JP2007251481A - 赤外線検出装置、赤外線検出装置のオフセット補正方法 - Google Patents

赤外線検出装置、赤外線検出装置のオフセット補正方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2007251481A
JP2007251481A JP2006070651A JP2006070651A JP2007251481A JP 2007251481 A JP2007251481 A JP 2007251481A JP 2006070651 A JP2006070651 A JP 2006070651A JP 2006070651 A JP2006070651 A JP 2006070651A JP 2007251481 A JP2007251481 A JP 2007251481A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
infrared detection
output
infrared
short
amplifying
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006070651A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5017895B2 (ja
Inventor
Makoto Iwashima
誠 岩島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissan Motor Co Ltd
Original Assignee
Nissan Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissan Motor Co Ltd filed Critical Nissan Motor Co Ltd
Priority to JP2006070651A priority Critical patent/JP5017895B2/ja
Publication of JP2007251481A publication Critical patent/JP2007251481A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5017895B2 publication Critical patent/JP5017895B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

【課題】赤外線検出装置の出力信号におけるオフセット成分を補正する。
【解決手段】垂直方向デコーダ3から垂直方向選択信号Y1〜Ymを出力し、水平方向デコーダ4から水平方向選択信号X1〜Xnを出力して、スイッチM11〜MmnおよびスイッチM1〜Mnを制御することにより、画素11〜画素mnに設けられた増幅トランジスタM11a〜Mmnaを順次選択する。そして、選択された増幅トランジスタM11a〜Mmnaのいずれかと、黒画素1〜黒画素nの増幅トランジスタM1a〜Mnaのいずれかを接続して差動増幅器を構成し、選択された当該増幅トランジスタから出力される出力信号に含まれるオフセット成分を補正する。
【選択図】図1

Description

本発明は、入射赤外光を電気信号に変換する複数の赤外線検出素子を利用して被写体の温度分布を撮像する赤外線検出装置に関する。
従来、複数の赤外線検出素子を並べて配置することで、被写体の温度分布をリアルタイムに検出する赤外線検出装置が広く知られている。このような赤外線検出装置において、信号出力に混入するノイズを低減する様々な方法が提案されている。たとえば特許文献1には、ライン上に配列したダミー画素を用いて走査スイッチングノイズを低減する赤外線検出装置が開示されている。また特許文献2には、MOSFETを使用したときに生じる1/fノイズや固定パターンノイズを低減するボロメータ型の赤外線検出装置が開示されている。
特開平7−87399号公報 特開平8−105794号公報
たとえば熱電対を赤外線検出素子のセンサ部分に使用したサーモパイル型の赤外線検出装置のように、センサ出力信号が微弱な赤外線検出装置では、各素子に増幅器を設け、センサ出力信号を増幅器によって増幅してから出力する必要がある。この増幅器には一般的にトランジスタが用いられ、センサ出力信号からの入力がない時には、オフセット電圧と呼ばれる出力が生じる。各素子の増幅器によってセンサ出力信号を増幅して得られる各素子からの出力信号には、上記のオフセット電圧の分がオフセット成分として含まれているが、特許文献1や2に開示される赤外線検出装置では、この出力信号のオフセット成分を補正することができない。
本発明による赤外線検出装置は、半導体基板上に配列された複数の赤外線検出素子と、赤外線検出素子の各々に対応して設けられており、各赤外線検出素子からその入射赤外線強度に応じて出力される検出信号を増幅して、個体毎の特性差に応じたオフセット成分を含む出力信号をそれぞれ出力する複数の増幅手段と、その複数の増幅手段を順次選択する選択手段と、増幅手段のいずれかと接続されることによって差動増幅器を構成する差動増幅手段とを備える。そして、選択手段により選択された増幅手段と差動増幅手段を接続し、その接続された増幅手段および差動増幅手段によって構成される差動増幅器を用いて、当該増幅手段から出力される出力信号に含まれるオフセット成分を補正する。
または、本発明による赤外線検出装置は、半導体基板上に配列された複数の赤外線検出素子と、赤外線検出素子の各々に対応して設けられており、各赤外線検出素子からその入射赤外線強度に応じて出力される検出信号を増幅して、個体毎の特性差に応じたオフセット成分を含む出力信号をそれぞれ出力する複数の増幅手段と、その複数の増幅手段を順次選択する選択手段と、外部から入力される制御信号の変化に応じて、赤外線検出素子の入出力間を短絡またはその赤外線検出素子を介して接続する短絡手段とを備える。そして、短絡手段により赤外線検出素子の入出力間を短絡したときに選択された増幅手段から出力される出力信号と、短絡手段により赤外線検出素子の入出力間をその赤外線検出素子を介して接続したときに選択された増幅手段から出力される出力信号とに基づいて、選択された増幅手段から出力される出力信号に含まれるオフセット成分を補正する。
本発明による赤外線検出装置のオフセット補正方法は、複数の増幅手段を順次選択し、選択された増幅手段と差動増幅手段を接続し、接続された増幅手段および差動増幅手段によって構成される差動増幅器を用いて、当該増幅手段から出力される出力信号に含まれるオフセット成分を補正する。
または、本発明による赤外線検出装置のオフセット補正方法は、外部から入力される制御信号の変化に応じて、赤外線検出素子の入出力間を短絡またはその赤外線検出素子を介して接続し、複数の増幅手段を順次選択し、赤外線検出素子の入出力間を短絡したときに選択された増幅手段から出力される出力信号と、赤外線検出素子の入出力間をその赤外線検出素子を介して接続したときに選択された増幅手段から出力される出力信号とに基づいて、選択された増幅手段から出力される出力信号に含まれるオフセット成分を補正する。
本発明によれば、赤外線検出装置の出力信号におけるオフセット成分を補正することができる。
−第1の実施の形態−
本発明の第1の実施の形態について説明する。図1は、第1の実施の形態による赤外線検出装置の回路構成図である。図1に示す赤外線検出装置は、赤外線検出素子部1、カウンタ2、垂直方向デコーダ3、水平方向デコーダ4および黒画素部5を備えている。
赤外線検出素子部1は、縦方向すなわち列方向にm個、横方向すなわち行方向にn個の画素が半導体基板上に二次元状に配列されている。図1では、縦方向にp番目、横方向にq番目に位置している画素を、画素pq(p=1〜m、q=1〜n)と表している。各画素にはそれぞれ、入射赤外線の強度に応じた電圧値を検出信号として出力することにより、入射赤外線を電気信号に変換するサーモパイル(熱電対)T11a〜Tmnaが備えられている。サーモパイルT11a〜Tmnaは、図1に示すように抵抗と電圧源を直列して基準電圧Vrefを印加した等価回路として表すことができる。このような赤外線検出素子は、サーモパイル型の二次元赤外線検出素子と呼ばれる。
赤外線検出素子部1に用いられるサーモパイル型の赤外線検出素子は、入射赤外光を吸収して熱に変換する受熱部が基板部に対して梁を介して支えられることで中空に置かれ、その梁内にサーモパイルが配線された構造を有している。このような構造はマイクロマシーニング加工によって実現される。このような構造を有する画素11〜画素mnにおいて、受熱部と基板部の温度差によってそれぞれのサーモパイルに発生する電圧を検出することで、入射赤外光を電気信号に変換する。この時に発生する電圧の大きさは、入射赤外光の強度により異なるが、サーモパイル型の赤外線検出素子ではせいぜい±数十μV程度と微小であるため、そのままではノイズに弱く扱いにくい。したがって、各画素による検出信号を増幅して出力する必要が生じる。
赤外線検出素子部1の各画素に設けられたサーモパイルT11a〜Tmnaには、N型MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor)を用いた信号増幅用のトランジスタM11a〜Mmnaのゲート端子がそれぞれ接続されている。この増幅トランジスタM11a〜Mmnaのドレイン端子には電源電圧Vccが入力されており、そのソース端子には、同じくN型MOSFETを用いたスイッチ用のトランジスタM11〜Mmnのドレイン端子が接続されている。このスイッチM11〜Mmnのスイッチング動作は、垂直方向デコーダ3からゲート端子に入力される垂直方向選択信号Y1〜Ymによって制御される。スイッチM11〜Mmnのソース端子には、画素列ごとにそれぞれ定電流源I1〜Inが接続されている。
カウンタ2は、入力されるクロック信号(CLK)に基づいて、赤外線検出素子部1の画素数に応じたアドレスカウント信号を垂直方向デコーダ3および水平方向デコーダ4に出力する。垂直方向デコーダ3は、カウンタ2から出力されたアドレスカウント信号に基づいて、垂直方向選択信号Y1〜Ymを赤外線検出素子部1の各画素に対して出力する。一方水平方向デコーダ4は、カウンタ2から出力されたアドレスカウント信号に基づいて、水平方向選択信号X1〜Xnを黒画素部5の各画素に対して出力する。
