JP2007188873A - 非水電解液二次電池 - Google Patents

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Abstract

【課題】放電容量が高く、初期及びサイクル中の充放電効率が高く、サイクル特性に優れ、サイクル後の電極膨張が抑制された高性能の非水電解液二次電池を提供する。
【解決手段】負極は、一般式SiZ(式中Z、M、x、yは下記条件(1)〜(4)の通り)で表される、Si中に元素Zが非平衡的に存在した相の化合物を主成分とする負極材を有し、且つ、非水電解液は、フッ素を含有するエステル化合物を含む。(1)元素Zは、C及び/又はNよりなる元素である。(2)元素Mは、Siと元素Z以外の元素から選ばれる元素の1種又は2種以上である。(3)xは、Siに最も近い組成で平衡的に存在する化合物Si(式中a、pは整数)のZ濃度(p/(a+p))に対して、式Q(Z)=[x/(1+x)]/[p/(a+p)]で算出されるZ濃度比Q(Z)が0.10〜0.95となる値である。(4)yは、0≦y≦0.50の範囲の数である。
【選択図】図1

Description

本発明は、リチウムイオンを吸蔵・放出可能な正極及び負極、並びに非水溶媒にリチウム塩が溶解された非水電解液を備える非水電解液二次電池に関する。
詳しくは、本発明は、放電容量が高く、初期及びサイクル中の充放電効率が高く、サイクル特性に優れ、サイクル後の電極膨張が抑制された非水電解液二次電池に関する。
近年、電子機器の小型化に伴い、高容量の二次電池が必要になってきている。特に、ニッケル・カドミウム、ニッケル・水素電池に比べ、よりエネルギー密度の高い非水溶媒系リチウム二次電池が注目されてきている。リチウム二次電池の高容量化についても、従来、広く検討されていたが、近年、電池に要求される性能も高度化してきており、更なる高容量化が必要とされている。
従来、リチウム二次電池用非水電解液の非水溶媒として、エチレンカーボネートを用いた場合、電解液の分解が少なくなると共に、その一部の分解により生成した分解生成物が、黒鉛負極の表面に比較的良好な保護被膜を生成することが知られており、このため、非水溶媒にエチレンカーボネートを主として使用することが行なわれていた。しかしながら、このように非水溶媒の主成分としてエチレンカーボネートを使用した場合においても、充放電を繰り返して行なうと、次第にこの非水溶媒が反応して分解し、電池の保存特性やサイクル特性を低下することがあった。
そこで、近年においては、非水電解液に、例えばビニレンカーボネート等の保護被膜形成剤を少量添加し、初期の充放電時に、炭素系材料を用いた負極の表面に良好な保護被膜を形成させて、非水電解液二次電池の保存特性やサイクル特性を向上させることが提案されている。
一方、リチウム二次電池の負極材料としては、これまで黒鉛などが検討されている。黒鉛はサイクル特性に優れ、電極膨張が小さく、且つ、安価であるために使用されてきた。しかしながら、黒鉛からなる負極材料は理論容量が372mAh/gという限界があり、更なる高容量化は期待出来ない。
そこで、近年は黒鉛負極の代わりに理論容量が大きなリチウムと合金を形成するSi、Sn、Al等の合金系負極の検討がなされている。特にSiは容量が高く、負極としての適用が数多く試みられている。しかしながら、Si系負極はリチウムとの反応時に体積膨張が大きく、Siが微粉化したり、集電体から剥離しやすく、且つ、電解液との反応性が高く、サイクル特性が悪いという欠点がある。
このため、合金系負極の高容量を活かしつつ、電解液との反応性が抑制された、サイクル特性に優れた、電極膨張の小さいリチウム二次電池の実現が求められている。
こうした中で、特許文献1には、炭素質材料の負極と、フルオロエチレンカーボネートを含む電解液とを組み合わせることで、負極と電解液との反応を抑制し、初期の不可逆容量を低下させたリチウム二次電池を得ることが記載されている。
また、特許文献2には、炭素、黒鉛、又はリチウムと合金を形成可能な金属や半金属元素の負極と、エチレンカーボネート、ビニレンカーボネート、ビニルエチレンカーボネート、モノフルオロエチレンカーボネート、及びエチレンサルファイトのうちの少なくとも1種を合計60質量%以上含有した電解液とを組み合わせることで、サイクル特性を改善させたリチウム二次電池を得ることが記載されている。
また、特許文献3には、微結晶又は非晶質シリコン薄膜に、C,O,N,Ar,Fから選ばれる少なくとも1種を不純物として添加した負極と、エチレンカーボネート等の電解液とを組み合わせることで、サイクル特性に優れたリチウム二次電池を得ることが記載されている。
特表2001−501355号公報 特開2004−63432号公報 特開2005−235397号公報
近年の電池に対する更なる高容量化の必要性の増大に伴い、高容量であるSi系負極材の活用が望まれているが、Si系負極材では以下のような課題がある。
(1) 電解液との反応に伴う不可逆容量が増加し、正極活物質中のリチウムを消費し、結果として電池容量が低下する。
(2) リチウムの挿入・脱離による膨張・収縮に伴うSi微粉化や集電体からの剥離が生じ、サイクル特性が悪化する。
(3) サイクル中に電解液との反応により、充放電可能な活物質量が減少し、サイクル特性が悪化する。
(4) サイクル中にリチウムの挿入による電極膨張が蓄積し、電池体積の増加、つまり体積当たりの電池容量の低下を招く。
従って、リチウム二次電池の更なる高容量化においては、Si系負極材を用いることによる高容量化だけでなく、電解液との反応を抑制し、初期及びサイクル中の充放電効率の向上、サイクル特性の向上、サイクル後の電極膨張の増加を抑制することが強く求められている。
このような状況において、前述の特許文献1〜3では、それぞれ次のような課題があった。
即ち、特許文献1では、炭素質材料を用いた負極と、フルオロエチレンカーボネートを含む電解液とを組み合わせることにより、負極と電解液との反応を抑制しているが、負極材として炭素質材料を用いているので放電容量が低く、更なる高容量化は難しい。
特許文献2においては、リチウムと合金を形成可能な金属や半金属元素を用いた負極と、モノフルオロエチレンカーボネート等を60質量%以上含む電解液とを組み合わせることにより、電池のサイクル特性を改善すると記載されているが、実施例には、負極材として難黒鉛化性炭素や黒鉛を用いたもののみが記載され、リチウムと合金を形成可能な金属や半金属元素を用いる場合の具体的な実施例の記載は無く、効果の詳細については不明である。また、詳細な説明中において、前記負極にSi等の金属やSiC、Si等の平衡化合物を用いることが記載されているが、Si等の金属単体では、前記電解液と組み合わせても電解液との反応性を抑制できず、サイクル特性が悪く、また、SiC等の平衡化合物は抵抗が高く放電容量が小さい問題がある。
また、特許文献3のように、Si薄膜にC,O,N,Ar,Fの内の少なくとも1種の不純物を添加した負極と、エチレンカーボネート等の電解液とを組み合わせた電池とすることで、黒鉛よりも放電容量が高く、Si薄膜よりもサイクル特性は改善できるが、不純物にC,Nを用いても、ドープ量が2〜3原子%以下と、後述する本発明の添加量に比べ少なく、且つ、電解液の非水溶媒がエチレンカーボネート等であるために、Siの充放電に伴う電極膨張の蓄積や電解液との反応性を抑制し難く、サイクル特性を更に改善するには不十分である。
本発明は上記の課題に鑑みて創案されたものである。
即ち、本発明は、放電容量が高く、初期及びサイクル中の充放電効率が高く、サイクル特性に優れ、サイクル後の電極膨張が抑制された非水電解液二次電池用を提供することを目的とする。
本発明者らは、Siを含む負極について鋭意検討した結果、サイクル中に負極中のSiと電解液とが反応することで劣化が進行することが明らかとなり、負極材として、電解液との反応性に富むSiに、
(i) C及び/又はNよりなる元素Zを、
(ii) 非平衡的に特定範囲の濃度で、
存在させると、Siに最も近い組成で平衡的に存在する化合物Si(式中a,pは整数)等の形成がほとんど無いか、又は、形成されても非常に少ないものとなり、後述するSiの活量を効果的に低下させることができ、且つ、このような負極材に対して、電解液として、
(iii) フッ素を含有するエステル化合物を含む電解液
と組み合わせることにより、詳細な理由は不明であるが、電解液との反応性を著しく抑制することができ、放電容量が高く、初期及びサイクル中の充放電効率が高く、サイクル特性に優れ、サイクル後の電極膨張が抑制された高性能の非水電解液二次電池を安定して効率的に実現し得ることを見出し、本発明を完成させた。
ここで、活量について説明する。
一般に、活量とは、一種の熱力学濃度である。物質量n、n、、、、、からなる多成分系について、成分iの化学ポテンシャルをμ、純物質の化学ポテンシャルをμ とすると、
μ−μ =RTlog a
で定義されるaを活量と呼ぶ。
また、活量aiと濃度ciの比γi
ai/ci=γi
を活量係数と呼ぶ。
例えば、溶媒と溶質からなるある系を熱力学的な溶液として考えた場合に、活量係数は、系を理想溶液と考えた場合のある成分の化学ポテンシャルと、系を実在溶液と考えた場合のある成分の真の化学ポテンシャルとの差に対応する量である。(1)ある成分iが溶質である実在溶液の場合、溶質の濃度が低くなると、系は成分iが溶質の理想溶液に近づき、活量係数は1に近づいていく。反対に、(2)ある成分iが溶媒である実在溶液の場合、溶媒の濃度が高くなると、系は成分iが溶媒の理想溶液に近づき、活量係数は1に近づいていく。また、成分iの化学ポテンシャルが、実在溶液の方が理想溶液よりも安定なときはγi<1となる。
本発明においては、成分iはSiであり、溶媒とみなされるSi中に、溶質とみなされる元素Zを含むことで溶媒Siの活量aiが低下し、γi<1となり、元素Zを含有したSi化合物(固溶体:実在溶液と見なす)の方がSi(理想溶液と見なす)よりも安定となり、この結果、電解液との反応性が抑制されていると考えられる。
但し、Siと元素Zの平衡的に存在する化合物Si等を形成すると、Siの活量を効率的に低下させることができないので、元素ZはSi中に非平衡的に存在することが重要となる。
即ち、本発明の要旨は、リチウムイオンを吸蔵・放出可能な正極及び負極と、非水溶媒にリチウム塩が溶解された非水電解液とを備える非水電解液二次電池において、該負極が、一般式SiZ(式中Z、M、x、yは下記条件(1)〜(4)の通り)で表されるSi中に元素Zが非平衡的に存在した相の化合物を主成分とする負極材(以下「本発明の負極材」と称す場合があり、本発明の負極材を有する負極を「本発明の負極」と称す場合がある。)を有し、且つ、該非水電解液が、フッ素を含有するエステル化合物を含むことを特徴とする非水電解液二次電池、に存する(請求項1)。
(1)元素Zは、C及び/又はNよりなる元素である。
(2)元素Mは、Siと元素Z以外の元素から選ばれる元素の1種又は2種以上である。
(3)xは、Siに最も近い組成で平衡的に存在する化合物Si(式中a、pは整数)のZ濃度(p/(a+p))に対して、下記式で算出されるZ濃度比Q(Z)が0.10〜0.95となる値である。
Q(Z)=[x/(1+x)]/[p/(a+p)]
(4)yは、0≦y≦0.50の範囲の数である。
なお、本発明におけるSiに最も近い組成で平衡的に存在する化合物Siは、Siと元素Zの相図(例えば、ASM International社出版の「Desk Handbooks Phase Diagrams for Binary Alloys」)に記載されており、本発明では、このSiのZ濃度(p/(a+p))に対して、上述のZ濃度比Q(Z)を設定してxを定義する。
ここで言う、平衡的に存在する化合物とは、前記相図等に線図の頂として記載されている化合物Si(式中a,pは整数)等の定比化合物のことであり、例えば、ZがCである場合には、SiCが安定な化合物として知られており、本発明に於いてはこの化合物を平衡的に存在する化合物とする。従って、ZがCである場合には、SiCが本発明のSiに相当する。
また、例えば、ZがNである場合には、Siが最も安定な化合物として知られているが、Si、SiNも定比化合物として存在することが知られており、本発明に於いてはこれらの全ての化合物を平衡的に存在する化合物とする。従って、ZがNである場合には、SiNが本発明のSiに相当する。
一方、非平衡に存在する化合物とは、平衡的に存在する化合物以外の化合物を指す。非平衡に存在する化合物の場合には、特定の定比化合物を形成せず、Si原子とZ原子がマクロに見ると均一に分散している。
また、本発明の別の要旨は、上記請求項1に記載の非水電解液二次電池において、前記エステル化合物が、下記一般式(I)で表されるフッ素を含有する環状炭酸エステルを含むことを特徴とする非水電解液二次電池、に存する(請求項2)。
Figure 2007188873
(式(I)において、Xは、水素又は各種置換基を表し、2n個のXのうちの1つ以上がフッ素である。nは2以上の整数を表す。)
また、本発明の別の要旨は、上記請求項1又は請求項2に記載の非水電解液二次電池において、前記エステル化合物が、下記一般式(II)で表されるフッ素を含有する鎖状炭酸エステルを含むことを特徴とする記載の非水電解液二次電池、に存する(請求項3)。
Figure 2007188873
(式(II)において、mは1〜3の整数を表し、Rは無置換又はフッ素で置換された鎖状炭化水素基を表す。)
また、本発明の別の要旨は、上記請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池において、前記非水電解液が、フッ素を含有する炭酸エステルを、リチウム塩を除いた非水電解液の質量に対して2〜80質量%含むことを特徴とする非水電解液二次電池、に存する(請求項4)。
また、本発明の別の要旨は、上記請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池において、前記非水電解液が、ビニレンカーボネート、ビニルエチレンカーボネート、エチレンサルファイトからなる群より選ばれる1種以上を0.01〜10質量%含むことを特徴とする非水電解液二次電池、に存する(請求項5)。
また、本発明の別の要旨は、上記請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池において、前記負極材が、Si中に元素Zが分散した化合物からなることを特徴とする非水電解液二次電池、に存する(請求項6)。
また、本発明の別の要旨は、上記請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池において、前記負極材のラマンスペクトル分析によるラマンRC値が0.0以上、2.0以下であり、且つ、ラマンRSC値が0.0以上、0.25以下であることを特徴とする非水電解液二次電池、に存する(請求項7)。
また、本発明の別の要旨は、上記請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池において、前記負極材のラマンスペクトル分析によるラマンRS値が0.40以上、0.75以下であることを特徴とする非水電解液二次電池、に存する(請求項8)。
なお、本発明における活物質薄膜のラマンスペクトル分析によるラマンRC値、ラマンRSC値、ラマンRS値とは、以下のラマン測定方法によるラマンスペクトル分析から求められ、各々、次のように定義される。
[ラマン測定方法]
ラマン分光器(例えば、日本分光社製「ラマン分光器」)を用い、本発明の非水電解液二次電池用負極を測定セルにセットし、セル内のサンプル表面にアルゴンイオンレーザー光を照射しながら測定を行う。測定したラマンスペクトルのバックグラウンド補正を行うことで、ラマンRC値、RSC値、RS値を求める。なお、バックグラウンド補正は、ピーク終始点を直線で結び、バックグラウンドを求め、その値をピーク強度から差し引くことで行う。
ここでラマン測定条件は次の通りであり、スムージング処理は、コンボリューション15ポイントの単純平均とする。
アルゴンイオンレーザー波長:514.5nm
試料上のレーザーパワー:15〜40mW
分解能:10〜20cm−1
測定範囲:200cm−1〜1900cm−1
〈ラマンRC値〉
1300cm−1〜1600cm−1付近に現れるピークcのピーク強度Ic、300cm−1〜500cm−1付近に現れるピークasのピーク強度Iasを測定し、その強度比RC(RC=Ic/Ias)を算出し、負極材のラマンRC値と定義する。
ここで、ピークcとピークasは、それぞれ炭素とシリコン由来によるピークと考えられ、従って、ラマンRC値は炭素の量を反映したものであり、ラマンRC値が2.0以下であるということは、炭素が殆ど検出されないことを意味する。
〈ラマンRSC値〉
650cm−1〜850cm−1付近に現れるピークscのピーク強度Isc、300cm−1〜500cm−1付近に現れるピークasのピーク強度Iasを測定し、その強度比RSC(RSC=Isc/Ias)を算出し、負極材のラマンRSC値と定義する。
ここで、ピークscとピークasは、それぞれSiCとシリコン由来によるピークと考えられ、従ってラマンRSC値はSiCの量を反映したものであり、ラマンRSC値が0.25以下であるということは、SiCが殆ど検出されないことを意味する。
〈ラマンRS値〉
520cm−1の強度Is、300cm−1〜500cm−1付近に現れるピークasのピーク強度Iasを測定し、その強度比RS(RS=Is/Ias)を算出し、負極材のラマンRS値と定義する。
ラマンRS値は、Siの状態を反映したものである。
また、本発明の別の要旨は、上記請求項1ないし請求項8のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池において、前記一般式SiZにおいて、元素ZがCで、元素Mが酸素であり、x、yは、それぞれ0.053≦x≦0.90、0<y≦0.50の範囲の数であることを特徴とする非水電解液二次電池、に存する(請求項9)。
また、本発明の別の要旨は、上記請求項1ないし請求項9のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池において、充放電を行った後に、前記負極の赤外分光光度計を用いた赤外透過光分析による該負極のIRsc値が0.9以上、3.0以下であることを特徴とする非水電解液二次電池、に存する(請求項10)。
ここで、充放電を行った後とは、電池を組み立てて最初の充放電後でも良いし、複数の充放電サイクルを終えた後でも良く、いずれの場合も上記のIRsc値を得ることを特徴とする。
なお、本発明における負極の赤外透過光分析によるIRsc値とは、以下の赤外分光光度計による赤外透過光測定から求められ、次のように定義される。
[赤外分光光度計による赤外透過光分析測定方法]
赤外分光光度計(例えば、サーモエレクトロン社製「Magna560」)を用い、充放電を行った後の非水電解液二次電池用負極の負極材を集電体から剥離し、測定セルにセットし、透過法により測定を行う。測定は、窓材がダイヤモンド製の透過測定用サンプルフォルダーを用い、不活性雰囲気下にて行う。測定した赤外線透過スペクトルのバックグラウンド補正を行うことで、IRsc値を求める。なお、バックグラウンド補正は、2000〜4000cm−1の範囲における最小値を結んだ直線を延長し、バックグラウンドを求め、その値を各強度から差し引くことで行う。
1600cm−1における透過光強度Isc、1650cm−1における透過光強度Iacoを測定し、その強度比IRsc(IRsc=Isc/Iaco)を算出し、充放電後のIRsc値と定義する。
詳細は不明であるが、IscはSi由来の皮膜、Iacoはアルキル炭酸リチウム由来による皮膜と考えられ、従って、IRscは負極の皮膜(固体電解質界面:SEI)の状態と量比を反映したものであり、IRsc値が0.9以上であるということは、アルキル炭酸リチウム由来の皮膜とSi由来の皮膜で構成されていることを意味する。
本発明によれば、放電容量が高く、初期及びサイクル中の充放電効率が高く、サイクル特性に優れ、サイクル後の電極膨張が抑制された高性能の非水電解液二次電池を安定して効率的に実現することができる。
以下、本発明を詳細に説明するが、本発明は以下の説明に制限されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、任意に変形して実施することができる。
[1]非水電解液二次電池用負極
本発明の非水電解液二次電池には、後述する本発明の負極材(薄膜状負極材、粉末状負極材)を集電体上に設けた負極を用いる。
本発明の薄膜状負極材を用いた負極は、例えば、後述の製造方法の項に記述されるように、集電体上に負極材層を気相成膜することで得られる。また、粉末状負極材を用いた負極は、例えば、粉末状負極材と結着剤等を含む負極材スラリーを集電体上に塗布して負極材層を形成することで得られる。
なお、薄膜状負極材を用いた負極では、本発明の負極材よりなる薄膜負極材層の上又は下に後述する負極材Aを含む層を形成して用いても良い。
(IRsc値)
本発明の負極材を有する負極について、充放電を行った後、前述の赤外反射光分析により測定したIRsc値は、好ましくは0.9以上、より好ましくは1.1以上、特に好ましくは1.2以上である。IRsc値がこの範囲を下回ると、サイクル中にSiを含む負極と電解液が著しく反応し、実質的に充放電可能な活物質量が徐々に減少し、好ましいサイクル特性が得られ難い場合もある。IRsc値の上限値は3.0程度である。
[1−1]非水電解液二次電池用負極材
本発明の非水電解液二次電池には、非水電解液二次電池用負極材として、Si中に元素Zが非平衡的に存在した相の化合物を主成分とする負極材を用いる。上記負極化合物は一般式SiZ(式中Z、M、x、yは下記条件の通り)で表される。
(1)元素Zは、C及び/又はNよりなる元素である。
(2)元素Mは、Siと元素Z以外の元素から選ばれる元素の1種又は2種以上である。
(3)xは、Siに最も近い組成で平衡的に存在する化合物Si(式中a、pは整数)のZ濃度(p/(a+p))に対して、下記式で算出されるZ濃度比Q(Z)が0.10〜0.95となる値である。
Q(Z)=[x/(1+x)]/[p/(a+p)]
(4)yは、0≦y≦0.50の範囲の数である。
[1−1−1]負極化合物SiZ
(元素Z)
負極化合物SiZにおける元素Zは、C及び/又はNよりなる元素である。
なお、元素ZにC、Nを用いる理由は、
(i)Siよりも高融点化合物を形成しうる
(ii)Siよりも共有結合半径が小さい
(iii)Si中での拡散係数が小さい
(iv)リチウムと反応しても体積変化が少ない
からである。
その詳細は次の通りである。
理由(i):元素C、Nは、具体的にはSiC、Si等のSiよりも高融点である平衡的に存在する化合物を形成しうる。高融点化合物は一般的に生成の自由エネルギーが負で大きい安定な化合物である。このため、これらはSiの活量を効果的に低下させることができ、電解液との反応性を抑制することができる。
理由(ii):元素C、Nは、Siよりも共有結合原子半径が小さいので、詳細は不明であるが、SiZ化合物中に、Zが平衡的に存在する化合物を形成し難く、高濃度で元素Zをより均質に分布させる事に有効と考えられ、Siの活量をより効果的に低下させることができ、この結果、電解液との反応性を抑制することができる。
理由(iii):元素C、Nは、Si中における拡散係数が小さいので、元素C、NがSi中に分散していると、充放電に伴うSiの凝集や結晶化が抑制され、Siの微粉化や電解液との反応を抑制する。
理由(iv):元素C、Nは、リチウムと反応しても体積変化が少ないので、Siの導電パス切れに影響を及ぼし難いと考えられる。
なお、Cu、Ni等の元素のように、CuSi、NiSi等の平衡的に存在しうる化合物がSiよりも低融点である場合は、Siの活量が効果的に低下せず、電解液との反応性を抑制することが難しく、且つ、Cu、Ni元素はSi中での拡散係数が大きいので、充放電に伴うSiの凝集や結晶化進行しSiの微粉化が起こり易く、サイクル特性は改善されない。また、SiZ化合物中に平衡的に存在する化合物が主成分となる場合には、Siの活量が低下せず、電解液との反応性を抑制できなくなり、サイクル特性が悪化する等の虞がある。
(元素M)
負極化合物SiZにおける元素Mは、Siと元素Z以外の元素から選ばれる元素の1種又は2種以上であり、好ましくは周期表4族、5族、6族、8族、9族、10族、11族、13族、及び16族よりなる群から選ばれる1種又は2種以上の元素であり、より好ましくは、Ti、Zr、V、Cr、W、B、O元素であり、更に好ましくは、Ti、Zr、W、O元素であり、最も好ましくはO元素である。
(組成)
負極化合物SiZの組成において、SiZのxは、Siに最も近い組成で平衡的に存在する化合物Si(式中a、pは整数)のZ濃度(p/(a+p))に対して、下記式で算出されるZ濃度比Q(Z)が通常0.10以上、好ましくは0.15以上、更に好ましくは0.30以上、特に好ましくは0.40以上で、また、通常0.95以下、好ましくは0.85以下、更に好ましくは0.75以下、特に好ましくは0.65以下となる値である。
Q(Z)=[x/(1+x)]/[p/(a+p)]
Z濃度比Q(Z)がこの範囲を下回ると、Siの活量を下げる効果が小さく電解液との反応性を抑制できず、電極膨張が大きくなり、好ましいサイクル特性が得られ難い。一方、この範囲を上回ると、平衡的に存在する安定な化合物Si等を形成し、元素Zを増やしてもSiの活量は低下せず、電解液との反応性を抑制できない虞がある。また、Si等は導電性が低いために、このような化合物が形成されると活物質の導電性が悪化し、リチウムのドープ、脱ドープが困難となり、充放電ができなくなる虞がある。更に、この範囲を大きく上回ると、Siを含むことによる高容量化の効果が得られ難く、好ましい電池特性が得られ難い。
ここで、Z濃度比Q(Z)が1の場合、Siは安定な化合物Siとなっていることを意味し、好ましくない。
なお、元素ZにC、Nの元素を同時に用いる場合、2種の元素のそれぞれのSi基準の元素Z濃度に対してZ濃度比Q(Z)を求め、その合計値をZ濃度比Q(Z)と見なす。
また、化合物SiZに元素Mを含み、当該化合物がSiZで表される場合、化合物SiZ中における元素Mの割合yは、通常0.08以上、好ましくは0.10、また、通常0.50以下、好ましくは0.40以下、更に好ましくは0.30以下である。yがこの範囲を上回ると、Siの含有量が少なくなり、高容量になり難くなり好ましくない。
ただし、元素Mを含まない場合、元素Mの割合yは、y=0又はy≒0をさす。本発明において、y≒0とは、本発明の負極材の製造工程等で元素Mが不可避的に含まれる(Mが実質的に含まれない)場合をさし、例えば、yは0.08未満である。
本発明の負極材の組成は、例えば、後述の実施例に示す如く、X線光電子分光器(例えば、アルバック・ファイ社製「ESCA」)を用い、負極材の表面が平坦になるように試料台に載せ、アルミニウムのKα線をX線源とし、Arスパッタを行いながらデプスプロファイル測定を行い、Si、元素Z、元素M等の原子濃度をそれぞれ算出することで求めることができる。
