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  1. 電気絶縁性のキャリアと、
    前記キャリアの平面に設けられる1つ又は複数のコンタクト構造体と、
    を含み、前記1つ又は複数のコンタクト構造体の各々は、前記キャリアの前記平面を貫通して少なくとも1表面に沿い連続的に延びる導電層を有するエラストマ材を含む、電気的接続デバイス。
  2. ランド・グリッド・アレイのインタポーザ・コネクタを構成する、請求項1に記載のデバイス。
  3. 前記エラストマ材は、前記キャリアの両面上にエラストマ・バンプを形作る、請求項1に記載のデバイス。
  4. 前記キャリアは複数の開口を備え、1つ又は複数の前記開口は、前記エラストマ材が前記キャリアの前記平面に設けられることを可能にするように適合させる、請求項1に記載のデバイス。
  5. 前記キャリアは複数の開口を備え、1つ又は複数の前記開口は、前記導電層が前記キャリアの前記平面に設けられることを可能にするように適合させる、請求項1に記載のデバイス。
  6. 前記キャリアは、前記エラストマ材及び前記導電層の少なくとも1つが、前記キャリアの前記平面に設けられることを可能にする1つ又は複数の細長い開口を備える、請求項1に記載のデバイス。
  7. 前記エラストマ材はポリジメチルシロキサン・ゴムを含む、請求項1に記載のデバイス。
  8. 前記エラストマ材は、ポリウレタン、エポキシ及びブタジエン含有ポリマーの内の少なくとも1つを含む、請求項1に記載のデバイス。
  9. 前記導電層は、銅、金、チタン、アルミニウム、ニッケル、モリブデン、ニッケル−チタン合金及びベリリウム−銅合金の内の少なくとも1つを含む、請求項1に記載のデバイス。
  10. 前記導電層は、前記エラストマ材の一表面に沿って延びて、前記キャリアの前記平面に設けられる単一の電気コンタクトを形成する、請求項1に記載のデバイス。
  11. 前記導電層は、前記エラストマ材の複数表面に沿って延びて、前記キャリアの前記平面に設けられる複数の電気コンタクトを形成する、請求項1に記載のデバイス。
  12. 前記導電層は、放射状スポーク型パターン及びらせん型パターンの内の少なくとも1つのパターンに形成される、請求項1に記載のデバイス。
  13. 前記1つ又は複数のコンタクト構造体の少なくとも1つは、
    前記導電層の少なくとも一部分の上に形成される絶縁層と、
    前記絶縁層の少なくとも一部分の上に形成される第2の導電層と、
    を含む、請求項1に記載のデバイス。
  14. エラストマ材を電気絶縁性キャリア上に付着するステップと、
    前記キャリアの平面を貫通して前記エラストマ材の表面に沿い連続的に延びる導電層を形成するように、エラストマ材をメタライズするステップと、
    を含む電気的接続デバイスを形成する方法。
  15. 前記導電層の少なくとも一部分の上に絶縁層を形成するステップと、
    前記絶縁層の少なくとも一部分の上に第2の導電層を形成するステップと、
    をさらに含む、請求項14に記載の方法。
  16. 前記エラストマ材は、金型を用いて前記キャリア上に付着させる、請求項14に記載の方法。
  17. 前記メタライズするステップは、固体マスク内の1つ又は複数の開口を通して、前記エラストマ材上に、金属のスパッタリング、蒸着、電気メッキ、無電解メッキ及びスプレーの内の1つ又は複数を実施するステップをさらに含む、請求項14に記載の方法。
  18. 前記メタライズするステップは、前記エラストマ材の1つ又は複数の側面上に、金属の選択的なスパッタリング、蒸着、電気メッキ、無電解メッキ及びスプレーの内の1つ又は複数を実施するステップをさらに含む、請求項14に記載の方法。
  19. 前記メタライズするステップは、
    前記エラストマ材上に金属を付着するステップと、
    前記金属の上にフォトレジストを塗布するステップと、
    前記導電層の所望の構造の周囲で前記フォトレジストを選択的にエッチングするステップと、
    前記エッチング・ステップの後に前記金属上に残留するフォトレジストを除去して前記導電層を露出させるステップと、
    をさらに含む、請求項14に記載の方法。
  20. 前記メタライズするステップは、
    前記エラストマ材の上にフォトレジストを塗布するステップと、
    前記フォトレジストを選択的にエッチングしてメタライゼーション・パターンを形成するステップと、
    前記エッチングされたフォトレジストの上に金属を付着するステップと、
    前記フォトレジストを除去するステップと、
    をさらに含む、請求項14に記載の方法。
  21. 前記メタライズするステップは、
    メッキシード化合物を前記エラストマ材に混ぜ込んで前記エラストマ材上に選択的に金属をメッキすることによって、前記エラストマ材上に金属を付着させるステップと、
    前記金属上にフォトレジストを塗布するステップと、
    前記導電層の所望の構造の周囲で前記フォトレジストを選択的にエッチングするステップと、
    前記エッチング・ステップの後に前記金属の上に残留する前記フォトレジストを除去して前記導電層を露出させるステップと、
    をさらに含む、請求項14に記載の方法。
  22. 前記金属を前記エラストマ材上に前記付着するステップは、前記メッキシード化合物を前記エラストマ材の主軸に対して1つ又は複数の角度において塗布するステップを含み、その結果、前記メッキシード化合物の塗布方向に面する前記エラストマ材の第1の面の上に形成されるメタライゼーションが、前記メッキシード化合物の塗布方向と反対側の前記エラストマ材の少なくとも第2の面の上に形成されるメタライゼーションよりも実質的に大きくなる、請求項21に記載の方法。
  23. 前記金属は、前記エラストマ材の主軸に対して1つ又は複数の角度において、前記エラストマ材上に付着させ、その結果、前記金属は前記エラストマ材の選択された領域にだけ付着させる、請求項19に記載の方法。
  24. 前記電気的絶縁性キャリア上に1つ又は複数のエラストマ前駆体を付着させるステップと、
    前記エラストマ前駆体を光重合させて前記エラストマ材を形成するステップと、
    をさらに含む、請求項14に記載の方法。
  25. 1つ又は複数のコンタクト構造体を有する電気絶縁性キャリアを含むランド・グリッド・アレイのインタポーザ・コネクタ・デバイスであって、各々のコンタクト構造体は、前記キャリアの平面に設けられ、少なくとも1表面に沿って連続的に延びる導電層を有するエラストマ材を含む、コネクタ・デバイス。
  26. 前記デバイスは、パッケージ集積回路デバイスの少なくとも一部分を形成する、請求項25に記載のコネクタ・デバイス。
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006137896A2 (en) * 2004-12-16 2006-12-28 International Business Machines Corporation Metalized elastomeric probe structure
US7771208B2 (en) 2004-12-16 2010-08-10 International Business Machines Corporation Metalized elastomeric electrical contacts
TWI275187B (en) * 2005-11-30 2007-03-01 Advanced Semiconductor Eng Flip chip package and manufacturing method of the same
US7585173B2 (en) * 2007-03-30 2009-09-08 Tyco Electronics Corporation Elastomeric electrical contact
US8832936B2 (en) * 2007-04-30 2014-09-16 International Business Machines Corporation Method of forming metallized elastomeric electrical contacts
US8673416B2 (en) * 2009-10-28 2014-03-18 Xerox Corporation Multilayer electrical component, coating composition, and method of making electrical component
US8959764B2 (en) 2009-11-06 2015-02-24 International Business Machines Corporation Metallurgical clamshell methods for micro land grid array fabrication
US8263879B2 (en) * 2009-11-06 2012-09-11 International Business Machines Corporation Axiocentric scrubbing land grid array contacts and methods for fabrication
WO2012075356A1 (en) * 2010-12-03 2012-06-07 Ardent Concepts, Inc. Compliant electrical contact and assembly
WO2013070201A1 (en) * 2011-11-09 2013-05-16 Advantest America, Inc. Fine pitch microelectronic contact array and method of making same
US8641428B2 (en) * 2011-12-02 2014-02-04 Neoconix, Inc. Electrical connector and method of making it
FR3009445B1 (fr) * 2013-07-31 2017-03-31 Hypertac Sa Organe de contact entre un support et un dispositif et connecteur electrique comprenant un tel organe de contact
US9835653B2 (en) 2014-05-13 2017-12-05 International Business Machines Corporation Solder bump array probe tip structure for laser cleaning
IT201700100522A1 (it) 2017-09-07 2019-03-07 Technoprobe Spa Elemento di interfaccia per un’apparecchiatura di test di dispositivi elettronici e relativo metodo di fabbricazione
JP7308660B2 (ja) 2019-05-27 2023-07-14 東京エレクトロン株式会社 中間接続部材及び検査装置
SG10202006996QA (en) * 2019-07-23 2021-02-25 Casey Michael Silicone contact element

Family Cites Families (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5476211A (en) * 1993-11-16 1995-12-19 Form Factor, Inc. Method of manufacturing electrical contacts, using a sacrificial member
US5917707A (en) * 1993-11-16 1999-06-29 Formfactor, Inc. Flexible contact structure with an electrically conductive shell
JPS63208237A (ja) * 1987-02-25 1988-08-29 Hitachi Ltd 半導体装置の測定装置
US5071359A (en) 1990-04-27 1991-12-10 Rogers Corporation Array connector
JPH0826231B2 (ja) * 1991-08-16 1996-03-13 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 導電性ポリマー材料及びその使用
US5244143A (en) 1992-04-16 1993-09-14 International Business Machines Corporation Apparatus and method for injection molding solder and applications thereof
US5371654A (en) * 1992-10-19 1994-12-06 International Business Machines Corporation Three dimensional high performance interconnection package
US6295729B1 (en) * 1992-10-19 2001-10-02 International Business Machines Corporation Angled flying lead wire bonding process
US6452406B1 (en) 1996-09-13 2002-09-17 International Business Machines Corporation Probe structure having a plurality of discrete insulated probe tips
US6054651A (en) * 1996-06-21 2000-04-25 International Business Machines Corporation Foamed elastomers for wafer probing applications and interposer connectors
US6329827B1 (en) 1997-10-07 2001-12-11 International Business Machines Corporation High density cantilevered probe for electronic devices
US5810607A (en) * 1995-09-13 1998-09-22 International Business Machines Corporation Interconnector with contact pads having enhanced durability
JPH0737633A (ja) * 1993-07-14 1995-02-07 Whitaker Corp:The エラストマコネクタ
US6835898B2 (en) * 1993-11-16 2004-12-28 Formfactor, Inc. Electrical contact structures formed by configuring a flexible wire to have a springable shape and overcoating the wire with at least one layer of a resilient conductive material, methods of mounting the contact structures to electronic components, and applications for employing the contact structures
US6336269B1 (en) * 1993-11-16 2002-01-08 Benjamin N. Eldridge Method of fabricating an interconnection element
US6624648B2 (en) * 1993-11-16 2003-09-23 Formfactor, Inc. Probe card assembly
US5632631A (en) * 1994-06-07 1997-05-27 Tessera, Inc. Microelectronic contacts with asperities and methods of making same
US5590460A (en) * 1994-07-19 1997-01-07 Tessera, Inc. Method of making multilayer circuit
US5599193A (en) * 1994-08-23 1997-02-04 Augat Inc. Resilient electrical interconnect
US5700398A (en) 1994-12-14 1997-12-23 International Business Machines Corporation Composition containing a polymer and conductive filler and use thereof
DE19605661A1 (de) * 1995-02-24 1996-08-29 Whitaker Corp Elektrisches Verbinderbauteil zur Herstellung einer elektrischen Verbindung zwischen leitfähigen Flächen
JPH08287983A (ja) * 1995-04-14 1996-11-01 Whitaker Corp:The エラストマコネクタ
US5785538A (en) 1995-11-27 1998-07-28 International Business Machines Corporation High density test probe with rigid surface structure
US5632626A (en) * 1996-01-05 1997-05-27 The Whitaker Corporation Retention of elastomeric connector in a housing
DE69737599T2 (de) * 1996-09-13 2007-12-20 International Business Machines Corp. Integrierte nachgiebige sonde für waferprüfung und einbrennen
EP0925513B1 (en) 1996-09-13 2010-03-24 International Business Machines Corporation Wafer scale high density probe assembly, apparatus for use thereof and methods of fabrication thereof
US6104201A (en) * 1996-11-08 2000-08-15 International Business Machines Corporation Method and apparatus for passive characterization of semiconductor substrates subjected to high energy (MEV) ion implementation using high-injection surface photovoltage
US6329829B1 (en) * 1997-08-22 2001-12-11 Micron Technology, Inc. Interconnect and system for making temporary electrical connections to semiconductor components
US7349223B2 (en) * 2000-05-23 2008-03-25 Nanonexus, Inc. Enhanced compliant probe card systems having improved planarity
US6146151A (en) * 1999-08-18 2000-11-14 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Method for forming an electrical connector and an electrical connector obtained by the method
US6442039B1 (en) * 1999-12-03 2002-08-27 Delphi Technologies, Inc. Metallic microstructure springs and method of making same
US6264476B1 (en) 1999-12-09 2001-07-24 High Connection Density, Inc. Wire segment based interposer for high frequency electrical connection
US6586955B2 (en) * 2000-03-13 2003-07-01 Tessera, Inc. Methods and structures for electronic probing arrays
US6441629B1 (en) * 2000-05-31 2002-08-27 Advantest Corp Probe contact system having planarity adjustment mechanism
JP3921163B2 (ja) * 2000-09-26 2007-05-30 株式会社アドバンストシステムズジャパン スパイラルコンタクタ及びその製造方法、並びにそれを用いた半導体検査装置、及び電子部品
US7083436B2 (en) * 2001-03-06 2006-08-01 International Business Machines Corporation Particle distribution interposer and method of manufacture thereof
US6425518B1 (en) * 2001-07-25 2002-07-30 International Business Machines Corporation Method and apparatus for applying solder to an element on a substrate
JP2003142537A (ja) * 2001-11-01 2003-05-16 Hitachi Ltd 半導体装置の検査装置
US6712621B2 (en) * 2002-01-23 2004-03-30 High Connection Density, Inc. Thermally enhanced interposer and method
US20030186572A1 (en) * 2002-04-01 2003-10-02 Hougham Gareth Geoffrey Self compensating design for elastomer interconnects
US6854981B2 (en) * 2002-06-03 2005-02-15 Johnstech International Corporation Small pin connecters
JP4215468B2 (ja) * 2002-08-26 2009-01-28 信越ポリマー株式会社 電気コネクタ
US6838894B2 (en) * 2002-09-03 2005-01-04 Macintyre Donald M. Stress relieved contact array
US6881072B2 (en) * 2002-10-01 2005-04-19 International Business Machines Corporation Membrane probe with anchored elements
EP1554915B1 (en) * 2002-10-24 2009-10-28 International Business Machines Corporation Land grid array fabrication using elastomer core and conducting metal shell or mesh
JP3978174B2 (ja) * 2003-03-07 2007-09-19 北川工業株式会社 コンタクト
US7491892B2 (en) * 2003-03-28 2009-02-17 Princeton University Stretchable and elastic interconnects
US6948940B2 (en) * 2003-04-10 2005-09-27 Formfactor, Inc. Helical microelectronic contact and method for fabricating same
US7137827B2 (en) * 2003-11-17 2006-11-21 International Business Machines Corporation Interposer with electrical contact button and method
US7172431B2 (en) * 2004-08-27 2007-02-06 International Business Machines Corporation Electrical connector design and contact geometry and method of use thereof and methods of fabrication thereof
US7021941B1 (en) * 2004-10-19 2006-04-04 Speed Tech Corp. Flexible land grid array connector
WO2006137896A2 (en) 2004-12-16 2006-12-28 International Business Machines Corporation Metalized elastomeric probe structure

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