JP2008516435A - 多層回路基板の各接続面を接続するビアホールの穿孔装置 - Google Patents
多層回路基板の各接続面を接続するビアホールの穿孔装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008516435A JP2008516435A JP2007535104A JP2007535104A JP2008516435A JP 2008516435 A JP2008516435 A JP 2008516435A JP 2007535104 A JP2007535104 A JP 2007535104A JP 2007535104 A JP2007535104 A JP 2007535104A JP 2008516435 A JP2008516435 A JP 2008516435A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- multilayer circuit
- via hole
- positional deviation
- deviation amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
- H05K3/4611—Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
- H05K3/4638—Aligning and fixing the circuit boards before lamination; Detecting or measuring the misalignment after lamination; Aligning external circuit patterns or via connections relative to internal circuits
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q17/00—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools
- B23Q17/22—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools for indicating or measuring existing or desired position of tool or work
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B26—HAND CUTTING TOOLS; CUTTING; SEVERING
- B26F—PERFORATING; PUNCHING; CUTTING-OUT; STAMPING-OUT; SEVERING BY MEANS OTHER THAN CUTTING
- B26F1/00—Perforating; Punching; Cutting-out; Stamping-out; Apparatus therefor
- B26F1/02—Perforating by punching, e.g. with relatively-reciprocating punch and bed
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
- H05K1/0269—Marks, test patterns or identification means for visual or optical inspection
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09818—Shape or layout details not covered by a single group of H05K2201/09009 - H05K2201/09809
- H05K2201/09918—Optically detected marks used for aligning tool relative to the PCB, e.g. for mounting of components
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0008—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits for aligning or positioning of tools relative to the circuit board
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0017—Etching of the substrate by chemical or physical means
- H05K3/0026—Etching of the substrate by chemical or physical means by laser ablation
- H05K3/0032—Etching of the substrate by chemical or physical means by laser ablation of organic insulating material
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0044—Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
- H05K3/0047—Drilling of holes
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/53—Means to assemble or disassemble
- Y10T29/5313—Means to assemble electrical device
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T408/00—Cutting by use of rotating axially moving tool
- Y10T408/36—Machine including plural tools
- Y10T408/38—Plural, simultaneously operational tools
- Y10T408/3822—Plural, simultaneously operational tools at least one Tool including flexible drive connection
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T408/00—Cutting by use of rotating axially moving tool
- Y10T408/36—Machine including plural tools
- Y10T408/38—Plural, simultaneously operational tools
- Y10T408/3833—Plural, simultaneously operational tools with means to advance work relative to Tool
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Forests & Forestry (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Drilling And Boring (AREA)
- Perforating, Stamping-Out Or Severing By Means Other Than Cutting (AREA)
Abstract
【課題】多層回路基板の、少なくとも第1の層の接続面と第2の層の接続面を接続するビアホールを高い精度で形成する穿孔装置及び穿孔方法を提供すること。
【解決手段】ビアホール22を形成するための穿孔手段と、該穿孔手段を前記ビアホール22に対応するよう制御する制御信号を生成する制御手段とを備えて成る穿孔装置において、第1の層4と第2の層6の間の位置ズレ量を検出する位置ズレ量検出手段を当該穿孔装置に統合させて設け、該位置ズレ量検出手段を、その検出信号が前記制御手段に伝達されるようこの制御手段に接続し、該制御手段を、前記位置ズレ量検出手段からの検出信号に基づいて前記穿孔手段を制御するよう構成した。
【解決手段】ビアホール22を形成するための穿孔手段と、該穿孔手段を前記ビアホール22に対応するよう制御する制御信号を生成する制御手段とを備えて成る穿孔装置において、第1の層4と第2の層6の間の位置ズレ量を検出する位置ズレ量検出手段を当該穿孔装置に統合させて設け、該位置ズレ量検出手段を、その検出信号が前記制御手段に伝達されるようこの制御手段に接続し、該制御手段を、前記位置ズレ量検出手段からの検出信号に基づいて前記穿孔手段を制御するよう構成した。
Description
本発明は、請求項1の前提部に記載した、多層回路基板の、少なくとも第1の層の接続面と第2の層の接続面を接続するビアホールを形成するための穿孔装置に関する。
今日ますます小型化する電子部品においては、例えば回路基板の所定の表面内に多数の電子部品或いは回路を設けなければならない。そこで、回路基板を積層させて形成した、いわゆる多層回路基板が一般に知られており、この多層回路基板によれば、各回路基板の表裏に電子部品或いは回路を設けることができるとともに、このような回路基板を積層形成することができるので、1つの回路基板では収容不可能な数の回路を収容することができる。
そして、このような多層回路基板を構成する各回路基板は、例えば圧着或いは接着されて互いに結着されている。
ところで、例えば、多層回路基板の第1の層と第2の層の間で電気信号を伝達する場合、これら各層の回路を電気的に接続する必要がある。このため、各層は、充填物とも呼ばれる接続面を備えている。この接続面は、例えば多層回路基板の平面に対して垂直な方向に互いに重ねて設けられている。
そして、これらの接続面の電気的な接続はビアホールを形成することによりなされ、ここで、このビアホールは、接続面を互いに機械的に接続するとともに、例えば、はんだ等の導電性材料をその内壁に形成することにより前記各接続面を電気的に接続する。即ち、ビアホールにより各接続面間の電気的な接続が可能となる。
しかし、このような電気的な接続は、各接続面が多層回路基板の平面に対して垂直な方向に正確に重ねられて設けられる場合に限って可能である。
ところが、前記各層を接続するに際して、例えば圧着によりその平面に高い圧力と共に高い温度が生じ、これら各層間に位置ズレが生じてしまう。そして、このような位置ズレは、各層の、縮み又は伸び、回路基板面に平行な方向への変位、及び/又は回路基板面に垂直な軸まわりの回転により生じてしまう。
而して、位置ズレ量が所定の範囲外にある限りは、ビアホールによる各接続面の電気的な接続は不可能であり、この場合の回路基板は不良品として廃棄される。
ここで、このように、位置ズレ量が所定の範囲外にあり廃棄されるべき回路基板へのコストのかかる電子部品の装備等を避けるべく、位置ズレ量をX線式の計測器で検出するものが特許文献1に提案されている。
又、多層回路基板の、少なくとも第1の層の接続面と第2の層の接続面を接続するビアホールを形成するための穿孔装置が一般に知られている。このような穿孔装置は、ビアホールを形成するための穿孔手段と、該穿孔手段を前記ビアホールに対応するよう制御する制御信号を生成する制御手段とを備えている。そして、多層回路基板には、これを穿孔装置において例えば穿孔用テーブル等の適当な支持部材に固定するための孔が穿設されており、これに嵌挿されるピンによりこの位置で多層回路基板が穿孔装置に固定される。
これに関連して、多層回路基板に穿設される前記孔を位置ズレを解消する位置に調節することが知られている。そして、特許文献1に開示されているように、X線式の測定器により多層回路基板に生じた位置ズレ量が検出される。このとき、検出された位置ズレ量が所定の範囲内にある限りは、ビアホールの形成において位置ズレが全て又は部分的に解消される位置に前記孔が位置調節される。
そして、位置ズレ量を検出し、前記孔を穿設した後、多層回路基板は、X線式の測定器から穿孔装置に供給され、ここでこの穿孔装置の支持部材にピンが嵌挿され、続いて穿孔装置の穿孔手段が所望のビアホールを形成する。
独国特許第3342564号明細書
本発明の目的とする処は、請求項1の前提部分に記載した、多層回路基板の、少なくとも第1の層の接続面と第2の層の接続面を接続するビアホールを形成するための穿孔装置のビアホール形成精度を高めること、及び請求項14の前提部分に記載した、多層回路基板の少なくとも第1の層の接続面と第2の層の接続面を接続するビアホールの穿孔方法におけるビアホール形成精度を高めることにある。
上記目的は請求項1記載の穿孔装置及び請求項14記載の穿孔方法により達成される。
本発明によれば、多層回路基板の第1の層と第2の層の間の位置ズレ量の検出、及びビアホールの形成を同一の装置によって行うことができる。
又、この場合、位置ズレ量検出時及びビアホール形成時に多層回路基板を例えば穿孔用テーブル等の適当な支持部材に固定保持することができ、ビアホール形成時における上記孔とピンの機械的なはめあい公差に基づく誤差が発生しない。
もっとも、本発明においては、多層回路基板内の上記のような孔は必要ないため、多層回路基板にそのような孔を設ける必要もなく、上記のような誤差も生じ得ない。
本発明においては、位置ズレ量の検出も、ビアホールの形成も1つの装置、即ち穿孔装置で行うため、多層回路基板は、位置ズレ量検出時においても、又ビアホール形成時においても同一の環境、特に同一温度の下にさらされる。従って、特に位置ズレ量検出時とビアホール形成時の温度差による多層回路基板の変形を防止することができる。
因みに、従来の装置によれば、多層回路基板を位置ズレ量検出後にX線式の測定器から穿孔装置に供給していたために、ビアホールの形成に際して誤差を招いていた。
而して、本発明による穿孔装置におけるビアホールの形成に際して、その精度を高めることができる。
又、本発明によれば、ビアホールを形成するための少なくとも1つのレーザを備えているため、ビアホールの形成に際してその精度を更に高めることができるとともに、機械的な穿孔装置よりも穿孔速度を速めることができる。そして、更なるレーザによる穿孔の利点は、形成すべきビアホールの直径に応じて適当な光線形状及び/又は焦点調節を行える点にある。従って、本発明によれば、機械的な穿孔装置における時間のかかる穿孔器具の交換が必要ない。
更に、本発明においては、従来の穿孔装置に比して構造が簡単であるため、当該穿孔装置を容易且つ安価に製造することができる。そして、従来の装置によれば、例えばX線式の測定器で構成された位置ズレ量検出装置、及び穿孔装置が互いに別体として設けられているため、例えば制御装置、及び多層回路基板の位置調節を行う位置調節テーブル等の必要且つ高価な構成要素を二重に設ける必要があったが、本発明によれば、位置ズレ量検出手段を穿孔装置に一体的に統合しているため上記のような必要且つ高価な構成要素を二重に設ける必要がない。
従って、本発明によれば、単に従来に比して容易且つ安価に穿孔装置を製造できるにとどまらず、穿孔装置の小型化を図ることができる。
本発明のように、位置ズレ量検出手段を穿孔装置に統合させれば、位置ズレ量の検出とビアホールの形成を、多層回路基板を支持する支持部材を移動させずに行うことができるような、穿孔手段と位置ズレ量検出手段の空間的及び/又は機能的な関係を構築することができ、特に穿孔手段と位置ズレ量検出手段が空間的に互いに近接して設けられている。
又、本発明の他の好ましい特徴によれば、穿孔手段と位置ズレ量検出手段が穿孔装置における共通の本体部内、特にケーシング内に設けられている。従って、特に穿孔装置の小型化を図ることができる。
更に、本発明の特に好ましい特徴によれば、多層回路基板を支持する支持部材を設けて、この多層回路基板を、ビアホールの形成時にも位置ズレ量検出時とほぼ同じ位置に保持させているため、位置ズレ量検出手段から穿孔手段への移動時に生じ得るビアホール形成位置の誤差を調整する必要がない。
又、本発明によれば、位置ズレ量検出時及びビアホール形成時に、多層回路基板を支持部材に固定せしめる固定手段を備える構成としている。ここで、前記固定手段は、適宜選択することができるが、例えば、多層回路基板と支持部材を機械的に結合する、或いはバキューム装置で吸引する等が考えられる。
ところで、上記支持部材とは、その形状に拘らず多層回路基板を支持するものであり、例えば枠状、或いは台として形成されてその表面で多層回路基板を水平に支持するものである。
又、本発明の他の形態によれば、多層回路基板を、ビアホールの形成後に初めて支持部材から解放している。即ち、制御手段と固定手段をこれらの間で信号伝達できるよう接続し、固定手段がビアホールの形成後、多層回路基板を解放することができる。
更に、本発明の他の形態によれば、多層回路基板の、穿孔手段及び/又は位置ズレ量検出手段との相対位置を調節する位置調節手段を備える構成としている。それ故、制御手段により位置調節手段を適当に制御することによって、多層回路基板を穿孔手段或いは位置ズレ量検出手段に対して各々所望の位置に調節することができる。従って、穿孔手段及び位置ズレ量検出手段を穿孔装置の本体部に固設することが可能であるとともに、穿孔装置の構造も簡単にすることができる。
尚、位置調節手段は、上記支持部材が設けられるか或いは形成された、X軸方向及びY軸方向に位置調節可能な台として構成することができる。
又、本発明の他の形態によれば、多層回路基板を、位置調節手段によって、少なくともこの多層回路基板面と平行な平面内で、穿孔手段及び/又は位置ズレ量検出手段に対して位置調節可能に設定している。そして、必要であれば、多層回路基板を穿孔手段及び/又は位置ズレ量検出手段に対してこの多層回路基板面と垂直な方向へ位置調節することができる。
上記のような位置ズレ量の検出は基本的に適宜適当な方法を用いて行うことができるが、本発明によれば、位置ズレ量検出手段を画像化手段で構成している。
更に、本発明の好ましい形態によれば、少なくとも1つのX線式計測器を位置ズレ量検出手段に設けている。従って、多層回路基板の測定、即ち位置ズレ量の測定を高い精度で行うことができる。
又、本発明の好ましい形態によれば、少なくとも1つのX線管をX線式計測器に設けている。従って、位置ズレ量の測定を特に高い精度で行うことができる。因みに、X線式計測器をX線顕微鏡で構成することもできる。
更に、本発明の他の形態によれば、制御手段を、位置ズレ量検出手段により検出された位置ズレ量が所定の範囲内であるときのみ穿孔手段の制御が行われるようプログラムしている。即ち、検出された位置ズレ量が多層回路基板の各層間の電気的な接続が可能な程度であると確認された場合にのみビアホールが形成される。一方、検出された位置ズレ量が多層回路基板の各層間の電気的な接続が可能な程度でないと確認された場合には、ビアホールは形成されず、この多層回路基板は廃棄される。
従って、検出された位置ズレ量が所定の範囲外である場合の、時間及びコストのかかる多層回路基板の更なる加工を避けることができる。
又、必要に応じて、位置ズレ量検出手段が各層の内部或い上部に設けたマークの位置ズレ量を検出するようにしても良い。
更に、本発明の方法によれば、多層回路基板を、位置ズレ量検出時及びビアホール形成時にこの多層回路基板を支持する支持部材に対して変位しないよう保持している。従って、従来生じていた、位置ズレ量検出手段から穿孔手段への移動時に生じ得るビアホール形成位置の誤差を生じることなく、高い精度でビアホールを形成することができる。尚、多層回路基板の支持部材に対する変位は当該多層回路基板面と平行な平面内である。
本発明に係る方法の好ましい形態は請求項14〜17に記載されている。
以下に本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。尚、各図において同一要素には同一符号を付しており、本発明の適用は、下記の実施の形態、或いは図面に記載の範囲に制限されるものではなく、本発明の範囲を逸脱しない範囲内で適宜組み合わせることができる。
図1は各層を結着する前の状態を示す多層回路基板2(以下、単に回路基板という)の斜視図であり、この回路基板2は層状構造をしており、その各層4,6,8はそれぞれ1つの回路基板を形成している。尚、回路基板2のこれら各層4,6,8は圧着或いは接着されて互いに結着されている。但し、図1においては、図が煩雑とならないよう、互いに結着された状態では示していない。
ところで、図1に示す回路基板2は例として三層から成っているが、層の数は適宜選択することが可能で、例えば、二層、或いは三層より多くの層としても良い。
そして、回路基板2を組み立てた状態において、各層4,6,8は図1に示すようにそれぞれ回路10,12,14を備えている。これら回路10,12,14は、導電性材料から成り、同様に導電性材料から成る接続面16,18,20に接続されている。
本実施の形態において、これら接続面16,18,20は、平面図で見て円形に形成されており、図1に示すビアホール22を介して互いに接続されている。
図2は図1に示した回路基板2の縦断面図であり、この回路基板2には、前記各接続面16,18,20を導電的に接続するために、理想的にはこれら接続面16,18,20と同軸に配置されたビアホール22が形成される。
そして、このビアホール22を形成した後、その内壁には各接続面16,18,20間を電気的に接続するよう、例えばはんだのような導電性材料が形成される。
図3は図2に示した回路基板2の平面図である。各層4,6,8を互いに接続する際、各層4,6,8間に位置ズレが生じてしまい、接続面16,18,20は、回路基板2の平面に対して垂直方向に互いに重ならなくなってしまう。このような位置ズレは特に、少なくとも1つの層の伸び或いは縮み、回路基板2の平面に平行な方向への各層の移動、回路基板2の平面に垂直な軸線まわりの各層の回転移動、及び各層のせん断応力の少なくとも何れかにより生じる。
そして、図3には回路基板2が示されているが、図示の状態では位置ズレは生じていない。それ故、接続面16,18,20は、回路基板2の平面に対して平行に互いに垂直に重ねられている。この図3に示すように、各接続面16,18,20はビアホール22を形成した後ではリング状に形成されており、このビアホール22を各接続面16,18,20と同軸に配置して延設すると好ましい。尚、リング状の接続面16,18,20はそのリングの径方向幅Dを有している。
図4は位置ズレが生じた回路基板2を示しており、この位置ズレによりビアホール22は全ての接続面16,18,20とは同軸に配置されていない。このような場合には、ビアホール22はなるべくリングの径方向幅Dが大きくなるように配置されるが、この径方向幅Dが所定幅より小さい場合には、この回路基板2は使用することができず、廃棄せざるを得ない。
図5は、接続面16,18,20が上記所定幅以上とはならない程の大きな位置ズレを生じた回路基板2を示している。この図5に示した回路基板2においては、ビアホール22を形成した後の接続面16,20はもはやリング状ではなくなっており、ビアホール22がそれらの外縁から逸脱してしまっている。このような場合も、この回路基板2は使用することができず、廃棄せざるを得ない。
図6は、本発明による穿孔方法によりビアホール22を形成する穿孔装置24を示している。この穿孔装置24は、レーザ26を備えた穿孔手段を有している。尚、レーザを用いた穿孔方法は公知であるので、これについてここでは説明しない。
而して、レーザ26は、当該レーザ26を、形成すべきビアホール22に適合するよう調整する制御信号を生成する制御手段28に接続されている。尚、この制御手段28の機能については後述する。
又、本発明による穿孔装置24は、更に当該穿孔装置24に統合されて上記位置ズレ量を検出する検出手段を備えている。この検出手段は本実施の形態においてはX線式の計測器で構成され、このX線式の計測器はX線顕微鏡及びX線管32を備えている。ここで、このX線管32は、支持部材34上に載置された回路基板2を透過するX線を照射する。
そして、支持部材34の、X線管32の反対側にはX線画像検出手段36が配設されており、その出力信号は制御手段28に伝達され、この制御手段28によりX線管32が制御される。
ところで、本実施の形態においては、支持部材34は、当該支持部材34の位置、即ち回路基板2のレーザ26及びX線管32との相対位置を調節する位置調節手段に連結されている。この位置調節手段は、例えばX軸、Y軸方向へ移動可能な調整台で構成され、支持部材34、即ち回路基板2を高い精度で正確にレーザ26及びX線管32に対して位置調節することができる。即ち、この位置調節手段は、支持部材34をX軸方向及びY軸方向に位置調節することができる。
又、位置ズレ量を検出する際に回路基板2を支持部材34に固定する固定手段が備えられており、本実施の形態におけるこの固定手段は、図6において符号38で示すバキューム装置を備えている。このバキューム装置38は、支持部材34に設けられた貫通孔40を通して回路基板2を吸引してこれを支持部材34に固定する。
そして、上記バキューム装置38は、制御手段28によって、例えば、先ず回路基板2を支持部材34に固定し、全てのビアホール22が形成されたら解放するように制御される。
又、本実施の形態によれば、穿孔手段はレーザ26で、位置ズレ量を検出する手段はX線管32及びX線画像検出装置36でそれぞれ構成されて1つのケーシング42内に収容されており、このケーシング42によりX線がその外部へ照射されないよう遮蔽されている。
ここで、上記の構成を有する穿孔装置24の作用を以下に説明する。
回路基板2に穿孔するために、先ず、この回路基板2が支持部材34上に載置され、バキューム装置38によりその位置に固定される。
そして、制御手段28における第1の制御装置44が支持部材34、即ち回路基板2をX線管32に対する所定位置に移動させるよう位置調節手段を制御し、この所定位置において回路基板2の各層4,6,8の位置ズレ量が検出される。尚、このような位置ズレ量を検出する方法は既に公知であるので、ここでは詳しく説明しない。
而して、X線管32から照射されたX線が回路基板2を透過して形成する画像がX線画像検出装置36により検出され、その検出信号が制御手段28における解析ユニット46に伝達されて、ここで回路基板2の各層4,6,8の位置ズレ量が検出される。尚、X線管32の制御は制御手段28における第2の制御装置48により行われる。
又、X線が回路基板2を透過して形成された上記画像が解析され、各層4,6,8の位置ズレ量が検出された後、例えば、ビアホール22が形成された際の各接続面16,18,20のリングの径方向幅により回路基板2が使用できるかどうかがチェックされる。
ここで、回路基板2が使用できるものでなく廃棄すべきものであると判断された場合には、これに応じた信号が生成され、回路基板2は穿孔装置24から撤去される。
一方、回路基板2が使用できるものであると判断された場合には、第1の制御装置44がビアホール22に対応するレーザ26の制御信号、及び位置調節手段の制御信号を生成する。
それ故、位置調節手段が支持部材34、即ち回路基板2を、ビアホールが形成されるべき所定位置に配置し、この位置でレーザ26により回路基板2にビアホール22が形成される。
図示の本実施の形態において、回路基板2は位置ズレ量検出中も、ビアホール22を形成している間も支持部材34に固定されているため、ビアホール22を高い精度で形成することができるとともに、回路基板2の支持部材34に対する変位による誤差を避けることもできる。即ち、レーザ26に対する支持部材34の相対位置は、第1の制御装置44により高い精度で制御される位置調節装置によって制御される。
このように、位置ズレ量の検出とビアホール22の形成を1つの装置、即ち穿孔装置24により行うことができるため、ビアホール22を回路基板2に高い精度で形成することができるとともに、その時間も短縮されて能率的に形成することができる。
更に、従来の装置において要していた、位置ズレ量を検出する装置から穿孔装置へ回路基板2を移動させる時間を完全になくすことができる。それ故、人件費も削減することができる。
2 多層回路基板
4,6,8 層
10,12,14 回路
16,18,20 接続面
22 ビアホール
24 穿孔装置
26 レーザ
28 制御手段
32 X線管
34 支持部材
36 X線画像検出手段
38 バキューム装置
40 貫通孔
42 ケーシング
44 第1の制御装置
46 解析ユニット
48 第2の制御装置
D リングの径方向幅
4,6,8 層
10,12,14 回路
16,18,20 接続面
22 ビアホール
24 穿孔装置
26 レーザ
28 制御手段
32 X線管
34 支持部材
36 X線画像検出手段
38 バキューム装置
40 貫通孔
42 ケーシング
44 第1の制御装置
46 解析ユニット
48 第2の制御装置
D リングの径方向幅
Claims (17)
- 多層回路基板(2)の、少なくとも第1の層(4)の接続面と第2の層(6)の接続面を接続するビアホール(22)を形成するための穿孔装置であって、
前記ビアホール(22)を形成するための穿孔手段と、
該穿孔手段を前記ビアホール(22)に対応するよう制御する制御信号を生成する制御手段と
を備えて成る前記穿孔装置において、
前記第1の層(4)と前記第2の層(6)の間の位置ズレ量を検出する位置ズレ量検出手段を当該穿孔装置(24)に統合させて設け、
該位置ズレ量検出手段を、その検出信号が前記制御手段(28)に伝達されるようこの制御手段に接続し、
該制御手段を、前記位置ズレ量検出手段からの検出信号に基づいて前記穿孔手段を制御するよう構成したことを特徴とする穿孔装置。 - 前記穿孔手段及び前記位置ズレ量検出手段を当該穿孔装置における共通の本体部内、特にケーシング(42)内に収容したことを特徴とする請求項1記載の穿孔装置。
- 前記多層回路基板を支持する支持部材(34)を設けて、この多層回路基板(2)を、前記ビアホール(22)の形成時にも位置ズレ量検出時と同じ位置に保持させることを特徴とする請求項1又は2記載の穿孔装置。
- 位置ズレ量検出時及び/又は前記ビアホール(22)形成時に、前記多層回路基板(2)を前記支持部材(34)に固定せしめる固定手段を備える構成としたことを特徴とする請求項3記載の穿孔装置。
- 前記多層回路基板(2)を、前記ビアホール(22)の形成後に初めて前記支持部材(34)から解放することを特徴とする請求項3又は4記載の穿孔装置。
- 前記多層回路基板の、前記穿孔手段及び/又は前記位置ズレ量検出手段との相対位置を調節する位置調節手段を備える構成としたことを特徴とする請求項1〜5の何れか1項に記載の穿孔装置。
- 前記多層回路基板(2)を、前記位置調節手段によって、少なくともこの多層回路基板面と平行な平面内で、前記穿孔手段及び/又は前記位置ズレ量検出手段に対して位置調節可能に設定したことを特徴とする請求項6記載の穿孔装置。
- 前記位置ズレ量検出手段を画像化手段で構成したことを特徴とする請求項1〜7の何れか1項に記載の穿孔装置。
- 少なくとも1つのX線式計測器を前記位置ズレ量検出手段に設けたことを特徴とする請求項1〜8の何れか1項に記載の穿孔装置。
- 少なくとも1つのX線管(32)を前記X線式計測器に設けたことを特徴とする請求項9記載の穿孔装置。
- 前記制御手段(28)を、前記位置ズレ量検出手段により検出された各層(4,6,8)の位置ズレ量が所定の範囲内であるときのみ前記穿孔手段の制御が行われるようプログラムしたことを特徴とする請求項1〜10の何れか1項に記載の穿孔装置。
- 前記位置ズレ量検出手段は、前記多層回路基板(2)の各層(4,6,8)の接続面(16,18,20)の位置ズレ量を検出することを特徴とする請求項1〜11の何れか1項に記載の穿孔装置。
- 前記位置ズレ量検出手段は、前記各層(4,6,8)の内部或い上部に設けたマークの位置ズレ量を検出することを特徴とする請求項1〜12の何れか1項に記載の穿孔装置。
- 多層回路基板の少なくとも第1の層の接続面と第2の層の接続面を接続するビアホールの穿孔方法であって、
前記第1の層と前記第2の層の間の位置ズレ量を検出し、
制御手段が、検出された前記位置ズレ量に基づき前記ビアホールを形成する穿孔手段を制御する制御信号を生成し、
前記多層回路基板を、位置ズレ量検出時及びビアホール形成時にこの多層回路基板を支持する支持部材に対して変位しないよう保持し、
前記ビアホールをレーザによって形成することを特徴とする穿孔方法。 - 前記位置ズレ量を画像化手段で検出することを特徴とする請求項14記載の穿孔方法。
- 前記位置ズレ量をX線式計測器で検出することを特徴とする請求項15記載の穿孔方法。
- 前記X線式計測器を、少なくとも1つのX線管を備える構成としたことを特徴とする請求項16記載の穿孔方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102004049439A DE102004049439A1 (de) | 2004-10-08 | 2004-10-08 | Bohrvorrichtung zum Bohren von Kontaktierungsbohrungen zum Verbinden von Kontaktierungsflächen von Mehrschicht-Leiterplatten |
PCT/EP2005/010823 WO2006040088A2 (de) | 2004-10-08 | 2005-10-07 | Bohrvorrichtung zum bhren von kontaktierungsbohrungen zum verbinden von kontaktierungsflächen von mehrschicht-leiterplatten |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008516435A true JP2008516435A (ja) | 2008-05-15 |
Family
ID=35945242
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007535104A Withdrawn JP2008516435A (ja) | 2004-10-08 | 2005-10-07 | 多層回路基板の各接続面を接続するビアホールの穿孔装置 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20070256298A1 (ja) |
