JP2007207863A - レーザー加工方法およびレーザー加工装置 - Google Patents

レーザー加工方法およびレーザー加工装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007207863A
JP2007207863A JP2006022734A JP2006022734A JP2007207863A JP 2007207863 A JP2007207863 A JP 2007207863A JP 2006022734 A JP2006022734 A JP 2006022734A JP 2006022734 A JP2006022734 A JP 2006022734A JP 2007207863 A JP2007207863 A JP 2007207863A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chuck table
laser processing
laser beam
workpiece
protective tape
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006022734A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukio Morishige
幸雄 森重
Koichi Takeyama
晃一 竹山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2006022734A priority Critical patent/JP2007207863A/ja
Publication of JP2007207863A publication Critical patent/JP2007207863A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

【課題】ウエーハ等の被加工物が貼着された保護テープが溶融しても溶融した保護テープがチャックテーブルに付着することを防止できるレーザー加工方法およびレーザー加工装置を提供する。
【解決手段】被加工物を保持するチャックテーブルと、チャックテーブルに保持された被加工物にレーザー光線を照射するレーザー光線照射手段とを具備するレーザー加工装置を用い、被加工物を保護テープに貼着した状態で保護テープ側をチャックテーブルに載置し、レーザー光線照射手段から被加工物にレーサー光線を照射してレーザー加工を施すレーザー加工方法であって、チャックテーブルと保護テープとの間に湿潤部材を介在してレーザー加工を施す。
【選択図】図6

Description

本発明は、半導体ウエーハ等の被加工物にレーザー加工を施すレーザー加工方法およびレーザー加工装置に関する。
半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列されたストリートと呼ばれる分割予定ラインによって複数の領域が区画され、この区画された領域にIC、LSI等のデバイスを形成する。そして、半導体ウエーハをストリートに沿って切断することによりデバイスが形成された領域を分割して個々の半導体チップを製造している。また、サファイヤ基板の表面に窒化ガリウム系化合物半導体等が積層された光デバイスウエーハもストリートに沿って切断することにより個々の発光ダイオード、レーザーダイオード等の光デバイスに分割され、電気機器に広く利用されている。
上述した半導体ウエーハや光デバイスウエーハ等のウエーハをストリートに沿って分割する方法として、ウエーハに形成されたストリートに沿ってウエーハに対して吸収性を有する波長のパルスレーザー光線を照射することによりレーザー加工溝を形成し、このレーザー加工溝に沿って破断する方法が提案されている。(例えば、特許文献1参照。)
特開平10−305420号公報
半導体ウエーハ等のウエーハをレーザー加工する場合には、ウエーハの搬送等の取り扱いを容易にするために、ウエーハを環状のフレームに装着された保護テープの表面に貼着した状態でチャックテーブルに保持し、該チャックテーブルに保持されたウエーハのストリートに沿ってレーザー光線を照射する。しかるに、ウエーハにレーザー光線が照射されるとウエーハが発熱し、ウエーハが貼着されたポリオレフィンやポリエチレン等の合成樹脂によって形成されている保護テープが溶融してチャックテーブルに付着し、チャックテーブルを汚染したり損傷させるという問題がある。また、溶融した保護テープの一部がチャックテーブルに付着すると、加工後に保護テープに貼着されているウエーハをチャックテーブルから搬出する際に、搬出を阻害するという問題がある。
このような問題は、ウエーハに対して透過性を有する波長のパルスレーザー光線を照射し、ウエーハの内部に変質層を形成するレーザー加工方法においても発生する。
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術的課題は、ウエーハ等の被加工物が貼着された保護テープが溶融しても溶融した保護テープがチャックテーブルに付着することを防止できるレーザー加工方法およびレーザー加工装置を提供することである。
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物にレーザー光線を照射するレーザー光線照射手段とを具備するレーザー加工装置を用い、被加工物を保護テープに貼着した状態で該保護テープ側を該チャックテーブルに載置し、該レーザー光線照射手段から被加工物にレーサー光線を照射してレーザー加工を施すレーザー加工方法であって、
該チャックテーブルと該保護テープとの間に湿潤部材を介在してレーザー加工を施す、
ことを特徴とするレーザー加工方法が提供される。
上記湿潤部材は、吸水シートに水を浸透させて構成される。また、吸水シートは濾紙からなっていることが望ましい。
また、本発明によれば、被加工物を保持する保持面を有するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物にレーザー光線を照射するレーザー光線照射手段と、を具備するレーザー加工装置において、
該チャックテーブルの該保持面に水を供給する水供給手段と、該保持面に負圧を作用せしめる吸引手段を備えている、
ことを特徴とするレーザー加工装置が提供される。
本発明によれば、チャックテーブルと被加工物を支持する保護テープとの間に湿潤部材を介在してレーザー加工を施すので、保護テープが溶融しても湿潤部材によって遮断され、溶融した保護テープがチャックテーブルに付着することはない。
以下、本発明によるレーザー加工方法およびレーザー加工装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1には、本発明に従って構成されたレーザー加工装置の斜視図が示されている。図1に示すレーザー加工装置は、静止基台2と、該静止基台2に矢印Xで示す加工送り方向に移動可能に配設され被加工物を保持するチャックテーブル機構3と、静止基台2に上記矢印Xで示す方向と直角な矢印Yで示す割り出し方向に移動可能に配設されたレーザー光線照射ユニット支持機構6と、該レーザー光線ユニット支持機構6に矢印Zで示す焦点位置調整方向に移動可能に配設されたレーザー光線照射ユニット7とを具備している。
上記チャックテーブル機構3は、静止基台2上に矢印Xで示す方向に沿って平行に配設された一対の案内レール31、31と、該案内レール31、31上に矢印Xで示す方向に移動可能に配設された第一の滑動ブロック32と、該第1の滑動ブロック32上に矢印Yで示す方向に移動可能に配設された第2の滑動ブロック33と、該第2の滑動ブロック33上に円筒部材34によって支持されたカバーテーブル35と、被加工物保持手段としてのチャックテーブル4を具備している。
上記第1の滑動ブロック32は、その下面に上記一対の案内レール31、31と嵌合する一対の被案内溝321、321が設けられているとともに、その上面に矢印Yで示す方向に沿って平行に形成された一対の案内レール322、322が設けられている。このように構成された第1の滑動ブロック32は、被案内溝321、321が一対の案内レール31、31に嵌合することにより、一対の案内レール31、31に沿って矢印Xで示す方向に移動可能に構成される。図示の実施形態におけるチャックテーブル機構3は、第1の滑動ブロック32を一対の案内レール31、31に沿って矢印Xで示す方向に移動させるための加工送り手段37を具備している。加工送り手段37は、上記一対の案内レール31と31の間に平行に配設された雄ネジロッド371と、該雄ネジロッド371を回転駆動するためのパルスモータ372等の駆動源を含んでいる。雄ネジロッド371は、その一端が上記静止基台2に固定された軸受ブロック373に回転自在に支持されており、その他端が上記パルスモータ372の出力軸に図示しない減速装置を介して伝動連結されている。なお、雄ネジロッド371は、第1の滑動ブロック32の中央部下面に突出して設けられた図示しない雌ネジブロックに形成された貫通雌ネジ穴に螺合されている。従って、パルスモータ372によって雄ネジロッド371を正転および逆転駆動することにより、第一の滑動ブロック32は案内レール31、31に沿って矢印Xで示す加工送り方向に移動せしめられる。
上記第2の滑動ブロック33は、その下面に上記第1の滑動ブロック32の上面に設けられた一対の案内レール322、322と嵌合する一対の被案内溝331、331が設けられており、この被案内溝331、331を一対の案内レール322、322に嵌合することにより、矢印Yで示す方向に移動可能に構成される。図示の実施形態におけるチャックテーブル機構3は、第2の滑動ブロック33を第1の滑動ブロック32に設けられた一対の案内レール322、322に沿って矢印Yで示す方向に移動させるための第1の割り出し送り手段38を具備している。第1の割り出し送り手段38は、上記一対の案内レール322と322の間に平行に配設された雄ネジロッド381と、該雄ネジロッド381を回転駆動するためのパルスモータ382等の駆動源を含んでいる。雄ネジロッド381は、その一端が上記第1の滑動ブロック32の上面に固定された軸受ブロック383に回転自在に支持されており、その他端が上記パルスモータ382の出力軸に図示しない減速装置を介して伝動連結されている。なお、雄ネジロッド381は、第2の滑動ブロック33の中央部下面に突出して設けられた図示しない雌ネジブロックに形成された貫通雌ネジ穴に螺合されている。従って、パルスモータ382によって雄ネジロッド381を正転および逆転駆動することにより、第2の滑動ブロック33は案内レール322、322に沿って矢印Yで示す割り出し送り方向に移動せしめられる。
次に、上記チャックテーブル4について、図2および図3を参照して説明する。
図2および図3に示すチャックテーブル4は、図2に示すようにステンレス鋼等の金属材によって形成された円柱状の本体41と、該本体41の上部に設けられた円形状の吸着チャック部42とからなっており、円柱状の本体41が上記第2の滑動ブロック33の上面に配設された円筒状の支持筒体34に軸受340を介して回転可能に支持されている。吸着チャック部42の上面である被加工物を保持する保持面42aには、図3に示すように円弧状の水供給溝431と円弧状の吸引溝441が対向して形成されている。円弧状の水供給溝431と円弧状の吸引溝441は、図示の実施形態においては幅が1mm、深さが1mmに設定されている。また、吸着チャック部42の保持面42aには、円弧状の水供給溝431とそれぞれ連通する複数の直線状の水供給細溝432と、円弧状の吸引溝441とそれぞれ連通する複数の直線状の吸引細溝442とが交互に形成されている。この直線状の水供給細溝432と直線状の水供給細溝432は、図示の実施形態においては幅が100μm、深さが100μm、溝間隔が150μmに設定されている。
上記円弧状の水供給溝431の底壁には複数(図示の実施形態においては5個)の水供給穴433がそれぞれ略等間隔で形成されており、この複数の水供給穴433は、それぞれ複数の連通路434および本体41に形成された水供給通路435を介して水供給源436に連通されている。この水供給源436から供給された水は、水供給通路435、複数の連通路434、複数の水供給穴433、円弧状の水供給溝431、複数の直線状の水供給細溝432を介して保持面42aに供給される。従って、水供給源436、水供給通路435、連通路434、水供給穴433、水供給溝431、水供給細溝432は、チャックテーブル4の保持面42aに供給する水供給手段43を構成する。
上記円弧状の吸引溝441の底壁には複数(図示の実施形態においては5個)の吸引穴443がそれぞれ略等間隔で形成されており、この複数の吸引穴443は、それぞれ複数の連通路444および本体41に形成された吸引通路445を介して吸引源446に連通されている。この吸引源446が作動すると、吸引通路445、複数の連通路444、複数の吸引穴443、円弧状の吸引溝441、複数の直線状の吸引細溝442を介して保持面42aに負圧が作用せしめられる。従って、吸引源446、吸引通路445、連通路444、吸引穴443、吸引溝441、吸引細溝442は、チャックテーブル4の保持面42aに負圧を作用せしめる吸引手段44を構成する。
図2を参照して説明を続けると、上記チャックテーブル4を構成する吸着チャック部42には、環状の溝421が形成されている。この環状の溝421内には4個のクランプ45の基部が配設され、このクランプ45、45の基部が本体41に適宜の固定手段によって取付けられている。また、支持筒体34の上端には、カバーテーブル35が配設されている。このように構成されたチャックテーブル4の本体41の下端は、円筒部材34内に配設された図示しないパルスモータに連結され、パルスモータによって適宜回転せしめられる。
図1に戻って説明を続けると、上記レーザー光線照射ユニット支持機構6は、静止基台2上に矢印Yで示す方向に沿って平行に配設された一対の案内レール61、61と、該案内レール61、61上に矢印Yで示す方向に移動可能に配設された可動支持基台62を具備している。この可動支持基台62は、案内レール61、61上に移動可能に配設された移動支持部621と、該移動支持部621に取り付けられた装着部622とからなっている。装着部622は、一側面に矢印Zで示す方向に延びる一対の案内レール623、623が平行に設けられている。図示の実施形態におけるレーザー光線照射ユニット支持機構6は、可動支持基台62を一対の案内レール61、61に沿って矢印Yで示す方向に移動させるための第2の割り出し送り手段63を具備している。第2の割り出し送り手段63は、上記一対の案内レール61、61の間に平行に配設された雄ネジロッド631と、該雄ねじロッド631を回転駆動するためのパルスモータ632等の駆動源を含んでいる。雄ネジロッド631は、その一端が上記静止基台2に固定された図示しない軸受ブロックに回転自在に支持されており、その他端が上記パルスモータ632の出力軸に図示しない減速装置を介して伝動連結されている。なお、雄ネジロッド631は、可動支持基台62を構成する移動支持部621の中央部下面に突出して設けられた図示しない雌ネジブロックに形成された雌ネジ穴に螺合されている。このため、パルスモータ632によって雄ネジロッド631を正転および逆転駆動することにより、可動支持基台62は案内レール61、61に沿って矢印Yで示す割り出し送り方向に移動せしめられる。
図示の実施形態におけるレーザー光線照射ユニット7は、ユニットホルダ71と、該ユニットホルダ71に取り付けられたレーザー光線照射手段72を具備している。ユニットホルダ71は、上記装着部622に設けられた一対の案内レール623、623に摺動可能に嵌合する一対の被案内溝711、711が設けられており、この被案内溝711、711を上記案内レール623、623に嵌合することにより、矢印Zで示す方向に移動可能に支持される。
図示のレーザー光線照射手段72は、上記ユニットホルダ71に固定され実質上水平に延出する円筒形状のケーシング721を含んでいる。ケーシング721内には、YAGレーザー発振器或いはYVO4レーザー発振器からなるパルスレーザー光線発振器および繰り返し周波数設定手段等を備えたパルスレーザー光線発振手段が配設されている。上記ケーシング721の先端部には、上記パルスレーザー光線発振手段から発振されたレーザー光線を集光する集光器73が装着されている。
上記レーザー光線照射手段72を構成するケーシング721の前端部には、上記レーザー光線照射手段72によってレーザー加工すべき加工領域を検出する撮像手段8が配設されている。この撮像手段8は、被加工物を照明する照明手段と、該照明手段によって照明された領域を捕らえる光学系と、該光学系によって捕らえられた像を撮像する撮像素子(CCD)等を備え、撮像した画像信号を図示しない制御手段に送る。
図示の実施形態におけるレーザー光線照射ユニット7は、ユニットホルダ71を一対の案内レール623、623に沿って矢印Zで示す方向に移動させるための移動手段74を具備している。移動手段74は、一対の案内レール623、623の間に配設された雄ネジロッド(図示せず)と、該雄ネジロッドを回転駆動するためのパルスモータ742等の駆動源を含んでおり、パルスモータ742によって図示しない雄ネジロッドを正転または逆転駆動することにより、ユニットホルダ71およびレーザー光線照射手段72を一対の案内レール623、623に沿って矢印Zで示す方向に移動せしめる。なお、図示の実施形態においては、パルスモータ742を正転駆動することによりレーザー光線照射手段72を上方に移動し、パルスモータ742を逆転駆動することによりレーザー光線照射手段72を下方に移動するようになっている。
図示の実施形態におけるレーザー加工装置は以上のように構成されており、以下その作用について説明する。
ここで、上記レーザー加工装置によってレーザー加工が施される被加工物としての光デバイスについて、図4を参照して説明する。図4に示す光デバイスウエーハ10は、例えば厚さが80μmのGaAs基板からなり、その表面10aには複数の光デバイス101がマトリックス状に形成されている。そして、各光デバイス101は、格子状に形成されたストリート102によって区画されている。この光デバイスウエーハ10は、環状のフレーム11に装着された保護テープ12に加工面である表面10aを上側にして裏面が貼着される。なお、光デバイスウエーハ10に裏面から加工する場合には、光デバイスウエーハ10の表面10aを保護テープ12に貼着する。この保護テープ12は、例えば厚さが70μmのポリオレフィンやポリエチレン等の合成樹脂シートの表面にアクリル系樹脂粘着材が厚さ5μm程度敷設されたテープが用いられている。
上述した光デバイスウエーハ10のストリート102に沿ってレーザー光線を照射し、ストリート102に沿ってレーザー加工溝を形成するには、環状のフレーム11に装着された保護テープ12の表面に貼着された光デバイスウエーハ10を、図1に示す被加工物搬入搬出位置に位置付けられているチャックテーブル4の吸着チャック部42上に載置する。このとき、湿潤部材となる図5に示す円形状の濾紙からなる吸水シート13を、チャックテーブル4の吸着チャック部42の保持面42aと保護テープ12との間に介在せしめる。従って、光デバイスウエーハ10は、図6に示すようにチャックテーブル4の吸着チャック部42上に吸水シート13および保護テープ12を介して載置される。
光デバイスウエーハ10をチャックテーブル4の吸着チャック部42上に吸水シート13および保護テープ12を介して載置したならば、水供給手段43を作動してチャックテーブル4の吸着チャック部42の保持面42aに水を供給する。なお、水供給手段43による水の供給量は、毎分10cc(10cc/分)程度でよい。この結果、10〜20秒程度で保持面42aと保護テープ12との間に介在された吸水シート13に水が浸透し、吸水シートとチャックテーブル4の吸着チャック部42および保護テープ12が表面張力により一体化される。水供給手段43による水の供給を開始してから10〜20秒程度経過したならば、吸引手段44を作動してチャックテーブル4の吸着チャック部42の保持面42aに負圧を作用せしめる。この結果、水供給手段43によって供給された水のうち余分な水が吸引され、吸水シート13の吸水状態が供給水量と吸引量とがバランスした状態に安定する。この結果、チャックテーブル4の吸着チャック部42上に吸水シート13および保護テープ12を介して載置され光デバイスウエーハ10が所定の高さ位置となる。そして、光デバイスウエーハ10は、吸水シート13および保護テープ12を介してチャックテーブル4の吸着チャック部42上に吸引保持される。吸引手段44を作動してから5秒程度経過したらならば、保護テープ12が装着された環状のフレーム11をクランプ45によって固定する。
上述したように光デバイスウエーハ10を吸引保持したチャックテーブル4は、加工送り手段37によって撮像手段8の直下に位置付けられる。チャックテーブル4が撮像手段8の直下に位置付けられると、撮像手段8および図示しない制御手段によって光デバイスウエーハ10のレーザー加工すべき加工領域を検出するアライメント作業を実行する。即ち、撮像手段8および図示しない制御手段は、光デバイスウエーハ10の所定方向に形成されているストリート102と、ストリート102に沿ってレーザー光線を照射するレーザー光線照射手段72の集光器73との位置合わせを行うためのパターンマッチング等の画像処理を実行し、レーザー光線照射位置のアライメントを遂行する。また、光デバイスウエーハ10に形成されている上記所定方向に対して直角に延びるストリート102に対しても、同様にレーザー光線照射位置のアライメントが遂行される。
上述したようにチャックテーブル4上に保持された光デバイスウエーハ10に形成されているストリート102を検出し、レーザー光線照射位置のアライメントが行われたならば、チャックテーブル4を移動して図6の(a)で示すように所定の分割予定ライン102の一端(図6の(a)において左端)を集光器73の直下に位置付ける。そして、集光器73からGaAs基板に対して吸収性を有する例えば355nmの波長のパルスレーザー光線を照射しつつチャックテーブル4を図6の(a)において矢印X1で示す方向に所定の加工送り速度で移動せしめる。そして、図6の(b)で示すように集光器73の照射位置がストリート102の他端の位置に達したら、パルスレーザー光線の照射を停止するとともにチャックテーブル4の移動を停止する。この結果、図6の(b)で示すようにストリート102に沿ってレーザー加工溝110が形成される(レーザー光線照射工程)。このレーザー光線照射工程においては、パルスレーザー光線の集光点Pを光デバイスウエーハ10の表面10a(上面)付近に合わせる。
なお、上記レーザー光線照射工程における加工条件は、図示の実施形態においては次のように設定されている。
光源 :LD励起QスイッチNd:YVO4スレーザー
波長 :355nmのパルスレーザー
繰り返し周波数 :10kHz
平均出力 :6W
集光スポット径 :φ15μm
加工送り速度 :200mm/秒
上述したレーザー光線照射工程においては、光デバイスウエーハ10にパルスレーザー光線が照射されると、光デバイスウエーハ10が発熱する。光デバイスウエーハ10が発熱すると、光デバイスウエーハ10が貼着されている保護テープ12はポリオレフィンやポリエチレン等の合成樹脂によって形成されているので溶融せしめられる。しかるに、図示の実施形態においては、上述したようにチャックテーブル4の吸着チャック部42の保持面42aと保護テープ12との間に吸水シート13が介在されているので、保護テープ12が溶融しても吸水されている吸水シート13によって遮断され、チャックテーブル4の保持面42aに溶融した保護テープ12が付着することはない。また、図示の実施形態においては、吸水シート13が吸水した状態に維持されるので、チャックテーブル4は加熱から保護される。
上述したように所定のストリート102に沿ってレーザー光線照射工程を実施したならば、チャックテーブル4を図1において矢印Yで示す方向にストリート102の間隔だけ割り出し送りし(割り出し工程)、上記レーザー光線照射工程を実施する。このようにして光デバイスウエーハ10の所定方向に延在する全てのストリート102についてレーザー光線照射工程と割り出し工程を遂行したならば、チャックテーブル4を90度回動し該チャックテーブル4に保持されている光デバイスウエーハ10を90度回動せしめて、上記所定方向に対して直角に延びる各ストリート102に沿って上記レーザー光線照射工程と割り出し工程を実行することにより、光デバイスウエーハ10の全てのストリート102に沿ってレーザー加工溝110を形成することができる。
以上のようにして、光デバイスウエーハ10の全てのストリート102に沿ってレーザー加工溝110を形成したならば、チャックテーブル4を図1に示す被加工物搬入搬出位置に戻す。そして、水供給手段43の作動を停止し水の供給を停止する。この結果、吸水シート13に吸水されている水が蒸発され、半乾燥状態となる。従って、上述した表面張力が殆ど働かない状態となる。水供給手段43の作動を停止してから10〜20秒経過したら、吸引手段44の作動を停止し、光デバイスウエーハ10の吸引保持を解除する。次に、クランプ45による環状のフレーム11の固定を解除することにより、光デバイスウエーハ10は保護テープ12を介して環状のフレーム11に保持された状態で次工程である分割工程に搬送される。分割工程においては、光デバイスウエーハ10に形成されたレーザー加工溝110に沿って外力を付与することによって、光デバイスウエーハ10を個々の光デバイスに分割する。このようにして、個々の光デバイスに分割された光デバイスウエーハ10は、保護テープ12を介して環状のフレーム11に保持された状態で次工程であるピックアップ工程に搬送される。
なお、上述したように1枚のウエーハに対してレーザー加工を実施したならば、次のウエーハをレーザー加工する際に吸水シート13を交換することが望ましい。
以上、本発明を図示の実施形態に基いて説明したが、本発明は実施形態のみに限定されるものではなく、本発明の趣旨の範囲で種々の変形は可能である。例えば、図示の実施形態においてはチャックテーブルの保持面に水供給溝を設け、この水供給溝を通して保持面上に載置された吸水シートに水を供給するようにした例を示したが、通常用いられているチャックテーブルを使用する場合には予め吸水させた吸水シートを湿潤部材としてチャックテーブル上に載置する。また、図示の実施形態においては吸水シートとして濾紙を用いた例を示したが、吸水シートは布等の他の吸水部材を用いることができる。更に、吸水シートを被加工物を支持する保護テープの裏面に予め貼着してもよい。また、図示の実施形態においては、GaAs基板からなる光デバイスウエーハを加工する例を示したが、被加工物としては表面にIC、LSI等のデバイスが形成されたシリコンウエーハであってもよい。
本発明に従って構成されたレーザー加工装置の斜視図。 図1に示すレーザー加工装置に装備されるチャックテーブルの断面図。 図2に示すチャックテーブルの要部平面図。 被加工物としての光デバイスウエーハを環状のフレームに装着された保護テープに貼着した状態を示す斜視図。 本発明によるレーザー加工方法に用いる吸水シートの斜視図。 図1に示すレーザー加工装置によって実施する本発明によるレーザー加工方法におけるレーザー光線照射工程の説明図。
符号の説明
2:静止基台
3:チャックテーブル機構
31、31:一対の案内レール
32:第一の滑動ブロック
33:第2の滑動ブロック
37:加工送り手段
38:第1の割り出し送り手段
4:チャックテーブル
41:チャックテーブルの本体
42:吸着チャック部
43:水供給手段
44:吸引手段
6:レーザー光線照射ユニット支持機構
61、61:一対の案内レール
62:可動支持基台
63:第2の割り出し送り手段
7:レーザー光線照射ユニット
71:ユニットホルダ
72:レーザー光線照射手段
73:集光器
8:撮像手段
10:光デバイスウエーハ
11:環状のフレーム
12:保護テープ

Claims (4)

  1. 被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物にレーザー光線を照射するレーザー光線照射手段とを具備するレーザー加工装置を用い、被加工物を保護テープに貼着した状態で該保護テープ側を該チャックテーブルに載置し、該レーザー光線照射手段から被加工物にレーサー光線を照射してレーザー加工を施すレーザー加工方法であって、
    該チャックテーブルと該保護テープとの間に湿潤部材を介在してレーザー加工を施す、
    ことを特徴とするレーザー加工方法。
  2. 該湿潤部材は、吸水シートに水を浸透させて構成される、請求項1記載のレーザー加工方法。
  3. 該吸水シートは,濾紙からなっている、請求項2記載のレーザー加工方法。
  4. 被加工物を保持する保持面を有するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物にレーザー光線を照射するレーザー光線照射手段と、を具備するレーザー加工装置において、
    該チャックテーブルの該保持面に水を供給する水供給手段と、該保持面に負圧を作用せしめる吸引手段を備えている、
    ことを特徴とするレーザー加工装置。
JP2006022734A 2006-01-31 2006-01-31 レーザー加工方法およびレーザー加工装置 Pending JP2007207863A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006022734A JP2007207863A (ja) 2006-01-31 2006-01-31 レーザー加工方法およびレーザー加工装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006022734A JP2007207863A (ja) 2006-01-31 2006-01-31 レーザー加工方法およびレーザー加工装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007207863A true JP2007207863A (ja) 2007-08-16

Family

ID=38487077

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006022734A Pending JP2007207863A (ja) 2006-01-31 2006-01-31 レーザー加工方法およびレーザー加工装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007207863A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010099716A (ja) * 2008-10-24 2010-05-06 Disco Abrasive Syst Ltd チャックテーブルの付着物除去方法およびレーザー加工装置
JP2010105010A (ja) * 2008-10-29 2010-05-13 Disco Abrasive Syst Ltd チャックテーブルの付着物除去方法
JP2012124199A (ja) * 2010-12-06 2012-06-28 Disco Abrasive Syst Ltd 板状物の加工方法
JP2012152763A (ja) * 2011-01-24 2012-08-16 Disco Corp レーザー加工方法およびレーザー加工装置
JP5580049B2 (ja) * 2007-10-16 2014-08-27 三星ダイヤモンド工業株式会社 脆性材料基板のu字状溝加工方法およびこれを用いた除去加工方法およびくり抜き加工方法および面取り方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04200889A (ja) * 1990-11-29 1992-07-21 Mitsubishi Heavy Ind Ltd レーザ切断方法
JPH1190667A (ja) * 1997-09-25 1999-04-06 Murata Mfg Co Ltd レーザ加工用シート保持装置
JP3194891B2 (ja) * 1997-06-30 2001-08-06 有限会社トライアングル レーザ裁断機のコンベヤ装置
JP2005203541A (ja) * 2004-01-15 2005-07-28 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハのレーザー加工方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04200889A (ja) * 1990-11-29 1992-07-21 Mitsubishi Heavy Ind Ltd レーザ切断方法
JP3194891B2 (ja) * 1997-06-30 2001-08-06 有限会社トライアングル レーザ裁断機のコンベヤ装置
JPH1190667A (ja) * 1997-09-25 1999-04-06 Murata Mfg Co Ltd レーザ加工用シート保持装置
JP2005203541A (ja) * 2004-01-15 2005-07-28 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハのレーザー加工方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5580049B2 (ja) * 2007-10-16 2014-08-27 三星ダイヤモンド工業株式会社 脆性材料基板のu字状溝加工方法およびこれを用いた除去加工方法およびくり抜き加工方法および面取り方法
JP2010099716A (ja) * 2008-10-24 2010-05-06 Disco Abrasive Syst Ltd チャックテーブルの付着物除去方法およびレーザー加工装置
JP2010105010A (ja) * 2008-10-29 2010-05-13 Disco Abrasive Syst Ltd チャックテーブルの付着物除去方法
JP2012124199A (ja) * 2010-12-06 2012-06-28 Disco Abrasive Syst Ltd 板状物の加工方法
JP2012152763A (ja) * 2011-01-24 2012-08-16 Disco Corp レーザー加工方法およびレーザー加工装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5436917B2 (ja) レーザー加工装置
JP4342992B2 (ja) レーザー加工装置のチャックテーブル
JP4630692B2 (ja) レーザー加工方法
JP4684687B2 (ja) ウエーハのレーザー加工方法および加工装置
JP2005203541A (ja) ウエーハのレーザー加工方法
US10276413B2 (en) Laser processing apparatus
JP2007329166A (ja) ウエーハの分割方法
JP4447392B2 (ja) ウエーハの分割方法および分割装置
JP2006289388A (ja) レーザー加工装置
JP2006205187A (ja) レーザー加工装置
JP2007207863A (ja) レーザー加工方法およびレーザー加工装置
JP4439990B2 (ja) レーザー加工方法
JP5495869B2 (ja) レーザー加工溝の確認方法
JP4796382B2 (ja) 加工装置のチャックテーブル
JP2016036818A (ja) レーザー加工装置
JP5331440B2 (ja) レーザー加工装置のチャックテーブルの付着物除去方法
JP2006263795A (ja) レーザ加工装置
JP2006294674A (ja) ウエーハのレーザー加工方法およびレーザー加工装置
JP2005251882A (ja) レーザー加工装置
JP2007059802A (ja) ウエーハの加工方法およびウエーハの加工方法に用いる粘着テープ
JP2006134971A (ja) ウエーハのレーザー加工方法
JP2006205202A (ja) レーザー加工装置
JP2008227276A (ja) ウエーハの分割方法
JP2007149820A (ja) ウエーハのレーザー加工方法
JP2005088053A (ja) レーザー加工装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081202

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100726

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110405

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110603

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110628

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120710