JP2008282930A - 発光装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】接合電極が絶縁部から剥離することを防止する。
【解決手段】本発明に係る発光装置1は、発光部へ電流を供給する拡散電極50と、拡散電極50を覆い、拡散電極50の一部を露出させる露出部を有する絶縁部80と、この露出部において拡散電極50と接触し、拡散電極50へ電流を供給する中間電極60と、絶縁部80の拡散電極50と反対側と接触し、中間電極60より大きな絶縁部80に対する密着力を有し、中間電極60を介して拡散電極50へ電流を供給する接合電極70とを備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体からなるコンタクト層と接触する拡散電極を有する発光装置に関する。
特許文献1には、活性層を有する半導体層と、半導体層のコンタクト層上に設けられたp側電極と、コンタクト層に接触して形成された絶縁層と、絶縁層の上に形成されると共にp側電極を覆うことによりp側電極の半導体層への密着性を補強するコンタクト用電極とを備える発光素子が記載されている。特許文献1には、p側電極とコンタクト層との接触面積を広くすることが記載され、p側電極を拡散電極とすることが開示されている。これにより、LEDのようにp側電極の面積が大きい場合でもあっても、p側電極のコンタクト層からの剥離を十分に防止することができる、とされている。
また、特許文献2には、拡散電極を備えている発光素子として、発光層を含む半導体層及び当該半導体層とオーミック接触する拡散電極としての透光性オーミック電極を備え、当該透光性オーミック電極が透光性の絶縁膜を介して反射層により覆われる発光素子が記載されている。
特許文献2に記載の発光素子によれば、発光層が発した光が透光性オーミック電極を透過して反射層によって反射され、反射された光が所定の方向に出射する。これにより、発光層が発した光を発光素子の外部に効率よく取り出すことができる。
特開平11−126947号公報 特開2003−224297号公報
しかしながら、特許文献1に記載の発光素子においては接合電極をなすコンタクト電極が絶縁層と直接に接触し、特許文献2に記載の発光素子においては接合電極をなす反射層が絶縁膜と直接に接触することとなる。接合電極は、拡散電極との電気的接続を担保するため、拡散電極に対して十分な密着力を有する材料が選択される。そして、このように接合電極の材料を選択すると、絶縁部に対して十分な密着力を有する材料とならない場合があり、接合電極が絶縁部から剥離するおそれがあった。
そこで本発明は、前記事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、接合電極の絶縁部からの剥離を防止することにある。
上記目的を達成するために、本発明では、発光部へ電流を供給する拡散電極と、前記拡散電極を覆い、前記拡散電極の一部を露出させる露出部を有する絶縁部と、前記露出部の内側において前記拡散電極と接触し、前記拡散電極へ電流を供給する中間電極と、前記絶縁部における前記拡散電極と反対側に接触し、前記中間電極より大きな前記絶縁部に対する密着力を有し、前記中間電極を介して前記拡散電極へ電流を供給する接合電極と、を備える発光装置が提供される。
また、前記拡散電極に対する前記中間電極の接触抵抗が、前記拡散電極に対する前記接合電極の接触抵抗よりも低いことが好ましい。さらに、前記拡散電極は、前記発光部が発する波長領域の光に対して透明であってもよい。
また、前記絶縁部は、前記発光部が発する波長領域の光を前記拡散電極側へ反射する反射部を有していてもよい。そして、前記接合電極は、前記絶縁部と反対側に、はんだ電極を有していてもよい。さらに、前記接合電極は、前記絶縁部と前記はんだ電極との間に、前記絶縁部及び前記中間電極へ前記はんだ電極の金属材料が拡散することを防止する拡散防止部を有していてもよい。
本発明によれば、接合電極が絶縁部から剥離することを防止することができる。
[第1の実施の形態]
図1(a)は、本発明の第1の実施の形態を示す発光装置の縦断面図である。また、図1(b)は、本発明の第1の実施の形態を示す発光装置の上面図である。
(発光装置1の構成)
本発明の第1の実施の形態に係る発光装置1は、図1(a)に示すように、(0001)面を有するサファイア基板10と、サファイア基板10の上に設けられるバッファ層20と、バッファ層20の上に設けられるn側コンタクト層22と、n側コンタクト層22の上に設けられるn側クラッド層24と、n側クラッド層24の上に設けられる発光部としての発光層30と、発光層30の上に設けられるp側クラッド層40と、p側クラッド層40の上に設けられるp側コンタクト層42とを備える。
また、発光装置1は、p側コンタクト層42の上に設けられる拡散電極50と、拡散電極50上の一部の領域に設けられる中間電極60と、p側コンタクト層42からn側コンタクト層22の一部までエッチングにより除去することにより露出したn側コンタクト層22の上に設けられるn側オーミック電極55と、拡散電極50における中間電極60が配置される領域を露出させる開口82及びn側コンタクト層22におけるn側オーミック電極55が配置される領域を露出させる開口84を有する絶縁部80と、絶縁部80の内部に配置される反射部90と、絶縁部80の上面の一部を覆うと共に中間電極60及びn側オーミック電極55の上にそれぞれ別個に設けられる接合電極70とを備える。
バッファ層20と、n側コンタクト層22と、n側クラッド層24と、発光層30と、p側クラッド層40と、p側コンタクト層42とはそれぞれ、III族窒化物化合物半導体からなる層である。
本実施形態においては、バッファ層20は、AlNから形成される。そして、n側コンタクト層22とn側クラッド層24とは、所定量のSiをn型ドーパントとしてそれぞれドーピングしたn−GaNからそれぞれ形成される。また、発光層30は、InGa1−xN/GaNから形成される多重量子井戸構造を有する。さらに、p側クラッド層40とp側コンタクト層42とは、所定量のMgをp型ドーパントとしてドーピングしたp−GaNからそれぞれ形成される。
また、本実施形態に係る拡散電極50は透明電極であり、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)から形成される。そして、絶縁部80は、二酸化シリコン(SiO)から主として形成される。また、反射部90は、絶縁部80の内部に設けられ、例えば、Alから形成される。
n側オーミック電極55は、図1(b)に示すように、n側コンタクト層22上において、n側クラッド層24からp側コンタクト層42までの複数の化合物半導体層から構成されるメサ部分の側面に沿って設けられる。また、n側オーミック電極55は、例えば、Ti、Al、Pd、Pt、V、Ir、及びRhの金属よりなる群から選ばれた少なくとも1種の金属を含んで形成される。
中間電極60は、拡散電極50との接触部分にNiから主として構成される金属の層を有する。そして、中間電極60は、接合電極70との接触部分にAlから主として構成される金属の層を有する。また、中間電極60は、接合電極70と接触する側で、接合電極70と非接触の部分は絶縁部80と接する。絶縁部80は、中間電極60の形成領域を除いて拡散電極50を覆い、n側オーミック電極55の形成領域を除いてn側コンタクト層22を覆っている。
ここで、本実施形態においては、中間電極60における接合電極70との接触部分は、上面視にて中間電極60の中央側であり、中間電極60における絶縁部80との接触部分は、上面視にて中間電極60の外縁側である。さらに、接合電極70は、絶縁部80における拡散電極50と反対側の表面(図中上面)と接触し、絶縁部80の表面の所定の領域を覆っている。この接合電極70は、絶縁部80との接触部分に主としてTiから構成される金属の層を有する。
以上のように構成された発光装置1は、青色領域の波長の光を発するフリップチップ型の発光ダイオード(LED)である。例えば、発光装置1は、順電圧が3.5Vで、順電流が20mAの場合に、ピーク波長が470nmの光を発する。また、発光装置1は上面視にて略四角形状に形成される。発光装置1の平面寸法は、例えば、縦寸法及び横寸法がそれぞれ略350μmである。
なお、サファイア基板10の上に設けられるバッファ層20からp側コンタクト層42までの各層は、例えば、有機金属化学気相成長法(Metal Organic Chemical Vapor Deposition : MOCVD)、分子線エピタキシー法(Molecular Beam Epitaxy : MBE)、ハライド気相エピタキシー法(Halide Vapor Phase Epitaxy : HVPE)等によって形成される。ここで、バッファ層20がAlNから形成されるものを例示したが、バッファ層20はGaNから形成されていてもよい。また、発光層30の量子井戸構造は、多重量子井戸構造でなく単一量子井戸の構造であってもよい。
また、絶縁部80は、酸化チタン(TiO)、アルミナ(Al)、五酸化タンタル(Ta)等の金属酸化物、若しくはポリイミド等の電気絶縁性を有する樹脂材料から形成することもできる。そして、反射部90は、Agから形成することもでき、Al又はAgを主成分として含む合金から形成することもできる。また、反射部90は、屈折率の異なる2つの材料の複数の層から形成される分布ブラッグ反射器(Distributed Bragg Reflector : DBR)であってもよい。
さらに、発光装置1は、紫外領域、近紫外領域、又は緑色領域にピーク波長を有する光を発するLEDであってもよいが、LEDが発する光のピーク波長の領域はこれらに限定されない。なお、他の変形例においては、発光装置1の平面寸法はこれに限られない。例えば、発光装置1の平面寸法を縦寸法及び横寸法がそれぞれ1mmとなるよう設計することもできる。
(発光装置1の製造工程)
図2から図4は、第1の実施の形態に係る発光装置の製造工程の一例を示す。図2(a)は、n側コンタクト層の表面を露出させるためのエッチングが施される前の縦断面図である。図2(b)は、n側コンタクト層の表面を露出させるためのエッチングが施された後の縦断面図である。また、図2(c)は、拡散電極にマスクが形成された状態の縦断面図である。さらに、図2(d)は、拡散電極をエッチングした後の縦断面図である。
まず、サファイア基板10を準備し、このサファイア基板10の上に、バッファ層20と、n側コンタクト層22と、n側クラッド層24と、発光層30と、p側クラッド層40と、p側コンタクト層42とをこの順にエピタキシャル成長してエピタキシャル成長基板を形成する。
続いて、フォトレジストによるマスク200をp側コンタクト層42上にフォトリソグラフィー技術を用いて形成する(図2(a))。次に、マスク200が形成された部分以外を、p側コンタクト層42からn側コンタクト層22の一部までエッチングした後、マスク200を除去する。これにより、n側クラッド層24からp側コンタクト層42までの複数の化合物半導体層から構成されるメサ部分が形成される(図2(b))。
この後、n側コンタクト層22及びp側コンタクト層42の上に、全体的に拡散電極50を形成する。本実施形態において拡散電極50はITOであり、例えば、真空蒸着法を用いて形成される。なお、拡散電極50は、スパッタリング法、CVD法、又はゾルゲル法等により形成することもできる。そして、拡散電極50を残す領域にフォトレジストによるマスク202を形成する(図2(c))。続いて、拡散電極50におけるマスク202に被覆されていない領域をエッチングする。これにより、p側コンタクト層42の所定領域に拡散電極50が形成される(図2(d))。
図3(a)は、n側オーミック電極を形成した後の縦断面図である。また、図3(b)は、中間電極を形成した後の縦断面図である。さらに、図3(c)は、反射部を形成した後の縦断面図である。
まず、真空蒸着法及びフォトリソグラフィー技術を用いて、n側オーミック電極55を、n側コンタクト層22の予め定められた領域に形成する(図3(a))。このとき、n側コンタクト層22の上にn側オーミック電極55を構成する材料を設けた後、n側オーミック電極55を構成する材料に応じて、所定の温度において熱処理を施してもよい。
続いて、拡散電極50の所定の位置に、真空蒸着法及びフォトリソグラフィー技術を用いて中間電極60を形成する(図3(b))。次に、n側コンタクト層22、n側オーミック電極55、メサ部分、拡散電極50、及び中間電極60を覆う絶縁部80を、真空蒸着法により形成する。そして、絶縁部80の上であって中間電極60及びn側オーミック電極55の上方を除く所定の領域に、蒸着法及びフォトリソグラフィー技術を用いて反射部90を形成する(図3(c))。
図4(a)は、反射部の上に絶縁部を形成した後の縦断面図である。また、図4(b)は、絶縁部の一部に開口を形成した後の縦断面図である。さらに、図4(c)は、接合電極を形成した後の縦断面図である。
図3(c)の工程において形成された反射部90の上側と、反射部90が形成されていない部分の上側とに、真空蒸着法を用いて絶縁部80が形成される(図4(a))。すなわち、絶縁部80は、素子の上側に全体的に形成される。続いて、絶縁部80におけるn側オーミック電極55の上側部分と中間電極60の上側部分とを、フォトリソグラフィー技術及びエッチング技術を用いて除去する。これにより、中間電極60の上に露出部としての開口82が形成されると共に、n側オーミック電極55の上に露出部としての開口84が形成される(図4(b))。
次に、真空蒸着法及びフォトリソグラフィー技術を用いて、開口82及び開口84のそれぞれ内側に、接合電極70をそれぞれ形成する(図4(c))。一方の接合電極70は、図4(b)の工程において形成された開口82にて中間電極60と電気的に接続する。他方の接合電極70は、図4(b)の工程において形成された開口84にてn側オーミック電極55と電気的に接続する。
なお、n側コンタクト層22、中間電極60、及び接合電極70はそれぞれ、スパッタリング法により形成することもできる。また、絶縁部80は、化学気相成長法(Chemical Vapor Deposition : CVD)により形成することもできる。そして、以上の工程を経て形成された発光装置1は、導電性材料の配線パターンが予め形成されたセラミック等から構成される基板の所定の位置に、フリップチップボンディングにより実装される。そして、基板に実装された発光装置1を、エポキシ樹脂又はガラス等の封止材で一体として封止することにより、発光装置1をパッケージ化できる。
(発光装置の作用)
図5は、第1の実施の形態に係る中間電極及び接合電極を備える発光装置の縦断面の拡大図を示す。
絶縁部80は、発光層30へ電流を供給する拡散電極50の一部を露出させる露出部を有する。そして、中間電極60は、拡散電極50の露出した部分である第2接触部分102において拡散電極50と接触する。これにより、中間電極60と拡散電極50とは電気的に接続する。
一方、中間電極60を介して拡散電極50へ電流を供給する接合電極70は、絶縁部80の拡散電極50と反対側であって絶縁部80上の所定の領域である第1接触部分100において、絶縁部80と接触して設けられる。そして、接合電極70は、中間電極60と接触する部分である第4接触部分106において中間電極60と電気的に接続する。
そして、接合電極70に電流を供給すると、供給された電流は接合電極70から中間電極60に供給される。そして、中間電極60に供給された電流は、拡散電極50に供給される。続いて、拡散電極50に供給された電流は拡散電極50中に拡がって、p側コンタクト層42に供給される。そして、p側コンタクト層42に供給された電流は、p側クラッド層40を通って発光層30に供給される。そして、発光層30は、発光層30に供給された電流に応じて、所定の波長領域の光を発する。発光層30が発した光の一部は、サファイア基板10を介して発光装置1の外部に放射される。
また、本実施形態における拡散電極50は、発光層30が発する波長領域の光に対して透明である。したがって、発光層30が発した光の一部は、拡散電極50を介して中間電極60及び反射部90の方向に伝播する。中間電極60の方向に伝播した光は、中間電極60によってサファイア基板10の方向に反射され、発光装置1の外部に放射される。また、反射部90の方向に伝播した光は、反射部90によってサファイア基板10の方向に反射され、発光装置1の外部に放射される。
また、発光層30は、供給された電流のうち発光に寄与しない電流に応じて熱を発生する。発光層30で発生した熱は、拡散電極50及び絶縁部80を介して接合電極70に伝わり、発光装置1の外部に放熱される。したがって、接合電極70と絶縁部80との接触部分である第1接触部分100は、p側コンタクト層42の上方に設けられた中間電極60の上面視における面積と同程度の面積、又は中間電極60の面積より大きい面積であることが好ましい。
さらに、本実施形態に係る接合電極70は、中間電極60よりも絶縁部80に対する密着力が大きく、第1接触部分100で絶縁部80と接触する。一方、中間電極60は、第2接触部分102において拡散電極50と接触しており、接合電極70は拡散電極50と接触していない。接合電極70は、発光層30で発生した熱のうち、拡散電極50及び絶縁部80を介して伝播された熱を発光装置1の外部に放熱する。
したがって、第1接触部分100が絶縁部80の上面に対して占める領域は、中間電極60がp側コンタクト層42の上面に対して占める領域と同程度か、又は広いことが好ましい。そして、仮に接合電極70が絶縁部80から剥離すると、発光層30において発生した熱が、絶縁部80から接合電極70が剥離した部分において発光装置1の外部に放熱され難くなる。よって、接合電極70は、接合電極70が絶縁部80から剥離し難い材料で形成することが好ましい。
また、中間電極60における拡散電極50と接触する部分は、第2接触部分102における拡散電極50に対する中間電極60の接触抵抗が、接合電極70を拡散電極50に接触させた場合における拡散電極50に対する接合電極70の接触抵抗よりも低くなる材料を用いて構成される。なお、この場合における接触抵抗の値は、発光装置1の製造時における値である。
なお、接合電極70の材料における絶縁部80の材料に対する密着力は、JIS K 5600において規定されているクロスカット法を用いて測定できる。ここで、クロスカット法においては、SiOに密着させたTiは、SiOに密着させたNiよりも大きな密着力を示す。また、SiOに密着させたAlは、SiOに密着させたNiよりも大きな密着力を示す。
図6は、本発明の第1の実施の形態に係る中間電極及び接合電極の縦断面の詳細を示す。
中間電極60は、拡散電極50と接触する第1中間電極600と、第1中間電極600の上に形成される第2中間電極602と、第2中間電極602の上に形成され接合電極70と接触する第3中間電極604とを有する。具体的には、第1中間電極600は、Niから主として構成され、第2中間電極602は、Auから主として構成される。さらに、第3中間電極604は、Alから主として構成される。
接合電極70は、絶縁部80及び第3中間電極604と接触する接触メタル700と、接触メタル700の上に形成される拡散防止部としての第1バリアメタル702と、第1バリアメタル702の上に形成される拡散防止部としての第2バリアメタル704と、第2バリアメタル704の上に形成される拡散防止部としての第3バリアメタル706と、第3バリアメタル706の上に形成されるはんだ電極としてのAuSn電極708を有する。
本実施形態においては、接触メタル700は、Tiから主として構成される。そして、第1バリアメタル702及び第3バリアメタル706は、Niから主として構成され、第2バリアメタル704は、Tiから主として構成される。また、接触メタル700の膜厚は、例えば、150nmであり、第1バリアメタル702の膜厚は、100nmである。また、第2バリアメタル704の膜厚は、150nmであり、第3バリアメタル706の膜厚は、100nmである。さらに、AuSn電極708は、Au及びSnから主として構成され、例えば、所定の温度で溶融するAuとSnとの合金材料から構成される。そして、AuSn電極708の膜厚は、例えば、2000nmである。
ここで、接触メタル700はTiであり、第1中間電極600はNiであり、さらに絶縁部80はSiOであるので、接触メタル700の絶縁部80に対する密着力は、第1中間電極600の絶縁部80に対する密着力より大きい。
また、第1中間電極600の材料は、拡散電極50との接触抵抗が接触メタル700の材料における拡散電極50に対する接触抵抗よりも低い値を示せば、上述したNiに限られない。
さらに、第1中間電極600の材料は、第1中間電極600から発光層30に対して電流を供給した場合に、第1中間電極600の拡散電極50に対する接触抵抗の変化が所定の範囲内に収まる材料が好ましい。
また、ITOから構成された拡散電極50に対して接触メタル700をなすTiの接触抵抗よりも低い接触抵抗を示すNiを、第1中間電極600の材料として用いている。
また、第1中間電極600を構成する材料は、発光層30に電流を供給した場合において、拡散電極50中に物質移動しにくい材料が好ましい。さらに、第1中間電極600を構成する材料は、発光層30が発する光に対する反射率が、接触メタル700の当該光に対して示す反射率よりも高いことが好ましい。そして、第1中間電極600を構成する材料は、拡散電極50に対する密着力が、接触メタル700の拡散電極50に対して示す密着力よりも大きいことが好ましい。
また、第2中間電極602は、第1中間電極600に電流が局所的に供給されることを抑制すべく、第1中間電極600の膜厚よりも厚く形成される。例えば、本実施形態において、第1中間電極600の膜厚は40nmであり、第2中間電極602の膜厚は150nmである。これにより、第2中間電極602に供給された電流が第2中間電極602内に拡散して、第1中間電極600の略全体に電流が供給される。
そして、第3中間電極604はAuであり、第1中間電極600はNiであり、さらに絶縁部80はSiOであるので、第3中間電極604の絶縁部80に対する密着力は、第1中間電極600の絶縁部80に対する密着力より大きい。なお、第3中間電極604は、発光装置1の製造工程において、絶縁部80に覆われた後、絶縁部80がエッチングされることにより露出するので、エッチングに対して耐性を示す材料が好ましい。
接合電極70は、絶縁部80と接触している接触メタル700とは反対側に、複数の金属材料を含むはんだ電極であるAuSn電極708を有する。例えば、AuSn電極708は、AuとSnとの比がAu:Sn=9:1であり、共晶温度が217℃である。さらに、接合電極70は、AuSn電極708と接触メタル700との間に、共晶温度以上で溶融したAuSn電極708を構成する材料が、接触メタル700を経由して絶縁部80及び中間電極60へ拡散することを防止すべく、拡散防止部としてのバリアメタルを有する。本実施形態においてバリアメタルは、複数のバリアメタルが積層された構造を有する。
拡散防止部としての第1バリアメタル702、第2バリアメタル704、及び第3バリアメタル706を構成する材料は、中間電極60に供給される電流の損失を低減すべく、中間電極60を構成する第1中間電極から第3中間電極と同程度の電気抵抗、又は低い電気抵抗を示すことが好ましい。また、第1バリアメタル702、第2バリアメタル704、及び第3バリアメタル706を構成する材料は、発光層30に供給された電流によって発光層30において発生する熱を効果的に放熱すべく、少なくとも、絶縁部80よりも熱伝導率が高い材料であることが好ましい。
(第1の実施の形態の効果)
本発明の第1の実施の形態によれば、以下の効果を奏する。
拡散電極50の上に中間電極60と接合電極70とを個別に形成するので、中間電極60を構成する材料の絶縁部80に対する密着力よりも、絶縁部80に対する密着力が大きい材料から接合電極70を形成することができる。これにより、接合電極70が拡散電極50に直接に接する従来の場合に比べて、接合電極70を絶縁部80に強固に接触させることができ、絶縁部80から接合電極70が剥離することを防止できる。
中間電極60と接合電極70とを個別に形成するので、接合電極70の拡散電極50に対する接触抵抗よりも低い接触抵抗を示す材料から中間電極60を形成することができる。これにより、中間電極60と拡散電極50との界面における電力の損失を、中間電極60を接合電極70と同一の材料で形成した場合に比べて低減できる。
拡散電極50を、発光層30が発する光に対して透明な材料から形成することができる。したがって、発光層30から中間電極60の方向に伝播した光が中間電極60によってサファイア基板10の方向に反射される。これにより、発光層30から発せられた光が発光装置1の外部に取り出される光取り出し効率を向上させることができる。
発光層30が発する光を反射する反射部90を絶縁部80内に設けることにより、発光層30から絶縁部80の方向に伝播した光が反射部90によってサファイア基板10の方向に反射される。これにより、発光層30から発せられた光が発光装置1の外部に取り出される光取り出し効率を向上させることができる。
接合電極70にはんだ電極を予め形成するので、発光装置1を基板等にボンディングする場合に、別途はんだ材を準備する必要がない。これにより、発光装置1を基板等にボンディングする場合における工程を簡略化できる。
接合電極70の絶縁部80と接する側とAuSn電極708との間にバリアメタルを設けたことにより、共晶温度以上において溶融したAuSn電極708を構成する材料が、絶縁部80及び中間電極60に移動することを防止できるので、接合電極70と絶縁部80との密着状態の変化を抑制でき、また、中間電極60の拡散電極50に対する接触抵抗の変化を抑制できる。
図7は、第2の実施の形態に係る発光装置の底面図である。また、図8は、図7の第2の実施の形態に係る発光装置のA−A線における縦断面図である。
第2の実施の形態に係る発光装置2は、第1の実施の形態に係る発光装置1に対して、複数の中間電極60を有する点を除き略同一の構成を有するので、相違点を除き発光装置2の構成及び製造方法に関する詳細な説明は省略する。
本実施形態に係る発光装置2において、サファイア基板10上の複数の化合物半導体層は櫛状に形成される。したがって、p側コンタクト層42の上に設けられる拡散電極50も、櫛状に形成される。例えば、拡散電極50は、略等間隔で並ぶ櫛の歯に対応する複数の拡散電極50a、50b、50c、50d、及び50eを有すると共に、複数の拡散電極50aから拡散電極50eのそれぞれの一端を連結した形に形成される。そして、n側オーミック電極55は、n側コンタクト層22上において、n側クラッド層24からp側コンタクト層42までの複数の化合物半導体層から構成される櫛状のメサ部分の側面に沿って設けられる。
そして、櫛の歯に対応する複数の拡散電極50a、拡散電極50b、拡散電極50c、拡散電極50d、及び拡散電極50eのそれぞれの上に、複数の中間電極60がそれぞれ形成される。例えば、拡散電極50aの上に略等間隔に複数の中間電極60が形成される。ここで中間電極60は、上面視にて略円形に形成される。本実施形態において複数の中間電極60は、一列に並んで一の拡散電極(例えば、拡散電極50a等)の上に形成されるが、複数の中間電極60の数、及び配列の仕方はこれに限られるものではない。例えば、複数の中間電極60は、二列以上の複数の列に並べられて形成されてもよく、また、ジグザクに並べられて形成されてもよく、若しくは、不規則に並べられて形成されてもよい。
そして、複数の拡散電極50a、拡散電極50b、拡散電極50c、拡散電極50d、及び拡散電極50eのそれぞれの上に形成された複数の中間電極60のそれぞれに対して、1つの接合電極70がそれぞれ形成される。すなわち、拡散電極50aの上に設けられた複数の中間電極60は、接合電極70aにより電気的に一体的に接続される。ここで、拡散電極50b、拡散電極50c、拡散電極50d、及び拡散電極50eの上に設けられた複数の中間電極60もそれぞれ、接合電極70b、接合電極70c、接合電極70d、及び接合電極70eにより電気的に一体的に接続される。
なお、拡散電極50は、発光装置2に供給される電力を発光層30に略均一に供給することを目的として、櫛の歯の数、櫛の歯の形状、及び櫛の歯の間隔を適宜変更して形成することができる。また、中間電極60を上面視した場合の形状は略円形に限られず、多角形に形成されてもよい。更に、拡散電極50bから拡散電極50eのそれぞれの上にも、拡散電極50aの場合と同様に、複数の中間電極60がそれぞれ形成される。
また、接合電極70aの一端と、接合電極70bの一端と、接合電極70cの一端と、接合電極70dの一端と、接合電極70eの一端とをそれぞれ電気的に接続してもよい。この場合、拡散電極50の上方に形成される接合電極70も、上面視において櫛状に形成されることとなる。
以上、本発明の実施形態を説明したが、上記に記載した実施の形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。また、実施の形態の中で説明した特徴の全ての組合せが発明の課題を解決するための手段に必須であるとは限らない点に留意すべきである。
(a)は第1の実施の形態に係る発光装置の縦断面図であり、(b)は発光装置の上面図である。 (a)は第1の実施の形態に係るn側コンタクト層の表面を露出させるためのエッチングが施される前の縦断面図であり、(b)は第1の実施の形態に係るn側コンタクト層の表面を露出させるためのエッチングが施された後の縦断面図であり、また、(c)は第1の実施の形態に係る拡散電極にマスクが形成された状態の縦断面図であり、(d)は第1の実施の形態に係る拡散電極をエッチングした後の縦断面図である。 (a)は第1の実施の形態に係るn側オーミック電極を形成した後の縦断面図であり、(b)は第1の実施の形態に係る中間電極を形成した後の縦断面図であり、(c)は第1の実施の形態に係る反射部を形成した後の縦断面図である。 (a)は第1の実施の形態に係る反射部の上に絶縁部を形成した後の縦断面図であり、(b)は第1の実施の形態に係る絶縁部の一部に開口を形成した後の縦断面図であり、(c)は第1の実施の形態に係る接合電極を形成した後の縦断面図である。 第1の実施の形態に係る中間電極及び接合電極を備える発光装置の縦断面の拡大図である。 第1の実施の形態に係る中間電極及び接合電極の縦断面の詳細図である。 第2の実施の形態に係る発光装置の底面図である。 図7の第2の実施の形態に係る発光装置のA−A線における縦断面図である。
符号の説明
1、2 発光装置
10 サファイア基板
20 バッファ層
22 n側コンタクト層
24 n側クラッド層
30 発光層
40 p側クラッド層
42 p側コンタクト層
50、50a、50b、50c、50d、50e 拡散電極
55 n側オーミック電極
60 中間電極
70、70a、70b、70c、70d、70e 接合電極
80 絶縁部
82、84 開口
90 反射部
100 第1接触部分
102 第2接触部分
104 第3接触部分
106 第4接触部分
200、202 マスク
600 第1中間電極
602 第2中間電極
604 第3中間電極
700 接触メタル
702 第1バリアメタル
704 第2バリアメタル
706 第3バリアメタル
708 AuSn電極

Claims (6)

  1. 発光部へ電流を供給する拡散電極と、
    前記拡散電極を覆い、前記拡散電極の一部を露出させる露出部を有する絶縁部と、
    前記露出部の内側において前記拡散電極と接触し、前記拡散電極へ電流を供給する中間電極と、
    前記絶縁部における前記拡散電極と反対側に接触し、前記中間電極より大きな前記絶縁部に対する密着力を有し、前記中間電極を介して前記拡散電極へ電流を供給する接合電極と、を備える発光装置。
  2. 前記拡散電極に対する前記中間電極の接触抵抗が、前記拡散電極に対する前記接合電極の接触抵抗よりも低い請求項1に記載の発光装置。
  3. 前記拡散電極は、前記発光部が発する波長領域の光に対して透明である請求項1又は2に記載の発光装置。
  4. 前記絶縁部は、前記発光部が発する波長領域の光を前記拡散電極側へ反射する反射部を有する請求項3に記載の発光装置。
  5. 前記接合電極は、前記絶縁部と反対側に、はんだ電極を有する請求項1から4のいずれか1項に記載の発光装置。
  6. 前記接合電極は、前記絶縁部と前記はんだ電極との間に、前記絶縁部及び前記中間電極へ前記はんだ電極の金属材料が拡散することを防止する拡散防止部を有する請求項5に記載の発光装置。
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