JP2008118139A - 垂直型発光素子及びその製造方法 - Google Patents
垂直型発光素子及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008118139A JP2008118139A JP2007287554A JP2007287554A JP2008118139A JP 2008118139 A JP2008118139 A JP 2008118139A JP 2007287554 A JP2007287554 A JP 2007287554A JP 2007287554 A JP2007287554 A JP 2007287554A JP 2008118139 A JP2008118139 A JP 2008118139A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor layer
- light emitting
- layer
- conductive semiconductor
- emitting device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 123
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 68
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims abstract description 41
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims abstract description 26
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims description 47
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 34
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 19
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 claims description 11
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 143
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 35
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 32
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 4
- 238000000635 electron micrograph Methods 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 4
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- -1 Gallium nitride compound Chemical class 0.000 description 2
- RNQKDQAVIXDKAG-UHFFFAOYSA-N aluminum gallium Chemical compound [Al].[Ga] RNQKDQAVIXDKAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 2
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 2
- 229910005191 Ga 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AJGDITRVXRPLBY-UHFFFAOYSA-N aluminum indium Chemical compound [Al].[In] AJGDITRVXRPLBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical group Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000011982 device technology Methods 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000009828 non-uniform distribution Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 1
- 238000011946 reduction process Methods 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000009281 ultraviolet germicidal irradiation Methods 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/20—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
- H01L33/22—Roughened surfaces, e.g. at the interface between epitaxial layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0093—Wafer bonding; Removal of the growth substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/26—Materials of the light emitting region
- H01L33/30—Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table
- H01L33/32—Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table containing nitrogen
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Weting (AREA)
Abstract
【解決手段】第1伝導性半導体層30と、該第1伝導性半導体層上に位置する発光層20と、該発光層上に位置し、エッチング障壁層40を有する第2伝導性半導体層10と、を備え、前記エッチング障壁層上には、光抽出構造50が形成されている構造としている。
【選択図】図4
Description
20 窒化物多重量子井戸発光層20
30 p−型窒化物半導体層
40 エッチング障壁層
50 光抽出構造
60 第1電極
61 オーミック電極
62 反射電極
70 支持層
80 基板
81 バッファ層
Claims (20)
- 第1伝導性半導体層と、
該第1伝導性半導体層上に位置する発光層と、
該発光層上に位置し、エッチング障壁層を有する第2伝導性半導体層と、
を含んで構成されることを特徴とする垂直型発光素子。 - 前記エッチング障壁層上に、光抽出構造が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の垂直型発光素子。
- 前記光抽出構造は、前記エッチング障壁層上に位置する第2伝導性半導体層に形成されたパターンであることを特徴とする請求項2に記載の垂直型発光素子。
- 前記エッチング障壁層は、AlxInyGa1−x−yN(0≦x,y≦1)層であることを特徴とする請求項1に記載の垂直型発光素子。
- 前記エッチング障壁層のエネルギーバンドギャップは、前記第2伝導性半導体層よりも大きいことを特徴とする請求項1に記載の垂直型発光素子。
- 前記エッチング障壁層は、2層以上の多重層として形成されていることを特徴とする請求項1に記載の垂直型発光素子。
- 前記エッチング障壁層は、前記第2伝導性半導体層の物質と交互に形成されたものであることを特徴とする請求項6に記載の垂直型発光素子。
- 前記エッチング障壁層は、
前記第2伝導性半導体層よりもエネルギーバンドギャップの大きい物質と、
前記第2伝導性半導体層とエネルギーバンドギャップが等しいか又は小さい物質と、
を含む量子井戸構造を有することを特徴とする請求項1に記載の垂直型発光素子。 - 前記第2伝導性半導体層は、n−型半導体層であることを特徴とする請求項1に記載の垂直型発光素子。
- 前記第1伝導性半導体層は、支持層又は該支持層上に位置する第1電極上に位置することを特徴とする請求項1に記載の垂直型発光素子。
- 前記第1電極は、
反射電極と、
該反射電極上に位置するオーミック電極と、
を含むことを特徴とする請求項10に記載の垂直型発光素子。 - 第1伝導性半導体層と、
該第1伝導性半導体層上に位置する発光層と、
該発光層上に位置し、外側面に光抽出構造が形成された第2伝導性半導体層と、
該第2伝導性半導体層の間に位置し、前記第2伝導性半導体層よりもバンドギャップの大きい少なくとも1層の窒化物半導体層と、
を含んで構成されることを特徴とする垂直型発光素子。 - 前記光抽出構造の深さが、前記第2伝導性半導体層の外側面から前記窒化物半導体層に達するまでであることを特徴とする請求項12に記載の垂直型発光素子。
- 前記窒化物半導体層は、2層以上の多重層であって、前記第2伝導性半導体層の物質と交互に形成されたものであることを特徴とする請求項12に記載の垂直型発光素子。
- 前記窒化物半導体層は、
前記第2伝導性半導体層よりもエネルギーバンドギャップの大きい窒化物半導体層と、
前記第2伝導性半導体層とエネルギーバンドギャップが等しいか又は小さい窒化物半導体層と、
を含む量子井戸構造を有することを特徴とする請求項12に記載の垂直型発光素子。 - 前記光抽出構造は、前記第2伝導性半導体層の外側面に光電化学エッチングによって形成されたものであることを特徴とする請求項12に記載の垂直型発光素子。
- 前記窒化物半導体層のエネルギーバンドギャップは、前記光電化学エッチングに用いられる光線の光子エネルギーよりも大きいことを特徴とする請求項16に記載の垂直型発光素子。
- 基板上に第1伝導性半導体層を形成する段階と、
該第1伝導性半導体層上に、当該第1伝導性半導体層よりもエネルギーバンドギャップの大きい少なくとも一つの窒化物半導体層を有するエッチング障壁層を形成する段階と、
該エッチング障壁層上に第1伝導性半導体層を形成する段階と、
該第1伝導性半導体層上に発光層を形成する段階と、
該発光層上に第2伝導性半導体層を形成する段階と、
前記基板を除去する段階と、
前記基板の除去によって露出した前記第1伝導性半導体層の表面をエッチングし、光抽出構造を形成する段階と、
を含むことを特徴とする垂直型発光素子の製造方法。 - 前記光抽出構造を形成する段階において、光電化学エッチング法を用いることを特徴とする請求項18に記載の垂直型発光素子の製造方法。
- 前記エッチング障壁層を形成する段階において、
前記第1伝導性半導体層よりもエネルギーバンドギャップの大きい窒化物半導体層と、
前記第1伝導性半導体層とエネルギーバンドギャップが等しいか又は小さい窒化物半導体層と、
を交互に形成することを特徴とする請求項18に記載の垂直型発光素子の製造方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060108217A KR101282775B1 (ko) | 2006-11-03 | 2006-11-03 | 수직형 발광 소자 및 그 제조방법 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012231376A Division JP2013048269A (ja) | 2006-11-03 | 2012-10-19 | 光抽出構造を備えた垂直型発光素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008118139A true JP2008118139A (ja) | 2008-05-22 |
Family
ID=39496911
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007287554A Pending JP2008118139A (ja) | 2006-11-03 | 2007-11-05 | 垂直型発光素子及びその製造方法 |
JP2012231376A Pending JP2013048269A (ja) | 2006-11-03 | 2012-10-19 | 光抽出構造を備えた垂直型発光素子 |
JP2014191521A Pending JP2015039003A (ja) | 2006-11-03 | 2014-09-19 | 光抽出構造を備えた垂直型発光素子 |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012231376A Pending JP2013048269A (ja) | 2006-11-03 | 2012-10-19 | 光抽出構造を備えた垂直型発光素子 |
JP2014191521A Pending JP2015039003A (ja) | 2006-11-03 | 2014-09-19 | 光抽出構造を備えた垂直型発光素子 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7705363B2 (ja) |
JP (3) | JP2008118139A (ja) |
KR (1) | KR101282775B1 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011166148A (ja) * | 2010-02-12 | 2011-08-25 | Lg Innotek Co Ltd | 発光素子、発光素子の製造方法、及び発光素子パッケージ |
JP2012104832A (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Semileds Optoelectronics Co Ltd | エッチング停止層を有するn型閉じ込め構造を備える垂直型発光ダイオード(VLED)及びその製造方法 |
JP2012518916A (ja) * | 2009-02-25 | 2012-08-16 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | 発光素子の製造方法 |
JP2013021296A (ja) * | 2011-07-08 | 2013-01-31 | Lg Innotek Co Ltd | 発光素子、発光素子パッケージおよびこれを含む照明システム |
JP2016192527A (ja) * | 2015-03-31 | 2016-11-10 | ウシオ電機株式会社 | 半導体発光素子及びその製造方法 |
JP2020065011A (ja) * | 2018-10-18 | 2020-04-23 | 株式会社サイオクス | 構造体の製造方法および構造体の製造装置 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100008123A (ko) | 2008-07-15 | 2010-01-25 | 고려대학교 산학협력단 | 이중 히트 씽크층으로 구성된 지지대를 갖춘 고성능수직구조의 반도체 발광소자 |
KR101025980B1 (ko) * | 2008-11-28 | 2011-03-30 | 삼성엘이디 주식회사 | 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법 |
EP2341558B1 (en) * | 2009-12-30 | 2019-04-24 | IMEC vzw | Method of manufacturing a semiconductor device |
JP5654760B2 (ja) * | 2010-03-02 | 2015-01-14 | キヤノン株式会社 | 光素子 |
KR100969131B1 (ko) * | 2010-03-05 | 2010-07-07 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 제조방법 |
DE102010048617A1 (de) * | 2010-10-15 | 2012-04-19 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterschichtenfolge, strahlungsemittierender Halbleiterchip und optoelektronisches Bauteil |
KR101231477B1 (ko) * | 2011-07-08 | 2013-02-07 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자 |
KR101500029B1 (ko) * | 2011-09-22 | 2015-03-06 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자 |
KR101880445B1 (ko) * | 2011-07-14 | 2018-07-24 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자, 발광소자 제조방법, 발광소자 패키지, 및 라이트 유닛 |
KR20130120615A (ko) | 2012-04-26 | 2013-11-05 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 및 발광 소자 패키지 |
CN103219427A (zh) * | 2013-04-10 | 2013-07-24 | 中国科学院微电子研究所 | 一种高陷光纳米结构单面制绒的实现方法 |
WO2015115685A1 (ko) * | 2014-01-29 | 2015-08-06 | 광전자 주식회사 | 요철형 질화갈륨층을 가진 알루미늄갈륨인듐인계 발광다이오드 및 그 제조 방법 |
DE102017120522A1 (de) * | 2017-09-06 | 2019-03-07 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Licht emittierendes Halbleiterbauelement |
CN107591464B (zh) * | 2017-11-08 | 2019-02-12 | 宁波高新区斯汀环保科技有限公司 | 一种多功能曲面显示屏用led材料及其制造方法 |
WO2022087903A1 (zh) * | 2020-10-28 | 2022-05-05 | 京东方科技集团股份有限公司 | 发光基板及其制备方法和发光装置 |
DE102021107019A1 (de) * | 2021-03-22 | 2022-09-22 | OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Verfahren zur herstellung einer halbleiterschichtenfolge und halbleiterschichtenfolge |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH104209A (ja) * | 1996-03-22 | 1998-01-06 | Hewlett Packard Co <Hp> | 発光素子 |
JP2003249481A (ja) * | 2002-02-22 | 2003-09-05 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP2006049855A (ja) * | 2004-06-28 | 2006-02-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体発光素子およびその製造方法 |
JP2006196658A (ja) * | 2005-01-13 | 2006-07-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体発光素子およびその製造方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06112592A (ja) * | 1992-09-29 | 1994-04-22 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体レーザ素子の製造方法 |
JPH06244497A (ja) * | 1993-02-19 | 1994-09-02 | Sanken Electric Co Ltd | 半導体レーザ装置 |
JPH10335745A (ja) * | 1997-05-27 | 1998-12-18 | Hitachi Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
US6869820B2 (en) | 2002-01-30 | 2005-03-22 | United Epitaxy Co., Ltd. | High efficiency light emitting diode and method of making the same |
WO2005011007A1 (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-03 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | 発光ダイオード及びその製造方法 |
JP4277617B2 (ja) * | 2003-08-08 | 2009-06-10 | 日立電線株式会社 | 半導体発光素子の製造方法 |
US7476910B2 (en) * | 2004-09-10 | 2009-01-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light emitting device and method for manufacturing the same |
KR100631981B1 (ko) * | 2005-04-07 | 2006-10-11 | 삼성전기주식회사 | 수직구조 3족 질화물 발광 소자 및 그 제조 방법 |
KR101338274B1 (ko) * | 2006-08-08 | 2013-12-09 | 엘지이노텍 주식회사 | 질화물계 발광 소자 및 그 제조방법 |
KR100762003B1 (ko) * | 2006-09-22 | 2007-09-28 | 삼성전기주식회사 | 수직구조 질화물계 발광다이오드 소자의 제조방법 |
-
2006
- 2006-11-03 KR KR1020060108217A patent/KR101282775B1/ko active IP Right Grant
-
2007
- 2007-11-02 US US11/934,433 patent/US7705363B2/en active Active
- 2007-11-05 JP JP2007287554A patent/JP2008118139A/ja active Pending
-
2012
- 2012-10-19 JP JP2012231376A patent/JP2013048269A/ja active Pending
-
2014
- 2014-09-19 JP JP2014191521A patent/JP2015039003A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH104209A (ja) * | 1996-03-22 | 1998-01-06 | Hewlett Packard Co <Hp> | 発光素子 |
JP2003249481A (ja) * | 2002-02-22 | 2003-09-05 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP2006049855A (ja) * | 2004-06-28 | 2006-02-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体発光素子およびその製造方法 |
JP2006196658A (ja) * | 2005-01-13 | 2006-07-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体発光素子およびその製造方法 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012518916A (ja) * | 2009-02-25 | 2012-08-16 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | 発光素子の製造方法 |
JP2011166148A (ja) * | 2010-02-12 | 2011-08-25 | Lg Innotek Co Ltd | 発光素子、発光素子の製造方法、及び発光素子パッケージ |
JP2012104849A (ja) * | 2010-02-12 | 2012-05-31 | Lg Innotek Co Ltd | 発光素子、発光素子の製造方法、及び発光素子パッケージ |
JP2012104832A (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Semileds Optoelectronics Co Ltd | エッチング停止層を有するn型閉じ込め構造を備える垂直型発光ダイオード(VLED)及びその製造方法 |
JP2013021296A (ja) * | 2011-07-08 | 2013-01-31 | Lg Innotek Co Ltd | 発光素子、発光素子パッケージおよびこれを含む照明システム |
JP2016192527A (ja) * | 2015-03-31 | 2016-11-10 | ウシオ電機株式会社 | 半導体発光素子及びその製造方法 |
JP2020065011A (ja) * | 2018-10-18 | 2020-04-23 | 株式会社サイオクス | 構造体の製造方法および構造体の製造装置 |
JP7181052B2 (ja) | 2018-10-18 | 2022-11-30 | 株式会社サイオクス | 構造体の製造方法および構造体の製造装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7705363B2 (en) | 2010-04-27 |
KR20080040359A (ko) | 2008-05-08 |
KR101282775B1 (ko) | 2013-07-05 |
JP2013048269A (ja) | 2013-03-07 |
JP2015039003A (ja) | 2015-02-26 |
US20080135856A1 (en) | 2008-06-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101282775B1 (ko) | 수직형 발광 소자 및 그 제조방법 | |
JP4989978B2 (ja) | 窒化物系発光素子及びその製造方法 | |
JP2007103951A (ja) | 窒化物系半導体発光素子及びその製造方法 | |
JP5306779B2 (ja) | 発光素子及びその製造方法 | |
US20160079474A1 (en) | Semiconductor light emitting device and method of manufacturing the same | |
JP2006332383A (ja) | 半導体発光素子およびその製造方法 | |
TWI437737B (zh) | 發光二極體結構及其製造方法 | |
TW201036204A (en) | Light emitting device having pillar structure with hollow structure and the forming method thereof | |
KR100661960B1 (ko) | 발광 다이오드 및 그 제조 방법 | |
JP2013110426A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2007324411A (ja) | 半導体発光素子及びその製造方法、並びに半導体発光素子を用いた照明装置 | |
KR100648812B1 (ko) | 질화 갈륨계 발광 다이오드 및 그 제조방법 | |
US20120068196A1 (en) | Semiconductor light-emitting device and a method of manufacture thereof | |
KR20080089860A (ko) | 반도체 발광소자 및 반도체 발광소자의 제조 방법 | |
JP2007067209A (ja) | 窒化物系半導体発光素子及びその製造方法 | |
KR101158078B1 (ko) | 발광 다이오드 및 그 제조 방법 | |
KR101910567B1 (ko) | 광추출 효율이 개선된 발광다이오드 및 그 제조방법 | |
KR101166132B1 (ko) | 희생층을 구비한 발광다이오드 및 그 제조방법 | |
Yeh et al. | InGaN flip-chip light-emitting diodes with embedded air voids as light-scattering layer | |
KR101241331B1 (ko) | 질화물계 발광 소자 및 그 제조방법 | |
JP2006186257A (ja) | 半導体発光素子の製造方法、集積型半導体発光装置の製造方法、画像表示装置の製造方法および照明装置の製造方法 | |
CN109004072B (zh) | 一种倒装led芯片及其制备方法 | |
KR20090002161A (ko) | 반도체 발광소자 및 반도체 발광소자의 제조 방법 | |
WO2021253284A1 (zh) | 一种外延片、led芯片及显示屏 | |
JP2009182010A (ja) | 3族窒化物化合物半導体の製造方法、発光素子、照明装置及び3族窒化物化合物半導体成長用の基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100907 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101111 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110816 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111007 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120619 |