JP2008532108A - バイパスモードを設けた電圧調整器 - Google Patents

バイパスモードを設けた電圧調整器 Download PDF

Info

Publication number
JP2008532108A
JP2008532108A JP2007552387A JP2007552387A JP2008532108A JP 2008532108 A JP2008532108 A JP 2008532108A JP 2007552387 A JP2007552387 A JP 2007552387A JP 2007552387 A JP2007552387 A JP 2007552387A JP 2008532108 A JP2008532108 A JP 2008532108A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
output
regulator
supply voltage
coupled
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007552387A
Other languages
English (en)
Inventor
ヨンリン ワン
ジョン パスターナック
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SanDisk Corp
Original Assignee
SanDisk Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SanDisk Corp filed Critical SanDisk Corp
Publication of JP2008532108A publication Critical patent/JP2008532108A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/30Power supply circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • G11C29/021Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters in voltage or current generators
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • G11C29/028Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters with adaption or trimming of parameters
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/147Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
  • Dc-Dc Converters (AREA)

Abstract

供給電圧よりも低い最大定格電圧を超えて動作するように設計された装置を備えるバイパスを設けた逓降電圧調整器である。この調整器は、供給電圧と出力に結合した出力調整装置を装備している。出力調整装置の最大定格電圧を超えないようにするべく供給電圧と出力に応答する出力装置保護回路が提供される。バイパス出力装置を装備し、供給電圧に結合されたバイパス回路には保護回路が設けられている。出力調整装置は、pチャネルトランジスタを備え、また、2.7〜3.6ボルトの範囲の動作最大定格電圧を有していてよく、この際、供給電圧は4.4〜5.25ボルト、または2.9〜3.5ボルトの範囲内にある。
【選択図】図3

Description

本発明は、多電圧供給用途における電圧調整に関し、特に、メモリシステムのような周辺装置のための電圧調整に関する。
集積回路(IC)技術の進化は、多くの場合、回路の製作に使用する装置のサイズおよび動作電圧の低減に関連している。低電力装置は回路サイズと電力消費を低減するために低コストとなると解釈される。最近では、3ボルト範囲およびこれ未満で動作するトランジスタを装備した低電圧集積回路が非常に望まれている。3ボルトICは、そのさらなる高速性とより高い集積密度のために、標準的な5ボルトICに取って代わりつつある。さらに、3ボルトICの消費電力は従来の5ボルトICよりも低い。携帯電話やラップトップコンピュータといった電池動作式の装置では、低電圧型の集積回路を用いることで、高い電圧で動作する装置よりも相対的に長い動作が可能になる。
製造技術の改良によってトランジスタ装置のサイズがより小型化した。これにより、トランジスタ技術の世代を経る毎に給電要求がさらに低くなった。例えば、0.25ミクロンの処理装置は約2.5ボルトの電圧で動作し、0.18ミクロンの処理は1.8ボルト(+/−10%)の供給を使用し、0.15ミクロンの処理は1.5(+/−10%)ボルトの供給を使用し、0.13ミクロンの技術は1.2v(+/−10%)の供給を使用する、などである。
新規の半導体製造技術における低電力要求が、常にレガシーホスト装置と互換するとは限らない。例えば、より古いホストは、3ボルトまたは1.8ボルトを要するメモリシステムの各々に5ボルトまたは3ボルトの電圧を供給する。そのため、コンピュータ周辺装置は、3.3ボルトのホスト供給の接続と、さらにこれよりも古く、より高い電圧の供給の接続可能であるように設計されなければならない。したがって、より新しい技術を用いて構造された装置は、使用されるホスト装置がレガシー製品で使用される比較的高い電圧を供給した場合でも使用できるようになっている。したがって、電力レベル検出技術と電圧調整技術が、メモリ装置の電圧を修正するために使用される。
こうした調整を必要とする周辺装置の1つに、携帯電話、デジタルカメラ、パーソナル・デジタル・アシスタント、モバイル計算装置、非モバイル計算装置、オーディオおよびビデオプレーヤー、その他の電気機器に使用できる非揮発性メモリがある。電気的に消去可能なROM(EEPROM)とフラッシュメモリは、とりわけ最も一般的な非揮発性半導体メモリタイプである。
非揮発性メモリは、ホスト装置に多数の方法で結合できる。周辺アダプタは、コンピュータシステムバスおよび電源に直接結合した統合アダプタと、例えばユニバーサル・シリアルバスやIEEE1394標準といった多数の工業標準外部システム接続部のいずれかに接続するように適合された周辺装置とを装備している。非揮発性メモリをこうした装置に結合するために使用される共通インターフェースはユニバーサル・シリアルバス・インターフェースである。最新のUSB装置の多くは3ボルトで動作するように設計されているが、レガシー装置から3ボルトまたは5ボルト範囲の供給を受けている。
一般に、より最新の処理技術を用いて製造した周辺機器を、より高い供給電圧を提供するレガシーまたはホストに結合する場合には、逓降電圧調整器を使用する。調整器を周辺機器と統合する場合には、その周辺装置を製造する際に使用された技術と同じ処理技術を使用して調整器を製造することが望ましい。しかし、調整器への入力負荷によって低電圧装置が損傷してしまう可能性があるため、一般的にこれは不可能である。
同時係属出願第10/633,110号は、3ボルトの装置を使用して、5ボルトの供給を3ボルトの出力に調整する電圧調整器を開示している。この装置は装置内の保護回路によって保護されているため、装置を損傷することなく、装置がその動作レベルよりも高い入力電圧で動作することができる。
本発明は、潜在的な入力電圧よりも低い動作範囲を有する装置を電圧調整器内に使用している電圧調整器の別の実現方法を提供する。
本発明のこれらおよびその他の目的、利点は、図面に関連して本発明の好ましい実施形態を述べた以下の説明から、さらに明白になる。
一実施形態では、本発明は、供給電圧よりも低い最大定格電圧にて動作するように設計された装置を備えた逓降電圧調整器である。この調整器は、供給電圧と出力に結合した出力調整装置を装備している。また、出力調整装置の最大定格電圧を超えないようにするために、供給電圧と出力に応答する出力装置保護回路が提供される。さらに、バイパス出力装置を有し、供給電圧に結合したバイパス回路を提供する。バイパス回路は、供給が最大定格電圧にある際にイネーブルにされる保護回路を装備している。一実施形態では、出力調整装置はPチャネルトランジスタを備え、また、供給電圧が4.4〜5.25ボルトの状態にて、2.7〜3.6ボルトの範囲内の動作最大定格電圧を設けられている。
別の実施形態では、本発明は供給電圧よりも低い出力電圧を供給する電圧調整器である。この調整器は、供給電圧よりも低い最大定格電圧でそれぞれ動作するように設計された、第1出力装置と第2出力装置を備えている。第1および第2出力装置のゲート電圧を、出力装置上のドレイン負荷およびソース電圧に関連して最大定格電圧を超えないように調整する第1出力装置および第2出力装置に結合した保護回路要素をさらに備える。さらに、供給電圧および少なくとも第2出力装置に結合し、供給電圧が第1および第2出力装置の最大動作電圧よりも低い際に第2出力装置をイネーブルにする電圧検出器が提供される。さらなる実施形態では、第2出力装置は、第1出力装置よりも低い出力抵抗を有し、第1出力装置のサイズよりも数倍大きいPチャネルトランジスタである。
別の実施形態では、本発明は、ホスト装置への制御経路とデータ経路を含み、ホスト装置から供給電圧を受圧するメモリシステムである。サブシステムは電圧調整器を備え、この電圧調整器は、供給電圧に結合した電圧入力と、使用可能な最大供給電圧よりも低い最大装置動作電圧を有し、調整器出力に結合している出力装置とを含んでいる。上記サブシステムはさらに、使用可能な最大供給電圧よりも低い最大装置動作電圧を有し、調整器出力に結合したバイパス装置と、電圧入力、バイパス装置、出力装置に結合した保護回路とを備えている。保護回路は、入力にてホストから提供された電圧よりも低い最大定格電圧にて動作する複数の出力制御装置を備えている。サブシステムはさらに、供給電圧のレベルを表す信号を出力する供給電圧に結合した電圧検出器を備えている。
また別の実施形態では、本発明は、制御装置とメモリアレイ、電圧調整器を装備したメモリシステムである。この電圧調整器は、供給電圧よりも低い最大定格電圧にて動作し、供給電圧および出力に結合した出力調整装置を有する複数の装置を装備している。このシステムは、出力調整装置の最大定格電圧を超えないようにするために、供給電圧と出力に応答する出力装置保護回路を設けられている。このシステムはまた、バイパス出力装置を有し、供給電圧に結合したバイパス回路を含んでいる。バイパス回路は、供給が最大定格電圧にある際にイネーブルにされる保護回路要素を含んでいる。
本発明を特定の実施形態に関連して説明する。本発明のこれ以外の目的、特徴、利点は、明細書および図面を参照することで明白となる。
本発明は、ホストの供給電圧がその必須の装置動作可能電圧を超えた場合に、ホストに結合した装置を動作させるように、調整された電圧を提供し、供給電圧が装置を動作させるのに十分な場合に、供給電圧が装置に直接到達できるようにするバイパスモードを提供する。本発明は、トランジスタ、またはこれ以外の、ホストの潜在的な最大供給電圧よりも低い最大定格電圧にて動作するように設計された装置によって実現される。本発明によれば、必須値よりも潜在的に高いホスト供給電圧によって周辺装置または電圧調整器が損傷を受けることがない。
一実施形態では、本発明は非揮発性メモリシステムに使用されることに適している。しかし、本発明にはメモリシステムに制限されない。このシステムは任意のタイプのホストデバイス、例えば携帯電話、デジタルカメラ、パーソナル・デジタル・アシスタント、モバイル計算装置、非モバイル計算装置、その他の装置と共に利用することが可能である。典型的なホスト装置の1つはコンピュータシステムである。図1に示すシステムは例証であり、デジタルカメラ、音楽再生機、コンピュータ、その他を含む任意数の装置が周辺装置用のホストとして機能可能である。
図1は、ホストとして機能し、本発明の様々な面を包含する例証的な汎用コンピュータシステムを概略的に図示したものである。典型的なコンピュータシステム・アーキテクチャは、システムバス170に接続したマイクロプロセッサ110、並びにランダムアクセス・メインシステムメモリ120、少なくとも1つまたは複数の入力/出力装置130を装備している。入力/出力装置130にはキーボード、モニタ、モデム、その他が含まれる。一般に、システムバス170には1つまたは複数の非揮発性記憶システムも結合している。典型的には、こうしたメモリはディスクドライブであり、これに記憶されたデータは、システム揮発性メモリ120内へ引き出されて現在の処理に使用される。また、このデータは容易に補足、変更、修正することができる。
周辺装置200もまたコンピュータに結合している。周辺装置は、システムバス170からデータ信号を受信するためにこれと結合しており、また、コンピュータの電源(図示せず)から給電電圧を受圧するためにこれと結合している。周辺装置は電圧調整器140を含み、この電圧調整器140は、周辺装置200のメモリカードのような機能コンポーネント160に対して調整された電力を提供する。周辺装置が記憶メモリシステムである一例では、このシステムはコンピュータシステムバスに接続しているメモリコントローラと、EEPROM集積回路チップから成るメモリアレイとで構成されている。周辺装置がメモリシステムである場合には、制御装置は主に1つの集積回路チップ上に形成されており、メモリアレイは多数のEEPROM集積回路チップを実装していることが好ましい。メモリシステムは、PCカード、コンパクト・フラッシュ・カード、SDカード、スマートメディアカード、メモリスティック、USBフラッシュ装置の形式、またはこれ以外の物理形式で提供される。データおよび命令が、コンピュータからデータラインを介して周辺装置へ通信される。
図2に本発明による電圧調整器140を示す。調整器140はクランプ回路220、調整器回路240a、240bを含んでいる。さらに電圧検出器125も示されている。調整器140は、ホスト装置、または他の電圧源が提供する入力電圧としてVin_53、Vss_53を受圧する。一般に、Vin_53は、約2.9〜3.5ボルトの3ボルト範囲内、または約4.4〜5.25の5ボルト範囲内に入り、その一方でVss_53はグラウンドに接続されている。また図2には、帯域ギャップバッファ電圧Vbdbufと付勢電流(isrc)が示される。Vbgbufとisrcは周辺装置によって生成される。Vbgbufは1.3〜1.5ボルトの範囲を有し、isrcは約2.5マイクロアンペアを提供する。
電圧検出器125は、Vin_53の電圧レベルが閾値よりも上であるか下であるかを示すレベル検出器出力LV_53を提供する。Vin_53が、例えば4.4〜5.25ボルトといったように「5ボルト範囲」内にある場合、LV_53の出力は論理レベル「低」信号(約4.4〜5.25ボルト)となる。Vin_53が例えば2.9〜3.3ボルトといったように「3ボルト範囲」内にある場合、LV_53の出力は論理レベル「高」信号(約2.9〜3.5ボルト)となる。検出器125の出力はバッファ127によって制御される。バッファ127は調整器の出力Vout_53によってイネーブルにされる。これにより、Vin_53の勾配の保護、つまり調整器回路が常に「オン」(調整された出力電圧を提供する)となるようにすることが可能で、入力電圧Vin_53が回路を伝播してしまうまで調整器回路バイパスが発生しない。
クランプ回路220はVin_53とLV_53を使用して、調整された出力Vout_53を調整器回路に提供させることを可能にする制御信号(Vprot、Vprot1,Vprot2)を生成する。調整器240aと240bは、LV_53によって反映された入力電圧Vin_53に応じて制御される。
出願番号10/633,110では、1つの保護された出力ステージが使用されている。本発明では、2つの調整器ステージ240a、240bを提供することで、低出力抵抗をバイパスモードで実現している。調整モードでは、ステージ240aはVin_53での5ボルト範囲の入力を3ボルトの出力に低減し、バイパスモードでは、3ボルト範囲の入力がステージ240a、240bによって同時に調整器出力へ送られる。
一般に、Vin_53が5ボルト範囲にある場合、調整器240aがオンであり、調整器240bはオフである。Vin_53が3ボルト範囲内にある場合は、調整器140はバイパスモードにある。即ち、Vin_53は両回路240a、240b内の出力装置を介してVout_53へ送られる。信号Vprot、Vprot1、Vprot2は、調整器240a、240bの個々の装置を保護し、これにより3ボルトの装置を使用して調整器を構造できるようにするために使用される。調整器240a、240bおよびクランプ回路220のさらなる詳細な説明を図3に関連して以下で行う。
図3はクランプ回路、電圧調整器回路の略図である。一実施形態では、図3に示す回路内の全てのトランジスタは「3ボルト」装置である。即ち、各トランジスタは3.6ボルトの最大定格動作電圧を有する。先の説明で示したように、トランジスタ設計者は、チャネル長を変更し、酸化物の厚さを低減することで最大定格電圧を低減している。4.4〜5.3ボルトのレベルのVin_53の供給電圧が装置のゲートに直接侵入できるようにされている場合には、装置が損傷する。そのため、本発明の回路は、図3に示す回路内の各要素と、出力装置P2a、P2bのための保護技術を利用して、調整器内で使用する3ボルト装置がより高い入力電圧によって損傷しないようにしている。平均的な当業者に容易に理解されるように、この保護技術は5ボルトの逓降を超えて3ボルトの実施形態およびその他の用途へと拡張させることができる。
図3を参照すると、クランプ回路220にホスト入力電圧Vin_53、Vss_53が提供される。また、ホストからは信号LV_53も提供される。この信号LV_53は、クランプ回路220が以下の4つの出力を提供する抵抗分周器と静電分周器を含んでいるかどうかを示す。Vclampは3.3ボルトの範囲の未調整のアナログ出力電圧であり、Vprot、Vprot1、Vprot2は、調整器回路が内部の能動装置を保護するために使用する3つの「保護」制御電圧である。Vclampは、未調整のアナログ電力が必要とされる際に使用されるために、調整器を通過して周辺装置へ到達できるようになっている。同様に、Vin_53もクランプ回路220を通過して調整器240a、240bへ到達する。
クランプ回路220は、抵抗器R1〜R4から成る抵抗分周器と、pチャネルMOSFET P6、P8、P9から成る静電分周器とを備えている。静電分周器によって、4つの出力Vprot、Vprot1、Vprot2、Vclampを調整器回路240に同時に提供できるようになる。一実施形態では、抵抗器R1は125キロオームの値、抵抗器R2は50キロオームの値、抵抗器R3は60キロオームの値、抵抗器R4は290キロオームの値を有する。PチャネルMOSFET P8は、装置P9と同様に、共通結合したベース、ソースおよびドレインを装備している。また、装置P8のゲートが装置P9のベースに結合し、装置P9のゲートが装置P6のゲートに結合し、さらに抵抗器R3、R4の間のタップと結合している。P6のベース、ソース、ドレインは、Vss_53と、出力トランジスタN10のベースに結合している。装置N10は、Vin_53に結合したドレインを有しており、ゲートが抵抗器R1とR2の間のタップに結合している。
一実施形態では、クランプ回路は10マイクロアンプの電流で動作し、出力Vprot、Vprot1、Vprot2は、当業者がよく理解している通りに、抵抗分周器の出力によって提供される。Vprot1,Vprot2はpチャネル装置P3に結合している。Vprotは、抵抗器R3とR4の間のタップから提供される。Vclampは、抵抗器R1とR2の間のタップを使用して、N10を横切る電圧の使用を可能にする(イネーブルにする)ことで制御される電圧である。
Vin_53から供給される電力は急勾配を成すことができるため、MOSFET P6、P8、P9に結合した静電分周器がトランジスタN10上のゲート応力を保護するように応答し、Vprot、Vprot1、Vprot2、Vin_53が同時に伝送されるようになる。
クランプ回路220は、装置P13のゲートに結合したLV_53によって制御される。LV_53が高い場合(Vin_53が3ボルト範囲内にあることを示す場合)、その出力はP13を効率的にオフにするのに十分な約3ボルトとなる。Vprot2はVin_53に引っ張られ、Vprot1、Vprot2はグラウンドに引っ張られる。次に、これらの出力が、以下で説明するように調整器240a、240bの要素に影響を及ぼす。LV_53が低い場合には(Vin_53が5ボルト範囲内にあることを示す場合)、その出力は接地される。装置P13のソースとドレインは導通し、Vprot1とVprot2の間の接続を実質的に短絡させる。
5ボルトの範囲で、Vin_53は約4.4〜5.5ボルトの範囲内にある。N10におけるゲート電圧は約3.3〜4ボルトの範囲内にあり、ドレイン電圧は4.4〜5.5ボルトである。Vin_53が4.4ボルトである場合、Vclampの出力は約2.86ボルト、Vprot1 Vprot2は約2.65ボルト、Vprotは2.43ボルトになる。Vin_53が5.2ボルトである場合、Vclampは3.43ボルト、Vprot1 Vprot2は3.45ボルト、Vprotは2.9ボルトになる。上述したように、Vin_53が3ボルトの範囲内にある場合には、VprotとVprot1は接地され、Vprot2は約3ボルトになり、Vclampは約2.5ボルトになる。
調整器ステージ240aは、差分ペア260と出力保護回路275を備えている。出力保護回路は出力調整装置P2aに結合している。本発明によれば、保護回路275は、トランジスタP2aの最大定格電圧を超えないようにするために、ノードゲートPにおける電圧を制御する。差分ペア回路260と保護回路275内の全ての装置が3ボルトの装置であるため、この場合にも、これらの全ての装置を、これらの装置を横切る過剰な電圧から保護する必要がある。
装置P2aは、ベースとソースがVin_53に結合した状態にあり、ドレインが調整器の出力Vout_53を提供するpチャネルMOSFETである。装置P2aもまた約3.6ボルトの最大定格電圧を有している。また、これは出力装置であるため、調整器内の信頼性を得るための鍵となる。差分ペア回路260は、nチャネルMOSFET N4、N5、nチャネルMOSFETS N0、N1、pチャネルMOSFETS P0、P1を装備している。トランジスタN4のドレインは、ノードゲートPにて出力装置P2aを制御する電圧を提供する。装置N1、N0、N4、N5は共通に結合したベースを有し、そしてトランジスタN4、N5のゲートはVprotに結合している。トランジスタP0、P1のベースとソースはVin_53に結合しており、そのゲートは共通結合している。トランジスタP0、P1は、ゲートが共通結合した状態で、ダイオード構成にて結合している。そのため、ゲートに対するソースの電圧は自己保護される。一般に、Vprotの出力は2.4〜2.9ボルトの範囲内にある。P0はP1によって保護されるが、これはP0とP1が同一のゲートを共有しているという事実による。
トランジスタN4とN5のそれぞれは、Vprotに結合したゲートを装備しているため、トランジスタN4、N5内のゲート−ソースとゲート−ドレインインターフェースを横切る電圧がVin_53とVss_53の間の比較的中央に位置する。トランジスタN0、N1のそれぞれは、Vss_53に結合したベースと、電流生成器N2に結合したソースと、N4およびN5のソースに結合したドレインとを装備しており、トランジスタN4、N5によって保護されている。トランジスタN2、N3は、差分ペア回路260に付勢電流を提供する。
上述したように、トランジスタP2aは調整器240aの出力トランジスタである。そのため、P2aのソースはVin_53に接続しており、そのドレインは出力Voutを提供する。また、公称値がそれぞれ190キロオームと140キロオームである抵抗器R6とR5を備えた抵抗器分周器を介して出力フィードバックを提供するために、P2aのドレイン出力もVin_53に接続している。装置N9は、抵抗器R5に接続したドレインと、グラウンドに結合したソースとを装備しており、そのゲートはVprot1によって制御されている。
保護回路275はNチャネルトランジスタN18a、N6aと、PチャネルトランジスタP7とを備えている。一般に、保護回路275は、入力電圧Vin_53が勾配を形成する際に、ノードゲートPが高くまたは低く引っ張られてP2aを損傷しないようにする。これを達成するために、保護回路が、出力トランジスタP2aのゲートの電圧がVin_53のマイナス3.6ボルト(図2に示す回路内の装置の電圧)よりも決して低くならないようにしている。Vout_53にて負荷が提供されない最悪の場合でも、トランジスタP2aのゲート(ゲートP)と出力電圧の間の電圧は、決して3.6ボルトよりも大きくなることはない。
トランジスタN6aは、そのゲート−ソース間を横切る過剰電圧からP2aを保護する。装置N18a、P7は、そのゲート−ドレイン間を横切る過剰電圧からP2aを保護する。N18aは、Vprot2によって制御されたゲートと、P7のソースに結合したソースとを装備している。P7は、Voutからのフィードバックによって制御されたゲートを装備している。N6aは、Vprotによって制御されたゲートを装備している。
また、差分ペア260を通る電圧経路をバイパスモードにて効率的にディスエーブル(使用不可)にするバイパス・イネーブル・トランジスタP4も示されている。
調整器240bは、出力装置P2bを装備している。装置P2aと同様、装置P2bはPチャネルMOSFETであり、そのベースとソースはVin_53に結合しており、ドレインは(P2aと結合して)調整器の出力Vout_53を提供する。装置P2bは、バイパスモードでの動作時にP2aよりも低い出力抵抗を提供するように設計されている。そのため、P2bはP2aよりも大きいサイズとなる。このサイズの差は、調整器と、内部で調整器を利用する製品の設計仕様に基づいており、サイズの差はこのような仕様によって異なる。平均的な当業者であれば、2つの装置のサイズの差は大きくあってよいと理解される。例証的な一例では、P2bはP2aよりも数倍大きく、また、あるケースでは、そのサイズはP2aの3倍またはそれ以上である。
調整器240bは、装置P3、N18、N6bを備えた、P2b用の保護回路をさらに備えている。以下で説明するように、装置N8bとP7bはLV_53信号をラッチする。装置N18およびP3のゲートはVprot2に結合し、N6bはVprot1によって制御される。P3のドレインはVin_53に結合し、ソースはP2bのゲートに結合している。装置N8とP7bは、LV_53信号のラッチを備えている。
装置P2bは、ゲート−ドレイン間の電圧とゲート−ソース間の電圧が3ボルトの閾電圧を決して超えることはないようにすることで保護される。Vin_53が5ボルトの範囲内にある場合、Vprot2の出力は約2.2〜3.3ボルトとなる(抵抗器分周器の中央から引き出し線で接続している)。Vprot2は常に約2.2〜3.3ボルトの範囲内にあるため、P3のゲートは、ソースに見られる5ボルトの最大電圧と、ドレインに見られたグラウンド電圧との間の電圧となる。そのため、ゲート−ソース間の電圧、およびゲート−ドレイン間の電圧が装置の動作電圧を超えることは決してない。
図3、図4、図5を参照して、3ボルト未満および5ボルト未満の動作入力電圧による調整器140の動作について説明する。図4、図5は、3ボルトと5ボルトの各電圧範囲で動作する場合のLV_53、Vin_53、Vprot、Vprot1、Vprot2、出力Vout_53の間の関係を示し、同様に、両調整器回路140のゲートPとゲートP2における電圧の関係を示す。
図4は、時間T0、T1、T2に関連したVin_53、Vout_53、Vclamp、ゲートP、Vprot、vprot2、ゲートP2、LV_53の相対電圧レベルを表示しており、調整器の3ボルトの範囲内での動作を示している。時間T0において、入力電圧Vin_53は上昇勾配を開始する。最初、LV_53は低く、まだ3ボルトの信号はまだ検出されない。T0では、Vin_53、Vout_53、Vclamp、Vprot、Vprot1、Vprot2のレベルが比例して勾配する。時間T0の経過後すぐに、Vin_53が上昇すると、調整器240bのオン、オフを本質的に制御するゲートP2のレベルがVin_53と同等の電圧にまで急上昇し、P2bがオフのままに保たれる。図3に示すように、Vin_53が3ボルトに勾配し、同様にVout_53も3ボルトに勾配すると、P7b、N18、P3の間に対立が生じる。Vout_53は3ボルトまでしか勾配せず、また(N6b、N18を制御しながら)Vin_53、Vprot1、Vprot2よりもゆっくりと勾配するため、Vprot2によって制御されるP3がゲートP2を高く引き上げる。
Vin_53が時間T0とT1の間で勾配すると、調整器240aのみがオンになる。LV_53信号が受信され、Vin_53が3ボルトの範囲の入力電圧を提供すると、調整器回路が、Vin_53を、低い抵抗を持ったP2aとP2bを介して、Vout_53へ進ませる。時間T1にて、Vin_53がそのピークに達し、Vout_53が時間T2までゆっくりと上昇を続ける。Vin_53は3ボルトに勾配し、LV_53電圧が高くなるまで、クランプ電圧Vclampが入力電圧Vin_53をおおまかに追随する。
時間T1にてLV_53がハイとなり、入力電圧が3ボルト範囲内にあることが明らかとなる。これにより、Vclamp、ゲートP、Vprot2、Vprot1、Vprot、ゲートP2が反応する。クランプ回路220内でP13がオフになると、Vprot1とVprotがグラウンド電圧へと接続される。Vprot2は高いまま維持され、そのピーク電圧にて固定される。ゲートP、ゲートP2もグラウンドへ降下し、出力トランジスタP2a、P2bがオンになる。
ゲートPはN10、N18aによって引き下げられる。Vprot2がN18aとN10を導通させると、N10とN18aが、ゲートPをN10を介してグラウンドへ引き下げられる。これによりP2aがオンになり、Vin_53が調整器出力へと進む。
時間T0では、ゲートP2におけるノードが高いため調整器240bがオフになり、P2bが遮断される。しかし、T1では、LV_53がハイとなりVprot1がN6bを遮断し、Vprot2がN18をイネーブルにし、P3を遮断する。LV_53がN8bをイネーブルにし、ゲートP2がグランド電圧へと引き下ろされ、P2bがイネーブルになる。接地されているVprot1がN6bを遮断し、3ボルトのVprot2がN18をイネーブルにし、P3を遮断する。これにより、ノードゲートP2が、N18とN8bを介してグランド電圧へと引き下げられ、P2bが3ボルトのVin_53入力をVout_53へ進ませる。これを図4中の矢印402によって図式的に図示している。
図3、図5は調整モードを図示する。Vin_53が同じ時間フレーム内で5ボルトへ勾配するため、最初、両方の調整器はオンになっている。調整器240b内において、P7b、N18、P3が競合する中で、装置P13はオンであり、Vprot1とVprot2の間の接続が短絡され、ゲートP2がより低く保たれ(図5中の長い上昇時間と低い度数によって明白に示す)、これによりP2bが導通する。Vprot1、Vprot2も高速に勾配するため、N6bとN18が導通し、P3がゲートP2にて電圧を迅速に高く引き上げることを規制する。時間T1では、LV_53信号が提供されないため、出力電圧Vout_53がP7bを遮断して、ゲートP2がN18とN6bによって2.1ボルト未満の電圧レベルに引き下げられることを防止する。P2b装置の構造を仮定した場合、装置は、約2.1〜2.7ボルトの範囲未満のレベルにて導通する。
Vout_53は上昇すると、P7bを通してP2bがグラウンド電圧へと接続する経路を遮断する。そのため、ゲートP2での電圧が高く引き上げられて(最高で5ボルト範囲)、P2bと調整器240bを遮断する。これにより、調整器240aが、出力装置P2aを通して電圧を5ボルトから逓降させる。装置P2aは、5ボルトモードの電圧降下によって3ボルトの範囲内の安定した出力電圧が提供されるように寸法される。
上述したように、調整器内に3ボルトの装置が使用されている。調整モードにて、保護回路275がゲートPにおける勾配を制御することで、トランジスタP2aのゲート−ドレイン間、ゲート−ソース間の電圧が保護される。入力電力Vin_53と保護電圧Vprot、Vprot2が非常に急速に上昇勾配した場合には、トランジスタN6a、N18aがpチャネルトランジスタP7と共にオンになるため、ゲートPにおけるノードが急速に上昇する。Vout_53がP7の最大定格閾値に到達すると、P7が遮断される。
ゲートPは、Vout_53が調整された3ボルトの出力に到達するまで、P2aの最大定格電圧未満に維持されなければならない。ゲートPが1.6vに勾配すると、その上昇時間がN18a、P7の経路によって妨害される。この経路はオンであるため、ゲートPが保持される。そのため、Vout上に負荷が存在しない状況においては、N18aとP7の存在によって、出力電圧が所望のレベルに達する前にゲートPの負荷が高電圧へ引き上げられてしまわないようにする。出力が3.3ボルトに達したら、P7が遮断し、ゲートPが上昇を継続できるようになる。ゲートPが約4.9ボルトの状態でも、ゲートとドレインの間の電圧は依然として1.3ボルトである。
出力電圧がよりゆっくりと上昇する場合では、ゲートPと負側の電圧の間の導通経路が、再びトランジスタP7の最大定格電圧に到達するまで継続できるようになる。この状況に潜む問題は、ゲート−ソース間に損傷を与える危険を冒さずに、ゲートPを十分に低く維持することができない点である。N6aによって、P7の導通経路が終了した後にも、ゲートPの電圧を1.7ボルトに保持することが可能となる。しかしそれでも、トランジスタP2aのソースとゲートPの間の電圧は3.6ボルトを超えることは決してない。
回路240b内において、Vprot1およびVprot2がVin_53を追随するので、N8bはVin_53とグラウンドの間の出力を提供する。これにより、P3、N6b、N18のゲート−ドレイン間の電圧がこれら装置の動作範囲を超えることがなくなる。上述したように、ゲートP2が5ボルトの振幅となることはない。P2bを遮断するのに真の5ボルト信号が必要である一方、ゲートP2が2.1未満〜2.7ボルトであるので、P2bはオンになる。装置を完全に遮断するために真の5ボルト信号が必要となるが、ゲートP2にて「絶対的な」5ボルト信号が作成されるので、2.1ボルト未満の信号でも装置を遮断することができる。Vout_53がハイとなると、P7bが遮断されて、P3がゲートP2をハイへと引き上げる。ゲートP2は決して接地されないため、出力トランジスタP2bが保護される。
これにより、本発明の回路の全要素が、パンチスルー相内、または、装置のゲートからドレインの結合とゲートからソースの結合を強調する構成内のいずれかにおいて、その最大定格電圧を越える電圧を有することから保護される。こうすることで、装置の損傷を防ぐことができる。
本発明は、ホストコンピュータシステムと共に使用されるために製造される周辺装置において半導体装置を製作するために利用される技術を、電圧調整器を構造するために利用できるという利点を提供する。これまでは、例えば5ボルトから3ボルトへの逓降を要する電圧調整器を利用する場合に、電圧調整器は、周辺装置の製造に利用される5ボルトの装置、並びに3ボルトの装置の製造に別々のマスキングステップと処理ステップを要する5ボルトの最大定格電圧装置を使用してきた。本発明についてもこれと同じ技術を利用できる。本発明は、メモリ装置と同じ半導体基板上に調整器電圧が提供される場合に、非揮発性メモリへの使用に関連して特に適用可能である。しかし、調整器はこれに限定されるものではない。調整器は、任意の技術に関連して、または、入力電圧が許容する傾向にある公差よりも低い公差を有する装置から製造した逓降電圧調整器において、幅広い適用可能性を有する。
前出の本発明の詳細な説明は、例証および説明の目的で提示されたものである。また、本発明を説明したとおりの厳密な形状に徹底または限定することも意図していない。上述の示唆を考慮した上で多くの改良および応用が可能である。説明した実施形態は、当業者が本発明を、考案された特定の使用に適した様々な実施形態にて、または様々な改良を加えて、最良の形で利用できるようにするために、本発明の原理と、その実用的な使用を最良に説明するために選択されたものである。本発明の範囲は、付属の特許請求の範囲によって定義されるものとする。
本発明の技術を組み入れた周辺装置のホストを構成する汎用コンピュータシステムを示す。 本発明に従って形成された電圧調整器のブロック線図である。 本発明に従って形成された電圧調整器の略線図である。 本発明の電圧調整器が3ボルトの入力電圧供給を受容した際に、図3の回路の様々なノードに印加した電圧を、時間に関連させて示したシミュレーションである。 本発明の電圧調整器が5ボルトの入力電圧供給を受容した際に、図3の回路の様々なノードに印加した電圧を、時間に関連させて示したシミュレーションである。

Claims (35)

  1. 供給電圧よりも低い最大装置電圧で動作するように設計された装置を備える逓降電圧調整器であって、
    供給電圧と出力に結合した出力調整装置と、
    前記出力調整装置の最大装置電圧を超えないようにするために、前記供給電圧と前記出力に応答する出力装置保護回路と、
    バイパス出力装置を有し、前記供給電圧に結合したバイパス回路とを備え、前記バイパス回路は、供給が前記最大装置電圧にある際にイネーブルにされる保護回路を含む、逓降電圧調整器。
  2. 前記出力調整装置はpチャネルトランジスタである、請求項1に記載の調整器。
  3. 前記pチャネルトランジスタは、2.7〜3.6ボルトの範囲内の動作最大定格電圧を有し、前記供給電圧は4.4〜5.25ボルトの範囲内にある、請求項2に記載の調整器。
  4. 前記出力装置保護回路は、ゲート/ソース保護コンポーネントを含む、請求項2に記載の調整器。
  5. 前記出力装置保護回路は、ゲート/ドレイン保護コンポーネントを含む、請求項2に記載の調整器。
  6. 前記バイパス出力装置は、前記出力調整装置よりも低い出力抵抗を有するpチャネルトランジスタである、請求項2に記載の調整器。
  7. 前記バイパス出力装置は前記出力調整装置よりも数倍大きい、請求項6に記載の調整器。
  8. 前記供給電圧が前記最大装置電圧にあるか、またはこれよりも高い電圧にあるかを示す信号を出力する電圧検出器をさらに含む、請求項1に記載の調整器。
  9. 前記出力装置保護回路と前記バイパス回路は前記信号に結合している、請求項2に記載の調整器。
  10. 前記バイパス回路は前記信号に基づいてイネーブルまたはディスエーブルにされる、請求項9に記載の調整器。
  11. 前記出力保護回路と前記保護回路要素は前記信号によってイネーブルにされる、請求項9に記載の調整器。
  12. 供給電圧よりも低い出力電圧を供給する電圧調整器であって、
    前記供給電圧よりも低い最大定格電圧にてそれぞれ動作するように設計された、第1出力装置と第2出力装置を備え、
    保護回路要素をさらに備え、前記保護回路要素は、前記第1および第2出力装置のゲート電圧を、前記出力装置上のドレイン負荷およびソース電圧に関連して前記最大定格電圧を超えないように調整する前記第1出力装置および前記第2出力装置に結合しており、
    電圧検出器をさらに備え、前記電圧検出器は、供給電圧および少なくとも第2出力装置に結合し、前記供給電圧が第1および第2出力装置の最大動作電圧よりも低い際に前記第2出力装置をイネーブルにする、電圧調整器。
  13. 前記出力装置はpチャネルトランジスタを備えている、請求項12に記載の調整器。
  14. 前記pチャネルトランジスタは、2.7〜3.6ボルトの範囲内の動作最大定格電圧を有し、前記供給電圧は4.4〜5.25ボルトの範囲内にある、請求項13に記載の調整器。
  15. 前記第2出力装置は、前記第1出力装置よりも低い出力抵抗を有するpチャネルトランジスタである、請求項12に記載の調整器。
  16. 前記第2出力装置の大きさは前記第1出力装置の約3倍である、請求項15に記載の調整器。
  17. 前記電圧検出器は、前記供給電圧が前記最大動作電圧にあるか、またはこれよりも高い電圧にあるかを示す信号を出力する、請求項12に記載の調整器。
  18. 前記保護器回路要素は前記信号に結合している、請求項12に記載の調整器。
  19. ホスト装置への制御経路とデータ経路を含み、前記ホスト装置から供給電圧を受圧するメモリシステムであって、
    電圧調整器を備え、前記電圧調整器は、
    前記供給電圧に結合した電圧入力と、
    使用可能な最大供給電圧よりも低い最大装置動作電圧を有し、前記調整器出力に結合している出力装置とを含んでおり、
    前記メモリシステムはさらに、使用可能な最大供給電圧よりも低い最大装置動作電圧を有し、調整器出力に結合したバイパス装置と、
    前記電圧入力、前記バイパス装置、前記出力装置に結合した保護回路とを備え、前記保護回路は、前記入力にて前記ホストから提供された前記電圧よりも低い最大定格電圧にて動作する複数の出力制御装置を備えており、
    前記メモリシステムはさらに、前記供給電圧のレベルを表す信号を出力する前記供給電圧に結合した電圧検出器を備えている、メモリシステム。
  20. 前記出力装置と前記バイパス装置はpチャネルトランジスタを備えている、請求項19に記載のメモリシステム。
  21. 前記pチャネルトランジスタは、2.7〜3.6ボルトの範囲内の動作最大定格電圧を有し、また、前記供給電圧は4.4〜5.25ボルトの範囲内にある、請求項20に記載のメモリシステム。
  22. 前記バイパス装置は、前記出力調整装置よりも低い出力抵抗を有するpチャネルトランジスタである、請求項19に記載の調整器。
  23. 前記バイパス出力装置のサイズは前記出力調整装置の数倍である、請求項22に記載の調整器。
  24. 前記バイパス回路は、前記信号に基づいてイネーブルまたはディスエーブルにされる、請求項19に記載の調整器。
  25. 電圧調整器回路を含んだホストシステム用の周辺装置であって、
    機能コンポーネントと、
    供給電圧、出力供給電圧入力および出力に結合した出力調整装置とバイパス装置を有する電圧調整器と、
    前記出力調整装置の前記最大定格電圧を超えないようにするための、前記供給電圧と出力に応答する出力装置保護回路と、
    前記供給が前記最大定格電圧にある際に保護回路要素を有するバイパス回路とを備えた周辺装置。
  26. 前記機能コンポーネントはメモリシステムである、請求項25に記載の周辺装置。
  27. 前記メモリシステムは、制御装置とメモリアレイを含んでいる、請求項26に記載の周辺装置。
  28. 前記メモリシステムはPCカードである、請求項26に記載の周辺装置。
  29. 前記メモリシステムはコンパクト・フラッシュ・カードである、請求項26に記載の周辺装置。
  30. 前記メモリシステムはSDカードである、請求項26に記載の周辺装置。
  31. 前記メモリシステムはスマートメディアカードである、請求項26に記載の周辺装置。
  32. 前記メモリシステムはメモリスティックである、請求項26に記載の周辺装置。
  33. 前記メモリシステムはUSBフラッシュドライブである、請求項26に記載の周辺装置。
  34. メモリシステムであって、
    制御装置と、
    メモリアレイと、
    供給電圧よりも低い最大定格電圧で動作し、前記供給電圧および出力に結合した出力調整装置を有する複数の装置を含む電圧調整器と、
    出力調整装置の最大定格電圧を超えないようにするための供給電圧と出力に対応する出力装置保護回路と、
    バイパス出力装置を有し、前記供給電圧に結合しているバイパス回路をさらに備え、前記バイパス回路は、供給が少なくとも最大定格電圧にある際に、イネーブルにされる保護回路要素とを備えている、メモリシステム。
  35. 周辺装置であって、
    ユニバーサル・シリアルバス・インターフェースと、
    入力動作電圧を有するメモリアレイと、
    前記供給電圧と前記メモリアレイに結合した出力調整装置を含んだ電圧調整器とを備え、前記電圧調整器は、
    出力調整装置の最大動作電圧を超えないようにするための前記供給電圧に対応する出力装置保護回路と、
    前記メモリアレイに結合したバイパス出力装置を有するバイパス回路とを含み、前記保護回路は前記供給電圧に結合しており、前記バイパス回路は、前記供給が前記最大電圧である際にイネーブルにされる保護回路要素を含む、周辺装置。
JP2007552387A 2005-01-25 2006-01-24 バイパスモードを設けた電圧調整器 Pending JP2008532108A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/042,610 US7391193B2 (en) 2005-01-25 2005-01-25 Voltage regulator with bypass mode
PCT/US2006/002589 WO2006081283A2 (en) 2005-01-25 2006-01-24 Voltage regulator with bypass mode

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008532108A true JP2008532108A (ja) 2008-08-14

Family

ID=36642788

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007552387A Pending JP2008532108A (ja) 2005-01-25 2006-01-24 バイパスモードを設けた電圧調整器

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7391193B2 (ja)
EP (1) EP1846928A2 (ja)
JP (1) JP2008532108A (ja)
KR (1) KR20070113198A (ja)
CN (1) CN101185139A (ja)
TW (1) TW200641573A (ja)
WO (1) WO2006081283A2 (ja)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007187714A (ja) * 2006-01-11 2007-07-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電流駆動装置
US7911834B2 (en) * 2006-05-15 2011-03-22 Apple Inc. Analog interface for a flash memory die
US7852690B2 (en) * 2006-05-15 2010-12-14 Apple Inc. Multi-chip package for a flash memory
US7511646B2 (en) * 2006-05-15 2009-03-31 Apple Inc. Use of 8-bit or higher A/D for NAND cell value
US7551486B2 (en) * 2006-05-15 2009-06-23 Apple Inc. Iterative memory cell charging based on reference cell value
US7701797B2 (en) * 2006-05-15 2010-04-20 Apple Inc. Two levels of voltage regulation supplied for logic and data programming voltage of a memory device
US7568135B2 (en) 2006-05-15 2009-07-28 Apple Inc. Use of alternative value in cell detection
US7639542B2 (en) * 2006-05-15 2009-12-29 Apple Inc. Maintenance operations for multi-level data storage cells
US7639531B2 (en) * 2006-05-15 2009-12-29 Apple Inc. Dynamic cell bit resolution
US7613043B2 (en) * 2006-05-15 2009-11-03 Apple Inc. Shifting reference values to account for voltage sag
US8000134B2 (en) 2006-05-15 2011-08-16 Apple Inc. Off-die charge pump that supplies multiple flash devices
US9329619B1 (en) * 2009-04-06 2016-05-03 Dynamics Inc. Cards with power management
EP2516495B1 (de) 2009-12-22 2015-07-29 BYK-Chemie GmbH Zusammensetzung umfassend stabile polyolmischungen
US8665577B2 (en) * 2010-12-28 2014-03-04 Lockheed Martin Corporation Safe area voltage regulator
US9710031B2 (en) * 2010-12-30 2017-07-18 Silicon Laboratories Inc. Analog interface for a microprocessor-based device
US8629713B2 (en) 2012-05-29 2014-01-14 Freescale Semiconductor, Inc. System and method for controlling bypass of a voltage regulator
US9098101B2 (en) 2012-10-16 2015-08-04 Sandisk Technologies Inc. Supply noise current control circuit in bypass mode
US9823719B2 (en) 2013-05-31 2017-11-21 Intel Corporation Controlling power delivery to a processor via a bypass
CN103576732B (zh) * 2013-11-06 2015-07-15 苏州泰思特电子科技有限公司 一种抛负载电压波抑制装置
US9836071B2 (en) * 2015-12-29 2017-12-05 Silicon Laboratories Inc. Apparatus for multiple-input power architecture for electronic circuitry and associated methods
CN110580930B (zh) * 2018-06-11 2021-05-28 立锜科技股份有限公司 具有拟接地电位的内存电路

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04345995A (ja) * 1991-05-22 1992-12-01 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH06149395A (ja) * 1992-11-12 1994-05-27 Nec Corp 半導体装置
JPH08211954A (ja) * 1995-02-08 1996-08-20 Nec Corp 電源降圧回路
JPH1186544A (ja) * 1997-09-04 1999-03-30 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
JPH11176950A (ja) * 1997-12-15 1999-07-02 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JP2000022456A (ja) * 1998-06-26 2000-01-21 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路
JP2000077537A (ja) * 1998-06-19 2000-03-14 Denso Corp 絶縁ゲ―ト型トランジスタのサ―ジ保護回路
JP2002135104A (ja) * 2000-10-30 2002-05-10 Hitachi Ltd 出力回路および入力回路
JP2002270781A (ja) * 2001-03-12 2002-09-20 Ricoh Co Ltd 半導体装置及び定電圧回路
JP2002343874A (ja) * 2001-05-17 2002-11-29 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> シリーズレギュレータ回路

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4373117A (en) * 1980-11-03 1983-02-08 Universal Data Systems, Inc. DC to DC converter for line powered modem
US5297097A (en) * 1988-06-17 1994-03-22 Hitachi Ltd. Large scale integrated circuit for low voltage operation
US7447069B1 (en) * 1989-04-13 2008-11-04 Sandisk Corporation Flash EEprom system
JP2778199B2 (ja) * 1990-04-27 1998-07-23 日本電気株式会社 内部降圧回路
JP2800502B2 (ja) * 1991-10-15 1998-09-21 日本電気株式会社 半導体メモリ装置
JPH05217370A (ja) * 1992-01-30 1993-08-27 Nec Corp 内部降圧電源回路
JP3477781B2 (ja) * 1993-03-23 2003-12-10 セイコーエプソン株式会社 Icカード
US5329491A (en) * 1993-06-30 1994-07-12 Intel Corporation Nonvolatile memory card with automatic power supply configuration
US5632039A (en) * 1995-01-24 1997-05-20 Compaq Computer Corporation Circuit that automatically switches between supplying a microprocessor with a first voltage and a second voltage
US5602462A (en) * 1995-02-21 1997-02-11 Best Power Technology, Incorporated Uninterruptible power system
US6046896A (en) * 1995-08-11 2000-04-04 Fijitsu Limited DC-to-DC converter capable of preventing overvoltage
US5615328A (en) * 1995-08-30 1997-03-25 International Business Machines Corporation PCMCIA SRAM card function using DRAM technology
US5566121A (en) * 1995-08-30 1996-10-15 International Business Machines Corporation Method for PCMCIA card function using DRAM technology
US5625280A (en) * 1995-10-30 1997-04-29 International Business Machines Corp. Voltage regulator bypass circuit
US5818781A (en) * 1995-11-13 1998-10-06 Lexar Automatic voltage detection in multiple voltage applications
JPH09139085A (ja) * 1995-11-16 1997-05-27 Mitsubishi Electric Corp 半導体電位供給装置およびこれを用いた半導体記憶装置
US5814980A (en) * 1996-09-03 1998-09-29 International Business Machines Corporation Wide range voltage regulator
US5909586A (en) * 1996-11-06 1999-06-01 The Foxboro Company Methods and systems for interfacing with an interface powered I/O device
KR19980034730A (ko) * 1996-11-08 1998-08-05 김영환 외부 인터페이스 전압 자동검출 반도체 장치
JP3705880B2 (ja) * 1996-11-28 2005-10-12 富士通株式会社 レベルコンバータ及び半導体装置
JP3272982B2 (ja) * 1997-07-08 2002-04-08 富士通株式会社 半導体装置
KR19990069536A (ko) * 1998-02-10 1999-09-06 윤종용 전압 강하 회로 및 이를 이용한 내부전원전압레벨 제어방법
US6420924B1 (en) * 1998-09-09 2002-07-16 Ip-First L.L.C. Slew-controlled split-voltage output driver
JP4043142B2 (ja) * 1999-05-18 2008-02-06 富士通株式会社 メモリデバイス
FI109848B (fi) 1999-05-27 2002-10-15 Nokia Corp Menetelmä elektroniikkalaitteen jännitesyötön järjestämiseksi
US6181118B1 (en) * 1999-06-24 2001-01-30 Analog Devices, Inc. Control circuit for controlling a semi-conductor switch for selectively outputting an output voltage at two voltage levels
US6351180B1 (en) * 1999-08-31 2002-02-26 Micron Technology, Inc. Clamp circuit with fuse options
JP2002323941A (ja) * 2001-04-24 2002-11-08 Teac Corp 周辺装置
JP3933467B2 (ja) * 2001-12-27 2007-06-20 株式会社東芝 電圧検出回路制御装置、同装置を有するメモリー制御装置及び同装置を有するメモリーカード
US7212067B2 (en) * 2003-08-01 2007-05-01 Sandisk Corporation Voltage regulator with bypass for multi-voltage storage system
US7164561B2 (en) * 2004-02-13 2007-01-16 Sandisk Corporation Voltage regulator using protected low voltage devices

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04345995A (ja) * 1991-05-22 1992-12-01 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH06149395A (ja) * 1992-11-12 1994-05-27 Nec Corp 半導体装置
JPH08211954A (ja) * 1995-02-08 1996-08-20 Nec Corp 電源降圧回路
JPH1186544A (ja) * 1997-09-04 1999-03-30 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
JPH11176950A (ja) * 1997-12-15 1999-07-02 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JP2000077537A (ja) * 1998-06-19 2000-03-14 Denso Corp 絶縁ゲ―ト型トランジスタのサ―ジ保護回路
JP2000022456A (ja) * 1998-06-26 2000-01-21 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路
JP2002135104A (ja) * 2000-10-30 2002-05-10 Hitachi Ltd 出力回路および入力回路
JP2002270781A (ja) * 2001-03-12 2002-09-20 Ricoh Co Ltd 半導体装置及び定電圧回路
JP2002343874A (ja) * 2001-05-17 2002-11-29 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> シリーズレギュレータ回路

Also Published As

Publication number Publication date
WO2006081283A2 (en) 2006-08-03
US20060164054A1 (en) 2006-07-27
US7391193B2 (en) 2008-06-24
WO2006081283A3 (en) 2006-09-21
TW200641573A (en) 2006-12-01
CN101185139A (zh) 2008-05-21
EP1846928A2 (en) 2007-10-24
KR20070113198A (ko) 2007-11-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008532108A (ja) バイパスモードを設けた電圧調整器
USRE44229E1 (en) Semiconductor integrated circuit device
US8073643B2 (en) Semiconductor device
JP4784841B2 (ja) 電源電圧検出回路およびその利用方法
US8148960B2 (en) Voltage regulator circuit
US6400546B1 (en) I/O pad voltage protection circuit and method
US8395870B2 (en) Input/output circuit
JP5690341B2 (ja) 選択的にac結合又はdc結合されるように適合される集積回路
US20080203982A1 (en) Power supply system for motherboard
US9971369B1 (en) Voltage regulator
US6188210B1 (en) Methods and apparatus for soft start and soft turnoff of linear voltage regulators
US7164561B2 (en) Voltage regulator using protected low voltage devices
JP2001526420A (ja) 内部cmos基準発生器および電圧調整器
US7579882B2 (en) Output buffer circuit eliminating high voltage insulated transistor and level shift circuit, and an electronic device using the output buffer circuit
TWI774467B (zh) 放大器電路及在放大器電路中降低輸出電壓過衝的方法
TW200527175A (en) Semiconductor integrated circuit
US6707722B2 (en) Method and apparatus for regulating predriver for output buffer
EP3550723B1 (en) Pad tracking circuit for high-voltage input-tolerant output buffer
KR102501696B1 (ko) 전압 클램핑 회로, 이를 포함하는 반도체 장치 및 반도체 시스템
JP5459275B2 (ja) 電源回路、その電源回路を有するフラッシュメモリシステム、及び電源供給方法
US8791679B2 (en) Self-sustaining, high voltage tolerant power supply
US10333511B2 (en) Dual-level power-on reset (POR) circuit
US5483179A (en) Data output drivers with pull-up devices
EP3852271A1 (en) Io analog rail control circuit for power ramps
US9450583B2 (en) Input/output circuit with high voltage tolerance and associated apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100622

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101130