JP2008201129A - インクジェット記録ヘッドの製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】供給口が保護膜によって効果的に被覆され、インクの基板への進入が抑制されたインクジェット記録ヘッドを提供する。
【解決手段】インクを吐出するために利用されるエネルギーを発生するエネルギー発生素子を一方の面側に有する基板と、基板の一方の面から一方の面の裏面である他方の面へと貫通して設けられ、インクを供給するための供給口と、を有するインクジェット記録ヘッドの製造方法であって、一方の面側の開口と他方の面側の開口間を貫通し供給口となる貫通孔と、貫通孔の他方の面側の開口の領域内にまで張り出した第1の保護層と、を有する基板を用意する工程と、少なくとも第1の保護層の他方の面側の開口の領域内にまで張り出した部分と貫通孔の内壁とを連続して被覆するように第2の保護層を形成する工程と、第2の保護層のうち一方の面側の開口に対応する部分を除去する工程と、を有することを特徴とするインクジェット記録ヘッドの製造方法。
【選択図】図2

Description

本発明は、インクジェット記録ヘッドの製造方法に関するものである。
インクジェット記録ヘッド(以下「記録ヘッド」と呼ぶ場合もある。)の分野では、基板を貫通する供給口を有する構造が、数々の目的により提案されている。特開平9−11478号公報(特許文献1)には、インク中に基板材料(例えば、シリコン)が溶出しないように、供給口の壁面に保護層を形成することが記載されている。
特開平9−11478号公報
しかしながら、供給口の壁面に露出している保護層と機能層との界面に、インクが徐々に浸透してしまうことが懸念される。このとき、浸透したインクが基板に到達し、さらにその浸透ルートを介してインクが容易に循環してしまうと、インク中への基板材料の溶出量が増大し、吐出口のつまりなどの不具合を引き起こすことが懸念される。
本発明は以上を鑑みなされたものであり、供給口が保護膜によって効果的に被覆され、インクの基板への進入が抑制されたインクジェット記録ヘッドを提供することを目的とする。
本発明の一例は以下である。
インクを吐出するために利用されるエネルギーを発生するエネルギー発生素子を一方の面上に有する基板と、
前記基板の一方の面から前記一方の面の裏面である他方の面へと貫通して設けられ、インクを供給するための供給口と、
を有するインクジェット記録ヘッドの製造方法であって、
前記一方の面側の開口と前記他方の面側の開口間を貫通し前記供給口となる貫通孔と、前記貫通孔の前記他方の面側の開口の領域内にまで張り出した第1の保護層と、を有する基板を用意する工程と、
少なくとも前記第1の保護層の前記他方の面側の開口の領域内にまで張り出した部分と前記貫通孔の内壁とを連続して被覆するように第2の保護層を形成する工程と、
前記第2の保護層のうち前記一方の面側の開口に対応する部分を除去する工程と、
を有することを特徴とするインクジェット記録ヘッドの製造方法。
供給口が保護膜によって効果的に被覆され、インクの基板への進入が抑制されたインクジェット記録ヘッドを提供する。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。なお、以下の説明では,同一の機能を有する構成には図面中同一の番号を付与し、その説明を省略する場合がある。
なお、本発明のインクジェット記録ヘッドは、プリンタ、複写機、通信システムを有するファクシミリ、プリンタ部を有するワードプロセッサなどの装置、さらには各種処理装置と複合的に組み合わせた産業記録装置に搭載可能である。そして、このインクジェット記録ヘッドを用いることによって、紙、糸、繊維、布帛、皮革、金属、プラスチック、ガラス、木材、セラミックスなど種々の記録媒体に記録を行うことができる。なお、本明細書内で用いられる「記録」とは、文字や図形などの意味を持つ画像を記録媒体に対して付与することだけでなく、パターンなどの意味を持たない画像を付与することも意味することとする。
さらに、「インク」または「液体」とは、広く解釈されるべきものであり、記録媒体上に付与されることによって、画像、模様、パターン等の形成、記録媒体の加工、或いはインクまたは記録媒体の処理に供される液体を言うものとする。ここで、インクまたは記録媒体の処理としては、例えば、記録媒体に付与されるインク中の色材の凝固または不溶化による定着性の向上や、記録品位ないし発色性の向上、画像耐久性の向上などのことを言う。
まず、本発明を適用可能なインクジェット記録ヘッド(以下、記録ヘッド)について説明する。図5は、本発明を適用可能なインクジェット記録ヘッドを示す模式図である。
本発明の実施形態のインクジェット記録ヘッドは、インクを吐出するために用いられるエネルギーを発生するエネルギー発生素子2が所定のピッチで形成された基板1を有している。基板1にはインクを供給する供給口13が、エネルギー発生素子2の2つの列の間に開口されている。基板上には、流路形成部材6によって、各エネルギー発生素子の上方に開口する吐出口16と、供給口13から各吐出口に連通する個別のインクの流路17が形成されている。なお、供給口13の形状は、特に限定されないが、基板1の面と供給口13の内壁の成す角が垂直に近い形態が好ましい。
このインクジェット記録ヘッドは、吐出口16が形成された面が記録媒体の記録面に対面するように配置される。そして、このインクジェット記録ヘッドは、供給口13を介して流路内に充填されたインクに、エネルギー発生素子2によって発生する圧力を加えることによって、吐出口16からインク液滴を吐出させ、これを記録媒体に付着させることによって記録を行う。
次いで本発明のインクジェット記録ヘッドの製造方法の一例について、図1を参照して詳しく説明する。
図1は、本発明のインクジェット記録ヘッドの製造方法の一例を工程順に説明する模式的断面図であり、図5におけるI−I’を通り基板に垂直な面の位置で見た図である。
まず、シリコンの基板1を準備し、この基板1の一方の面18上に素子絶縁膜3を形成する。この後、この素子絶縁膜3上にインクを吐出するために利用されるエネルギーを発生するエネルギー発生素子2とその駆動回路を所望の個数、形成する。更にこの上に素子保護膜4及び、必要に応じて金属膜12を形成する(図1(a))。
また、ここでは、エネルギー発生素子2を駆動するための電気制御回路を形成する工程については特に言及しないが、素子絶縁膜3上には実際には電気制御回路が形成されている。
次に、基板1上にスピンコートやロールコーターなどでフォトレジスト層を均一に形成した後、フォトリソグラフィーによってそのパターニングを行う。これによって、基板1の一方の面18上のエネルギー発生素子2に対応する位置にフォトレジストからなる流路用型材5を形成する(図1(b))。この液流路用型材5の材質としては、除去可能な樹脂材料であって、ポジ型フォトレジストを使用する。このポジ型フォトレジストとしては、例えば、Deep−UVレジスト、ODUR−1010(東京応化工業社製)、AZ−4903(ヘキスト社製)、PMER−PG7900(東京応化工業社製)などから適宜、選択して用いることができる。
更に、流路用型材5上に、流路形成部材となる層を形成したのち、この層のエネルギー発生素子2及び液流路用型材5に対応する位置にインクの吐出口16を形成し、流路形成部材6とする(図1(c))。
流路形成部材6に用いられる材料としては、素子保護膜4との接着性、機械的強度、寸法安定性、耐蝕性の面で優れたものを選択して用いることが好ましい。具体的には、熱硬化、紫外線硬化および電子ビーム硬化が可能な液状の硬化性材料が好ましい。中でもエポキシ樹脂、アクリル樹脂、ジグリコールジアルキルカーボネート樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリイミド樹脂、メラミン樹脂、フェノール樹脂、尿素樹脂、ネガ型フォトレジスト樹脂等が好ましく使用される。流路形成部材6の材料として、液状の硬化性材料を用いる場合には、例えば、カーテンコート、ロールコート、スプレーコート等の公知の手段を用い、これを素子保護膜4及び流路用型材5上に塗布することによって、所望の厚さに積層することができる。
吐出口16を形成する方法は、使用する流路形成部材6の構成材料によって適宜、選択すればよい。例えば、フォトリソグラフィーの後、溶剤による除去を行ったり、ドライエッチング、ウエットエッチング、ドリル加工、サンドブラスト、レーザ加工、イオンミーリングを含む物理的加工法などを使用することができる。
次に、基板1の裏面に、第1の保護層7を形成する(図1(d))。第1の保護層7は例えば、成膜法(CVD、スパッタリング)、真空成膜や塗布により形成することができる。第1の保護層7を形成する材料としては酸化シリコン、SiON、SiN、SiC、SiOC等が利用可能である。
なお、この時、請求項1に記載の「基板」とは、基板1及び第1保護層7からなる層を表す。また、基板1の一方の面18と反対側の面上に設けた第1保護層7の他方の面14を裏とする。このように請求項1に記載の「基板」は、明細書においては、基板及び第1保護層を設けたものに相当する。
この後、保護層7上にフォトレジスト(図示していない)を塗布した後、リソグラフィー技術を用いてパターニングすることによりレジストマスクを形成する。そして、このレジストマスクをマスクに用いて保護層7をエッチングして開口12を形成する。次に、レジストマスクを除去した後、この保護層7をマスクに用いて、基板1をその厚み方向15にエッチングしてインクの供給口となるスルーホール13を形成する。このように他方の面14側から基板1及び保護層7の全体にわたってドライエッチングを行うことにより、スルーホールを形成する。そして、基板1の上に設けられた素子絶縁層3を、スルーホール13の一方の面18側の開口から露出させる。このスルーホール13及び開口12は、一方の面18側の開口と他方の面14側の開口間を貫通して供給口となる貫通孔に相当する。なお、この際、レジストマスクを除去せずに、これをマスクに用いてスルーホール13を形成しても良い。この際、保護層7と基板1のエッチング条件を調節することによって、開口12の断面積(基板1の面方向に平行な断面の面積)をスルーホール13の断面積(基板1の面方向に平行な断面の面積)よりも小さくする(図1(e))。この結果、第1の保護層7は、開口12の一部の領域内に張り出した形状となる。このとき形成されるスルーホール13の形状は特に制限がない。本実施形態では、図1(e)に示されるように、裏面14とスルーホール13の内壁との成す角がほぼ垂直である形状のものを例示する。
このためには、基板1のエッチングを、基板1の厚み方向15だけでなく、厚み方向15と垂直な方向(基板1の面方向)21にも進むような条件に設定する必要がある。より具体的には、(I)厚み方向15に異方性エッチングを行うと共に厚み方向15と垂直な方向21へのエッチングレートを調節する方法と、(II)厚み方向15への異方性エッチングと等方性エッチングを組み合わせる方法とが挙げられる。これについては後述する。
なお、この工程では、同時にエネルギー発生素子やその駆動回路に電流を供給するための貫通電極用のスルーホールを作成しても良い。ここでは、その詳細な説明は省略する。
次に、第1の保護層7をマスク、液流路用型材5をエッチングストッパ層に用いて、エッチングにより素子絶縁膜3と素子保護膜4を除去する(図2(a))。これによって、液流路用型材5が露出する。
この後、裏面14側から第1の保護層とスルーホール13の側壁とを連続して被覆するように第2の保護層8を形成する(図2(b))。この際、液流路用型材5が第1の層に相当し、第2の保護層8は液流路用型材5に接触するように設けられることとなる。この第2の保護層8の形成には、CVD法、スパッタリング法などの公知の成膜法や塗布法を使用することができる。この工程によって第1の保護層7及びスルーホール13の内壁の全面に第2の保護層8が形成される。また、図1(e)に示す状態で第2の保護層8を形成することもできる。この際、素子絶縁膜3が第1の層に相当し、第2の保護層8は絶縁膜3を被覆するように設けられることとなる。
次に、エッチングを行うことにより、スルーホール13の側壁上にのみ第2の保護層が残留するように第2の保護層8を除去する(図2(c))。すなわち、第2の保護層8のうち流路用型材5を被覆し、裏面側の開口12と対向する部分D(図2(b)の破線枠部分)を除去する。このとき、開口12の部分からスルーホール内部を選択的にエッチングすることもできるし、基板の裏面側全面をエッチングすることもできる。
なお、この際、従来技術では、第2の保護層8の全体がエッチングされ、第1の保護層7が露出する場合がある。また、基板裏面からのエッチングのため、第2の保護層8のD部分の第2の保護層8は、開口12の付近E(図2(b)の破線枠部分)の第2の保護層8に比べてエッチングレートが遅い。このため、D部分の第2の保護層8を完全に除去するまでエッチングを行うと、開口12の付近E(図2(b)の破線枠部分)はエッチングが過剰に進行して、基板1が露出する懸念がある。
これに対して、本実施形態では、第1および第2の保護層が、開口12に対して張り出し、厚みをもった形状をとっている。このため、D部分の第2の保護層8を除去するエッチングを行った場合であっても、E部分では、保護層が残留して基板を良好に被覆する状態とすることができる。すなわち、この場合には、第2の保護層のうち、一方の面側の開口に対応する部分と、第1の保護層の他方の面側の開口の領域内にまで張り出した部分を覆っている箇所の一部とが一括してエッチングされることとなる。
なお、スルーホールの側壁上にのみ保護層を残留させるためには、エッチング時間、エッチングレート等のエッチング条件を調節すれば良い。エッチング条件としては、より具体的には、比較的、高い真空度の中でエッチングを行ったり、基板にかかるRF印加電圧を高くしてエッチングを行ったり、これらの両方の条件設定を行うことが好ましい。このような条件でエッチングを行うことで、イオンの入射角度の垂直成分を多くすることができる。また、これ以外にも、Arガスのような重い原子ガスを混合してエッチングをしても良い。ECRエッチングの他、通常の平行平板RIE装置やICPエッチング装置など、他のプラズマ源を有するエッチングも使用可能である。この後、流路用型材5を除去し流路19を形成する。(図2(d))。
本発明の製造方法では、以上の工程により、インクジェット記録ヘッドを製造することができる。なお、第1の保護層の開口寸法、スルーホールの開口寸法、第2の保護層の膜厚の関係によって、第2の保護層の端部は図3及び4のようになる。図3、4において、(a)は、インクジェット記録ヘッドの模式的断面図で、図1と同様の断面である。(b)はその部分拡大図である。
図3は、スルーホール13の内壁に第2の保護層8、開口12の内壁に第1の保護層7が設けられ、開口12とスルーホール13の寸法が同じインクジェット記録ヘッドを示している。
また、図4は、第1の保護層7が、開口12の内部に張り出し、第2の保護層8は、第1の保護層7との接点部分で厚みが他の部分に比べて大きくなっている状態をしめしている。また、第1の保護層と7と第2の保護層8の開口12側の端部が一致している。
上記図3及び4の何れの場合であっても、第2の保護層の端部を第1の保護層によって十分に保護することができる。このため、使用時において、第1の保護層7が設けられた基板1へのインクの進入が防止され、インクの基板1への侵食を効果的に抑制できる。その後、必要な電気接続を行い記録ヘッドが完成する。
以下では実施例をもって本発明を説明するが、これらは本発明の範囲を何ら限定するものではない。
(実施例1)
図1、2を参照して実施例について説明する。
まず、厚さ400μmの基板1を準備し、この基板1の一方の面上に熱CVD法により厚さ0.45μmのSiO2からなる素子絶縁膜3を形成した。次に、汎用の半導体プロセス技術によりエネルギー発生素子2を形成した後、プラズマCVD法により厚さ0.3μmのSiNからなる素子保護膜4を形成した(図1(a))。
この後、基板1の一方の面上にポリメチルイソプロペニルケトンを主材料とするポジ型フォトレジスト樹脂を厚さ12μmで塗布した。この後、フォトリソグラフィーを行うことによってパターニングし、エネルギー発生素子2に対応する位置に液流路用型材5を形成した(図1(b))。
次に、基板の一方の面上に、カチオン重合型エポキシ樹脂をスピンコートにより厚さ12μmで塗布した。この後、露光装置(MPA600−FA(商品名)、キヤノン社製)を使用して約1J/cm2の条件で露光を行った。この後、未露光部分をキシレンと、メチルイソブチルケトンの混合液で除去することで、流路形成部材6とインク吐出口16を形成した(図1(c))。この後、プラズマCVD法により、基板1の裏面上に厚さ0.2μmのSiO2層7を設けた(図1(d))。
次に、レジストマスク(図示していない)を形成した後、CF4ガス等を用いてRIE装置によりエッチング行うことによって、SiO2層7をエッチングして断面が円形の開口12を形成した。次に、引き続きレジストマスクをマスクに用いて、以下のように基板1のエッチングを行った。まず、下記条件でエッチングを行った。
使用装置:ICP−RIEエッチング装置
使用ガス:SF6(10〜200sccm)とO2(0.5〜60sccm)の混合ガス。
これにより、断面が円形のスルーホール13を形成した。この際、開口12の径は60μm、スルーホール13の径は64μmとなり、開口はスルーホールよりも断面積が小さくなった(図1(e))。
次に、先の工程で使用したレジストマスクをマスクとして用い、液流路用型材5をエッチングストッパ層に用いて、CF4ガス等を用いてRIE装置にてエッチングを行うことにより素子絶縁膜3と素子保護膜4を除去した(図2(a))。
次に、レジストマスクを除去した後、CVD法により、第1の保護層7上とスルーホール13の内壁に厚さ3μmのポリパラキシレンの層8を形成した(図2(b))。次に、以下の条件でエッチングを行いポリパラキシリレン層8のうちE(図2(b)参照)の部分を除去した(図2(c))。
使用装置:日立製作所製M318
使用ガス:酸素 50sccm。
この後、UVランプ照射装置を使用して基板表面側から露光した後、乳酸メチル中に浸漬し、超音波を付与することによって流路用型材5を除去した(図2(d))。
本発明の一実施形態に係るインクジェット記録ヘッドの模式的斜視図である。 本発明の一実施形態に係るインクジェット記録ヘッドを示す模式的断面図である。 本発明の一実施形態に係るインクジェット記録ヘッドを示す模式的断面図である。 本発明の一実施形態に係るインクジェット記録ヘッドを示す模式的断面図である。 本発明の実施形態に係るインクジェット記録ヘッドの製造方法の一例を示す模式的断面図である。
符号の説明
1 基板
2 吐出圧力発生素子
3 素子絶縁膜
4 素子保護膜
5 流路用型材
6 オリフィスプレート
7 第1の保護層
8 第2の保護層
12 開口
13 スルーホール
14 裏面
16 オリフィス

Claims (7)

  1. インクを吐出するために利用されるエネルギーを発生するエネルギー発生素子を一方の面上に有する基板と、
    前記基板の一方の面から前記一方の面の裏面である他方の面へと貫通して設けられ、インクを供給するための供給口と、
    を有するインクジェット記録ヘッドの製造方法であって、
    前記一方の面側の開口と前記他方の面側の開口間を貫通し前記供給口となる貫通孔と、前記貫通孔の前記他方の面側の開口の領域内にまで張り出した第1の保護層と、を有する基板を用意する工程と、
    少なくとも前記第1の保護層の前記他方の面側の開口の領域内にまで張り出した部分と前記貫通孔の内壁とを連続して被覆するように第2の保護層を形成する工程と、
    前記第2の保護層のうち前記一方の面側の開口に対応する部分を除去する工程と、
    を有することを特徴とするインクジェット記録ヘッドの製造方法。
  2. 前記第2の保護層のうち、前記一方の面側の開口に対応する部分と前記第1の保護層の前記他方の面側の開口の領域内にまで張り出した部分を覆っている箇所の一部とを一括してエッチングして除去することを特徴とする請求項1に記載のインクジェット記録ヘッドの製造方法。
  3. 前記第2の保護層はポリパラキシリレンで形成されることを特徴とする請求項1又は2に記載のインクジェット記録ヘッドの製造方法。
  4. 前記第1の保護層は酸化シリコンで形成されることを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載のインクジェット記録ヘッドの製造方法。
  5. 前記第1の保護層はSiON、SiN、SiC、又はSiOCで形成されることを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載のインクジェット記録ヘッドの製造方法。
  6. 前記基板を用意する工程において、前記基板の一方の面上に第1の層を有する基板を用意し、
    前記第2の保護層を形成する工程において、前記基板上に設けられた第1の層に接触させるように第2の保護層を形成することを特徴とする請求項1から5の何れか1項に記載のインクジェット記録ヘッドの製造方法。
  7. 前記エッチングはドライエッチングであり、前記他方の面側から前記基板の全体にわたって前記ドライエッチングを行うことにより、内壁が被覆された前記貫通孔を形成することを特徴とする請求項2に記載のインクジェット記録ヘッドの製造方法。
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