JP2008135481A - 電子装置およびその製造方法 - Google Patents
電子装置およびその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008135481A JP2008135481A JP2006319238A JP2006319238A JP2008135481A JP 2008135481 A JP2008135481 A JP 2008135481A JP 2006319238 A JP2006319238 A JP 2006319238A JP 2006319238 A JP2006319238 A JP 2006319238A JP 2008135481 A JP2008135481 A JP 2008135481A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- side electrode
- component
- solder layer
- solder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/731—Location prior to the connecting process
- H01L2224/73101—Location prior to the connecting process on the same surface
- H01L2224/73103—Bump and layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73203—Bump and layer connectors
- H01L2224/73204—Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8319—Arrangement of the layer connectors prior to mounting
- H01L2224/83192—Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/91—Methods for connecting semiconductor or solid state bodies including different methods provided for in two or more of groups H01L2224/80 - H01L2224/90
- H01L2224/92—Specific sequence of method steps
- H01L2224/921—Connecting a surface with connectors of different types
- H01L2224/9212—Sequential connecting processes
- H01L2224/92122—Sequential connecting processes the first connecting process involving a bump connector
- H01L2224/92125—Sequential connecting processes the first connecting process involving a bump connector the second connecting process involving a layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/156—Material
- H01L2924/15786—Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
- H01L2924/15787—Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/35—Mechanical effects
- H01L2924/351—Thermal stress
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
【解決手段】電子装置は、実装基板1に形成された基板側電極2と電子部品3に形成された部品側電極4とを接続する形で実装基板1に電子部品3をフリップチップ実装して構成される。部品側電極4上にははんだ層6が形成されており、基板側電極2上にはAuのスタッドバンプからなり、はんだ層6を貫通して部品側電極4に当接し基板側電極2と部品側電極とを接続する金属バンプ5が設けられている。部品側電極4は、Al層からなる部品側下地電極層4a上に、はんだ層6よりも導電性に優れ且つ金属バンプ5よりも硬度の高いNi層が変形防止層4bとして形成された構成を有する。
【選択図】図1
Description
本実施形態の電子装置は、図1(b)に示すように、実装基板1に形成された基板側電極2と電子部品3に形成された部品側電極4とを接続する形で実装基板1に電子部品3を実装して構成される。図1(a)のように、基板側電極2は実装基板1の一表面である実装面1aに形成され、部品側電極4は電子部品3における実装面1aとの対向面である接続面3aに形成されており、電子部品3は実装基板1にフリップチップ実装される。
本実施形態の電子装置は、図2(b)に示すように、実装基板1の実装面1aと電子部品3の接続面3aとの間に介在し、金属バンプ5と部品側電極4との接合部の周囲を保護するアンダーフィル層7を備える点が実施形態1の電子装置と相違する。
本実施形態の電子装置は、図3(b)に示すように接続工程の前に、実装基板1の実装面1aの一部にアンダーフィル材7’を塗布する点が実施形態2の電子装置と相違する。
1a 実装面
2 基板側電極
3 電子部品
3a 接続面
4 部品側電極
4a 部品側下地電極層
4b 変形防止層
5 金属バンプ
6 はんだ層
7 アンダーフィル層
7’ アンダーフィル材
Claims (10)
- 実装基板のうち基板側電極が形成された実装面に電子部品のうち部品側電極が形成された接続面を対向させて基板側電極と部品側電極とを接続することにより実装基板に電子部品を実装した電子装置であって、前記部品側電極上にはんだ層が設けられ、前記基板側電極上に前記はんだ層を貫通して前記部品側電極に当接する金属バンプが設けられ、部品側電極は、金属バンプが当接する部位に前記はんだ層よりも導電性に優れ且つ金属バンプよりも硬度が高い変形防止層を有することを特徴とする電子装置。
- 前記変形防止層は、3〜20μmの厚みを有するニッケル層で形成されていることを特徴とする請求項1記載の電子装置。
- 前記変形防止層は、5〜20μmの厚みを有するニッケル層で形成されていることを特徴とする請求項1記載の電子装置。
- 前記金属バンプが金のスタッドバンプで形成されていることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の電子装置。
- 前記実装基板と前記電子部品との間に介在し、前記金属バンプと前記部品側電極との接合部の周囲を保護するアンダーフィル層を備えることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の電子装置。
- 請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の電子装置の製造方法であって、前記変形防止層と共に前記電子部品の前記部品側電極を構成する部品側下地電極層上に前記変形防止層を形成する変形防止層形成工程と、前記変形防止層上に前記はんだ層を形成するはんだ層形成工程と、前記基板側電極上に形成された前記金属バンプと前記部品側電極上に形成された前記はんだ層とを位置合わせし、前記金属バンプが前記はんだ層を貫通して前記変形防止層に当接するように前記はんだ層を加熱し且つ前記金属バンプおよび前記部品側電極の一方を他方に押し付ける接続工程とを有することを特徴とする電子装置の製造方法。
- 請求項5に記載の電子装置の製造方法であって、前記変形防止層と共に前記電子部品の前記部品側電極を構成する部品側下地電極層上に前記変形防止層を形成する変形防止層形成工程と、前記変形防止層上に前記はんだ層を形成するはんだ層形成工程と、前記基板側電極上に形成された前記金属バンプと前記部品側電極上に形成された前記はんだ層とを位置合わせし、前記金属バンプが前記はんだ層を貫通して前記変形防止層に当接するように前記はんだ層を加熱し且つ前記金属バンプおよび前記部品側電極の一方を他方に押し付ける接続工程とを有し、前記接続工程の後に、前記実装基板と前記電子部品と間に前記アンダーフィル層を形成するアンダーフィル材を注入するアンダーフィル材注入工程を有することを特徴とする電子装置の製造方法。
- 請求項5に記載の電子装置の製造方法であって、前記変形防止層と共に前記電子部品の前記部品側電極を構成する部品側下地電極層上に前記変形防止層を形成する変形防止層形成工程と、前記変形防止層上に前記はんだ層を形成するはんだ層形成工程と、前記基板側電極上に形成された前記金属バンプと前記部品側電極上に形成された前記はんだ層とを位置合わせし、前記金属バンプが前記はんだ層を貫通して前記変形防止層に当接するように前記はんだ層を加熱し且つ前記金属バンプおよび前記部品側電極の一方を他方に押し付ける接続工程とを有し、前記はんだ層形成工程と前記接続工程との間に、前記実装基板のうち前記電子部品の前記接続面との対向部位に熱硬化性のアンダーフィル材を塗布するアンダーフィル材塗布工程を有し、前記接続工程では、前記はんだ層と同時に前記アンダーフィル材を加熱して硬化させることで前記アンダーフィル層を形成することを特徴とする電子装置の製造方法。
- 前記接続工程では、前記電子部品を前記はんだ層の融点以上の温度に加熱し、前記実装基板の温度を前記はんだ層の融点未満に維持することを特徴とする請求項6ないし請求項8のいずれか1項に記載の電子装置の製造方法。
- 前記接続工程は、前記電子部品を前記はんだ層の融点未満の温度に加熱した状態で、前記金属バンプが前記はんだ層を貫通して前記変形防止層に当接するように加圧する第1段階と、第1段階の後に前記電子部品を前記はんだ層の融点以上に加熱することにより前記金属バンプと前記変形防止層とを前記はんだ層で接合するとともに前記アンダーフィル材を硬化させる第2段階とを有することを特徴とする請求項8記載の電子装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006319238A JP5065657B2 (ja) | 2006-11-27 | 2006-11-27 | 電子装置およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006319238A JP5065657B2 (ja) | 2006-11-27 | 2006-11-27 | 電子装置およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008135481A true JP2008135481A (ja) | 2008-06-12 |
JP5065657B2 JP5065657B2 (ja) | 2012-11-07 |
Family
ID=39560141
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006319238A Expired - Fee Related JP5065657B2 (ja) | 2006-11-27 | 2006-11-27 | 電子装置およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5065657B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009231690A (ja) * | 2008-03-25 | 2009-10-08 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JP2011003876A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Korea Electronics Telecommun | 半導体パッケージの製造方法及びこれによって製造された半導体パッケージ |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06333985A (ja) * | 1993-05-24 | 1994-12-02 | Fujitsu Ltd | フリップチップ接合方法 |
JPH09270443A (ja) * | 1996-04-01 | 1997-10-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チップの実装方法 |
JPH10117065A (ja) * | 1996-10-11 | 1998-05-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | バンプ付きワークの半田付け方法 |
JPH10233417A (ja) * | 1997-02-19 | 1998-09-02 | Casio Comput Co Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
JPH10270498A (ja) * | 1997-03-27 | 1998-10-09 | Toshiba Corp | 電子装置の製造方法 |
JPH1140606A (ja) * | 1997-07-18 | 1999-02-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | バンプ付きワークの実装方法 |
JP2000252323A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Nec Kansai Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2001257237A (ja) * | 2000-03-10 | 2001-09-21 | Toshiba Corp | 半導体装置、その製造方法、実装装置及び実装方法並びにそれに用いられるフリップチップ実装用基板 |
JP2003031613A (ja) * | 2001-07-12 | 2003-01-31 | Matsushita Electric Works Ltd | フリップチップ実装体及びフリップチップ実装方法 |
JP3381593B2 (ja) * | 1997-12-22 | 2003-03-04 | 松下電器産業株式会社 | バンプ付電子部品の実装方法 |
JP2007250999A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Seiko Epson Corp | 半導体装置の製造方法 |
-
2006
- 2006-11-27 JP JP2006319238A patent/JP5065657B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06333985A (ja) * | 1993-05-24 | 1994-12-02 | Fujitsu Ltd | フリップチップ接合方法 |
JPH09270443A (ja) * | 1996-04-01 | 1997-10-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チップの実装方法 |
