JP2007233384A - ペーストパターン検査方法 - Google Patents
ペーストパターン検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007233384A JP2007233384A JP2007042829A JP2007042829A JP2007233384A JP 2007233384 A JP2007233384 A JP 2007233384A JP 2007042829 A JP2007042829 A JP 2007042829A JP 2007042829 A JP2007042829 A JP 2007042829A JP 2007233384 A JP2007233384 A JP 2007233384A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- paste
- substrate
- data
- paste pattern
- height
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/12—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
- H05K3/1241—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by ink-jet printing or drawing by dispensing
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
- H05K1/0269—Marks, test patterns or identification means for visual or optical inspection
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/01—Tools for processing; Objects used during processing
- H05K2203/0104—Tools for processing; Objects used during processing for patterning or coating
- H05K2203/0126—Dispenser, e.g. for solder paste, for supplying conductive paste for screen printing or for filling holes
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/16—Inspection; Monitoring; Aligning
- H05K2203/163—Monitoring a manufacturing process
Abstract
【解決手段】 本発明のペーストパターンの検査方法は、ペースト塗布装置のステージに基板を載置する段階、ディスペンスヘッドで基板にペーストを塗布する段階、前記基板表面とディスペンスヘッドノズルとの高さを検知手段によりリアルタイムで計測する段階、前記検知手段により計測した基板表面の高さデータを格納する段階、前記計測したデータの中から予め設定した許容範囲を離れるデータを検出する段階、前記許容範囲を離れたデータを検査位置として認識する段階、前記ディスペンスヘッドを検査位置に移動する段階、及び、前記検査地点で不良を検査する段階、を含むことを特徴とする。
【選択図】図4
Description
この液晶表示装置の製造過程において、基板に所定のパターンでペーストを塗布する作業は、ペースト塗布装置を用いて行う。
一般的なペースト塗布装置は、基板が装着されるステージと、基板にペーストを吐出するノズルが装着されるディスペンスヘッドと、ディスペンスヘッドが装着されるヘッド支持台、及びヘッド支持台とディスペンスヘッドとの動きを制御する制御部を含んで構成される。
このようなペースト塗布装置は、基板とノズルとの相対位置関係を変化させながら、基板に所定形状のペーストパターンを形成する。
すなわち、ペーストの吐出時に、基板は一定方向に移動し、ディスペンスヘッドはヘッド支持台に装着された状態で基板の移動方向と直角に移動する。
これらの図面に示すように、従来のディスペンスヘッド100はペースト塗布装置のヘッド支持台(不図示)に設けられるメインブロック102と、ペーストが受納されたシリンジ105が脱着可能に装着されるヘッドブロック104と、ヘッドブロック104を前方に所定距離の範囲内で水平に往復移動させる水平移動部103と、ヘッドブロック104の下段部に装着されるノズル(不図示)を含んで構成される。
メインブロック102の上部には水平移動部103を上下に移動させることによって、ノズルの上下方向位置を調整するZ軸モーター107が設けられる。参照符号108は基板をステージ(不図示)に載置した後、ノズルと基板との間隔を正確に合せるためにノズルの高さを微細調整することができる微細調整用Z軸モーターである。もちろん、微細調整用Z軸モーターを構成しないで、Z軸モーター107だけを利用してノズルのZ方向位置を正確に調整することもできる。
ノズルの側方向位置調整はヘッド支持台に対するメインブロック102の側方向移動により行う。
レーザー変位センサー109aは、ペーストPが塗布される進行方向にノズルより前方側に設けられて基板Gの表面高さを測定し、基板Gの表面高さによってペーストが一定に塗布されるように維持する。
また、断面積センサー109bの内部にはレンズ109cが一定角度ずつ一方向に往復回転するように設けられている。この断面積センサー109bはレンズ109cを通じて基板Gの方にレーザービームを連続的に放出してペーストPをスキャンすると共に、断面積の測定を行う。
しかし、従来のようにペーストPの断面積を測定する際に、指定した位置で測定を行うと、実際に振動の発生により塗布不良の位置を検出することが難しい問題点がある。
すなわち、従来のペーストパターン検査方法は、パネルの大量生産過程で迅速な生産体系構築のために、不良率が高く現れる基板Gの一部位置を指定して断面積センサー109bにより断面積を検査するものである。そのため、指定しない部分で不良が発生する場合は、ペーストパターンの不良位置を検出することが難しい。
これらの図面に示すように、本発明に係るペーストパターン検査方法は、ペースト塗布装置によりペーストを基板Gに一定のパターンで塗布した後、パターン上で発生した不良位置を迅速で正確に検出できる方式である。
ペースト塗布部材は、ステージ40の前後方に沿って相対移動する一対のヘッド支持台50と、このヘッド支持台50に設けられて基板Gにペーストを塗布し、ペーストの塗布量を検査する複数のディスペンスヘッド30と、このディスペンスヘッド30に連結されてペーストの塗布量を制御する制御部(不図示)で構成される。
ヘッド支持台50はガントリー形態になっている。また、ディスペンスヘッド30は、ペーストを吐出するノズル36と、基板Gの表面高さを検知するレーザー変位センサー34と、基板Gに塗布されたペーストの断面積を測定する断面積センサー(不図示)を含む。
まず、移送ロボット(図示せず)により基板Gが移送されると、移送される基板Gとの干渉を防ぐために、ヘッド支持台50はステージ40の両側に沿って相対移動する。
ヘッド支持台50が移送された後、基板Gはステージ40に形成された通孔(不図示)を通じてステージ40に吸着固定される。
基板Gがステージ40に固定されると、一対のヘッド支持台50は元の位置に移動する。
ヘッド支持台50が元の位置に移動した後、ディスペンスヘッドのノズル36の先端は基板Gの表面と一定の間隔を維持するようにセットする。
すなわち、ノズル36と基板Gとの間に一定の間隔を維持するようにセットを完了した後、ステージ40がステージ移動手段により前後に移動して、ディスペンスヘッド30はステージ40と一緒に左右に移動する。それによって、基板Gの周面には四角形状のペーストパターン20が形成される。
レーザー変位センサー34により基板Gの高さを測定する過程においては、測定した基板Gの表面高さのデータをリアルタイムで制御部に送信して格納する。
このように基板Gの表面にペーストが一定のパターンをなすように塗布された後、塗布されたペーストで不良が発生した部分は、ディスペンスヘッドの断面積センサーにより検出する。ここで、不良が発生した部分の検出は次のような過程を通じて行なう。
この時、データは図7に示すように、位置座標に変換され、データが許容誤差範囲を超過する場合、制御部はペーストで不良が発生した位置として認識する。
以後、制御部は不良位置として認識した部分にディスペンスヘッド30を移動させてペースト表面と断面積センサーとの間の相対距離を測定して断面積を検査する。
したがって、基板Gの周面にペーストが塗布された後の不良位置の検出は、制御部に格納したデータに基づいて許容範囲を超過する位置だけに断面積センサーにより検査を行うことによって、迅速、正確になる。
20 ペーストパターン
30 ディスペンスヘッド
34 レーザー変位センサー
36 ノズル
40 ステージ
50 ヘッド支持台
G 基板
Claims (3)
- ペースト塗布装置のステージに基板を載置する段階、
ディスペンスヘッドで基板にペーストを塗布する段階、
前記基板表面とディスペンスヘッドノズルとの高さを検知手段によりリアルタイムで計測する段階、
前記検知手段により計測した基板表面の高さデータを格納する段階、
前記計測したデータの中から予め設定した許容範囲を離れるデータを検出する段階、
前記許容範囲を離れたデータを検査位置として認識する段階、
前記ディスペンスヘッドを検査位置に移動する段階、及び、
前記検査地点で不良を検査する段階、
を含むことを特徴とするペーストパターンの検査方法。 - 前記検知手段はレーザー変位センサーであり、基板表面にペーストの塗布時基板の表面高さをリアルタイムで検知してデータを制御部に送信することを特徴とする請求項1に記載のペーストパターンの検査方法。
- 前記ペーストパターンの断面積を測定して不良可否を検査する段階をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のペーストパターンの検査方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2006-0018234 | 2006-02-24 | ||
KR1020060018234A KR100795509B1 (ko) | 2006-02-24 | 2006-02-24 | 페이스트 패턴 검사 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007233384A true JP2007233384A (ja) | 2007-09-13 |
JP4841459B2 JP4841459B2 (ja) | 2011-12-21 |
Family
ID=38477598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007042829A Expired - Fee Related JP4841459B2 (ja) | 2006-02-24 | 2007-02-22 | ペーストパターン検査方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20070209454A1 (ja) |
JP (1) | JP4841459B2 (ja) |
KR (1) | KR100795509B1 (ja) |
CN (1) | CN100483223C (ja) |
TW (1) | TWI359701B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010042393A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-25 | Top Engineering Co Ltd | 基板のリペア区間設定方法(methodfordesignatingrepairsectiononsubstrate) |
KR101303498B1 (ko) | 2013-03-14 | 2013-09-03 | 유로비젼 (주) | 레이저빔 투과율 측정장치 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100967887B1 (ko) * | 2007-09-28 | 2010-07-05 | 삼성중공업 주식회사 | 독 배치 구조 및 그의 선박 건조방법 |
KR101643217B1 (ko) | 2008-02-22 | 2016-07-27 | 무사시 엔지니어링 가부시키가이샤 | 토출량 보정 방법 및 도포 장치 |
WO2010016738A2 (ko) * | 2008-08-08 | 2010-02-11 | 주식회사 탑 엔지니어링 | 헤드유닛의 노즐의 토출구와 레이저변위센서의 결상점의 상대위치측정장치, 그 상대위치측정장치가 장착되는 페이스트 디스펜서 및 그 상대위치측정장치를 이용한 헤드유닛의 노즐의 토출구와 레이저변위센서의 결상점의 상대위치측정방법 |
JP2010044037A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-25 | Top Engineering Co Ltd | ペーストディスペンサーのノズルの吐出口とレーザー変位センサーの結像点の位置測定装置及びその方法{positiondetectionapparatusandmethodfordetectingpositionsofnozzleorrificeandopticalpointoflaserdisplacementsensorofpastedispenser} |
JP2016128152A (ja) * | 2015-01-09 | 2016-07-14 | サンユレック株式会社 | 樹脂体形成方法及びその形成物 |
CN109163681B (zh) * | 2018-09-03 | 2024-01-05 | 杭州亚慧生物科技有限公司 | 一种封合剂喷涂面积检测装置及检测方法 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6129708A (ja) * | 1984-07-20 | 1986-02-10 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 耐火壁表面プロフイル測定方法 |
JPH04175602A (ja) * | 1990-11-08 | 1992-06-23 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 核融合炉第1壁の形状測定装置 |
JPH05172755A (ja) * | 1991-12-20 | 1993-07-09 | Sony Corp | 半導体装置の外観検査方法とその装置 |
JPH1027543A (ja) * | 1996-05-09 | 1998-01-27 | Fujitsu Ltd | プラズマディスプレイパネルの蛍光体層形成装置および形成方法 |
JPH11325859A (ja) * | 1998-05-14 | 1999-11-26 | Fujitsu Ltd | バンプ外観検査方法及び装置 |
JP2001176907A (ja) * | 1999-12-16 | 2001-06-29 | Shinko Electric Ind Co Ltd | バンプ検査装置 |
JP2003033708A (ja) * | 2001-07-25 | 2003-02-04 | Hitachi Industries Co Ltd | ペースト塗布機とその制御方法 |
JP2003230862A (ja) * | 2002-02-07 | 2003-08-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 塗布方法 |
JP2005296917A (ja) * | 2004-04-13 | 2005-10-27 | Top Engineering Co Ltd | ペースト塗布器及びその制御方法 |
JP2005324190A (ja) * | 2004-05-12 | 2005-11-24 | Top Engineering Co Ltd | シーリング剤ディスペンサおよびその制御方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5415693A (en) * | 1992-10-01 | 1995-05-16 | Hitachi Techno Engineering Co., Ltd. | Paste applicator |
SE514859C2 (sv) | 1999-01-18 | 2001-05-07 | Mydata Automation Ab | Förfarande och anordning för undersökning av objekt på ett substrat genom att ta bilder av substratet och analysera dessa |
DE19938328C2 (de) * | 1999-08-12 | 2003-10-30 | Daimler Chrysler Ag | Verfahren und Vorrichtung zum automatisierten Aufbringen einer Klebstoffraupe |
JP2001153646A (ja) | 1999-11-29 | 2001-06-08 | Anritsu Corp | プリント基板検査装置 |
-
2006
- 2006-02-24 KR KR1020060018234A patent/KR100795509B1/ko active IP Right Grant
-
2007
- 2007-02-15 CN CNB2007100793499A patent/CN100483223C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-02-16 TW TW096106291A patent/TWI359701B/zh not_active IP Right Cessation
- 2007-02-22 JP JP2007042829A patent/JP4841459B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-02-23 US US11/709,890 patent/US20070209454A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6129708A (ja) * | 1984-07-20 | 1986-02-10 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 耐火壁表面プロフイル測定方法 |
JPH04175602A (ja) * | 1990-11-08 | 1992-06-23 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 核融合炉第1壁の形状測定装置 |
JPH05172755A (ja) * | 1991-12-20 | 1993-07-09 | Sony Corp | 半導体装置の外観検査方法とその装置 |
JPH1027543A (ja) * | 1996-05-09 | 1998-01-27 | Fujitsu Ltd | プラズマディスプレイパネルの蛍光体層形成装置および形成方法 |
JPH11325859A (ja) * | 1998-05-14 | 1999-11-26 | Fujitsu Ltd | バンプ外観検査方法及び装置 |
JP2001176907A (ja) * | 1999-12-16 | 2001-06-29 | Shinko Electric Ind Co Ltd | バンプ検査装置 |
JP2003033708A (ja) * | 2001-07-25 | 2003-02-04 | Hitachi Industries Co Ltd | ペースト塗布機とその制御方法 |
JP2003230862A (ja) * | 2002-02-07 | 2003-08-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 塗布方法 |
JP2005296917A (ja) * | 2004-04-13 | 2005-10-27 | Top Engineering Co Ltd | ペースト塗布器及びその制御方法 |
JP2005324190A (ja) * | 2004-05-12 | 2005-11-24 | Top Engineering Co Ltd | シーリング剤ディスペンサおよびその制御方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010042393A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-25 | Top Engineering Co Ltd | 基板のリペア区間設定方法(methodfordesignatingrepairsectiononsubstrate) |
KR101303498B1 (ko) | 2013-03-14 | 2013-09-03 | 유로비젼 (주) | 레이저빔 투과율 측정장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100795509B1 (ko) | 2008-01-16 |
TW200734065A (en) | 2007-09-16 |
CN101025523A (zh) | 2007-08-29 |
US20070209454A1 (en) | 2007-09-13 |
CN100483223C (zh) | 2009-04-29 |
JP4841459B2 (ja) | 2011-12-21 |
KR20070088081A (ko) | 2007-08-29 |
TWI359701B (en) | 2012-03-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4841459B2 (ja) | ペーストパターン検査方法 | |
JP6078298B2 (ja) | 位置補正機能を有する作業装置および作業方法 | |
JP2009175708A (ja) | 液晶滴下装置 | |
JPH1133458A (ja) | 液状体の塗布装置 | |
JP4551324B2 (ja) | ペーストの塗布量測定装置及びペースト塗布装置 | |
CN106855677A (zh) | 动态式自动追焦系统 | |
US20010000904A1 (en) | Solder bump measuring method and apparatus | |
JP2007152261A (ja) | ペースト塗布装置、ペースト塗布方法及びこれを用いた表示パネルの製造装置 | |
KR101346782B1 (ko) | 실런트 도포 상태에 근거한 액정 적하량 결정 방법 | |
JP4668023B2 (ja) | ペースト塗布装置及びペースト塗布方法 | |
JPH11316110A (ja) | はんだバンプの測定方法 | |
JP2003177411A (ja) | シール剤の塗布装置および塗布方法 | |
TWI397755B (zh) | 用於滴落液晶的設備和方法 | |
JP5171230B2 (ja) | アライメントマークの検出装置及び方法 | |
CN108393212B (zh) | 分配装置 | |
JP2010042393A (ja) | 基板のリペア区間設定方法(methodfordesignatingrepairsectiononsubstrate) | |
KR20130071005A (ko) | 페이스트 디스펜서 | |
TWI389744B (zh) | 控制塗施設備的方法 | |
JP2008225070A (ja) | フィルタ製造裝置及びこれらを用いた表示用パネル製造方法 | |
JP2007123534A (ja) | 配線パターンの欠陥修正方法及び欠陥修正装置 | |
JP2001315297A (ja) | スクリーン印刷装置およびスクリーン印刷方法 | |
JP4532512B2 (ja) | シーラント塗布状態に基づいた液晶滴下量決定方法 | |
KR20100033308A (ko) | 페이스트 패턴의 검사대상부분을 선정하는 방법 | |
JP5866094B2 (ja) | ペースト塗布装置及びペースト塗布方法 | |
JP2002186892A (ja) | 塗布装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20080723 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20080808 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100615 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100913 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100916 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101014 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101116 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110215 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110531 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110825 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110913 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111004 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4841459 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141014 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |