JP2008032616A - 光ファイバ特性測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光ファイバ特定測定装置10は、パルス状のプローブ光L1′を被測定光ファイバ30に入射させて得られるブリルアン散乱光L3を受光するフォトダイオード16と、フォトダイオード16から出力される受光信号を分岐する分岐回路18と、分岐回路18で分岐される受光信号の各々に対して設けられ、受光信号に含まれる周波数成分のうち、それぞれ異なる特定の周波数成分を測定する複数の周波数測定部19a〜19nと、周波数測定部19a〜19nの各々で測定された周波数成分に対して所定の演算を行って被測定光ファイバ30の特性を求める演算部20とを備える。
【選択図】図1
Description
内山 晴義、他2名、"新検波方式を用いた光ファイバ歪み分布測定器の製品化"、ANDO技報、Oct.2002、p.53−61
この発明によると、フォトダイオードでブリルアン散乱光を受光して得られた受光信号は分岐回路で分岐されて周波数測定部の各々に入力され、周波数測定部の各々で受光信号に含まれる周波数成分のうち、それぞれ異なる特定の周波数成分が測定される。周波数測定部の各々で測定された周波数成分は演算部で所定の演算が行われ、これにより被測定光ファイバの特性が求められる。
また、本発明の光ファイバ特性測定装置は、前記演算部で求められた前記被測定光ファイバの特性を表示する表示部(21)を備えることを特徴としている。
また、本発明の光ファイバ特性測定装置は、前記周波数測定部が、入力される信号の周波数と同一周波数の周波数成分を抽出する抽出器(22a〜22n、23a〜23n,25)をそれぞれ備えることを特徴としている。
ここで、前記周波数測定部は、前記周波数測定部間で周波数がそれぞれ異なっており、前記抽出器に入力させる信号を出力する発振器(23a〜23n)をそれぞれ備えることを特徴としている。
また、本発明の光ファイバ特性測定装置は、前記演算部が、求めた前記被測定光ファイバの特性に応じて、前記周波数測定部の各々に設けられる前記発振器から出力される信号の周波数を変更させることを特徴としている。
或いは、本発明の光ファイバ特性測定装置は、所定の第1周波数を有する信号を出力する第1発振器(42)と、所定の第2周波数を有する信号を出力する第2発振器(43)と、前記複数の周波数測定部のうちの第n番目(nは1以上であって前記複数の周波数測定部の数以下の整数)の周波数測定部に設けられた前記抽出器に対し、前記第1周波数から前記第2周波数の(n−1)倍だけ周波数を変化させた信号を入力させる周波数変換装置(44)とを備えることを特徴としている。
ここで、前記周波数変換装置は、前記第1発振器に対して縦続接続されるとともに、各々が前記第2発振器に接続され、各々の出力が第n番目の周波数測定部に設けられた前記抽出器に接続された(n−1)個の演算器(45a〜45n−1)を備えることを特徴としている。
また、本発明の光ファイバ特性測定装置は、前記演算部が、求めた前記被測定光ファイバの特性に応じて、第1発振器及び前記第2発振器の少なくとも一方から出力される信号の周波数を変更させることを特徴としている。
更に、本発明の光ファイバ特性測定装置は、前記受光器と前記分岐回路との間に、前記受光器から出力される前記受光信号の周波数を所定周波数分だけ低減する周波数低減部(51)を備えることを特徴としている。
図1は、本発明の第1実施形態による光ファイバ特性測定装置の要部構成を示す図である。図1に示す通り、本実施形態の光ファイバ特性測定装置10は、光源11、光カプラ12、パルス変調器13、方向性結合器14、光ミキサ15、フォトダイオード16(受光器)、電気増幅器17、分岐回路18、n個(nは2以上の整数)の周波数測定部19a〜19n、演算部20、及び表示部21を備える。
図5は、本発明の第2実施形態による光ファイバ特性測定装置の要部構成を示す図である。尚、図5においては、分岐回路18の前段の構成(光源11〜電気増幅器17)及び、演算部20及び表示部21については図示を省略している。また、図1に示した構成と同一の構成には同一の符号を付している。図5に示す通り、本実施形態の光ファイバ特性測定装置40は、図1に示す周波数測定部19a〜19nに代えて周波数測定部41a〜41nを備えるとともに、メインローカルオシレータ42(第1発振器)、サブローカルオシレータ43(第2発振器)、及び周波数変換装置44を備える。
図6は、本発明の第3実施形態による光ファイバ特性測定装置の要部構成を示す図である。尚、図6においては、図1に示した構成と同一の構成には同一の符号を付してある。図6に示す本発明の第3実施形態による光ファイバ特性測定装置50が図1に示す本発明の第1実施形態による光ファイバ特性測定装置10と異なる点は、電気増幅器17と分岐回路18との間にフォトダイオード16から出力されて電気増幅器17で増幅された電気信号の周波数を所定周波数だけ低減(ダウンコンバート)する周波数低減部51を備える点である。
16 フォトダイオード
18 分岐回路
19a〜19n 周波数測定部
20 演算部
21 表示部
22a〜22n 電気ミキサ
23a〜23n ローカルオシレータ
25 ローパスフィルタ
30 被測定光ファイバ
40 光ファイバ特性測定装置
41a〜41n 周波数測定部
42 メインローカルオシレータ
43 サブローカルオシレータ
44 周波数変換装置
45a〜45n−1 ミキサ
50 光ファイバ特性測定装置
51 周波数低減部
L1′ プローブ光
L3 ブリルアン散乱光
Claims (9)
- パルス光を被測定光ファイバに入射させて得られるブリルアン散乱光を受光して受光信号を出力する受光器を備え、当該受光器から出力される前記受光信号に基づいて前記被測定光ファイバの特性を測定する光ファイバ特性測定装置において、
前記受光器から出力される前記受光信号を分岐する分岐回路と、
前記分岐回路で分岐される受光信号の各々に対して設けられ、前記受光信号に含まれる周波数成分のうち、それぞれ異なる特定の周波数成分を測定する複数の周波数測定部と、
前記周波数測定部の各々で測定された前記周波数成分に対して所定の演算を行って前記被測定光ファイバの特性を求める演算部と
を備えることを特徴とする光ファイバ特性測定装置。 - 前記演算部で求められた前記被測定光ファイバの特性を表示する表示部を備えることを特徴とする請求項1記載の光ファイバ特性測定装置。
- 前記周波数測定部は、入力される信号の周波数と同一周波数の周波数成分を抽出する抽出器をそれぞれ備えることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の光ファイバ特性測定装置。
- 前記周波数測定部は、前記周波数測定部間で周波数がそれぞれ異なっており、前記抽出器に入力させる信号を出力する発振器をそれぞれ備えることを特徴とする請求項3記載の光ファイバ特性測定装置。
- 前記演算部は、求めた前記被測定光ファイバの特性に応じて、前記周波数測定部の各々に設けられる前記発振器から出力される信号の周波数を変更させることを特徴とする請求項4記載の光ファイバ特性測定装置。
- 所定の第1周波数を有する信号を出力する第1発振器と、
所定の第2周波数を有する信号を出力する第2発振器と、
前記複数の周波数測定部のうちの第n番目(nは1以上であって前記複数の周波数測定部の数以下の整数)の周波数測定部に設けられた前記抽出器に対し、前記第1周波数から前記第2周波数の(n−1)倍だけ周波数を変化させた信号を入力させる周波数変換装置と
を備えることを特徴とする請求項3記載の光ファイバ特性測定装置。 - 前記周波数変換装置は、前記第1発振器に対して縦続接続されるとともに、各々が前記第2発振器に接続され、各々の出力が第n番目の周波数測定部に設けられた前記抽出器に接続された(n−1)個の演算器を備えることを特徴とする請求項6記載の光ファイバ特性測定装置。
- 前記演算部は、求めた前記被測定光ファイバの特性に応じて、第1発振器及び前記第2発振器の少なくとも一方から出力される信号の周波数を変更させることを特徴とする請求項6又は請求項7記載の光ファイバ特性測定装置。
- 前記受光器と前記分岐回路との間に、前記受光器から出力される前記受光信号の周波数を所定周波数分だけ低減する周波数低減部を備えることを特徴とする請求項1から請求項8の何れか一項に記載の光ファイバ特性測定装置。
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