように構成されており、上記
先端部は、そのさらに先端において、上記第1の側に設
けられた角部である第1角部と、上記第1の側と反対側
である第2の側に設けられた第2角部とを、接続点を介
して隣り合うように有し、上記第1角部は、第1の曲率
半径で丸みがつけられており、上記第2角部は、上記第
1の曲率半径と異なる第2の曲率半径で丸みがつけられ
ている。この構成を採用することにより、被測定面への
押しつけ時のスクラブと離脱時のスクラブのうちの一方
で被測定面を削って電気的接触を確保し、他方では削り
くずを発生しないコンタクトプローブとすることができ
る。
曲率半径より上記第2の曲率半径の方が大きくなってい
る。この構成を採用することにより、押しつけ時のスク
ラブにおいては被測定面を十分削ることができ、離脱時
のスクラブにおいてはあまり削らないコンタクトプロー
ブとすることができる。
部から見て上記第1の側には、上記第1角部によって生
成される削りくずを上記被測定面に向けて押えつけるた
めの抑制部を備える。この構成を採用することにより、
第1角部で電気的接触を確保しながらも第1角部が被測
定面から生成しようとする削りくずの成長を防止でき
る。したがって、削りくずの付着に起因する問題を解消
することができる。
は、上記第1の側に向かって延在し、上記被測定面に対
向する抑制面を含む。この構成を採用することにより、
削りくずの成長する方向が多少ばらついても抑制面によ
って削りくずを被測定面の側に押し戻すことができ、簡
単な構成でありながら削りくずの成長を確実に抑制する
ことができる。
は、複数の上記抑制面を階段状に含む。この構成を採用
することにより、第1の側への初期傾きが多少大きくて
も抑制部のいずれかが作用できることとなり、初期傾き
のばらつきに強いコンタクトプローブとすることができ
る。
曲率半径より上記第1の曲率半径の方が大きく、上記第
2角部から見て上記第2の側には、上記第2角部によっ
て生成される削りくずを上記被測定面に向けて押えつけ
るための抑制部を備える。この構成を採用することによ
り、被測定面に押しつける際のスクラブではなく、離脱
する際のスクラブで電気的接触を確保し、なおかつ、離
脱する際のスクラブで削りくずを成長させないコンタク
トプローブとすることができる。
は、上記第2の側に向かって延在し、上記被測定面に対
向する抑制面を含む。この構成を採用することにより、
離脱時のスクラブで生成される削りくずを抑制面によっ
て被測定面の側に押し戻すことができ、簡単な構成であ
りながら削りくずの成長を確実に抑制することができ
る。
先端部1を拡大すると、図18に示すようになってい
た。すなわち、平坦面10とその両側を挟む傾斜面15
との境界部分は、角部16となっている。従来のコンタ
クトプローブにおいては、角部16の形状や大きさには
さほど考慮が払われておらず、押しつけ時のスクラブと
して移動する向きに無関係に左右等しく形成されてい
た。そこで、発明者らは、角部の大きさに注目し、本発
明をするに至った。
におけるコンタクトプローブについて説明する。図1は
その先端部1を拡大したものである。このコンタクトプ
ローブにおいては、平坦面10から見て、コンタクトプ
ローブを被測定面に押しつける際のスクラブで移動する
側(図1においては左側)の斜面を第1傾斜面11と呼
ぶものとする。その反対側の斜面を第2傾斜面12と呼
ぶものとする。平坦面10が第1傾斜面11と接する角
部13と、平坦面10が第2傾斜面12と接する角部1
4とで、曲率半径が異なっている。図1に明らかなよう
に角部13の曲率半径R1よりも角部14の曲率半径R
2の方が大きくなっている。
クラブの際に移動する側の角部より、その反対側の角部
の曲率半径が大きくなっていることにより、電気的接触
確保に寄与する押しつけ時のスクラブにおいては被測定
面を十分削ることができ、離脱時のスクラブにおいては
あまり削らないコンタクトプローブとすることができ
る。したがって、削りくずの付着量を低減することがで
き、その結果、コンタクトプローブをクリーニングなし
に連続使用できる回数が増える。
を抑えることもできる。その結果、1回の測定当りの電
極表面に生じるキズの程度を軽減することができ、ボン
ディング時の接合不良の発生頻度を低減することができ
る。
ある程度の効果はあるが、よりその差を大きくした例を
図2に示す。さらに、この先端部1を備えるコンタクト
プローブの全体像を図3に示す。図2に示した例のよう
に大きく差をつけた場合、離脱時のスクラブにおける削
りくず付着低減やキズ発生軽減の効果はより大きい。発
明者らが具体的に検討したところ、角部14の曲率半径
が角部13の曲率半径の2倍以上であると、効果が大き
いことがわかった。さらに、R1は0.1μm以上5μ
m以下である場合に、効果がよく確認できることがわか
った。その中でも特にR1が0.5μm以上3μm以下
である場合に効果が顕著である。角部13,14のなす
角度は、いずれも90°以上170°以下である場合に
良好な効果を発揮した。一方、170°より大きい場合
には、先端部と被測定面との間にゴミが噛みこみやすく
なり、信頼性が十分でなかった。
あっても異なる角度であってもよい。これらのコンタク
トプローブは、LIGA法によって一体的に製作するこ
とができるので、こういった先端部の角部の曲率半径や
角度の設定はマスクのパターンを設定することで自在に
可能である。
におけるコンタクトプローブについて説明する。図4は
その先端部1を拡大したものである。コンタクトプロー
ブを被測定面に押しつける際のスクラブでは、先端部1
は、図中の左側に移動する。このようにコンタクトプロ
ーブを被測定面に押しつける際にスクラブする向きを
「第1の側」とし、反対側(図中の右側)を「第2の
側」とする。したがって、第2の側は、コンタクトプロ
ーブが被測定面から離脱する際にスクラブする向きに相
当する。
ては、実施の形態1にあったような平坦面10(図1、
図2参照)はない。この先端部1は、接続点Bを介し
て、第1の側にある第1角部としての角部13(点Bか
ら点Dにかけて)と、第2の側にある第2角部としての
角部14(点Bから点Cにかけて)とを有する。
っている。角部13の曲率半径がrであるのに対して、
角部14の曲率半径はRであり、図4に明らかなように
R>rである。Rは想定している接触力でも削りくずが
出ない大きさに設定されており、rは想定している接触
力で被測定面を削って電気的接触を確保できる大きさに
設定されている。角部14の曲率の中心は点Oである。
接続点Bから見て角部13の点Dの先には、第1傾斜面
11があり、角部14の点Cの先には第2傾斜面12が
ある。
に接触させる前の状態で最も被測定面に近くに位置する
点を初期最下点Aとする。初期最下点Aは角部13の途
中、すなわち接続点Bから点Dまでの途中の1点にあ
る。支持部3を固定した状態でコンタクトプローブを被
測定面に向けて垂直に平行移動させていった場合、初期
最下点Aが最初に被測定面に接触する。この後、スプリ
ング部2が弾性変形することによって、先端部1全体が
図4における時計回りに傾き、先端部1の被測定面に対
する接触の中心は初期最下点Aのやや右側の押圧後最下
点に移る。この状態で、被測定面に当接したまま、先端
部1は第1の側(図中の左側)に変位し、スクラブが行
なわれる。
が好ましい。すなわち、角度AOBの大きさΦは、被測
定面に対する想定している接触力が得られるときの先端
部1の傾き角に等しくすることが好ましい。なぜなら、
押圧後最下点が接続点Bに一致している場合、コンタク
トプローブを被測定面に押しつける際のスクラブでは角
部13の全体が被測定面を削って必要な電気的接触を確
保することに寄与できるからである。
つきがあると考えられる。そのようなばらつきを考慮し
ても、押圧後最下点は、接続点Bから点Cまでのいずれ
かの点となることが好ましい。すなわち、角度AOCの
大きさΘは、支持部3を被測定面に向けて最も接近させ
たとき、すなわち、スプリング部2が最も大きく弾性変
形したときに生じ得る先端部1の最大傾き角より大きく
しておくことが必要である。なぜなら、仮に被測定面へ
の押しつけによって先端部1がΘより大きく傾いてしま
った場合、傾斜面12が被測定面に接触してしまうこと
になり、被測定面を正しく削って電気的接触を確保する
ことができなくなるからである。
クラブの際に移動する側の角部より、その反対側の角部
の曲率半径が大きくなっていることにより、実施の形態
1と同様の効果が得られる。
におけるコンタクトプローブについて説明する。図5は
その先端部1を拡大したものである。このコンタクトプ
ローブは、実施の形態2で説明したものと同様に、最下
点A、接続点B、第1角部としての角部13、第2角部
としての角部14、第1傾斜面11、第2傾斜面12お
よび角部14の曲率の中心点Oを備えている。ただし、
実施の形態2のコンタクトプローブと異なることとし
て、本実施の形態のコンタクトプローブでは、角部13
と第1傾斜面11との間に抑制部を備えている。抑制部
は、角部13によって被測定面から生成される削りくず
を被測定面に向けて押えつけるためのものであり、角部
13から第1の側に向かって延在し、被測定面に対向す
る抑制面41(点Eから点Fまで)を含む。最下点Aか
ら見た抑制面41の高さhは、削りくずが流出しない最
大限の高さ以下でなければならない。高さhが高すぎる
と削りくずは抑制部の外側に流出してしまい削りくずを
被測定面に向けて正しく押えつけることができないから
である。ただし、高さhが小さすぎると、コンタクトプ
ローブの反時計回りの初期傾きのばらつきに弱くなる。
すなわち、コンタクトプローブの初期の傾きのばらつき
によっては抑制面41と第1傾斜面との間の角部13d
が被測定面に接触してしまい、削りくずを発生させてし
まうため、不都合である。高さhは、コンタクトプロー
ブの初期傾きのばらつきによっても角部13dが被測定
面に接触しない程度に大きく、なおかつ角部13が生成
する削りくずが外部に流出しない程度に小さくなければ
ならない。
制部の働きについて説明する。まず、図6、図7は、抑
制部のない場合の角部13の近傍を拡大したものであ
る。先端部1が被測定面20に対して当接した状態で第
1の側(図中左側)に進行する。図6に示すように角部
13が被測定面20の表層部の材料を削ることによっ
て、削りくず23を生成する。削りくず23は、矢印4
4の向きに押し出される。図7に示すように、削りくず
23はそのまま第1傾斜面11に沿って成長を続ける。
しかし、ある程度成長した時点で、削りくず23の根元
の角部13に対向する部分に応力集中が起こり、破断面
46が生じる。破断した削りくず23は、図16、図1
7に示した削りくず23のように先端部1の不所望な箇
所に付着してしまい問題となる。
角部13の近傍を拡大したものである。先端部1が被測
定面20に対して当接した状態で第1の側(図中左側)
に進行する。図8に示すように角部13が被測定面20
の表層部の材料を削ることによって、削りくず23を生
成する。削りくず23は、当初矢印44の向きに押し出
される。しかし、削りくず23が成長する先には抑制部
の抑制面41が被測定面に対向するように配置されてい
るので、削りくず23の先頭は抑制面41に衝突し、図
9に示す矢印47のように、被測定面20の側へ押し戻
される。抑制面41の高さh(図5参照)が削りくず2
3の外部への流出を許さない程度に低いため、結局、削
りくず23は、それ以上成長することなく被測定面20
に押しつけられる。削りくず23と先端部1との接触領
域Sは広くなるため、応力は分散する。こうして削りく
ず23の成長は抑制されるため、削りくず23が先端部
1に付着し、問題となることは防止される。
コンタクトプローブでは、実施の形態2と同様の効果が
得られることに加えて、角部13と第1傾斜面11との
間に抑制面41を含む抑制部を備えているため、削りく
ずの成長を防止できる。したがって、従来の削りくずに
起因する問題を解消することができる。
4におけるコンタクトプローブについて説明する。図1
0はその先端部1を拡大したものである。このコンタク
トプローブは、実施の形態3で説明したものと同様に、
最下点A、接続点B、第1角部としての角部13、第2
角部としての角部14、第1傾斜面11、第2傾斜面1
2および角部14の曲率の中心点Oを備えている。さら
に、角部13と第1傾斜面11との間に抑制部を備えて
いる。ただし、実施の形態3のコンタクトプローブで
は、抑制部は、1つの抑制面41を含むのみであった
が、本実施の形態のコンタクトプローブでは、抑制部は
複数の抑制面41a,41b,41cを含んでいる。こ
れらの複数の抑制面41a,41b,41cは階段状に
つながっている。抑制面41a,41bの間には角部1
3aがあり、抑制面41b,41cの間には角部13b
がある。抑制面41cと第1傾斜面11との間には角部
13cがある。抑制面41a,41b,41cの第1の
側に向かって延びる長さは、順にそれぞれL1,L2,
L3であり、L1>L2>L3となっている。
示したが、抑制面の数は、他の値であってもよい。
備えることによって、実施の形態3の効果に加えて、さ
らに、初期傾きのばらつきに強いコンタクトプローブと
することができる。このことについて、図10を参照し
て説明する。
きは0であり、被測定面20は、直線AXの姿勢で最下
点Aに最初に接触する。押圧によって先端部1が若干時
計回りに傾いた後に、角部13が被測定面20を削り、
抑制面41aが削りくずの成長を抑制しながら、先端部
1は第1の向き(図中左側)に進行する。
HGをひき、HGとAXとのなす角度をαとする。角部
13aと角部13bに共通の接線IJをひき、IJとA
Xとのなす角度をβとする。角部13bと角部13cに
共通の接線MNをひき、MNとAXとのなす角度をγと
する。
αより小さかった場合、被測定面20は角部13aには
接触しないので、角部13が被測定面20を削り、抑制
面41aによって削りくずの成長を抑制することができ
る。
α以上β未満であった場合、被測定面20は角部13a
に接触するが角部13bには接触しないので、角部13
aが被測定面20を削り、抑制面41bによって削りく
ずの成長を抑制することができる。
β以上γ未満であった場合、被測定面20は角部13b
に接触するが角部13cには接触しないので、角部13
bが被測定面20を削り、抑制面41cによって削りく
ずの成長を抑制することができる。
γ以上であった場合、被測定面20は角部13cに接触
し、角部13cが被測定面20を削るため、削りくずの
成長を抑制することはできない。
った場合には、先端部1の反時計回りの初期傾きとして
対応可能だった角度はα未満に限られたものが、抑制面
を3つに増やしたことによって、γ未満の範囲にまで拡
大できたことがわかる。したがって、抑制面を階段状に
して増やしたことによって先端部の反時計回りの初期傾
きにより強いコンタクトプローブとすることができた。
5におけるコンタクトプローブについて説明する。図1
1はその先端部1を拡大したものである。このコンタク
トプローブにおいても、コンタクトプローブを被測定面
に押しつける際にスクラブする向きである「第1の側」
は図中左側であり、コンタクトプローブが被測定面から
離脱する際にスクラブする向きである「第2の側」は図
中の右側である。このコンタクトプローブは、被測定面
に押しつける際のスクラブではなく、離脱する際のスク
ラブで電気的接触を確保することを想定したものであ
る。
接続点Bを介して、第1の側にある第1角部としての角
部17(点Bから点Cにかけて)と、第2の側にある第
2角部としての角部18(点Bから点Dにかけて)とを
有する。
っている。角部17の曲率半径がRであるのに対して、
角部18の曲率半径はrであり、図11に明らかなよう
にR>rである。角部17の曲率の中心は点Oである。
接続点Bから見て角部17の点Cの先には、第1傾斜面
11があり、角部18の点Dの先には抑制面41および
角部19を介して第2傾斜面12がある。
に接触させる前の状態で最も被測定面に近くに位置する
点を初期最下点Aとする。初期最下点Aは角部17の途
中、すなわち接続点Bから点Cまでの途中の1点にあ
る。支持部3を固定した状態でコンタクトプローブを被
測定面に向けて垂直に平行移動させていった場合、初期
最下点Aが最初に被測定面に接触する。この後、スプリ
ング部2が弾性変形することによって、先端部1全体が
図11における時計回りに傾き、先端部1の被測定面に
対する接触の中心は初期最下点Aのやや右側の押圧後最
下点に移る。この状態で、被測定面に当接したまま、先
端部1は第1の側(図中の左側)に変位し、スクラブが
行なわれる。しかし、角部17は曲率半径Rであるの
で、削りくずは発生しない。
から離脱する際には、先端部1は、第2の側(図中の右
側)に変位するが、このとき、角部18によって被測定
面20が削られる。しかし、角部18から見て第2の側
には、抑制面41があるので、角部18によって生成さ
れた削りくずは抑制面41によって被測定面20に向け
て押えつけられ成長を抑制される。接続点から見た抑制
面41の高さhは、削りくずが流出しない最大限の高さ
以下でなければならない。高さhが高すぎると削りくず
は抑制部の外側に流出してしまい削りくずを被測定面に
向けて正しく押えつけることができないからである。
たときにその接線と、角部17に対して最下点Aで最初
に接する被測定面20とのなす角度Ψは、支持部3を被
測定面に向けて最も接近させたとき、すなわち、スプリ
ング部2が最も大きく弾性変形したときに生じ得る先端
部1の最大傾き角より大きくしておくことが必要であ
る。なぜなら、仮に被測定面20への押しつけによって
先端部1がΨより大きく傾いてしまった場合、角部19
が被測定面20に接触してしまうことになり、角部19
が被測定面20を削ることになってしまうからである。
が好ましい。すなわち、角度AOBの大きさΦは、被測
定面に対する想定している接触力が得られるときの先端
部1の傾き角に等しくすることが好ましい。なぜなら、
押圧後最下点が接続点Bに一致している場合、コンタク
トプローブを被測定面から離脱する際のスクラブは角部
18の全体が被測定面を削る状態から開始することがで
き、必要な電気的接触を確保する上で有利だからであ
る。
で、被測定面に押しつける際のスクラブではなく、離脱
する際のスクラブで電気的接触を確保し、なおかつ、離
脱する際のスクラブで削りくずを成長させないコンタク
トプローブとすることができる。
1にあった平坦面10(図1参照)がなく、接続点Bに
よって第1角部と第2角部とがつながる形状を前提に説
明したが、実施の形態2〜5の考え方を維持したまま、
接続点Bの代わりに平坦面10を配置してもよい。
ての点で例示であって制限的なものではない。本発明の
範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって
示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内での
すべての変更を含むものである。
の際に移動する側の角部より、その反対側の角部の曲率
半径が大きくなっているので、電気的接触確保に寄与す
る押しつけ時のスクラブにおいては被測定面を十分削る
ことができ、離脱時のスクラブにおいてはあまり削らな
いコンタクトプローブとすることができる。したがっ
て、削りくずの付着量を低減することができ、被測定面
に形成するキズを軽減することができる。
クトプローブの第1の例の先端部の拡大平面図である。
クトプローブの第2の例の先端部の拡大平面図である。
クトプローブの第2の例の斜視図である。
クトプローブの先端部の拡大平面図である。
クトプローブの先端部の拡大平面図である。
第1の説明図である。
第2の説明図である。
第1の説明図である。
第2の説明図である。
タクトプローブの先端部の拡大平面図である。
タクトプローブの先端部の拡大平面図である。
1の例の説明図である。
2の例の説明図である。
端部の拡大平面図である。
作の第1の説明図である。
作の第2の説明図である。
作の第3の説明図である。
端部のさらなる拡大平面図である。
坦面、11 第1傾斜面、12 第2傾斜面、13,1
3a,13b,13c,14,16,17,18,19
角部、15 傾斜面、20 被測定面、21 基板、
22 アルミ電極、23 削りくず、24 キズ、25
酸化膜、31,32,33,34 矢印、41 抑制
面、44,47 (削りくずの成長方向の)矢印、46
破断面。
Claims (10)
- 【請求項1】 被測定面に接触させるための先端部と、 支持および電気的接続を行なうための支持部と、 前記先端部を前記支持部に接続するスプリング部とを備
え、 前記先端部は、そのさらに先端において前記被測定物に
面接触するために設けられた当接平坦面と、 前記当接平坦面を挟んで設けられた傾斜面である第1傾
斜面および第2傾斜面とを有し、 前記先端部、前記支持部および前記スプリング部は、前
記支持部を固定して前記当接平坦面を前記被測定面に押
し当てたときに前記スプリング部に生じる弾性変形によ
って前記当接平坦面が前記被測定面に当接したまま前記
当接平坦面から見た前記第1傾斜面の側に変位するよう
に構成されており、 前記第1傾斜面と前記当接平坦面とのなす角度は、90
°以上170°以下であり、 前記第2傾斜面と前記当接平坦面とのなす角度は、90
°以上170°以下であり、 前記第1傾斜面と前記当接平坦面とに挟まれた角部は、
第1の曲率半径で丸みがつけられており、 前記第2傾斜面と前記当接平坦面とに挟まれた角部は、
前記第1の曲率半径より大きな第2の曲率半径で丸みが
つけられている、コンタクトプローブ。 - 【請求項2】 前記第2の曲率半径は、前記第1の曲率
半径の2倍以上である、請求項1に記載のコンタクトプ
ローブ。 - 【請求項3】 前記第1の曲率半径が0.1μm以上5
μm以下である、請求項1または2に記載のコンタクト
プローブ。 - 【請求項4】 被測定面に接触させるための先端部と、 支持および電気的接続を行なうための支持部と、 前記先端部を前記支持部に接続するスプリング部とを備
え、 前記先端部、前記支持部および前記スプリング部は、前
記支持部を固定して前記先端部を前記被測定面に押し当
てたときに前記スプリング部に生じる弾性変形によって
前記先端部が前記被測定面に当接したまま第1の側に変
位するように構成されており、 前記先端部は、そのさらに先端において、前記第1の側
に設けられた角部である第1角部と、前記第1の側と反
対側である第2の側に設けられた第2角部とを、接続点
を介して隣り合うように有し、 前記第1角部は、第1の曲率半径で丸みがつけられてお
り、 前記第2角部は、前記第1の曲率半径と異なる第2の曲
率半径で丸みがつけられている、コンタクトプローブ。 - 【請求項5】 前記第1の曲率半径より前記第2の曲率
半径の方が大きくなっている、請求項4に記載のコンタ
クトプローブ。 - 【請求項6】 前記第1角部から見て前記第1の側に
は、前記第1角部によって生成される削りくずを前記被
測定面に向けて押えつけるための抑制部を備える、請求
項5に記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項7】 前記抑制部は、前記第1の側に向かって
延在し、前記被測定面に対向する抑制面を含む、請求項
6に記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項8】 前記抑制部は、複数の前記抑制面を階段
状に含む、請求項7に記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項9】 前記第2の曲率半径より前記第1の曲率
半径の方が大きく、前記第2角部から見て前記第2の側
には、前記第2角部によって生成される削りくずを前記
被測定面に向けて押えつけるための抑制部を備える、請
求項4に記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項10】 前記抑制部は、前記第2の側に向かっ
て延在し、前記被測定面に対向する抑制面を含む、請求
項9に記載のコンタクトプローブ。
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-
2002
- 2002-03-08 JP JP2002063346A patent/JP2003254995A/ja active Pending
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