JP2007265792A - 有機エレクトロルミネッセンス素子 - Google Patents

有機エレクトロルミネッセンス素子 Download PDF

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Abstract

【課題】本発明は、発光特性、有機EL層の特性、および電流−電圧特性に優れる有機EL素子を提供することを主目的とする。
【解決手段】本発明は、基材と、上記基材上に形成された陽極層と、上記陽極層上に形成され、少なくとも発光層を含む有機EL層と、上記有機EL層上に形成された半透過陰極層と、上記半透過陰極層上に形成され、衝撃緩和機能を有する透明緩衝層と、上記透明緩衝層上に形成され、酸化防止機能を有する透明導電保護層とを有し、非表示領域に上記半透過陰極層および上記透明導電保護層が接触している接触領域が設けられていることを特徴とする有機EL素子を提供することにより、上記目的を達成するものである。
【選択図】図1

Description

本発明は、発光層上にスパッタリング法等により透明導電層が形成された、有機エレクトロルミネッセンス素子に関するものである。
発光層を一対の電極の間に挟み、両電極間に電圧をかけて発光させる有機エレクトロルミネッセンス(以下、ELと略す場合がある。)素子は、自己発色により視認性が高いこと、液晶素子と異なり全固体素子であるため耐衝撃性に優れていること、応答速度が速いこと、温度変化による影響が少ないこと、および、視野角が大きいことなどの利点を有しており、表示装置における発光素子としての利用が注目されている。
有機EL素子の構成は、陽極層/発光層/陰極層の積層構造を基本とする。従来では、ガラス基板等の透明基材上に透明導電層である陽極層を積層し、次いで発光層および陰極層を積層するのが一般的であり、陽極層側から光を取り出すボトムエミッション型が採用されていた。
一方、近年では、陰極層を透明導電層として、陰極層側から光を取り出すトップエミッション型が注目されている。トップエミッションの実現により、陰極層とともに陽極層も透明導電層とした場合、全体として透明な発光素子とすることが可能となり、両面発光が実現できる。このような透明な発光素子は、背景色として任意の色が採用できるので、発光時以外においても着色された表示装置とすることが可能となり、装飾性が向上する。また、トップエミッション型では、アクティブ駆動表示装置におけるTFT(薄膜トランジスタ)により発光が遮蔽されることがないため、開口率の高い表示装置とすることが可能となる。
トップエミッション型の有機EL素子の例としては、陽極層と陰極層との間に有機発光層が形成され、陰極層が電子注入層と透明導電層とからなり、この電子注入層が有機発光層側に配置されている有機EL素子が開示されている(特許文献1)。
しかしながら、トップエミッション型の有機EL素子においては、一般にITO等の透明導電層がスパッタリング法により成膜されるものであるため、発光層上に透明導電層を形成する際に、発光層、電子注入層、正孔注入層等が、スパッタされた粒子、スパッタ時のArおよび電離した電子等の衝撃を受けて、発光特性が低下する(電流密度の低下、発光効率の低下、リーク電流)という問題があった。また、透明導電層の形成にプラズマが用いられるときは、発光層がプラズマ雰囲気に曝されることにより、発光特性が低下しやすいという問題があった。さらに、透明導電層を形成する際に、酸素導入またはターゲットからの酸素の放出により、電子注入層に含有される反応性の高い金属が酸化されてしまい、電子注入層の特性が低下する(電流密度特性の低下、発光効率の低下、ダークスポットの増大)という問題もあった。
このような問題を解決するために、発光層と透明導電層(上部電極)との間に種々の層を形成する試みがなされている。例えば、発光層と透明導電層との間に、金、ニッケル、またはアルミニウムからなるスパッタ保護層が形成された有機EL素子(特許文献2);陰極層を二層構成とし、第1陰極層と第2陰極層との間に、アルカリ金属またはアルカリ土類金属(Li、Cs、Ba、Sr、Ca等)がドープされたバソキュプロイン(BCP)等の電子輸送性有機材料からなる電子輸送性保護層が形成された有機EL素子(特許文献3);陰極層が薄い金属層を有しており、この薄い金属層が、広いバンドギャップをもつ半導体(ZnSe等)からなる保護層で覆われている有機EL素子(特許文献4);有機発光層と上部透明陽極層との間に、厚みが30〜1000nmである正孔注入層が形成された有機EL素子(特許文献5);有機EL層と透明導電層との間に、Au、Pt、Ag等の金属がドーピングされたフタロシアニン化合物からなるバッファ層が形成された有機EL素子(特許文献6)が開示されている。
しかしながら、上述したように発光層と透明導電層(上部電極)との間に種々の層を挿入する場合、それらの層に透明性が要求されることはもちろん、それらの層の電子輸送性や電子注入性も十分に高くないと、素子全体としての電気抵抗が高くなり、電流−電圧特性が低下するほか、発光層へ注入される正孔および電子のバランスが崩れるために、発光特性も低下するという問題があった。
特開平10−162959号公報 特開2003−77651公報 特開2004−127740公報 特開平10−223377号公報 特開2004−227943公報 特開2004−296234公報
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、発光特性、有機EL層の特性、および電流−電圧特性に優れる有機EL素子を提供することを主目的とする。
本発明は、上記目的を達成するために、基材と、上記基材上に形成された陽極層と、上記陽極層上に形成され、少なくとも発光層を含む有機EL層と、上記有機EL層上に形成された半透過陰極層と、上記半透過陰極層上に形成され、衝撃緩和機能を有する透明緩衝層と、上記透明緩衝層上に形成され、酸化防止機能を有する透明導電保護層とを有し、非表示領域に上記半透過陰極層および上記透明導電保護層が接触している接触領域が設けられていることを特徴とする有機EL素子を提供する。
本発明によれば、有機EL層と透明導電保護層との間に衝撃緩和機能を有する透明緩衝層が形成されているので、透明導電保護層形成時の有機EL層のダメージを緩和することができる。また、半透過陰極層上に酸化防止機能を有する透明導電保護層が形成されているので、半透過陰極層もしくは有機EL層が反応性の高い金属を含有する場合には、周囲の酸素による金属の酸化を防止することができる。したがって、発光特性の低下、電子注入機能の低下、および有機EL層の特性の低下を抑制することが可能である。
さらに本発明によれば、有機EL層と半透過陰極層との間に透明緩衝層が介在せず、非表示領域に半透過陰極層および透明導電保護層が接触している接触領域が設けられているので、半透過陰極層を介して電流が流れるとともに、透明導電保護層をも介して電流が流れるので、発光層に効率的に電子を供給することができ、発光効率を向上させることができる。
上記発明においては、上記非表示領域に設けられた上記透明導電保護層の抵抗率を膜厚で割った値が、上記非表示領域に設けられた上記半透過陰極層の抵抗率を膜厚で割った値以下であり、上記非表示領域に設けられた上記透明導電保護層が、上記半透過陰極層のバス電極として機能することが好ましい。これにより、非表示領域において、透明導電保護層により、半透過陰極層の導電性が補助されるからである。
また本発明においては、上記透明導電保護層が、導電性無機酸化物からなることが好ましい。一般に、導電性無機酸化物はスパッタリング法等により成膜されるものであり、緻密な膜を得ることができるので、透明導電保護層に導電性無機酸化物を用いることにより、酸化防止機能を高めることができるからである。また、導電性無機酸化物は導電性が比較的高いので、導電性無機酸化物からなる透明導電保護層は、半透過陰極層の導電性を補助するのに有利だからである。さらに、導電性無機酸化物は透明性も比較的高いため、発光層からの発光を効率的に取り出すことができ、意匠性を高めることもできる。
さらに本発明においては、上記半透過陰極層が、アルカリ金属単体、アルカリ土類金属単体、アルカリ金属の酸化物、アルカリ土類金属の酸化物、アルカリ金属のフッ化物、アルカリ土類金属のフッ化物、またはアルカリ金属の有機錯体を含有することが好ましい。このような反応性の高い材料を半透過陰極層に用いると、発光層への電子注入性を高めることはできるが、反応性が高いために酸化によって導電性が低下しやすい。これに対し、上述したように半透過陰極層上には酸化防止機能を有する透明導電保護層が形成されているので、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の酸化を防止することができる。また、一般に、上記の材料は真空蒸着法等により成膜可能であり、有機EL層にダメージを与えることなく半透過陰極層を形成することができる。
本発明においては、有機EL層と透明導電保護層との間に衝撃緩和機能を有する透明緩衝層が形成されているので、透明導電保護層形成時の衝撃による有機EL層のダメージを緩和することができる。また、半透過陰極層上に酸化防止機能を有する透明導電保護層が形成されているので、半透過陰極層もしくは有機EL層が反応性の高い金属を含有する場合には、周囲の酸素による金属の酸化を防止することができる。さらに、非表示領域に半透過陰極層および透明導電保護層が接触している接触領域が設けられているので、電子の伝導性を向上させることができる。したがって、発光特性および有機EL層の特性の低下を抑制するとともに、電流−電圧特性を改善することができるという効果を奏する。
以下、本発明の有機EL素子および機能デバイスについて詳細に説明する。
A.有機EL素子
本発明の有機EL素子は、基材と、上記基材上に形成された陽極層と、上記陽極層上に形成され、少なくとも発光層を含む有機EL層と、上記有機EL層上に形成された半透過陰極層と、上記半透過陰極層上に形成され、衝撃緩和機能を有する透明緩衝層と、上記透明緩衝層上に形成され、酸化防止機能を有する透明導電保護層とを有し、非表示領域に上記半透過陰極層および上記透明導電保護層が接触している接触領域が設けられていることを特徴とするものである。
本発明の有機EL素子について図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の有機EL素子の一例を示す概略断面図である。図1に例示するように、有機EL素子1は、基材2上に陽極層3、正孔注入輸送層4、発光層5、半透過陰極層6、透明緩衝層7および透明導電保護層8がこの順に積層されたものであり、有機EL層9が正孔注入輸送層4および発光層5から構成され、半透過陰極層6が陰極用取り出し電極10と接している。また、透明緩衝層7は衝撃緩和機能を有し、透明導電保護層8は酸化防止機能を有している。表示領域11では、陽極層3および半透過陰極層6の間に発光層5が挟持されており、発光層5からの発光は半透過陰極層6側から取り出される。非表示領域12には、半透過陰極層6と透明導電保護層8とが接触している接触領域13が設けられている。
このような有機EL素子においては、有機EL層と透明導電保護層との間に衝撃緩和機能を有する透明緩衝層が形成されているので、透明導電保護層がスパッタリング法等により形成された場合には、スパッタ時のプラズマガスイオン、スパッタリングされた粒子および電離した電子等による有機EL層への衝撃を緩和することができる。したがって、発光特性の低下を抑制することが可能である。
また、半透過陰極層上に酸化防止機能を有する透明導電保護層が形成されているので、半透過陰極層が反応性の高い金属を含有する場合には、半透過陰極層が透明導電保護層によって周囲の酸素から保護され、周囲の酸素による金属の酸化を防止することができる。さらに、半透過陰極層が反応性の高い金属を含有する場合には、透明導電保護層形成時における酸素導入またはターゲットからの酸素放出により半透過陰極層に含有される金属が酸化し、電子注入機能が失われるおそれがあるが、半透過陰極層と透明導電保護層との間に透明緩衝層が形成されているので、半透過陰極層が透明緩衝層により保護され、透明導電保護層形成時での金属の酸化を防止することができる。したがって、半透過陰極層の電子注入機能の低下を抑制することが可能である。
また、図1に例示する有機EL素子1において、陽極層3および半透過陰極層6に電圧をかけると、電流が陰極用取り出し電極10から半透過陰極層6を介して有機EL層9に流れ、半透過陰極層6が導電経路となる。このとき、非表示領域12内の接触領域13にて半透過陰極層6と透明導電保護層8とが接触しているので、透明導電保護層8が半透過陰極層6の導電性を補助し、電流が透明導電保護層8を介しても流れ、透明導電保護層8も導電経路となる。すなわち、非表示領域に設けられた透明導電保護層が半透過陰極層のバス電極として機能し、電子の伝導性を向上させるので、発光層に効率的に電子を供給することができる。
さらに、半透過陰極層6上に衝撃緩和機能を有する透明緩衝層7が形成され、半透過陰極層6と有機EL層9との間には透明緩衝層が介在しないので、従来のように、半透過陰極層と有機EL層との間に透明緩衝層が形成されている場合と比較して、電気抵抗を低くすることでき、発光層に電子を円滑に輸送することができる。
したがって、発光効率を向上させることができ、優れた電流−電圧特性を得ることができる。
さらに、図1に例示する有機EL素子1において、陰極用取り出し電極10がITO等の導電性無機酸化物からなるものである場合、半透過陰極層6と陰極用取り出し電極10とが接触している領域において、半透過陰極層に含有される金属が、陰極用取り出し電極に含有される酸素と反応して酸化されることがある。この場合、半透過陰極層および陰極用取り出し電極が接触している領域において、半透過陰極層の導電性が低下するおそれがある。しかしながら、非表示領域12に、半透過陰極層6および透明導電保護層8が接触している接触領域13が設けられているので、陰極用取り出し電極に含有される酸素の影響により部分的に半透過陰極層の導電性が低下した場合であっても、透明導電保護層が半透過陰極層の導電性の低下を補うことができる。
以下、本発明の有機EL素子の各構成について説明する。
1.透明緩衝層
本発明に用いられる透明緩衝層は、半透過陰極層と透明導電保護層との間に形成され、衝撃緩和機能を有するものである。この透明緩衝層により、透明導電保護層形成時に、発光層、正孔注入輸送層、電子注入輸送層等を含む有機EL層、および半透過陰極層が保護される。
透明緩衝層の形成材料としては、衝撃緩和機能が得られるものであり、十分な衝撃緩和機能を得るために必要な膜厚において透明性を有するものであれば特に限定されるものではない。透明緩衝層の形成材料としては、例えば、(1)アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属のような電子注入性の高い金属がドープされた有機材料および無機材料、(2)電子注入性の低いあるいは電子注入性を有さない金属がドープされた有機材料、(3)電子注入性の低いあるいは電子注入性を有さない金属がドープされた無機材料、(4)有機物単独で、電子移動度の高い有機材料、(5)無機物単独で、電子移動度の高い無機材料、(6)絶縁性有機材料および絶縁性無機材料、などを用いることができる。
上記の(1)アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属のような電子注入性の高い金属がドープされた有機材料の場合、ドープされるアルカリ金属もしくはアルカリ土類金属としては、Li、Cs、Ba、Sr、Ca等が挙げられる。また、これらのアルカリ金属もしくはアルカリ土類金属がドープされる有機材料としては、バソキュプロイン(BCP)、バソフェナントロリン(Bphen)等を挙げることができる。
この場合、透明緩衝層中の有機材料と金属ドーパントとのモル比率は、1:1〜1:3程度であることが好ましく、さらに好ましくは1:1〜1:2程度である。
上記の(2)電子注入性の低いあるいは電子注入性を有さない金属がドープされた有機材料の場合、ドープされる金属としては、Be、Mg、Sc、Y、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Mn、Tc、Re、Fe、Ru、Os、Co、Rh、Ir、Ni、Pd、Pt、Cu、Ag、Au、Zn、Cd、Hg、Al、Ga、In、Ti、Sn、Pb、Bi等が挙げられる。これらの中でも、仕事関数が3.0eV以上である金属が好ましい。また、これらの金属がドープされる有機材料としては、例えばフタロシアニン化合物が挙げられる。具体的には、CuPc、H−Pc、Al−PCc、TiO−Pc、Fe−Pc、Co−Pc、またはSn−Pc等が挙げられる。
この場合、透明緩衝層中の金属ドーパントの含有量としては、透明緩衝層を共蒸着法により成膜する場合、有機材料と金属ドーパントとの膜厚比で、300:1〜30:1程度であることが好ましく、さらに好ましくは120:1〜80:1程度である。
上記の(3)電子注入性の低いあるいは電子注入性を有さない金属がドープされた無機材料の場合、ドープされる金属としては、上記(2)の場合と同様のものが挙げられる。また、これらの金属がドープされる無機材料としては、金属または半導体の酸化物、窒化物、フッ化物、硫化物、これらの混合物等を用いることができる。