JPH10117065A (ja) * | 1996-10-11 | 1998-05-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | バンプ付きワークの半田付け方法 |
JPH10233417A (ja) * | 1997-02-19 | 1998-09-02 | Casio Comput Co Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
JPH10270498A (ja) * | 1997-03-27 | 1998-10-09 | Toshiba Corp | 電子装置の製造方法 |
JPH1140606A (ja) * | 1997-07-18 | 1999-02-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | バンプ付きワークの実装方法 |
JP3381593B2 (ja) * | 1997-12-22 | 2003-03-04 | 松下電器産業株式会社 | バンプ付電子部品の実装方法 |
JP2000252323A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Nec Kansai Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2001257237A (ja) * | 2000-03-10 | 2001-09-21 | Toshiba Corp | 半導体装置、その製造方法、実装装置及び実装方法並びにそれに用いられるフリップチップ実装用基板 |
JP2003031613A (ja) * | 2001-07-12 | 2003-01-31 | Matsushita Electric Works Ltd | フリップチップ実装体及びフリップチップ実装方法 |
JP2007250999A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Seiko Epson Corp | 半導体装置の製造方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009231690A (ja) * | 2008-03-25 | 2009-10-08 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JP2011003876A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Korea Electronics Telecommun | 半導体パッケージの製造方法及びこれによって製造された半導体パッケージ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5065657B2 (ja) | 2012-11-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5066935B2 (ja) | 電子部品および電子装置の製造方法 | |
KR20090052300A (ko) | 전자 부품 실장용 접착제 및 전자 부품 실장 구조체 | |
WO2002007219A1 (fr) | Dispositif semi-conducteur et son procede de fabrication | |
US8022558B2 (en) | Semiconductor package with ribbon with metal layers | |
WO2010047006A1 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
CN104637826A (zh) | 半导体装置的制造方法 | |
JP6187918B2 (ja) | 回路部材の接続構造、接続方法および接続材料 | |
US6489180B1 (en) | Flip-chip packaging process utilizing no-flow underfill technique | |
JP2009099669A (ja) | 電子部品の実装構造および実装方法 | |
US6998293B2 (en) | Flip-chip bonding method | |
US20110079896A1 (en) | Semiconductor device and semiconductor device fabrication method | |
JP5228479B2 (ja) | 電子装置の製造方法 | |
JP5065657B2 (ja) | 電子装置およびその製造方法 | |
JP5113793B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
WO2010134230A1 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP4479582B2 (ja) | 電子部品実装体の製造方法 | |
JP2011187635A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JPH10112476A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP3482840B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP5812123B2 (ja) | 電子機器の製造方法 | |
JP4200090B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2004247621A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP2000223534A (ja) | 半導体実装装置及び半導体チップの実装方法 | |
JPH07122591A (ja) | 半導体装置の実装方法 | |
TW201901825A (zh) | 半導體裝置之製造方法及半導體裝置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090825 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100225 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100831 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20120112 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120131 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120402 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120424 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120625 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120717 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120810 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5065657 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150817 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |