JP2008518227A - 正確な電流源および正確な電圧レベルシフトを有するインピーダンスを診断するシステム - Google Patents

正確な電流源および正確な電圧レベルシフトを有するインピーダンスを診断するシステム Download PDF

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Abstract

本発明はコンデンサ(C)を測定するシステムに関するものである。電流源(I2)は、コンデンサ(C)と並列に電源面(V)とアース(VGND)との間に接続され、電流をコンデンサ(C)に供給する。電圧レベルシフトは、電源面(V)とアース(VGND)との間でコンデンサ(C)と並列におよび電流源(I2)と並列に接続される。電圧レベルシフトは、電子部品(C)での電圧を検出して、温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを発生する。電圧レベルシフトは、電流源(I1)と直列に接続される抵抗器(R1)と、抵抗器(R1)と電流源(I1)との間に配置される出力ポートとを具える。電流源(I1)および(I2)は、互いに逆の温度係数を有しており、電子部品に供給される電流は実質的に一定となる。

Description

本発明は、エアバッグの安全システムに関するものであり、特に、エアバッグ起爆装置を点火するために使用するコンデンサを診断するための回路に関するものである。
エアバッグは、自動車両に一般的なものであり、衝突時の乗員の安全性を向上する。事実、現今のエアバッグは、最新モデルの自動車両では、ほとんどではないが、その多くにおいて、標準装備となっている。エアバッグは、一般的に重要な場所、例えば、車両のステアリングホイールに設置され、事故の際に乗員の被害を低減することを目的とする。エアバッグシステムは、事故の際に確実に起動しなければならない。そのためには、少なくとも一つの蓄積コンデンサが、エアバッグ起爆装置を点火するために必要なエネルギーを蓄積するために備えられる。これらの安全システムの高信頼な動作を保証するために、蓄積コンデンサは、例えば、車両をスタートさせる前のイグニッションキーを回す時または所定の間隔で診断する。
エアバッグシステムの操作性をモニタするシステムは、公知技術であり、例えば、シューマッハ(Schumacher)等の2002年11月26日発行の米国特許第6486566号明細書、および、ベラウ(Belau)等の2002年9月10日発行の米国特許第6448784号明細書において開示されている。
回路を測定する電流コンデンサにおける電圧レベルシフトは、二つの抵抗器を有する分圧器を使用して行う。この種の回路における第1の課題は、抵抗器のうちの一つでの電圧レベルシフトが一定ではなく、コンデンサでの電圧に依存するという点である。他の不利な点は、抵抗器を流れる電流が、抵抗器の温度依存性によって、温度に依存するという点である。この課題に対する一の解決策は、十分に大きな抵抗を有する抵抗器を設け、温度依存性を最小化することである。しかしながら、十分に大きな抵抗を有する抵抗器を設けるために、実質的により大きな面積を抵抗器に割くことになる。
以上のことから、正確な温度非依存性の電流と、より小さい面積を使用する正確な温度非依存性の電圧レベルシフトとを印加することができるコンデンサを測定する回路を提供する必要がある。
従って、本発明の目的は、正確な温度非依存性の電流と、正確な温度非依存性の電圧レベルシフトとを印加することができる、インピーダンスを診断するシステムを提供することである。
更なる本発明の目的は、正確な温度非依存性の電流と、小さい面積を使用する正確な温度非依存性の電圧レベルシフトとを印加することができる、インピーダンスを診断するシステムを提供することである。
本発明によれば、電子部品のインピーダンスを測定するシステムであって、電子部品と並列に電源面Vとアースとの間に接続され、予め定められた実質的に一定の電流を電子部品に供給する温度補償された電流源Iと、電源面Vとアースとの間で電子部品に並列に接続され、電子部品での電圧を検出するとともに温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを印加する温度補償された電圧レベルシフトとを具えるシステムを提供する。
本発明の態様によれば、電子部品のインピーダンスを測定するシステムの集積回路設計を行うためのデータを記憶する記憶媒体であって、このシステムは、電子部品と並列に電源面Vとアースとの間に接続され、予め定められた実質的に一定の電流を電子部品に供給する温度補償された電流源Iと、電源面Vとアースとの間で電子部品に並列に接続され、電子部品での電圧を検出するとともに温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを印加する温度補償された電圧レベルシフトとを具えるシステムを提供する。
本発明によれば、電子部品のインピーダンスを測定する方法であって、温度補償された電流源Iを電子部品と並列に電源面Vとアースとの間に接続することにより、予め定められた実質的に一定の電流を電子部品に供給し、電子部品の両端間の電圧を検出し、温度補償された電圧レベルシフトを電源面Vとアースとの間で電子部品に並列に接続することにより、温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを印加する方法を更に提供する。
本発明によれば、電子部品のインピーダンスを測定するシステムであって、電子部品と並列に電源面Vとアースとの間に接続され、電流を電子部品に供給する電流源I2、と、電源面Vとアースとの間で電子部品と並列におよび電流源I2と並列に接続され、電子部品の両端間の電圧を検出するとともに温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを印加する電圧レベルシフトとを具え、この電圧レベルシフトは、電流源I1と直列に接続される少なくとも一つの抵抗器R1と、少なくとも一つの抵抗器R1と電流源I1との間で配置される出力ポートとを具え、電流源I1およびI2は、互いに逆の温度係数を有し、電子部品に供給される電流が実質的に一定となるシステムを更に提供する。
本発明の態様によれば、電子部品のインピーダンスを測定するシステムの集積回路設計を行うためのデータを記憶する記憶媒体であって、このシステムは、電子部品と並列に電源面Vとアースとの間に接続され、電流を電子部品に供給する電流源I2と、電源面Vとアースとの間で電子部品と並列におよび電流源I2と並列に接続され、電子部品での電圧を検出するとともに温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを印加する電圧レベルシフトとを具え、この電圧レベルシフトは、電流源I1と直列に接続される少なくとも一つの抵抗器R1と、少なくとも一つの抵抗器R1と電流源I1との間で配置される出力ポートとを具え、電流源I1およびI2は、互いに逆の温度係数を有し、電子部品に供給される電流が実質的に一定となる記憶媒体を提供する。
本発明によれば、電子部品のインピーダンスを測定する方法であって、電流源I2を電子部品と並列に電源面Vとアースとの間に接続することにより、電流を電子部品に供給し、電子部品の両端間の電圧を検出し、電圧レベルシフトを電源面Vとアースとの間で電子部品と並列におよび電流源I2と並列に接続することにより、温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを印加し、この電圧レベルシフトは、電流源I1と直列に接続される少なくとも一つの抵抗器R1と、少なくとも一つの抵抗器R1と電流源I1との間で配置される出力ポートとを具え、電流源I1およびI2は、互いに逆の温度係数を有し、電子部品に印加される電流が実質的に一定となる方法を更に提供する。
以下に本発明の各種実施形態を、コンデンサの測定と合わせて説明する。当業者に明らかなように、全ての回路は他の電子部品のインピーダンスを測定するのにも拡張可能である。
コンデンサは、例えば、エアバッグ安全システムにおいてエアバッグの起爆装置に点火するために必要なエネルギーを蓄積するために用いられる。これらの安全システムの信頼性の高い動作を保証するために、コンデンサを診断する。コンデンサの静電容量は、例えば、図1aに示す回路を使用して測定される。電流IはコンデンサCから流れ、図1bに示すように、時間とともに電圧は減少する。一定の電圧降下ΔV間の時間間隔Δtを測定することによって、または、一定の時間間隔Δt間の電圧降下ΔVを測定することによって、静電容量は、次のように決定される。
C=IΔt/ΔV (1)
静電容量は電圧に依存しているので、静電容量を動作電圧で測定する必要があり、この動作電圧はエアバッグシステムではほぼ20Vである。従って、電圧レベルシフトを容易に処理するために電圧を供給電圧の範囲内に減少する必要がある。電圧レベルシフトVLSは、図2aに示すように電流源Iと直列に、または、図2bに示すよう並列に配置される。
電圧レベルシフトを、コンデンサを測定する回路内に実現する従来の方法を図3に示す。電流源IはコンデンサCを放電する。適切に決められた勾配を生じるためには、電流源Iが温度およびプロセスに依存しないことが望ましい。電圧レベルシフトは、出力電圧Voutを供給電圧の範囲内にシフトするための抵抗器R1およびR2を具える分圧器を使用して行う。第1の問題は、抵抗器R1での電圧レベルシフトが一定でなく、コンデンサCでの電圧Vに依存するということである。別のより重要な問題は、抵抗器が温度に依存するために、抵抗器を流れる電流が温度に依存することである。十分に大きい抵抗器を配置することで、温度依存性を最小にするが、実質的により大きな面積が抵抗器に費やされる。
図4に、本発明による定常電圧レベルシフトを有するコンデンサ測定回路100を示す。この場合も、電流源IはコンデンサCを放電する。電圧レベルシフトは抵抗器R1および電流源I1を使用して行う。電流I1は、例えばバンドギャップリファレンス回路を使用することにより生じる基準電圧VREFと、抵抗器R1と整合する基準抵抗器RREFとによって電流源I1は決まっており、以下の式
1=VREF/RREF (2)
で与えられ、抵抗器R1での電圧レベルシフトは温度およびプロセスに依存しなくなる。しかしながら、電流I1は、抵抗器R1の温度依存性に影響を受けてコンデンサCから流れる。従って、電流I1は十分に小さく、抵抗器R1の抵抗は十分に大きい必要があるため、大きな面積が割かれることになる。
本発明によるコンデンサを測定する回路の第2の実施形態200を表す図5に示すように、電流源Iを定常電圧レベルシフトと直列に配置することによって、正確な電圧レベルシフトは、正確な電流源と組み合わされている。破線で囲んで示される回路は、電流Iと電流I1との間の差電流I2を測定する。差電流I2はコンデンサCから流れて、コンデンサから流れる全電流は電流Iに等しくなる。電圧レベルシフトは、抵抗器R1および電流源I1を使用して行う。基準電圧VREFおよび、抵抗器R1と整合する基準抵抗器RREF、からI1を導き出すことにより、温度およびプロセスに依存しない正確な電圧レベルシフトが抵抗器R1で生じる。従って、コンデンサを測定する回路200は、温度およびプロセスに依存しない正確な電流と組み合わせた温度およびプロセスに依存しない正確な電圧レベルシフトを印加する。
図5の破線で囲まれて示される回路は、例えば、本発明によるコンデンサを測定する回路の第3の実施形態300を表す図6に示すように、カスコードM1を使用することにより実現される。カスコードM1は、電源I1の周辺の電流源I1によって用いられない正確な電流の一部をコンデンサCに導く。変動電流源I1の実現に伴っていくつかの問題が生じることと、出力Voutの信号の揺れを制限しながら、直列に接続した二つの電流源I1およびIに適切にバイアスをかけるためのヘッドルームが必要であることとが知られている。
図7aに、本発明によるコンデンサを測定する回路の第4の実施形態400を示す。ここで、電流源I1およびI2は、並列接続するとともにアースに接続している。電圧レベルシフトは、抵抗器R1と、基準電圧VREFおよび基準抵抗器RREFで再び決まる電流源I1とを使用して再び行う。電流源I2は、電流源I1の温度依存性を補償する。例えば、抵抗器R1およびRREFの温度係数が正であり、電流源I1の温度係数が負である場合、電流源I2の温度係数は正となるように設計される。従って、コンデンサを測定する回路400は、温度およびプロセスに依存しない正確な電流源と組み合わせた温度およびプロセスに依存しない正確な電圧レベルシフトを印加する。更に、電流源I2が接地することにより、所望のヘッドルームを減少させ、出力Voutの信号のより大きい揺れを許容する。
図8aは、図7aに示すコンデンサ測定回路400の本発明による完全なシステムの実現500を示す。電圧レベルシフトは、抵抗器R1と、基準電圧VREF1を抵抗器RREFに流れる電流に変換するV−Iコンバータを具える電流源とを使用して行う。V−Iコンバータは、増幅器A1、トランジスタM1、抵抗器RREFおよびコンデンサC1を具える。VーIコンバータの代わりに、カスコードを、カスコードのゲートを駆動する基準電圧での同様のトランジスタの使用を補償するカスコードのゲート・ソース間電圧と共に使用する。しかしながら、この代替案はあまり正確でない。増幅器A1およびトランジスタM1を回るフィードバックループは,抵抗器RREFでの電圧を制御して基準電圧VREF1に等しくし、抵抗器RREFおよび基準電圧VREF1によって決まる電流を生じる。この電流は、測定されるコンデンサCからトランジスタM1および抵抗器R1を経て流れる。このように、抵抗器R1で正確niレベルシフトした電圧は、基準電圧VREF1および抵抗器R1とRREFとの比により求まる。コンデンサC1は、V−Iコンバータの周波数補償のために必要である。電流I2は、増幅器A2、トランジスタM2、抵抗器R2およびコンデンサC2を具える同様のVーIコンバータを使用することにより生じ、電流I2は基準電圧VREF1および抵抗器R2により決まる。トランジスタM1のドレインによりレベルシフトした電圧は、コンパレータCO1およびCO2によりモニタされる。レベルシフトした電圧が基準電圧VREF3を越えるとき、カウンタが起動し、レベルシフトした電圧が基準電圧VREF4を越えるとき、カウンタは停止し、コンデンサCのコンデンサ値に比例したn-ビットのデジタル出力を生じるとともに、デジタル時計電圧VCKにより決まる時間間隔をもたらす。
電流を温度補償する必要がある。正の温度係数を有する抵抗器と負の温度係数を有する抵抗器とを利用するとき、温度補償は、図8aに示す各抵抗器に対して正の温度係数を有する抵抗器と負の温度係数を有する抵抗器とを組み合わせて使用することにより達成される。十分な精度を得るために、抵抗器R2を調整して、抵抗器の絶対値幅を補償する。あるいは、温度補償は、抵抗器R1および基準抵抗器RREFに対して単一の抵抗器を使用するとともに抵抗器R2に対して組み合わせ抵抗器だけを使用することにより実現され、電流I1の温度変化は電流I2により補償される。トランジスタM1およびM2は、例えば、コンデンサCの両端間の高電圧のために高電圧のDMOSトランジスタとして実現される。さらに、回路が使用されず電流源I1の電源が入っていないときには、コンパレータCO1およびCO2の入力を防止する。この防止は、例えば、トランジスタM1の流出とコンパレータ入力との間のスイッチと、コンパレータCO1およびCO2の2つの負の入力とアースとの間で接続されるクランプ装置とを使用することにより実装される。
あるいは、図7aに示す電流源I2を、図7bに示す電流源I-I1と交換する。また、電流I1はバンドギャップ電圧に基づく電圧を使用することにより生じ、R1に類似した抵抗器にはR1から電流を取り出し、R1で正確な電圧のレベルシフトを生じる。しかしながら、第2の電流源は、単純に温度に依存しない定電流IからI1を減算することにより求まる。その結果、コンデンサCから流れる電流は定電流Iと同一となる。
図8bに、図7bに示す回路を図8aに示すシステムの実現に組み込んだものを示す。この回路は、図8aに示す回路と類似している。しかしながら、電流Iのコピーは、M11を使用することにより生じる。その後、I1のコピーは、M12およびM13を用いた定電流Iから減算される。したがって、M2を流れる電流はI-I1に等しい。I-I1とI1の両方がコンデンサCから流れるので、Cから流れる全電流は定電流Iである。抵抗器R2を取り除くとともに正の温度係数を有する抵抗器と負の温度係数を有する抵抗器とを組み合わせて使用することにより、電流Iは正確になり、温度に依存しない。
正の温度係数を有する抵抗器のみが利用できる場合、本発明による図9に示すようなシステム600を使用する。この回路は、抵抗器R3およびR4を除いて図8aに示す回路と同一である。R4の温度係数を他の抵抗器の温度係数より確実に大きくすることにより、抵抗器R2の両端の電圧は温度の上昇とともに増加し、抵抗の増加を補償して、温度に依存しない電流となる。電流I1の温度変化を補償するために、電流源I2は、過度に補償される。
電流源I2の別の実現は、本発明による図10に示すシステム700において実現される。ここで、電流源I2は、トランジスタQ2、Q3、M2、M3および抵抗器R2を備えるPTAT電流源を使用することにより生じる。PTAT源のバイアス電流は、トランジスタQ1によって反映される。PTAT電流源は、抵抗器R2両端間の絶対温度に比例した電圧を発生する。この電圧の温度変化は、抵抗器R2の温度変化を補償し、温度に実質的に反応しない電流I2を生じる。更に、2つの異なる正の温度係数を有する抵抗器を組み合わせたものを、抵抗器R2の代わりに使用することにより調整することができ、これはまた、電流I1の温度変化の補償をもたらす。
本発明の多数のその他実施形態は、当業者にとって明らかであり、添付の特許請求の範囲に記載の本発明の意図および範囲から逸脱することはない。
図1aは、コンデンサの検査を概略的に例示する簡略回路図である。 図1bは、時間の関数のキャパシタ電圧を概略的に例示する簡略図である。 図2aは、電流源と直列の電圧レベルシフトを有するコンデンサの検査を概略的に例示する簡略回路図である。 図2bは、電流源と並列の電圧レベルシフトを有するコンデンサの検査を概略的に例示する簡略回路図である。 図3は、電圧レベルシフトを有する従来のコンデンサの検査を概略的に例示する簡略回路図である。 図4は、本発明による定常電圧レベルシフトを有するコンデンサの検査を概略的に例示する簡略回路図である。 図5は、本発明による定常電圧レベルシフトと直列の電流源を有するコンデンサの検査を概略的に例示する簡略回路図である。 図6は、本発明による、カスコードトランジスタを使用する定常電圧レベルシフトと直列の電流源を有するコンデンサの検査を概略的に例示する簡略回路図である。 図7aは、本発明による定常電圧レベルシフトと並列の電流源を有するコンデンサの検査を概略的に例示する簡略回路図である。 図7bは、図7aに示すものに替わる本発明によるコンデンサの検査を概略的に例示する簡略回路図である。 図8aは、本発明によるコンデンサ計測系を概略的に例示する簡略回路図である。 図8bは、本発明による、図7bに示す回路を実施する他のコンデンサ計測系を概略的に例示する簡略回路図である。 図9は、本発明によるもう一つのコンデンサ計測系を概略的に例示する簡略回路図である。 図10は、本発明による更にもう一つのコンデンサ計測系を概略的に例示する簡略回路図である。

Claims (21)

  1. 電子部品のインピーダンスを測定するシステムであって、
    前記電子部品(C)と並列に電源面(V)とアース(VGND)との間に接続され、予め定められた実質的に一定の電流を前記電子部品(C)に供給する温度補償された電流源(I)と、
    前記電源面(V)と前記アース(VGND)との間で前記電子部品と並列に接続され、前記電子部品(C)の両端間の電圧を検出するとともに温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを印加する温度補償された電圧レベルシフトと
    を具えるシステム。
  2. 請求項1に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記温度補償された電流源(I)および前記温度補償された電圧レベルシフトが直列に接続されていることを特徴とするシステム。
  3. 請求項1または2に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記温度補償された電圧レベルシフトが、電流源(I1)と直列に接続された少なくとも一つの抵抗器(R1)と、前記少なくとも一つの抵抗器(R1)と前記電流源(I1)との間に配置された出力ポートとを具えることを特徴とするシステム。
  4. 請求項1〜3のいずれか一項に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記温度補償された電圧レベルシフトと並列に接続され、前記電流源(I)により発生した電流と前記電流源(I1)により発生した電流との間の差の電流を発生する補償回路を具えることを特徴とするシステム。
  5. 請求項1〜4のいずれか一項に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記補償回路がカスコードを具えることを特徴とするシステム。
  6. 請求項3〜5のいずれか一項に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、少なくとも一つの抵抗器(R1)は、互いに逆の温度係数を有する二つの抵抗器を具えることを特徴とするシステム。
  7. 請求項1〜6のいずれか一項に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記電子部品(C)がコンデンサを具えることを特徴とするシステム。
  8. 請求項1〜6のいずれか一項に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記電子部品(C)がエアバッグシステムの蓄積コンデンサを具えることを特徴とするシステム。
  9. 電子部品のインピーダンスを測定するシステムの集積回路設計を行うためのデータを記憶した記憶媒体であって、前記システムが、前記電子部品と並列に電源面(V)とアース(VGND)との間に接続され、予め定められた実質的に一定の電流を前記電子部品(C)に供給する温度補償された電流源(I)と、前記電源面(V)と前記アース(VGND)との間で前記電子部品(C)と並列に接続され、前記電子部品(C)の両端間の電圧を検出するとともに温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを印加する温度補償された電圧レベルシフトとを具える記憶媒体。
  10. 電子部品のインピーダンスを測定する方法であって、温度補償された電流源(I)を前記電子部品(C)と並列に電源面(V)とアース(VGND)との間に接続することにより、予め定められた実質的に一定の電流を前記電子部品(C)に供給し、前記電子部品(C)の両端間の電圧を検出し、温度補償された電圧レベルシフトを前記電源面(V)と前記アース(VGND)との間で前記電子部品(C)と並列に接続することにより、温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを印加する方法。
  11. 電子部品のインピーダンスを測定するシステムであって、前記電子部品(C)と並列に電源面(V)とアース(VGND)との間に接続され、電流を前記電子部品(C)に供給する電流源(I2)と、前記電源面(V)と前記アース(VGND)との間で前記電子部品(C)と並列におよび前記電流源(I2)と並列に接続され、前記電子部品(C)の両端間の電圧を検出するとともに温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを印加する電圧レベルシフトとを具え、前記電圧レベルシフトは、電流源(I1)と直列に接続される少なくとも一つの抵抗器(R1)と、前記少なくとも一つの抵抗器(R1)と前記電流源(I1)との間に配置される出力ポートとを具え、前記電流源(I1)および(I2)は、互いに逆の温度係数を有し、前記電子部品に供給される電流が実質的に一定となるシステム。
  12. 請求項11に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記電圧レベルシフトが、基準抵抗器(RREF1)の抵抗および前記基準抵抗器(RREF1)での基準電圧VREF1に依存する電流を供給するV−Iコンバータを具えることを特徴とするシステム。
  13. 請求項12に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記V−Iコンバータが,トランジスタと、当該トランジスタのベースに接続される増幅器とを具えることを特徴とするシステム。
  14. 請求項11〜13のいずれか一項に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記電流源(I2)がV−Iコンバータを具えてなることを特徴とするシステム。
  15. 請求項11〜14のいずれか一項に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記出力ポート、スタート基準電圧源(VREF3)およびカウンタと通信し、前記出力電圧Voutとスタート基準電圧を比較するとともに比較結果を発生し、当該比較結果が合致を示す場合はそれに従って信号を前記カウンタに供給するスタートコンパレータ(CO1)と、前記出力ポート、ストップ基準電圧源(VREF4)および前記カウンタと通信し、前記出力電圧Voutとストップ基準電圧を比較するとともに比較結果を発生し、当該比較結果が合致を示す場合はそれに従って信号を前記カウンタに供給するストップコンパレータ(CO2)とを具えることを特徴とするシステム。
  16. 請求項15に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記カウンタの起動と停止との間の時間間隔を決定するために前記カウンタと通信するデジタル時計を具えることを特徴とするシステム。
  17. 請求項11〜16のいずれか一項に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記電流源(I2)がPTAT電流源を具えることを特徴とするシステム。
  18. 請求項11〜17のいずれか一項に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記電子部品(C)がコンデンサを具えることを特徴とするシステム。
  19. 請求項11〜17のいずれか一項に記載の電子部品のインピーダンスを測定するシステムにおいて、前記電子部品(C)がエアバッグシステムの蓄積コンデンサを具えることを特徴とするシステム。
  20. 電子部品のインピーダンスを測定するシステムの集積回路設計を行うためのデータを記憶した記憶媒体であって、前記システムが、前記電子部品(C)と並列に電源面(V)とアース(VGND)との間で接続され、電流を前記電子部品(C)に供給する電流源(I2)と、前記電源面(V)と前記アース(VGND)との間で前記電子部品(C)と並列におよび前記電流源(I2)と並列に接続され、前記電子部品(C)での電圧を検出するとともに温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを印加する電圧レベルシフトとを具え、当該電圧レベルシフトが、電流源(I1)と直列に接続される少なくとも一つの抵抗器(R1)と、前記少なくとも一つの抵抗器(R1)と前記電流源(I1)との間に配置された出力ポートとを具え、前記電流源(I1)および(I2)が、互いに逆の温度係数を有し、前記電子部品に供給される電流が実質的に一定となる記憶媒体。
  21. 電子部品のインピーダンスを測定する方法であって、電流源(I2)を前記電子部品と並列に電源面(V)とアース(VGND)との間で接続することにより、電流を前記電子部品(C)に供給し、前記電子部品(C)の両端間の電圧を検出し、電圧レベルシフトを前記供給平面(V)と前記アース(VGND)との間で前記電子部品(C)と並列におよび前記電流源(I2)と並列に接続することにより、温度に従ってレベルシフトされた出力電圧Voutを印加し、前記電圧レベルシフトが、電流源(I1)と直列に接続される少なくとも一つの抵抗器(R1)と、少なくとも一つの抵抗器(R1)と前記電流源(I1)との間に配置される出力ポートとを具え、前記電流源(I1)および(I2)が、互いに逆の温度係数を有し、前記電子部品に供給される電流が実質的に一定となる方法。
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