この場合、透明緩衝層中の金属ドーパントの含有量(金属濃度)としては、体積率で金属ドーパントの含有量が30%以下であることが好ましい。金属ドーパントの含有量が多すぎると、透明緩衝層が不透明になるおそれがあるからである。
上記の(4)有機物単独で、電子移動度の高い有機材料は、金属ドーパントを含まないものである。この有機物単独で、電子移動度の高い有機材料としては、例えばトリス(8−キノリノラト)アルミニウム錯体(Alq3)等のキノリン誘導体、2,5−ビス(1−ナフチル)−1,3,4−オキサジアゾール(BND)、2−(4−tert−ブチルフェニル)−5−(4−ビフェニリル)−1,3,4−オキサジアゾール(PBD)等のオキサジアゾール誘導体、3−(4−tert−ブチルフェニル)−4−フェニル−5−(4−ビフェニリル)−1,2,4−トリアゾール(TAZ)等のトリアゾール誘導体、トリアジン誘導体、バソキュプロイン(BCP)等のフェナントロリン誘導体、4,4´−ジカルバゾール−ビフェニル(CBP)等のカルバゾールビフェニル誘導体、シロール誘導体、ペリレン誘導体、ピリジン誘導体、ピリミジン誘導体、キノキサリン誘導体、シクロペンタジエン誘導体、ビススチリルベンゼン誘導体、ジスチリルベンゼン誘導体、ジスチリルピラジン誘導体、ジフェニルキノン誘導体、ニトロ置換フルオレン誘導体等が挙げられる。また、上記の有機材料としては、例えばN,N´−ビス−(3−メチルフェニル)−N,N´−ビス−(フェニル)−ベンジジン(TPD)等が挙げられる。
上記の(5)無機物単独で、電子移動度の高い無機材料は、金属ドーパントを含まないものである。この無機物単独で、電子移動度の高い無機材料としては、例えば周期表の2族および6族の元素から構成される化合物などの広いバンドギャップ半導体が挙げられる。具体的には、ZnSe、ZnS、ZnSSe1−x等を挙げることができる。
上記の(6)絶縁性有機材料および絶縁性無機材料としては、金属または半導体の酸化物、窒化物、フッ化物、硫化物、これらの混合物、あるいは、樹脂等を挙げることができる。
また、透明緩衝層は透明であり、可視光領域(380nm〜780nm)における平均透過率が10%以上であることが好ましく、より好ましくは40%以上である。これにより、トップエミッション型に適した有機EL素子とすることができるからである。
なお、上記平均透過率は、紫外可視分光光度計((株)島津製作所製 UV−2200A)を用い、室温、大気中で測定した値とする。
透明緩衝層の厚みとしては、衝撃緩和機能が発揮され、かつ上記透過率を満たす厚みであればよく、透明緩衝層に用いられる材料の種類や、透明導電保護層の形成方法に応じて適宜設定される。具体的には、透明緩衝層の厚みは、1nm〜1000nmの範囲内であることが好ましく、50nm〜500nmの範囲内であることがより好ましい。透明緩衝層の厚みが上記範囲より薄いと、衝撃緩和機能が十分に発揮されないおそれがあるからである。また、透明緩衝層の厚みが上記範囲より厚いと、透過率が低下したり、成膜時間が長くなったりする場合があるからである。さらに、透明緩衝層の厚みが上記範囲より厚い場合、半透過陰極層と透明導電保護層とが離れすぎて、透明導電保護層による金属の酸化防止効果が十分に得られない可能性があるからである。
透明緩衝層の形成方法としては、発光層等を含む有機EL層に影響を及ぼさない方法であれば特に限定されるものではなく、例えば化学的気相成長法;真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法等の物理的気相成長法が挙げられる。中でも、化学的気相成長法、真空蒸着法が好ましい。化学的気相成長法や真空蒸着法では、気体となった物質のもつ運動エネルギーが低いので、発光層等を含む有機EL層に対して与えるエネルギーが小さいからである。
また、透明緩衝層の形成方法として、塗布法を用いることもできる。さらに、透明緩衝層がフィルム状に成形されている場合は、直接もしくは粘着剤を介して、半透過陰極層上に透明緩衝層を積層する(転写する)こともできる。
特に、透明緩衝層の形成方法としては真空蒸着法が好適である。真空蒸着法では、上述した利点があるだけではなく、酸素等の反応性を有する気体が導入されないからである。このため、半透過陰極層が反応性の高い金属を含有する場合であっても、この金属の酸化を回避することができる。
したがって、化学的気相成長法、スパッタリング法、イオンプレーティング法を用いる場合においても、酸素等の反応性を有する気体を導入せず、希ガス等の反応性のない気体を導入することが好ましい。
真空蒸着法としては、抵抗加熱蒸着法、フラッシュ蒸着法、アーク蒸着法、レーザー蒸着法、高周波加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法等を挙げることができる。
2.透明導電保護層
本発明に用いられる透明導電保護層は、透明緩衝層上に形成され、酸化防止機能を有するものである。この透明導電保護層により、半透過陰極層または有機EL層を構成する電子注入層が反応性の高い金属を有する場合には、周囲の酸素による金属の酸化を防止することができる。
透明導電保護層は、半透過陰極層よりも導電性が高いことが好ましい。具体的には、非表示領域に設けられた透明導電保護層の抵抗率を膜厚で割った値が、非表示領域に設けられた半透過陰極層の抵抗率を膜厚で割った値以下であることが好ましい。すなわち、透明導電保護層は、半透過陰極層のバス電極として機能するものであることが好ましい。これにより、非表示領域において、透明導電保護層によって半透過陰極層の導電性が補助され、電子の伝導性を高めることができるからである。
非表示領域において、透明導電保護層の抵抗が半透過陰極層の抵抗よりも小さいと、陰極用取り出し電極、半透過陰極層および透明導電保護層が導電経路となる。例えば、図1に示す有機EL素子1においては、電流は、陰極用取り出し電極10から半透過陰極層6および透明導電保護層8に流れ、そして半透過陰極層6に流れて、発光層5に電子が供給される。また例えば、図2に示す有機EL素子においては、電流は、陰極用取り出し電極10から透明導電保護層8に流れ、そして半透過陰極層6に流れて、発光層5に電子が供給される。このように、非表示領域に設けられた透明導電保護層が半透過陰極層のバス電極として機能し、電子の伝導性を向上させるので、発光層に効率的に電子を供給することができる。
透明導電保護層の形成材料としては、透明性を有する導電性材料であり、酸化防止機能が得られるものであれば特に限定されるものではない。例えば、透明緩衝層によって透明導電保護層形成時の衝撃による有機EL層へのダメージを緩和することができることから、透明導電保護層の形成材料は、融点が高く、スパッタリング法またはイオンプレーティング法等のような成膜時のエネルギーが高い方法のみによって成膜される材料であってもよい。
中でも、透明導電保護層が半透過陰極層のバス電極として機能するためには、透明導電保護層の形成材料は、半透過陰極層の形成材料よりも導電性が高いことが好ましい。
このような導電性材料としては、In−Sn−O(酸化インジウム錫;ITO)、In−Zn−O(酸化インジウム亜鉛;IZO)、In−O、Zn−O、Zn−O−Al、Zn−Sn−O等の導電性無機酸化物、あるいは、α−Si、α−SiC等が挙げられる。
また、上記導電性材料としては、Ag等の反応性の比較的低い金属単体を挙げることができる。
これらの中でも、透明導電保護層の形成材料としては、導電性無機酸化物が好適である。導電性無機酸化物は、スパッタリング法またはイオンプレーティング法等により成膜可能であり、緻密な膜を得ることができ、酸化防止機能を発揮するのに有利だからである。また、導電性無機酸化物は、導電性が比較的高く、透明導電保護層が半透過陰極層のバス電極として機能するのに有利だからである。
透明導電保護層は透明であり、可視光領域(380nm〜780nm)における平均透過率が10%以上であることが好ましく、より好ましくは50%以上である。なお、平均透過率の測定方法については、上記透明緩衝層の項に記載した方法と同様である。
また、透明導電保護層の厚みとしては、特に限定されるものではなく、用いる導電性材料に応じて適宜設定される。具体的には、透明導電保護層の厚みとしては、導電性無機酸化物を用いた場合は40nm〜500nmの範囲内であることが好ましく、金属単体を用いた場合は1nm〜500nmの範囲内であることが好ましい。透明導電保護層の厚みが薄すぎると、抵抗が高くなったり、酸化防止機能が低下したりする場合があるからである。また、透明導電保護層の厚みが厚すぎると、透過率が低くなる場合があるからである。
透明導電保護層の形成方法としては、例えば化学的気相成長法;真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法等の物理的気相成長法が挙げられる。中でも、スパッタリング法、イオンプレーティング法等が好ましい。これらの方法は、成膜エネルギーが高いために導電性無機酸化物等の融点が高い材料も成膜することができ、さらに成膜効率が良いからである。
3.半透過陰極層
本発明に用いられる半透過陰極層は、有機EL層と透明緩衝層との間に形成されるものである。
半透過陰極層としては、透明性および導電性を有していれば特に限定されるものではないが、反応性の高い金属を含有することが好ましく、中でもアルカリ金属またはアルカリ土類金属を含有することが好ましく、特にアルカリ金属単体、アルカリ土類金属単体、アルカリ金属の酸化物、アルカリ土類金属の酸化物、アルカリ金属のフッ化物、アルカリ土類金属のフッ化物、またはアルカリ金属の有機錯体を含有することが好ましい。
アルカリ金属およびアルカリ土類金属は酸化されやすく、金属の酸化により半透過陰極層の電子注入機能が失われるおそれがあるが、半透過陰極層上に酸化防止機能を有する透明導電保護層が形成されているので、半透過陰極層がアルカリ金属またはアルカリ土類金属を含有する場合であっても、半透過陰極層が透明導電保護層によって保護され、周囲の酸素によるアルカリ金属およびアルカリ土類金属の酸化を防止することができるからである。また、半透過陰極層と透明導電保護層との間に透明緩衝層が形成されているので、透明導電保護層形成時における酸素導入やターゲットからの酸素放出による、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の酸化を防止することができるからである。
アルカリ金属単体またはアルカリ土類金属単体としては、例えばLi、Cs、Mg、Ca、Sr、Ba等が挙げられる。アルカリ金属の酸化物またはアルカリ土類金属の酸化物としては、例えば酸化マグネシウム、酸化ストロンチウム、酸化リチウム等が挙げられる。アルカリ金属のフッ化物またはアルカリ土類金属のフッ化物としては、例えばフッ化リチウム、フッ化マグネシウム、フッ化ストロンチウム、フッ化カルシウム、フッ化バリウム、フッ化セシウム等が挙げられる。アルカリ金属の有機錯体としては、例えばポリメチルメタクリレートポリスチレンスルホン酸ナトリウム等が挙げられる。
半透過陰極層としては、単一層であってもよく、複数の層が積層されたものであってもよい。
単一層である半透過陰極層としては、Ca、Mg、Ba等のアルカリ金属単体またはアルカリ土類金属単体からなる単一膜、あるいは、MgAg等のアルカリ金属またはアルカリ土類金属と安定性の高い金属との合金からなる単一膜が例示される。なお、Ca膜が陰極層として機能することについては、特許第3478824号公報、およびAppl. Phys. Lett., Vol.58, No.18, p.1982-1984 (1991) を参照することができる。
また、複数の層が積層されたものである半透過陰極層としては、アルカリ金属またはアルカリ土類金属と、安定性の高い金属との積層体;アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属のフッ化物、アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属の酸化物またはアルカリ金属の有機錯体と、安定性の高い金属との積層体;アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属のフッ化物、アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属の酸化物またはアルカリ金属の有機錯体と、アルカリ金属またはアルカリ土類金属との積層体;アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属のフッ化物、アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属の酸化物またはアルカリ金属の有機錯体と、アルカリ金属またはアルカリ土類金属と、安定性の高い金属との積層体が例示される。具体的には、Ca/Ag、LiF/Al、LiF/Ca、LiF/Ca/Ag等が挙げられる。
上述した中でも、半透過陰極層は、アルカリ金属単体またはアルカリ土類金属単体からなる単一膜、あるいは、アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属のフッ化物、アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属の酸化物またはアルカリ金属の有機錯体と、アルカリ金属またはアルカリ土類金属との積層体であることが好ましい。特に、半透過陰極層は、Caからなる単一膜、あるいは、LiF/Caの積層体であることが好ましい。これらは、酸化に弱いが、導電性が比較的高く、透明性が高いからである。
半透過陰極層に、アルカリ金属またはアルカリ土類金属のような反応性の高い金属を用いると、発光層への電子注入性を高めることができる。しかしながら、上述したように、アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属は反応性が高いために、酸化によって導電性が低下しやすい。通常、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の酸化を防ぐために、アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属またはそれらの化合物の膜の上にAgやAl等の安定性の高い金属の膜を積層したり、アルカリ金属もしくはアルカリ土類金属とAgやAl等の安定性の高い金属との合金の膜を用いたりしていた。しかしながら、膜中の安定性の高い金属の含有量を増やすと、膜の透明性が低下する場合がある。本発明においては、透明導電保護層によって半透過陰極層に含まれるアルカリ金属およびアルカリ土類金属の酸化を防ぐことができるため、半透過陰極層が安定性の高い金属を含有する場合には、その安定性の高い金属の含有量、すなわち透明性を低下させる金属の含有量を少なくすることができる。
半透過陰極層は、可視光領域(380nm〜780nm)における平均透過率が10%以上であることが好ましく、より好ましくは50%以上である。なお、平均透過率の測定方法については、上記透明緩衝層の項に記載した方法と同様である。
また、半透過陰極層の厚みとしては、特に限定されるものではなく、用いる導電性材料に応じて適宜設定される。具体的には、半透過陰極層の厚みは、0.2nm〜100nmの範囲内であることが好ましく、より好ましくは0.2nm〜20nmの範囲内である。半透過陰極層の厚みが薄すぎると、抵抗が高くなる場合があるからである。また、透明導電保護層の厚みが厚すぎると、透過率が低くなる場合があるからである。
半透過陰極層の形成方法は、発光層、電子注入層等を含む有機EL層に影響を及ぼさない方法であれば特に限定されるものではなく、例えば化学的気相成長法;真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法等の物理的気相成長法が挙げられる。中でも、化学的気相成長法、真空蒸着法が好ましい。化学的気相成長法や真空蒸着法では、気体となった物質のもつ運動エネルギーが低いので、発光層、電子注入層等を含む有機EL層に対して与えるエネルギーが小さいからである。また、半透過陰極層の形成方法として、塗布法を用いることもできる。
特に、半透過陰極層の形成方法としては真空蒸着法が好適である。真空蒸着法では、酸素等の反応性を有する気体が導入されないからである。このため、電子注入層が反応性の高い金属を含有する場合であっても、この金属の酸化を回避することができる。
化学的気相成長法、スパッタリング法、イオンプレーティング法を用いる場合においても、酸素等の反応性を有する気体を導入せず、希ガス等の反応性のない気体を導入することが好ましい。
なお、半透過陰極層の形成方法のその他の点については、上記透明緩衝層の形成方法と同様であるので、ここでの説明は省略する。
4.接触領域、透明導電保護層および半透過陰極層
本発明においては、非表示領域に、透明導電保護層および半透過陰極層が接触している接触領域が設けられている。接触領域は非表示領域内に設けられていればよく、接触領域の面積としては特に限定されるものではない。
また、非表示領域において、透明導電保護層と半透過陰極層とが接触していればよく、図1に例示するように半透過陰極層6が陰極用取り出し電極10と接触し、透明導電保護層8が陰極用取り出し電極10に接触していなくてもよく、図2に例示するように透明導電保護層8が陰極用取り出し電極10と接触し、半透過陰極層6が陰極用取り出し電極10に接触していなくてもよく、図示しないが半透過陰極層および透明導電保護層の両方が陰極用取り出し電極と接触していてもよい。
例えば、図1に示す有機EL素子1において、陰極用取り出し電極10がITO等の導電性無機酸化物からなるものである場合、半透過陰極層に含有される金属が、陰極用取り出し電極に含有される酸素と反応して酸化されることがある。この場合、陰極用取り出し電極と半透過陰極層とが導通しにくくなる可能性がある。しかしながら、透明導電保護層が陰極用取り出し電極と接触している場合には、電流が、陰極用取り出し電極から透明導電保護層を介して流れ、さらに接触領域にて透明導電保護層から半透過陰極層に流れるので、陰極用取り出し電極と半透過陰極層とが導通しにくくなったとしても、安定して発光層に電子を供給することができると考えられる。
5.有機EL層
本発明に用いられる有機EL層は、少なくとも発光層を含む1層もしくは複数層の有機層から構成されるものである。すなわち、有機EL層とは、少なくとも発光層を含む層であり、その層構成が有機層1層以上の層をいう。通常、塗布法で有機EL層を形成する場合は、溶媒との関係で多数の層を積層することが困難であることから、有機EL層は1層もしくは2層の有機層で構成される場合が多いが、溶媒への溶解性が異なるように有機材料を工夫したり、真空蒸着法を組み合わせたりすることにより、さらに多数層とすることも可能である。
発光層以外に有機EL層内に形成される有機層としては、正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層および電子輸送層を挙げることができる。正孔輸送層は、正孔注入層に正孔輸送機能を付与することにより、正孔注入層と一体化される場合が多い。また、電子輸送層は、電子注入層に電子輸送機能を付与することにより、電子注入層と一体化されることがある。
その他、有機EL層内に形成される有機層としては、キャリアブロック層のような正孔もしくは電子の突き抜けを防止し、さらに励起子の拡散を防止して発光層内に励起子を閉じ込めることにより、再結合効率を高めるための層等を挙げることができる。
このように有機EL層は種々の層を積層した積層構造を有することが多く、このような積層構造としては多くの種類がある。例えば、正孔注入輸送層/発光層のような積層構造が好ましい。
以下、有機EL層の各構成について説明する。
(1)発光層
本発明に用いられる発光層は、電子と正孔との再結合の場を提供して発光する機能を有するものである。
発光層の形成材料としては、通常、色素系発光材料、金属錯体系発光材料、または高分子系発光材料が用いられる。
色素系発光材料としては、シクロペンタジエン誘導体、テトラフェニルブタジエン誘導体、トリフェニルアミン誘導体、オキサジアゾール誘導体、ピラゾロキノリン誘導体、ジスチリルベンゼン誘導体、ジスチリルアリーレン誘導体、シロール誘導体、チオフェン環化合物、ピリジン環化合物、ペリノン誘導体、ペリレン誘導体、オリゴチオフェン誘導体、トリフマニルアミン誘導体、クマリン誘導体、オキサジアゾールダイマー、ピラゾリンダイマーなどを挙げることができる。
金属錯体系発光材料としては、中心金属に、Al、Zn、Be、Ir、Pt等、またはTb、Eu、Dy等の希土類金属を有し、配位子にオキサジアゾール、チアジアゾール、フェニルピリジン、フェニルベンゾイミダゾール、キノリン構造等を有する金属錯体を挙げることができる。この金属錯体としては、アルミニウムキノリノール錯体、ベンゾキノリノールベリリウム錯体、ベンゾオキサゾール亜鉛錯体、ベンゾチアゾール亜鉛錯体、アゾメチル亜鉛錯体、ポルフィリン亜鉛錯体、ユーロピウム錯体、イリジウム金属錯体、プラチナ金属錯体等が挙げられる。具体的には、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム錯体(Alq3)を用いることができる。
高分子系発光材料としては、ポリパラフェニレンビニレン誘導体、ポリチオフェン誘導体、ポリパラフェニレン誘導体、ポリシラン誘導体、ポリアセチレン誘導体、ポリビニルカルバゾール、ポリフルオレノン誘導体、ポリフルオレン誘導体、ポリキノキサリン誘導体、ポリジアルキルフルオレン誘導体、およびそれらの共重合体等を挙げることができる。また、上記色素系発光材料および金属錯体系発光材料を高分子化したものも挙げられる。
また、発光層中には、発光効率の向上、発光波長を変化させる等の目的で、蛍光発光または燐光発光するドーパントを添加してもよい。このようなドーパントとしては、例えば、ペリレン誘導体、クマリン誘導体、ルブレン誘導体、キナクリドン誘導体、スクアリウム誘導体、ポルフィリン誘導体、スチリル色素、テトラセン誘導体、ピラゾリン誘導体、デカシクレン、フェノキサゾン、キノキサリン誘導体、カルバゾール誘導体、フルオレン誘導体等を挙げることができる。
発光層の厚みとしては、電子と正孔との再結合の場を提供して発光する機能を発現することができる厚みであれば特に限定されるものではなく、1nm〜200nm程度とすることができる。
発光層の形成方法としては、有機EL素子に要求される微細なパターンの形成が可能な方法であれば特に限定されるものではない。発光層の形成方法としては、例えば蒸着法、印刷法、インクジェット法、スピンコート法、キャスティング法、ディッピング法、バーコート法、ブレードコート法、ロールコート法、グラビアコート法、フレキソ印刷法、スプレーコート法、自己組織化法(交互吸着法、自己組織化単分子膜法)等を挙げることができる。中でも、蒸着法、スピンコート法、インクジェット法が好ましい。
有機EL素子を用いて、フルカラー表示またはマルチカラー表示の表示装置を作製する際には、異なる色を発光する発光層を微細な形状に形成した上、所定の配列で並べる必要があることから、発光層のパターニングを要することがある。発光層のパターニング方法としては、異なる発光色ごとに、マスキング法により塗り分けや蒸着を行う方法、印刷法またはインクジェット法により行う方法が挙げられる。また、配列した発光層間に隔壁を形成することにより、発光層をパターニングしてもよい。隔壁を形成する方法は、インクジェット法等によって発光層を形成する際に、発光材料が隣接する区域に濡れ広がらないという利点を有する。
このような隔壁の形成材料としては、感光性ポリイミド樹脂、アクリル系樹脂等の光硬化型樹脂、または熱硬化型樹脂、および無機材料等を用いることができる。さらに、隔壁の形成材料の表面エネルギー(濡れ性)を変化させる処理を行ってもよい。
(2)正孔注入輸送層
本発明においては、図1に例示するように、陽極層3と発光層5との間に正孔注入輸送層4が形成されていてもよい。正孔注入輸送層を形成することにより、発光層への正孔の注入が安定化し、発光効率を高めることができる。
正孔注入輸送層としては、陽極層から注入された正孔を発光層内へ輸送することが可能な層であれば特に限定されるものではない。正孔注入輸送層は、正孔注入層および正孔輸送層のいずれか一方を有するものであってもよく、正孔注入層および正孔輸送層の両方を有するものであってもよく、正孔注入機能および正孔輸送機能の両機能を有する単一の層であってもよい。
正孔注入輸送層の形成材料は、陽極層から注入された正孔を安定に発光層内へ輸送することができる材料であれば特に限定されるものではない。正孔注入輸送層の形成材料としては、例えばフェニルアミン系、スターバースト型アミン系、フタロシアニン系;酸化バナジウム、酸化モリブデン、酸化ルテニウム、酸化アルミニウムなどの酸化物;アモルファスカーボン;ポリアニリン、ポリチオフェン、ポリフェニレンビニレンおよびこれらの誘導体等を挙げることができる。正孔注入輸送層の形成材料として、具体的には、ビス(N−(1−ナフチル−N−フェニル)ベンジジン(α−NPD)、4,4,4−トリス(3−メチルフェニルフェニルアミノ)トリフェニルアミン(MTDATA)、ポリ3,4エチレンジオキシチオフェン−ポリスチレンスルホン酸(PEDOT−PSS)、ポリビニルカルバゾール(PVCz)等を用いることができる。
正孔注入輸送層の厚みとしては、陽極層から正孔を注入し、発光層へ正孔を輸送する機能が十分に発揮される厚みであれば特に限定されないが、具体的には、0.5nm〜300nmの範囲内であることが好ましく、より好ましくは10nm〜100nmの範囲内である。
(3)電子注入層
本発明においては、発光層と半透過陰極層の間に電子注入層が形成されていてもよい。
電子注入層の形成材料は、発光層内への電子の注入を安定化させることができる材料であれば特に限定されるものではない。電子注入層の形成材料としては、例えばストロンチウム、カルシウム、リチウム、セシウム等のアルカリ金属またはアルカリ土類金属の金属単体;酸化マグネシウム、酸化ストロンチウム、酸化リチウム等のアルカリ金属またはアルカリ土類金属の酸化物;フッ化リチウム、フッ化マグネシウム、フッ化ストロンチウム、フッ化カルシウム、フッ化バリウム、フッ化セシウム等のアルカリ金属またはアルカリ土類金属のフッ化物;ポリメチルメタクリレートポリスチレンスルホン酸ナトリウム等のアルカリ金属の有機錯体などを挙げることができる。
上記の中でも、アルカリ土類金属のフッ化物が好ましい。アルカリ土類金属のフッ化物は、有機EL層の安定性および寿命を向上させることができるからである。これは、アルカリ土類金属のフッ化物が、上述したアルカリ金属の化合物やアルカリ土類金属の酸化物などに比べて水との反応性が低く、電子注入層の成膜中または成膜後における吸水が少ないためである。さらに、アルカリ土類金属のフッ化物が、上述したアルカリ金属の化合物に比べて融点が高く、耐熱安定性に優れるためである。
また、アルカリ金属およびアルカリ土類金属は酸化されやすく、金属の酸化により電子注入層の電子注入機能が失われるおそれがあるが、半透過陰極層上に透明導電保護層が形成されているので、半透過陰極層がアルカリ金属またはアルカリ土類金属を含有する場合であっても、半透過陰極層が透明導電保護層によって保護され、周囲の酸素による金属の酸化を防止することができる。さらに、半透過陰極層と透明導電保護層との間に透明緩衝層が形成されているので、透明導電保護層形成時における酸素導入またはターゲットからの酸素放出による金属の酸化を防止することができる。
電子注入層の厚みとしては、上述したアルカリ金属またはアルカリ土類金属の化合物等の導電率および透過率を考慮すると、0.2nm〜10nm程度であることが好ましい。
(4)電子輸送層
本発明においては、発光層と半透過陰極層との間に電子輸送層が形成されていてもよい。
電子輸送層の形成材料は、半透過陰極層または電子注入層から注入された電子を発光層内へ輸送することが可能な材料であれば特に限定されるものではない。電子輸送層の形成材料としては、例えばバソキュプロイン(BCP)、バソフェナントロリン(Bpehn)等のフェナントロリン誘導体、またはトリス(8−キノリノラト)アルミニウム錯体(Alq3)等のキノリン誘導体などを挙げることができる。
6.陽極層
本発明に用いられる陽極層は、透明または半透明であってもよく、透明または半透明でなくてもよい。半透過陰極層側および陽極層側の両側から光を取り出す場合は、陽極層が透明または半透明であることが好ましい。
陽極層の形成材料としては、導電性材料であれば特に限定されるものではなく、例えばAu、Ta、W、Pt、Ni、Pd、Cr、Cu、Mo、アルカリ金属、アルカリ土類金属等の金属単体、これらの金属の酸化物、およびAlLi、AlCa、AlMg等のAl合金、MgAg等のMg合金、Ni合金、Cr合金、アルカリ金属の合金、アルカリ土類金属の合金等の合金などを挙げることができる。これらの導電性材料は、単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよく、2種以上を用いて積層させてもよい。
また、導電性材料としては、In−Sn−O、In−Zn−O、In−O、Zn−O、Zn−O−Al、Zn−Sn−O等の導電性無機酸化物、金属がドープされたポリチオフェン、ポリアニリン、ポリアセチレン、ポリアルキルチオフェン誘導体、ポリシラン誘導体等の導電性高分子、α−Si、α−SiCなどを用いることもできる。
陽極層の厚みとしては、特に限定されるものではなく、用いる導電性材料に応じて適宜設定される。具体的には、陽極層の厚みは、5nm〜1000nmの範囲内であることが好ましく、より好ましくは40nm〜500nmの範囲内である。陽極層の厚みが薄すぎると、抵抗が高くなる場合があるからである。また、陽極層の厚みが厚すぎると、例えばパターニングされた陽極層の端部の段差により、半透過陰極層または透明導電保護層が断線したり、陽極層および半透過陰極層間で短絡が生じたりする可能性があるからである。
陽極層の形成方法としては、例えば化学的気相成長法;真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法等の物理的気相成長法が挙げられる。
7.基材
本発明に用いられる基材は、陽極層、有機EL層、半透過陰極層、透明緩衝層、および透明導電保護層を支持するものである。
この基材は、透明性を有していてもよく、有していなくてもよいが、半透過陰極層側および陽極層側の両側から光を取り出す場合は、基材が透明性を有することが好ましい。
基材の形成材料としては、例えば、石英、ガラス、シリコンウェハ、TFT(薄膜トランジスタ)が形成されたガラス等の無機材料を挙げることができる。また、基材の形成材料としては、例えばポリカーボネート(PC)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)、ポリフェニレンスルフィド(PPS)、ポリイミド(PI)、ポリアミドイミド(PAI)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエーテルイミド(PEI)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)等の高分子材料を挙げることができる。
上記の中でも、石英、ガラス、シリコンウェハ、またはスーパーエンジニアリングプラスチックであるポリイミド(PI)、ポリアミドイミド(PAI)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエーテルイミド(PEI)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)が好ましい。これらの材料は200℃以上の耐熱性を有しており、製造工程での基材温度を高くすることができるからである。特にTFTを用いたアクティブ駆動表示装置を製造する場合、製造工程中に高温となるので、上記の材料を好適に用いることができる。
基材の厚みとしては、用いる材料および有機EL素子の用途により適宜選択される。具体的には、基材の厚みは、0.005mm〜5mm程度である。
また、基材に上述の高分子材料を用いた場合、この高分子材料から発生するガスによって有機EL層が劣化する可能性があることから、基材と陽極層との間にガスバリア層が形成されていることが好ましい。ガスバリア層の形成材料としては、酸化ケイ素、窒化ケイ素等が挙げられる。
8.その他
本発明の有機EL素子は、マルチフォトンエミッションといわれる積層型の有機EL素子であってもよい。すなわち、本発明においては、陽極層と半透過陰極層との間に、複数の有機EL層が設けられていてもよい。この場合、各有機EL層間には中間層が形成される。
この中間層については、特開平11−329748号公報、特開2003−45676公報、特開2003−272860公報、特開2004−39617公報および特開2005−135600公報などを参考にすることができる。
また、中間層として、上述した半透過陰極層と透明緩衝層と透明導電保護層との積層体を用いることができる。このような積層体は、中間層に例えばITOやIZOを用いた場合と比較して、電子注入性の点で有利である。
B.機能デバイス
本発明の適用範囲は、上述した有機EL素子に限定されるものではない。本発明における半透過陰極層、透明緩衝層、および透明導電保護層は、キャリア(正孔と電子)の注入および輸送機能が必要とされ、透明導電保護層形成時の衝撃によるダメージを抑制すること、および、半透過陰極層等に含まれる金属の酸化を防止することが望まれる機能デバイスに対して、広く適用可能である。
本発明の機能デバイスは、基材と、上記基材上に形成された陽極層と、上記陽極層上に形成され、電界もしくは電流により機能を発揮する機能層と、上記機能層上に形成された半透過陰極層と、上記半透過陰極層上に形成され、衝撃緩和機能を有する透明緩衝層と、上記透明緩衝層上に形成され、酸化防止機能を有する透明導電保護層とを有し、上記機能層が機能を発揮する領域外に上記半透過陰極層および上記透明導電保護層が接触している接触領域が設けられていることを特徴とするものである。
本発明においては、機能層と透明導電保護層との間に衝撃緩和機能を有する透明緩衝層が形成されているので、透明導電保護層形成時における機能層への衝撃を緩和することができ、機能層の特性の低下を抑制することが可能である。
また、半透過陰極層上に酸化防止機能を有する透明導電保護層が形成されているので、半透過陰極層もしくは機能層が反応性の高い金属を含有する場合には、周囲の酸素による金属の酸化を防止することができる。さらに、半透過陰極層と透明導電保護層との間に透明緩衝層が形成されているので、透明導電保護層形成時における酸素導入またはターゲットからの酸素放出による金属の酸化を防止することができる。したがって、半透過陰極層および機能層の特性の低下を抑制することが可能である。
さらに、機能層が機能を発揮する領域外に半透過陰極層と透明導電保護層とが接触している接触領域が設けられているので、透明導電保護層が半透過陰極層の導電性を補助し、電子の伝導性を向上させることができる。
本発明の機能デバイスとしては、具体的に、有機EL素子の他に、無機EL素子、有機薄膜太陽電池、有機薄膜トランジスタ(TFT)、有機電界効果トランジスタ(FET)、有機メモリ等を挙げることができる。
本発明に用いられる機能層としては、電界もしくは電流により機能を発揮するものであり、透明導電保護層形成時の衝撃によりダメージを受けやすいものであれば特に限定されるものではなく、本発明の機能デバイスの種類に応じて適宜選択される。機能層として、具体的には、有機EL層の他に、無機EL層、太陽電池層、トランジスタ層、メモリ層等を挙げることができる。
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
以下、本発明について実施例および比較例を用いて具体的に説明する。
[実施例1]
ガラス基板上に、まず、酸化インジウム錫(ITO)の薄膜(厚み:150nm)をスパッタリング法により成膜し、エッチングすることによって、陽極層および陰極用取り出し電極を形成した。陽極層および陰極用取り出し電極の形成後、基板の洗浄およびUVオゾン処理を施した。その後、大気中にて、ITO薄膜上にポリエチレンジオキシチオフェン−ポリスチレンスルホネート(略称:「PEDOT−PSS」)の溶液をスピンコート法により塗布し、塗布後乾燥させて、正孔注入輸送層(厚み:80nm)を形成した。
次に、低酸素(酸素濃度:0.1ppm以下)、低湿度(水蒸気濃度:0.1ppm以下)状態のグローブボックス中にて、上記正孔注入輸送層上にフルオレン系コポリマー(アメリカン・ダイ・ソース社製、品番:ADS133YE)の溶液をスピンコート法により塗布し、塗布後乾燥させて、発光層(厚み:80nm)を形成した。
発光層まで形成した基板に対し、真空中(圧力:5×10−5Pa)にて、発光層上にCa薄膜(厚み:10nm)を抵抗加熱蒸着により成膜し、半透過陰極層を形成した。この際、半透過陰極層は、表示領域および非表示領域に設けられ、発光層から陰極用取り出し電極までを繋ぐように形成した。
次に真空中(圧力:5×10−5Pa)にて、半透過陰極層上に、N,N´−ビス−(3−メチルフェニル)−N,N´−ビス−(フェニル)−ベンジジン(TPD)を抵抗加熱蒸着法により成膜し、透明緩衝層(厚み:100nm)を形成した。この際、透明緩衝層は、表示領域に設けられるとともに、非表示領域にて半透過陰極層の全面を覆わないように形成した。
さらに、上記透明緩衝層上に、酸化インジウム亜鉛(IZO)の薄膜(厚み:150nm)を対向ターゲット式スパッタリング法により成膜し、透明導電保護層を形成した。この際、透明導電保護層は、上記半透過陰極層と同様の領域に形成した。
透明導電保護層形成後、低酸素(酸素濃度:0.1ppm以下)、低湿度(水蒸気濃度:0.1ppm以下)状態のグローブボックス中にて無アルカリガラスにより封止し、有機EL素子を得た。
得られた有機EL素子の陽極層と半透過陰極層との間に電圧を印加し、0.01cd/mの輝度が得られる電圧(発光開始電圧)を測定したところ、4.7Vであった。また、有機EL素子を肉眼で観察した範囲では、ダークスポット等の欠陥は生じていなかった。
[比較例1]
実施例1において、透明緩衝層を形成せず、また半透過陰極層上に直接IZOを成膜した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、6.0Vであった。
実施例1および比較例1の結果から、透明緩衝層が形成されていない比較例1の有機EL素子においては、IZO成膜時の半透過陰極層および発光層のスパッタダメージによって、発光特性が低下したのに対し、透明緩衝層が形成されている実施例1の有機EL素子においては、スパッタダメージが抑制されることが確認された。
[比較例2]
実施例1において、透明緩衝層およびIZO薄膜を形成せず、真空中(圧力:5×10−5Pa)にて半透過陰極層上に直接Agの薄膜(厚み:150nm)を抵抗加熱蒸着法により成膜した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、4.4Vであった。
実施例1および比較例2の結果から、IZOを成膜するのに先立って透明緩衝層を形成した実施例1の有機EL素子では、透明導電保護層(IZO薄膜)をスパッタリング法で成膜しても、導電層(Ag薄膜)を抵抗加熱蒸着法で成膜した場合と同等の発光特性が得られることが確認された。
[実施例2]
実施例1において、透明緩衝層として、Ag薄膜(厚み:1nm)を抵抗加熱蒸着法により成膜した以外は、実施例1と同様して有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、5.4Vであった。
[実施例3]
実施例1において、透明緩衝層として、Ag薄膜(厚み:10nm)を抵抗加熱蒸着法により成膜した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、5.3Vであった。
実施例1〜3の結果から、透明緩衝層に金属薄膜を用いた場合に比べて、TPDを用いた場合は、厚膜にすることができるので、発光特性の低下を効果的に抑制することができることが確認された。
[実施例4]
実施例1において、透明緩衝層の厚みを10nmとした以外は、実施例1と同様して有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、5.3Vであった。
実施例1および実施例4の結果から、透明緩衝層が厚膜であるほうが、保護効果が高いことが確認された。
[実施例5]
実施例1において、透明緩衝層の厚みを500nmとした以外は、実施例1と同様して有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、4.7Vであった。この結果から、透明緩衝層の厚みを500nmまで増大させても、保護効果が持続することが確認された。
[実施例6]
実施例1において、TPDの替わりに、Alq3を用いて透明緩衝層を形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子を作製した。
有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、4.7Vであった。この結果から、透明緩衝層にAlq3を用いても、実施例1と同等の発光特性が得られることが確認された。
[実施例7]
実施例1において、TPDの替わりに、α−NPDを用いて透明緩衝層を形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1でと同様にして発光開始電圧を測定したところ、4.7Vであった。この結果から、透明緩衝層にα−NPDを用いても、実施例1と同等の発光特性が得られることが確認された。
[実施例8]
実施例1において、TPDの替わりに、SiOとAgを抵抗加熱蒸着法により共蒸着して成膜し、透明緩衝層(厚み:100nm)を形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子を作製した。透明緩衝層を形成する際には、蒸着源におけるSiとAgの体積比を、SiO/Ag=97/3とした。また、SiOの成膜速度は0.97Å/sであり、Agの成膜速度は0.03Å/sであった。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、4.1Vであった。この結果から、透明緩衝層にSiOとAgの共蒸着膜を用いても、実施例1と同等の発光特性が得られることが確認された。
[実施例9]
実施例1において、TPDの替わりに、SiOを抵抗加熱蒸着法により成膜し、透明緩衝層(厚み:100nm)を形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、4.1Vであった。この結果から、透明緩衝層にSiOを用いても、実施例1と同等の発光特性が得られることが確認された。
[実施例10]
ガラス基板上に、まず、ITOの薄膜(厚み:150nm)をスパッタリング法により成膜し、エッチングすることによって、陽極層および陰極用取り出し電極を形成した。陽極層および陰極用取り出し電極の形成後、基板の洗浄およびUVオゾン処理を施した。その後、大気中にて、ITO薄膜上にポリエチレンジオキシチオフェン−ポリスチレンスルホネート(略称:「PEDOT−PSS」)の溶液をスピンコート法により塗布し、塗布後乾燥させて、正孔注入輸送層(厚み:80nm)を形成した。
次に、真空中(圧力:5×10−5Pa)にて、正孔注入輸送層上にα−NPD(厚み:40nm)、Alq3(厚み:60nm)、LiF(厚み:0.5nm)およびCa(厚み:10nm)を抵抗加熱蒸着により順次成膜し、正孔輸送層(α−NPD)、発光層(Alq3)および半透過陰極層(LiF/Ca)を形成した。この際、半透過陰極層は、表示領域および非表示領域に設けられ、発光層から陰極用取り出し電極までを繋ぐように形成した。
次に、真空中(圧力:5×10−5Pa)にて、半透過陰極層上に、N,N´−ビス−(3−メチルフェニル)−N,N´−ビス−(フェニル)−ベンジジン(TPD)を抵抗加熱蒸着法により成膜し、透明緩衝層(厚み:100nm)を形成した。この際、透明緩衝層は、表示領域に設けられるとともに、非表示領域にて半透過陰極層の全面を覆わないように形成した。
さらに、上記透明緩衝層上に、IZOの薄膜(厚み:150nm)を対向ターゲット式スパッタリング法により成膜し、透明導電保護層を形成した。この際、透明導電保護層は、上記半透過陰極層と同様の領域に形成した。
透明導電保護層形成後、低酸素(酸素濃度:0.1ppm以下)、低湿度(水蒸気濃度:0.1ppm以下)状態のグローブボックス中にて無アルカリガラスにより封止し、有機EL素子を得た。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、2.3Vであった。また、有機EL素子を肉眼で観察した範囲では、ダークスポット等の欠陥は生じていなかった。
[比較例3]
実施例10において、透明緩衝層を形成せず、また半透過陰極層上に直接IZOを成膜した以外は、実施例10と同様して有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、2.4Vであった。
実施例10および比較例3の結果から、透明緩衝層が形成されている実施例10の有機EL素子においては、スパッタダメージが抑制されたことが確認された。
[比較例4]
実施例10において、透明緩衝層およびIZO薄膜を形成せず、真空中(圧力:5×10−5Pa)にて、半透過陰極層上に直接Agの薄膜(厚み:150nm)を抵抗加熱蒸着法により形成した以外は、実施例10と同様にして有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、2.3Vであった。
実施例10および比較例4の結果から、IZOを成膜するのに先立って透明緩衝層を形成した実施例10の有機EL素子では、透明導電保護層(IZO薄膜)をスパッタリング法で成膜しても、導電層(Ag薄膜)を抵抗加熱蒸着法で成膜した場合と同等の発光特性が得られることが確認された。
[実施例11]
実施例10において、TPDの替わりに、SiOとAgを抵抗加熱蒸着法により共蒸着して成膜し、透明緩衝層(厚み:100nm)を形成した以外は、実施例10と同様にして有機EL素子を作製した。透明緩衝層を形成する際には、蒸着源におけるSiとAgの体積比を、SiO/Ag=97/3とした。また、SiOの成膜速度は0.97Å/sであり、Agの成膜速度は0.03Å/sであった。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、2.35Vであった。この結果から、透明緩衝層にSiOとAgの共蒸着膜を用いても、実施例10と同等の発光特性が得られることが確認された。
[実施例12]
実施例1において、TPDの替わりに、ZnSを用いて透明緩衝層を形成した以外は、実施例1と同様して有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、4.7Vであった。
[比較例5]
実施例1において、TPDの替わりにZnSを用いて透明緩衝層を形成し、また半透過陰極層を表示領域のみに設け、さらに透明緩衝層を表示領域および非表示領域に設けて、半透過陰極層の全面を覆うように形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、発光が見られず、発光開始電圧が大幅に上昇していた。
実施例12および比較例5の結果から、半透過陰極層と透明導電保護層とが接触点を持たない場合、透明緩衝層の電気特性によっては、発光特性が高電圧化して十分な発光が得られないことが確認された。
[比較例6]
実施例1において、透明導電保護層を非表示領域に形成した以外は、実施例1と同様にして有機EL素子を作製した。
得られた有機EL素子について、実施例1と同様にして発光開始電圧を測定したところ、4.7Vであった。さらに、発光開始電圧を1日後に再度測定すると、発光が得られなかった。比較例6では、透明導電保護層による半透過陰極層の保護効果が得られないため、半透過陰極層が酸化によって劣化して導電性が低下し、素子が高抵抗化したことが示された。
[参考例]
実施例1で用いたガラス基板上に、Ag薄膜(厚み:1nm)のみを抵抗加熱蒸着法により成膜した。また、同様にして、ガラス基板上に、Ag薄膜(厚み:10nm)のみを抵抗加熱蒸着法により成膜した。得られたAg薄膜の透過率を分光光度計によって測定したところ、透過率は、厚み1nmのAg薄膜では92%であり、厚み10nmのAg薄膜では41%であった。これらの結果から、厚み10nm以上のAg薄膜では、透過率が大幅に低下することが確認された。
また、実施例1で用いたガラス基板上に、実施例1の成膜条件にて、TPD薄膜(厚み:100nm)のみを成膜した。得られたTPD薄膜の透過率を分光光度計によって測定したところ、波長550nmでの透過率は96%であった。この結果から、TPD薄膜は高い透明性を有していることが確認された。
さらに、実施例1で用いたガラス基板上に、実施例8の成膜条件にて、SiOとAgの共蒸着膜(厚み:100nm)のみを成膜した。得られたSiOとAgの共蒸着膜の透過率を分光光度計によって測定したところ、波長550nmでの透過率は98%であり、高い透明性を有していることが確認された。この結果から、SiOとAgの共蒸着膜は、厚みが10nmである場合でも、高い透明性を有することが確認された。
なお、上記の各膜の厚みは、洗浄済みのガラス基板上へ各膜を単一膜で成膜した場合の膜厚を基準とした成膜速度から見積もった値である。膜厚測定には、プローブ顕微鏡(エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)製、Nanopics1000)を用いた。
本発明の有機EL素子の一例を示す概略断面図である。 本発明の有機EL素子の他の例を示す概略断面図である。
符号の説明
1 … 有機EL素子
2 … 基材
3 … 陽極層
4 … 正孔注入輸送層
5 … 発光層
6 … 半透過陰極層
7 … 透明緩衝層
8 … 透明導電保護層
9 … 有機EL層
10 … 陰極用取り出し電極
11 … 表示領域
12 … 非表示領域
13 … 接触領域

Claims (4)

  1. 基材と、前記基材上に形成された陽極層と、前記陽極層上に形成され、少なくとも発光層を含む有機エレクトロルミネッセンス層と、前記有機エレクトロルミネッセンス層上に形成された半透過陰極層と、前記半透過陰極層上に形成され、衝撃緩和機能を有する透明緩衝層と、前記透明緩衝層上に形成され、酸化防止機能を有する透明導電保護層とを有し、非表示領域に前記半透過陰極層および前記透明導電保護層が接触している接触領域が設けられていることを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子。
  2. 前記非表示領域に設けられた前記透明導電保護層の抵抗率を膜厚で割った値が、前記非表示領域に設けられた前記半透過陰極層の抵抗率を膜厚で割った値以下であり、前記非表示領域に設けられた前記透明導電保護層が、前記半透過陰極層のバス電極として機能することを特徴とする請求項1に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
  3. 前記透明導電保護層が、導電性無機酸化物からなることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
  4. 前記半透過陰極層が、アルカリ金属単体、アルカリ土類金属単体、アルカリ金属の酸化物、アルカリ土類金属の酸化物、アルカリ金属のフッ化物、アルカリ土類金属のフッ化物、またはアルカリ金属の有機錯体を含有することを特徴とする請求項1から請求項3までのいずれかに記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
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