KR101303498B1 - 레이저빔 투과율 측정장치 - Google Patents

레이저빔 투과율 측정장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101303498B1
KR101303498B1 KR1020130027380A KR20130027380A KR101303498B1 KR 101303498 B1 KR101303498 B1 KR 101303498B1 KR 1020130027380 A KR1020130027380 A KR 1020130027380A KR 20130027380 A KR20130027380 A KR 20130027380A KR 101303498 B1 KR101303498 B1 KR 101303498B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light receiving
laser beam
headers
transmittance
laser
Prior art date
Application number
KR1020130027380A
Other languages
English (en)
Inventor
한상배
김주호
양승철
박민우
박찬희
이재일
Original Assignee
유로비젼 (주)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 유로비젼 (주) filed Critical 유로비젼 (주)
Priority to KR1020130027380A priority Critical patent/KR101303498B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101303498B1 publication Critical patent/KR101303498B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59—Transmissivity
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/39—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using tunable lasers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명은 레이저빔 투과율 측정장치에 관한 것으로서, 바닥에 다수의 수광부가 설치되는 테이블(10); 상기 다수의 수광부를 향하는 레이저빔을 각각 조사하는 레이저빔조사부가 설치되는 다수의 헤더와; 상기 다수의 수광부의 상부측에서 융착대상물의 시편(S)을 이동시킬 수 있는 공간을 제공하도록, 상기 다수의 헤더를 테이블(10)로부터 상부측에 위치고정하는 다수의 지지부; 상기 다수의 수광부로 조사되는 레이저빔이 상기 시편(S)을 투과할 때, 그 시편(S)의 투과율을 연산하는 연산부(미도시)에 의하여 연산된 투과율이 표시되는 표시부(70); 및 상기 시편(S)이 올려지지 않았을 때, 상기 다수의 수광부에서 수광되는 레이저빔의 광량을 기준값으로 세팅하는 세팅부(80);를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

레이저빔 투과율 측정장치{Apparatus for measuring laser transmissivity}
본 발명은 레이저빔 투과율 측정장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 기하학적인 형태를 가짐으로써 두께가 다양한 시편의 레이저빔 투과율을 측정하기 위한 레이저빔 투과율 측정장치에 관한 것이다.
일반적으로 열가소성 수지로 된 두 개의 부재를 접합하는 방식으로, 접합하고자 하는 상,하부 부재 중 어느 한 부재에 접착제를 바르거나 초음파융착 또는 진동융착방식을 통해 접합하는 방식이 있다.
그러나 이러한 방식은 접착제의 사용에 따라 환경오염이 발생되고, 접합부분이 매끄럽지 않으며, 또한 접합강도가 일정하지 않아 기계적 외력이 가해졌을 때 제품 내부의 손상이 발생되었으며 무엇보다 수밀성의 문제가 야기되었다.
이러한 문제점에 의거하여, 국부적으로 열을 전도함과 동시에 비접촉식으로 구현하는 레이저 융착방식이 제안되었다.
레이저 융착방식이란, 융착 대상물인 상부부재와 하부부재를 밀착시킨 상태에서, 밀착된 부재의 테두리 부분 혹은 그 일부를 레이저를 이용하여 융착하는 것으로서, 상부부재는 레이저빔이 투과되는 재질이 사용되고 하부 부재는 레이저빔이 흡수되는 재질을 사용한다. 이때 융착을 효과적으로 진행하기 위하여, 레이저가 투과되는 투과율을 알아내는 것이 중요하다.
이러한 투과율을 알아내기 위한 종래기술이 공개번호 10-2008-0095624호에 개시되어 있다. 종래기술에 따르면, 시편에 특정 파장값을 갖는 레이저를 조사(照射)하는 레이저소스모듈(LSM)과, 시편이 안착되며 시편을 일정한 각도로 회전시킬 수 있는 시편조사모듈(MPM)과, 시편에 대한 레이저의 투과량과 반사량을 측정하는 광다이오드모듈(PDM)과, 미리 설정된 일정한 각도에 따라 시편조사모듈(MPM)을 통해 상기 시편을 회전시키면서, 광다이오드모듈(PDM)을 통해 각각 측정되는 레이저의 투과량과 반사량으로부터 레이저의 흡수율을 계산하는 제어부를 포함하는 레이저 흡수율 측정장치가 개시되어 있다. 이러한 구조에 의하여, 광다이오드모듈이 레이저소스모듈에서 조사되어 시편을 통과한 레이저를 수광함으로써, 시편의 투과율을 알아내게 된다.
그런데 종래기술의 경우, 특정한 두께의 시편의 투과율만을 측정할 수 있기 때문에, 기하학적 형태에 따라 두께가 다양한 융착 대상물의 투과율을 측정하기가 어렵다라는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 기하학적 형태에 따라 다양한 두께 및 경사면을 가지는 융착대상물의 투과율을 용이하고 빠르게 측정할 수 있는 레이저빔 투과율 측정장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 레이저빔 투과율 측정장치는, 바닥에 다수의 수광부가 설치되는 테이블(10); 상기 다수의 수광부를 향하는 레이저빔을 각각 조사하는 레이저빔조사부가 설치되는 다수의 헤더와; 상기 다수의 수광부의 상부측에서 융착대상물의 시편(S)을 이동시킬 수 있는 공간을 제공하도록, 상기 다수의 헤더를 테이블(10)로부터 상부측에 위치고정하는 다수의 지지부; 상기 테이블(10) 상에 설치된 것으로서, 상기 다수의 수광부로 조사되는 레이저빔이 상기 시편(S)을 투과할 때, 그 시편(S)의 투과율을 연산하는 연산부(미도시)에 의하여 연산된 투과율이 표시되는 표시부(70); 및 상기 테이블(10) 상에 설치된 것으로서, 상기 시편(S)이 올려지지 않았을 때 상기 다수의 수광부에서 수광되는 레이저빔의 광량을 기준값으로 세팅하는 세팅부(80);를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 있어서, 상기 다수의 수광부는 테이블(10)의 바닥에 이격되게 설치되는 제1,2수광부(21)(22)를 포함하고; 상기 다수의 레이저빔조사부는 상기 제1,2수광부(21)(22)로 제1,2레이저빔(B1)(B2)을 조사하는 제1,2레이저빔조사부(31)(32)를 포함하며; 상기 다수의 헤더는 상기 제1,2레이저빔조사부(31)(32)가 각각 설치되는 제1,2헤더(41)(42)를 포함하고; 상기 다수의 지지부는 상기 제1,2수광부(21)(22)의 상부측에서 시편(S)을 이동시킬 수 있는 공간을 제공하도록, 상기 제1,2헤더(41)(42) 각각을 상기 테이블(10)로부터 상부측에 위치고정하는 제1,2지지부(51)(52)를 포함한다.
본 발명에 있어서. 상기 제1,2지지부(51)(52)는 상기 제1,2헤더(41)(42)를 각각 승강 가능하게 지지한다.
본 발명에 있어서, 상기 제1,2헤더(41)(42) 각각에 설치되어 상기 제1,2레이저빔(B1)(B2)의 직경을 가변시키기 위한 제1,2빔마스크(61)(62)를 더 포함한다. 이때 상기 제1,2빔마스크(61)(62)는, 직경이 다양한 홀(h1)(h2)(h3)(h4)들이 원주형태로 형성되는 제1,2디스크(61a)(62a)와, 상기 홀(h1)(h2)(h3)(h4) 중 어느 하나가 상기 제1,2레이저빔이 경유하는 위치에 배치되도록 상기 제1,2디스크(61a)(62a)를 상기 제1,2헤더(41)(42)에 회전가능하게 지지하는 제1,2지지축(61b)(62b)을 포함한다.
본 발명에 있어서, 상기 제1,2수광부(21)(22)는, 제1,2포토다이오드(21a)(22a)가 각각 내장되는 것으로서 상부측에 상기 제1,2레이저빔(B1)(B2)이 통과하는 홀(h)이 형성된 제1,2홀더(21b)(22b)와, 상기 테이블(10)에 형성되어 상기 제1,2홀더(21b)(22b)가 착탈되는 제1,2착탈공(21c)(22c)을 포함한다.
본 발명에 있어서, 상기 제1,2빔마스크(61)(62)에는 상기 홀(h1)(h2)(h3)(h4)의 직경을 표시하는 직경표시부(D)가 형성된다.
본 발명에 따르면, 기하학적 형태에 따라 다양한 두께 및 경사면을 가지는 융착대상물의 투과율을 용이하고 빠르게 측정할 수 있으며, 이에 따라 투과율이 가장 높은 최적의 레이저빔 파장이 얼마인지, 최적의 레이저빔 직경이 얼마인지를 알아낼 수 있다라는 작용, 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 레이저빔 투과율 측정장치의 사시도.
도 2는 도 1의 레이저빔 투과율 측정장치에 있어서, 제1,2,3,4수광부를 설명하기 위한 도면,
도 3은 도 1의 레이저빔 투과율 측정장치에 있어서, 제1,2,3,4빔마스크를 설명하기 위한 도면,
도 4는 도 1의 레이저빔 투과율 측정장치에 있어서, 기하학적 형태의 시편이 테이블상에서 움직이는 것을 설명하기 위한 도면.
이하, 본 발명에 따른 레이저빔 투과율 측정장치를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 레이저빔 투과율 측정장치의 사시도이고, 도 2는 도 1의 레이저빔 투과율 측정장치에 있어서, 제1,2,3,4수광부를 설명하기 위한 도면이며, 도 3은 도 1의 레이저빔 투과율 측정장치에 있어서, 제1,2,3,4빔마스크를 설명하기 위한 도면이고, 도 4는 도 1의 레이저빔 투과율 측정장치에 있어서, 기하학적 형태의 시편이 테이블상에서 움직이는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 레이저빔 투과율 측정장치는, 바닥에 다수의 수광부가 설치되는 테이블(10)과; 다수의 수광부를 향하는 레이저빔을 각각 조사하는 레이저빔조사부가 설치되는 다수의 헤더와; 다수의 수광부의 상부측에서 융착대상물의 시편(S)을 이동시킬 수 있는 공간을 제공하도록, 다수의 헤더를 테이블(10)로부터 상부측에 위치고정하는 다수의 지지부와; 다수의 헤더에 설치되어 다수의 레이저빔의 직경을 가변시키기 위한 다수의 빔마스크와; 상기 테이블(10) 상에 설치된 것으로서, 다수의 수광부로 조사되는 레이저빔이 시편(S)을 투과할 때, 그 시편(S)의 투과율을 연산하는 연산부(미도시)에 의하여 연산된 투과율이 표시되는 표시부(70)와; 상기 테이블(10) 상에 설치된 것으로서, 시편(S)이 올려지지 않았을 때, 수광부에서 수광되는 레이저빔의 광량을 기준값으로 세팅하는 세팅부(80);를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 실시예에서 수광부, 레이저빔조사부, 헤더, 지지부, 및 빔마스크는 2개 이상 채용되며, 본 실시예에서는 각각 4개씩 채용되는 것으로 예시하고 있다.
이를 좀더 상세히 설명하면, 다수의 수광부는 테이블(10)의 바닥에 이격되게 설치되는 제1,2,3,4수광부(21)(22)(23)(24)를 포함한다.
다수의 레이저빔조사부는 제1,2,3,4수광부(21)(22)(23)(24)로 제1,2,3,4레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)을 조사하는 제1,2,3,4레이저빔조사부(31)(32)(33)(34)를 포함한다.
다수의 헤더는 각각의 제1,2,3,4레이저빔조사부(31)(32)(33)(34)가 각각 설치되는 제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44)를 포함한다.
다수의 지지부는 제1,2,3,4수광부(21)(22)(23)(24)의 상부측에서 시편(S)을 이동시킬 수 있는 공간을 제공하도록, 제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44) 각각을 테이블(10)로부터 상부측에 위치고정하는 제1,2,3,4지지부(51)(52)(53)(54)를 포함한다.
다수의 빔마스크는 제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44)에 각각 설치되어 상기 제1,2,3,4레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)의 직경을 가변시키기 위한 제1,2,3,4빔마스크(61)(62)(63)(64)를 포함한다.
융착대상물의 시편(S)은 수지로 된 성형물이기 때문에, 도 4에 도시된 바와 같이 다양한 기하학적 형태와, 다양한 두께 및 경사면을 가진다. 따라서 시편(S)의 투과율을 측정할 때 테이블(10) 상에서 전후좌우 여러 방향으로 움직이면서 투과율을 측정하여야 한다. 이를 위하여, 테이블(10)의 표면은 상기한 시편(S)을 전후좌우 여러 방향으로 움직일 수 있도록 편편하게 되어 있다.
제1,2,3,4수광부(21)(22)(23)(24)는 테이블(10)에 이격되게 위치된다. 이러한 제1,2,3,4수광부(21)(22)(23)(24)에는 제1,2,3,4포토다이오드(21a)(22a)(23a)(24a)가 각각 설치된다.
한편 제1,2,3,4수광부(21)(22)(23)(24)는 고에너지인 제1,2,3,4레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)이 직접 조사되기 때문에 쉽게 손상될 수 있다. 또한 제1,2,3,4수광부(21)(22)(23)(24)에 설치되는 제1,2,3,4포토다이오드는 필요에 따라 교체하여야 하는데, 예를 들면 조사되는 제1,2,3,4레이저빔의 출력이 고출력일 때 견딜 수 있는 포토다이오드로 교체하거나, 특정 파장대의 레이저빔에 대하여 수광능력이 우수한 포토다이오드로 교체하여야 한다.
이를 가능하게 하기 위하여, 제1,2,3,4수광부(21)(22)(23)(24)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 제1,2,3,4포토다이오드(21a)(22a)(23a)(24a)가 각각 내장되는 것으로서 상부측에 제1,2,3,4레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)이 통과하는 소정직경의 홀(h)이 형성된 제1,2,3,4홀더(21b)(22b)(23b)(24b)와, 테이블(10)에 형성되는 것으로서 제1,2,3,4홀더(21b)(22b)(23b)(24b)가 착탈되는 제1,2,3,4착탈공(21c)(22c)(23c)(24c)을 포함한다.
이러한 구조에 의하여, 제1,2,3,4홀더(21b)(22b)(23b)(24b)를 제1,2,3,4착탈공(21c)(22c)(23c)(24c)로부터 분리한 후 포토다이오드를 다른 것으로 교체하고, 이후 제1,2,3,4착탈공(21c)(22c)(23c)(24c)에 결합시킴으로써 제1,2,3,4포토다이오드를 용이하게 교체할 수 있다.
한편 제1,2,3,4홀더(21b)(22b)(23b)(24b)가 착탈가능한 구조를 가짐으로써, 다양한 직경의 홀(h)을 가지는 제1,2,3,4홀로 교체할 수 있다. 이는 후술할 빔마스크에 형성된 다양한 직경의 홀(h1)(h2)(h3)(h4)과 동일한 직경을 맞추기 위함이다.
제1,2,3,4레이저빔조사부(31)(32)(33)(34)는, 제1,2,3,4수광부(21)(22)(23)(24) 측으로 각각 제1,2,3,4레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)을 조사하는 것으로서, 제1,2,3,4레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)의 파장은 다르다. 따라서 제1,2,3,4레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)이 시편(S)을 투과하였을 때, 어떤 파장의 레이저빔이 투과율이 높은지를 비교할 수 있다. 이러한 비교 투과율이 표시부(70)에 함께 표시될 때, 어떤 파장의 레이저빔이 투과율이 높은지를 빠르고 용이하게 알 수 있는 것이다. 상기한 제1,2레이저빔의 파장값은, 예를 들면, 808nm, 880nm, 940nm, 980nm, 1670nm 등, 808nm ~ 1670nm의 파장대 범위내에서 선택한다. 상기한 제1,2,3,4레이저빔조사부(31)(32)(33)(34)는 반도체를 이용한 레이저다이오드나, 광화이버를 통하여 조사되는 화이버레이저등 다양한 형태로 구현될 수 있다.
제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44)는 제1,2,3,4레이저빔조사부(31)(32)(33)(34)를 지지하는 것으로서, 기하학적 형태의 시편(S)이 테이블(10) 상에서 움직일 수 있도록 공간을 제공하기 위하여 테이블(10)의 상부측에 위치된다.
한편 제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44)는 제1,2,3,4레이저빔조사부(31)(32)(33)(34)가 착탈되는 제1,2헤더몸체(41a)(42a)(43a)(44a)와, 제1,2,3,4헤더몸체(41a)(42a)(43a)(44a)에 분리 또는 결합되는 헤더덮개(41b)(42b)(43b)(44b)를 포함하고, 제1,2,3,4헤더몸체(41a)(42a)(43a)(44a)에는 제1,2,3,4레이저빔조사부(31)(32)(33)(34) 각각이 착탈 가능하게 결합되는 착탈결합공(41a')(42a')(43a')(44a')가 형성되어 있다. 이러한 구조에 의하여. 제1,2,3,4레이저빔조사부(31)(32)(33)(34)는 제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44)에 용이하게 교체될 수 있다.
제1,2,3,4지지부(51)(52)(53)(54)는 제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44)를 승강 가능하게 지지하고, 이에 따라 크기가 큰 시편(S)이 테이블(10) 상에 위치될 수 있는 공간이 만들어지도록 한다. 이를 가능하게 하는 제1,2,3,4지지부(51)(52)(53)(54)는 다양한 형태로 구현될 수 있는데, 예를 들면 제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44)의 후방측에 고정되는 제1,2,3,4상부지지부(51a)(52a)(53a)(54a)와, 테이블(10)에 고정된 것으로서 제1,2,3,4상부지지부(51a)(52a)(53a)(54a)에 슬라이딩 가능하게 결합되는 제1,2,3,4하부지지부(51b)(52b)(53b)(54b)를 포함한다. 또는 제1,2,3,4지지부는, 제1,2,3,4헤더에 형성된 슬라이딩 결합공(미도시)에 결합됨으로써, 제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44)를 승강시킬 수도 있다.
이와 같이, 제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44)의 후방측이 제1,2,3,4지지부(51)(52)(53)(54)에 연결되어 테이블(10)의 상부측에 위치되고, 제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44)의 전방측은 개방되므로 기하학적 형태의 시편(S)이 테이블(10)상에서 움직일 수 있는 공간을 제공하는 것이다.
제1,2,3,4빔마스크(61)(62)(63)(64)는 제1,2,3,4레이저빔조사부(31)(32)(33)(34)에서 조사되는 제1,2,3,4레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)의 직경을 가변한다.
기하학적 형태를 가진 시편(S)의 투과율은 그 시편(S)의 두께 및 경사면에 의하여 달라지지만, 또한 투과되는 레이저빔의 직경에 따라 달라진다. 따라서 특정 시편(S)의 투과율이 가장 높은 레이저빔의 직경을 알아내기 위하여, 제1,2,3,4빔마스크(61)(62)(63)(64)는 그들 통과하는 제1,2,3,4,레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)의 직경을 가변하는 것이다.
이를 가능하게 하기 위하여, 제1,2,3,4빔마스크(61)(62)(63)(64)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 직경이 다양한 홀(h1)(h2)(h3)(h4)들이 원주형태로 형성되는 제1,2,3,4디스크(61a)(62a)(63a)(64a)와, 홀(h1)(h2)(h3)(h4) 중 어느 하나가 제1,2,3,4레이저빔이 경유하는 위치에 배치되도록 제1,2,3,4디스크(61a)(62a)(63a)(64a)를 제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44)에 회전가능하게 지지하는 제1,2,3,4지지축(61b)(62b)(63b)(64b)을 포함한다. 이때 다수의 홀(h1)(h2)(h3)(h4)의 직경은 0.5mm ~ 2mm 범위인 것이 바람직하다.
시편(S)에 있어서 투과율을 측정하고자 하는 부분의 크기가 매우 작을 수 있다. 이 경우에도 제1,2,3,4빔마스크(61)(62)(63)(64)는 레이저빔의 직경을 매우 작게 함으로서, 매우 작은 시편의 투과율 측정도 가능한 것이다.
한편 제1,2,3,4빔마스크(61)(62)(63)(64)에는 홀(h1)(h2)(h3)(h4)의 직경을 표시하는 직경표시부(D)가 형성된다. 이에 따라 사용자는 특정 홀을 통과하는 레이저빔의 직경을 알 수 있다. 예를 들면, 홀(h1)(h2)(h3)(h4)의 직경이 0.5mm, 1mm, 1.5mm, 2mm 일 경우, 도 3에 도시된 바와 같이 각각의 홀에 대응되는 위치에 0.5, 1, 1.5, 2 란 숫자가 표시될 수 있을 것이다.
이와 같이, 제1,2,3,4레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)이 특정 홀을 통과하면서 직경이 가면되고, 특정 직경의 레이저빔의 투과율을 측정함으로써, 투과율이 가장 높은 최적의 레이저빔 직경을 알아낼 수 있는 것이다.
표시부(70)는 시편(S)을 투과한 제1,2,3,4레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)의 투과율을 표시한다. 이때 표시부(70)에는 제1,2,3,4레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)의 투과율이 함께 표시되어 어떤 파장이나 직경의 레이저빔의 투과율을 높은지를 비교 확인할 수 있다.
또한 표시부(70)는 정상작동 여부를 나타내는 점멸등, 전원 온/오프 표시등과 같은 LED 도 포함될 수 있다.
세팅부(80)는 온도나 습도환경에 따라 달라지는 투과율을 보정하기 위한 것이다. 온도나 습도환경이 달라질 경우, 시편(S)이 없을 경우 제1,2,3,4수광부(21)(22)(23)(24)로 입사되는 제1,2,3,4레이저빔 광량에 대한 기준값이 달라진다. 이 경우 세팅부(80)를 조작하여 기준값을 세팅할 수 있는 것이다. 이러한 세팅부(80)는 데이터를 입력할 수 있는 다수의 키스위치로 이루어져 있다. 또한 세팅부(80)는 전원키스위치, 시작키스위치, 준비키스위치, 측정키스위치 등을 포함할 수 있으며, 다양한 기능에 맞춰 세팅부(80)를 구성할 수 있을 것이다.
상기한 구조의 레이저빔 투과율 측정장치에 의하여, 테이블(10) 상에서 기하학적 형태를 가지는 시편(S)을 전후좌우로 움직여 특정 두께 및 경사면에서 투과율을 측정할 수 있다.
또한 제1,2,3,4레이저빔조사부(31)(32)(33)(34)를 교체함으로서, 어떤 파장대의 레이저빔이 상기 시편(S)에 대하여 투과율이 높은지를 확인할 수 있으며, 이에 따라 최적 파장대의 레이저빔이 무엇인지 알 수 있다.
또한 제1,2,3,4지지부(51)(52)(53)(54)는 제1,2,3,4헤더(41)(42)(43)(44)를 승강 가능하게 지지하므로, 크기가 큰 시편(S)도 테이블(10) 상에 위치시킬 수 있고, 이에 따라 투과율 측정을 용이하게 할 수 있다.
또한 제1,2,3,4빔마스크(61)(62)(63)(64)를 조작하여 조사되는 제1,2,3,4레이저빔(B1)(B2)(B3)(B4)의 직경을 다르게 가변함으로서, 어떤 직경의 레이저빔의 상기 시편(S)에 대하여 투과율이 높은지를 확인할 수 있으며, 이에 따라 레이저빔의 최적 직경이 얼마인지를 한번에 알 수 있다.
더 나아가, 제1레이저빔조사부(31)와 제1수광부(21)를 1채널로 하고, 제2레이저빔조사부(32)와 제2수광부(22)를 2채널로 하며, 제3레이저빔조사부(33)와 제3수광부(23)를 3채널로 하고, 제4레이저빔조사부(34)와 제4수광부(24)를 2채널로 하여, 4 종류의 시편 각각의 투과율도 알아낼 수 있다.
이와 같이 본 발명에 따르면, 기하학적 형태에 따라 다양한 두께 및 경사면을 가지는 융착대상물의 투과율을 용이하고 빠르게 측정할 수 있다. 따라서 특정 시편(S)에 대하여 투과율이 가장 높은 최적의 레이저빔 파장이 얼마인지, 최적의 레이저빔 직경이 얼마인지를 알아낼 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다.
10 ... 테이블
21, 22, 23, 24 ... 제1,2,3,4수광부
21, 22a, 23A, 24a ... 제1,2,3,4포토다이오드
21b, 22b, 23b, 24b ... 제1,2,3,4홀더
21c, 22c, 23c, 24c ... 제1,2,3,4착탈공
31, 32, 33, 34 ... 제1,2,3,4레이저빔조사부
41, 42, 43, 44 ... 제1,2,3,4헤더
41a, 42a, 43a, 44a ... 제1,2,3,4헤더몸체
41a', 41b' 41c', 41d' ... 제1,2,3,4착탈결합공
41b, 42b, 43b, 44b ... 제1,2,3,4헤더덮개
51, 52, 53, 54 ... 제1,2,3,4지지부
51a, 52a, 53a, 54a ... 제1,2,3,4상부지지부
51b, 52b, 53b, 54b ... 제1,2,3,4하부지지부
61, 62, 53, 64 ... 제1,2,3,4빔마스크
61a, 62a, 63a, 64a ... 제1,2,3,4디스크
61b, 62b, 63b, 64b ... 제1,2,3,4지지축
70 ... 표시부
80 ... 세팅부

Claims (7)

  1. 바닥에 다수의 수광부가 설치되는 테이블(10);
    상기 다수의 수광부를 향하는 레이저빔을 각각 조사하는 레이저빔조사부가 설치되는 다수의 헤더와;
    상기 다수의 수광부의 상부측에서 융착대상물의 시편(S)을 이동시킬 수 있는 공간을 제공하도록, 상기 다수의 헤더를 테이블(10)로부터 상부측에 위치고정하는 다수의 지지부;
    상기 테이블(10) 상에 설치된 것으로서, 상기 다수의 수광부로 조사되는 레이저빔이 상기 시편(S)을 투과할 때, 그 시편(S)의 투과율을 연산하는 연산부(미도시)에 의하여 연산된 투과율이 표시되는 표시부(70); 및
    상기 테이블(10) 상에 설치된 것으로서, 상기 시편(S)이 올려지지 않았을 때 상기 다수의 수광부에서 수광되는 레이저빔의 광량을 기준값으로 세팅하는 세팅부(80);를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저빔 투과율 측정장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 수광부는 테이블(10)의 바닥에 이격되게 설치되는 제1,2수광부(21)(22)를 포함하고;
    상기 다수의 레이저빔조사부는 상기 제1,2수광부(21)(22)로 제1,2레이저빔(B1)(B2)을 조사하는 제1,2레이저빔조사부(31)(32)를 포함하며;
    상기 다수의 헤더는 상기 제1,2레이저빔조사부(31)(32)가 각각 설치되는 제1,2헤더(41)(42)를 포함하고;
    상기 다수의 지지부는 상기 제1,2수광부(21)(22)의 상부측에서 시편(S)을 이동시킬 수 있는 공간을 제공하도록, 상기 제1,2헤더(41)(42) 각각을 상기 테이블(10)로부터 상부측에 위치고정하는 제1,2지지부(51)(52)를 포함하는 것;을 특징으로 하는 레이저빔 투과율 측정장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1,2지지부(51)(52)는 상기 제1,2헤더(41)(42)를 각각 승강 가능하게 지지하는 것을 특징으로 하는 레이저빔 투과율 측정장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 제1,2헤더(41)(42) 각각에 설치되어 상기 제1,2레이저빔(B1)(B2)의 직경을 가변시키기 위한 제1,2빔마스크(61)(62)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저빔 투과율 측정장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제1,2빔마스크(61)(62)는,
    직경이 다양한 홀(h1)(h2)(h3)(h4)들이 원주형태로 형성되는 제1,2디스크(61a)(62a)와, 상기 홀(h1)(h2)(h3)(h4) 중 어느 하나가 상기 제1,2레이저빔이 경유하는 위치에 배치되도록 상기 제1,2디스크(61a)(62a)를 상기 제1,2헤더(41)(42)에 회전가능하게 지지하는 제1,2지지축(61b)(62b)을 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저빔 투과율 측정장치.
  6. 제2항에 있어서, 상기 제1,2수광부(21)(22)는,
    제1,2포토다이오드(21a)(22a)가 각각 내장되는 것으로서 상부측에 상기 제1,2레이저빔(B1)(B2)이 통과하는 홀(h)이 형성된 제1,2홀더(21b)(22b)와, 상기 테이블(10)에 형성되어 상기 제1,2홀더(21b)(22b)가 착탈되는 제1,2착탈공(21c)(22c)을 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저빔 투과율 측정장치.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 제1,2빔마스크(61)(62)에는 상기 홀(h1)(h2)(h3)(h4)의 직경을 표시하는 직경표시부(D)가 형성된 것을 특징으로 하는 레이저빔 투과율 측정장치.
KR1020130027380A 2013-03-14 2013-03-14 레이저빔 투과율 측정장치 KR101303498B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130027380A KR101303498B1 (ko) 2013-03-14 2013-03-14 레이저빔 투과율 측정장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130027380A KR101303498B1 (ko) 2013-03-14 2013-03-14 레이저빔 투과율 측정장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101303498B1 true KR101303498B1 (ko) 2013-09-03

Family

ID=49454958

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130027380A KR101303498B1 (ko) 2013-03-14 2013-03-14 레이저빔 투과율 측정장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101303498B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102303448B1 (ko) * 2020-04-03 2021-09-24 (주)이브이레이저 레이저빔 투과율 측정장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0979978A (ja) * 1995-09-11 1997-03-28 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 菜果の非破壊式成分計測装置
JP2003075345A (ja) 2001-08-31 2003-03-12 Sony Corp 光量補正フィルタの透過率測定装置および透過率測定方法
KR20040039451A (ko) * 2002-03-29 2004-05-10 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 다점 측정장치 및 방법
JP2007233384A (ja) 2006-02-24 2007-09-13 Top Engineering Co Ltd ペーストパターン検査方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0979978A (ja) * 1995-09-11 1997-03-28 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 菜果の非破壊式成分計測装置
JP2003075345A (ja) 2001-08-31 2003-03-12 Sony Corp 光量補正フィルタの透過率測定装置および透過率測定方法
KR20040039451A (ko) * 2002-03-29 2004-05-10 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 다점 측정장치 및 방법
JP2007233384A (ja) 2006-02-24 2007-09-13 Top Engineering Co Ltd ペーストパターン検査方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102303448B1 (ko) * 2020-04-03 2021-09-24 (주)이브이레이저 레이저빔 투과율 측정장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102692393B (zh) 一种基于石墨烯偏振效应的折射率实时测定方法和装置
CN101965242A (zh) 利用超短脉冲激光的透明材料加工
JP2004136675A (ja) 合成樹脂より成る物品を３次元形態に接合する方法および装置
TW200538223A (en) Laser processing device
JP2010169496A5 (ko)
KR101303498B1 (ko) 레이저빔 투과율 측정장치
JP2013130856A5 (ko)
CN101823181A (zh) 一种快速标定激光焦点位置的方法及机构
CN103442809A (zh) 通过激光照射把材料转换成光学调制状态
TW201822290A (zh) 劃刻設備
JP2007206550A5 (ko)
CN108413995A (zh) 微纳米光纤efpi传感器f-p腔体制作装置及方法
WO2021004436A1 (zh) 双向散射分布函数光谱测量系统及测量装置
JP5120751B2 (ja) ボンディング装置
WO2010075144A3 (en) Controlling beam intensity in an ophthalmic fiber optic illumination system using rotatable plate arrays
JP2010230662A (ja) 成分測定装置
WO2008108174A1 (ja) 照明装置並びにそれを用いた欠陥検査装置及びその方法並びに高さ計測装置及びその方法
CN102030468A (zh) 激光切割装置及激光切割方法
JP2016155319A (ja) レーザ樹脂溶着方法及び装置
CN213688246U (zh) 一种基于通用bga植球球板快速对位检测装置
CN112762864B (zh) 一种基于通用bga植球球板快速对位检测装置及方法
CN211234920U (zh) 一种凸透镜后焦距检测装置
WO2010092726A1 (ja) 試料分析方法およびこれに用いられるマイクロ分析チップ
WO2009027440A3 (fr) Dispositif de mesure de la fonction de transfert de modulation d'instruments optiques de grande dimension
JP2010137352A (ja) 心取り加工方法および心取り加工装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160812

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180814

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190814

Year of fee payment: 7