JP2008227748A - 弾性波デバイスおよびその製造方法 - Google Patents

弾性波デバイスおよびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008227748A
JP2008227748A JP2007060771A JP2007060771A JP2008227748A JP 2008227748 A JP2008227748 A JP 2008227748A JP 2007060771 A JP2007060771 A JP 2007060771A JP 2007060771 A JP2007060771 A JP 2007060771A JP 2008227748 A JP2008227748 A JP 2008227748A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
layer
acoustic wave
sealing portion
resin layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007060771A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5117083B2 (ja
Inventor
Kazunori Inoue
和則 井上
Takashi Matsuda
隆志 松田
Shiyougo Inoue
将吾 井上
Joji Kimura
丈児 木村
Shunichi Aikawa
俊一 相川
Keiji Tsuda
慶二 津田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Fujitsu Media Devices Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Fujitsu Media Devices Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd, Fujitsu Media Devices Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2007060771A priority Critical patent/JP5117083B2/ja
Publication of JP2008227748A publication Critical patent/JP2008227748A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5117083B2 publication Critical patent/JP5117083B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】圧力で変形しない中空構造を有し、貫通電極やその周囲の樹脂封止部に熱応力等に起因したクラック等が発生することを抑制すること。
【解決手段】本発明は、基板10に設けられた弾性波素子12と、弾性波素子12上に空洞16を有し空洞16の側面および上面を覆うように基板10上に設けられた樹脂封止部20と、空洞16以外において樹脂封止部20を貫通し弾性波素子12に電気的に接続する貫通電極40と、貫通電極40上に設けられた接続端子48と、空洞16上において、上下を樹脂封止部20に挟まれ、樹脂封止部20より弾性率の大きい補強層30と、を具備する弾性波デバイス及びその製造方法である。
【選択図】図1

Description

本発明は弾性波デバイスおよびその製造方法に関し、特に弾性波素子の上部に空洞を有する封止部を備えた弾性波デバイスおよびその製造方法に関する。
弾性波デバイスは、例えば45MHz〜2GHzの周波数帯における無線信号を処理する各種回路、例えば送信用バンドパスフィルタ、受信用バンドパスフィルタ、局所発振フィルタ、アンテナ共用器、中間周波数フィルタ、FM変調器等に用いられている。近年これらの信号処理機器は小型化が進み、使用される弾性波デバイス等の電子部品も小型化が求められている。弾性波デバイスに用いる弾性波素子としては、圧電基板上に金属膜を用いすだれ電極(IDT:Interdigital Transducer)や反射器を形成した弾性表面波(SAW)素子、圧電薄膜を金属電極で挟む圧電薄膜共振器(FBAR)素子などがある。
特に移動体電話端末等の携帯用電子機器においては、電子部品をモジュール化して用いることが多くなってきている。モジュール化は、低コスト化のため、電子部品を表面実装し樹脂封止することにより行われる。そのため、表面実装可能で、モジュール化の樹脂封止(例えばトランスファーモールド)の際の圧力に耐えられる弾性波デバイスが求められる。同時に、弾性波素子の特性を維持するためには弾性波素子の機能部分(振動部分)上面に空洞を設けることが求められている。弾性波素子の機能部分としては、弾性表面波素子ではIDTの電極指であり、圧電薄膜共振器素子では圧電薄膜を挟みこむ上下電極の重なる領域である。
このような要求を満たすために、弾性波素子内の機能部分上に接する空洞を有する封止部を設けた構造(いわゆる中空構造)を形成する方法が提案されている。特許文献1には、弾性波素子上に空洞となるべき領域に溶解用樹脂を形成し、溶解用樹脂上に上部板を形成した後、溶解用樹脂を除去することにより中空構造を形成する方法(従来例1)が開示されている。特許文献2には、電気的構造素子を包囲するフレーム構造体を形成し、電気的構造素子上が空洞になるように、フレーム構造体上に補助フィルムを貼り、その上に樹脂層を形成し、フレーム構造体の屋根部分以外を除去することにより中空構造を形成する方法(従来例2)が開示されている。特許文献3には、弾性波素子を形成した圧電基板上に樹脂フィルムを貼り、弾性波素子が複数設けられた基板の機能部分上部の樹脂フィルムを開口し、樹脂フィルム上に回路基板を接着し中空構造を形成する方法(従来例3)が開示されている。特許文献4には、弾性波素子を複数設けた基板上に感光性樹脂を形成し、弾性波素子の機能部分上部の感光性樹脂を開口し、その上に配線基板集合体の基板を実装し、ダイシングで分割することにより中空構造を形成する方法(従来例4)が開示されている。特許文献5には、弾性波素子を包囲する包囲壁と、中空構造を形成するための蓋体とを異なる樹脂を用いる方法(従来例5)が開示されている。また、特許文献6には、弾性波素子上に金属キャップを設け、金属キャップ上を樹脂で封止する方法(従来例6)が開示されている。
特許3291046号公報 特表2003−523082号公報 特許3196693号公報 特許3225906号公報 特開平10−93383号公報 特開平11−251855号公報
従来例1ないし4の方法で形成された弾性波デバイスは、モジュール化の際に加わる圧力に対し耐えられず、中空構造が変形してしまう。一方、従来例5の方法はモジュール化の際に中空構造が変形することを抑制することを目的としている。しかしながら、例えば、表面実装の要求のため弾性波デバイスの表面側(弾性表波素子が形成された側)に外部と電気的に接続するための接続端子を設けた場合、蓋体を貫通して貫通電極を設け、貫通電極上に接続端子が設けられる。蓋体は変形防止のため弾性率の高い材料が用いられる。このため、貫通電極や接続端子と蓋体との熱応力等により、蓋体、貫通電極や接続端子にクラック等が発生する。特に、接続端子と貫通極との間に応力が集中しクラック等の発生が生じ易い。一方、従来例6のように、弾性波素子の近くに金属キャップを設けると、浮遊容量が大きくなってしまう。さらに、従来例6においては、金属キャップを弾性波素子上に個々に搭載することを想定しており、製造コストが増大する。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたもので、圧力で変形しない中空構造を有し、貫通電極やその周囲の樹脂封止部に熱応力等に起因したクラック等が発生することを抑制する、または、圧力で変形しない中空構造の製造コストを削減することを目的とする。
本発明は、基板に設けられた弾性波素子と、前記弾性波素子上に空洞を有し該空洞の側面および上面を覆うように前記基板上に設けられた樹脂封止部と、前記空洞以外において前記樹脂封止部を貫通し前記弾性波素子に電気的に接続する貫通電極と、前記貫通電極上に設けられた接続端子と、前記空洞上において、上下を前記樹脂封止部に挟まれ、前記樹脂封止部より弾性率の大きい補強層と、を具備することを特徴とする弾性波デバイスである。本発明によれば、補強層の上が弾性率の小さな樹脂封止部からなるため、応力を緩和させることができる。さらに、空洞上に樹脂封止部より弾性率の大きい補強層が設けられているためより、圧力で変形しない中空構造を提供することができる。さらに、補強層と空洞との間に樹脂封止部が設けられているため、浮遊容量を抑制することができる。
上記構成において、前記補強層は前記樹脂封止部に完全に囲まれている構成とすることができる。この構成によれば、補強層を弾性波素子に電気的に接続する工程を削減できる。
上記構成において、前記補強層は金属からなる構成とすることができる。この構成によれば、弾性率の大きな補強層とすることができる。
前記補強層は前記弾性波素子から電気的に分離されている構成とすることができる。この構成によれば、補強層を弾性波素子に電気的に接続する工程を削減できる。
本発明は、第1樹脂層上に前記第1樹脂層より弾性率が大きい補強層を形成する工程と、前記補強層を覆うように前記補強層より弾性率が小さい第2樹脂層を形成し、前記第1樹脂層及び前記第2樹脂層を含む樹脂封止部を形成する工程と、弾性波素子が設けられた基板上に、前記弾性波素子上に空洞を有し該空洞の側面および上面を前記樹脂封止部が覆い、前記補強層が前記空洞上に配置されるように前記樹脂封止部を固定する工程と、を有することを特徴とする弾性波デバイスの製造方法である。本発明によれば、各弾性波素子上に補強層を個々に配置することを要さず、製造コストを削減することができる。
上記構成において、前記空洞以外において、前記樹脂封止部を貫通し、前記弾性波素子と電気的に接続する貫通電極を形成する工程を有する構成とすることができる。この構成によれば、貫通電極に起因する応力を第1樹脂層が緩和し、さらに、補強層により空洞上の樹脂封止部の強度を確保することができる。
上記構成において、前記貫通電極上に接続端子を形成する工程を有する構成とすることができる。この構成によれば、接続端子と貫通電極との間に生じる応力を第1樹脂層により緩和させることができる。
上記構成において、前記補強層は金属からなる構成とすることができる。また、上記構成において、補強層はメッキ法を用い形成される構成とすることができる。これらの構成によれば、弾性率の大きな補強層を容易に形成することができる。
上記構成において、前記樹脂封止部を形成する工程は、前記第2樹脂層上に前記空洞となるべき凹部を有する第3樹脂層を形成する工程を含み、前記樹脂封止部を固定する工程は、前記第3樹脂層を前記基板に固定することにより、前記樹脂封止部を前記基板に固定する工程である構成とすることができる。この構成によれば、第3樹脂層を用いることにより、空洞を簡単に形成することができる。
上記構成において、前記第3樹脂層は接着性樹脂であり、前記樹脂封止部を固定する工程は、前記第3樹脂層を用い、前記樹脂封止部を前記基板に接着する工程である構成とすることができる。この構成によれば、空洞となる凹部を有する第3樹脂層を接着剤と兼用することにより製造工程を削減することができる。
上記構成において、前記第3樹脂層を覆うように接着層を形成する工程を有し、前記樹脂封止部を固定する工程は、前記接着層を用い、前記樹脂封止部を前記基板に接着する工程である構成とすることができる。この構成によれば、第3樹脂層として接着性の樹脂を用いる必要がない。よって、第3樹脂層及び接着層の材料選択の余地を広げることができる。
上記構成において、前記第2樹脂層及び前記第3樹脂層は感光性樹脂であり、前記第3樹脂層を形成する工程は、現像することにより、前記第2樹脂層及び前記第3樹脂層に貫通電極を形成すべき孔及び前記空洞となるべき前記凹部を同時に形成する工程を含む構成とすることができる。この構成によれば、第3樹脂層をほぼ平坦な第2樹脂層上に形成することができる。
上記構成において、支持板上に前記樹脂封止部を形成する工程を有し、前記樹脂封止部を固定する工程は、前記樹脂封止部が前記支持板に形成された状態で行われ、前記支持板を前記樹脂封止部から剥離する工程を有する構成とすることができる。この構成によれば、製造コストを削減することができる。
上記構成において、前記第1樹脂層には前記補強層を露出する開口が形成されている構成とすることができる。この構成によれば、補強層を外部と電気的に接続することができる。
本発明によれば、補強層の上が弾性率の小さな樹脂封止部からなるため、応力を緩和させることができる。さらに、空洞上に樹脂封止部より弾性率の大きい補強層が設けられているためより、圧力で変形しない中空構造を提供することができる。さらに、補強層と空洞との間にも樹脂封止部が設けられているため、浮遊容量を抑制することができる。
以下、図面を用い本発明の実施例について説明する。
図1(a)は実施例1に係る弾性波デバイス100の平面図(樹脂封止部は図示せず、接続端子48、補強層30及び空洞16を示している)、図1(b)は図1(a)のA−A断面図である。図1(b)を参照に、タンタル酸リチウム(LiTaO)やニオブ酸リチウム(LiNbO3)からなる圧電基板10上に櫛型電極からなる弾性波素子12が設けられている。弾性波素子12上に空洞16を有し空洞16の上面及び側面を覆うようにエポキシ樹脂からなる樹脂封止部20が設けられている。樹脂封止部20は第1樹脂層22、第2樹脂層24及び第3樹脂層26からなる。金属からなる補強層30が空洞16上において第1樹脂層22と第2樹脂層24とに挟まれている。密着層42、導電層44及びバリア層46からなる貫通電極40は空洞16以外において樹脂封止部20を貫通し、配線14を介し弾性波素子12に接続されている。貫通電極40上には半田からなる接続端子48が設けられている。図1(a)を参照に、上から見た平面において補強層30は空洞16に含まれるように配置されている。
弾性波デバイス100を表面実装するため、樹脂封止部20を貫通する貫通電極40が設けられ、貫通電極40上に接続端子48が設けられ、貫通電極40と接続端子48とは電気的に接続される。貫通電極40と接続端子48との界面、つまり樹脂封止部20の上面付近には、貫通電極40と接続端子48の熱膨張係数の差等により応力が加わる。よって、樹脂封止部20の上面付近でのクラック等の発生を抑制するため樹脂封止部20の上面付近は弾性率の小さな樹脂からなることが好ましい。一方、金属からなる補強層30が空洞16の直上に配置されると、浮遊容量が増大する。
浮遊容量が増大した場合の影響について図2及び図3を用い説明する。図2のように、表面弾性波ダブルモードフィルタ70、72を入力端子In及び出力端子Outの間に接続し、入力端子In及び出力端子Outの間に浮遊容量Cfが付加した場合についてシミュレーションした。図3は浮遊容量Cf=0の場合及びCf=10pFのときの通過特性のシミュレーション結果である。浮遊容量Cfが10pFとなると、通過帯域外の低帯域側及び高帯域側において、減衰量が小さくなり抑圧特性が劣化している。このように、浮遊容量Cfが大きくなると、抑圧特性が劣化してしまう。
実施例1によれば、上面が弾性率の小さな第1樹脂層22からなるため、貫通電極40と接続端子48の熱膨張係数の差等による応力を緩和させることができる。第1樹脂層22の弾性率を小さくするためフィラー等は含有しないことが好ましい。さらに、空洞16上に第1樹脂層22より弾性率の大きい補強層30が設けられているため例えば弾性波デバイス100をモジュールにする際のトランスファーモールドの圧力等により、空洞16が潰れることを抑制することができる。さらに、補強層30と空洞16との間に第2樹脂層24が設けられているため、浮遊容量を抑制することができる。補強層30は第1樹脂層22及び第2樹脂層24より、弾性波デバイス100をモジュールにする際のモールド時の温度における弾性率が大きい材料が好ましい。例えば、ニッケルや銅等の金属を用いることができる。例えば、フィラーを用いない樹脂の弾性率はモールド時の温度150℃から200℃の範囲では1GPa程度以下であり、ニッケルのこの温度範囲での弾性率は200GPa程度である。補強層30としては絶縁体でもよいが、弾性率の大きな材料で容易に形成するためには金属であることが好ましい。
また、補強層30は樹脂封止部20に完全に囲まれ、弾性波素子12から電気的に分離されていることが好ましい。これにより、補強層30を弾性波素子12に電気的に接続する工程を削減できる。
実施例2は実施例1に係る弾性波デバイスの製造方法の例である。図4(a)から図8(b)を用い実施例2に係る弾性波デバイスの製造方法について説明する。実施例2においては、弾性波素子が複数形成されたウエハに樹脂封止部が複数形成された支持板を固定し弾性波デバイスを形成する。以下の図では弾性波デバイス及び樹脂封止部をそれぞれ1個図示している。図4(a)を参照に、ガラス板や圧電基板等の支持板50上に剥離層52を形成する。剥離層52は例えば膜厚が10nmから1μmの酸化マグネシウム層または膜厚が100nmから10μmのリフトオフ用耐熱ポリイミド樹脂を用いる。剥離層52上に膜厚が10μmの感光性エポキシ樹脂からなる第1樹脂層22を塗布し形成する。第1樹脂層22は低弾性率とするため、フィラーは含有しないことが好ましい。
図4(b)を参照に、露光現像することにより、第1樹脂層22を所定の形状に加工する。図4(c)を参照に、剥離層52及び第1樹脂層22上に例えば膜厚が100nm程度のシード金属32を形成する。図4(d)を参照に、シード金属32上にフォトレジスト60を塗布する。
図5(a)を参照に、露光現像することによりフォトレジスト60に開口62を形成する。図5(b)を参照に、シード金属32を介し給電することにより、開口62内に例えば膜厚が5μm程度のニッケルからなるメッキ層34を電解メッキ法を用い形成する。図5(c)を参照に、フォトレジスト60を除去する。図5(d)を参照に、メッキ層34をマスクにシード金属32を除去する。これにより、シード金属32とメッキ層34とから補強層30が構成される。
図6(a)を参照に、感光性エポキシ樹脂からなる第2樹脂層24を剥離層52、第1樹脂層22及び補強層30上に塗布する。第2樹脂層24の膜厚は例えば20μmである。図6(b)を参照に、露光現像することにより、第2樹脂層24に貫通電極を形成すべき孔64及び分離領域用の溝65を形成する。なお、支持板50上には同じパターンが配列しているため、符号65は溝を構成している。図6(c)を参照に、接着性の感光性エポキシ樹脂からなる第3樹脂層26を塗布する。第3樹脂層26の第2樹脂層24上の膜厚は例えば10μm程度である。図6(d)を参照に、露光現像することにより、第3樹脂層26に貫通電極を形成すべき孔64、分離領域用の溝65及び空洞となるべき凹部66を形成する。これにより、第1樹脂層22、第2樹脂層24及び第3樹脂層26より樹脂封止部20が形成される。
図7(a)を参照に、圧電基板10上に例えばアルミニウムのパターンからなる櫛型電極からなる弾性波素子12及びアルミニウムからなる配線14を形成する。配線14上の貫通電極が形成されるべき領域に密着層42を形成する。図6(d)の支持板50を圧電基板10からなるウエハ上に配置する。このとき、圧電基板10上のパターンと支持板50上(図7(a)では下)のパターンが一致するように位置合わせる。すなわち、圧電基板10に設けられた弾性波素子12上に空洞16が配置され、密着層42上に孔64が配置されるように位置合わせされる。図7(b)を参照に、第3樹脂層26が圧電基板10上に接した状態で例えば150℃から180℃に加熱する。これにより、第3樹脂層26が圧電基板10に接着し、固定される。また、第1樹脂層22、第2樹脂層24及び第3樹脂層26が熱硬化する。
図8(a)を参照に、剥離層52をエッチングし、支持板50を剥離する。剥離層52のエッチング用のエッチング液としては、剥離層52が酸化マグネシウムの場合は酢酸、リフトオフ用耐熱ポリイミド樹脂の場合はアルカリ現像液を用いることができる。図8(b)を参照に、孔64内の密着層42上に銅からなる導電層44及びニッケルからなるバリア層46を形成する。これにより、密着層42、導電層44及びバリア層46から貫通電極40が形成される。貫通電極40上に半田からなる接続端子48を形成する。その後、圧電基板10であるウエハをダイシング法等により切断することにより実施例1の図2に係る弾性波デバイスが完成する。
実施例2によれば、図5(a)から(d)のように、第1樹脂層22上に補強層30形成する。図6(a)及び図6(d)のように、補強層30を覆うように第2樹脂層24を形成し、第1樹脂層22、第2樹脂層24及び第3樹脂層26から樹脂封止部20を形成する。図7(a)及び図7(b)のように、弾性波素子12が設けられた圧電基板10上に、弾性波素子12上に空洞16を有し空洞16の側面および上面を樹脂封止部20覆い、補強層30が空洞16上に配置されるように樹脂封止部20を固定する。これにより、ウエハ状態で、個々の弾性波素子12上に樹脂封止部20に挟まれた補強層30を配置することができる。よって、従来例6のように、各弾性波素子12上に補強層30を個々に配置することを要さず、製造コストを削減することができる。
また、図8(b)のように、空洞16以外において、樹脂封止部20を貫通し、弾性波素子12と電気的に接続する貫通電極40を形成する。また、貫通電極40上に接続端子48を形成する。貫通電極40または接続端子48に起因する応力を第1樹脂層22が緩和し、さらに、補強層30により空洞16上の樹脂封止部20の強度を確保することができる。
さらに、図5(b)のように、補強層30はメッキ法を用い形成されることが好ましい。これにより、複数の補強層30を一度に形成することができる。
さらに、図6(c)及び図6(d)のように。樹脂封止部20を形成する際に、第2樹脂層24上に空洞16となるべき凹部66を有する第3樹脂層26を形成する。図7(a)及び図7(b)において、第3樹脂層26を圧電基板10に固定することにより、樹脂封止部20を圧電基板10に固定する。このように、第3樹脂層26を用いることにより、空洞16を簡単に形成することができる。
さらに、第3樹脂層26は接着性樹脂であり、図7(d)のように、第3樹脂層26を用い、樹脂封止部20を圧電基板10に接着する。このように、空洞16となる凹部66を有する第3樹脂層26を接着剤と兼用することにより製造工程を削減することができる。
さらに、図5(a)から図6(d)のように、支持板50上に樹脂封止部20を形成する。図7(a)及び図7(b)のように、樹脂封止部20が支持板50に形成された状態で、樹脂封止部20を圧電基板10に固定する。図8(a)のように、支持板50を樹脂封止部20から剥離する。これにより、複数の樹脂封止部20が支持板50に配列した状態で、複数の弾性波素子が設けられた圧電基板10上に樹脂封止部20を固定することができる。よって、個々に樹脂封止部20を弾性波素子12上に形成するのに比べ、製造コストを削減することができる。さらに、圧電基板10上に第3樹脂層及び第2樹脂層24を形成した後、第2樹脂層24上に補強層30を形成すると、貫通電極40用の孔64が形成された状態で補強層30を形成することとなる。このため、凹凸の大きな樹脂上に補強層30を形成することとなる。一方、実施例2によれば、図4(a)から図5(d)のように、比較的平坦な樹脂上に補強層を形成することができる。よって、補強層30を容易に形成することができる。
図9(a)から図9(d)を用い実施例3に係る弾性波デバイスの製造方法について説明する。図9(a)を参照に、実施例2の図4(a)から図6(a)の工程を行う。ここで、第2樹脂層24はネガ型の感光性樹脂である。図9(b)を参照に、残存すべき第2樹脂層24に紫外線を露光する。図9(c)を参照に、第2樹脂層24上に、接着性を有しネガ型の感光性エポキシ樹脂を塗布する。残存すべき第3樹脂層26に紫外線を露光する。図9(d)を参照に、現像することにより、第2樹脂層24及び第3樹脂層26を貫通する孔64、溝65及び凹部66を形成する。以下、実施例2の図7(a)から図8(b)の工程を行うことにより実施例3に係る弾性波デバイスが完成する。
実施例3によれば、第3樹脂層26の塗布が第2樹脂層24の現像に影響しない材料を選択することにより、図9(d)のように、第2樹脂層24及び第3樹脂層26を一度に現像することにより、第2樹脂層24及び第3樹脂層26に貫通電極を形成すべき孔64、溝65及び空洞となるべき凹部66を同時に形成することができる。これにより、第3樹脂層26を図9(c)のようにほぼ平坦な第2樹脂層24上に形成することができる。よって、第3樹脂層26の膜厚の均一性を向上させることができる。また、第2樹脂層24及び第3樹脂層26を同時に現像しているため現像を行う工程を削減することができる。
実施例4は接着剤を第3樹脂層とは別に用いる例である。図10(a)から図12(b)を用い実施例4に係る弾性波デバイスの製造方法について説明する。図10(a)を参照に、実施例3の図9(d)までの工程を行う。ここで、第3樹脂層26aとしては、接着性を有さない感光性のエポキシ樹脂を用いる。図10(b)を参照に、孔64及び溝65を介しエッチング液を導入し剥離層52の上部を一部エッチングする。これにより、剥離層52aにテーパ状の凹部57が形成される。図10(c)を参照に、接着性のエポキシ樹脂からなる接着層54を塗布する。これにより、樹脂封止部20上並びに孔64、溝65及び凹部66の内面に接着層54が形成される。
図11(a)を参照に、支持板50に貼り付けられた状態で樹脂封止部20を弾性波素子12が設けられた圧電基板10であるウエハに貼り合わせる。接着層54を硬化させ、樹脂封止部20と圧電基板10とを接着する。図11(b)を参照に、ダイシング装置等を用い、支持板50を切断し、剥離層52aまで達するように溝69を形成する。図12(a)を参照に、溝69を介し剥離層52aをエッチングする。これにより、支持板50を剥離する。図10(b)において、剥離層52aに凹部57を形成しておいたため、孔64及び溝65の上部には接着層54のブリッジ54aが形成されている。図12(b)を参照に、空気等の噴出による圧力、粘着テープの貼り付け剥離等を行うことにより、接着層54のブリッジ54aを除去する。このように、剥離層52aに凹部57を形成して接着層54をブリッジ54aとしたため、ブリッジ54aを容易に除去することができる。その後、実施例2の図8(b)の工程を行うことにより、実施例4に係る弾性波デバイスが完成する。
実施例4によれば、図10(c)のように、第3樹脂層26aを覆うように接着層54を形成する。図11(a)のように、接着層54を用い、樹脂封止部20を圧電基板10に接着する。これにより、実施例2及び実施例3のように第3樹脂層26aとして接着性の樹脂を用いる必要がない。また、接着層54として感光性の樹脂を用いる必要がない。よって、第3樹脂層26a及び接着層54の材料選択の余地を広げることができる。例えば、コストや第3樹脂層26a及び接着層の物性(例えば熱膨張係数、弾性率)として適切な材料を選択することができる。
実施例5は金属からなる補強層30を外部と接続可能とする例である。図13(a)から図13(c)を用い実施例5に係る弾性波デバイスの製造方法について説明する。図13(a)を参照に、支持板50上に形成された剥離層52上に第1樹脂層22aを形成する。第1樹脂層22aは開口68を有する。図13(b)を参照に、実施例2の図4(c)から図5(d)と同様の工程を行い、第1樹脂層22a上に補強層30を形成する。第1樹脂層22aの開口68内にも補強層30が形成される。図13(c)を参照に、実施例2の図6(a)から図8(b)と同様の工程を行う。さらに、接続端子48を形成する際に、第1樹脂層22aを介し補強層30に接続する接続端子48aを形成する。以上により、実施例4に係る弾性波デバイスが完成する。
実施例5によれば、第1樹脂層22aには補強層30を露出する孔64(開口)が形成されている。これにより、補強層30を外部と電気に接続することができる。例えば補強層30をグランドに接続することにより、浮遊容量Cfを削減することができる。よって、図3より、通過帯域外の低周波側及び高周波側の抑圧特性を改善することができる。
実施例6は、補強層の形状を変えた例である。図14(a)を参照に、補強層30aを格子状に形成することができる。また、図14(b)を参照に、補強層30bをストライプ状に形成することができる。さらに、図14(c)を参照に、補強層30cをドット状に形成することができる。浮遊容量Cfを削減するためには、補強層は小さいことが好ましく、樹脂封止部20の強度を維持するためには大きいことが好ましい。これらを考慮し補強層の形状を適宜設定することができる。
実施例1から5において、弾性波素子12および空洞16はそれぞれ2つずつ形成されているが、これらの数に限られるものではない。第1樹脂層22、第2樹脂層24及び第3樹脂層26としては、エポキシ樹脂以外にもポリイミド樹脂やシリコン樹脂等を用いることができる。これらに限られず、弾性波素子12を保護する樹脂であれば良い。接続端子48として半田ボールを例に説明したが、他の金属で構成されていてもよい。貫通電極40と接続端子48の材料が異なる場合、特に樹脂封止部20の上面近傍に応力が加わるため、弾性率の小さい第1樹脂層22を樹脂封止部20の上面に配置し、補強層30を樹脂封止部20に埋め込むことがより有効である。
弾性波素子12としては圧電基板10に設けられた弾性表面波素子を例に説明したが、圧電薄膜共振素子でもよい。圧電薄膜共振素子の場合、基板は圧電基板10以外のシリコン基板、ガラス基板、石英基板等を用いることもできる。
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
図1(a)は実施例1に弾性波デバイスの平面図、図1(b)は図1(a)のA−A断面図である。 図2はシミュレーションに用いた回路模式図である。 図3は浮遊容量の有無による通過特性のシミュレーション結果である。 図4(a)から図4(d)は実施例2に係る弾性波デバイスの製造工程を示す断面図(その1)である。 図5(a)から図5(d)は実施例2に係る弾性波デバイスの製造工程を示す断面図(その2)である。 図6(a)から図6(d)は実施例2に係る弾性波デバイスの製造工程を示す断面図(その3)である。 図7(a)及び図7(b)は実施例2に係る弾性波デバイスの製造工程を示す断面図(その4)である。 図8(a)及び図8(b)は実施例2に係る弾性波デバイスの製造工程を示す断面図(その5)である。 図9(a)から図9(d)は実施例3に係る弾性波デバイスの製造工程を示す断面図である。 図10(a)から図10(c)は実施例4に係る弾性波デバイスの製造工程を示す断面図(その1)である。 図11(a)及び図11(b)は実施例4に係る弾性波デバイスの製造工程を示す断面図(その2)である。 図12(a)及び図12(b)は実施例4に係る弾性波デバイスの製造工程を示す断面図(その3)である。 図13(a)から図13(c)は実施例5に係る弾性波デバイスの製造工程を示す断面図である。 図14(a)から図14(c)は実施例6に係る弾性波デバイスの空洞及び補強層を示した平面図である。
符号の説明
10 圧電基板
12 弾性波素子
14 配線
20 樹脂封止部
22 第1樹脂層
24 第2樹脂層
26 第3樹脂層
30 補強層
40 貫通電極
48 接続端子
50 支持板
52 剥離層
54 接着層

Claims (15)

  1. 基板に設けられた弾性波素子と、
    前記弾性波素子上に空洞を有し該空洞の側面および上面を覆うように前記基板上に設けられた樹脂封止部と、
    前記空洞以外において前記樹脂封止部を貫通し前記弾性波素子に電気的に接続する貫通電極と、
    前記貫通電極上に設けられた接続端子と、
    前記空洞上において、上下を前記樹脂封止部に挟まれ、前記樹脂封止部より弾性率の大きい補強層と、を具備することを特徴とする弾性波デバイス。
  2. 前記補強層は前記樹脂封止部に完全に囲まれていることを特徴とする請求項1記載の弾性波デバイス。
  3. 前記補強層は金属からなることを特徴とする請求項1または2記載の弾性波デバイス。
  4. 前記補強層は前記弾性波素子から電気的に分離されていることを特徴とする請求項3記載の弾性波デバイス。
  5. 第1樹脂層上に前記第1樹脂層より弾性率が大きい補強層を形成する工程と、
    前記補強層を覆うように前記補強層より弾性率が小さい第2樹脂層を形成し、前記第1樹脂層及び前記第2樹脂層を含む樹脂封止部を形成する工程と、
    弾性波素子が設けられた基板上に、前記弾性波素子上に空洞を有し該空洞の側面および上面を前記樹脂封止部が覆い、前記補強層が前記空洞上に配置されるように前記樹脂封止部を固定する工程と、
    を有することを特徴とする弾性波デバイスの製造方法。
  6. 前記空洞以外において、前記樹脂封止部を貫通し、前記弾性波素子と電気的に接続する貫通電極を形成する工程を有することを特徴とする請求項5記載の弾性波デバイスの製造方法。
  7. 前記貫通電極上に接続端子を形成する工程を有することを特徴とする請求項6記載の弾性波デバイスの製造方法。
  8. 前記補強層は金属からなることを特徴とする請求項5から7のいずれか一項記載の弾性波デバイスの製造方法。
  9. 前記補強層はメッキ法を用い形成されることを特徴とする請求項8記載の弾性波デバイスの製造方法。
  10. 前記樹脂封止部を形成する工程は、前記第2樹脂層上に前記空洞となるべき凹部を有する第3樹脂層を形成する工程を含み、
    前記樹脂封止部を固定する工程は、前記第3樹脂層を前記基板に固定することにより、前記樹脂封止部を前記基板に固定する工程であることを特徴とする請求項5から9のいずれか一項記載の弾性波デバイスの製造方法。
  11. 前記第3樹脂層は接着性樹脂であり、
    前記樹脂封止部を固定する工程は、前記第3樹脂層を用い、前記樹脂封止部を前記基板に接着する工程であることを特徴とする請求項10記載の弾性波デバイスの製造方法。
  12. 前記第3樹脂層を覆うように接着層を形成する工程を有し、
    前記樹脂封止部を固定する工程は、前記接着層を用い、前記樹脂封止部を前記基板に接着する工程であることを特徴とする請求項10記載の弾性波デバイスの製造方法。
  13. 前記第2樹脂層及び前記第3樹脂層は感光性樹脂であり、
    前記第3樹脂層を形成する工程は、現像することにより、前記第2樹脂層及び前記第3樹脂層に貫通電極を形成すべき孔及び前記空洞となるべき前記凹部を同時に形成する工程を含むことを特徴とする請求項10から12のいずれか一項記載の弾性波デバイスの製造方法。
  14. 支持板上に前記樹脂封止部を形成する工程を有し、
    前記樹脂封止部を固定する工程は、前記樹脂封止部が前記支持板に形成された状態で行われ、
    前記支持板を前記樹脂封止部から剥離する工程を有することを特徴とする請求項5から9のいずれか一項記載の弾性波デバイスの製造方法。
  15. 前記第1樹脂層には前記補強層を露出する開口が形成されていることを特徴とする請求項5から14のいずれか一項記載の弾性波デバイスの製造方法。
JP2007060771A 2007-03-09 2007-03-09 弾性波デバイスおよびその製造方法 Active JP5117083B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007060771A JP5117083B2 (ja) 2007-03-09 2007-03-09 弾性波デバイスおよびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007060771A JP5117083B2 (ja) 2007-03-09 2007-03-09 弾性波デバイスおよびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008227748A true JP2008227748A (ja) 2008-09-25
JP5117083B2 JP5117083B2 (ja) 2013-01-09

Family

ID=39845856

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007060771A Active JP5117083B2 (ja) 2007-03-09 2007-03-09 弾性波デバイスおよびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5117083B2 (ja)

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009225118A (ja) * 2008-03-17 2009-10-01 Panasonic Corp 弾性表面波デバイス
JP2010056833A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電部品及びその製造方法
JP2010157956A (ja) * 2009-01-05 2010-07-15 Panasonic Corp 弾性表面波デバイス
JP2011049991A (ja) * 2009-08-28 2011-03-10 Kyocera Corp 弾性波装置
JP2011055315A (ja) * 2009-09-03 2011-03-17 Panasonic Corp 弾性波素子とこれを用いた電子機器
JP2011176787A (ja) * 2010-02-01 2011-09-08 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電デバイス及びその製造方法
JP2012119928A (ja) * 2010-11-30 2012-06-21 Kyocera Corp 弾性波装置およびその製造方法
WO2012127979A1 (ja) * 2011-03-22 2012-09-27 株式会社村田製作所 電子部品モジュールの製造方法及び電子部品モジュール
JP2013135264A (ja) * 2011-12-26 2013-07-08 Kyocera Corp 弾性波装置、電子部品および弾性波装置の製造方法
WO2013128823A1 (ja) * 2012-02-28 2013-09-06 パナソニック株式会社 弾性波装置およびその製造方法
JP2014093590A (ja) * 2012-11-01 2014-05-19 Taiyo Yuden Co Ltd 弾性波フィルタ及びモジュール
US8729776B2 (en) 2011-09-08 2014-05-20 Taiyo Yuden Co., Ltd. Electronic component with metal ceiling
US8736149B2 (en) 2010-09-21 2014-05-27 Taiyo Yuden Co., Ltd. Electronic component with metal plate above element and fabrication method of the same, and electronic device including the same
US8732923B2 (en) 2011-05-25 2014-05-27 Taiyo Yuden Co., Ltd. Method for manufacturing acoustic wave device
US8748755B2 (en) 2011-03-22 2014-06-10 Taiyo Yuden Co., Ltd. Electronic component, electronic device, and method for manufacturing the electronic component
JP2014112921A (ja) * 2014-02-03 2014-06-19 Kyocera Corp 弾性波装置および回路基板
US8839502B2 (en) 2010-02-16 2014-09-23 Taiyo Yuden Co., Ltd. Production method of electronic component
CN104145426A (zh) * 2012-08-01 2014-11-12 株式会社村田制作所 电子元器件及电子元器件模块
US9005853B2 (en) 2010-05-20 2015-04-14 Hitachi Chemical Company, Ltd. Photosensitive resin composition, photosensitive film, rib pattern formation method, hollow structure and formation method for same, and electronic component
US9484886B2 (en) 2012-02-03 2016-11-01 Murata Manufacturing Co., Ltd Surface acoustic wave device and composite module including same
US9548437B2 (en) 2011-08-22 2017-01-17 Kyocera Corporation Acoustic wave device and electronic component
US9941461B2 (en) 2012-02-14 2018-04-10 Murata Manufacturing Co., Ltd. Electronic component element and composite module including the same
WO2018174064A1 (ja) * 2017-03-22 2018-09-27 京セラ株式会社 弾性波装置、分波器および通信装置
WO2019130943A1 (ja) * 2017-12-26 2019-07-04 株式会社村田製作所 弾性波装置および弾性波モジュール
US11539342B2 (en) 2016-07-26 2022-12-27 Kyocera Corporation Acoustic wave device and communication apparatus

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02246293A (ja) * 1989-03-20 1990-10-02 Toyo Commun Equip Co Ltd 表面実装用電子部品用接続部材
JPH11251866A (ja) * 1998-02-27 1999-09-17 Tdk Corp チップ素子及びチップ素子の製造方法
JP2000261284A (ja) * 1999-03-05 2000-09-22 Kyocera Corp 弾性表面波装置及びその製造方法
JP2002217673A (ja) * 2001-01-15 2002-08-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd Sawデバイスとその製造方法及びこのsawデバイスを用いた電子部品
JP2002261582A (ja) * 2000-10-04 2002-09-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 弾性表面波デバイスおよびその製造方法ならびにそれを用いた回路モジュール
JP2004200776A (ja) * 2002-12-16 2004-07-15 Toyo Commun Equip Co Ltd Sawデバイスの構造、及びその製造方法
JP2005252335A (ja) * 2004-03-01 2005-09-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 集積回路装置およびその製造方法
JP2006245989A (ja) * 2005-03-03 2006-09-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 弾性表面波装置
WO2006134928A1 (ja) * 2005-06-16 2006-12-21 Murata Manufacturing Co., Ltd. 圧電デバイス及びその製造方法
JP2006352430A (ja) * 2005-06-15 2006-12-28 Murata Mfg Co Ltd 圧電デバイスとその製造方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02246293A (ja) * 1989-03-20 1990-10-02 Toyo Commun Equip Co Ltd 表面実装用電子部品用接続部材
JPH11251866A (ja) * 1998-02-27 1999-09-17 Tdk Corp チップ素子及びチップ素子の製造方法
JP2000261284A (ja) * 1999-03-05 2000-09-22 Kyocera Corp 弾性表面波装置及びその製造方法
JP2002261582A (ja) * 2000-10-04 2002-09-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 弾性表面波デバイスおよびその製造方法ならびにそれを用いた回路モジュール
JP2002217673A (ja) * 2001-01-15 2002-08-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd Sawデバイスとその製造方法及びこのsawデバイスを用いた電子部品
JP2004200776A (ja) * 2002-12-16 2004-07-15 Toyo Commun Equip Co Ltd Sawデバイスの構造、及びその製造方法
JP2005252335A (ja) * 2004-03-01 2005-09-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 集積回路装置およびその製造方法
JP2006245989A (ja) * 2005-03-03 2006-09-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 弾性表面波装置
JP2006352430A (ja) * 2005-06-15 2006-12-28 Murata Mfg Co Ltd 圧電デバイスとその製造方法
WO2006134928A1 (ja) * 2005-06-16 2006-12-21 Murata Manufacturing Co., Ltd. 圧電デバイス及びその製造方法

Cited By (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009225118A (ja) * 2008-03-17 2009-10-01 Panasonic Corp 弾性表面波デバイス
JP2010056833A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電部品及びその製造方法
JP2010157956A (ja) * 2009-01-05 2010-07-15 Panasonic Corp 弾性表面波デバイス
JP2011049991A (ja) * 2009-08-28 2011-03-10 Kyocera Corp 弾性波装置
JP2011055315A (ja) * 2009-09-03 2011-03-17 Panasonic Corp 弾性波素子とこれを用いた電子機器
JP2011176787A (ja) * 2010-02-01 2011-09-08 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電デバイス及びその製造方法
US8341814B2 (en) 2010-02-01 2013-01-01 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Methods for manufacturing piezoelectric devices
US8839502B2 (en) 2010-02-16 2014-09-23 Taiyo Yuden Co., Ltd. Production method of electronic component
US9005853B2 (en) 2010-05-20 2015-04-14 Hitachi Chemical Company, Ltd. Photosensitive resin composition, photosensitive film, rib pattern formation method, hollow structure and formation method for same, and electronic component
US9625814B2 (en) 2010-05-20 2017-04-18 Hitachi Chemical Company, Ltd. Photosensitive resin composition, photosensitive film, rib pattern formation method, hollow structure and formation method for same, and electronic component
KR20170140435A (ko) 2010-05-20 2017-12-20 히타치가세이가부시끼가이샤 감광성 수지 조성물, 감광성 필름, 리브 패턴의 형성 방법, 중공 구조와 그 형성 방법 및 전자 부품
US8736149B2 (en) 2010-09-21 2014-05-27 Taiyo Yuden Co., Ltd. Electronic component with metal plate above element and fabrication method of the same, and electronic device including the same
JP2012119928A (ja) * 2010-11-30 2012-06-21 Kyocera Corp 弾性波装置およびその製造方法
CN103444077A (zh) * 2011-03-22 2013-12-11 株式会社村田制作所 电子部件模块的制造方法及电子部件模块
US8748755B2 (en) 2011-03-22 2014-06-10 Taiyo Yuden Co., Ltd. Electronic component, electronic device, and method for manufacturing the electronic component
WO2012127979A1 (ja) * 2011-03-22 2012-09-27 株式会社村田製作所 電子部品モジュールの製造方法及び電子部品モジュール
JP5626451B2 (ja) * 2011-03-22 2014-11-19 株式会社村田製作所 電子部品モジュールの製造方法及び電子部品モジュール
US9590586B2 (en) 2011-03-22 2017-03-07 Murata Manufacturing Co., Ltd. Electronic component module
US8732923B2 (en) 2011-05-25 2014-05-27 Taiyo Yuden Co., Ltd. Method for manufacturing acoustic wave device
US10554192B2 (en) 2011-08-22 2020-02-04 Kyocera Corporation Acoustic wave device and electronic component
US9548437B2 (en) 2011-08-22 2017-01-17 Kyocera Corporation Acoustic wave device and electronic component
US8729776B2 (en) 2011-09-08 2014-05-20 Taiyo Yuden Co., Ltd. Electronic component with metal ceiling
JP2013135264A (ja) * 2011-12-26 2013-07-08 Kyocera Corp 弾性波装置、電子部品および弾性波装置の製造方法
US9484886B2 (en) 2012-02-03 2016-11-01 Murata Manufacturing Co., Ltd Surface acoustic wave device and composite module including same
US9941461B2 (en) 2012-02-14 2018-04-10 Murata Manufacturing Co., Ltd. Electronic component element and composite module including the same
CN103444081A (zh) * 2012-02-28 2013-12-11 松下电器产业株式会社 弹性波装置及其制造方法
WO2013128823A1 (ja) * 2012-02-28 2013-09-06 パナソニック株式会社 弾性波装置およびその製造方法
CN103444081B (zh) * 2012-02-28 2015-11-18 天工松下滤波方案日本有限公司 弹性波装置及其制造方法
JP2015039209A (ja) * 2012-02-28 2015-02-26 スカイワークス・パナソニック フィルターソリューションズ ジャパン株式会社 弾性波装置およびその製造方法
JP5663730B2 (ja) * 2012-02-28 2015-02-04 スカイワークス・パナソニック フィルターソリューションズ ジャパン株式会社 弾性波装置およびその製造方法
US9461235B2 (en) 2012-02-28 2016-10-04 Skyworks Filter Solutions Japan Co., Ltd. Elastic wave device and method of manufacturing the device
US10593861B2 (en) 2012-08-01 2020-03-17 Murata Manufacturing Co., Ltd. Electronic component having a reinforced hollowed structure
CN104145426B (zh) * 2012-08-01 2017-11-28 株式会社村田制作所 电子元器件及电子元器件模块
US9711708B2 (en) 2012-08-01 2017-07-18 Murata Manufacturing Co., Ltd Electronic component having a reinforced hollowed structure
CN104145426A (zh) * 2012-08-01 2014-11-12 株式会社村田制作所 电子元器件及电子元器件模块
JP2014093590A (ja) * 2012-11-01 2014-05-19 Taiyo Yuden Co Ltd 弾性波フィルタ及びモジュール
JP2014112921A (ja) * 2014-02-03 2014-06-19 Kyocera Corp 弾性波装置および回路基板
US11539342B2 (en) 2016-07-26 2022-12-27 Kyocera Corporation Acoustic wave device and communication apparatus
WO2018174064A1 (ja) * 2017-03-22 2018-09-27 京セラ株式会社 弾性波装置、分波器および通信装置
US10804950B2 (en) 2017-03-22 2020-10-13 Kyocera Corporation Acoustic wave device, multiplexer, and communication apparatus
WO2019130943A1 (ja) * 2017-12-26 2019-07-04 株式会社村田製作所 弾性波装置および弾性波モジュール
US20200313647A1 (en) * 2017-12-26 2020-10-01 Murata Manufacturing Co., Ltd. Acoustic wave device and acoustic wave module
US11637543B2 (en) 2017-12-26 2023-04-25 Murata Manufacturing Co., Ltd. Acoustic wave device and acoustic wave module
DE112018006603B4 (de) 2017-12-26 2023-09-14 Murata Manufacturing Co., Ltd. Schallwellenvorrichtung und Schallwellenmodul

Also Published As

Publication number Publication date
JP5117083B2 (ja) 2013-01-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5117083B2 (ja) 弾性波デバイスおよびその製造方法
JP5113394B2 (ja) 弾性波デバイス
JP4509038B2 (ja) 弾性波デバイスおよびその製造方法
JP4586852B2 (ja) 圧電デバイス及びその製造方法
US8436514B2 (en) Acoustic wave device comprising an inter-digital transducer electrode
JP4585419B2 (ja) 弾性表面波デバイスおよびその製造方法
JP4510982B2 (ja) 弾性表面波装置
US8564171B2 (en) Acoustic wave element and electronic device including the same
US8692440B2 (en) Piezoelectric device and manufacturing method therefor
JP4524474B2 (ja) 弾性波デバイスおよびその製造方法
JP2012070098A (ja) 電子部品およびその製造方法、並びに電子部品を備えた電子デバイス
JP2008135971A (ja) 弾性波デバイス
JP5873311B2 (ja) 弾性波デバイス及び多層基板
JP4823336B2 (ja) 弾性表面波装置、および実装構造体
US20210297057A1 (en) Method for manufacturing electronic component module and electronic component module
WO2018225589A1 (ja) 電子部品モジュール
JP5521016B2 (ja) 弾性波デバイス
JP5338575B2 (ja) 弾性波素子とこれを用いた電子機器
JP5716875B2 (ja) 電子部品及び電子モジュール
JP2011171852A (ja) 電子部品およびその製造方法
JP2009065077A (ja) 電子部品パッケージ構造

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091019

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20100428

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100430

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20100929

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20100930

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120201

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120228

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120403

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120626

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120717

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121016

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121017

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5117083

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151026

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250