JP2005513899A - 撮像装置およびこれを備えるカメラ - Google Patents

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Abstract

この発明はロウおよびカラムに配置された画素を備える撮像装置に関する。各画素は、感光画素、フローティング伝播(diffusion)部、転送トランジスタ、その制御電極が前記フローティング伝播部に接続された増幅トランジスタ、および、リセットトランジスタを備えている。外部ノードは、ロウ選択バスを介して選択スイッチに結合されている。この選択スイッチは、第1の電圧源で生成された第1のバイアス電圧、または、第2の電圧源で生成された第2のバイアス電圧の何れかを、前記ロウ選択バスへと供給する。第1のバイアス電圧を供給し同時に前記リセットトランジスタをオンさせることは、前記増幅トランジスタをオンモードへとバイアスさせる第1のバイアス電圧へとフローティング伝播部をプログラムし、これにより、画素を選択している。同様に、第2のバイアス電圧を供給することが増幅トランジスタをオフモードへとバイアスさせて、これにより、画素を非選択状態としている。このような画素の選択および非選択は、それぞれの画素内の独立した選択トランジスタの必要性を回避して、これにより、画素の充填比を増加させている。このアプローチは、相関二重サンプリング法(CDS―correlateddoublesampling―)を適用する撮像装置のためには特に有用である。

Description

本発明は、複数の画素を備え、少なくとも1つの画素が、光を電荷へと変換する感光素子と、前記電荷を電圧レベルへと変換する電荷−電圧変換ノードと、前記感光画素と前記電荷−電圧変換ノードとの間に接続された主要導電性チャネルを有する転送トランジスタと、前記電荷−電圧変換ノードとに接続された制御電極と前記画素の第1の外部ノードに接続された主要導電性チャネルを有すると共に前記画素の第2の外部ノードに結合された増幅トランジスタと、および、前記電荷−電圧変換ノードと前記第2の外部ノードとの間に接続された主要導電性チャネルを有するリセットトランジスタと、を備える撮像装置にに関する。
この発明はまた、撮像装置の画像部上に画像を合焦させるための光学手段を備えるカメラに関する。
このような撮像装置は、アクティブ画素センサ[APS―Active Pixel Sensor―]画像化器[imager]として一般に知られている。このような画像化器は、相補的金属酸化半導体(CMOS―Complementary Metal-Oxide Semiconductor―)の集積回路(IC―Integrated Circuit―)プロセスによる固体画像化器[solid state imagers]として通常実用化されている。通常の使用において、APS画像化器は例えば、ディジタル静止カメラ、ウェブカム[webcam]、ビデオカメラレコーダ(カムコーダ―camcorder―)、または、セルラーホンのような移動通信アプリケーションなどのカメラシステムの一部分であっても良い。
その基本的な形態において、APS画像化器は、画像部と読出し部とを備えている。画像部は、いわゆる画像要素[picture element]または画素[pixel―ピクセル―]のマトリックスを備え、これらの画素はロウ[row―列―]およびカラム[column―行―]に配列されている。従来の画素の一例が図1に示されている。このような画素はまた、「4T画素」として知られている。光学手段は、画像部上に画像を投射する。各画素は、一般的にはフォトダイオードまたはフォトゲートである感光素子の手段によって、入射光線を電気信号に変換するために配置されている。この感光画素は、光に露光されるたび毎に電荷を生成する。露光後この電荷は、例えば、フローティング[floating―浮遊電荷―]伝播部[diffusion―拡散部―]のような電荷−電圧変換ノードへ転送される。フローティング伝播部の電圧レベルは、その上に蓄積される電荷に比例している。この電荷は、ノイズ源により生成されたいわゆるゼロ光レベル電荷と、感光素子により集められた電荷との、合計である。ソースフォロワまたは増幅トランジスタを用いることにより、フローティング伝播部の電圧レベルは、画素の第1の外部ノードに結合されたソースフォロワトランジスタのソースへとコピーされる。ソースフォロワトランジスタのドレインは、バイアスを行なうために用いられる画素の第2の外部ノードへと接続されている。
画像化器の読出し部にサンプルおよびホールド(SH―Sample & Hold―)回路を用いることにより、画素の第1の外部ノードの電圧(画素信号)は、さらなる処理のためにサンプル[標本化]される。画素の性能を増加させるために、相関二重サンプリング法(CDS―correlated double sampling―)が適用されても良い。CDSに適用したAPS画像化器においては、フローティング伝播部のゼロ光電圧レベルがまずサンプルされ、その後、感光素子により集められた光が転送されてしまった後に、フローティング伝播部の電圧レベルがサンプルされる。ゼロ光レベル電荷内で反射される、このノイズの影響は、第2のサンプル[標本]から第1のサンプルを差し引くことにより除去される。これは、感光素子からフローティング伝播部への電荷の転送を制御する画素内の転送トランジスタを必要とする。
さらに、APS画像化器は通常、画素の各カラムが同一のSH[サンプルアンドホールド]回路を共有していることに基づいて、ロウごとに読み出されている。1つのカラムにおける異なる画素の画素信号の混合を防止するため、従来のAPS画像化器は、選択トランジスタを備え、その主要導電性チャネルはソースフォロワトランジスタのソースを前記画素の第1の外部ノードに結合させている。
最後に、フローティング伝播部の電圧レベルは、画素信号が再び読み出し可能となる前に、所定のレベルへとリセットされることが必要である。このために、画素は、通常はリセットトランジスタであるリセットゲートを備え、その主要導電性チャネルはフローティング伝播部および画素の第2の外部ノードに接続されている。
多数のトランジスタが必要とされている結果として、従来のCDS・APS画像化器における1つの画素の充填比[fill factor]は相対的に低くなる。このことは、画素の相対的に小さな面積が感光素子のために利用できることを意味している。残りの面積の大部分は、トランジスタ、および、これらのトランジスタを読出し部に接続するために必要となる配線部により占められている。さらに、1つの画素の最小面積は、1つの画素内の多数のトランジスタにより主に決定される。したがって、従来の画素は、画像部の所定の面積上に適合[fit]する多数の画素を制限して、これにより、CDS・APS画像化器の実現可能な解像度を制限するという不利を有している。ヨーロッパ特許出願公開EP−A1017107号は、感光素子としてのフォトゲートを備えるCDS・APS画像化器のための問題解決手法を開示している。このヨーロッパ特許出願公開EP−A1017107号による画素は図2に示されている。この文献に開示された画素において、選択トランジスタは削除されている。画素のフローティング伝播部の代わりに、オフ状態におけるソースフォロワトランジスタがバイアスのために用いられており、これにより、画素を非選択とすることができると共に、これがソースフォロワとして機能するオン状態においては、画素を選択することができる。このため、リセットトランジスタのドレインは、フォトゲートの動作を制御する電圧源に結合されている。ソースフォロワトランジスタは、この電圧源を介して適切なバイアス電圧レベルを供給すると共にリセットトランジスタを同時にオンさせることにより、そのオフモードまたはそのオンモードの何れかにバイアスされる。しかしながら、フォトゲートの特定の動作が実現されるので、開示された解決方法はフォトゲートを実現するCDS・APSについて適用可能であるのみである。
発明の概要
フォトダイオードが感光素子として用いられても良く、増加された充填比を有する画素を備える撮像装置を提供することが、とりわけこの発明の目的である。
このために、この発明は、冒頭の段落に定義された撮像装置において、オフモードおよびオンモードのそれぞれにおける前記増幅トランジスタをバイアスするために、前記第2の外部ノードが、少なくとも2つの異なる電圧レベルを前記電荷−電圧変換ノードに供給するためのバイアス手段に結合されていることを特徴とする撮像装置を提供する。
前記増幅トランジスタの制御電極にに供給される電圧は、該増幅トランジスタの動作のモードを決定する。増幅トランジスタの制御電極への第1の電圧レベルの適用は、増幅トランジスタの主要導電性チャネルを介して電流が流れないことを保証している。したがって、増幅トランジスタはオフモードにバイアスされる。このようにして、前記画素の電荷−電圧変換ノードへ前記第1の電圧レベルを供給することにより、画素が画素信号を生成しないことが保証される。増幅トランジスタの制御電極への第2の電圧レベルの供給は、この増幅トランジスタの主要導電性チャネルを介して電流が流れることを可能にすることを保証する。従って、この増幅トランジスタは、オンモードにバイアスされる、このようにして、前記画素の電荷−電圧変換ノードへの前記第2の電圧レベルの供給により、この画素が画素信号を生成することが保証される。要するに、前記画素は、前記電荷−電圧変換ノードへの前記第1および前記第2の電圧レベルのそれぞれの供給により、非選択および選択の何れかとされている。これは、選択トランジスタを設ける必要性を除去して、このようにして、フォトダイオードが感光素子として用いられても良い画素において、結果として画素に増加された充填比を持たせることができる。
この発明による撮像装置の実施形態は、前記画素がマトリックスを構成するロウ[列]およびカラム[行]に配列され、前記ロウ内の画素の第2の外部ノードがロウ選択バスに接続されていることを特徴としている。画素をロウ方向およびカラム方向に配置すると共にロウ方向の画素の第2の外部ノードを同一のロウ選択バスに接続することは、画素に対してロウ毎にこれを基準として選択および非選択することを可能にさせている。このようにして、画素の1つのロウが選択されても良く、これに対して残りのロウは非選択とされても良い。このことは、1つの画素のみが各カラム内で選択され、そのカラムの残りの画素は非選択とされることを保証している。1つのカラムにつき1つのSH回路を提供することは、画素に対してロウ毎をその基準として読み出されることを可能にしており、その理由は各SH回路がその入力で単一の画素の画素信号を受信することを保証しているからである。
この発明による撮像装置の更なる実施形態は、前記バイアス手段が、第1のバイアス電圧を供給する第1の電圧源と、第2のバイアス電圧を供給する第2の電圧源と、および、前記第1の電圧源または前記第2の電圧源の何れかを前記ロウ選択バスに結合するための選択スイッチと、を備えていることを特徴としている。前記選択スイッチは、1つの電圧源のバイアス電圧のみが前記ロウ選択バスに供給されると共に、それ故に、前記ロウ選択バス接続された前記画素の電荷−電圧変換ノードへも供給されることを保証する。APS撮像装置が実施形態されるIC技術において、このような選択スイッチを設計して実現することは相対的に容易である。さらに、第1および第2のバイアス電圧をそれぞれ供給する電圧源のために提供することは相対的に容易である。電圧源は、APS撮像装置それ自体の一部分であっても良いし、または、通常のやり方により選択スイッチに結合される外部電圧源であっても良い。第1のバイアス電圧は、もしもフローティング伝播部に設けられるならば、オフモードにおける増幅トランジスタをバイアスするようにして選択され、これに対して、第2のバイアス電圧は、もしもフローティング伝播部に設けられるのであるならば、オンモードにおける増幅トランジスタをバイアスするようにして選択される。
この発明によるカメラシステムは、この発明による撮像装置を備えている。このようなカメラシステムにおいて、画像が光学手段を介して撮像装置の画像部の上に投射される。このようなカメラシステムの長所は、撮像装置内の画素が増加させられた充填比を有しているので、より高い感光性をカメラシステムが有していることである。それ故に、従来のカメラシステムについて非常に貧弱であった照明の状況の下でもこのシステムを用いても良い。
発明の詳細な説明
この発明の構成は、添付図面を参照して実施形態の説明により明瞭かつ詳細になるであろう。添付の図面において対応する構成部分は対応する参照符号により表示される。
図1は、一般的な撮像装置の画素を示す説明図である。画素101はまた、「4T−画素」として公知である。これは、フォトダイオード102,転送トランジスタ103,フローティング伝播部104,ソースフォロワトランジスタ105,リセットトランジスタ106,および、選択トランジスタ107を備える。図示された実施形態において、全てのトランジスタは、MOSFETである。フォトダイオード102のアノードは、接地に接続される。フォトダイオード102のカソードは、転送トランジスタ103を介してフローティング伝播部104に接続される。転送トランジスタ103の動作は、転送ゲート108から供給される転送信号により制御される。ソースフォロワトランジスタ105のゲートは、フローティング伝播部104に接続される。ソースフォロワトランジスタ105のソースは、選択トランジスタ107のドレインに接続される。ソースフォロワトランジスタ105のドレインは、リセットトランジスタ106のドレインに、および、画素の第2の外部外部ノード112に接続される。リセットトランジスタ106のソースは、フローティング伝播部104に接続される。リセットトランジスタ106の動作は、リセットゲート109へ供給されるリセット信号により制御される。選択トランジスタ107のソースは、画素の第1の外部ノード111に接続される。選択トランジスタ107の動作は、選択ゲート110に供給される選択信号により制御される。画素の第2の外部ノード112は、図1に図示されないが、参照電圧VHIGHを供給するDC電圧源に結合される。VHIGHは、正の供給電力よりも通常は低い。しかしながら、実用上の理由から電力供給電圧に等しいVHIGHを選択することも有利であろう。画素の第1の外部ノード111は、画像センサの読出し部内の、サンプルおよびホールド回路(SH回路)に接続される。
転送ゲート108に現れた電圧レベルに依存して、導電性チャネルは、フォトダイオード102のカソードとフローティング伝播部104との間に出現または消滅する。導電性チャネルの出現において、フォトダイオード102により集められた電荷は、フローティング伝播部104に転送される。
所定の積分時間の間にフォトダイオード102により電荷が集められる。この電荷は、フォトダイオード102へ到達する光のエネルギーにより生成される。積分時間の終了により、集められた電荷は、転送ゲート108に対してパルス信号を供給することにより、フォトダイオード102からフローティング伝播部104へ転送される。電荷がフローティング伝播部104へ転送される前に、フローティング伝播部104は、リセットゲート109へリセット信号を供給することにより、所定の状態に設定される。その後、選択トランジスタ107がゲート11への選択信号の供給により、および、ソースフォロワトランジスタ105の導電チャネルを介して所定の電流を提供することによりオンされる。その結果、フローティング伝播部104の電圧レベルは、画像センサの読出し部内のSH回路によりサンプルされる、画素の第1の外部ノード111へと(DCシフトによって)コピーされる。この第1のサンプルは、フローティング伝播部の参照レベルを表している。その後、フォトダイオード102内に集められた電荷は、フローティング伝播部104に転送される。この電荷のダンプ[転送・廃棄]は、結果として、フォトダイオード102により集められた電荷の量に比例する、フローティング伝播部の電圧レベルにおける変化分となる。フローティング伝播部の電圧レベルは、読出し部のSH回路によりサンプルされる、画素の第1の外部ノード111へと(DCシフトによって)コピーされる。この第2のサンプルは、フローティング伝播部104の参照レベルと信号レベルとを合計したものである。この電荷がフォトダイオード102からフローティング伝播部104へと転送されてしまった後に、フォートダイオード102の次の蓄積時間が始まる。
第1のサンプルが第2のサンプルから引き算されたとき、フローティング伝播部104の信号レベルがまさに残存しており、それはフォトダイオードにより集められた電荷の電荷の量に比例している。これは、相関二重サンプリング法(CDS―correlated double sampling―)の原理である。CDSは、リセットおよび1/f雑音を抑制する長所を有している。これは結果として、画素のそしてそれ故に画像センサの雑音性能を最適なものとしている。
CMOS画像化器のような、固体画像化器の性能における重要な要素は、画素の充填比である。この充填比は、画素の全体の面積に対するフォトダイオードの感光面積の割合である。フォトダイオードの感光面積を大きくすればするほど、その中に蓄積されることが可能な電荷は多くなっている。画素内に蓄積される電荷量が多くなればなるほど、ダイナミックレンジ(処理可能な最小信号に対する最大信号の比)は高くなるであろう。上述したCMOS画像化器の不利な点は、それらが相対的に低い充填比しか有していないことである。
図2は、ヨーロッパ特許出願公開EP−A1017107号に開示された画素を示す図である。画素201は、フォトゲート202と、転送トランジスタ203と、フローティング伝播部204と、ソースフォロワトランジスタ206と、および、リセットトランジスタ205とを備える。フォトゲートは接地に接続されると共に、転送トランジスタ203を介してフローティング伝播部204へと接続される。フォトゲート202の動作は、制御端子207へ供給される信号により制御される。転送トランジスタ203の動作は、転送ゲート208へ供給される転送信号により制御される。ソースフォロワトランジスタ206のゲートは、フローティング伝播部204に接続される。ソースフォロワトランジスタ206のソースは、画素の第1の外部ノード210に接続される。ソースフォロワトランジスタ206のドレインは、画素の第2の外部ノード211に接続される。リセットトランジスタ205のソースは、制御端子207に接続される。リセットトランジスタ205の動作は、リセットゲート209へ供給されるリセット信号により制御される。この実施形態における全てのトランジスタはMOSFETである。
画素201の基本的な動作は、図1に示された画素101の動作と同じである。所定の蓄積時間の間に、電荷はフォトゲート202に集められる。この電荷は、フォトゲート202に到達する光のエネルギーにより生成される。蓄積時間の終わりに、集められた電荷は、転送ゲート208にパルス信号を供給することにより、フォトゲート202からフローティング伝播部204へと転送される。これは結果としてフローティング伝播部204の電圧レベルの変化となる。図1に示された画素101のライン入力により、フローティング伝播部204の電圧レベルは、ソースフォロワトランジスタ206の手段により、画素201の第1の外部ノード210へとコピーされる。
この画素選択メカニズムは、図1に示された画素101のそれとは異なっている。図1においては選択トランジスタ107の手段により画素101が選択されたり非選択となったりしていたが、図2の画素201においてはこのような選択トランジスタは現れていない。その代わりに、ソースフォロワトランジスタ206は、画素を非選択とするために、フローティング伝播部204へ所与の電圧レベルを与えることによりオフモードへとバイアスされる。同様にソースフォロワトランジスタ206は、フローティング伝播部204へ別の電圧レベルを供給することによりオンモードへとバイアスされる。フローティング伝播部へ上述した電圧を供給することは、フォトゲート202の動作を制御するために用いられる制御端子207の手段により実現される。バイアス電圧は、制御端子へ適切な電圧を供給することにより、および、リセットトランジスタ205をオンさせることによりフローティング伝播部204へ供給される。
画素201は選択トランジスタを省略する画素101を超える長所を有し、したがって充填比を増加させている。画素201の明らかな不利は、感光素子としてのフォトゲートを必要としないことである。
図3は、本発明の撮像装置の画素を示す説明図である。画素301は、フォトダイオード302と、転送トランジスタ303と、フローティング伝播部304と、ソースフォロワトランジスタ305と、および、リセットトランジスタ306とを備える。フォトダイオード302のアノードは、接地に接続される。フォトダイオード302のカソードは、転送トランジスタ303を介してフローティング伝播部304に接続される。転送トランジスタ303動作は、転送ゲート307に供給される転送信号により制御される。ソースフォロワトランジスタ305のゲートは、フローティング伝播部304に接続される。ソースフォロワトランジスタ305のソースは、画素301の第1の外部ノード309に接続される。ソースフォロワトランジスタ305のドレインは、リセットトランジスタ306のドレイン、および、画素301の第2の外部ノード310に接続される。リセットトランジスタ306のソースは、フローティング伝播部304に接続される。リセットトランジスタ306の動作は、リセットゲート308へ供給されるリセット信号により制御される。この実施形態における全てのトランジスタは絶縁ゲート電界効果トランジスタ(IGFET―Insulated Gate Field Effect Transistor―)である。他のタイプのIGFETがまた適用されても良いとしても、MOSFETを適用することは有利であろう。
図1に示された画素101に関する相違点は、選択トランジスタが設けられていない構成を有する点である。実用上の画素において、撮像装置は、画素毎ではなくてロウ(列)毎を基本にして選択される。したがって、もしも画素のロウ(列)を読み出すために必要とされるアドレス指定と活性化が読出し部内の制御および選択手段に対して完全に転送されるならば、選択トランジスタを画素から除去することが許容される。同じ画素の全体の面積を保持することにより、この場合はフォトダイオードである感光素子のために有用である面積が増加することは明らかであろう。従って、画素301の充填比は画素101の充填比よりも高くなる。図4は、このことがどのようにして実現可能であるのかを示している。さらに、図4は、画素301の機能するところをより詳細に説明している。
図2に示される画素201は、フォトゲートを感光素子として利用するAPS画像化器のために増進された充填比の長所を提供する。構成要素の削減を通して、画素301は、感光素子としてフォトダイオードを用いるAPS画像化器のためのこの長所を実現する。画素201に対する画素301の追加的な長所は、フォトダイオード302がフォトゲートにより機能的に置き換えられても良いということである。従って、この設計は、フォトダイオードを用いるAPS画像化器、およびフォトゲートを用いる画像化器の両方に有利に適用可能である。
電荷−電圧変換を可能にするフローティングゲートまたは他の容量素子によりフローティング伝播部304を機能的に置き換えることは有利な点であっても良い。さらに、ピンで固定された表面を有するフォトダイオードが用いられるとき、表面漏れ電流は転送されるであろう。これは、暗電流における本質的な低減が得られることを可能にするという長所を有する。
他の設計の選択に依存して、図3に示されたN−MOSFETの代わりにP−MOSFETを用いる間に画素301を実現することは有利であろう。その場合、フォトダイオードまたはフォトゲートをバイアスすることは、それ相応に適合されるべきである。
図4は、この発明による撮像装置を示す概略概観図である。撮像装置401は、画像部402と、読出し部403とを備える。
画像部402は、ロウおよびカラムのマトリックス状に配置された複数の画素301を備える。画像部402はまた、複数の転送バスと、複数のリセットバスと、および、複数のロウリセットバスとを備える。画素301の各ロウは、それ自身の転送バス404と、リセットバス405と、選択バス406とを有する。同一のロウに配置された画素301の転送ゲート307は、同一の転送バス404に接続され;同一のロウに配置された画素301のリセットゲートは、同一のリセットバス405に接続され、および同一のロウに配置された画素301の第2の外部ノード310は、同一のロウ選択バス406に接続される。画像部402はまた、複数の読み出しバスを備える。画素301の各カラムは、それ自身の読み出しバス407を有する。同一のカラムに配置された画素301の第1の外部ノード309は、同一の読み出しバス407に接続される。このバスの配置は、まず1つのロウの画素を選択して残りのロウを非選択とすることにより、画素がロウ毎に基づいて読み出されることを可能にし、その後に各カラム毎に選択された画素の画素信号を読み出している。
読み出し部403は、ロウ毎に基づいて画素の動作を選択および制御するために配置された電子回路を備える制御および選択ブロック408を備える。さらに、読出し部403は、第1のDC電圧VHIGHを供給するために配置された第1のDC電圧源409と、第2のDC電圧VLOWを供給するために配置された第2のDC電圧源410と、および、複数の選択スイッチとを備える。各選択スイッチ411は、1つのロウ選択バス406と、第1の電圧源409と、第2の電圧源410とに結合される。第1の動作モードにおいて、スイッチ411は、ロウ選択バス406を第1の電圧源409に電気的に結合させ、そして第2の動作モードにおいて、スイッチ411はロウ選択バス406を第2の電圧源410に電気的に結合させる。制御および選択ブロック408は、スイッチ411が第1のモードまたは第2のモードの何れで動作するのかを決定する。
読出し部はさらに、複数のサンプルおよびホールド回路412を備える。各サンプルおよびホールド回路は、読み出しバス407に接続される入力419と、および出力413とを備える。各サンプルおよびホールド回路はまた、第1のスイッチ414および第1の保持キャパシタ415と、第2のスイッチ416および第2の保持キャパシタ417と、および差動増幅器418とを備える。第1の保持キャパシタ415は、差動増幅器の第1の入力に接続されると共に、第1のスイッチ414を介して読み出しバス407に結合される。第2の保持キャパシタ417は、差動増幅器の第2の入力に接続されると共に、第2のスイッチ416を介して読み出しバス407に結合される。差動増幅器418の出力は、サンプルおよびホールド回路の出力403を形成する。
動作において、サンプルおよびホールド回路412は、画素301を読み出すために、相関二重サンプリングを行なっている。第1のスイッチ414および第1の保持キャパシタ415を用いて、読み出される画素301のフローティング伝播部304の参照レベルを表す第1のサンプルが記憶される。第2のスイッチ416および第2の保持キャパシタ417を用いて、読み出される画素301のフローティング伝播部の参照レベルおよび信号レベルの合計を表す第2のサンプルが記憶される。差動増幅器418は、第2のサンプルから第1のサンプルを引き算する。結果として生じる差は増幅されて、サンプルおよびホールド回路412の出力413に画素出力信号として現れる。
画素は、フローティング伝播部304の電圧レベルをプログラムまたはセットすることにより、選択および非選択される。ソースフォロワトランジスタ305は、画素301のフローティング伝播部304の電圧レベルをVLOWにプログラムすることにより、効果的にオフとされ、これによりその画素を非選択とする。ソースフォロワトランジスタ305はフローティング伝播部304の電圧レベルをVHIGHにプログラムすることにより、効果的にオンとされる。VLOWおよびVHIGHは、ソースフォロワトランジスタ305の結果として生じるゲート−ソース電圧は、フローティング伝播部304がVLOWにプログラムされた場合にはしきい値よりもはっきりと低く、フローティング伝播部304がVHIGHにプログラムされた場合にはしきい値よりもはっきりと高くなるように、選択されなくてはならない。図3および図4に示されるようにN−MOSFETの代わりにP−MOSFETが用いられる場合、値VLOWおよびVHIGHはそれに応じて調整されなくてはならない。
動作において、撮像装置401における画素301は以下のステップを含むようにして読み出されても良い:
−スイッチ411を用いて、全てのロウ選択バス406を電圧源410に結合させて、これにより全てのロウ選択バスにVLOWを供給する;
−リセット信号を全てのリセットバス405に供給して、これにより全ての画素301のフローティング伝播部304をVLOWにプログラムして、その後、全ての画素のソースフォロワトランジスタ305をオフにさせる;
−スイッチ411を用いて、読み出されるべき画素301のロウのロウ選択バス406を電圧源409に結合させて、これにより読み出されるべき画素のロウにおけるロウ選択バス406にVHIGHを供給する;
−読み出されるべき画素301のロウのリセットバス406にリセット信号を供給し、これによりこれらの画素のフローティング伝播部304をVHIGHにプログラムして、その後読み出されるべき画素のソースフォロワトランジスタ305を効果的にオンさせる;
読み出されるべき画素301のフローティング伝播部304の参照レベルをサンプリングする;
−フォトダイオード302内に蓄積された電荷を読み出されるべき画素301のフローティング伝播部304に転送する;
−読み出されるべき画素301のフローティング伝播部304の信号プラス参照レベルをサンプリングする。
上述した説明は、撮像装置401の画素301がどのようにして読み出されることが可能であるかの一例である。これが1つの方法であり、同一の結果を提供する他の方法が可能であることは、この技術分野の通常の知識を有する技術者にとって明らかであろう。
図5は、この発明によるカメラシステムの概略的な概観図である。このカメラシステム501は、撮像装置502の画像部505上に画像を合焦させるための光学手段(図示せず)と、ディジタル信号プロセッサ503と、および、コントローラ504とを備える。この撮像装置502は、画像部505上に投射された画像を、電気的出力信号へと変換して、この信号はディジタル化され、適当なフォーマットに変換され、デジタル信号プロセッサ503へと転送される。このディジタル信号プロセッサ503は、多数の処理ステップを実行し、転送されたり、例えばビデオカセットやハードディスクのような適切な手段状に記憶させたりする前に、例えば、色補正、画像フォーマット適合、画像符号化等を含んでいる。これは、図5には示されていない。コントローラ504は、カメラシステム501内で異なるタスクを調和させて動作する。
撮像装置502は、図4に示された撮像装置401である。これは、通信バス回路506と、画像部505や読出し部508のような他の電気的な回路構成507とを備える。ディジタル信号プロセッサ503は、通信バス回路509と、実際の信号処理を実行するDSPコア510とを備える。コントローラ504は、通信バス回路511と、実際の制御タスクを実行する他の電子的な回路構成を備える。通信バス回路506,509および511は、同一の通信バスの一部分である。通信バスは、撮像装置502、ディジタル信号プロセッサ503、およびコントローラ504の間の通信を円滑に行なわせる。
この発明による撮像装置を備えるカメラシステムの代わりの実施形態もまた可能であることは明らかであろう。このようなカメラシステムの基本的な実施形態は、画像を撮像装置502の画像部505上に投射する光学手段をまさに備え、これに対して、画素出力信号はカメラシステムの出力信号である。この発明に係る撮像装置を備えるカメラシステムのさらの代わりの実施形態においては、撮像装置502およびディジタル信号プロセッサ503は、単一の集積回路に集積化される。この発明に係る撮像装置を備えるカメラシステムの更なる実施形態において、コントローラ504と、バスインターフェース506,509および511を備えるバスシステムが省略されている。
さらに、上述した画像は人間の肉眼により視覚可能な範囲内の波長の電磁的な放射により構成されていることは明らかであろう。この画像は、例えば赤外線映像であることも可能であろう。
要するに、この発明はロウおよびカラム方向に配置された画素を有する撮像装置401に関する。各画素301は、感光素子302と、フローティング伝播部304と、転送トランジスタ303と、前記フローティング伝播部304に接続された制御電極を有する増幅トランジスタ305と、および、リセットトランジスタ306とを備える。外部ノード310は、ロウ選択バス406を介して選択スイッチに結合される。選択スイッチ411は第1の電圧源409により生成された第1のバイアス電圧、または第2の電圧源410により生成された第2のバイアス電圧の何れかを、ロウ選択バス406に供給する。第1のバイアス電圧を供給することおよび同時にリセットトランジスタ306をオンさせることは、オンモードで増幅トランジスタ305をバイアスさせる第1のバイアス電圧へとフローティング伝播部304をプログラムして、これにより画素301を選択する。同様にして、第2のバイアス電圧を供給することは、オフモードで増幅トランジスタ305をバイアスさせて、これにより画素301を非選択とする。画素への選択および非選択についてのこの方法は、各画素内の別個の選択トランジスタについての必要性を避けて、これにより、画素の充填比を増加させる。このアプローチは、相関二重サンプリング(CDS)を提供する撮像装置にとっては特に役にたつ。
上述した説明は、具体例となるべきことを目指すもので限定的でないことは理解されるべきである。多くの実施形態は、上述した説明を読み返すことによりこの技術分野における通常の知識を有する技術者に取って明らかとなるであろう。それ故に、この発明の範囲は、上述した説明に対してそれほど参考とはならないものとして決定されるべきではあるが、この明細書に添付された請求項を参考にしてこれらの請求項が権利を与えられるのと等価な完全な範囲に沿って、決定されるべきことを志向すべきである。
例えば、設計的な選択に基づいて、ロウ毎に基づいて行なう代わりに画素毎に基づいて画素を読み出すことも有利であろう。これは、画素301の第2の外部ノードを第1および第2のDC電圧源に結合するためにロウ選択バス406以外の選択手段により円滑に行なわれる。
例えば、画素301の変形は、アンチブルーミング手段を含み、この手段は感光素子302と、画素信号に影響を与えることなく除去されるべき感光素子内で生成される過剰な電荷を許容する更なるDC電圧源と、の間に結合された主要導電チャネルと、感光素子内に蓄積されることが可能な最大電荷を制御する所定の電圧レベルを供給するその他の更なるDC電圧源に結合される制御電極と、を有する追加のトランジスタにより構成されている。
一般的な撮像装置の一例の画素を示す説明図である。 一般的な撮像装置の更なる一例の画素を示す説明図である。 この発明の実施形態による撮像装置の画素を示す説明図である。 この発明の実施形態による撮像装置の概略回路説明図である。 この発明の実施形態によるカメラシステムの概略ブロック説明図である。
符号の説明
301 画素
302 感光素子
303 転送トランジスタ
304 電荷−電圧変換ノード
305 増幅トランジスタ
306 リセットトランジスタ
309 第1の外部ノード
310 第2の外部ノード
401 撮像装置
406,409,410,411 バイアス手段

Claims (9)

  1. 複数の画素を備え、少なくとも1つの画素が、光を電荷へと変換する感光素子と、前記電荷を電圧レベルへと変換する電荷−電圧変換ノードと、前記感光画素と前記電荷−電圧変換ノードとの間に接続された主要導電性チャネルを有する転送トランジスタと、前記電荷−電圧変換ノードとに接続された制御電極と前記画素の第1の外部ノードに接続された主要導電性チャネルを有すると共に前記画素の第2の外部ノードに結合された増幅トランジスタと、および、前記電荷−電圧変換ノードと前記第2の外部ノードとの間に接続された主要導電性チャネルを有するリセットトランジスタと、を備える撮像装置において、
    前記第2の外部ノードは、前記増幅トランジスタをそれぞれオフモードおよびオンモードにバイアスさせるために、少なくとも2つの異なる電圧レベルを前記電荷−電圧変換ノードに供給するバイアス手段に結合されていることを特徴とする撮像装置。
  2. 前記画素はマトリックスを構成するロウ(列)とカラム(行)とに配置されると共に、複数の画素における前記第2の外部ノードはロウ方向であってロウ選択バスに接続されていることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記バイアス手段は、第1のバイアス電圧を供給する第1の電圧源と、第2のバイアス電圧源を供給する第2の電圧源と、および、前記第1の電圧源または前記第2の電圧源のいずれかを前記ロウ選択バスへと結合させるための選択スイッチと、を備えることを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。
  4. 前記感光素子はフォトダイオードを含むことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  5. 前記感光素子はフォトゲートを含むことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  6. 前記増幅トランジスタは、絶縁ゲート電界効果トランジスタであることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  7. 前記リセットトランジスタは、絶縁ゲート電界効果トランジスタであることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  8. 前記転送トランジスタは、絶縁ゲート電界効果トランジスタであることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  9. 画像を撮像装置の画像部上に合焦させるための光学手段を備えるカメラにおいて、前記撮像装置は、請求項1乃至請求項8の何れかに記載された撮像装置であることを特徴とするカメラ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007251481A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Nissan Motor Co Ltd 赤外線検出装置、赤外線検出装置のオフセット補正方法
JP2008160133A (ja) * 2006-12-22 2008-07-10 Magnachip Semiconductor Ltd Cmosイメージセンサのための、小サイズ、高利得及び低ノイズのピクセル

Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3750502B2 (ja) * 2000-08-03 2006-03-01 ソニー株式会社 固体撮像装置およびカメラシステム
JP3988189B2 (ja) * 2002-11-20 2007-10-10 ソニー株式会社 固体撮像装置
JP4355148B2 (ja) * 2003-02-28 2009-10-28 パナソニック株式会社 固体撮像装置の駆動方法
US7196304B2 (en) 2004-01-29 2007-03-27 Micron Technology, Inc. Row driver for selectively supplying operating power to imager pixel
JP4717879B2 (ja) * 2004-05-05 2011-07-06 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 処理ユニットのアレイを備える電子デバイス
JP2006019343A (ja) * 2004-06-30 2006-01-19 Pentax Corp 固体撮像素子
KR100656666B1 (ko) * 2004-09-08 2006-12-11 매그나칩 반도체 유한회사 이미지 센서
KR100591075B1 (ko) 2004-12-24 2006-06-19 삼성전자주식회사 커플드 게이트를 가진 전송 트랜지스터를 이용한 액티브픽셀 센서
KR20070108875A (ko) * 2005-02-22 2007-11-13 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 고체 촬상장치의 구동방법 및 고체 촬상장치
US20060203114A1 (en) * 2005-03-08 2006-09-14 Eastman Kodak Company Three-transistor CMOS active pixel
DE102005025641A1 (de) * 2005-06-03 2006-12-07 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Srahlungsdetektor zur Detektion intensitätsarmer Strahlung
GB2429864B (en) 2005-09-01 2008-09-24 Micron Technology Inc Method and apparatus providing pixel array having automatic light control pixels and image capture pixels
DE112005003698B4 (de) * 2005-09-15 2016-10-13 Volkswagen Aktiengesellschaft Erfassung optischer Strahlung
KR100734288B1 (ko) 2005-11-17 2007-07-02 삼성전자주식회사 Cis회로 및 cis회로의 초기전하 공급방법
JP4818018B2 (ja) 2006-08-01 2011-11-16 キヤノン株式会社 光電変換装置及びそれを用いた撮像システム
US7692130B2 (en) * 2006-11-01 2010-04-06 International Business Machines Corporation CMOS imaging sensor having a third FET device with a gate terminal coupled to a second diffusion region of a first FET device and a first terminal coupled to a row select signal
JP4979375B2 (ja) * 2006-12-28 2012-07-18 キヤノン株式会社 固体撮像装置及び撮像システム
JP4058459B1 (ja) * 2007-03-02 2008-03-12 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像システム
US20090040351A1 (en) * 2007-08-09 2009-02-12 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for reducing noise in a pixel array
US20090115878A1 (en) * 2007-11-07 2009-05-07 Micron Technology, Inc. Method, system and apparatus to boost pixel floating diffusion node voltage
US7858914B2 (en) * 2007-11-20 2010-12-28 Aptina Imaging Corporation Method and apparatus for reducing dark current and hot pixels in CMOS image sensors
US7655966B2 (en) * 2008-03-19 2010-02-02 International Business Machines Corporation High efficiency CMOS image sensor pixel employing dynamic voltage supply
JP2010213043A (ja) * 2009-03-11 2010-09-24 Renesas Electronics Corp トラックアンドホールド回路及びa/dコンバータ
CN102725637B (zh) 2010-01-25 2015-02-25 松下健康医疗控股株式会社 在自组装单层上固定a蛋白的方法
DE102010022184B4 (de) * 2010-05-21 2013-04-04 Bruker Daltonik Gmbh Mischfrequenz-Stabsystem als Ionenreaktor
WO2012029202A1 (en) 2010-08-30 2012-03-08 Panasonic Corporation A method for immobilizing streptavidin on a self-assembled monolayer
US20120049047A1 (en) * 2010-09-01 2012-03-01 Himax Imaging, Inc. Sensing Devices
CN103124786A (zh) 2010-10-19 2013-05-29 松下电器产业株式会社 将葡萄糖氧化酶固定在自组装膜上的方法
CN102487436A (zh) * 2010-12-01 2012-06-06 英属开曼群岛商恒景科技股份有限公司 感测像素阵列及感测装置
KR101736321B1 (ko) 2010-12-22 2017-05-17 삼성디스플레이 주식회사 엑스레이 검출기용 박막 트랜지스터 어레이 기판 및 엑스레이 검출기
US8847136B2 (en) * 2011-01-02 2014-09-30 Pixim, Inc. Conversion gain modulation using charge sharing pixel
CN103067676B (zh) * 2013-01-16 2016-03-30 北京思比科微电子技术股份有限公司 高动态图像传感器及其有源像素
KR102102702B1 (ko) * 2013-06-19 2020-04-21 삼성전자주식회사 이미지 센서의 단위 픽셀 및 이를 포함하는 이미지 센서
KR102131327B1 (ko) * 2013-08-16 2020-07-07 삼성전자 주식회사 소스 팔로워를 포함하는 이미지 센서
JP6370044B2 (ja) * 2013-12-25 2018-08-08 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システム、撮像装置の駆動方法
JP6324184B2 (ja) * 2014-04-18 2018-05-16 キヤノン株式会社 光電変換装置、撮像システム、および光電変換装置の駆動方法
TWI596946B (zh) * 2016-08-18 2017-08-21 友達光電股份有限公司 訊號讀取電路
US10917596B2 (en) * 2018-08-29 2021-02-09 Himax Imaging Limited Pixel circuit for generating output signals in response to incident radiation
US10890482B2 (en) * 2019-01-18 2021-01-12 Himax Imaging Limited Pixel circuit for generating an output signal in response to incident radiation
KR20210028308A (ko) 2019-09-03 2021-03-12 삼성전자주식회사 증폭기 및 그것을 포함하는 이미지 센서 장치

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5541402A (en) * 1994-10-17 1996-07-30 At&T Corp. Imaging active pixel device having a non-destructive read-out gate
EP0739039A3 (en) * 1995-04-18 1998-03-04 Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum Vzw Pixel structure, image sensor using such pixel, structure and corresponding peripheric circuitry
US5917547A (en) * 1997-07-21 1999-06-29 Foveonics, Inc. Two-stage amplifier for active pixel sensor cell array for reducing fixed pattern noise in the array output
JP3466886B2 (ja) 1997-10-06 2003-11-17 キヤノン株式会社 固体撮像装置
US6222175B1 (en) * 1998-03-10 2001-04-24 Photobit Corporation Charge-domain analog readout for an image sensor
US6111245A (en) * 1998-04-22 2000-08-29 National Science Council Of Republic Of China Low voltage reverse bias arrangement for an active pixel sensor
US6097022A (en) * 1998-06-17 2000-08-01 Foveon, Inc. Active pixel sensor with bootstrap amplification
US6043478A (en) * 1998-06-25 2000-03-28 Industrial Technology Research Institute Active pixel sensor with shared readout structure
US6587146B1 (en) * 1998-11-20 2003-07-01 Eastman Kodak Company Three transistor active pixel sensor architecture with correlated double sampling
US6624850B1 (en) 1998-12-30 2003-09-23 Eastman Kodak Company Photogate active pixel sensor with high fill factor and correlated double sampling
US6704050B1 (en) * 1999-04-23 2004-03-09 Polaroid Corporation Active-pixel image sensing device with linear mode voltage to current conversion
US6727946B1 (en) * 1999-12-14 2004-04-27 Omnivision Technologies, Inc. APS soft reset circuit for reducing image lag
US6958776B2 (en) * 2000-07-12 2005-10-25 Vanguard International Semiconductor Corp. Method and apparatus of controlling a pixel reset level for reducing an image lag in a CMOS sensor
US6888572B1 (en) * 2000-10-26 2005-05-03 Rockwell Science Center, Llc Compact active pixel with low-noise image formation
JP3940618B2 (ja) * 2002-03-01 2007-07-04 株式会社東芝 固体撮像装置
US6911640B1 (en) * 2002-04-30 2005-06-28 Ess Technology, Inc. Reducing reset noise in CMOS image sensors
DE602004020444D1 (de) * 2003-01-08 2009-05-20 Cypress Semiconductor Corp Aktiver cmos-pixel mit hard- und soft-reset
US7215369B2 (en) * 2003-04-02 2007-05-08 Micron Technology, Inc. Compact pixel reset circuits using reversed current readout
US7652704B2 (en) * 2004-08-25 2010-01-26 Aptina Imaging Corporation Pixel for boosting pixel reset voltage
US20060203114A1 (en) * 2005-03-08 2006-09-14 Eastman Kodak Company Three-transistor CMOS active pixel
US7659928B2 (en) * 2005-04-21 2010-02-09 Aptina Imaging Corporation Apparatus and method for providing anti-eclipse operation for imaging sensors

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007251481A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Nissan Motor Co Ltd 赤外線検出装置、赤外線検出装置のオフセット補正方法
JP2008160133A (ja) * 2006-12-22 2008-07-10 Magnachip Semiconductor Ltd Cmosイメージセンサのための、小サイズ、高利得及び低ノイズのピクセル

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