EP (1) | EP1800525A2 (ja) |
JP (1) | JP2008516435A (ja) |
KR (1) | KR20070067190A (ja) |
DE (1) | DE102004049439A1 (ja) |
IL (1) | IL182349A0 (ja) |
RU (1) | RU2007117148A (ja) |
WO (1) | WO2006040088A2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021179427A (ja) * | 2020-05-14 | 2021-11-18 | シュモール マシネン ゲーエムベーハー | 加工ステーション及び板状のワークピースを検査又は識別するための方法 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2916051A1 (fr) * | 2007-05-07 | 2008-11-14 | Beamind Soc Par Actions Simpli | Procede et dispositif d'alignement d'un systeme de test avec un element electrique a tester |
KR101032228B1 (ko) * | 2009-08-27 | 2011-05-02 | 삼성전기주식회사 | 다층 회로 기판 및 이를 포함하는 카메라 모듈 |
US10466795B2 (en) | 2013-03-29 | 2019-11-05 | Lg Electronics Inc. | Mobile input device and command input method using the same |
EP3106252B1 (en) * | 2014-02-10 | 2020-04-29 | Kuritakoki Co., Ltd. | Drill and drilling method |
US10446356B2 (en) | 2016-10-13 | 2019-10-15 | Sanmina Corporation | Multilayer printed circuit board via hole registration and accuracy |
CN107081807B (zh) * | 2017-05-24 | 2018-12-11 | 安徽博泰电路科技有限公司 | 一种pcb冲孔定位装置 |
KR102296548B1 (ko) * | 2020-05-22 | 2021-09-03 | 주식회사 디에이피 | 인쇄회로기판의 코어 오적용 검사 방법 |
CN114799259A (zh) * | 2020-10-16 | 2022-07-29 | 梁少龙 | 一种用于工件加工的高精度钻床 |
CN114679844A (zh) * | 2022-03-21 | 2022-06-28 | 广州兴森快捷电路科技有限公司 | 一种自动上pin方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4536239A (en) * | 1983-07-18 | 1985-08-20 | Nicolet Instrument Corporation | Multi-layer circuit board inspection system |
US4809308A (en) * | 1986-02-20 | 1989-02-28 | Irt Corporation | Method and apparatus for performing automated circuit board solder quality inspections |
US4790694A (en) * | 1986-10-09 | 1988-12-13 | Loma Park Associates | Method and system for multi-layer printed circuit board pre-drill processing |
US5111406A (en) * | 1990-01-05 | 1992-05-05 | Nicolet Instrument Corporation | Method for determining drill target locations in a multilayer board panel |
US5541856A (en) * | 1993-11-08 | 1996-07-30 | Imaging Systems International | X-ray inspection system |
US6030154A (en) * | 1998-06-19 | 2000-02-29 | International Business Machines Corporation | Minimum error algorithm/program |
JP4133816B2 (ja) * | 2001-08-09 | 2008-08-13 | オーボテック リミテッド | 多層電気回路内に埋め込まれたターゲットを露出させるためのシステムおよび方法 |
US7089160B2 (en) * | 2002-01-08 | 2006-08-08 | International Business Machines Corporation | Model for modifying drill data to predict hole locations in a panel structure |
-
2004
- 2004-10-08 DE DE102004049439A patent/DE102004049439A1/de not_active Ceased
