JP2008047885A - 静電チャックヒータ - Google Patents
静電チャックヒータ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008047885A JP2008047885A JP2007184677A JP2007184677A JP2008047885A JP 2008047885 A JP2008047885 A JP 2008047885A JP 2007184677 A JP2007184677 A JP 2007184677A JP 2007184677 A JP2007184677 A JP 2007184677A JP 2008047885 A JP2008047885 A JP 2008047885A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- heater
- substrate
- electrostatic
- sintered body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6831—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using electrostatic chucks
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/01—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics
- C04B35/10—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on aluminium oxide
- C04B35/111—Fine ceramics
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/622—Forming processes; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/64—Burning or sintering processes
- C04B35/645—Pressure sintering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67103—Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/65—Aspects relating to heat treatments of ceramic bodies such as green ceramics or pre-sintered ceramics, e.g. burning, sintering or melting processes
- C04B2235/66—Specific sintering techniques, e.g. centrifugal sintering
- C04B2235/661—Multi-step sintering
- C04B2235/662—Annealing after sintering
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/70—Aspects relating to sintered or melt-casted ceramic products
- C04B2235/72—Products characterised by the absence or the low content of specific components, e.g. alkali metal free alumina ceramics
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/70—Aspects relating to sintered or melt-casted ceramic products
- C04B2235/72—Products characterised by the absence or the low content of specific components, e.g. alkali metal free alumina ceramics
- C04B2235/721—Carbon content
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/70—Aspects relating to sintered or melt-casted ceramic products
- C04B2235/74—Physical characteristics
- C04B2235/77—Density
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
【解決手段】
アルミナ焼結体41の上面及び下面に、バインダを含む導電性ペースト43,45を塗布して静電電極及びヒータ電極をそれぞれ印刷したのち、このアルミナ焼結体41に仮焼を施し、静電電極の上にアルミナ粉体49を配置し、ヒータ電極の下側にアルミナ粉体47を配置した状態で、これらのアルミナ粉体47,49及びアルミナ焼結体41を加圧成形して加圧焼成を施すことにより、基体を形成してなる静電チャックヒータである。誘電体層中の静電電極近傍における導電性物質の拡散面積率は、0.25%以下に設定されている。
【選択図】図3
Description
図1は本発明の実施形態による静電チャックヒータを示す平面図、図2は図1のA−A線による断面図である。
前記基体3は、図1及び図2に示すように略円盤状に形成されており、基体3の上面(表面)は、ウエハ等の基板が載置される基板載置面9に形成されている。
図1,2に示すように、基体3の上部側には、基体3の外径よりも径の小さい円板状の静電電極5が埋設されている。この静電電極5は、タングステン又はタングステンカーバイドを含んでいる。静電電極5は、導電性物質であるタングステンの金属粉末、もしくは炭化物を含む導電性ペーストを印刷して形成することができる。静電電極5の形状は、円板に限定されず、メッシュ状、櫛形状、円形状等に形成しても良い。なお、誘電体層11中における静電電極5の近傍では、後述するように、静電電極5に含まれる導電性物質(例えば、タングステン又はタングステンカーバイド)の粒子の拡散面積率が0.25%以下となっている。
ヒータ電極7も、導電性ペーストを塗布して印刷したものを用いることができる。導電性ペーストは、タングステン、もしくはタングステンカーバイドの粉末とバインダーとを含む。
本実施形態による静電チャックヒータを製造する手順を図3を用いて説明する。
まず、図3(a)に示すように、基体3の基板層29となるアルミナ焼結体41を作製し、該アルミナ焼結体41の表面(上面)及び裏面(下面)に導電性ペースト43,45を塗布することにより、アルミナ焼結体41の表面には静電電極5を形成し、裏面にはヒータ電極7を形成する。
アルミナ粉体の作成方法は、例えば以下のとおりである。セラミックス原料粉として、高い純度(例えば99.7%)のアルミナ粉末と焼結助剤であるMgO原料粉とを使用する。このセラミックス原料粉にバインダであるポリビニルアルコール(PVA)、水、及び分散剤などを添加し、トロンメルで所定時間(例えば、16時間)混合し、スラリーを作製する。ここで、PVAの混合量は例えば2wt%である。得られたスラリーをスプレードライヤを用いて噴霧乾燥し、造粒したアルミナ粉体を得る。
まず、実施例1として、アルミナ焼結体の両面に静電電極及びヒータ電極を形成し、このアルミナ焼結体の両面側にアルミナ粉体を配置し、これらのアルミナ粉体及びアルミナ焼結体を加圧して焼成した。以下、表1を参照しながら詳細に説明する。
まず、基板層29となるアルミナ焼結体を作製した。アルミナ焼結体中の炭素含有量は0.1wt%以下とした。また、相対密度は98%以上、純度は95%以上であった。なお、焼結する際には、常圧でもホットプレスを用いても良いが、本実施例ではホットプレスを用いてアルミナ焼結体を作製した。
本発明例2は、前述した本発明例1の基体に対して、前記仮焼の温度を、1000℃に変えており、この仮焼の温度以外は、本発明例1と同一の条件及び方法にて作製した。
まず、誘電体層となるアルミナ焼結体をホットプレスを用いて作製した。このアルミナ焼結体中の炭素含有量は、0.1wt%以下とした。また、相対密度は98%以上とし、純度は95%以上とした。
比較例2は、前述した比較例1に対して、アルミナ焼結体同士の間にグリーンシートを挟持する点が異なるが、他は比較例1と同一の条件及び方法によって作製した。
比較例3は、前述した本発明例1に対して、静電電極及びヒータ電極を形成したアルミナ焼結体に仮焼を施す工程を省略した点が異なるが、その他は本発明例1と同一の条件及び方法を採用した。
前述した本発明例2と比較例1におけるタングステンカーバイド粒子の拡散度合いを比較した。図4は、本発明例2による誘電体層と基板層との境界近傍における倍率が150倍の電子顕微鏡写真(SEM写真)である。また、図5は、比較例1による誘電体層と基板層との境界近傍における倍率が150倍の電子顕微鏡写真(SEM写真)である。
実施例2においては、実施例1における本発明例1のアルミナ焼結体に対して、仮焼温度を適宜変更した。具体的には、下記表2に示すように、仮焼温度を、室温(即ち、焼成をほどこさない)、300℃、400℃、450℃及び1000℃とした場合における、WC粒子の拡散距離などを測定した。誘電体層の厚さは、0.4mmであった。
これらの図8,9及び表2によれば、静電電極の焼成温度を450〜1000℃に設定することにより、タングステンカーバイド粒子の拡散面積率を小さくし、かつ、基板の脱着時間も短縮できることが判明した。
3…基体
5…静電電極
9…基板載置面(基体上面)
11…誘電体層
23…下面(基体下面)
29…基板層
31…支持層
41…アルミナ焼結体
47,49…アルミナ粉体
Claims (4)
- アルミナ焼結体からなる基体と、該基体の上部側に埋設され、導電性物質を含む静電電極と、基体の下部側に埋設され、導電性物質を含むヒータ電極とを備え、
前記基体は、静電電極から基体上面までの誘電体層と、静電電極からヒータ電極までの基板層と、ヒータ電極から基体下面までの支持層とから構成され、
前記基板層となるアルミナ焼結体の上面に、バインダを含む導電性ペーストを塗布して静電電極を印刷するとともに、前記アルミナ焼結体の下面に、バインダを含む導電性ペーストを塗布してヒータ電極を印刷し、このアルミナ焼結体に仮焼を施した後、静電電極の上側及びヒータ電極の下側にアルミナ粉体を配置した状態で、これらのアルミナ粉体及びアルミナ焼結体を加圧成形して加圧焼成を施すことにより、前記誘電体層中の静電電極近傍における前記導電性物質の拡散面積率を0.25%以下に設定したことを特徴とする静電チャックヒータ。 - 前記基板層となるアルミナ焼結体の仮焼温度を、450℃以上に設定したことを特徴とする請求項1に記載の静電チャックヒータ。
- 前記静電電極中の導電性物質を、タングステン金属、又はタングステンカーバイドにしたことを特徴とする請求項1又は2に記載の静電チャックヒータ。
- 前記ヒータ電極中の導電性物質を、タングステン金属、又はタングステンカーバイドにしたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の静電チャックヒータ。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007184677A JP4762208B2 (ja) | 2006-07-19 | 2007-07-13 | 静電チャックヒータ |
US11/879,740 US8008602B2 (en) | 2006-07-19 | 2007-07-18 | Electrostatic chuck heater |
EP13163562.5A EP2615626A1 (en) | 2006-07-19 | 2007-07-19 | Electrostatic chuck heater |
EP07252863.1A EP1881519B1 (en) | 2006-07-19 | 2007-07-19 | Electrostatic chuck heater |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006196801 | 2006-07-19 | ||
JP2006196801 | 2006-07-19 | ||
JP2007184677A JP4762208B2 (ja) | 2006-07-19 | 2007-07-13 | 静電チャックヒータ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008047885A true JP2008047885A (ja) | 2008-02-28 |
JP4762208B2 JP4762208B2 (ja) | 2011-08-31 |
Family
ID=38434465
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007184677A Active JP4762208B2 (ja) | 2006-07-19 | 2007-07-13 | 静電チャックヒータ |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8008602B2 (ja) |
EP (2) | EP1881519B1 (ja) |
JP (1) | JP4762208B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012209499A (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-25 | Ngk Insulators Ltd | 静電チャックの製法及び静電チャック |
JP2013258429A (ja) * | 2013-09-05 | 2013-12-26 | Ngk Insulators Ltd | 静電チャック |
JP2014067834A (ja) * | 2012-09-25 | 2014-04-17 | Taiheiyo Cement Corp | 静電チャックおよびその製造方法 |
KR20140094450A (ko) * | 2013-01-21 | 2014-07-30 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 접착 방법, 재치대 및 기판 처리 장치 |
US9394206B2 (en) | 2011-03-30 | 2016-07-19 | Ngk Insulators, Ltd. | Method for producing electrostatic chuck and electrostatic chuck |
WO2022072382A1 (en) * | 2020-09-29 | 2022-04-07 | Lam Research Corporation | Coated conductor for heater embedded in ceramic |
JP2023518438A (ja) * | 2020-03-27 | 2023-05-01 | 烟台睿瓷新材料技術有限公司 | 多層複合セラミックスプレート及びその製造方法 |
JP7573641B2 (ja) | 2020-03-27 | 2024-10-25 | 烟台睿瓷新材料技術有限公司 | 多層複合セラミックスプレート及びその製造方法 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU2015203195B2 (en) * | 2011-08-30 | 2017-04-13 | Watlow Electric Manufacturing Company | System and method for controlling a thermal array |
AU2015203212C1 (en) * | 2011-08-30 | 2017-07-06 | Watlow Electric Manufacturing Company | System and method for controlling a thermal array |
JP6283532B2 (ja) * | 2014-02-26 | 2018-02-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 静電チャックの製造方法 |
CN108535620A (zh) * | 2017-03-02 | 2018-09-14 | 叶秀慧 | 应用静电载具测试半导体制品的机构 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08205568A (ja) * | 1995-01-26 | 1996-08-09 | Nippon Cement Co Ltd | 静電チャック及びその製造方法 |
JPH09213455A (ja) * | 1996-02-05 | 1997-08-15 | Kyocera Corp | ウエハ保持装置の給電構造 |
JP2005343733A (ja) * | 2004-06-02 | 2005-12-15 | Ngk Insulators Ltd | 電極内蔵焼結体の製造方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3746594B2 (ja) * | 1997-06-20 | 2006-02-15 | 日本碍子株式会社 | セラミックスの接合構造およびその製造方法 |
JP3273773B2 (ja) * | 1999-08-12 | 2002-04-15 | イビデン株式会社 | 半導体製造・検査装置用セラミックヒータ、半導体製造・検査装置用静電チャックおよびウエハプローバ用チャックトップ |
WO2001041508A1 (fr) * | 1999-11-30 | 2001-06-07 | Ibiden Co., Ltd. | Appareil chauffant en ceramique |
JP2002057207A (ja) | 2000-01-20 | 2002-02-22 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体製造装置用ウェハ保持体およびその製造方法ならびに半導体製造装置 |
EP1211725A4 (en) * | 2000-05-10 | 2003-02-26 | Ibiden Co Ltd | ELECTROSTATIC CHUCK |
EP1248293A1 (en) * | 2000-07-25 | 2002-10-09 | Ibiden Co., Ltd. | Ceramic substrate for semiconductor manufacture/inspection apparatus, ceramic heater, electrostatic clampless holder, and substrate for wafer prober |
JP4467453B2 (ja) * | 2004-09-30 | 2010-05-26 | 日本碍子株式会社 | セラミックス部材及びその製造方法 |
JP4542485B2 (ja) * | 2004-12-14 | 2010-09-15 | 日本碍子株式会社 | アルミナ部材及びその製造方法 |
-
2007
- 2007-07-13 JP JP2007184677A patent/JP4762208B2/ja active Active
- 2007-07-18 US US11/879,740 patent/US8008602B2/en active Active
- 2007-07-19 EP EP07252863.1A patent/EP1881519B1/en not_active Ceased
- 2007-07-19 EP EP13163562.5A patent/EP2615626A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08205568A (ja) * | 1995-01-26 | 1996-08-09 | Nippon Cement Co Ltd | 静電チャック及びその製造方法 |
JPH09213455A (ja) * | 1996-02-05 | 1997-08-15 | Kyocera Corp | ウエハ保持装置の給電構造 |
JP2005343733A (ja) * | 2004-06-02 | 2005-12-15 | Ngk Insulators Ltd | 電極内蔵焼結体の製造方法 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9394206B2 (en) | 2011-03-30 | 2016-07-19 | Ngk Insulators, Ltd. | Method for producing electrostatic chuck and electrostatic chuck |
KR20180086395A (ko) | 2011-03-30 | 2018-07-31 | 엔지케이 인슐레이터 엘티디 | 정전 척의 제법 및 정전 척 |
US9650302B2 (en) | 2011-03-30 | 2017-05-16 | Ngk Insulators, Ltd. | Method for producing electrostatic chuck and electrostatic chuck |
JP2012209499A (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-25 | Ngk Insulators Ltd | 静電チャックの製法及び静電チャック |
JP2014067834A (ja) * | 2012-09-25 | 2014-04-17 | Taiheiyo Cement Corp | 静電チャックおよびその製造方法 |
US9520814B2 (en) | 2013-01-21 | 2016-12-13 | Tokyo Electron Limited | Bonding method, mounting table and substrate processing apparatus |
JP2014139989A (ja) * | 2013-01-21 | 2014-07-31 | Tokyo Electron Ltd | 接着方法、載置台及び基板処理装置 |
KR20140094450A (ko) * | 2013-01-21 | 2014-07-30 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 접착 방법, 재치대 및 기판 처리 장치 |
KR102176724B1 (ko) * | 2013-01-21 | 2020-11-09 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 접착 방법, 재치대 및 기판 처리 장치 |
JP2013258429A (ja) * | 2013-09-05 | 2013-12-26 | Ngk Insulators Ltd | 静電チャック |
JP2023518438A (ja) * | 2020-03-27 | 2023-05-01 | 烟台睿瓷新材料技術有限公司 | 多層複合セラミックスプレート及びその製造方法 |
JP7573641B2 (ja) | 2020-03-27 | 2024-10-25 | 烟台睿瓷新材料技術有限公司 | 多層複合セラミックスプレート及びその製造方法 |
WO2022072382A1 (en) * | 2020-09-29 | 2022-04-07 | Lam Research Corporation | Coated conductor for heater embedded in ceramic |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080047952A1 (en) | 2008-02-28 |
JP4762208B2 (ja) | 2011-08-31 |
US8008602B2 (en) | 2011-08-30 |
EP2615626A1 (en) | 2013-07-17 |
EP1881519B1 (en) | 2016-10-26 |
EP1881519A3 (en) | 2010-04-21 |
EP1881519A2 (en) | 2008-01-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4762208B2 (ja) | 静電チャックヒータ | |
JP4394667B2 (ja) | ヒータ付き静電チャックの製造方法 | |
KR20110030364A (ko) | 정전 척 및 그 제조 방법 | |
JP2008135737A (ja) | 静電チャック及び静電チャックの製造方法 | |
KR100890414B1 (ko) | 히터 부착 정전척 | |
KR100883155B1 (ko) | 정전척 히터 | |
US7633738B2 (en) | Electrostatic chuck and manufacturing method thereof | |
JP4483161B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結体、メタライズ基板、ヒータ、治具および窒化アルミニウム焼結体の製造方法 | |
KR102655140B1 (ko) | 복합 소결체, 반도체 제조 장치 부재 및 복합 소결체의 제조 방법 | |
JP2003188247A (ja) | 静電チャック及びその製造方法 | |
JP2004146567A (ja) | 半導体製造装置用セラミックスヒーター | |
JP4439102B2 (ja) | 静電チャック | |
JP2001319967A (ja) | セラミック基板の製造方法 | |
JP4597253B2 (ja) | ヒータ付き静電チャック | |
JP4522963B2 (ja) | 加熱装置 | |
JP2002134600A (ja) | 静電チャック | |
JP2001332560A (ja) | 半導体製造・検査装置 | |
JP2023149341A (ja) | 電極埋設部材、および基板保持部材 | |
JP2001338747A (ja) | 半導体製造・検査装置用セラミックヒータ | |
JP2023169797A (ja) | 電極埋設部材、および基板保持部材 | |
JP2004311447A (ja) | セラミックヒータ | |
JP2002033377A (ja) | 静電チャック | |
JP2003031457A (ja) | 半導体製造・検査装置用ホットプレートユニット | |
JP2003234165A (ja) | セラミックヒータ | |
JP2002015841A (ja) | セラミックヒータ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20090629 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20090715 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100521 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110519 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110531 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110607 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140617 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4762208 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |