JP2007312572A - 電源制御回路、電源制御回路を備えた電子制御装置、給電回路及び電源制御集積回路 - Google Patents

電源制御回路、電源制御回路を備えた電子制御装置、給電回路及び電源制御集積回路 Download PDF

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Abstract

【課題】電源の逆接続に対する内部回路の破壊の防止を可能としつつも、サージ電圧発生時に、前記サージ電圧によるスイッチング素子の発熱を抑制して、前記スイッチング素子の破壊を防止することができる電源制御回路、電源制御回路を備えた電子制御装置及び給電回路を提供する。
【解決手段】直流電源10と負荷回路31との間に接続され、ドレインとソース間に形成されるボディダイオードD300が順方向となるように接続されたMOSFET61と、前記直流電源10からの給電停止時に前記MOSFET61のオン状態を所定時間維持する保持回路62を備えている。
【選択図】図3

Description

本発明は、直流電源と負荷回路との間に接続され、ドレインとソース間に形成されるボディダイオードが順方向となるように接続されたMOSFETと、前記直流電源からの給電停止時に前記MOSFETのオン状態を所定時間維持する保持回路を備えている電源制御回路並びに前記電源制御回路を備えた電子制御装置、給電回路及び電源制御集積回路に関する。
車両に搭載される電子制御装置等の電子機器に電力を供給する場合に、誤接続等によりバッテリー等の電源の極性が逆に接続されると、電子機器に搭載されている素子の破壊等によって電子機器が破壊する恐れがある。そこで、このような破壊を防止するために、保護回路を設けることが従来から行われている。
例えば、図1(a)に示すように、直流電源10と電子制御装置30の内部回路である負荷回路31との間にダイオードD100を順方向となるように直列に接続することで、前記直流電源10の極性が逆に接続された場合には、逆方向となった前記ダイオードD100によって電流の逆流が遮断されることから、前記負荷回路31の素子の破壊は回避される。
また、図1(b)に示すように、直流電源10と電子制御装置30の内部回路である負荷回路31との間にヒューズ11を直列に接続し、前記ヒューズ11と前記負荷回路31との間にダイオードD200を逆方向となるように並列に接続することで、前記直流電源10の極性が逆に接続された場合には、順方向となった前記ダイオードD200を介して供給される過電流により前記ヒューズ11が溶断されることから、前記負荷回路31の素子の破壊は回避される。
しかし、図1(a)に示した方法では、ダイオードの挿入による電圧降下によって電子制御装置30の動作電圧が低下するので、例えば、図1(a)に示した構成を車両に適用した場合には、バッテリー容量の低下時等に車両の始動性が悪化するという問題や、挿入したダイオードが前記電子制御装置30に内蔵されていた場合や近接していた場合には、ダイオードの発熱によって前記電子制御装置30が発熱するという問題があった。
また、図1(b)に示した方法では、ヒューズ11が溶断された後で電源接続を正常に戻しても、新たなヒューズ11に交換されるまでは電子制御装置30の機能は失われたままであり、通常のドライバーが容易にヒューズ11の交換作業を行なえないという問題や、前記ヒューズ11溶断のための必要電流や必要時間に対して、前記電子制御装置30が破壊しないという保証が困難、つまり、電源電圧の状態や前記電子制御装置30のインピーダンス次第では、前記ヒューズ11が溶断される前に前記電子制御装置30が破壊されてしまう可能性があるという問題があった。
上述のような問題に対処するための方法としては、図1(c)に示すように、直流電源10と電子制御装置30の内部回路である負荷回路31との間にスイッチング素子として、pチャネルのエンハンスメント形のMOSFET61をボディダイオードD300が順方向となるように接続し、前記MOSFET61のゲートソース間に、ツェナーダイオードZD1をアノードが前記MOSFET61のゲート端子に接続されるように接続して、さらに、前記MOSFET61のゲート端子を抵抗R1を介してアース接地することで、前記直流電源10が正常に接続されている場合は、前記MOSFET61をオン状態として電力を供給し、前記直流電源10の極性が逆に接続された場合は、前記MOSFET61をオフ状態として電流の逆流を遮断することによって前記負荷回路31の素子の破壊を回避する方法がある。
しかし、図1(c)に示した方法では、前記MOSFET61がオフ状態のときに、電源供給ラインに大きな電流が流れる負のサージ電圧が発生した場合、前記MOSFET61のボディダイオードD300の電圧耐量が一般的な単体のダイオードと比較して低いことから、前記MOSFET61が破損する可能性が高いという問題があった。
そこで、電源の極性の逆接続から内部回路を保護するスイッチング素子を設けると共に、負のサージ電圧の発生にも対処できる電源装置が提案されている。
前記電源装置は、ドレインソース間に存在するボディダイオードが順方向となるように直流電源と前記内部回路としての主回路との間に挿入されたスイッチング素子としてのエンハンスメント形のMOSFETを備えており、前記直流電源の極性が逆極性である場合には、前記スイッチング素子をオフさせて前記主回路を保護すると共に、負のサージ電圧が印加された場合には、前記スイッチング素子のゲートドレイン間に接続された、ツェナーダイオードとダイオードとで構成されるスイッチング素子保護回路としてのアクティブクランプ回路で、前記スイッチング素子を強制的にオンするように構成されている。
特開平8−223935号公報
しかし、上述したようなアクティブクランプ回路を用いた場合、以下に示すような問題がある。
つまり、アクティブクランプ回路は、MOSFETを非飽和領域で使用することで、負のサージ電圧印加時に発生する負荷エネルギーを前記MOSFETの損失で逃そうという回路であり、前記MOSFETのドレインソース間に意図的に電位差を作り、前記電位差による損失エネルギーで前記負荷エネルギーを逃す。
前記電位差は、前記アクティブクランプ回路を構成するツェナーダイオードの逆方向電圧で決定されるのであるが、前記電位差が大きい程、前記負荷エネルギーを早期に逃すことができることから、通常、前記逆方向電圧は大きく設定される。
よって、上述した電源装置を用いた場合に負のサージ電圧が印加されると、前記MOSFETのドレインソース間には、アクティブクランプ回路を構成するツェナーダイオードの逆方向電圧によって決定された大きな電位差が発生するために、前記電位差によって前記MOSFETの消費電力が大きくなる、つまり、発熱が大きくなる。このとき、前記MOSFETは非飽和状態であって完全なオン状態とはなっていないため、前記発熱はさらに大きくなってしまう。
前記発熱の問題をさらに大きくする要因として、以下に示すフィールドディケイサージがある。詳述すると、車両において発生するサージ電圧の中で非常に大きなものとしてフィールドディケイサージがあり、前記フィールドディケイサージは、誘導性負荷に電流が通電している状態からスイッチをオフした場合に、前記誘導性負荷に応じた負サージエネルギーが発生する。車両には、前記誘導性負荷として、例えば、電動パワーステアリングやワイパー、および車両を構成する各種モーターが多数含まれており、電源装置が通電状態からスイッチをオフした場合に、前記フィールドディケイサージの発生は避けられない。
つまり、前記フィールドディケイサージは、電源装置が通電状態からスイッチをオフした場合に発生することから、その他のサージ電圧、例えば、ESD(静電気放電)に起因するサージ電圧や、他の電源系から回り込んでくるサージ電圧等よりも発生頻度が高く、上述した発熱はより大きな問題となり、その結果、前記電源装置の動作は非効率なものとなったり、さらには前記電源装置の故障にもつながる。
本発明の目的は、上述した従来の問題点に鑑み、電源の逆接続に対する内部回路の破壊の防止を可能としつつも、サージ電圧発生時に、前記サージ電圧によるスイッチング素子の発熱を抑制して、前記スイッチング素子の破壊を防止することができる電源制御回路、電源制御回路を備えた電子制御装置、給電回路及び電源制御集積回路を提供する点にある。
上述の目的を達成するため、本発明による直流電源装置の第一の特徴構成は、特許請求の範囲の書類の請求項1に記載した通り、直流電源と負荷回路との間に接続され、ドレインとソース間に形成されるボディダイオードが順方向となるように接続されたMOSFETと、前記直流電源からの給電停止時に前記MOSFETのオン状態を所定時間維持する保持回路を備えている点にある。
上述の構成によれば、前記直流電源からの給電停止時に、前記サージ電圧が発生する虞のある期間だけMOSFETのオン状態を維持するように保持回路を構成することによって、前記保持回路によって前記MOSFETがオン状態となっている間は、前記MOSFETは完全なオン状態となり、前記MOSFETの内部抵抗が小さくなることから、前記MOSFETにおける消費電力を小さくすることができる。その結果、前記MOSFETの発熱を抑制することができるのである。
さらには、同請求項4に記載した通り、上述の第一特徴構成に加えて、前記直流電源装置は、前記MOSFETのドレインソース間電圧または電流に基づいて、前記保持回路の動作にかかわらず前記MOSFETをターンオフさせる強制オフ回路を備えていることが好ましい。
前記保持回路を備えた回路で逆接続が発生した場合に、前記保持回路の動作によって前記MOSFETがオン状態であると内部回路を破壊してしまう。そこで、前記MOSFETのドレインソース間電圧または電流が前記逆接続の発生を示すものである場合に、前記保持回路の動作にかかわらず前記MOSFETをターンオフさせることによって、電源の逆接続に対する内部回路の破壊を防止することができるのである。
以上説明した通り、本発明によれば、電源の逆接続に対する内部回路の破壊の防止を可能としつつも、サージ電圧発生時に、前記サージ電圧によるスイッチング素子の発熱を抑制して、前記スイッチング素子の破壊を防止することができる電源制御回路、電源制御回路を備えた電子制御装置、給電回路及び電源制御集積回路を提供することができるようになった。
以下に、本発明による電源制御回路を、複数の電子制御装置が協働して制御を行うシステムとしての車両に適用した実施形態について説明する。
図2に示すように、ECU(電子制御ユニット)を搭載した複数の電子制御装置30が協働して制御を行なうシステムとしての前記車両に、前記電源制御回路60を適用した機能ブロック構成は、電子制御装置に電力を供給するためのバッテリー等の直流電源10と、イグニッションスイッチ20と、前記イグニッションスイッチ20がオンとなったときのみ動作するIGオン制御装置30Aや前記イグニッションスイッチ20の状態に係わらず動作する常時オン制御装置30Bで構成される電子制御装置30と、電動パワーステアリングやワイパー等、および車両を構成する各種モーターその他の負荷のうちの誘導性の負荷を示す誘導性負荷40とを備えて構成されており、前記IGオン制御装置30Aと常時オン制御装置30Bとが、各々CAN(コントローラエリアネットワーク)等のバス50を介してネットワーク接続されることにより構成されている。
尚、前記IGオン制御装置30Aは、例えば、エンジンや自動変速機等を制御する複数の電子制御装置30で構成されており、前記常時オン制御装置30Bは、例えば、セキュリティ等を制御する複数の電子制御装置30で構成されている。そして、前記電子制御装置30の各々は、図2に示すように、CPU及びその周辺回路で構成される電子制御ブロックである負荷回路31と、前記直流電源10と前記負荷回路31との間に接続される前記電源制御回路60を備えて構成されている。
以下、前記電源制御回路60の様々な実施形態について説明する。
前記電源制御回路60の第一の実施形態は、図3に示すように、前記直流電源10と前記負荷回路31との間に接続され、ドレインソース間に形成されるボディダイオードD300が順方向となるように接続されたpチャネルのエンハンスメント形のMOSFET61と、前記直流電源10からの給電停止時に前記MOSFET61のオン状態を所定時間維持する保持回路62と、前記MOSFET61のゲートソース間に、アノードをゲートに接続し、カソードをソースに接続したツェナーダイオードZD1とを備えて構成されている。
前記MOSFET61と前記ツェナーダイオードZD1の動作について詳述すると、前記直流電源10の電圧よりも小さい逆方向電圧の前記ツェナーダイオードZD1を使用することによって、前記直流電源10が正常に接続されている場合は、前記ボディダイオードD300を介して前記ツェナーダイオードZD1に逆方向バイアスがかかることによって前記ツェナーダイオードZD1には前記逆方向電圧がかかり、その結果、前記MOSFET61のゲート電圧はソース電圧よりも前記逆方向電圧分の低電位となるので、前記MOSFET61はオン状態となる。一方、前記直流電源10が正常に接続されていない、例えば、極性が逆に接続されている場合は、前記ツェナーダイオードZD1には順方向バイアスがかかり、前記MOSFET61のゲート電圧とソース電圧は同電位となるので、前記MOSFET61はオフ状態となる。
前記保持回路62は、前記MOSFET61をオン作動する駆動回路621と、前記直流電源10からの給電電圧を検出する電圧監視回路622と、前記電圧監視回路622による検出電圧に基づいて前記駆動回路621を所定時間作動させるタイマ回路623を備えて構成されている。
前記駆動回路621は、前記MOSFET61をオン作動するように構成されており、例えば、pチャネルのエンハンスメント形である前記MOSFET61のゲート電位をソース電位より低くするための降圧回路621Aと、後述するタイマ回路623によるオンとオフの切替制御によって前記降圧回路621Aを作動させるための降圧回路作動スイッチ621Bとを備えて構成されている。
前記電圧監視回路622は、前記直流電源10からの給電電圧を検出するように構成されており、例えば、前記MOSFET61のドレイン電圧を検出する電圧計622Aと、検出された前記ドレイン電圧が所定値ではない場合に、前記電源制御回路60に負のサージ電圧がかかっているとして後述するタイマ回路623を作動させるタイマ回路作動スイッチ622Bとを備えて構成されている。尚、前記所定値は、例えば、前記直流電源10が正常に接続された場合の電圧である。
前記タイマ回路623は、前記電圧監視回路622による検出電圧に基づいて作動し、詳述すると、前記給電電圧が所定電圧より低下したと検出されたときに前記降圧回路作動スイッチをオンとして前記MOSFET61のオン状態を保持し、所定期間経過後に前記降圧回路作動スイッチをオフとして前記MOSFET61をオフ状態とするように構成されている。
前記保持回路62を用いることにより、前記負のサージ電圧が印加された場合に、前記負のサージ電圧を検出して、前記負のサージ電圧が存在している時間だけ前記MOSFET61をオン状態に維持するので、サージ電圧発生時に、前記負のサージ電圧による前記MOSFET61の発熱を抑制して、前記MOSFET61の破壊を防止することができるのである。
また、前記保持回路62は、図4に示すように、前記駆動回路621と前記電圧監視回路622と前記タイマ回路623の代わりに、前記MOSFET61を前記所定時間でターンオフさせるCR回路624を備えた構成であってもよい。詳述すると、本構成において前記CR回路624は、前記MOSFET61のゲートソース間に接続されたコンデンサC1と、一端を前記MOSFET61のゲートに接続して、他端をアース接地した抵抗R1とを備えており、前記コンデンサC1の電荷保持により前記MOSFET61のオン状態を所定時間保持するように構成されている。
詳述すると、前記直流電源10がオン状態の間、つまり給電時に、前記コンデンサC1に電荷が保持され、前記直流電源10がオン状態からオフ状態、つまり給電が停止されると、前記コンデンサC1に保持された電荷によって、前記MOSFET61のゲートソース間に電流が流れる。
このとき、前記直流電源10がオン状態からオフ状態に切り替わったことで、前記電子制御装置30には、車両に搭載されている前記誘導性負荷40に起因した負サージエネルギー、つまり、フィールドディケイサージが発生している。前記フィールドディケイサージによる逆起電力によって、前記MOSFET61のゲート電圧は、前記逆起電力に伴う電圧から前記抵抗R1の分だけ電圧降下しており、前記MOSFET61のソース電圧は、前記逆起電力に伴う電圧から電圧降下していないことから、前記MOSFET61のゲート電圧はソース電圧よりも前記抵抗R1による電圧降下分だけ低電位となり、前記MOSFET61はオン状態となる。そして、前記コンデンサC1に保持されていた電荷が全て放出されると前記MOSFET61のゲートソース間に電流は流れなくなるので、前記MOSFET61のゲート電位とソース電位は同電位となり、前記MOSFET61はオフ状態となる。
尚、前記所定時間は、前記直流電源10による給電が停止されてから、前記コンデンサC1に保持されていた電荷が全て放出されるまでの時間、つまり、前記コンデンサC1の容量と前記抵抗R1の抵抗値を乗算した時定数で規定されるので、前記コンデンサC1の容量と前記抵抗R1の抵抗値によって調整することができる。
上述の構成を用いることにより、前記保持回路62を用いることにより、前記直流電源10による給電が停止した際に、前記コンデンサC1の電荷保持により前記MOSFET61のオン状態を所定時間保持するので、前記直流電源10による給電が停止した際に前記フィールドディケイサージが発生した場合も、前記MOSFET61のオン状態が維持されることから、前記フィールドディケイサージによる前記MOSFET61の発熱を抑制して、前記MOSFET61の破壊を防止することができるのである。
前記電源制御回路60の第二の実施形態は、図5に示すように、第一の実施形態におけるCR回路624を備えた構成において、前記MOSFET61のドレインソース間電圧または電流に基づいて、前記保持回路62の動作に係わらず前記MOSFET61をターンオフさせる強制オフ回路63を備えて構成されている。
以下、前記強制オフ回路63の様々な実施形態について説明する。
前記強制オフ回路63の第一の実施形態は、図5に示すように、前記MOSFET61のドレインソース間電圧を検出するD−S間電圧監視回路63Aと、検出された前記ドレインソース間電圧に基づいてオンとオフを切り替えるスイッチ63Bとを備えて構成されており、詳述すると、検出された前記ドレインソース間電圧が逆起電力等の異常な電圧の発生を示すものである場合に、前記スイッチ63Bをオンとすることによって、前記MOSFET61を強制的にオフとする。
例えば、前記フィールドディケイサージの発生時において、前記コンデンサC1の放電によって前記MOSFET61がオン状態を保持しているときに、前記直流電源10が何らかの理由によって接地される(図5では接地回路70として示す)と、前記接地によって発生する可能性がある他の電源系からの回りこみ電流が、前記負荷回路31より前記MOSFET61を介して導通する、つまり逆起電力が発生することで、前記負荷回路31が破壊されてしまうが、上述のように前記MOSFET61を強制的にオフとすることで、前記破壊を防止するように構成されている。
前記強制オフ回路63の第二の実施形態は、前記MOSFET61のドレインソース間電圧または電流が少なくとも前記フィールドディケイサージにより生じる前記ドレインソース間電圧または電流より大となるときに前記MOSFET61をターンオフさせるように構成されており、詳述すると、前記MOSFET61がオン状態であるときの最大抵抗値と前記フィールドディケイサージのピーク電流との積によって算出される電圧を、前記フィールドディケイサージにより生じるドレインソース間電圧として、前記MOSFET61のドレインソース間電圧が、算出された前記フィールドディケイサージにより生じる前記ドレインソース間電圧より大となるときに、前記MOSFET61をターンオフさせるように構成されている。
上述の構成を用いることによって、前記MOSFET61のドレインソース間電圧が、フィールドディケイサージにより生じるMOSFET61のドレインソース間電圧より大きい場合のみ、つまり、前記フィールドディケイサージ以外の要因による場合のみに、前記MOSFET61をターンオフさせるので、前記フィールドディケイサージの発生によって、前記MOSFET61が誤ってターンオフすることを防止することができる。
上述の前記強制オフ回路63の第一または第二の実施形態を実現するための回路構成は、例えば、図6に示すように、前記強制回路63が以下に示す素子で構成されている。即ち、前記MOSFET61のゲートソース間にはスイッチングトランジスタTRが、コレクタを前記MOSFET61のゲートと、エミッタを前記MOSFET61のソースと各々接続されており、前記スイッチングトランジスタTRのベースと前記MOSFET61のソースの間には、抵抗R2が接続されており、前記スイッチングトランジスタTRのベースと前記MOSFET61のドレインの間には、抵抗R3とツェナーダイオードZD2が直列に接続されている。そして、前記抵抗R3の一端は前記スイッチングトランジスタTRのベースと、前記抵抗R3の他端は前記ツェナーダイオードZD2のカソードと、前記ツェナーダイオードのアノードは前記MOSFET61のドレインと各々接続されている。
上述の強制オフ回路63の動作について詳述する。始めに、前記MOSFET61のドレインソース間電圧が正常である最大電圧(規定値)を超える、つまり前記ドレインソース間に異常電圧がかかったときに、前記ツェナーダイオードZD2に逆方向電流が流れるような逆方向電圧を有するツェナーダイオードを選別する。前記MOSFET61のドレインソース間電圧が規定値を超えると、前記ツェナーダイオードZD2に逆方向電流が流れることによって、前記スイッチングトランジスタTRがオン状態となることから、前記MOSFET61のゲートソース間の電位差がなくなって、前記コンデンサC1の放電状態に係わらず前記MOSFET61は強制的にオフとなる。
前記強制オフ回路63の第三の実施形態は、前記ドレインソース間電圧または電流が少なくともフィールドディケイサージにより生じるドレインソース間電圧または電流より大となる状態が所定時間継続したときに前記MOSFET61をターンオフさせるように構成されており、詳述すると、前記強制オフ回路63は、図7に示すように、前記MOSFET61のドレインソース間電圧を検出するD−S間電圧監視回路63Aと、検出された前記ドレインソース間電圧に基づいてオンとオフを切り替えるスイッチ63Bに加えて、フィールドディケイサージにより生じるドレインソース間電圧より大きな電圧が前記D−S間電圧監視回路63Aによって検出された場合に作動して、前記大きな電圧の状態が所定時間継続した後に前記スイッチ63Bをオンとする強制オフタイマ回路63Cを備えて構成されており、前記強制オフタイマ回路63Cによって前記スイッチ63Bをオンとすることによって、前記MOSFET61を強制的にオフとする。
上述の構成を用いることによって、前記MOSFET61のドレインソース間電圧が、フィールドディケイサージによる生じるMOSFET61のドレインソース間電圧より大きい状態が一瞬のみ発生した場合に前記MOSFET61を強制的にオフ状態としてしまう等の誤作動の発生を防止することができ、さらに、前記強制オフタイマ回路63Cによって、このような誤作動の発生を防止することができるので、フィールドディケイサージにより生じるドレインソース間電圧より大きな電圧、つまり、前記MOSFET61を強制的にオフ状態とする基準となる電圧をより小さく設定することができる。
以上説明した強制オフ回路63は、前記MOSFET61のドレインソース間の電圧に基づいて前記MOSFET61を強制的にオフとする構成について説明したが、前記MOSFET61のドレインソース間に流れる電流に基づいて前記MOSFET61を強制的にオフとする構成であってもよい。詳述すると、前記MOSFET61のドレインソース間の延長経路上、例えば、図6に示す地点Aと地点Bの間に抵抗を挿入して、前記抵抗を流れる電流を測定する構成であってもよいし、前記MOSFET61のドレインソース間を流れる電流を直接測定する構成であってもよい。
前記電源制御回路60の第三の実施形態は、前記直流電源10からの給電停止時に生じるサージ電圧により前記MOSFET42をオン作動させるアクティブクランプ回路64を備えて構成されており、前記アクティブクランプ回路64は、図8に示すように、前記MOSFET61のゲートドレイン間に、電流の逆流防止用のダイオードD1と、前記アクティブクランプ回路64を作動させる電圧を決定するためのツェナーダイオードZD3が直列に接続されている。そして、前記ダイオードD1のカソードが前記MOSFET61のドレインと接続されており、前記ダイオードD1のアノードが前記ツェナーダイオードZD3のアノードと接続されており、前記ツェナーダイオードZD3のカソードが前記MOSFET61のゲートと各々接続されている。
上述のアクティブクランプ回路64の動作について詳述する。前記電源制御回路60に負のサージ電圧が印加された場合に、前記負のサージ電圧が前記ツェナーダイオードZD3の逆方向電圧より小さい場合は、前記アクティブクランプ回路64に電流は流れないので、前記MOSFET61のゲート電圧とソース電圧は同電位であり前記MOSFET61はオフ状態となる。一方、前記負のサージ電圧が前記ツェナーダイオードZD3の逆方向電圧より大きい場合は、前記アクティブクランプ回路64に電流が流れて、前記MOSFET61のゲート電圧は、前記抵抗R1による電圧降下の分だけ前記MOSFET61のソース電圧よりも低くなるので、前記MOSFET61はオン状態となる。
上述の構成を用いることによって、前記電源制御回路60は、フィールドディケイサージ以外のサージ電圧、例えば、ESD(静電気放電)に起因するサージ電圧や、他の電源系から回り込んできたサージ電圧等といったサージ電圧であっても、スイッチング素子の発熱を抑制して、前記スイッチング素子の破壊を防止することができるのである。
前記電源制御回路60の第四の実施形態は、前記直流電源10からの給電停止時に生じるサージ電流をバイパスするダイオードD2を備えて構成されており、詳述すると、図9に示すように、前記ダイオードD2のアノードをアース接地し、前記ダイオードD2のカソードを前記MOSFET42のソースに接続、つまり、前記ダイオードD2を前記MOSFET61の後段に並列接続しており、負のサージ電流が発生した場合、前記負荷回路31から前記直流電源10の方向に逆方向電流が流れるが、前記ダイオードD2を接続することによって、前記逆方向電流の大部分は、前記負荷回路31経由でなく前記ダイオードD2経由で流れる。
前記逆方向電流が前記負荷回路31を流れると前記負荷回路31の素子が破壊される恐れがあるが、上述の構成を用いることによって、前記負荷回路31への大電流の流れを防止することで、前記負荷回路31の破壊の防止することができる。
前記電源制御回路60の第五の実施形態は、図10に示すように、前記保持回路62を前記MOSFET61のゲートソース間に接続されたコンデンサC1と前記コンデンサC1に蓄積された電荷を放電する前記抵抗R1で構成し、前記MOSFET61のゲートドレイン間にツェナーダイオードZD3及び逆流防止用のダイオードD1が接続されたアクティブクランプ回路64と、前記ドレインソース間電圧に基づいて前記MOSFET61のゲートソース間を短絡させるスイッチングトランジスタTRでなる強制オフ回路63を備えて構成されており、前記スイッチングトランジスタTRと前記ゲート間に抵抗R4を接続している。
詳述すると、フィールドディケイサージが発生した場合には、前記コンデンサC1の電荷保持により前記MOSFET61のオン状態を所定時間保持し、前記直流電源10の何らかの理由による接地による他の電源系からの回り込み電流等が発生した場合には、前記コンデンサC1の放電状態に係わらず前記スイッチングトランジスタTRにより前記MOSFET61を強制的にオフ状態とする。
そして、ESD(静電気放電)に起因するサージ電圧や、他の電源系から回り込んできたサージ電圧等といったサージ電圧が発生した場合には、前記アクティブクランプ回路64に電流が流れるのであるが、このとき前記抵抗R4がなければ、前記MOSFET61のゲート電圧は、前記抵抗R1によって電圧降下しても前記スイッチングトランジスタTRがオン状態であるために、前記MOSFET61のゲートとソースが短絡して前記ゲートとソースの電位は等しくなる。そこで、前記MOSFET61のゲート電圧をソース電圧より低くするために前記抵抗R4を挿入している。その結果、前記MOSFET61のゲート電圧がソース電圧よりも低くなるので、前記MOSFET61は強制的にオン状態とされるのである。
つまり、上述の構成を用いることによって、前記直流電源10の何らかの理由による接地による他の電源系からの回り込み電流等からの負荷回路31の破壊防止機能と、フィールドディケイサージ等のサージ電圧からの前記MOSFET61の破壊防止機能を両立できるのである。
前記電源制御回路60の第六の実施形態は、図11に示すように、前記コンデンサC1と前記MOSFET61のゲート間に抵抗R5を備えて構成されている。詳述すると、図11に示すような前記抵抗R5を備えた回路の場合、給電が停止された状態で前記スイッチングトランジスタTRがオン状態となると、前記スイッチングトランジスタTRから前記抵抗R4と前記抵抗R5を経由して前記コンデンサC1へとスイッチ電流が流れるように構成されている。
つまり、前記抵抗R5を備えていない回路(例えば図5)の場合、前記直流電源10がオン状態からオフ状態、つまり給電が停止されると、前記コンデンサC1に保持された電荷のみによって、前記コンデンサC1は放電されるが、図11に示すような前記抵抗R5を備えた回路の場合、前記コンデンサC1は自身に保持された電荷に加えて前記スイッチ電流によっても放電されることから、前記コンデンサC1をより速く放電させることができるのである。
以下、別実施形態について説明する。上述の実施形態では、直流電源10から負荷回路31に給電される給電ラインが一系統設けられた構成について説明したが、前記直流電源10から前記負荷回路31に給電される給電ラインが複数設けられた給電回路に電源制御回路60を適用した構成であってもよい。
例えば、図12に示すように、二系統の給電ラインLA、LBと、各々の給電ラインLA、LBの電力のオン・オフを制御するイグニッションスイッチ20A、20Bを備えてなる給電回路において、少なくとも一つの特定給電ラインLAに前記電源制御回路60が設けられ、他の給電ラインLBから前記電源制御回路60の後段にダイオードD3が順方向に接続されて構成されている。
詳述すると、給電ラインLAが何らかの理由によって接地される(図12では接地回路70として示す)と、ダイオードD3を経由して他の給電ラインLBから負荷回路31に電力を供給することで、前記負荷回路31の動作停止を防止する。その一方で、前記給電ラインLAには逆電流が流れるが、前記電源制御回路60が作動することにより、内蔵されているMOSFET61の破壊を防止する。
上述の構成を用いることによって、前記電源制御回路60は、電源の多重化に対応することができる。また、前記ダイオードD3を用いることで、全ての給電ラインにダイオードよりコストが高い前記電源制御回路60を用いる必要がなくなるのである。
また、前記給電回路は、図13に示すように、前記直流電源10から前記負荷回路31に給電される給電ラインが複数設けられるとともに、各給電ラインに上述の電源制御回路60(60Aと60B)が設けられて構成されている。
詳述すると、何れかの給電ラインが事故等の何らかの理由によって接地される(図13では接地回路70として示す)地絡が発生すると、地絡が発生していない給電ラインから負荷回路31に電力を供給することで、前記負荷回路31の動作停止を防止する。また、何れかの給電ラインに逆電流が流れた場合は、前記電源制御回路60(60Aまたは60B)が作動することにより、前記負荷回路31やMOSFET61の破壊を防止する。
回路の最低動作電圧が高い場合や、電子制御装置30が発熱に弱い回路で構成されている場合等、複数の給電ライン間の接続にダイオードを用いることができない場合に、上述の構成を用いることで、前記電源制御回路60は、前記ダイオードを使用することなく、電源の多重化に対応することができるのである。
尚、図12および図13において、前記特定給電ラインLAと前記他の給電ラインLBは、共通の負荷回路31と接続されているが、前記特定給電ラインLAと前記他の給電ラインLBは、各々異なる負荷回路と接続される構成であってもよい。
前記電源制御回路60は、ディスクリート素子としての抵抗やコンデンサ等を備えた構成にであってもよく、半導体製造プロセスにより集積化されてなる電源制御集積回路で構成されるものであってもよい。例えば、前記電源制御集積回路は、インテリジェントパワーデバイス(IPD)で構成されており、上述の構成を用いることによって、前記電源制御回路60を小型化することができる。
車両や前記車両に搭載される電子制御装置は、電源端子に異常が発生しても致命的な動作とならないこと、つまりフェールセーフ性が特に要求されることから、上述の構成は本発明の好ましい適用例となる。
上述の実施形態では、電子制御装置30の各々が電源制御回路60を備えている構成について説明したが、前記電子制御装置30の各々が前記電源制御回路60を備えることなく、複数の前記電子制御装置30に接続されている共通の給電ライン上に前記電源制御回路31が備えられている構成であってもよい。
例えば、図2に示すように、前記電源制御回路31は、イグニッションスイッチ20とIGオンECU30Aの間の給電ラインL1A、および電源と常時オンECU30Bの間の給電ラインL1Bに各々備えられている構成や、二系統の給電ラインL1A、L1Bの分岐点L1ABの前段と前記直流電源10との間の給電ラインL1に備えられている構成であってもよい。
上述の実施形態では、MOSFET61がpチャネルである構成について説明したが、前記MOSFET61はnチャネルであってもよい。前記MOSFET61としてpチャネルを用いる場合は、例えば、図3に示すように、前記MOSFET61をオン状態とするために、前記MOSFET61のゲート電位をソース電位より低くするための降圧回路621Aを備えていたが、前記MOSFET61としてnチャネルを用いる場合は、前記MOSFET61をオン状態とするために、前記MOSFET61のゲート電位をソース電位より高くするための昇圧回路を、前記降圧回路621Aの代わりに設ける。
上述の実施形態では、MOSFET61がエンハンスメント形である構成について説明したが、前記MOSFET61はディプレッション形であってもよい。
尚、上述した各実施形態は、本発明の一例に過ぎず、本発明の作用効果を奏する範囲において、各実施形態を適宜組み合わせることが可能であり、さらに各ブロックの具体的構成を適宜変更設計できることはいうまでもない。
(a)は、直流電源と負荷回路間にダイオードを挿入し、(b)は、直流電源と負荷回路間にヒューズを挿入し、(c)は、直流電源と負荷回路間にMOSFETを挿入した電源制御回路の回路ブロック構成図 複数の電子制御装置が協働して制御を行なうシステムとしての車両に電源制御回路を適用した機能ブロック構成図 保持回路を備えてなる電源制御回路の回路ブロック構成図 保持回路がCR回路を備えてなる電源制御回路の回路ブロック構成図 強制オフ回路を備えてなる電源制御回路の回路ブロック構成図 強制オフ回路がスイッチングトランジスタを備えてなる電源制御回路の回路ブロック構成図 強制オフ回路が強制オフタイマ回路を備えてなる電源制御回路の回路ブロック構成図 アクティブクランプ回路を備えてなる電源制御回路の回路ブロック構成図 サージ電流バイパス用のダイオードを備えてなる電源制御回路の回路ブロック構成図 強制オフ回路とアクティブクランプ回路を併用した電源制御回路の回路ブロック構成図 コンデンサ急速放電用の抵抗を備えてなる電源制御装置の回路ブロック構成図 二系統の給電ラインを備え、一方の給電ラインと他方の給電ラインがダイオードで接続されている給電回路の回路ブロック構成図 二系統の給電ラインを備え、双方の給電ラインに電源制御装置を備えてなる給電回路の回路ブロック構成図
符号の説明
10:直流電源
20:イグニッションスイッチ
30:電子制御装置
31:負荷回路
40:誘導性負荷
60:電源制御回路
61:MOSFET
62:保持回路
621:駆動回路
622:電圧監視回路
623:タイマ回路
624:CR回路
63:強制オフ回路
64:アクティブクランプ回路
70:接地回路

Claims (14)

  1. 直流電源と負荷回路との間に接続され、ドレインとソース間に形成されるボディダイオードが順方向となるように接続されたMOSFETと、前記直流電源からの給電停止時に前記MOSFETのオン状態を所定時間維持する保持回路を備えている電源制御回路。
  2. 前記保持回路は、前記MOSFETをオン作動する駆動回路と、前記直流電源からの給電電圧を検出する電圧監視回路と、前記電圧監視回路による検出電圧に基づいて前記駆動回路を所定時間作動させるタイマ回路で構成されている請求項1記載の電源制御回路。
  3. 前記保持回路は、前記MOSFETを前記所定時間でターンオフさせるCR回路を備えて構成されている請求項1記載の電源制御回路。
  4. 前記MOSFETのドレインソース間電圧または電流に基づいて、前記保持回路の動作にかかわらず前記MOSFETをターンオフさせる強制オフ回路を備えている請求項3記載の電源制御回路。
  5. 前記強制オフ回路は、前記ドレインソース間電圧または電流が少なくともフィールドディケイサージにより生じるドレインソース間電圧または電流より大となるときに前記MOSFETをターンオフさせる請求項4記載の電源制御回路。
  6. 前記強制オフ回路は、前記ドレインソース間電圧または電流が少なくともフィールドディケイサージにより生じるドレインソース間電圧または電流より大となる状態が所定時間継続したときに前記MOSFETをターンオフさせる請求項5記載の電源制御回路。
  7. 前記直流電源からの給電停止時に生じるサージ電圧により前記MOSFETをオン作動させるアクティブクランプ回路を設けている請求項1から6の何れかに記載の電源制御回路。
  8. 前記直流電源からの給電停止時に生じるサージ電流をバイパスするダイオードを前記MOSFETの後段に並列接続している請求項1から7の何れかに記載の電源制御回路。
  9. 前記保持回路を前記MOSFETのゲートソース間に接続されたコンデンサと前記コンデンサに蓄積された電荷を放電する抵抗で構成し、前記MOSFETのゲートドレイン間にツェナーダイオード及び逆流防止用のダイオードが接続されたアクティブクランプ回路と、前記ドレインソース間電圧に基づいて前記MOSFETのゲートソース間を短絡させるスイッチングトランジスタでなる強制オフ回路を備え、前記スイッチングトランジスタと前記ゲート間に抵抗を接続している請求項1記載の電源制御回路。
  10. 前記コンデンサと前記ゲート間に抵抗を接続している請求項9記載の電源制御回路。
  11. 請求項1から10の何れかに記載の電源制御回路が半導体製造プロセスにより集積化されてなる電源制御集積回路。
  12. 請求項1から10の何れかに記載の電源制御回路または請求項11記載の電源制御集積回路が組み込まれてなる電子制御装置。
  13. 直流電源から負荷回路に給電される給電ラインが複数設けられるとともに、少なくとも一つの特定給電ラインに請求項4から6の何れかに記載の電源制御回路が設けられ、他の給電ラインから前記電源制御回路の後段にダイオードが順方向に接続されている給電回路。
  14. 直流電源から負荷回路に給電される給電ラインが複数設けられるとともに、各給電ラインに請求項4から6の何れかに記載の電源制御回路が設けられている給電回路。
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