-
2005
- 2005-10-07 EP EP05794424A patent/EP1800525A2/de not_active Withdrawn
- 2005-10-07 JP JP2007535104A patent/JP2008516435A/ja not_active Withdrawn
- 2005-10-07 KR KR1020077010430A patent/KR20070067190A/ko not_active Application Discontinuation
- 2005-10-07 RU RU2007117148/09A patent/RU2007117148A/ru not_active Application Discontinuation
- 2005-10-07 WO PCT/EP2005/010823 patent/WO2006040088A2/de not_active Application Discontinuation
-
2007
- 2007-04-01 IL IL182349A patent/IL182349A0/en unknown
- 2007-04-05 US US11/783,102 patent/US20070256298A1/en not_active Abandoned
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021179427A (ja) * | 2020-05-14 | 2021-11-18 | シュモール マシネン ゲーエムベーハー | 加工ステーション及び板状のワークピースを検査又は識別するための方法 |
JP7198865B2 (ja) | 2020-05-14 | 2023-01-04 | シュモール マシネン ゲーエムベーハー | 加工ステーション及び板状のワークピースを検査又は識別するための方法 |
TWI798692B (zh) * | 2020-05-14 | 2023-04-11 | 德商席摩機械有限公司 | 用於加工板狀工件的加工站及在加工站中用於監控或識別板狀工件的方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102004049439A1 (de) | 2006-04-13 |
WO2006040088A3 (de) | 2006-07-27 |
KR20070067190A (ko) | 2007-06-27 |
US20070256298A1 (en) | 2007-11-08 |
RU2007117148A (ru) | 2008-11-20 |
WO2006040088A2 (de) | 2006-04-20 |
EP1800525A2 (de) | 2007-06-27 |
IL182349A0 (en) | 2007-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2008516435A (ja) | 多層回路基板の各接続面を接続するビアホールの穿孔装置 | |
KR20070049562A (ko) | 접촉보어의 보어링을 위한 다중층 전도판의 준비 장치 | |
JP4910378B2 (ja) | X線検査装置及びx線検査方法 | |
KR100758811B1 (ko) | 발광소자의 장착방법 및 장착장치 | |
JP5065671B2 (ja) | プリント配線板の検査方法 | |
JP4543935B2 (ja) | 電子部品実装装置及び実装方法 | |
EP3609305A1 (en) | Assembly with printed circuit board and method of fixing a printed circuit board | |
JP4921286B2 (ja) | 撮像装置および光電変換素子パッケージ保持ユニット | |
JP2008091439A (ja) | 多層プリント配線板の製造方法 | |
JP2007214402A (ja) | 半導体素子及び半導体素子内蔵型プリント配線板 | |
JP2007199225A (ja) | 露光システム及び部品内蔵型プリント配線板の製造方法 | |
JP2004074217A (ja) | マーキング装置 | |
JPH1043917A (ja) | 板状ワークの穴明け方法及び穴明け装置及び穴位置検出方法及び穴位置検出装置 | |
JP2011071225A (ja) | アライメント装置 | |
JP2007234872A (ja) | プリント回路基板の位置合わせ方法及びその装置 | |
JP4821707B2 (ja) | シート材貼り合わせ装置 | |
JPH05322803A (ja) | X線位置合わせ確認方法、x線位置合わせ確認・位置合わせ方法、及びx線検査装置 | |
JP2018092094A (ja) | 発光素子接合基板及び発光素子接合基板の製造方法 | |
JP5421409B2 (ja) | 外観検査装置及び外観検査方法 | |
JP2000294935A (ja) | 多層基板及び多層基板の検査方法 | |
JP5245243B2 (ja) | 多層配線板 | |
JP2005260278A (ja) | 多層基板の製造方法 | |
JP2010062393A (ja) | 多層配線板の孔あけ加工装置 | |
KR102158028B1 (ko) | 반도체 패키지 배치 장치, 제조 장치, 반도체 패키지의 배치 방법 및 전자 부품의 제조 방법 | |
JP2004314436A (ja) | 積層体の製造方法及びその装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20090106 |