黒画素部5は、赤外線検出素子部1の最下行、すなわち画素m1〜画素mnによって構成される行に隣接して設置されており、横方向にn個の黒画素を有している。このn個の黒画素(黒画素1〜黒画素nと表す)は、赤外線検出素子部1の各画素と同様の構造および回路構成を有しているが、赤外線検出素子部1の各画素とは違って入射赤外線の強度に応じた電気信号を出力しない画素である。黒画素1〜黒画素nにはそれぞれ、図1に示すように基準電圧Vrefが印加された抵抗R1a〜Rnaと、N型MOSFETを用いた増幅トランジスタM1a〜MnaおよびスイッチM1〜Mnとが備えられている。これらの各構成は、二次元状に配列された画素11〜画素mnの列ごとにそれぞれ一対ずつ設けられている。このような黒画素は、標準画素、光学黒画素またはダミー画素などとも呼ばれる。
黒画素部5の黒画素1〜黒画素nに設けられた増幅トランジスタM1a〜Mnaのドレイン端子は、出力電圧Vpに接続される。電源電圧Vccと出力電圧Vpの間には、出力抵抗RLが接続されている。スイッチM1〜Mnのゲート端子には水平方向デコーダからの水平方向選択信号X1〜Xnがそれぞれ入力され、これによってスイッチM1〜Mnのスイッチング動作が制御される。
なお、黒画素部5は、赤外線検出素子部1と同一の半導体チップ内、すなわち同一の半導体基板上に設けられている。図2は、赤外線検出素子部1と黒画素部5のチップフロアプラン図の例を示している。この図では前述のように、赤外線検出素子部1の最下行(画素m1〜画素mn)に隣接して黒画素部5(黒画素1〜黒画素n)が配設、接続されていることが示されている。このようにして、赤外線検出素子部1の増幅トランジスタM11a〜Mmnaと黒画素部5の増幅トランジスタM1a〜Mnaを同一の半導体基板上に設けることにより、同一の特性が得られるようにしている。
次に、以上説明した赤外線検出装置の動作について説明する。図3は、図1の赤外線検出装置において出力される信号のタイムチャートを示している。カウンタ2は、入力される基準クロックCLKに基づいて、赤外線検出素子部1の画素数分、すなわちm×n個のアドレスをカウントし、アドレスカウント信号として垂直方向デコーダ3および水平方向デコーダ4に出力する。
垂直方向デコーダ3は、カウンタ2からのアドレスカウント信号をデコードし、図3の符号11に示す垂直方向選択信号Y1〜Ymを、赤外線検出素子部1の画素11〜画素mnに設けられたスイッチM11〜Mmnに対して出力する。また水平方向デコーダ4は、カウンタ2からのアドレスカウント信号をデコードし、図3の符号12に示す水平方向選択信号X1〜Xnを、黒画素部5の黒画素1〜黒画素nに設けられたスイッチM1〜Mnに対して出力する。
垂直方向選択信号Y1〜Ymと水平方向選択信号X1〜Xnは、符号11および12に示すようなタイミングで順次H(ハイ)レベルとなる。始めに、垂直方向選択信号Y1と水平方向選択信号X1がHレベルとなる。これにより、画素11のスイッチM11および黒画素1のスイッチM1がオンとなってドレイン−ソース間が導通し、画素11が走査選択される。このとき、画素11において検出された入射赤外線の強度に応じた電圧が、画素11の出力信号として出力電圧Vpに出力される。
次に、垂直方向選択信号Y1がHレベルとなっている間に水平方向選択信号X2〜Xnが順次Hレベルとなることで、画素12〜1nのスイッチM12〜M1nおよび黒画素1のスイッチM1〜Mnがオンとなり、画素12〜1nが順次走査選択される。これにより、画素12〜1nの入射赤外線の強度に応じた電圧が、画素12〜1nの出力信号として出力電圧Vpに順次出力される。その後は、垂直方向選択信号Y2、Y3・・・Ymが順次Hレベルとなり、そのそれぞれで水平方向選択信号X1〜Xnが順次Hレベルとなることで、画素mnまでが順次走査選択され、各画素の入射赤外線の強度に応じた電圧が出力信号として出力電圧Vpに出力される。
以上説明したようにして、画素11から画素mnまでを順次走査選択することにより、符合14に示すような波形の出力電圧Vpが得られる。この出力電圧Vpの値は、走査選択の間隔に合わせたタイミングで、各画素の入射赤外線強度に応じて変動している。なお、符号13に示すように基準電圧Vrefは常に一定である。画素mnまで走査選択されたら、再び画素11から走査選択が繰り返される。
次に、各画素が走査選択されたときの回路動作について説明する。図4は、図1の画素11と黒画素1に着目したときの回路構成を示す図である。図4に示されるように、画素11の増幅トランジスタM11aのドレイン端子が電源電圧Vccに接続されるとともに、黒画素1の増幅トランジスタM1aのドレイン端子が抵抗RLを介して電源電圧Vccに接続される。そして、スイッチM11またはM1を介して増幅トランジスタM11a、M1aの各ソース端子が定電流源I1に接続されている。また、増幅トランジスタM11aとM1aのゲート端子には、画素11のサーモパイルT11aと黒画素1の抵抗R1aがそれぞれ接続されている。なお、サーモパイルT11aと抵抗R1aの他方の端には、それぞれ基準電圧Vrefが印加されている。
図4に示す回路において、画素11が選択されることによりスイッチM11およびM1がオンされると、スイッチM11およびM1のソース−ドレイン間が導通する。このとき図4の回路は、スイッチM11およびM1を省いた図5の等価回路によって表すことができる。
図5に示す等価回路では、増幅トランジスタM11aと増幅トランジスタM1aが接続されているため、サーモパイルT11aの電圧源から入射赤外光の強度に応じて発生した起電圧ΔVが増幅トランジスタM11aに印加されると、増幅トランジスタM11aと増幅トランジスタM1aの間に差電圧ΔVが発生する。この差電圧ΔVは基準電圧Vrefに対する変動分を表している。このとき図5の等価回路は、増幅トランジスタM11aおよびM1aを差動対とする差動増幅器として動作する。その結果、発生した差電圧ΔVが差動増幅されて出力電圧Vpに出力される。このようにして、画素11による検出信号が増幅されて出力される。
以上説明したのと同様の回路動作により、他の各画素についても、その画素の増幅トランジスタと黒画素1〜黒画素nのいずれかの増幅トランジスタを差動対として構成される差動増幅器により、サーモパイルからの出力が増幅され出力電圧Vpに順次出力される。このように、画素11〜画素mnの増幅トランジスタM11a〜Mmnaと、黒画素1〜黒画素nの増幅トランジスタM1a〜Mnaのうち、同一の特性を得られるように構成されたいずれか対応するもの同士を接続することにより、差動増幅器を構成し、それを用いて各画素の検出信号を増幅して出力する。こうして同一特性の増幅トランジスタを差動対として構成される差動増幅器を用いて各画素の検出信号を増幅する。
トランジスタのしきい値電圧には一般に個体差があるため、そのしきい値電圧の個体差により、各画素の増幅トランジスタM11a〜Mmnaにおいて個体ごとの特性差が生じる。各画素の検出信号を増幅して得られる出力信号にはオフセット電圧によるオフセット成分が含まれるため、たとえ入射赤外線の強度が同じであっても、上記のような増幅トランジスタM11a〜Mmnaの特性差によってオフセット成分の大きさに差が生じ、各素子からの出力信号は一定とならない。このように、増幅トランジスタM11a〜Mmnaから出力される出力信号をそのまま用いると、個体ごとのオフセット成分の違いによる誤差が生ずる。このような誤差は、オフセット誤差と呼ばれる。
しかし、上記のように同一特性の増幅トランジスタを差動対として構成される差動増幅器を用いると、差動増幅器の動作によってオフセット成分が打ち消され、出力信号の変動分のみが増幅される。このようにして、出力信号のオフセット成分を補正することができる。したがって、オフセット誤差のない正しい出力信号を得ることができる。
以上説明した第1の実施の形態によれば、次の作用効果を奏することができる。
(1)垂直方向デコーダ3から出力される垂直方向選択信号Y1〜Ymと、水平方向デコーダ4から出力される水平方向選択信号X1〜Xnにより、スイッチM11〜MmnおよびスイッチM1〜Mnを制御することで、画素11〜画素mnに設けられた増幅トランジスタM11a〜Mmnaを順次選択する。そして、選択された増幅トランジスタM11a〜Mmnaのいずれかと、黒画素1〜黒画素nの増幅トランジスタM1a〜Mnaのいずれかを接続して差動増幅器を構成する。こうして構成された差動増幅器を用いて、選択された当該増幅トランジスタから出力される出力信号に含まれるオフセット成分を補正することとした。このようにしたので、赤外線検出装置の出力信号におけるオフセット成分を補正することができる。
(2)画素11〜画素mnの増幅トランジスタM11a〜Mmnaと、黒画素1〜黒画素nの増幅トランジスタM1a〜Mnaは、同一の半導体基板上に設けられることとした。このようにしたので、両増幅トランジスタで同一の特性を得ることができる。したがって、オフセット成分を適切に補正できる差動増幅器を構成することができる。
(3)黒画素1〜黒画素nの増幅トランジスタM1a〜Mnaは、二次元状に配列された画素11〜画素mnおよび増幅トランジスタM11a〜Mmnaの列ごとにそれぞれ設けられることとした。このようにしたので、差動増幅器を構成するための増幅トランジスタの数を必要最小限とすることができる。
なお以上説明した第1の実施の形態では、二次元状に配列された画素11〜画素mnの列ごとに、黒画素1〜黒画素nの各構成がそれぞれ一対ずつ設けられている例を説明した。しかし、赤外線検出素子部1の縦と横を入れ替えることにより、二次元状に配列された画素11〜画素mnの行ごとに、黒画素1〜黒画素nの各構成をそれぞれ一対ずつ設けることとしてもよい。このようにしても、上記と同様の作用効果を得ることができる。
−第2の実施の形態−
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。図6は、第2の実施の形態による赤外線検出装置の回路構成図であり、赤外線検出素子部1A、カウンタ2、垂直方向デコーダ3、水平方向デコーダ4および黒画素部5Aを備えている。このうちカウンタ2、垂直方向デコーダ3および水平方向デコーダ4は、図1に示す第1の実施の形態による赤外線検出装置と同じものである。以下、第1の実施の形態との相違点を中心に、本実施形態について説明する。
赤外線検出素子部1Aには、図1の赤外線検出素子部1と同様に画素11〜画素mnが配置されている。この画素11〜画素mnには、図1で説明したサーモパイルT11a〜Tmna、増幅トランジスタM11a〜MmnaおよびスイッチM11〜Mmnがそれぞれ設けられている。画素11〜画素mnにはさらに、N型MOSFETを用いたサーモパイル短絡用のスイッチM11b〜Mmnbが設けられている。この短絡スイッチM11b〜Mmnbは、外部から入力される制御信号Vchkの変化に応じてオン状態またはオフ状態のいずれかに切り替えられることより、サーモパイルT11a〜Tmnaの入出力間を短絡またはその赤外線検出素子を介して接続するように動作する。
黒画素部5Aも、赤外線検出素子部1Aと同様の構造を有している。すなわち、赤外線検出素子部1Aの画素m1〜画素mnに隣接して黒画素1〜黒画素nが配置され、そのそれぞれにおいて、抵抗R1a〜Rna、増幅トランジスタM1a〜MnaおよびスイッチM1〜Mnが設けられている。黒画素1〜黒画素nにはさらに、制御信号Vchkが入力されることによってオンし、抵抗R1a〜Rnaを短絡するように動作する短絡スイッチM1b〜Mnbが設けられている。
図7は、以上説明した赤外線検出装置において出力される信号のタイムチャートを示している。図3の場合と同様に、垂直方向デコーダ3は、カウンタ2からのアドレスカウント信号をデコードして符号21に示す垂直方向選択信号Y1〜Ymを出力する。また水平方向デコーダ4は、カウンタ2からのアドレスカウント信号をデコードして符号22に示す水平方向選択信号X1〜Xnを出力する。
垂直方向選択信号Y1〜Ymと水平方向選択信号X1〜Xnは、符号21および22に示すようなタイミングで順次H(ハイ)レベルとなる。始めに、垂直方向選択信号Y1と水平方向選択信号X1がHレベルとなる。これにより、画素11のスイッチM11および黒画素1のスイッチM1がオンとなってドレイン−ソース間が導通し、画素11が走査選択される。このとき、画素11において検出された入射赤外線の強度に応じた電圧が、画素11の出力信号として出力電圧Vpに出力される。
上記のようにして画素11の出力信号が出力されているときに、符号23に示すように制御信号VchkがLレベルからHレベルに変化すると、短絡スイッチM11bがオンしてサーモパイルT11aの両端が短絡される。このときには、後で説明するような回路動作により、増幅トランジスタM11aによるオフセット電圧が出力電圧Vpに出力される。制御信号VchkがLレベルに戻ると、再び画素11の出力信号が出力電圧Vpに出力される。
次に、垂直方向選択信号Y1がHレベルとなっている間に水平方向選択信号X2〜Xnが順次Hレベルとなり、そのそれぞれで制御信号VchkがLレベルからHレベルに変化する。これにより、画素12〜1nが順次走査選択され、その出力信号が出力電圧Vpに出力されるとともに、画素12〜1nの増幅トランジスタM12a〜M1naによるオフセット電圧が出力電圧Vpに出力される。その後は、垂直方向選択信号Y2、Y3・・・Ymが順次Hレベルとなり、そのそれぞれで水平方向選択信号X1〜Xnが順次Hレベルとなって制御信号Vchkが変化することで、変化画素mnまでが順次走査選択され、各画素の入射赤外線の強度に応じた電圧と増幅トランジスタのオフセット電圧が出力信号として出力電圧Vpに出力される。
以上説明したようにして、画素11から画素mnまでを順次走査選択し、その間に制御信号Vchkをそれぞれ変化させることで、符合25に示すような波形の出力電圧Vpが得られる。この出力電圧Vpの値は、走査選択の間隔に合わせたタイミングで各画素の入射赤外線強度に応じて変動するとともに、制御信号Vchkが変化するタイミングで増幅トランジスタのオフセット電圧に応じて変動している。なお、符号24に示すように基準電圧Vrefは常に一定である。画素mnまで走査選択されたら、再び画素11から走査選択が繰り返される。
次に、各画素が走査選択されたときの回路動作について説明する。図8は、図6の画素11と黒画素1に着目したときの回路構成を示す図である。この回路構成は、画素11に短絡スイッチM11bが設けられ、黒画素1に短絡スイッチM1bが設けられている点以外は、図4に示す回路構成と同じである。なお、短絡スイッチM11bおよびM1bのゲート端子には制御信号Vchkが入力される。
図8に示す回路において、画素11が選択されることによりスイッチM11およびM1がオンされると、スイッチM11およびM1のソース−ドレイン間が導通する。このとき図8の回路は、制御信号VchkがLレベルである場合、すなわち短絡スイッチM11bおよびM1bがオフであってソース−ドレイン間が導通していない場合には、スイッチM11、M1および短絡スイッチM11b、M1bを省いた図9の等価回路によって表すことができる。この等価回路は、図5に示した等価回路と同じものである。すなわち前述したような回路動作により、出力電圧Vpには画素11による検出信号が増幅されて出力される。
また図8の回路は、画素11が選択されて制御信号VchkがHレベルである場合、すなわちスイッチM11、M1および短絡スイッチM11b、M1bがいずれもオンであってソース−ドレイン間が導通している場合には、図10の等価回路によって表すことができる。この等価回路では、スイッチM11およびM1と、両端を短絡されたサーモパイルT11aおよび抵抗R1aとが省略されている。
図10に示す等価回路では、差動対を形成する増幅トランジスタM11aおよびM1aには電圧源による差電圧が印加されないため、増幅トランジスタM11aとM1aの特性が全く同一であれば増幅された電圧は出力されない。しかし、実際は増幅トランジスタM11aとM1aの特性にばらつきがあるため、そのばらつきに応じたオフセット電圧が出力電圧Vpとして出力される。こうして制御信号VchkがHレベルのときに検出されるオフセット電圧の分を、制御信号VchkがLレベルのときの出力信号、すなわちオフセット成分を含む出力信号から減算することで、オフセット成分を取り除いた画素11による真の出力信号を得ることができる。
以上説明したのと同様の回路動作により、他の各画素についても、その画素の増幅トランジスタと黒画素1〜黒画素nのいずれかの増幅トランジスタを差動対として構成される差動増幅器により、増幅された検出信号とオフセット電圧が出力電圧Vpに順次出力される。これを用いて、オフセット成分を取り除いた真の出力信号を各画素について求めることができる。
以上説明した第2の実施の形態によれば、第1の実施の形態で説明した作用効果に加えて、さらに次の作用効果を奏することができる。
(1)短絡スイッチM11b〜Mmnbのスイッチ動作により、サーモパイルT11a〜Tmnaの入出力間を短絡または各サーモパイルを介して接続する。そして、サーモパイルT11a〜Tmnaの入出力間を短絡したときに増幅トランジスタM11a〜Mmnaのうち選択された増幅トランジスタから出力される出力信号と、サーモパイルT11a〜Tmnaの入出力間を各サーモパイルを介して接続したときに当該増幅トランジスタから出力される出力信号とに基づいて、当該増幅トランジスタから出力される出力信号に含まれるオフセット成分を補正する。すなわち、オフセット電圧を表す前者の短絡時の出力信号を、オフセット成分を含む後者の接続時の出力信号から減算することにより、オフセット成分を補正することとした。このようにしたので、オフセット成分を取り除いた真の出力信号を各画素について求めることができる。したがって、赤外線検出装置の出力信号におけるオフセット成分をより正確に補正することができる。
(2)垂直方向選択信号Y1〜Ymおよび水平方向選択信号X1〜XnによりスイッチM11〜MmnおよびスイッチM1〜Mnを制御することで、増幅トランジスタM11a〜Mmnaのいずれかを選択する。こうして増幅トランジスタM11a〜Mmnaのいずれかが選択される度に制御信号Vchkを変化させ、各増幅トランジスタの選択期間内で、短絡スイッチM11b〜MmnbによりサーモパイルT11a〜Tmnaの入出力間の接続状態を短絡および接続の両状態に切り替えることとした。このようにしたので、各画素を走査選択する度に確実にオフセット誤差を補正することができる。
なお、上記の例では、図7のタイムチャートに示したように、1つの画素を走査選択している間に制御信号VchkがLレベルとHレベルの双方の状態を取ることができる。これにより、各増幅トランジスタの選択期間内で、短絡スイッチM11b〜MmnbによりサーモパイルT11a〜Tmnaの入出力間の接続状態を短絡および接続の両状態に切り替える例を説明した。しかし、1つの画素を走査選択している間は制御信号Vchkを変化させずに、全画素を走査選択する度に制御信号Vchkを変化させても良い。
図11は、以上説明したようにして制御信号Vchkを変化させたときに赤外線検出装置において出力される信号のタイムチャートを示している。垂直方向選択信号Y1〜Ymが符号31に示すようなタイミングで順次Hレベルとなるとき、符合32に示すように、最初の周期では制御信号VchkがLレベル一定で変化しない。このとき符号34に示す出力信号Vpには、各画素の出力信号が順次出力される。しかし次の周期では、制御信号VchkがHレベルに切り替えられて一定となる。このとき符号34に示す出力信号Vpには、各画素のオフセット信号が順次出力される。こうして得られたオフセット電圧を出力信号から減ずることで、オフセット電圧の分を取り除いた真の出力信号が各画素について得られる。なお図11において、水平方向選択信号X1〜Xnは省略している。また符合33に示すように基準電圧Vrefは常に一定である。
以上説明したようにすることで、増幅トランジスタM11a〜Mmnaの全てが選択される度に制御信号Vchkを変化させ、各増幅トランジスタの選択期間内で、短絡スイッチM11b〜MmnbによりサーモパイルT11a〜Tmnaの入出力間の接続状態を短絡または接続のいずれか一状態とすることができる。このようにすれば、各画素を走査選択する間隔を短くしても、確実にオフセット成分を補正することができる。
また、通常時は制御信号VchkをLレベル一定としておき、特定の条件が満たされたときにのみ制御信号VchkをHレベルに変化させてもよい。たとえば、赤外線検出装置が置かれている温度環境を調べるために周囲温度を測定し、測定された周囲温度が所定値以上変動した時に、制御信号VchkをHレベルに変化してオフセット電圧を検出するようにすることができる。このように周囲温度に基づいて制御信号Vchkの変化を許可または禁止することとすれば、オフセット電圧の温度特性に応じて適宜オフセット成分を補正することができる。その結果、オフセット成分の補正を適切なタイミングで効率良く行うことができる。
−第3の実施の形態−
次に、本発明の第3の実施の形態について説明する。図12は、第3の実施の形態による赤外線検出装置の回路構成図であり、赤外線検出素子部1B、カウンタ2、垂直方向デコーダ3、水平方向デコーダ4および水平方向スキャナ6を備えている。このうちカウンタ2、垂直方向デコーダ3および水平方向デコーダ4は、図1に示す第1の実施の形態による赤外線検出装置および図6に示す第2の実施の形態による赤外線検出装置と同じものである。以下、第1および第2の実施の形態との相違点を中心に、本実施形態について説明する。
赤外線検出素子部1Bには、図6の赤外線検出素子部1Aと同様に画素11〜画素mnが配置されており、画素11〜画素mnにはそれぞれ、サーモパイルT11a〜Tmna、スイッチM11〜Mmnおよびサーモパイル短絡用のスイッチM11b〜Mmnbが設けられている。画素11〜画素mnにはさらに、N型MOSFETを用いた増幅トランジスタM11c〜Mmncおよび抵抗R11〜Rmnが設けられている。
増幅トランジスタM11c〜Mmncはそれぞれ、ゲート端子にサーモパイルT11a〜Tmnaおよび短絡スイッチM11b〜Mmnb、ドレイン端子に抵抗R11〜Rmnが接続されており、ソース端子はグランドに接続されて接地されている。抵抗R11〜Rmnはいずれも電源電圧Vccに接続されている。スイッチM11〜Mmnと増幅トランジスタM11c〜Mmncのドレイン端子は、対応するもの同士が互いにそれぞれ接続されている。
水平方向スキャナ6はN型MOSFETによるスイッチM1〜Mnによって構成されている。スイッチM1〜Mnは、水平方向デコーダ4から出力される水平方向選択信号X1〜Xnに応じて順次オンされる。この水平方向デコーダ4のスイッチM1〜Mnと、各画素に設けられたスイッチM11〜Mmnの動作により、前述したようにして画素11から画素mnまでが順次走査選択される。
次に、走査選択された回路の動作について説明する。たとえば画素11が走査選択された場合を考えると、制御信号VchkがLレベルであって短絡スイッチM11bがオフであれば、増幅トランジスタM11cと抵抗R11によって構成される反転増幅器の動作により、サーモパイルT11aからの出力が反転増幅され、出力電圧Vpとして出力される。一方、制御信号VchkがHレベルであって短絡スイッチM11bがオンのときには、反転増幅器によって基準電圧Vrefが増幅され、オフセット電圧として出力電圧Vpに出力される。これにより、第2の実施の形態と同じようにオフセット電圧の分を取り除いた画素11による真の出力信号を得ることができる。
他の画素についても、画素11と同様に制御信号Vchkを変化させることにより、反転増幅器によって増幅された検出信号とオフセット電圧が出力電圧Vpに順次出力される。これを用いて、オフセット電圧の分を取り除いた真の出力信号を各画素について求めることができる。
以上説明した第3の実施の形態によれば、第2の実施の形態と同様の作用効果を奏することができる。
なお、以上説明した第3の実施の形態においても、前述の第2の実施の形態と同様に、1つの画素を走査選択している間は制御信号Vchkを変化させずに、全画素を走査選択する度に制御信号Vchkを変化させても良い。また、通常時は制御信号VchkをLレベル一定としておき、特定の条件が満たされたとき、たとえば測定された周囲温度が所定値以上変動した時に、制御信号VchkをHレベルに変化してオフセット電圧を検出するようにしてもよい。このようにすれば、第2の実施の形態で説明したのと同様の作用効果を得ることができる。
以上説明した各実施の形態では、入射赤外線を電気信号に変換する赤外線検出素子としてサーモパイルを用いる例を説明したが、本発明はこの内容に限定されるものではなく、赤外線検出素子にどのようなものを用いてもよい。また、赤外線検出素子が二次元状に配列された例を説明したが、一次元の配列であってもよい。その場合は、たとえは第1の実施の形態では、図1の赤外線検出素子部1が画素11〜1nの一行で構成され、さらに垂直方向デコーダ3および赤外線検出素子部1内の垂直方向スキャナの役目をするスイッチM11〜M1nが省略される。これ以外の点については、図1の赤外線検出装置と同一の構成となる。したがって、前述した作用効果と同一の作用効果を得ることができる。その他の実施の形態についても同様である。
以上説明した各実施の形態では、増幅トランジスタやスイッチにMOSFETを用いた構成を説明したが、バイポーラ型のトランジスタを用いても同様の構成を実現することができる。
以上説明した各実施の形態では、赤外線検出素子をサーモパイルT11a〜Tmna、増幅手段を増幅トランジスタM11a〜MmnaまたはM11c〜Mmnc、選択手段をカウンタ2、垂直方向デコーダ3、水平方向デコーダ4、スイッチM11〜MmnおよびスイッチM1〜Mn、差動増幅手段を増幅トランジスタM1a〜Mna、短絡手段を短絡スイッチM11b〜Mmnbによってそれぞれ実現することとした。しかし、以上の説明はあくまで一例であり、発明を解釈する際、上記の実施形態の記載事項と特許請求の範囲の記載事項の対応関係には何ら限定も拘束もされない。
以上説明した各実施の形態や各種の変形例はあくまで一例であり、発明の特徴が損なわれない限り、本発明はこれらの内容に限定されない。
本発明の第1の実施の形態による赤外線検出装置の回路構成図である。 チップフロアプラン図の例である。 第1の実施の形態による赤外線検出装置において出力される信号のタイムチャートである。 第1の実施の形態において画素11と黒画素1に着目したときの回路構成を示す図である。 図4の回路構成においてスイッチM11およびM1がオンされたときの等価回路を示す図である。 本発明の第2の実施の形態による赤外線検出装置の回路構成図である。 第2の実施の形態による赤外線検出装置において出力される信号のタイムチャートである。 第2の実施の形態において画素11と黒画素1に着目したときの回路構成を示す図である。 図8の回路構成においてスイッチM11およびM1がオンされ、短絡スイッチM11bおよびM1bがオフであるときの等価回路を示す図である。 図8の回路構成においてスイッチM11およびM1がオンされ、短絡スイッチM11bおよびM1bがオンであるときの等価回路を示す図である。 第2の実施の形態の変形例による赤外線検出装置において出力される信号のタイムチャートである。 本発明の第3の実施の形態による赤外線検出装置の回路構成図である。
符号の説明
1、1A、1B:赤外線検出素子部 2:カウンタ
3:垂直方向デコーダ 4:水平方向デコーダ
5、5A:黒画素部 6:水平方向スキャナ

Claims (13)

  1. 半導体基板上に配列された複数の赤外線検出素子と、
    前記赤外線検出素子の各々に対応して設けられており、各赤外線検出素子からその入射赤外線強度に応じて出力される検出信号を増幅して、個体毎の特性差に応じたオフセット成分を含む出力信号をそれぞれ出力する複数の増幅手段と、
    前記複数の増幅手段を順次選択する選択手段と、
    前記増幅手段のいずれかと接続されることによって差動増幅器を構成する差動増幅手段とを備え、
    前記選択手段により選択された増幅手段と前記差動増幅手段を接続し、その接続された増幅手段および差動増幅手段によって構成される差動増幅器を用いて、当該増幅手段から出力される出力信号に含まれるオフセット成分を補正することを特徴とする赤外線検出装置。
  2. 請求項1の赤外線検出装置において、
    前記増幅手段と前記差動増幅手段は、同一の半導体基板上に設けられることを特徴とする赤外線検出装置。
  3. 請求項1または2の赤外線検出装置において、
    前記赤外線検出素子および前記増幅手段は、前記半導体基板上に二次元状に配列されており、
    前記差動増幅手段は、二次元状に配列された赤外線検出素子および増幅手段の行または列ごとに設けられていることを特徴とする赤外線検出装置。
  4. 請求項1〜3いずれか一項の赤外線検出装置において、
    外部から入力される制御信号の変化に応じて、前記赤外線検出素子の入出力間を短絡またはその赤外線検出素子を介して接続する短絡手段をさらに備え、
    前記短絡手段により前記赤外線検出素子の入出力間を短絡したときに当該増幅手段から出力される出力信号と、前記短絡手段により前記赤外線検出素子の入出力間をその赤外線検出素子を介して接続したときに当該増幅手段から出力される出力信号とに基づいて、当該増幅手段から出力される出力信号に含まれるオフセット成分を補正することを特徴とする赤外線検出装置。
  5. 請求項4の赤外線検出装置において、
    前記選択手段によりいずれかの増幅手段が選択される度に前記制御信号を変化させ、各増幅手段の選択期間内で前記短絡手段により赤外線検出素子の入出力間の接続状態を短絡および接続の両状態に切り替えることを特徴とする赤外線検出装置。
  6. 請求項4の赤外線検出装置において、
    前記選択手段により全ての増幅手段が選択される度に前記制御信号を変化させ、各増幅手段の選択期間内で前記短絡手段により赤外線検出素子の入出力間の接続状態を短絡または接続のいずれか一状態とすることを特徴とする赤外線検出装置。
  7. 請求項4〜6いずれか一項の赤外線検出装置において、
    周囲温度を測定する温度測定手段をさらに備え、
    前記温度測定手段により測定された周囲温度に基づいて、前記制御信号の変化を許可または禁止することを特徴とする赤外線検出装置。
  8. 半導体基板上に配列された複数の赤外線検出素子と、
    前記赤外線検出素子の各々に対応して設けられており、各赤外線検出素子からその入射赤外線強度に応じて出力される検出信号を増幅して、個体毎の特性差に応じたオフセット成分を含む出力信号をそれぞれ出力する複数の増幅手段と、
    前記複数の増幅手段を順次選択する選択手段と、
    外部から入力される制御信号の変化に応じて、前記赤外線検出素子の入出力間を短絡またはその赤外線検出素子を介して接続する短絡手段とを備え、
    前記短絡手段により前記赤外線検出素子の入出力間を短絡したときに前記選択された増幅手段から出力される出力信号と、前記短絡手段により前記赤外線検出素子の入出力間をその赤外線検出素子を介して接続したときに前記選択された増幅手段から出力される出力信号とに基づいて、前記選択された増幅手段から出力される出力信号に含まれるオフセット成分を補正することを特徴とする赤外線検出装置。
  9. 請求項8の赤外線検出装置において、
    前記選択手段によりいずれかの増幅手段が選択される度に前記制御信号を変化させ、各増幅手段の選択期間内で前記短絡手段により赤外線検出素子の入出力間の接続状態を短絡および接続の両状態に切り替えることを特徴とする赤外線検出装置。
  10. 請求項8の赤外線検出装置において、
    前記選択手段により全ての増幅手段が選択される度に前記制御信号を変化させ、各増幅手段の選択期間内で前記短絡手段により赤外線検出素子の入出力間の接続状態を短絡または接続のいずれか一状態とすることを特徴とする赤外線検出装置。
  11. 請求項8〜10いずれか一項の赤外線検出装置において、
    周囲温度を測定する温度測定手段をさらに備え、
    前記温度測定手段により測定された周囲温度に基づいて、前記制御信号の変化を許可または禁止することを特徴とする赤外線検出装置。
  12. 半導体基板上に配列された複数の赤外線検出素子と、
    前記赤外線検出素子の各々に対応して設けられており、各赤外線検出素子からその入射赤外線強度に応じて出力される検出信号を増幅して、個体毎の特性差に応じたオフセット成分を含む出力信号をそれぞれ出力する複数の増幅手段と、
    前記増幅手段のいずれかと接続されることによって差動増幅器を構成する差動増幅手段とを備えた赤外線検出装置のオフセット補正方法であって、
    前記複数の増幅手段を順次選択し、
    選択された増幅手段と前記差動増幅手段を接続し、
    接続された増幅手段および差動増幅手段によって構成される差動増幅器を用いて、当該増幅手段から出力される出力信号に含まれるオフセット成分を補正することを特徴とする赤外線検出装置のオフセット補正方法。
  13. 半導体基板上に配列された複数の赤外線検出素子と、
    前記赤外線検出素子の各々に対応して設けられており、各赤外線検出素子からその入射赤外線強度に応じて出力される検出信号を増幅して、個体毎の特性差に応じたオフセット成分を含む出力信号をそれぞれ出力する複数の増幅手段とを備えた赤外線検出装置のオフセット補正方法であって、
    外部から入力される制御信号の変化に応じて、前記赤外線検出素子の入出力間を短絡またはその赤外線検出素子を介して接続し、
    前記複数の増幅手段を順次選択し、
    前記赤外線検出素子の入出力間を短絡したときに選択された増幅手段から出力される出力信号と、前記赤外線検出素子の入出力間をその赤外線検出素子を介して接続したときに選択された増幅手段から出力される出力信号とに基づいて、選択された増幅手段から出力される出力信号に含まれるオフセット成分を補正することを特徴とする赤外線検出装置のオフセット補正方法。
JP2006070651A 2006-03-15 2006-03-15 赤外線検出装置 Active JP5017895B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006070651A JP5017895B2 (ja) 2006-03-15 2006-03-15 赤外線検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006070651A JP5017895B2 (ja) 2006-03-15 2006-03-15 赤外線検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007251481A true JP2007251481A (ja) 2007-09-27
JP5017895B2 JP5017895B2 (ja) 2012-09-05

Family

ID=38595331

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006070651A Active JP5017895B2 (ja) 2006-03-15 2006-03-15 赤外線検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5017895B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008111754A (ja) * 2006-10-31 2008-05-15 Nec Corp 熱型赤外線撮像装置及びその動作方法
CN110296761A (zh) * 2019-07-25 2019-10-01 北京安酷智芯科技有限公司 一种读出电路
CN110536085A (zh) * 2019-08-20 2019-12-03 北京安酷智芯科技有限公司 一种读出电路及图像校正方法
WO2024090198A1 (ja) * 2022-10-25 2024-05-02 パナソニックIpマネジメント株式会社 赤外線センサ

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03106183A (ja) * 1989-09-20 1991-05-02 Hitachi Denshi Ltd 焦電型固体撮像装置
JPH05145853A (ja) * 1991-11-22 1993-06-11 Hamamatsu Photonics Kk 赤外線撮像装置
JPH05199463A (ja) * 1992-01-20 1993-08-06 Olympus Optical Co Ltd 固体撮像装置
JPH10191169A (ja) * 1996-12-24 1998-07-21 Canon Inc 電荷転送素子の出力信号処理装置及び画像処理装置
JPH10267752A (ja) * 1997-03-26 1998-10-09 Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency 熱型赤外線センサ
JPH1194246A (ja) * 1997-09-24 1999-04-09 Rb Controls Kk 点火検知装置
JPH11317910A (ja) * 1998-05-06 1999-11-16 Nec Corp イメージセンサ
JP2000088644A (ja) * 1998-09-10 2000-03-31 Mitsubishi Electric Corp 赤外線カメラ
JP2000228100A (ja) * 1999-02-04 2000-08-15 Lucent Technol Inc アレ―構成の読み出し用装置
JP2001078098A (ja) * 1999-06-28 2001-03-23 Fujitsu Ltd 固体撮像装置
JP2002330348A (ja) * 2001-04-26 2002-11-15 Fujitsu Ltd Xyアドレス型固体撮像装置
JP2004214890A (ja) * 2002-12-27 2004-07-29 Minolta Co Ltd 固体撮像装置
JP2005513899A (ja) * 2001-12-21 2005-05-12 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 撮像装置およびこれを備えるカメラ
JP2005303720A (ja) * 2004-04-13 2005-10-27 Nissan Motor Co Ltd 赤外線検出装置
JP2005311487A (ja) * 2004-04-19 2005-11-04 Sony Corp 固体撮像装置および固体撮像装置の駆動方法
JP2006060512A (ja) * 2004-08-19 2006-03-02 Nissan Motor Co Ltd 赤外線撮像装置

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03106183A (ja) * 1989-09-20 1991-05-02 Hitachi Denshi Ltd 焦電型固体撮像装置
JPH05145853A (ja) * 1991-11-22 1993-06-11 Hamamatsu Photonics Kk 赤外線撮像装置
JPH05199463A (ja) * 1992-01-20 1993-08-06 Olympus Optical Co Ltd 固体撮像装置
JPH10191169A (ja) * 1996-12-24 1998-07-21 Canon Inc 電荷転送素子の出力信号処理装置及び画像処理装置
JPH10267752A (ja) * 1997-03-26 1998-10-09 Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency 熱型赤外線センサ
JPH1194246A (ja) * 1997-09-24 1999-04-09 Rb Controls Kk 点火検知装置
JPH11317910A (ja) * 1998-05-06 1999-11-16 Nec Corp イメージセンサ
JP2000088644A (ja) * 1998-09-10 2000-03-31 Mitsubishi Electric Corp 赤外線カメラ
JP2000228100A (ja) * 1999-02-04 2000-08-15 Lucent Technol Inc アレ―構成の読み出し用装置
JP2001078098A (ja) * 1999-06-28 2001-03-23 Fujitsu Ltd 固体撮像装置
JP2002330348A (ja) * 2001-04-26 2002-11-15 Fujitsu Ltd Xyアドレス型固体撮像装置
JP2005513899A (ja) * 2001-12-21 2005-05-12 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 撮像装置およびこれを備えるカメラ
JP2004214890A (ja) * 2002-12-27 2004-07-29 Minolta Co Ltd 固体撮像装置
JP2005303720A (ja) * 2004-04-13 2005-10-27 Nissan Motor Co Ltd 赤外線検出装置
JP2005311487A (ja) * 2004-04-19 2005-11-04 Sony Corp 固体撮像装置および固体撮像装置の駆動方法
JP2006060512A (ja) * 2004-08-19 2006-03-02 Nissan Motor Co Ltd 赤外線撮像装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008111754A (ja) * 2006-10-31 2008-05-15 Nec Corp 熱型赤外線撮像装置及びその動作方法
CN110296761A (zh) * 2019-07-25 2019-10-01 北京安酷智芯科技有限公司 一种读出电路
CN110296761B (zh) * 2019-07-25 2020-06-05 北京安酷智芯科技有限公司 一种读出电路
CN110536085A (zh) * 2019-08-20 2019-12-03 北京安酷智芯科技有限公司 一种读出电路及图像校正方法
WO2024090198A1 (ja) * 2022-10-25 2024-05-02 パナソニックIpマネジメント株式会社 赤外線センサ

Also Published As

Publication number Publication date
JP5017895B2 (ja) 2012-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3445042B1 (en) Solid-state imaging element, electronic device and control method for solid-state imaging element
US7700919B2 (en) Device for detecting electromagnetic radiation, especially infrared radiation
US6249002B1 (en) Bolometric focal plane array
JP4854410B2 (ja) 半導体装置
KR100975872B1 (ko) 광 감지 장치, 회로 및 광 감지 회로 구동 방법
JP6164797B2 (ja) 信号受信部テスト回路、撮像装置、信号受信部テスト方法、撮像装置のテスト方法
JP5175168B2 (ja) 電流サンプリング方法と回路
JP2011196992A (ja) 赤外線固体撮像素子
JP5292689B2 (ja) 熱型赤外線撮像装置及びその動作方法
JP4654046B2 (ja) Cmosイメージセンサのクランプ回路
JP2018117350A (ja) イメージセンサー
KR20110074481A (ko) 적외선 검출 회로, 센서 디바이스 및 전자 기기
JP5017895B2 (ja) 赤外線検出装置
JP5264418B2 (ja) 熱型赤外線検出素子
US20080087823A1 (en) Infrared Sensor And Method For Driving The Same
TW200300840A (en) Sensor device
US8045030B2 (en) Imaging device, and control method for solid imaging element
JP3578037B2 (ja) 半導体装置及びその制御方法
KR101827284B1 (ko) 이미터 전류의 불균일도를 개선할 수 있는 적외선 영상 투사기용 신호입력회로
JP2009071302A (ja) 電流制限のある電磁放射の検出デバイス
EP0870330B1 (en) Bolometric focal plane array
JP4367289B2 (ja) 赤外線撮像装置
JP4581672B2 (ja) 赤外線検出装置
JP4277619B2 (ja) 固体撮像素子
JP4816210B2 (ja) 赤外線検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090204

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110113

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110913

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111109

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111206

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120220

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20120229

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120515

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120528

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5017895

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150622

Year of fee payment: 3