JP2007322125A - 磁気インピーダンス効果センサ及び外部磁界の検出方法 - Google Patents
磁気インピーダンス効果センサ及び外部磁界の検出方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007322125A JP2007322125A JP2006149097A JP2006149097A JP2007322125A JP 2007322125 A JP2007322125 A JP 2007322125A JP 2006149097 A JP2006149097 A JP 2006149097A JP 2006149097 A JP2006149097 A JP 2006149097A JP 2007322125 A JP2007322125 A JP 2007322125A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- external magnetic
- magneto
- impedance effect
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
【解決手段】外部磁界作用下での磁気インピーダンス効果素子1の端子電圧を検波器3で復調する。その検波出力を演算増幅器4で増幅する。5は出力端である。 6は負帰還コイル、7は制御コイルである。 70は演算増回路4の出力から特定周波数成分を取り出して、制御コイル7にフィードバックさせるフィルタであり、特定の周波数の外部磁界成分を打ち消す磁界を作用させ、かかる打消しのもとでの検波出力を検出出力とする。
【選択図】図1−1
Description
かかる零磁歪乃至は負磁歪のアモルファス磁性ワイヤに高周波電流を流したときに発生するワイヤ両端間出力電圧中のインダクタンス電圧分は、ワイヤの横断面内に生じる円周方向磁束によって上記の円周方向に易磁化性の外殻部が円周方向に磁化されることに起因して発生する。従って、周方向透磁率μθは同外殻部の円周方向の磁化に依存する。
而るに、この通電中のアモルファスワイヤに外部磁界を作用させると、上記通電による円周方向磁束と外部磁束との合成により、上記円周方向に易磁化性を有する外殻部に作用する磁束の方向が円周方向からずれ、それだけ円周方向への磁化が生じ難くなり、上記周方向透磁率μθが変化し、上記インダクタンス電圧分が変動することになる。
而して、この変動現象が磁気インダクタンス効果と称され、この効果を奏するアモルファスワイヤ等が磁気インダクタンス効果素子と称されている。
而して、この変動現象が磁気インピーダンス効果と称され、この効果を奏するアモルファスワイヤ等が磁気インピーダンス効果素子と称されている。
図7の(イ)は磁気インピーダンス効果素子に加えられる被検出磁界Hexを、(ロ)は磁気インピーダンス効果素子に流される高周波励磁電流波(搬送波)Icを、(ハ)は磁気インピーダンス効果素子端の出力としての変調波を、(ニ)は変調波の整流波を、(ホ)は整流波の包絡線波をそれぞれ示し、(ニ)と(ホ)とで復調・検波が行われている。
そこで、図6の回路において、6’で示す負帰還用コイルで負帰還をかけて図2の(ロ)に示すように特性を直線化することが行われている。
更に、図2の(ハ)に示すように、図2の(ロ)の特性をバイアス磁界により矢印方向に移動させ、被検出磁界の最大範囲−Hmax〜+Hmaxを単斜線領域Δwの範囲内に納めて極性判別を可能とすることも行われている。
そこで、磁気インピーダンス効果素子に制御コイルを付設し、検出出力を制御コイルにフィードバックして外部磁界を打ち消すようにそのフィードバック電流Iを調整し、その電流値Iから外部磁界を評価することが知られている(例えば、特許文献3、特許文献4参照)。
すなわち、外部磁界が実質的に0のときの検出出力をΔE0とし、この検出出力により制御コイルに流れる電流をIとすると、この電流による制御コイルの発生磁界で外部磁界を打ち消すように、即ち磁気インピーダンス効果素子の軸方向に作用する外部磁界をほぼ打ち消し検出出力をΔE0とするように前記電流Iを制御し、その制御された電流値から外部磁界を求めることが知られている(以下、外部磁界打消法という)。
しかしながら、前記の外部磁界打消法では、反転や飽和を防止し得ても、検出出力から商用周波数の磁界ノイズの影響を排除し得ず、適確な診断が期待できない。更に、地磁気等のノイズやオペアンプの温度等によるパラメータ変動に起因するオフセット変化の影響も除去できない。
請求項2に係る外部磁界の検出方法は、請求項1の外部磁界の検出方法において、特定周波数の外部磁界成分が商用周波数の外部磁界成分であることを特徴とする。
請求項3に係る外部磁界の検出方法は、請求項1の外部磁界の検出方法において、特定周波数の外部磁界成分が直流の外部磁界成分であることを特徴とする。
請求項4に係る磁気インピーダンス効果センサは、制御コイルを付設した磁気インピーダンス効果素子と、磁気インピーダンス効果素子に励磁電流を通電する励磁電流源と、磁気インピーダンス効果素子の端子出力を検波する検波回路と、検波出力を増幅する演算増幅回路と、該増幅回路の出力に対する検出端と、増幅回路の出力から特定周波数の成分を取り出すフィルターとを備え、磁気インピーダンス効果素子に加わる外部磁界中の特定周波数の外部磁界成分を打ち消す打消磁界を制御するための手段を前記フィルターの出力端と前記制御コイルとの間に設けたことを特徴とする。
請求項5に係る磁気インピーダンス効果センサは、請求項4記載の磁気インピーダンス効果センサにおいて、磁気インピーダンス効果素子に加わる外部磁界に対するバイアス磁界を設定する手段を前記フィルターの出力端と前記制御コイルとの間に付設したことを特徴とする。
請求項6に係る磁気インピーダンス効果センサは、請求項4または5の磁気インピーダンス効果センサにおいて、磁気インピーダンス効果素子に負帰還用コイルを付設し、演算増幅回路の出力を負帰還用コイルに負帰還させる負帰還回路を付加したことを特徴とする。
請求項7に係る外部磁界の検出方法は、請求項4〜5何れかの磁気インピーダンス効果センサを使用して外部磁界を検出する方法であり、フィルターの通過特定周波数を変え、各特定周波数において外部磁界の打消を行っている状況でのフィルター出力を測定し、各特定周波数における前記測定値から外部磁界の周波数スペクトラムを得ることを特徴とする。
(2)地磁気等の磁界ノイズのために外部磁界Hexが図2の(ハ)に示す磁気インピーダンス効果特性において最大検出磁界±Hmaxを越える場合でも、請求項1、3によれば直流を特定周波数成分とすることにより、地磁気等の直流磁界ノイズを充分に除去して外部磁界を±Hmaxの範囲内に納めて検出出力の反転や飽和の発生なく外部磁界を検出できる。
(3)請求項4〜6の磁気インピーダンス効果よれば、直流外部磁界についての磁気インピーダンス効果特性における直流外部磁界が充分に小さい値ΔHdcでの磁気インピーダンス効果出力をΔEdcとすると、検出出力中の直流分をΔEdcとするようにフィードバックをかけることができるから、地磁気等の磁界ノイズの実質的な除去にとどまらず、演算増幅回路等の温度によるパラメータ変化に起因するオフセット変化の影響も排除できる。
図1−1は本発明において使用される磁気インピーダンス効果センサの一実施例の回路図を示している。
図1−1において、1は磁気インピーダンス効果素子であり、自発磁化の方向がワイヤ周方向に対し互いに逆方向の磁区が交互に磁壁で隔てられた構成の外殻部を有する、零磁歪乃至は負磁歪のアモルファス合金ワイヤが使用される。かかる零磁歪乃至は負磁歪のアモルファス磁性ワイヤに高周波励磁電流を流したときに発生するワイヤ両端間出力電圧中のインダクタンス電圧分は、ワイヤの横断面内に生じる円周方向磁束によって上記の円周方向に易磁化性の外殻部が円周方向に磁化されることに起因して発生する。従って、周方向透磁率μθは同外殻部の円周方向の磁化に依存する。而るに、この通電中のアモルファスワイヤの軸方向に信号磁界を作用させると、上記通電による円周方向磁束と信号磁界磁束との合成により、上記円周方向に易磁化性を有する外殻部に作用する磁束の方向が円周方向からずれ、それだけ円周方向への磁化が生じ難くなり、上記周方向透磁率μθが変化し、上記インダクタンス電圧分が変動することになる。この変動現象は磁気インダクタンス効果と称され、これは上記高周波励磁電流(搬送波)が信号磁界(信号波)で変調される現象ということができる。更に、上記通電電流の周波数がMHzオ−ダになると、高周波表皮効果が大きく現れ、表皮深さδ=(2ρ/wμθ)1/2(μθは前記した通り円周方向透磁率、ρは電気抵抗率、wは角周波数をそれぞれ示す)がμθにより変化し、このμθが前記した通り、信号磁界によって変化するので、ワイヤ両端間出力電圧中の抵抗電圧分も信号磁界で変動するようになる。この変動現象は磁気インピーダンス効果と称され、これは上記高周波励磁電流(搬送波)が信号磁界(信号波)で変調される現象ということができる。
負帰還用コイル6及び負帰還回路60を省略し、検出特性を図2の(イ)に示す原特性のままとすることも可能である。
7は磁気インピーダンス効果素子1に付設した制御コイルである。70は増幅回路出力中の特定周波数成分を取り出して制御コイル7に所定の比率でフィードバックさせるフィルター、71はそのフィードバック比率を調整するための可変抵抗、+Vccはバイアス磁界用直流電源、73はバイアス磁界調整用可変抵抗である。700は出力より反転入力端子に負帰還をかけた演算増幅回路であり、反転入力端子に+Vccとフィルター出力側を接続し、出力端子を制御コイル7に接続してある。
前記フィルター7の出力を0としたときの検出端の出力特性は、図2の(ハ)に示す通りであり、図2の(ロ)のHex=HaとHex=0との間のほぼ中央値を基準点とするように、可変抵抗73の調整により所定値の直流バイアス磁界をかけてある。
図1−2に示すように、磁気インピーダンス効果素子に前記制御コイルの外にバイアス専用コイル70を付設し、このバイアス専用コイル70に+Vccを電源として前記所定値の前記直流バイアス磁界をかけるようにしてもよい。
図3は商用周波数の外部磁界に対する磁気インピーダンス効果特性を示し、商用周波数外部磁界が充分に小でノイズとして実質的に作用しないΔH60のときの出力がΔE60で示されている。
前記商用周波数の外部磁界成分H60を打ち消しによりにΔH60にするのに必要な制御コイル7の通電電流をI60とすると、制御コイル7の巻数をn、コイル長さをL、長岡係数をKとして、
H60−ΔH60=K・n・I60/L
で与えられる。
商用周波数の外部磁界に対する外部磁界ΔH60のときの磁気インピーダンス効果出力はΔE60であり、このΔE60を電圧源として負帰還で制御コイル7へフィードバックさせて前記の商用周波数の外部磁界成分H60−ΔH60を打ち消すには、フィードバック回路の抵抗をR、フィードバック比率をXとして、ΔE60・X/R=L(H60−ΔH60)/(n・K)、すなわち、フィードバック比率Xを
X=R・L(H60−ΔH60)/(ΔE60・n・K)に設定すればよい。
図3において、ΔE60=ΔH60/k‘として、
X=R・LH60(1−k‘ΔH60/H60)/(ΔE60・n・K)
に設定すればよい。
従って、商用周波数の外部磁界ノイズを除去して外部磁界を検出でき、更に商用周波数の外部磁界ノイズが原因で外部磁界が磁気インピーダンス効果出力特性の極性判別限界磁界を越える場合でも、外部磁界を商用周波数の外部磁界ノイズの除去により極性判別限界磁界内に納めて良好に検出できる。
なお、前記した式からも明らかなように、前記取り出した商用周波数の検波出力ΔE60を0するように前記制御電流を制御することは、Xが∞となって不安定であり、発振すよようになる。
従って、フィルターの通過特定周波数を変え、フィルターの出力を測定すれば、各特定周波数における前記測定値から外部磁界の周波数スペクトラムを得ることができる。
図4は直流外部磁界に対する磁気インピーダンス効果特性を示し、直流外部磁界が充分に小でノイズとして実質的に作用しないΔHdcのときの出力がΔEdcで示されている。
前記直流外部磁界成分Hdcを打ち消しによりにΔHdcにするのに必要な制御コイル7の通電電流をIdcとすると、制御コイル7の巻数をn、コイル長さをL、長岡係数をKとして、
Hdc−ΔHdc=K・n・Idc/L
で与えられる。
直流外部磁界に対する外部磁界ΔHdcのときの磁気インピーダンス効果出力はΔEdcであり、このΔEdcを電圧源として負帰還で制御コイル7へフィードバックさせて前記の直流の外部磁界成分Hdc−ΔHdcを打ち消すには、フィードバック回路の抵抗をR、フィードバック比率をX‘、図4において、ΔEdc=ΔHdc/k“として、
X‘=R・LHdc(1−k“ΔHdc/Hdc)/(ΔEdc・n・K)
に設定すればよい。
従って、地磁気や鉄系構造物の残留磁気等による外部直流磁界ノイズを除去して外部磁界を検出でき、更に直流の外部磁界ノイズが原因で外部磁界が磁気インピーダンス効果出力特性の極性判別限界磁界を越える場合でも、外部磁界を直流の外部磁界ノイズの除去により極性判別限界磁界内に納めて良好に検出できる。
また、検波回路や演算増幅回路のパラメータが温度等により変化して検出出力がオフセット変化しても、この変化は実質的に直流分の変化であり、この変化が前記フイードバックによる負帰還で減じられるから、オフセットの自動打消の効果も得られる。
また、被変調波(周波数fs)に同調させた周波数fsの方形波を被変調波に乗算して信号波をサンプリングする同調検波を使用することができる。
図5の(イ)は鉄芯コイル付き磁気インピーダンス効果ユニットの一例を示す側面図、図5の(ロ)は同じく底面図、図5の(ハ)は図5の(ロ)におけるハ−ハ断面図である。
図5において、100は基板チップであり、例えばセラミックス板を使用できる。101は基板片の片面に設けた電極であり、磁気インピーダンス効果素子接続用突部102を備えている。この電極は導電ペースト、例えば銀ペーストの印刷・焼付けにより設けることができる。1xは電極101,101の突部102,102間にはんだ付けや溶接により接続した磁気インピーダンス効果素子であり、前記した通り零磁歪乃至負磁歪のアモルファスワイヤ、アモルファスリボン、スパッタ膜等を使用できる。103は鉄やフェライト等からなるC型鉄芯、6xはC型鉄芯に巻装した負帰還用コイル、7xは同じく制御コイルであり、磁気インピーダンス効果素子1xとC型鉄芯103とでループ磁気回路を構成するように、C型鉄芯103の両端を基板片100の他面に接着剤等で固定してある。鉄芯材料としては、残留磁束密度の小さい磁性体であればよく、例えば、パーマロイ、フェライト、鉄、アモルファス磁性合金の他、磁性体粉末混合プラスチック等を挙げることができる。
2 励磁電流源
3 検波回路
4 演算増幅回路
5 検出出力端
6 負帰還磁界用コイル
60 負帰還回路
7 制御コイル
70 フィルター
71 可変抵抗
Claims (7)
- 外部磁界を特定周波数の外部磁界成分を実質的に除去して磁気インピーダンス効果センサにより検出する方法であり、外部磁界作用下での磁気インピーダンス効果素子の端子電圧を検波し、その検波出力から特定周波数の検波出力分を取り出し、その取り出した出力に基づく負帰還制御電流で前記磁気インピーダンス効果素子に前記特定の周波数の外部磁界成分を打ち消す磁界を作用させ、かかる打消しのもとでの検波出力を検出出力とすることを特徴とする外部磁界の検出方法。
- 特定周波数の外部磁界成分が商用周波数の外部磁界成分であることを特徴とする請求項1記載の外部磁界の検出方法。
- 特定周波数の外部磁界成分が直流の外部磁界成分であることを特徴とする請求項1記載の外部磁界の検出方法。
- 制御コイルを付設した磁気インピーダンス効果素子と、磁気インピーダンス効果素子に励磁電流を通電する励磁電流源と、磁気インピーダンス効果素子の端子出力を検波する検波回路と、検波出力を増幅する演算増幅回路と、該増幅回路の出力に対する検出端と、増幅回路の出力から特定周波数の成分を取り出すフィルターとを備え、磁気インピーダンス効果素子に加わる外部磁界中の特定周波数の外部磁界成分を打ち消す打消磁界を制御するための手段を前記フィルターの出力端と前記制御コイルとの間に設けたことを特徴とする磁気インピーダンス効果センサ。
- 磁気インピーダンス効果素子に加わる外部磁界に対するバイアス磁界を設定する手段を前記フィルターの出力端と前記制御コイルとの間に付設したことを特徴とする請求項4記載の磁気インピーダンス効果センサ。
- 磁気インピーダンス効果素子に負帰還用コイルを付設し、演算増幅回路の出力を負帰還用コイルに負帰還させる負帰還回路を付加したことを特徴とする請求項4または5記載の磁気インピーダンス効果センサ。
- 請求項4〜5何れか記載の磁気インピーダンス効果センサを使用して外部磁界を検出する方法であり、フィルターの通過特定周波数を変え、各特定周波数において外部磁界の打消を行っている状況でのフィルター出力を測定し、各特定周波数における前記測定値から外部磁界の周波数スペクトラムを得ることを特徴とする外部磁界の検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006149097A JP2007322125A (ja) | 2006-05-30 | 2006-05-30 | 磁気インピーダンス効果センサ及び外部磁界の検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006149097A JP2007322125A (ja) | 2006-05-30 | 2006-05-30 | 磁気インピーダンス効果センサ及び外部磁界の検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007322125A true JP2007322125A (ja) | 2007-12-13 |
Family
ID=38855096
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006149097A Pending JP2007322125A (ja) | 2006-05-30 | 2006-05-30 | 磁気インピーダンス効果センサ及び外部磁界の検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007322125A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015056397A1 (ja) | 2013-10-17 | 2015-04-23 | 公立大学法人大阪市立大学 | 電流測定装置および電流測定方法 |
JP2019124661A (ja) * | 2018-01-19 | 2019-07-25 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置、方法、プログラム、記録媒体 |
CN116526099A (zh) * | 2023-07-04 | 2023-08-01 | 西南应用磁学研究所(中国电子科技集团公司第九研究所) | 一种具有高温度稳定性的磁调谐滤波器 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61180157A (ja) * | 1985-02-05 | 1986-08-12 | Shimadzu Corp | 磁気検出装置 |
JP2001091608A (ja) * | 1999-09-28 | 2001-04-06 | Uchihashi Estec Co Ltd | 磁界検出装置 |
JP2003255029A (ja) * | 2002-03-04 | 2003-09-10 | Aichi Micro Intelligent Corp | 磁気検出器 |
JP2004170220A (ja) * | 2002-11-19 | 2004-06-17 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 電流センサ |
JP2004328639A (ja) * | 2003-04-28 | 2004-11-18 | Kyocera Corp | 信号強度測定装置およびそれを利用した受信装置 |
JP2005188947A (ja) * | 2003-12-24 | 2005-07-14 | Sumitomo Denko Hightecs Kk | 磁気検出装置 |
-
2006
- 2006-05-30 JP JP2006149097A patent/JP2007322125A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61180157A (ja) * | 1985-02-05 | 1986-08-12 | Shimadzu Corp | 磁気検出装置 |
JP2001091608A (ja) * | 1999-09-28 | 2001-04-06 | Uchihashi Estec Co Ltd | 磁界検出装置 |
JP2003255029A (ja) * | 2002-03-04 | 2003-09-10 | Aichi Micro Intelligent Corp | 磁気検出器 |
JP2004170220A (ja) * | 2002-11-19 | 2004-06-17 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 電流センサ |
JP2004328639A (ja) * | 2003-04-28 | 2004-11-18 | Kyocera Corp | 信号強度測定装置およびそれを利用した受信装置 |
JP2005188947A (ja) * | 2003-12-24 | 2005-07-14 | Sumitomo Denko Hightecs Kk | 磁気検出装置 |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015056397A1 (ja) | 2013-10-17 | 2015-04-23 | 公立大学法人大阪市立大学 | 電流測定装置および電流測定方法 |
CN105745547A (zh) * | 2013-10-17 | 2016-07-06 | 公立大学法人大阪市立大学 | 电流测定装置和电流测定方法 |
EP3244218A2 (en) | 2013-10-17 | 2017-11-15 | Osaka City University | Electric current measurement apparatus |
EP3244217A2 (en) | 2013-10-17 | 2017-11-15 | Osaka City University | Electric current measurement apparatus |
CN105745547B (zh) * | 2013-10-17 | 2019-04-05 | 公立大学法人大阪市立大学 | 电流测定装置和电流测定方法 |
US10557874B2 (en) | 2013-10-17 | 2020-02-11 | Osaka City Univeristy | Electric current measurement apparatus and electric current measurement method |
JP2019124661A (ja) * | 2018-01-19 | 2019-07-25 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置、方法、プログラム、記録媒体 |
JP7061882B2 (ja) | 2018-01-19 | 2022-05-02 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置、方法、プログラム、記録媒体 |
CN116526099A (zh) * | 2023-07-04 | 2023-08-01 | 西南应用磁学研究所(中国电子科技集团公司第九研究所) | 一种具有高温度稳定性的磁调谐滤波器 |
CN116526099B (zh) * | 2023-07-04 | 2023-11-03 | 西南应用磁学研究所(中国电子科技集团公司第九研究所) | 一种具有高温度稳定性的磁调谐滤波器 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4495635B2 (ja) | 磁気インピーダンス効果センサ並びに磁気インピーダンス効果センサの使用方法 | |
JP4307695B2 (ja) | 磁気検出装置及び磁界検出方法 | |
JP2007322125A (ja) | 磁気インピーダンス効果センサ及び外部磁界の検出方法 | |
JP4917812B2 (ja) | 鉄系構造物の劣化診断方法 | |
JP2006322706A (ja) | 導体電流の測定方法 | |
JP4808411B2 (ja) | 磁界検出回路 | |
JP4878903B2 (ja) | 柱上トランス診断用磁気センサ | |
JP2005055326A (ja) | 導体電流測定方法及び導体電流測定用磁界センサ。 | |
JP4938740B2 (ja) | 磁界検出装置 | |
JP4739097B2 (ja) | 柱上トランスの診断方法 | |
JP2007251819A (ja) | アンテナ | |
JP4476746B2 (ja) | 鉄系壁裏面の腐食・減肉検査方法 | |
JP5085274B2 (ja) | 磁界センサ | |
JP4808410B2 (ja) | 磁界検出回路 | |
JP2008203164A (ja) | 検知方法 | |
JP4878856B2 (ja) | 磁気インピーダンス効果センサ | |
JP5241200B2 (ja) | 磁性物の検出方法 | |
JP4865343B2 (ja) | 鉄系構造物の検査方法 | |
JP4722717B2 (ja) | 電流センサ | |
JP4986654B2 (ja) | 磁性物の検知方法 | |
JP4630401B2 (ja) | 電流センサ及び電流の検出方法 | |
JP2009204364A (ja) | 磁性物の欠陥位置検出方法 | |
JP4219731B2 (ja) | 磁界検出方法 | |
JP2006337040A (ja) | 金属体の欠陥検出方法及びスキャニング式磁気検出器 | |
JP4656480B2 (ja) | 磁界検出回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090309 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20100723 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20100917 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101202 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101221 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110510 |