JP4571007B2 - 通電試験用プローブ - Google Patents
通電試験用プローブ Download PDFInfo
- Publication number
- JP4571007B2 JP4571007B2 JP2005124726A JP2005124726A JP4571007B2 JP 4571007 B2 JP4571007 B2 JP 4571007B2 JP 2005124726 A JP2005124726 A JP 2005124726A JP 2005124726 A JP2005124726 A JP 2005124726A JP 4571007 B2 JP4571007 B2 JP 4571007B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- needle tip
- pedestal
- region
- distal end
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Description
12 プローブ本体
14 針先部材
16 アーム領域
18 台座領域
20 取り付け領域
22、24 アーム部
26 台座領域の先端面
28 台座領域の凹所
30 取り付け領域の下面
32 台座部
34 針先部
36 針先部の凹所
38 台座部の下面
Claims (6)
- プローブ本体と、該プローブ本体に接着又は溶接により取り付けられた針先部材とを含み、
前記プローブ本体は、第1の方向へ延びるアーム領域と、該アーム領域の先端部から前記第1の方向と交差する第2の方向へ延びる台座領域であって、先端面及び該先端面に開放する第1の凹所を先端部に有する台座領域とを含み、また前記第1及び第2の方向と交差する第3の方向を厚さ方向とする板の形状を有しており、
前記針先部材は、前記台座領域の前記先端面に導電性接着剤により取付られた台座部であって、前記先端面に開放する第2の凹所を有する台座部と、該台座部から前記第2の方向に突出する針先部とを含む、通電試験用プローブ。 - 前記針先部材は、前記プローブ本体よりも硬質の金属で製作されている、請求項1に記載の通電試験用プローブ。
- 前記針先部材は、導電性材料を用いた接着により前記台座領域に取り付けられている、請求項1に記載の通電試験用プローブ。
- 前記台座部は、前記先端面に取り付けられた平坦面を有する、請求項3に記載の通電試験用プローブ。
- 前記第1の凹所は、少なくとも一部が前記台座領域の厚さ方向における両面に開放されている、請求項1に記載の通電試験用プローブ。
- 前記第1及び第2の凹所は、少なくとも一部が前記台座領域の厚さ方向における両面に開放されている、請求項1に記載の通電試験用プローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005124726A JP4571007B2 (ja) | 2005-04-22 | 2005-04-22 | 通電試験用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005124726A JP4571007B2 (ja) | 2005-04-22 | 2005-04-22 | 通電試験用プローブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006300807A JP2006300807A (ja) | 2006-11-02 |
JP4571007B2 true JP4571007B2 (ja) | 2010-10-27 |
Family
ID=37469262
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005124726A Active JP4571007B2 (ja) | 2005-04-22 | 2005-04-22 | 通電試験用プローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4571007B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7353859B2 (ja) * | 2019-08-09 | 2023-10-02 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接触子及び電気的接続装置 |
WO2021261287A1 (ja) * | 2020-06-22 | 2021-12-30 | 株式会社ヨコオ | プランジャ及びプランジャの製造方法 |
CN115436675A (zh) * | 2021-06-04 | 2022-12-06 | 迪科特测试科技(苏州)有限公司 | 测试装置及其探针组件 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000241452A (ja) * | 1999-02-17 | 2000-09-08 | Tokyo Electron Ltd | プロービングカードの製造方法 |
WO2004102207A1 (ja) * | 2003-05-13 | 2004-11-25 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | 通電試験用プローブ |
JP2004340617A (ja) * | 2003-05-13 | 2004-12-02 | Micronics Japan Co Ltd | 通電試験用電気的接続装置 |
-
2005
- 2005-04-22 JP JP2005124726A patent/JP4571007B2/ja active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000241452A (ja) * | 1999-02-17 | 2000-09-08 | Tokyo Electron Ltd | プロービングカードの製造方法 |
WO2004102207A1 (ja) * | 2003-05-13 | 2004-11-25 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | 通電試験用プローブ |
JP2004340617A (ja) * | 2003-05-13 | 2004-12-02 | Micronics Japan Co Ltd | 通電試験用電気的接続装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006300807A (ja) | 2006-11-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4421481B2 (ja) | 通電試験用プローブ | |
JP4792465B2 (ja) | 通電試験用プローブ | |
JP4932499B2 (ja) | 通電試験用プローブ | |
US20070018633A1 (en) | Probe use in electric test | |
JP4571511B2 (ja) | 通電試験用プローブ | |
JP2009270880A (ja) | 電子デバイスの電気的試験用接触子、その製造方法及びプローブ組立体 | |
JP2009270880A5 (ja) | ||
JP5123508B2 (ja) | 通電試験用プローブおよび通電試験用プローブ組立体 | |
JP2004340617A (ja) | 通電試験用電気的接続装置 | |
JP4917017B2 (ja) | 通電試験用プローブ及びこれを用いた電気的接続装置 | |
KR101029987B1 (ko) | 전기 시험용 접촉자 및 그 제조방법 | |
JP5631131B2 (ja) | 通電試験用プローブ及びプローブ組立体 | |
JP2009229410A5 (ja) | ||
JP2004340654A (ja) | 通電試験用プローブ | |
JP2006337229A (ja) | 通電試験用プローブ | |
JP4571007B2 (ja) | 通電試験用プローブ | |
KR100988814B1 (ko) | 프로브 카드용 프로브 및 그 제조 방법 | |
JP2006337080A (ja) | 通電試験用プローブ | |
US20090009197A1 (en) | Probe for electrical test | |
JP2007147518A (ja) | 電極子装置 | |
JP2010025588A (ja) | 通電試験用プローブ、プローブカードおよびその製造方法 | |
JP5147191B2 (ja) | 回路基板 | |
JP2001124799A (ja) | プローブシート及びその製造方法並びにプローブカード | |
KR20070107737A (ko) | 통전 테스트용 프로브 및 이를 사용한 전기적 접속 장치 | |
TWI394954B (zh) | An electrical connection device and a contactor for use with the electrical connection device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080306 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100527 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100608 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100629 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100720 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100811 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130820 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4571007 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |