JP2008059724A - 正電位変換回路、強誘電体記憶装置および電子機器 - Google Patents
正電位変換回路、強誘電体記憶装置および電子機器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008059724A JP2008059724A JP2006238103A JP2006238103A JP2008059724A JP 2008059724 A JP2008059724 A JP 2008059724A JP 2006238103 A JP2006238103 A JP 2006238103A JP 2006238103 A JP2006238103 A JP 2006238103A JP 2008059724 A JP2008059724 A JP 2008059724A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- potential
- node
- circuit
- positive potential
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
【解決手段】ビット線(BL-L)と第1ノード(ML-L)との間に接続されたpチャネル型MISFET(P1-L)と、ビット線(BL-R)と第2ノード(ML-R)との間に接続されたpチャネル型MISFET(P1-R)と、第1ノードに接続された負電位発生回路(ct-L)と、第2ノードに接続された負電位発生回路(Ct-R)と、を有する強誘電体記憶装置(センスアンプ回路)のpチャネル型MISFET(P1-L)のゲート端子と第2ノード(ML-R)とを接続し、pチャネル型MISFET(P1-R)のゲート端子と第1ノード(ML-L)とを接続する。また、第1、第2ノード間にイコライズ回路EQ1を設ける。また、第1、第2ノードの電位を正電位変換回路TPにより正電位の出力OUTとして取り出す。
【選択図】図2
Description
1)センスアンプ回路
(第1センスアンプ回路)
図2は、本発明の一実施の形態である第1センスアンプ回路の構成を示す回路図である。図示するように、ビット線BL−LおよびBL−Rは、それぞれ、pチャネル型MISFETP1−LおよびP1−Rを介して第1ノードML−Lおよび第2ノードML−Rに接続されている。一方、pチャネル型MISFETP1−Lのゲート端子は、第2ノードML−Rに接続され、pチャネル型MISFETP1−Rのゲート端子は、第1ノードML−Lに接続されている。このように、2つのpチャネル型MISFETP1−LとP1−Rの一端とゲート端子は、交差接続されている。pチャネル型MISFETP1−L、P1−Rの基板電位(バックゲート電位)は接地電位とする。より好ましくはビット線側の端子(第1端)と同電位とする。基板電位が高い方がオンしやすくなるためである。なお、本明細書においては、MISFETのソース、ドレイン領域をMISFETの第1端、第2端もしくは一端、他端と言うことがある。
(第2センスアンプ回路)
図7は、本発明の一実施の形態である第2センスアンプ回路の構成を示す回路図である。第1センスアンプ回路との違いは、pチャネル型MISFETP2−Rのゲート端子(ノードPG−R)と第1ノードML−Lとの間に強誘電体キャパシタCt2−Lよりなる電位転送回路を接続し、pチャネル型MISFETP2−Lのゲート端子(ノードPG−L)と第2ノードML−Rとの間に強誘電体キャパシタCt2−Rよりなる電位転送回路を接続した点にある。さらに、pチャネル型MISFETP1−LおよびP2−Lのゲート端子(ノードPG−L)とpチャネル型MISFETP1−RおよびP2−Rのゲート端子(ノードPG−R)との間にイコライズ回路EQ2を接続した点にある。このイコライズ回路EQ2も、MEQ線と接続され、MEQ信号によって制御される。
2)イコライズ回路
次いで、第1、第2センスアンプ回路に用いたイコライズ回路の構成について詳細に説明する。
(第1イコライズ回路)
図9は、本発明の一実施の形態である第1イコライズ回路の構成を示す回路図である。図示するように、第1、第2ノードML−L、ML−Rの間にpチャネル型MISFETP4が接続されている。また、第1ノードML−Lと接地電位との間には、pチャネル型MISFETP3−Lが接続され、第2ノードML−Rと接地電位との間には、pチャネル型MISFETP3−Rが接続されている。これらのpチャネル型MISFETのゲート端子は、強誘電体キャパシタC1(負電位発生回路)の一端と接続され、基板電位は、接地電位である。負電位発生回路は、MEQ線とノードvrstとの間に接続された強誘電体キャパシタC1よりなる。また、ノードvrstには安全装置(クランプ回路)Sが接続されている。この安全装置Sにより第1イコライズ回路のスタンバイ時において、フローティング状態となるノードvrstの電位が所定の電位範囲に位置するよう制御される。なお、第1ノードML−Lと第2ノードML−Rには前述したセンスアンプ回路SA等を介してビット線が接続される。
(第2イコライズ回路)
図11は、本発明の一実施の形態である第2イコライズ回路の構成を示す回路図である。第1イコライズ回路との違いは、pチャネル型MISFETP4を省略した点にある。この場合も、第1、第2ノードML−L、ML−Rを接地電位にイコライズすることができる。第2イコライズ回路の動作時のタイミングチャートは、図10と同じである。
(第3イコライズ回路)
図12は、本発明の一実施の形態である第3イコライズ回路の構成を示す回路図である。図示するように、安全装置Sとして抵抗Rを用いてもよい。この抵抗Rとしては、ウエル抵抗、多結晶シリコン抵抗(Poly抵抗)やトランジスタ抵抗などを用いることができる。
3)正電位変換回路
次いで、第1、第2センスアンプ回路に用いた正電位変換回路の構成について詳細に説明する。
(第1正電位変換回路1)
図14は、本発明の一実施の形態である第1正電位変換回路の構成を示す回路図である。図示するように、第1、第2ノードの電位差を交差接続されたインバータの出力として取り出す。詳細には、当該回路は、電源電位とノードNLとの間に接続されたpチャネル型MISFETP12−Lとnチャネル型MISFETN12−LよりなるインバータIN1と、電源電位とノードNLとの間に接続されたpチャネル型MISFETP12−Rとnチャネル型MISFETN12−RよりなるインバータIN2とを有する。pチャネル型MISFETP12−Lとnチャネル型MISFETN12−Lの接続ノードは出力部OUT−Lとなり、この出力部OUT−Lはpチャネル型MISFETP12−Rのゲート端子およびnチャネル型MISFETN12−Rのゲート端子に接続されている。pチャネル型MISFETP12−Rとnチャネル型MISFETN12−Rの接続ノードは出力部OUT−Rとなり、この出力部OUT−Rは、pチャネル型MISFETP12−Lのゲート端子およびnチャネル型MISFETN12−Lのゲート端子に接続されている。
(第2正電位変換回路)
図16は、本発明の一実施の形態である第2正電位変換回路の構成を示す回路図である。この場合も、第1、第2ノードの電位差を交差接続されたインバータの出力として取り出す。詳細には、当該回路は、ノードNCとノードNLとの間に接続されたpチャネル型MISFETP12−Lとnチャネル型MISFETN12−LよりなるインバータIN1と、ノードNCとノードNLとの間に接続されたpチャネル型MISFETP12−Rとnチャネル型MISFETN12−RよりなるインバータIN2とを有する。pチャネル型MISFETP12−Lとnチャネル型MISFETN12−Lの接続ノードは出力部OUT−Lとなり、この出力部OUT−Lは、pチャネル型MISFETP12−Rのゲート端子およびnチャネル型MISFETN12−Rのゲート端子に接続されている。pチャネル型MISFETP12−Rとnチャネル型MISFETN12−Rの接続ノードは出力部OUT−Rとなり、この出力部OUT−Rは、pチャネル型MISFETP12−Lのゲート端子およびnチャネル型MISFETN12−Lのゲート端子に接続されている。
(第3正電位変換回路)
図18は、本発明の一実施の形態である第3正電位変換回路の構成を示す回路図である。図示するように、当該回路は、ノードNLにその第1端子が接続されたnチャネル型MISFETN12−Lと、ノードNRにその第1端子が接続されたnチャネル型MISFETN12−Rを有する。nチャネル型MISFETN12−Lの第2端子は、出力部OUT−Lとなり、nチャネル型MISFETN12−Rのゲート端子に接続されている。nチャネル型MISFETN12−Rの第2端子は、出力部OUT−Rとなり、nチャネル型MISFETN12−Lのゲート端子に接続されている。
(第4正電位変換回路)
図20は、本発明の一実施の形態である第4正電位変換回路の構成を示す回路図である。当該回路は、第3正電位変換回路(図18)に、さらに、強誘電体キャパシタC3−L、C3−Rを追加した点に特徴がある。図示するように、第1ノードML−Lと出力部OUT−Lとの間に強誘電体キャパシタC3−Lが接続され、第1ノードML−Lと出力部OUT−Lとの間に強誘電体キャパシタC3−Lが接続されている。他の構成は、第3正電位変換回路と同様である。
ここで、より低い電位から電位の低下が起こる”0”データ側のノード(図21ではML−R)の電位が閾値Vthを超えると、pチャネルトランジスタP11−Rがオン状態となる。よって、出力部OUT−Rが接地電位まで低下する。一方、出力部OUT−Lは、nチャネル型MISFETN12−Lがオフするため、その時点での電位を維持する。よって、その後、図21(A)に示すSAE信号をLレベルからHレベルに変化させ、出力部OUT−L、OUT−Rの電位差を一般的なセンスアンプで増幅することにより、HレベルのLAT−L信号、LレベルのLAT−R信号を取り出すことができる(図21(D))。
Claims (15)
- 第1ノードと第2ノードの電位差に応じた出力を第1および第2インバータの出力部からそれぞれ出力する正電位変換回路であって、
電源電位と第3ノードとの間に直列に接続された第1pチャネル型MISFETおよび第1nチャネル型MISFETよりなる第1インバータと、
電源電位と第4ノードとの間に直列に接続された第2pチャネル型MISFETおよび第2nチャネル型MISFETよりなり、入出力が前記第1インバータと交差接続された第2インバータと、
前記第3ノードと接地電位との間に接続され、そのゲート端子が前記第1ノードに接続され、その基板電位が接地電位に接続された第3pチャネル型MISFETと、
前記第4ノードと接地電位との間に接続され、そのゲート端子が前記第2ノードに接続され、その基板電位が接地電位に接続された第4pチャネル型MISFETと、を有することを特徴とする正電位変換回路。 - 前記第3ノードと前記第3pチャネル型MISFETとの間に、第1スイッチングトランジスタが接続され、
前記第4ノードと前記第4pチャネル型MISFETとの間に、第2スイッチングトランジスタが接続されていることを特徴とする請求項1記載の正電位変換回路。 - 前記第1および第2インバータの出力部に接続されたプリチャージ回路を有し、
前記プリチャージ回路は、電源電位と第1インバータの出力部に接続された第3スイッチングトランジスタと、電源電位と第2インバータの出力部に接続された第4スイッチングトランジスタとを有することを特徴とする請求項2記載の正電位変換回路。 - 前記電源電位と、前記第1pチャネル型MISFETおよび前記第2pチャネル型MISFETの接続ノードとの間に、第1スイッチングトランジスタが接続されていることを特徴とする請求項1記載の正電位変換回路。
- 前記第1および第2インバータの出力部に接続されたディスチャージ回路を有し、
前記ディスチャージ回路は、接地電位と第1インバータの出力に接続された第2スイッチングトランジスタと、電源電位と第2インバータの出力に接続された第3スイッチングトランジスタとを有することを特徴とする請求項4記載の正電位変換回路。 - 第1ノードと第2ノードの電位差に応じた出力を第1および第2出力部からそれぞれ出力する正電位変換回路であって、
前記第1出力部と第3ノードとの間に接続され、そのゲート端子が前記第2出力部に接続された第1nチャネル型MISFETと、
前記第2出力部と第4ノードとの間に接続され、そのゲート端子が前記第1出力部に接続された第2nチャネル型MISFETと、
前記第3ノードと接地電位との間に接続され、そのゲート端子が前記第1ノードに接続され、その基板電位が接地電位に接続された第1pチャネル型MISFETと、
前記第4ノードと接地電位との間に接続され、そのゲート端子が前記第2ノードに接続され、その基板電位が接地電位に接続された第2pチャネル型MISFETと、を有することを特徴とする正電位変換回路。 - 前記第3ノードと前記第3pチャネル型MISFETとの間に、第1スイッチングトランジスタが接続され、
前記第4ノードと前記第4pチャネル型MISFETとの間に、第2スイッチングトランジスタが接続されていることを特徴とする請求項6記載の正電位変換回路。 - 前記第1および第2出力部に接続されたプリチャージ回路を有し、
前記プリチャージ回路は、電源電位と第1出力部に接続された第3スイッチングトランジスタと、電源電位と第2出力部に接続された第4スイッチングトランジスタとを有することを特徴とする請求項7記載の正電位変換回路。 - 前記第1出力部と前記第1ノードとの間に接続された第1キャパシタと、
前記第2出力部と前記第2ノードとの間に接続された第2キャパシタと、
を有することを特徴とする請求項6乃至8のいずれか一項に記載の正電位変換回路。 - 前記第1ノードと接地電位との間に接続され、そのゲート端子が前記第2ノードに接続され、その基板電位が接地電位に接続された第5pチャネル型MISFETと、
前記第2ノードと接地電位との間に接続され、そのゲート端子が前記第1ノードに接続され、その基板電位が接地電位に接続された第6pチャネル型MISFETと、
を有することを特徴とする請求項1乃至9のいずれか一項に記載の正電位変換回路。 - その動作時において、前記第1ノードおよび前記第2ノードの電位は、0もしくは負電位であることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項記載の正電位変換回路。
- 請求項1乃至11のいずれか一項記載の正電位変換回路と、
前記第1ノードと第1ビット線との間に接続された第7pチャネル型MISFETと、
前記第2ノードと第2ビット線との間に接続された第8pチャネル型MISFETと、
前記第1ノードに接続された第1負電位発生回路と、
前記第2ノードに接続された第2負電位発生回路と、を有することを特徴とする強誘電体記憶装置。 - 請求項1乃至11のいずれか一項記載の正電位変換回路と、
前記第1ノードと接続される第1ビット線と、
前記第2ノードと接続される第2ビット線と、を有し、
前記第1および第2ビット線には、それぞれ強誘電体メモリが接続されていることを特徴とする強誘電体記憶装置。 - 請求項1乃至11のいずれか一項記載の正電位変換回路と、
前記第1ノードと接続される第1ビット線と、
前記第2ノードと接続される第2ビット線と、を有し、
前記第1ビット線には、強誘電体メモリが接続され、前記第2ビット線には、参照電位が印加されることを特徴とする強誘電体記憶装置。 - 請求項12乃至14のいずれか一項に記載の強誘電体記憶装置を有することを特徴とする電子機器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006238103A JP4807192B2 (ja) | 2006-09-01 | 2006-09-01 | 正電位変換回路、強誘電体記憶装置および電子機器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006238103A JP4807192B2 (ja) | 2006-09-01 | 2006-09-01 | 正電位変換回路、強誘電体記憶装置および電子機器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008059724A true JP2008059724A (ja) | 2008-03-13 |
JP4807192B2 JP4807192B2 (ja) | 2011-11-02 |
Family
ID=39242250
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006238103A Expired - Fee Related JP4807192B2 (ja) | 2006-09-01 | 2006-09-01 | 正電位変換回路、強誘電体記憶装置および電子機器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4807192B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7869252B2 (en) | 2008-06-13 | 2011-01-11 | Seiko Epson Corporation | Ferroelectric memory device, method for driving ferroelectric memory device, and electronic equipment |
US8373124B2 (en) | 2009-12-24 | 2013-02-12 | Seiko Epson Corporation | Infrared detection circuit, sensor device, and electronic instrument |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1188147A (ja) * | 1997-09-16 | 1999-03-30 | Nec Corp | レベルシフト回路 |
JPH11312392A (ja) * | 1998-04-28 | 1999-11-09 | Nec Corp | レベル検出回路 |
JP2002133857A (ja) * | 2000-10-31 | 2002-05-10 | Fujitsu Ltd | データ読み出し回路とデータ読み出し方法及びデータ記憶装置 |
JP2005129151A (ja) * | 2003-10-23 | 2005-05-19 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
-
2006
- 2006-09-01 JP JP2006238103A patent/JP4807192B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1188147A (ja) * | 1997-09-16 | 1999-03-30 | Nec Corp | レベルシフト回路 |
JPH11312392A (ja) * | 1998-04-28 | 1999-11-09 | Nec Corp | レベル検出回路 |
JP2002133857A (ja) * | 2000-10-31 | 2002-05-10 | Fujitsu Ltd | データ読み出し回路とデータ読み出し方法及びデータ記憶装置 |
JP2005129151A (ja) * | 2003-10-23 | 2005-05-19 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7869252B2 (en) | 2008-06-13 | 2011-01-11 | Seiko Epson Corporation | Ferroelectric memory device, method for driving ferroelectric memory device, and electronic equipment |
US8373124B2 (en) | 2009-12-24 | 2013-02-12 | Seiko Epson Corporation | Infrared detection circuit, sensor device, and electronic instrument |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4807192B2 (ja) | 2011-11-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101071212B1 (ko) | 반도체 메모리 | |
CN112712837B (zh) | 灵敏放大器、灵敏放大器的控制方法及存储器 | |
US9972371B2 (en) | Memory device including memory cell for generating reference voltage | |
EP1739682A1 (en) | Voltage supply circuit and semiconductor memory | |
US7869252B2 (en) | Ferroelectric memory device, method for driving ferroelectric memory device, and electronic equipment | |
US7139187B2 (en) | Ferroelectric memory | |
JP4996177B2 (ja) | 半導体記憶装置、およびデータ読み出し方法 | |
JP4186169B2 (ja) | 強誘電体記憶装置および電子機器 | |
KR100848418B1 (ko) | 강유전체 메모리 장치, 전자 기기 및 강유전체 메모리장치의 구동 방법 | |
JP4264758B2 (ja) | 強誘電体記憶装置および電子機器 | |
JP4807192B2 (ja) | 正電位変換回路、強誘電体記憶装置および電子機器 | |
JP4807191B2 (ja) | 強誘電体記憶装置および電子機器 | |
US7525846B2 (en) | Memory device | |
CN108735259B (zh) | 半导体存储装置以及半导体存储装置的读出方法 | |
JP5398599B2 (ja) | 半導体記憶装置及びそのセル活性化方法 | |
US8009496B2 (en) | Semiconductor device including asymmetric sense amplifier | |
US8467259B2 (en) | Semiconductor memory device | |
JP2006031881A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2008004262A (ja) | データ記憶装置 | |
JP2007257783A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2009020958A (ja) | 強誘電体記憶装置、強誘電体記憶装置の駆動方法および電子機器 | |
JP2010192038A (ja) | ラッチ回路及びデータの読み出し方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080929 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110506 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110512 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110624 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110719 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110801 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140826 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4807192 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |