JP2008057045A - 酸化物焼結体スパッタリングターゲット - Google Patents
酸化物焼結体スパッタリングターゲット Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008057045A JP2008057045A JP2007263530A JP2007263530A JP2008057045A JP 2008057045 A JP2008057045 A JP 2008057045A JP 2007263530 A JP2007263530 A JP 2007263530A JP 2007263530 A JP2007263530 A JP 2007263530A JP 2008057045 A JP2008057045 A JP 2008057045A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- target
- sputtering
- sputtering target
- oxygen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 title claims abstract description 12
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 23
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims abstract description 21
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 claims abstract description 9
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 28
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 28
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 28
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 5
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims description 4
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 3
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims description 2
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010955 niobium Substances 0.000 claims description 2
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 2
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 70
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 33
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 abstract description 13
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 abstract description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 abstract description 4
- 238000007731 hot pressing Methods 0.000 abstract description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 13
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 9
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- KELHQGOVULCJSG-UHFFFAOYSA-N n,n-dimethyl-1-(5-methylfuran-2-yl)ethane-1,2-diamine Chemical group CN(C)C(CN)C1=CC=C(C)O1 KELHQGOVULCJSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 6
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 4
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000011812 mixed powder Substances 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N Trioxochromium Chemical compound O=[Cr](=O)=O WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DUSBUJMVTRZABV-UHFFFAOYSA-M [O-2].O[Nb+4].[O-2] Chemical compound [O-2].O[Nb+4].[O-2] DUSBUJMVTRZABV-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 239000005328 architectural glass Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- CETPSERCERDGAM-UHFFFAOYSA-N ceric oxide Chemical compound O=[Ce]=O CETPSERCERDGAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000422 cerium(IV) oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000423 chromium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
【解決手段】主成分がTiOX (1<X<2)で、かつ、室温での比抵抗が0.65Ωcm以下であり、二酸化チタン粉末を非酸化雰囲気でホットプレスして焼結することにより形成される酸化物焼結体スパッタリングターゲット。
【選択図】なし
Description
本発明のターゲットにおいて、上記の酸化チタンにチタン以外の金属酸化物を50重量%未満を加えることにより、高速成膜を維持したまま、屈折率、機械的特性、化学的特性などの膜質を改善できる。
市販されている高純度のTiO2 粉末を準備し、カーボン製のホットプレス用型に充填し、アルゴン雰囲気中1100℃〜1400℃で1時間保持の条件でホットプレスを行った。このときのホットプレス圧力は50kg/cm2 とした。得られた焼結体の密度、比抵抗を測定した。また、得られた焼結体をメノウ乳鉢で粉砕し、空気中で1100℃に加熱し、その重量増加を測定した。この空気中での加熱後には粉末が完全に酸化したTiO2 になっているとして、その重量増加分から、ホットプレス後の焼結体の酸素量を求めた。これらの結果を表1に示す。
また、1200℃でホットプレスした焼結体を直径6インチ、厚さ5mmの寸法に機械加工し、ターゲットを作製した。ターゲットは銅製のバッキングプレートにメタルボンディングで接着して用いた。
市販されている高純度のTiO2 粉末と添加物としてCr2 O3 粉末、CeO2 粉末、Nb2 O5 粉末、Al2 O3 粉末,SiO2 粉末、を準備し、Cr2 O3 粉末、CeO2 粉末、Nb2 O5 粉末がそれぞれ20重量%、またAl2 O3 粉末,SiO2 粉末がそれぞれ5重量%になるように、TiO2 粉末とボールミルで混合した。これら3種類の混合粉末をカーボン製のホットプレス用型に充填し、アルゴン雰囲気中1200℃で1時間保持の条件でホットプレスを行った。このときのホットプレス圧力は50kg/cm2 とした。得られた焼結体の密度、比抵抗を測定した。これらの結果を表3に示す。
また、これらのターゲットとなる焼結体の一部を酸溶解あるいはアルカリ溶融して、水溶液を調製し、ICP装置で焼結体の組成を分析した結果、混合粉末の仕込組成と焼結体の組成はほぼ一致していることを確認している。
つぎに、このターゲットをマグネトロンスパッタリング装置に取り付けて、TiO2 膜の成膜を行った。このときの条件は投入電力:DC1kW、背圧:1×10-5Torr、スパッタリング圧力:2×10-3Torrで行った。スパッタリングガスには、アルゴンまたはアルゴンと酸素の混合ガスを用いた。基板にはソーダライムガラスを用いた。また、基板に対する意図的な加熱は特に行わなかった。膜厚はおよそ100nmとなるように行った。スパッタリング中の放電はきわめて安定しておりDCスパッタリングでも安定して成膜ができた。成膜後、膜厚を触針式の膜厚測定装置を用いて測定した。さらに、エリプソメーターで膜の屈折率を測定した。表4に、成膜速度および膜の屈折率を示す。また、得られた膜はすべて透明で膜の光吸収は無かった。
表3、表4の結果から明らかなように、本発明のターゲットを用いることにより高屈折率を有する透明なTiO2 膜が高速で成膜できた。
Claims (3)
- 主成分がTiOXである酸化物焼結体スパッタリングターゲットにおいて、室温での比抵抗値が0.65Ωcm以下であり、Xが1<X<2の範囲であり、かつ、酸素含有量が35重量%以上であり、二酸化チタン粉末を焼結することにより形成されることを特徴とする酸化物焼結体スパッタリングターゲット。
- TiOX以外の金属酸化物を50重量%未満を含む請求項1記載の酸化物焼結体スパッタリングターゲット。
- 前記金属酸化物が、クロム、セリウム、ジルコニウム、イットリウム、ニオブ、タンタル、珪素、アルミニウム、およびホウ素からなる群から選ばれる少なくとも1種の酸化物である請求項2記載の酸化物焼結体スパッタリングターゲット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007263530A JP2008057045A (ja) | 2007-10-09 | 2007-10-09 | 酸化物焼結体スパッタリングターゲット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007263530A JP2008057045A (ja) | 2007-10-09 | 2007-10-09 | 酸化物焼結体スパッタリングターゲット |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003287703A Division JP4121022B2 (ja) | 2003-08-06 | 2003-08-06 | ターゲットの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008057045A true JP2008057045A (ja) | 2008-03-13 |
Family
ID=39240135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007263530A Pending JP2008057045A (ja) | 2007-10-09 | 2007-10-09 | 酸化物焼結体スパッタリングターゲット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008057045A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010013309A (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-21 | Shimane Univ | アナターゼ型酸化チタンおよび透明導電薄膜 |
WO2011034132A1 (ja) * | 2009-09-16 | 2011-03-24 | 昭和電工株式会社 | 透明導電膜の製造方法、半導体発光素子の製造方法及び半導体発光素子、ランプ、透明導電性基体の製造方法及び透明導電性基体、並びに、電子機器 |
JP2012036433A (ja) * | 2010-08-05 | 2012-02-23 | Mitsubishi Materials Corp | BiTi系酸化物スパッタリングターゲットおよびその製造方法 |
CN109503149A (zh) * | 2018-11-27 | 2019-03-22 | 北京富兴凯永兴光电技术有限公司 | 一种高折射率光学镀膜材料及制备方法、光学增透膜 |
CN111205085A (zh) * | 2020-02-03 | 2020-05-29 | 河南理工大学 | 一种超高介电常数低介电损耗的二氧化钛基陶瓷的制备方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5556065A (en) * | 1978-10-16 | 1980-04-24 | Sumitomo Electric Industries | Heating ceramic electrode and its manufacture |
JPS5740901A (en) * | 1980-08-25 | 1982-03-06 | Chichibu Cement Kk | Moisture sensor element |
JPH04141577A (ja) * | 1990-09-29 | 1992-05-15 | Murata Mfg Co Ltd | 酸化チタン半導体薄膜の製造方法 |
-
2007
- 2007-10-09 JP JP2007263530A patent/JP2008057045A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5556065A (en) * | 1978-10-16 | 1980-04-24 | Sumitomo Electric Industries | Heating ceramic electrode and its manufacture |
JPS5740901A (en) * | 1980-08-25 | 1982-03-06 | Chichibu Cement Kk | Moisture sensor element |
JPH04141577A (ja) * | 1990-09-29 | 1992-05-15 | Murata Mfg Co Ltd | 酸化チタン半導体薄膜の製造方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010013309A (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-21 | Shimane Univ | アナターゼ型酸化チタンおよび透明導電薄膜 |
WO2011034132A1 (ja) * | 2009-09-16 | 2011-03-24 | 昭和電工株式会社 | 透明導電膜の製造方法、半導体発光素子の製造方法及び半導体発光素子、ランプ、透明導電性基体の製造方法及び透明導電性基体、並びに、電子機器 |
JP2012036433A (ja) * | 2010-08-05 | 2012-02-23 | Mitsubishi Materials Corp | BiTi系酸化物スパッタリングターゲットおよびその製造方法 |
CN109503149A (zh) * | 2018-11-27 | 2019-03-22 | 北京富兴凯永兴光电技术有限公司 | 一种高折射率光学镀膜材料及制备方法、光学增透膜 |
CN111205085A (zh) * | 2020-02-03 | 2020-05-29 | 河南理工大学 | 一种超高介电常数低介电损耗的二氧化钛基陶瓷的制备方法 |
CN111205085B (zh) * | 2020-02-03 | 2021-07-27 | 河南理工大学 | 一种超高介电常数低介电损耗的二氧化钛基陶瓷的制备方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3836163B2 (ja) | 高屈折率膜の形成方法 | |
US6193856B1 (en) | Target and process for its production, and method for forming a film having a highly refractive index | |
JP2007314892A (ja) | スパッタリングターゲットとその製造方法 | |
JP5170009B2 (ja) | 酸化インジウム系スパッタリングターゲットおよびその製造方法 | |
JP3806521B2 (ja) | 透明導電膜、スパッタリングターゲットおよび透明導電膜付き基体 | |
JP4670097B2 (ja) | ターゲットおよび該ターゲットによる高屈折率膜の製造方法 | |
JP2008057045A (ja) | 酸化物焼結体スパッタリングターゲット | |
WO2016136855A1 (ja) | 酸化物焼結体、酸化物スパッタリングターゲット及び酸化物薄膜 | |
JP2007314812A (ja) | スパッタリングターゲットおよび成膜方法 | |
JP4791825B2 (ja) | スパッタリングターゲットとそれを用いたSi酸化膜およびその製造方法、ディスプレイ装置 | |
JP4121022B2 (ja) | ターゲットの製造方法 | |
JP2007131891A (ja) | SnO2系スパッタリングターゲットおよびその製造方法 | |
JP6149804B2 (ja) | 酸化物焼結体及びその製造方法 | |
CN110418857A (zh) | 一种圆柱形氧化钛溅射靶及其制备方法 | |
JPH08283935A (ja) | ターゲットおよび該ターゲットによる高屈折率膜の製造方法 | |
JP2006193804A (ja) | スパッタリング用ターゲット、それを用いて形成した誘電体膜およびその製造方法 | |
JP4763962B2 (ja) | 酸化膜形成用スパッタリングターゲットとそれを用いた酸化膜の製造方法 | |
JP2015003846A (ja) | 酸化物焼結体及びその製造方法、並びに酸化物膜 | |
JP2005068507A (ja) | 酸化膜形成用スパッタリングターゲットとそれを用いた酸化膜の製造方法 | |
JP5035060B2 (ja) | 高密度および低比抵抗を有する酸化チタンターゲットの製造方法 | |
JP2005133105A (ja) | 高屈折率膜形成用のスパッタリングターゲットとその製造方法 | |
JP2015074789A (ja) | 酸化ニオブ系スパッタリングターゲット及びその製造方法 | |
JP2015042773A (ja) | 蒸着用タブレット及びその製造方法、並びに酸化物膜 | |
JPH0770743A (ja) | 紫外線カット膜とその成膜用ターゲットおよびその製造方法 | |
JP2005220428A (ja) | スパッタリングターゲットおよびそれを用いた酸化膜の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20090930 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20091002 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100326 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100518 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20101026 |