(負極化合物SiCの組成)
元素ZがCで、且つ元素MがOの場合、一般式SiCにおいて、xは通常0.053以上、好ましくは0.08以上、更に好ましくは0.15以上、特に好ましくは0.25以上で、通常0.90以下、好ましくは0.75以下、更に好ましくは0.60以下、特に好ましくは0.45以下である。
また、yは通常0.0以上、好ましくは0.08以上で、更に好ましくは0.10以上、また、通常0.50以下、好ましくは0.40以下、更に好ましくは0.30以下である。
(Si中の元素Zの存在状態)
本発明の負極材のSi中の元素Zの存在状態は、以下に記載するX線回折測定において、XIsz値が特に制限されないが、元素ZがCの場合、好ましくは1.20以下、更に好ましくは0.70以下である。元素ZがNの場合、好ましくは1.10以下、更に好ましくは1.00以下である。XIsz値がこの範囲以下であれば、元素ZがSi中に非平衡的に存在した相を主成分とし、Si等の平衡的に存在する化合物は主成分でないと定義し、好ましい。XIsz値がこの範囲を上回る場合、即ち、Si等の平衡的に存在する化合物(元素ZがCの場合は炭化珪素、Nの場合は窒化珪素)の相が主成分となる場合には、Siの活量が低下せず、電解液との反応性を抑制できなくなりサイクル特性が悪化する虞や、Si等の導電性が低いために薄膜状負極材の導電性が悪化し、リチウムのドープ、脱ドープが困難となり、充放電ができなくなる虞や、活物質の単位質量当たりの放電容量が小さくなる虞のある場合もある。XIsz値の下限値は通常0.00以上である。
[X線回折測定方法]
X線回折測定における負極材のXIsz値は、例えば、本発明の負極材を照射面にセットし、X線回折装置(例えば、リガク社製「X線回折装置」)を用いて測定することができ、測定条件については後述の実施例において示す通りである。
XIsz値の定義は次の通りである。
〈元素ZがCの場合のXIsz値〉
2θが35.7度のピーク強度Isz、28.4度のピーク強度Isを測定し、その強度比XIsz(XIsz=Isz/Is)を算出し、負極材のXIszと定義する。
ここで、2θが35.7度のピークはSiCに由来のピーク、28.4度のピークはシリコン由来のピークと考えられ、XIsz値が1.20以下であるということは、SiCが殆ど検出されないことを意味する。
〈元素ZがNの場合のXIsz値〉
2θが70.2度のピーク強度Isz、28.4度のピーク強度Isを測定し、その強度比XIsz(XIsz=Isz/Is)を算出し、負極材のXIszと定義する。
ここで、2θが27.1度のピークはSi由来のピーク、28.4度のピークはシリコン由来のピークと考えられ、XIsz値が1.10以下であるということは、Siが殆ど検出されないことを意味する。
(元素Zの分布状態)
本発明の負極材中の元素Zは、例えば、原子、若しくは分子、或いはクラスター等として、1μm以下の大きさのレベルで存在し、元素Zの分布状態は、好ましくは負極材中に均一に分布しており、後述する粉末状負極材の場合には、更に好ましくは、粉末状負極材の粒子中心部から粒子表面に向かって元素Zの濃度勾配が高くなるように傾斜している。また、後述する薄膜状負極材の場合には、更に好ましくは、薄膜状負極と集電体との接触部分から、薄膜表面に向かって濃度勾配が高くなるように傾斜している。元素Zの分布が負極材中で不均一に、局所的に存在している場合、Siの充放電に伴う膨張・収縮が元素Zの存在しないSi部分で集中的に起きるため、サイクルの進行に伴い導電性が悪化する虞のある場合がある。元素Zの分散状態は、後述の実施例に示す如く、EPMA等で確認できる。
(元素Mの分布状態)
本発明の負極材中の元素Mの分布状態には特に制限はなく、均一に分布していても、均一に分布していなくても、どちらでも良い。
(ラマンRC値、ラマンRSC値、ラマンRS値)
元素ZがCの場合、本発明の負極材について、前述のラマン法により測定したラマンRC値は、好ましくは2.0以下、より好ましくは1.0以下、特に好ましくは0.5以下である。ラマンRC値がこの範囲を上回ると、Siを含むことによる高容量化の効果が得られ難く、好ましい電池特性が得られ難い場合もある。ラマンRC値の下限値は測定上の関係から、通常0.0以上である。
また、元素ZがCの場合、ラマン法により測定したラマンRSC値は、好ましくは0.25以下、より好ましくは0.20以下である。ラマンRSC値がこの範囲を上回ると、導電性が悪化し、リチウムのドープ、脱ドープが困難となり充放電ができなくなる虞がある場合もある。ラマンRSC値の下限値は測定上の関係から、通常0.0以上である。
また、ラマン法により測定したラマンRS値は、元素ZがCの場合、好ましくは0.40以上、より好ましくは0.50以上で、好ましくは0.75以下、より好ましくは0.65以下であり、元素ZがNの場合、好ましくは0.40以上、より好ましくは0.50以上で、好ましくは1.00以下、より好ましくは0.9以下である。ラマンRS値がこの範囲を下回ると、サイクル特性が悪化する可能性のある場合もある。一方、この範囲を上回ると、充放電できない可能性がある場合もある。
[1−1−2]負極材の形態
本発明の負極材の形態は、通常、薄膜状若しくは粉末状である。
〈薄膜状負極材〉
(構造)
集電体上に成膜された薄膜状負極材の構造としては、例えば、柱状構造、層状構造等が挙げられる。
(膜厚)
薄膜状負極材の膜厚は、これを用いてなる負極の負極材層の厚さに相当し、通常1μm以上、好ましくは3μm以上、また通常30μm以下、好ましくは20μm以下、更に好ましくは15μm以下である。薄膜状負極材の膜厚がこの範囲を下回ると、これを用いた本発明の負極(以下、薄膜状負極材を用いた負極を「薄膜負極」と称す場合がある。)の1枚当たりの容量が小さく、大容量の電池を得るには数多くの負極が必要となり、従って、併せて必要な正極、セパレータ、薄膜負極自体の集電体の総容積が大きくなり、電池容積当たりに充填できる負極材量が実質的に減少し、電池容量を大きくすることが困難になる場合もある。一方、この範囲を上回ると、充放電に伴う膨張・収縮で、薄膜状負極材が集電体基板から剥離する虞があり、サイクル特性が悪化する可能性のある場合もある。
〈粉末状負極材〉
(形状)
粉末状負極材の形状としては、例えば、球形、多角形、不定形等が挙げられる。
(体積基準平均粒径)
粉末状負極材の体積基準平均粒径は、特に制限されないが、通常0.1μm以上、好ましくは1μm以上、更に好ましくは3μm以上、また通常30μm以下、好ましくは20μm以下、更に好ましくは15μm以下である。粉末状負極材の体積基準平均粒径がこの範囲を下回ると、粒径が小さすぎるため、粉末状負極材間の導電パスや、粉末状負極材と後述の導電剤や負極材Aとの間の導電パスが取り難くなり、サイクル特性が悪化する虞がある場合もある。一方、この範囲を上回ると、後述の如く塗布により集電体上に負極材層を製造する時にむらが生じ易い場合もある。
なお、粉末状負極材の体積基準平均粒径としては、測定対象に界面活性剤であるポリオキシエチレン(20)ソルビタンモノラウレートの2体積%水溶液(約1ml)を混合し、イオン交換水を分散媒としてレーザー回折式粒度分布計(例えば、堀場製作所社製「LA−920」)にて、体積基準の平均粒径(メジアン径)を測定した値を用いることができる。後述の実施例では、この方法により体積基準平均粒径を求めた。
(BET比表面積)
粉末状負極材のBET比表面積は、特に制限されないが、通常0.5m/g以上、好ましくは1.0m/g以上、また、通常50m/g以下、好ましくは30m/g以下、更に好ましくは10m/g以下の範囲である。BET比表面積の値がこの範囲の下限を下回ると、負極に用いた場合、電池の充電時にリチウムの受け入れ性が悪くなり易く、リチウムが電極表面で析出し易くなるため、安全上好ましくない場合もある。一方、BET比表面積の値がこの範囲の上限を上回ると、負極とした時に電解液との反応性が増加し、ガス発生が多くなり易く、好ましい電池が得られ難い場合もある。
なお、粉末状負極材のBET比表面積としては、表面積計(例えば、大倉理研製全自動表面積測定装置)を用い、粉末状負極材に対して窒素流通下350℃で15分間、予備乾燥を行なった後、大気圧に対する窒素の相対圧の値が0.3となるように正確に調整した窒素ヘリウム混合ガスを用い、ガス流動法による窒素吸着BET1点法によって測定した値を用いることができる。
(タップ密度)
粉末状負極材のタップ密度は、特に制限されないが、通常0.2g/cm以上、好ましくは0.3g/cm以上、更に好ましくは0.5g/cm以上、また、通常3.5g/cm以下、好ましくは2.5g/cm以下の範囲である。タップ密度がこの範囲を下回ると、負極材料層の充填密度を上げ難く、高容量の電池を得難い場合もある。一方、この範囲を上回ると、負極材料層中の気孔量が少なくなる虞があり、好ましい電池特性を得難い場合もある。
なお、粉末状負極材のタップ密度としては、例えば、目開き300μmの篩を使用し、20cmのタッピングセルに粉末状負極材を落下させてセルを満杯に充填した後、粉体密度測定器(例えば、セイシン企業社製タップデンサー)を用いてストローク長10mmのタッピングを1000回行ない、その時のタッピング密度を測定した値を用いることができる。
[1−2]集電体
<材質>
集電体の材質としては、銅、ニッケル、ステンレス等が挙げられ、中でも薄膜に加工しやすく、安価な銅が好ましい。銅箔には、圧延法による圧延銅箔と、電解法による電解銅箔があり、どちらも集電体として用いることができる。また、銅箔の厚さが25μmよりも薄い場合、純銅よりも強度の高い銅合金(リン青銅、チタン銅、コルソン合金、Cu−Cr−Zr合金等)を用いることができる。
圧延法により作製した銅箔からなる集電体は、銅結晶が圧延方向に並んでいるため、負極を密に丸めても、鋭角に丸めても割れにくく、小型の円筒状電池に好適に用いることができる。電解銅箔は、例えば、銅イオンが溶解された電解液中に金属製のドラムを浸漬し、これを回転させながら電流を流すことにより、ドラムの表面に銅を析出させ、これを剥離して得られるものである。また、上記の圧延銅箔の表面に、電解法により銅を析出させていても良い。銅箔の片面又は両面には、粗面化処理や表面処理(例えば、厚さが数nm〜1μm程度までのクロメート処理、Ti等下地処理など)がなされていても良い。
<厚さ>
銅箔等よりなる集電体基板は、薄い方が薄い負極を製造することができ、同じ収納容積の電池容器内により広い表面積の負極を詰めることができる点で好ましいが、過度に薄いと、強度が不足し、電池製造時の捲回等で銅箔が切断する恐れのある場合もあることから、5〜70μm程度の厚さであることが好ましい。銅箔の両面に負極材層を形成する場合は、銅箔は更に薄い方がよいが、充電・放電に伴う負極材層の膨張・収縮による銅箔の亀裂発生を回避する観点から、この場合において、銅箔の更に好ましい厚さは10〜35μmである。
なお、集電体として銅箔以外の金属箔を使用する場合には、それぞれの金属箔に応じて、好適な厚さのものを使用することができるが、その厚さはおおむね10〜70μm程度の範囲内である。
<物性>
集電体基板には、更に次のような物性が望まれる。
(1) 平均表面粗さ(Ra)
JISB0601−1994に記載の方法で規定される集電体基板の負極材層形成面の平均表面粗さ(Ra)は、特に制限されないが、通常0.05μm以上、好ましくは0.1μm以上、特に好ましくは0.15μm以上であり、通常1.5μm以下、好ましくは1.3μm以下、特に好ましくは1.0μm以下である。
集電体基板の平均表面粗さ(Ra)を上記した下限と上限の間の範囲内とすることにより、良好な充放電サイクル特性が期待できる。即ち、上記下限値以上とすることにより、負極材との界面の面積が大きくなり、負極材との密着性が向上する。また、平均表面粗さ(Ra)の上限値は特に制限されるものではないが、平均表面粗さ(Ra)が1.5μmを超えるものは電池として実用的な厚みの箔としては一般に入手しにくいため、1.5μm以下のものが好ましい。
(2) 引張強度
集電体基板の引張強度は、特に制限されないが、通常100N/mm以上、好ましくは250N/mm以上、更に好ましくは400N/mm以上、特に好ましくは500N/mm以上である。引張強度は、値が高いほど好ましいが、工業的入手可能性の観点から、通常1000N/mm以下である。
引張強度とは、試験片が破断に至るまでに要した最大引張力を、試験片の断面積で割ったものである。本発明における引張強度は、JISZ2241(金属材料引張試験方法)に記載と同様の装置及び方法で測定される。引張強度が高い集電体基板であれば、充電・放電に伴う負極材層の膨張・収縮による集電体基板の亀裂を抑制することができ、良好なサイクル特性を得ることができる。
(3) 0.2%耐力
集電体基板の0.2%耐力は、特に制限されないが、通常30N/mm以上、好ましくは150N/mm以上、特に好ましくは300N/mm以上である。0.2%耐力は、値が高いほど好ましいが、工業的入手可能性の観点から、通常900N/mm以下が望ましい。
0.2%耐力とは、0.2%の塑性(永久)歪みを与えるに必要な負荷の大きさであり、この大きさの負荷を加えた後に除荷しても0.2%変形している事を意味している。本発明における0.2%耐力は、引張強度と同様な装置及び方法で測定される。0.2%耐力が高い集電体基板であれば、充電・放電に伴う薄膜状負極材の膨張・収縮による集電体基板の塑性変形を抑制することができ、良好なサイクル特性を得ることができる。
[1−3]薄膜状負極材の製造方法
本発明の薄膜状負極材の製造方法には特に制限はないが、例えば、以下に挙げる製造法などによって製造することができる。
[1−3−1]製造法1
蒸着源、スパッタ源、若しくは溶射源に、
(i)Si、元素Z、及び元素Mの組成物(ただし、y=0又はy≒0のときはSi及び元素Zの組成物)
(ii)Si、元素Z、及び元素Mの混合物(ただし、y=0又はy≒0のときはSi及び元素Zの混合物)
(iii)Si、元素Z、及び元素Mそれぞれの単独体(各々の単独体は、それぞれの元素を含むガスでも良い。)(ただし、y=0又はy≒0のときはSi及び元素Zのそれぞれの単独体)
(iv)Si及び元素Zの組成物或いは混合物と、元素Mの単独体(Mを含むガスでも良い)
(v)Si、元素Z、及び元素Mを含むガス(ただし、y=0又はy≒0のときはSi及び元素Zを含むガス)
(vi)Siの単独体と、元素Z及び元素Mの組成物或いは混合物
(vii)Si及び元素Mの組成物或いは混合物と、元素Zの単独体(元素Zを含むガスでも良い)
のいずれか一つを用い、Siと元素Zと元素M(ただし、y=0又はy≒0のときは、Siと元素Z)を同時に、蒸着法、スパッタ法、及び溶射法のうちのいずれか1以上の手法にて、前述の集電体基板上に1〜30μmの厚さ、好ましくは薄膜状負極材の膜厚の項で記述した厚さに成膜する。
(原料)
蒸着源、スパッタ源、若しくは溶射源(以下適宜、「原料」と記す場合がある)のSi単独体原料としては、例えば結晶性Si、アモルファスSi等を用いることができる。Z原料としては、C、N元素を用いる。また、元素Zは、CとNとを同時に用いることもできる。
原料のうち、(i)Si、元素Z、及び元素Mの組成物(ただし、y=0又はy≒0のときはSi及び元素Zの組成物)としては、Si、元素Z、及び元素M、或いは、Si、及び元素Zを組み合わせた単一の化合物を用いても良く、又は、複数の化合物として用いても良い。
また、これらSi、Z原料、M原料の形態は、例えば粉末状、顆粒状、ペレット状、塊状、板状等として用いられる。
一般式SiZにおいて、y≠0で元素Mを含む場合、元素Mは、Siと元素Z以外の元素から選ばれる元素の1種又は2種以上であり、好ましくは周期表4族、5族、6族、8族、9族、10族、11族、13族、16族より選ばれる1種又は2種以上の元素であり、より好ましくは、Ti、Zr、V、Cr、W、B、O元素であり、更に好ましくは、Ti、Zr、W、O元素を用いることができる。
(成膜法)
薄膜状負極材の形成方法としては、気相成膜法、具体的には、蒸着法(真空蒸着法、CVD法、イオンプレーティング法)、スパッタ法、溶射法(フレーム溶射法、プラズマ溶射法)などが挙げられる。また、スパッタ法と蒸着法、スパッタ法と溶射法とを組合せて成膜しても良い。
以下に、薄膜状負極材の形成方法について説明する。
A.スパッタ法
スパッタ法では、減圧下で、プラズマを利用して上記原料よりなるターゲットから発せられた負極材料を集電体基板に衝突、堆積させて薄膜を形成する。スパッタ法によると、形成した薄膜状負極材と集電体基板との界面状態が良好であり、集電体に対する薄膜状負極材の密着性も高い。
ターゲットに対するスパッタ電圧の印加方法としては、直流電圧、交流電圧のいずれも用いることができ、その際、集電体基板に実質的に負のバイアス電圧を印加して、プラズマからのイオンの衝突エネルギーを制御することも可能である。
薄膜形成を開始する前のチャンバー内の到達真空度は、不純物の混入を防ぐため、通常0.1Pa以下である。
スパッタガスとしては、Ne、Ar、Kr、Xe等の不活性ガスが用いられる。中でも、アルゴンガスが、スパッタ効率などの点で好ましく用いられる。また、化合物SiZ中の元素ZがNの場合、前記不活性ガス中に微量の窒素ガスとして共存させることが製造上好ましい。通常、スパッタガス圧は0.05〜70Pa程度である。
スパッタ法により薄膜状負極材を形成する際の集電体基板は、水冷やヒーター等により温度を制御することもできる。集電体基板の温度範囲としては、通常室温〜900℃であるが、150℃以下が好ましい。
スパッタ法による薄膜状負極材の形成における成膜速度は、通常0.01〜0.5μm/分である。
なお、薄膜状負極材形成前に、逆スパッタや、その他のプラズマ処理などの前処理により、集電体基板表面をエッチングすることができる。このような前処理は、集電体基板としての銅箔表面の汚染物や酸化膜の除去、薄膜状負極材の密着性の向上に有効である。
B.真空蒸着法
真空蒸着法は、負極材となる上記原料を溶融・蒸発させて、集電体基板上に堆積させる方法であり、一般に、スパッタ法に比べて高い成膜速度で薄膜を形成できる利点を有する方法である。真空蒸着法は、スパッタ法に比べて、所定膜厚の薄膜状負極材の形成時間の短縮を図る観点から製造コスト面で有利に活用することができる。その具体的な方法としては、誘導加熱法、抵抗加熱法、電子ビーム加熱蒸着法などを挙げることができる。誘導加熱法では黒鉛等の蒸着坩堝を誘導電流により、抵抗加熱法では蒸着ボートなど通電した加熱電流により、電子ビーム加熱蒸着では電子ビームにより、それぞれ蒸着材料を加熱溶融し、蒸発させて成膜する。
真空蒸着法の雰囲気としては、一般的に真空下が用いられる。また、化合物SiZ中の元素ZがNの場合、微量の窒素ガスを不活性ガスと一緒に導入しながら減圧にし、真空下で同時にSiZを形成することも可能である。
薄膜形成を開始する前のチャンバー内の到達真空度は、不純物の混入を防ぐため、通常0.1Pa以下である。
真空蒸着法により薄膜状負極材を形成する際の集電体基板は、ヒーター等により温度を制御することもできる。集電体基板の温度範囲としては、通常室温〜900℃であるが、150℃以下が好ましい。
真空蒸着法による薄膜状負極材の形成における成膜速度は、通常0.1〜50μm/分である。
なお、スパッタ法の場合と同様に、集電体基板上に薄膜状負極材を堆積させる前に、イオンガンなどでイオン照射をすることで集電体基板表面にエッチング処理を施しても良い。このようなエッチング処理により、集電体基板と薄膜状負極材との密着性を更に高めることができる。また、薄膜を形成する間に、集電体基板にイオンを衝突させることにより、集電体基板に対する薄膜状負極材の密着性を更に向上させることもできる。
C.CVD法
CVD法では、負極材となる上記原料を気相化学反応により集電体基板上に堆積させる。一般にCVD法は、反応室内の化合物気体をガス流入によって制御するために高純度で多様な材料が合成できる特徴を持っており、その具体的な方法としては、熱CVD法、プラズマCVD法、光CVD法、cat−CVD法などを挙げることができる。熱CVD法は、蒸気圧の高いハロゲン化合物の原料ガスをキャリヤガスや反応ガスとともに、1000℃前後に加熱した反応容器内に導入し、熱化学反応を起こさせ薄膜を形成するものである。プラズマCVD法は、熱エネルギーの代わりにプラズマを用いた方法であり、光CVD法は、熱エネルギーの代わりに光エネルギーを用いた方法である。cat−CVD法は、触媒化学気相成長法のことであり、原料ガスと加熱触媒との接触分解反応を応用することにより薄膜を形成するものである。
CVD法で用いられる原料ガスは、元素Si源としてはSiH、SiCl等であり、元素Z源としてはNH、N、CH、C、C等である。これらは1種を単独で用いても良く、2種以上を併用しても良い。
D.イオンプレーティング法
イオンプレーティング法では、負極材となる上記原料を溶融・蒸発させ、プラズマ下で蒸発粒子をイオン化及び励起することで、集電体基板上に強固に成膜させる。具体的には、原料を溶融・蒸発させる方法としては、誘導加熱法、抵抗加熱法、電子ビーム加熱蒸着法等を挙げることができ、イオン化及び励起する方法としては、活性化反応蒸着法、多陰極熱電子照射法、高周波励起法、HCD法、クラスターイオンビーム法、マルチアーク法等を挙げることができる。また、前記原料を蒸発させる方法とイオン化及び励起する方法は適選組み合わせて行なうことができる。
E.溶射法
溶射法では、負極材となる上記原料を加熱により溶融若しくは軟化させ、微粒子状にして加速し集電体基板上に粒子を凝固・堆積させる。その具体的な方法としては、フレーム溶射法、アーク溶射法、直流プラズマ溶射法、RFプラズマ溶射法、レーザー溶射法等を挙げることができる。
F.スパッタ法と蒸着法の組合せ
蒸着法の高い成膜速度の利点と、スパッタ法の集電体基板への強い成膜密着性の利点を利用し、例えば、スパッタ法により第1の薄膜層を形成し、その後蒸着法により高速に第2の薄膜層を形成することにより、集電体基板との密着性が良好になる界面領域を形成すると共に、高い成膜速度で薄膜状負極材を形成することができる。このような成膜方法のハイブリッドな組合せ手法により、充放電容量が高く、且つ充放電サイクル特性に優れた薄膜負極を効率的に製造することができる。
スパッタ法と蒸着法を組み合わせて薄膜状負極材を形成することは、減圧雰囲気を保ちつつ連続的に行われることが好ましい。これは、大気に暴露することなく連続的に第1の薄膜層と第2の薄膜層とを形成することによって、不純物の混入を防止できるからである。例えば、同一の真空環境の中で、集電体基板を移動させながら、スパッタ及び蒸着を順次行うような薄膜形成装置を用いることが好ましい。
本発明において、このような成膜法により、集電体基板の両面に薄膜状負極材を形成する場合、集電体基板の一方の面に対する薄膜状負極材層(上記第1の薄膜層と第2の薄膜層の組み合せであっても良い。)の形成と、集電体基板の他方の面に対する薄膜状負極材層(上記第1の薄膜層と第2の薄膜層の組み合せであっても良い。)の形成とは、減圧雰囲気を保持したまま連続して行うことが好ましい。
[1−3−2]製造法2
一般式SiZにおいて、元素ZがCである場合の製造方法について以下に述べる。
蒸着源、スパッタ源、若しくは溶射源に、
(i)Si、C、及び元素Mの組成物(ただし、y=0又はy≒0のときはSi及びCの組成物)
(ii)Si、C、及び元素Mの混合物(ただし、y=0又はy≒0のときはSi及びCの混合物)
(iii)Si、C、及び元素Mそれぞれの単独体(ただし、y=0又はy≒0のときはSi及びCのそれぞれの単独体)
(iv)Si及びCの組成物或いは混合物と、元素Mの単独体(Mを含むガスでも良い)
(v)Si、C、及び元素Mを含むガス(ただし、y=0又はy≒0のときはSi及びCを含むガス)
(vi)Si単独体と、C及び元素Mの組成物或いは混合物
(vii)Si及び元素Mの組成物或いは混合物と、C単独体
のいずれか一つを用い、SiとCと元素M(ただし、y=0又はy≒0のときは、SiとC)を同時に、蒸着法、スパッタ法、及び溶射法のうちのいずれか1以上の手法にて、前述の集電体基板上に1〜30μmの厚さ、好ましくは薄膜状負極材の膜厚の項で記述した厚さに成膜する。
(原料)
蒸着源、スパッタ源、若しくは溶射源(以下適宜、「原料」と記す場合がある)のSi原料としては、例えば結晶性Si、アモルファスSi等を用いることができる。C原料としては例えば天然黒鉛、人造黒鉛等の炭素材料を用いることができる。M原料としては、通常Siと元素Z以外の元素であり、好ましくは周期表4族、5族、6族、8族、9族、10族、11族、13族、16族の元素であり、より好ましくは、Ti、Zr、V、Cr、W、B、O元素であり、更に好ましくは、Ti、Zr、W、O元素を用いることができる。
原料のうち、(i)Si、C、及び元素Mの組成物としては、Si、C、及び元素Mを組み合わせた単一の化合物を用いても良く、又は、複数の化合物として用いても良い。
また、これらSi、C、M原料の形態は、例えば粉末状、顆粒状、ペレット状、塊状、板状等として用いられる。
また、元素Mは、SiやCの窒化物や酸化物として用いても良いが、常温で気体として存在するO等の場合、Si、C成膜中に原料ガスO等として共存させることが製造上好ましい。
(成膜法)
上記製造法1と同様な成膜法を用いるが、通常、スパッタ法、真空蒸着法、CVD法が採用される。
A.スパッタ法
スパッタガスとしては、Ne、Ar、Kr、Xe等の不活性ガスが用いられる。中でも、アルゴンガスが、スパッタ効率などの点で好ましく用いられる。また、一般式SiC中のM元素がOの場合、前記不活性ガス中にそれぞれ微量の酸素ガスを共存させることが製造上好ましい。通常、スパッタガス圧は0.05〜70Pa程度である。
B.真空蒸着法
真空蒸着法の雰囲気としては、一般的に真空下が用いられる。また、一般式SiC中の元素MがOの場合、それぞれ微量の酸素ガスを不活性ガスと一緒に導入しながら減圧にし、真空下で同時にSi/C/Mを形成することも可能である。
C.CVD法
CVD法で用いられる原料ガスは、元素Si源としてはSiH、SiCl等であり、元素C源としてはCH、C、C等である。これらは1種を単独で用いても良く、2種以上を併用しても良い。
[1−3−3]製造法3
一般式SiZにおいて、元素ZがCで元素MがOである場合の製造方法について以下に述べる。
蒸着源、スパッタ源、若しくは溶射源に、
(I)Si、及びCの組成物
(II)Si、及びCの混合物
(III)Si、及びCそれぞれの単独体
又は
(IV)Si、及びCを含むガス
のいずれか一つを用い、成膜ガス中(真空中で成膜する時は、残存ガス中)の酸素濃度が0.0001〜0.125%である雰囲気下にて、SiとCを同時に、蒸着法、スパッタ法、及び溶射法のうちのいずれか1以上の手法にて、前述の集電体基板上に1〜30μmの厚さ、好ましくは薄膜状負極材の膜厚の項で記述した厚さにする。
(原料)
原料である蒸着源、スパッタ源、若しくは溶射源のSi原料としては、例えば結晶性Si、アモルファスSi等を用いることができる。C原料としては、例えば天然黒鉛、人造黒鉛等の炭素材料を用いることができる。成膜ガス中の酸素としては、酸素等のO元素含有ガスを単独又は不活性ガスとの組み合せで用いる。
これらSi、C原料の形態は、例えば粉末状、顆粒状、ペレット状、塊状、板状等として用いられる。また、酸素ガスは、Si、C成膜中に原料ガスとして共存させることが製造上好ましい。
(成膜法)
上記製造法1と同様な成膜法を用いる。
(成膜時の酸素濃度)
蒸着、スパッタ、又は溶射時の成膜ガス中(真空中で成膜する時は、残存ガス中)の酸素濃度は通常0.0001%以上で、通常0.125%以下、好ましくは0.100%以下、更に好ましくは0.020%以下である。成膜ガス中に含まれる酸素濃度がこの範囲を上回ると、Si/C/O薄膜中の元素O量が多くなり、電解液との反応性が増し、充放電効率の低下を招く場合もある。酸素濃度が少な過ぎるとSi/C/O薄膜を成膜し得ない場合もある。
なお、成膜ガス中の酸素濃度としては、例えば、四極子マスフィルタを用い、成膜ガスのマススペクトルを分析することで得られる。また、酸素ガスが共存しているアルゴンガスを成膜ガスとして用いる場合には、そのアルゴンガスを酸素分析計で測定することで求められる。
[1−3−4]製造法4
一般式SiZにおいて、元素ZがNで、y=0又はy≒0である場合の製造方法について以下に述べる。
蒸着源、スパッタ源、若しくは溶射源に、
(I)Si単独体
(II)Siを含む組成物
(III)Siを含む混合物
又は
(IV)Siを含むガス
のいずれか一つを用い、成膜ガス中(真空中で成膜する時は、残存ガス中)の窒素濃度が1〜22%である雰囲気下にて、SiとNを同時に、蒸着法、スパッタ法、及び溶射法のうちのいずれか1以上の手法にて、前述の集電体基板上に1〜30μmの厚さ、好ましくは薄膜状負極材の膜厚の項で記述した厚さにする。
(原料)
原料である蒸着源、スパッタ源、若しくは溶射源のSi単独体原料としては、例えば結晶性Si、アモルファスSi等を用いることができる。成膜ガス中のNとしては、窒素等のN元素含有ガスを単独又は不活性ガスとの組み合せで用いる。
これらSi等の形態は、例えば粉末状、顆粒状、ペレット状、塊状、板状等として用いられる。また、窒素ガスは、Si成膜中に原料ガスとして共存させることが製造上好ましい。
(成膜法)
上記製造法1と同様な成膜法を用いる。
(成膜時の窒素濃度)
蒸着、スパッタ、又は溶射時の成膜ガス中(真空中で成膜する時は、残存ガス中)の窒素濃度は通常1%以上で、通常22%以下、好ましくは15%以下、更に好ましくは10%以下である。成膜ガス中に含まれる窒素濃度この範囲を上回ると、SiN薄膜中の元素N量が多くなり、充放電に関与しない窒化珪素が生成し、放電容量の低下を招く場合もある。窒素濃度が少な過ぎるとNを含有したSiN薄膜を成膜し得なく、且つ、サイクル特性の低下を招く場合もある。
なお、成膜ガス中の窒素濃度としては、例えば、四極子マスフィルタを用い、成膜ガスのマススペクトルを分析することで得られる。
[1−4]粉末状負極材の製造方法
本発明の粉末状負極材の製造方法には特に制限はないが、例えば、以下に挙げる製造法などによって製造することができる。
〈原料〉
粉末状負極材の原料(以下適宜、「原料」と記す場合がある)のうち、Si原料としては、例えば結晶性Si、アモルファスSi、シリコン化合物(窒化珪素、炭化珪素等)等を用いることができる。Z原料としては、C,N元素を別々に、又は同時に用いることができる。例えば、C元素の原料としては、天然黒鉛、人造黒鉛、非晶質炭素、炭化物等を、N元素の原料としては、窒化物等が挙げられる。また、原料がガスの場合、C元素の原料としては、Cを含むガス(CH、C、C等)を、N元素の原料としては、Nを含むガス(NH、N2等)を用いることができる。
Si及びZ原料としては、Si及び元素Zを組み合わせた単一の化合物(若しくは元素)を用いても良く、複数の化合物として用いても良い。
化合物SiZに元素Mを含む場合、元素Mは前述の通りであるが、Si、元素Z、及び元素Mを組み合わせた単一の化合物を用いても良く、複数の化合物として用いても良い。
また、これらSi、Z原料、M原料の形態は、例えば粉末状、顆粒状、ペレット状、塊状、板状等として用いられる。
〈方法〉
粉末状負極材の製造方法としては、例えば、
[1−4−1]Siを含む粉末粒子表面に元素Zを反応させ、粉末粒子内部に元素Zを拡散する方法、
[1−4−2]Si、及び元素Zを含む原料を用いて、基板上に蒸着、CVD、スパッタ等により気相成膜し、得られた膜を粉砕する方法、
[1−4−3]Si、及び元素Zを含む溶融塩を、電解する方法
などが挙げられる。いずれの方法においても、化合物SiZに元素Mを含む場合は、更にM原料を併用すれば良い。但し、元素Mが酸素(O)の場合は、製造過程の雰囲気から取り込まれ含んでも良い。
以下に、[1−4−1]〜[1−4−3]の形成方法について説明する。
[1−4−1]Siを含む粉末粒子内部に元素Zを拡散する方法
元素Zを拡散する方法としては、次の<4−1−1>〜<4−1−4>の方法が挙げられる。
<4−1−1>元素Zを含むガス雰囲気下で、Siを含む粉末粒子を加熱処理することにより、Si粉末粒子中に元素Zを拡散させる。
<4−1−2>Siを含む粉末粒子と元素Zを含む粒子を接触させた状態で、真空下、若しくはAr等の不活性雰囲気下で加熱処理することにより、Si粉末粒子中に元素Zを拡散させる。
<4−1−3>Siを含む粉末粒子に、プラズマ等によりイオン化した元素Zを照射し、Siを含む粉末粒子中に元素Zを拡散させる。
<4−1−4>Siを含む粉末粒子と元素Zを含む粒子を遊星ボールミル等によりメカニカルミリングし、Siを含む粉末粒子中に元素Zを拡散させる。
[1−4−2]気相成膜で得られた化合物SiZを含む膜を粉砕する方法
化合物SiZを含む膜の気相成膜方法としては、以下の気相成膜法を用いる。成膜する時に用いる基体は、SUS、銅、アルミニウム等の金属や、アルミナ、ジルコニア等のセラミックス等よりなる基板等を用い、基板等の上に成膜された化合物SiZ膜を剥離し、更に粉砕、必要に応じて分級処理することで粉末状負極材を得る。
気相成膜方法としては、次の〈4−2−1〉〜〈4−2−3〉の方法などが挙げられる。
〈4−2−1〉真空蒸着法
〈4−2−2〉CVD法
〈4−2−3〉スパッタ法
以下に、〈4−2−1〉〜〈4−2−3〉のSiZ膜の形成方法について説明する。
〈4−2−1〉真空蒸着法
真空蒸着法は、上記原料を溶融・蒸発させて、上記の基体上に堆積させてSiZを含む膜を形成する方法であり、一般に、スパッタ法に比べて高い成膜速度で膜を形成できる利点を有する方法である。真空蒸着法は、スパッタ法に比べて、負極材の形成時間の短縮を図る観点から製造コスト面で有利に活用することができる。その具体的な方法としては、誘導加熱法、抵抗加熱法、電子ビーム加熱蒸着法などを挙げることができる。誘導加熱法では黒鉛等の蒸着坩堝を誘導電流により、抵抗加熱法では蒸着ボートなど通電した加熱電流により、電子ビーム加熱蒸着では電子ビームにより、それぞれ蒸着材料を加熱溶融し、蒸発させて成膜する。
真空蒸着法の雰囲気としては、一般的に真空下が用いられる。また、化合物SiZ中の元素ZがNの場合、微量の窒素ガスを不活性ガスと一緒に導入しながら減圧にし、真空下で同時にSiZを形成することも可能である。
薄膜形成を開始する前のチャンバー内の到達真空度は、不純物の混入を防ぐため、通常0.1Pa以下である。
真空蒸着法によりSiZを含む膜を形成する際、基体はヒーター等により温度を制御することもできる。基体の温度範囲としては、通常室温〜900℃である。
真空蒸着法によるSiZを含む膜の形成における成膜速度は、通常0.1〜50μm/分である。
〈4−2−2〉CVD法
CVD法では、下記の原料を気相化学反応により、基体上に堆積させてSiZを含む膜を形成する。一般にCVD法は、反応室内の化合物気体をガス流入によって制御するために高純度で多様な材料が合成できる特徴を持っており、その具体的な方法としては、熱CVD法、プラズマCVD法、光CVD法、cat−CVD法などを挙げることができる。熱CVD法は、蒸気圧の高いハロゲン化合物の原料ガスをキャリヤガスや反応ガスとともに、1000℃前後に加熱した反応容器内に導入し、熱化学反応を起こさせ膜を形成するものである。プラズマCVD法は、熱エネルギーの代わりにプラズマを用いた方法であり、光CVD法は、熱エネルギーの代わりに光エネルギーを用いた方法である。cat−CVD法は、触媒化学気相成長法のことであり、原料ガスと加熱触媒との接触分解反応を応用することにより膜を形成するものである。
このようなCVD法で用いられる原料ガスとしては、元素Si源としてはSiH、SiCl等の1種又は2種以上が、元素Z源としてはNH、N、CH、C、C等の1種又は2種以上が挙げられる。
〈4−2−3〉スパッタ法
スパッタ法では、減圧下で、プラズマを利用して、上記原料よりなるターゲットから発せられた材料を、基体に衝突、堆積させてSiZを含む膜を形成する。
ターゲットに対するスパッタ電圧の印加方法としては、直流電圧、交流電圧のいずれも用いることができる。
SiZを含む膜の形成を開始する前のチャンバー内の到達真空度は、不純物の混入を防ぐため、通常0.1Pa以下である。
スパッタガスとしては、Ne、Ar、Kr、Xe等の不活性ガスが用いられる。中でも、アルゴンガスが、スパッタ効率などの点で好ましく用いられる。また、SiZを含む膜中の元素ZがNの場合、前記不活性ガス中に微量の窒素ガスとして共存させることが製造上好ましい。通常、スパッタガス圧は0.05〜70Pa程度である。
スパッタ法によりSiZを含む膜を形成する際、基体は水冷やヒーター等により温度を制御することもできる。基体の温度範囲としては、通常室温〜900℃である。
スパッタ法によるSiZを含む膜の形成における速度は、通常0.01〜0.5μm/分である。
SiZを含む膜の粉砕に用いる装置について特に制限はないが、例えば、粗粉砕機としてはジョークラッシャー、衝撃式クラッシャー、コーンクラッシャー等が挙げられ、中間粉砕機としてはロールクラッシャー、ハンマーミル等が挙げられ、微粉砕機としてはボールミル、振動ミル、ピンミル、攪拌ミル、ジェットミル等が挙げられる。
分級処理に用いる装置としては特に制限はないが、例えば、乾式篩い分けの場合:回転式篩い、動揺式篩い、旋動式篩い、振動式篩い等を用いることができ、乾式気流式分級の場合:重力式分級機、慣性力式分級機、遠心力式分級機(クラシファイア、サイクロン等)等を用いることができ、湿式篩い分けの場合:機械的湿式分級機、水力分級機、沈降分級機、遠心式湿式分級機等を用いることができる。
[1−4−3]Siと元素Zと元素MとをSiZの組成で含む溶融塩を、電解する方法
具体的には、Siと元素Zと元素MとをSiZの組成で含む溶融塩をプラズマ誘起によりカソード電解し、粉末状負極材を得る方法が挙げられる。原料としては、Siを含有する塩と元素Z含有する塩を用いることができる。
[1−4−4]粉末状負極材を用いた負極の製造方法
上述のようにして製造された粉末状負極材を用いて負極を製造する場合、この粉末状負極材中には、本発明の効果を妨げない範囲で、本発明の負極材以外の他の負極材(以下「負極材A」と称す。)を混合して用いても良い。負極材Aを用いる場合、負極材Aとしてはリチウムイオンを充放電可能なものであれば良く、特に制限はない。例えば、天然黒鉛(鱗片状黒鉛、球形化黒鉛等)、人造黒鉛(メソカーボンマイクロビーズ等)のグラファイト類、ピッチや樹脂等を焼成した非晶質炭素類、黒鉛と非晶質炭素を複合化した多相構造材料類、アルミニウム、錫などの金属類、SiOなどの酸化物類が挙げられる。これらの負極材Aのなかで、天然黒鉛、人造黒鉛、黒鉛と非晶質炭素を複合化した多相構造材料が、現在工業的に一般に使用されており、コストが安く、扱い易いため、好ましい。これらは1種を単独で用いても良く、2種以上を組み合わせて用いても良い。
負極材Aの添加量は、特に限定されないが、本発明の粉末状負極材に対して、通常10重量%以上、好ましくは30重量%以上、更に好ましくは40重量%以上、特に好ましくは50重量%以上、また、通常95重量%以下、好ましくは90重量%以下、更に好ましくは85重量%以下である。
本発明の粉末状負極材を用いた非水電解液二次電池用負極の製造方法としては、本発明の要件を満たす範囲において、特に制限はないが、例えば、負極の構造としては、次の<4−4−1>〜<4−4−5>が挙げられる。
〈4−4−1〉本発明の負極材を含む負極材料と、必要に応じて用いられる導電剤と、結着及び増粘効果を有する有機物(以下「結着剤」と称す。)を集電体上に塗布した構造
〈4−4−2〉本発明の負極材を含む負極材料が導電性物質と複合化した粒子と、結着剤を集電体上に塗布した構造
〈4−4−3〉本発明の負極材を含む負極材料が、焼結剤により集電体と一体に焼結された構造
〈4−4−4〉本発明の負極材を含む負極材料が、低融点金属と結合することにより集電体と一体化した構造
〈4−4−5〉本発明の負極材を含む負極材料が、バインダー成分無しに集電体と一体化した構造
以下に、〈4−4−1〉〜〈4−4−5〉の負極の構造及びその製造方法について説明する。なお、集電体としては前述のものを用いることができ、負極材層の厚さは特に限定されないが、通常5μm以上、好ましくは10μm以上、更に好ましくは20μm以上、また、上限は、通常100μm以下、好ましくは90μm以下、更に好ましくは80μm以下とすることができる。
〈4−4−1〉負極材料と必要に応じ用いられる導電剤と、結着剤を集電体上に塗布した構造
この構造は、本発明の粉末状負極材に、負極材A及び/又は導電剤と結着剤を含有する負極材料層を集電体上に形成してなる。
〈導電剤〉
負極材料層には、導電剤を含んでも良い。導電剤は、用いる負極材料の充放電電位において、化学変化を起こさない電子伝導性材料であれば何でも良い。例えば、アセチレンブラック、ケッチェンブラック、チャンネルブラック、ファーネスブラック、ランプブラック、サーマルブラック等のカ−ボンブラック類、炭素繊維、気相成長炭素繊維(VGCF)、金属繊維などの導電性繊維類、フッ化カーボン、銅等の金属粉末類などを単独又はこれらの混合物として含ませることができる。これらの導電剤のなかで、アセチレンブラック、VGCFが特に好ましい。これらは1種を単独で用いても良く、2種以上を組み合わせて用いても良い。
導電剤の添加量は、特に限定されないが、負極材料に対して、1〜30重量%が好ましく、特に1〜15重量%が好ましい。
〈結着剤〉
結着剤としては、後述する液体溶媒に対して安定な高分子が好ましい。例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート、芳香族ポリアミド、セルロース等の樹脂系高分子、スチレン・ブタジエンゴム、イソプレンゴム、ブタジエンゴム又はエチレン・プロピレンゴム等のゴム状高分子、スチレン・ブタジエン・スチレンブロック共重合体、その水素添加物、スチレン・エチレン・ブタジエン・スチレン共重合体、スチレン・イソプレン・スチレンブロック共重合体及びその水素添加物等の熱可塑性エラストマー状高分子、シンジオタクチック1,2−ポリブタジエン、エチレン・酢酸ビニル共重合体、又はプロピレン・α−オレフィン(炭素数2〜12)共重合体等の軟質樹脂状高分子、ポリフッ化ビニリデン、ポリテトラフルオロエチレン、又はポリテトラフルオロエチレン・エチレン共重合体等のフッ素系高分子、アルカリ金属イオン(特にリチウムイオン)のイオン伝導性を有する高分子組成物などが挙げられる。これらは1種を単独で用いても良く、2種以上を組み合わせて用いても良い。
上記のイオン伝導性を有する高分子組成物としては、ポリエチレンオキシド、ポリプロピレンオキシド等のポリエーテル系高分子化合物や、ポリエーテル化合物の架橋体高分子や、ポリエピクロルヒドリン、ポリフォスファゼン、ポリシロキサン、ポリビニルピロリドン、ポリビニリデンカーボネート、又はポリアクリロニトリル等の高分子化合物に、リチウム塩又はリチウムを主体とするアルカリ金属塩かを複合させた高分子、あるいはこれにプロピレンカーボネート、エチレンカーボネート、γ−ブチロラクトン等の高い誘電率又はイオン−双極子相互作用力かを有する有機化合物を配合した高分子を用いることができる。
具体的には、通常、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート、芳香族ポリアミド、ポリイミド、又はセルロース及びその誘導体(例えばカルボキシメチルセルロース)等の樹脂系高分子、スチレン・ブタジエンゴム、イソプレンゴム、ブタジエンゴム、又はエチレン・プロピレンゴム等のゴム状高分子、ポリフッ化ビニリデン、ポリテトラフルオロエチレン、又はポリテトラフルオロエチレン・エチレン共重合体等のフッ素系高分子、ポリエチレンオキシド、ポリプロピレンオキシド等のポリエーテル系高分子化合物、ポリエーテル化合物の架橋体高分子が挙げられ、好ましくは、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリイミド、スチレン・ブタジエンゴム、ポリフッ化ビニリデン、ポリテトラフルオロエチレン、又はポリエチレンオキシドが挙げられ、更に好ましくは、ポリエチレン、スチレン・ブタジエンゴム、ポリフッ化ビニリデン、又はポリテトラフルオロエチレンが挙げられる。これらは、現在工業的に一般に使用されており、扱い易いため好適である。
この構造の負極は、本発明の粉末状負極材と、負極材A及び/又は導電剤と、結着剤を分散中に分散させたスラリー状のものを、集電体基板上に薄く塗布・乾燥する工程、続いて所定の厚み・密度まで圧密するプレス工程により製造される。
負極材料、必要に応じて用いられる導電剤と結着剤を混合して集電体上に塗布する際の負極材料スラリーの調製には、水系溶媒又は有機溶媒が分散媒として用いられる。水系溶媒としては、通常、水が用いられるが、これにエタノール等のアルコール類、N−メチルピロリドン等の環状アミド類等の添加剤を水に対して、30重量%以下程度まで添加することもできる。
また、有機溶媒としては、通常、N−メチルピロリドン等の環状アミド類、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド等の直鎖状アミド類、アニソール、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、ブタノール、シクロヘキサノール等のアルコール類が挙げられ、中でも、N−メチルピロリドン等の環状アミド類、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド等の直鎖状アミド類等が好ましい。
負極材料、結着剤及び必要に応じて配合される導電剤をこれらの溶媒に混合して負極材料スラリーを調製し、これを負極用集電体基板に所定の厚みとなるように塗布することにより負極材料層が形成されるが、この負極材料スラリー中の負極材料の濃度の上限は通常70重量%以下、好ましくは55重量%以下であり、下限は通常30重量%以上、好ましくは40重量%以上である。負極材料の濃度がこの上限を超えると負極材料スラリー中の負極材料が凝集しやすくなり、下限を下回ると負極材料スラリーの保存中に負極材料が沈降しやすくなる。
また、負極材料スラリー中の結着剤の濃度の上限は通常30重量%以下、好ましくは10重量%以下であり、下限は通常0.1重量%以上、好ましくは0.5重量以上である。結着剤の濃度がこの上限を超えると得られる負極の内部抵抗が大きくなり、下限を下回ると負極材料層の結着性に劣る場合がある。
〈4−4−2〉負極材料が導電性物質と複合化した粒子と、結着剤を集電体上に塗布した構造
この構造は、本発明の粉末状負極材と導電性物質が複合化した粒子と結着剤を含有する活物質層を集電体上に形成してなり、通常、複合化粒子と結着剤を水あるいは上述の〈4−4−1〉におけると同様な有機溶媒中に分散させたスラリー状のものを、集電体基板上に薄く塗布・乾燥する工程、続いて所定の厚み・密度まで圧密するプレス工程により形成される。
〈導電性物質〉
導電性物質には、導電性を有する酸化物や炭素、黒鉛、カーボンブラック等が用いられる。例えば、酸化物としてはIn、ZnO、SnO等、炭素としてはCVD炭素等、黒鉛としては天然黒鉛、人造黒鉛、VGCF等が挙げられる。
〈複合化粒子〉
複合化した粒子は、メカノケミカル法、CVD法、炭素前駆体との焼成法等により、本発明の負極材を含む負極材料と導電性物質を混合、複合化することで得られる。
メカノケミカル法による混合、複合化する方法としては、例えば、ボールミル、振動ミル、遊星ボールミル、メカノフュージョン(ホソカワミクロン製)、ハイブリダイザー、マイクロス(奈良機械製作所製)等の装置を用いることができる。
また、CVD法としては、例えば、炭化水素系ガスを原料とし、粉末状活物質表面に膜状、及び/又は繊維状の熱分解炭素(黒鉛)を形成し、複合化する方法が挙げられる。尚、CVD処理前にNi等の触媒をあらかじめ粉末状活物質表面に担持しても良い。
また、炭素前駆体との焼成法としては、粉末状活物質を含む負極材料と導電性物質と石油ピッチやコールタールピッチ類や樹脂類を原料とした炭素前駆体を混合し、更に600〜1300℃程度の温度で焼成することで複合化する方法が挙げられる。
複合化粒子の構造としては、例えば、導電性物質のマトリックス中に粉末状活物質の微粒子が包埋されている構造や、粉末状活物質の表面を導電性物質が被覆している構造などが挙げられる。
複合化粒子中の導電性物質の含有割合は多過ぎると負極材料量が減少し、放電容量が小さくなる虞があり、少な過ぎると導電性物質を複合化して導電性を改善した効果が現れ難い場合があることから、複合粒子中の本発明の粉末状負極材の含有量が通常50重量%以上、特に70重量%以上で、通常99重量%以下、特に97重量%以下となるようにすることが好ましい。
〈4−4−3〉負極材料が、焼結剤により集電体と一体に焼結された構造
この構造は、本発明の負極材を含む負極材料と焼結剤を含有する活物質層を集電体上に形成してなり、通常、負極材料と焼結性有する物質を分散、混合させたものを、集電体基板上に薄く塗布(若しくは成型)・乾燥、続いて所定の厚み・密度まで圧密するプレスし、熱処理工程により焼結させて製造される。
〈焼結剤〉
焼結剤には、酸化物、炭化物、窒化物等の前駆体や、炭素前駆体を用いる。例えば、酸化物前駆体としては、有機ジルコニウム化合物、有機チタニウム化合物等が、炭素前駆体としては、石油ピッチやコールタールピッチ類を熱処理(酸化)し、軟化点、揮発分を調整した物(大阪化成社製TGP3500)などが挙げられる。
焼結剤の使用量は多過ぎると負極材料量が減少し、放電容量が小さくなる虞があり、少な過ぎると負極材料間や負極材料と集電体間の結着力が低下し、負極として強度不足となり、負極材料の剥離等が生じる虞があるので、本発明の負極材を含む負極材料に対して、通常3重量%以上、好ましくは5重量%以上、通常50重量%以下、好ましくは30重量%以下である。
〈4−4−4〉負極材料が、低融点金属と結合することにより集電体と一体化した構造
この構造は、本発明の負極材を含む負極材料と低融点金属が結合した活物質層を集電体上に形成してなり、通常、負極材料と低融点金属を分散、混合させたものを、集電体基板上に薄く塗布(若しくは成型)・乾燥、続いて所定の厚み・密度まで圧密するプレスし、熱処理工程により製造される。
〈低融点金属〉
低融点金属には、はんだ、ろう等を用いる。例えば、はんだとしては、Sn−Pb合金、Bi−Inを添加した低融点はんだ、Ag,Sb,Cu添加はんだなどが挙げられる。
低融点金属の使用量は多過ぎると負極材料量が減少し、放電容量が小さくなる虞があり、少な過ぎると負極材料間や負極材料と集電体間の結着力が低下し、負極として強度不足となり、負極材料の剥離等が生じる虞があるので、本発明の負極材粉末を含む負極材料に対して、通常5重量%以上、好ましくは10重量%以上、通常60重量%以下、好ましくは40重量%以下である。
〈4−4−5〉負極材料が、バインダー成分無しに集電体と一体化した構造
この構造は、バインダー成分無しに本発明の負極材を含む負極材料を活物質層として集電体上に形成してなり、通常、負極材料を集電体基板上に真空下で高速衝突させる常温衝撃固化等によりバインダー成分無しに集電体と一体化する方法により製造される。より具体的には、本発明の負極材を含む負極材料を、エアロゾルデポジション法にて、集電体上へ直接成膜する方法が挙げられる。
[2]非水電解液二次電池用電解液
本発明の非水電解液二次電池には、非水電解液として、非水溶媒中にリチウム塩が溶解され、また、フッ素を含有するエステル化合物(以下において、「含フッ素エステル」と称す場合がある。)を含有する本発明の非水電解液を用いる。
[2−1]含フッ素エステル
本発明にかかる含フッ素エステルは、フッ素原子を1つ以上含有する各種酸エステル化合物であれば、特に限定されない。
エステル化合物の例としては、炭酸エステル、カルボン酸エステル、ホウ酸エステル、リン酸エステル、亜リン酸エステル、ホスフィン酸エステル、亜ホスフィン酸エステル、ホスホン酸エステル、亜ホスホン酸エステル、硝酸エステル、亜硝酸エステル、硫酸エステル、亜硫酸エステル、スルホン酸エステル、スルフィン酸エステルなどが挙げられる。
これらの中でも、その安定性から、炭酸エステル、カルボン酸エステル、リン酸エステル、ホスホン酸エステル、ホスフィン酸エステル、硫酸エステル、亜硫酸エステル、スルホン酸エステルが好ましい。
これらの中でも、さらに炭酸エステル、カルボン酸エステルが好ましく、炭酸エステルが最も好ましい。
含フッ素エステルの詳細な構造については、特に限定はされないが、その電気化学的な安定性・反応性や生成する保護皮膜層の安定性から、アリール基又はアリール基を置換基として有しない、他の置換基を有しても良い鎖状又は環状の飽和又は不飽和のアルキル基とエステル構造部位とから構成される環状又は鎖状のエステル化合物である事が好ましい。
環状炭酸エステルを構成する環構造としては、炭素数2〜5で、環を構成する元素数5〜7の環構造であることが好ましい。具体的には、1,3−ジオキソラン−2−オン骨格、1,3−ジオキセン−2−オン骨格、1,3−ジオキサン−2−オン骨格、2,6−ジヒドロ−1,3−ジオキシン−2−オン骨格、1,5−ジオキセパン−2−オン骨格、2,6,7−トリヒドロ−1,3−ジオキセピン−2−オン骨格、2,4,7−トリヒドロ−1,3−ジオキセピン−2−オン骨格、1,3−ジオキセピン−2−オン骨格、オキソラン−2−オン骨格、2,3−ジヒドロオキソール−2−オン骨格、2,5−ジヒドロオキソール−2−オン骨格、などが挙げられる。これらの中でも、その安定性から1,3−ジオキソラン−2−オン骨格が好ましい。
これらの骨格は各種置換基を有しても有しなくとも良いが、フッ素、或いは無置換又はフッ素で置換された鎖状炭化水素基以外の置換基が無い方が好ましく、さらにはその骨格となる環状エステル部位の炭素に直接フッ素が結合している事が好ましい。すなわち、下記一般式(I)で表される構造であることが好ましい。
Figure 2007188873
(式(I)において、Xは、水素又は各種置換基を表し、2n個のXのうちの1つ以上がフッ素である。nは2以上、好ましくは2〜5の整数を表す。)
これらの中でも、その安定性から先に述べた1,3−ジオキソラン−2−オン骨格が最も好ましく、その具体例としては、無置換又は、無置換又はフッ素で置換された鎖状炭化水素基で置換された4−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4−ジフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,5−ジフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4,5−トリフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4,5,5−テトラフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オンが好ましい。これらが置換基として有する鎖状炭化水素基としては、無置換又はフッ素で置換された、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アルカジエル基等が挙げられる。具体的には、例えば、メチル、エチル、n−プロピル、i−プロピル、n−ブチル、i−ブチル、s−ブチル、t−ブチル等の飽和鎖状炭化水素基、ビニル、1−プロペニル、アリル、i−プロペニル、1−ブテニル、2−ブテニル、3−ブテニル、1−メチル−1−プロペニル、2−メチル−1−プロペニル、1−エチルビニル、1−メチルアリル、2−メチルアリル、1,2−プロパジエニル、1,2−ブタジエニル、1,3−ブタジエニル、2,3−ブタジエニル、1−ビニルビニル、エチニル、1−プロピニル、2−プロピニル、1−ブチニル、2−ブチニル、3−ブチニル、2−ペンテン−4−イニル−等の不飽和鎖状炭化水素基が挙げられる。これらの中でも、メチル、エチル、n−プロピル、n−ブチル、ビニル、アリルが好ましく、メチル、エチルがさらに好ましい。
これらの組み合わせから、前記一般式(I)で表される環状炭酸エステルの具体例としては、4−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4−ジフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,5−ジフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4,5−トリフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4,5,5−テトラフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−4−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−4,5−ジメチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−5,5−ジメチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−4,5,5−トリメチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4−ジフルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4−ジフルオロ−5,5−ジメチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,5−ジフルオロ−4−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,5−ジフルオロ−4,5−ジメチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4,5−トリフルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−エチル−4−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−エチル−5−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,5−ジエチル−4−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4−ジエチル−5−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4,5−トリエチル−5−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−エチル−4,5−ジフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−エチル−5,5−ジフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4−ジエチル−5,5−ジフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,5−ジエチル−4,5−ジフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−エチル−4,5,5−トリフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−エチル−4−フルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−エチル−5−フルオロ−4−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−エチル−5−フルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4−ジエチル−5−フルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,5−ジエチル−5−フルオロ−4−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,5−ジエチル−4−フルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−エチル−5−フルオロ−4,5−ジメチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−エチル−4−フルオロ−5,5−ジメチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−エチル−5,5−ジフルオロ−4−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−エチル−4,5−ジフルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−4−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4−ジフルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,5−ジフルオロ−4−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−4−(フルオロメチル)−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4−ジフルオロ−5−(フルオロメチル)−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,5−ジフルオロ−4−(トリフルオロメチル)−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−4−(トリフルオロメチル)−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,4−ジフルオロ−5−(トリフルオロメチル)−1,3−ジオキソラン−2−オン、4,5−ジフルオロ−4−(トリフルオロメチル)−1,3−ジオキソラン−2−オンなどが挙げられるが、この中でも4−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−4−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オン、4−フルオロ−5−メチル−1,3−ジオキソラン−2−オンが好ましく、さらに4−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オンが最も好ましい。
鎖状炭酸エステルの飽和又は不飽和の炭化水素基としては、炭素数1〜4の鎖状の飽和又は不飽和の、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アルカジエル基等の炭化水素基が好ましく、具体的には、メチル、エチル、n−プロピル、i−プロピル、n−ブチル、i−ブチル、s−ブチル、t−ブチル等の飽和鎖状炭化水素基、ビニル、1−プロペニル、アリル、i−プロペニル、1−ブテニル、2−ブテニル、3−ブテニル、1−メチル−1−プロペニル、2−メチル−1−プロペニル、1−エチルビニル、1−メチルアリル、2−メチルアリル、1,2−プロパジエニル、1,2−ブタジエニル、1,3−ブタジエニル、2,3−ブタジエニル、1−ビニルビニル、エチニル、1−プロピニル、2−プロピニル、1−ブチニル、2−ブチニル、3−ブチニル、2−ペンテン−4−イニル−等の不飽和鎖状炭化水素基が挙げられる。これらの中でも、メチル、エチル、n−プロピル、n−ブチル、ビニル、アリルが好ましく、メチル、エチルがさらに好ましい。
これらの鎖状炭化水素基を持つ鎖状炭酸エステルの中でも、一般式(II)で表される化合物がより好ましい。
Figure 2007188873
(式(II)において、mは1〜3の整数を表し、Rは無置換又はフッ素で置換された鎖状炭化水素基を表す。)
上記式(II)中のRとしては、好ましくは炭素数1〜4の、無置換又はフッ素で置換された、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アルカジエル基等の鎖状炭化水素基、具体的には、メチル、フルオロメチル、トリフルオロメチル、エチル、1−フルオロエチル、2−フルオロエチル、2,2−ジフルオロエチル、2,2,2−トリフルオロエチル、n−プロピル、1−フルオロ−n−プロピル、2−フルオロ−n−プロピル、3−フルオロ−n−プロピル、3,3,3−トリフルオロ−n−プロピル、i−プロピル、1−フルオロ−i−プロピル等が挙げられるが、好ましくは、メチル、エチル、2−フルオロエチル、2,2−ジフルオロエチル、2,2,2−トリフルオロエチルが好ましい。
これらの組み合わせから、前記一般式(II)で表される鎖状炭酸エステルの具体例としては、2−フルオロエチルメチルカーボネート、エチル−2−フルオロエチルカーボネート、2,2−ジフルオロエチルメチルカーボネート、エチル−2,2−ジフルオロエチルカーボネート、2,2,2−トリフルオロエチルメチルカーボネート、エチル−2,2,2−トリフルオロエチルカーボネート、ビス−(2−フルオロエチル)カーボネート、ビス−(2,2−ジフルオロエチル)カーボネート、ビス−(2,2,2−トリフルオロエチル)カーボネート、2−フルオロエチル−2’,2’−ジフルオロエチルカーボネート、2−フルオロエチル−2’,2’,2’−トリフルオロエチルカーボネート、2,2−ジフルオロエチル−2’,2’,2’−トリフルオロエチルカーボネートが挙げられるが、これらの中でも、アルキル基の導入の容易さ、炭酸エステルの製造の容易さから、2−フルオロエチルメチルカーボネート、エチル−2−フルオロエチルカーボネート、2,2,2−トリフルオロエチルメチルカーボネート、エチル−2,2,2−トリフルオロエチルカーボネート、ビス−(2−フルオロエチル)カーボネート、ビス−(2,2,2−トリフルオロエチル)カーボネートがより好ましい。
これら含フッ素エステルの分子量に制限は無く、本発明の効果を著しく損なわない限り任意であるが、通常100以上である。また、分子量の上限に特に制限は無いが、通常300以下、好ましくは200以下が実用的である。
これらの含フッ素エステルは、本発明に係る非水電解液中に、1種を単独で用いてもよく、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。
本発明の非水電解液中の含フッ素エステルの含有量に制限は無く、本発明の効果を著しく損なわない限り任意であるが、含フッ素エステルの含有量が少なすぎると含フッ素エステルを使用したことによる十分な効果が得られない虞があるため、リチウム塩を除いた非水電解液の質量に対して、含フッ素エステルを通常2質量%以上、好ましくは5質量%以上、より好ましくは10質量%以上含有させるようにする。また、含フッ素エステルの含有量が多すぎると含フッ素エステルが過剰に反応して容量の減少が起こる虞があるため、含フッ素エステルの含有量は、通常80質量%以下、好ましくは65質量%以下、より好ましくは40質量%以下にする。
なお、含フッ素エステルの製造方法に制限は無く、公知の方法を任意に用いることができる。
[2−2]非水溶媒
本発明の非水電解液が含有し得る非水溶媒としては、本発明の効果を著しく損なわない範囲において、任意のものを用いることができる。また、非水溶媒は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。
本発明の非水電解液に用いて好適な非水溶媒の例としては、環状カーボネート、鎖状カーボネート、ラクトン化合物(環状カルボン酸エステル)、鎖状カルボン酸エステル、環状エーテル、鎖状エーテルなどが挙げられる。また、これらのうちでも、特に、それぞれ総炭素数が3〜9の範囲にあるものがより好ましい。
総炭素数が3〜9の範囲にある環状カーボネートとしては、例えば、エチレンカーボネート、プロピレンカーボネート、ブチレンカーボネート、ビニレンカーボネート、ビニルエチレンカーボネート等を挙げることができ、特に、エチレンカーボネート、プロピレンカーボネート、ブチレンカーボネートを用いることが好ましい。
また、総炭素数が3〜9の範囲にある鎖状カーボネートとしては、例えば、ジメチルカーボネート、ジエチルカーボネート、ジ−n−プロピルカーボネート、ジイソプロピルカーボネート、n−プロピルイソプロピルカーボネート、ジ−n−ブチルカーボネート、ジ−i−プロピルカーボネート、ジ−t−ブチルカーボネート、n−ブチル−i−ブチルカーボネート、n−ブチル−t−ブチルカーボネート、i−ブチル−t−ブチルカーボネート、エチルメチルカーボネート、メチル−n−プロピルカーボネート、n−ブチルメチルカーボネート、i−ブチルメチルカーボネート、t−ブチルメチルカーボネート、エチル−n−プロピルカーボネート、n−ブチルエチルカーボネート、i−ブチルエチルカーボネート、t−ブチルエチルカーボネート、n−ブチル−n−プロピルカーボネート、i−ブチル−n−プロピルカーボネート、t−ブチル−n−プロピルカーボネート、n−ブチル−i−プロピルカーボネート、i−ブチル−i−プロピルカーボネート、t−ブチル−i−プロピルカーボネート等を挙げることができ、特に、ジメチルカーボネート、ジエチルカーボネート、エチルメチルカーボネートを用いることが好ましい。
さらに、総炭素数が3〜9の範囲にあるラクトン化合物としては、例えば、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン、δ−バレロラクトン等を挙げることができ、特に、γ−ブチロラクトンを用いることが好ましい。
また、総炭素数が3〜9の範囲にある鎖状カルボン酸エステルとしては、例えば、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸−n−プロピル、酢酸−i−プロピル、酢酸−n−ブチル、酢酸−i−ブチル、酢酸−t−ブチル、プロピオン酸メチル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸−n−プロピル、プロピオン酸−i−プロピル、プロピオン酸−n−ブチル、プロピオン酸−i−ブチル、プロピオン酸−t−ブチル等を挙げることができ、特に、酢酸エチル、プロピオン酸メチル、プロピオン酸エチルを用いることが好ましい。
さらに、総炭素数が3〜9の範囲にある環状エーテルとしては、例えば、テトラヒドロフラン、2−メチルテトラヒドロフラン、1,3−ジオキソラン、1,3−ジオキサン、1,4−ジオキサン等が挙げられる。
また、総炭素数が3〜9の範囲にある鎖状エーテルとしては、例えば、ジメトキシメタン、ジメトキシエタン、ジエトキシメタン、ジエトキシエタン、エトキシメトキシメタン、エトキシメトキシエタン等を挙げることができ、特に、ジメトキシエタン、ジエトキシエタンを用いることが好ましい。
ここで、上記の含フッ素エステルと、上述した総炭素数が3〜9の範囲にある環状カーボネート、鎖状カーボネート、ラクトン化合物(環状カルボン酸エステル)、鎖状カルボン酸エステル、環状エーテル及び鎖状エーテルからなる群より選ばれる非水溶媒との合計質量を、リチウム塩を除いた非水電解液の質量に対して、通常70質量%以上、好ましくは80質量%以上、より好ましくは90質量%以上にすると、非水電解液におけるリチウムイオン伝導性や安定性が向上し、非水電解液二次電池に使用した場合に電池特性が向上するため、好ましい。なお、環状カーボネート、鎖状カーボネート、ラクトン化合物(環状カルボン酸エステル)、鎖状カルボン酸エステル、環状エーテル及び鎖状エーテルのうち2種以上の溶媒を用いる場合は、それらの溶媒の質量の和と含フッ素エステルとの合計質量が、上記の範囲となるようにする。
さらに、非水電解液においては、リチウム塩を除いた非水電解液の質量に対して、総炭素数がそれぞれ3〜9の範囲にある環状カーボネートとラクトン化合物との合計質量は、通常2質量%以上、好ましくは10質量%以上、より好ましくは20質量%以上であることが望ましい。含フッ素エステルや鎖状カーボネートは低誘電率溶媒であり、また、環状カーボネートやラクトン化合物は高誘電率溶媒であるため、これらを適切な割合で併用することにより、リチウムイオン伝導性や安定性を改善し、本発明の非水電解液二次電池の電池特性のバランスを、より向上させることが可能となる。
[2−3]リチウム塩
リチウム塩は本発明の非水電解液において電解質として用いられるものである。このリチウム塩に制限は無く、本発明の効果を著しく損なわない限り任意のものを用いることができる。通常は、リチウム塩としては、一般に非水電解液に使用されている無機又は有機のリチウム塩を用いるようにする。
無機リチウム塩としては、例えば、LiBF、LiPF、LiAsF、LiAlF等の無機フッ化物塩、LiClO、LiBrO、LiIO等の過ハロゲン酸塩などが挙げられる。
また、有機リチウム塩としては、例えば、LiCFSO等の有機スルホン酸塩、LiN(CFSO、LiN(CSO、LiN(CFSO)(CSO)等のパーフルオロアルキルスルホン酸イミド塩、LiC(CFSO等のパーフルオロアルキルスルホン酸メチド塩、LiPF(CF、LiPF(C、LiPF(C、LiB(CF、LiBF(CF、LiBF(CF、LiBF(CF)、LiB(C、LiBF(C、LiBF(C、LiBF(C)等のフッ素原子の一部をパーフルオロアルキル基で置換した無機フッ化物塩等の含フッ素有機リチウム塩などが挙げられる。
リチウム塩としては、中でも、LiBF、LiPF、LiN(CFSO、LiN(CSO、LiN(CFSO)(CSO)、LiPF(CF、LiPF(C、LiBF(Cを用いることが好ましい。
なお、これらのリチウム塩は1種を単独で用いてもよく、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。
特に、リチウム塩としてLiBFやLiPFを用いると、電気化学的安定性が高く、広い温度範囲で高い電気伝導率を有する優れた非水電解液が得られるようになるため、より好ましい。このようにLiBFやLiPFによる上記のような効果が十分に得られるようにするためには、非水電解液における総リチウム塩中に、LiBF及びLiPFを、通常5mol%以上、好ましくは30mol%以上含有するようにすることが望ましい。
また、非水電解液中におけるリチウム塩の濃度は、本発明の効果を著しく損なわない限り任意である。ただし、非水電解液中におけるリチウム塩の濃度が低すぎると非水電解液における電気伝導率が悪くなる虞がある。一方、リチウム塩の濃度が高すぎると非水電解液の粘度が上昇して電気伝導率が低下し、また、低温でリチウム塩が析出して非水電解液二次電池の性能が低下する虞がある。したがって、非水電解液中におけるリチウム塩の濃度は、通常0.1mol/L以上、好ましくは0.3mol/L以上、より好ましくは0.5mol/L以上、また、通常3mol/L以下、好ましくは2.5mol/L以下、より好ましくは2mol/L以下の範囲にすることが望ましい。
[2−4]添加剤
本発明の非水電解液は、本発明の効果を著しく損なわない範囲において、各種の添加剤を含有していることが好ましい。この添加剤としては、従来公知のものを任意に用いることができ、また、1種を単独で用いてもよく、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。添加剤の例としては、過充電防止剤や、高温保存後の容量維持特性やサイクル特性を改善するための助剤などが挙げられる。
過充電防止剤としては、例えば、ビフェニル、アルキルビフェニル、ターフェニル、ターフェニルの部分水素化体、シクロヘキシルベンゼン、t−ブチルベンゼン、t−アミルベンゼン、ジフェニルエーテル、ジベンゾフラン等の芳香族化合物;2−フルオロビフェニル、o−シクロヘキシルフルオロベンゼン、p−シクロヘキシルフルオロベンゼン等の前記芳香族化合物の部分フッ素化物;2,4−ジフルオロアニソール、2,5−ジフルオロアニソール、2,6−ジフルオロアニオール等の含フッ素アニソール化合物などが挙げられる。
なお、過充電防止剤は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。
また、非水電解液が過充電防止剤を含有する場合、その濃度は本発明の効果を著しく損なわない限り任意であるが、非水電解液全体に対して0.01質量以上、好ましくは0.05質量%以上、より好ましくは0.1質量%以上、また、通常20質量%以下、好ましくは10質量%以下、より好ましくは5質量%以下だけ含有させることが望ましい。
非水電解液に過充電防止剤を含有させることは、過充電による非水電解液二次電池の破裂・発火を抑制することができ、非水電解液二次電池の安全性が向上するので好ましい。
一方、高温保存後の容量維持特性やサイクル特性を改善するための助剤としては、例えば、ビニレンカーボネート、ビニルエチレンカーボネート、フェニルエチレンカーボネート、エリスリタンカーボネート、スピロービスージメチレンカーボネート等の特定カーボネートに該当するもの以外のカーボネート化合物;無水コハク酸、無水グルタル酸、無水マレイン酸、無水シトラコン酸、無水グルタコン酸、無水イタコン酸、無水ジグリコール酸、シクロヘキサンジカルボン酸無水物、シクロペンタンテトラカルボン酸二無水物、フェニルコハク酸無水物等のカルボン酸無水物;エチレンサルファイト、1,4−プロパンスルトン、1,4−ブタンスルトン、メタンスルホン酸メチル、ブスルファン、スルホラン、スルホレン、ジメチルスルホン、ジフェニルスルホン、メチルフェニルスルホン、ジブチルジスルフィド、ジシクロヘキシルジスルフィド、テトラメチルチウラムモノスルフィド、N,N−ジメチルメタンスルホンアミド及びN,N−ジエチルメタンスルホンアミド等の含硫黄化合物;1−メチル−2−ピロリジノン、1−メチル−2−ピペリドン、3−メチル−2−オキサゾリジノン、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン、N−メチルスクシイミド等の含窒素化合物;ヘプタン、オクタン、シクロヘプタン等の炭化水素化合物、フルオロベンゼン、ジフルオロベンゼン、ベンゾトリフルオライド等の含フッ素芳香族化合物などが挙げられる。
これらの中でも、ビニレンカーボネート、ビニルエチレンカーボネート、エチレンサルファイトがより好ましい。
なお、これらの助剤は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。
また、非水電解液がこれらの助剤を含有する場合、その濃度は本発明の効果を著しく損なわない限り任意であるが、非水電解液全体に対して通常0.01質量以上、好ましくは0.05質量%以上、より好ましくは0.1質量%以上、また、通常20質量%以下、好ましくは10質量%以下、より好ましくは5質量%以下だけ含有させることが望ましい。
[3]非水電解液二次電池を構成する他の部材
本発明の非水電解液二次電池を構成する正極、セパレータ等の電池構成上必要な、負極と非水電解液以外の部材の選択については特に制限されない。
以下において、本発明の非水電解液二次電池を構成する負極と非水電解液以外の部材の材料等を例示するが、使用し得る材料はこれらの具体例に限定されるものではない。
[3−1]正極
正極は、集電体基板上に、正極活物質と、結着及び増粘効果を有する有機物(結着剤)を含有する活物質層を形成してなり、通常、正極活物質と結着及び増粘効果を有する有機物を水あるいは有機溶媒中に分散させたスラリー状のものを、集電体基板上に薄く塗布・乾燥する工程、続いて所定の厚み・密度まで圧密するプレス工程により形成される。
正極活物質材料には、リチウムを吸蔵・放出できる機能を有している限り特に制限はないが、例えば、リチウムコバルト酸化物、リチウムニッケル酸化物、リチウムマンガン酸化物等のリチウム遷移金属複合酸化物材料;二酸化マンガン等の遷移金属酸化物材料;フッ化黒鉛等の炭素質材料などを使用することができる。具体的には、LiFeO、LiCoO、LiNiO、LiMn及びこれらの非定比化合物、MnO、TiS、FeS、Nb、Mo、CoS、V、P、CrO、V、TeO、GeO等を用いることができる。これらは1種を単独で用いても良く、2種以上を併用しても良い。
正極活物質層には、正極用導電剤を用いることができる。正極用導電剤は、用いる正極活物質材料の充放電電位において、化学変化を起こさない電子伝導性材料であれば何でも良い。例えば、天然黒鉛(鱗片状黒鉛など)、人造黒鉛などのグラファイト類、アセチレンブラック、ケッチェンブラック、チャンネルブラック、ファーネスブラック、ランプブラック、サーマルブラック等のカ−ボンブラック類、炭素繊維、金属繊維などの導電性繊維類、フッ化カーボン、アルミニウム等の金属粉末類、酸化亜鉛、チタン酸カリウムなどの導電性ウィスカー類、酸化チタンなどの導電性金属酸化物あるいはポリフェニレン誘導体などの有機導電性材料などを単独又はこれらの混合物として含ませることができる。これらの導電剤のなかで、人造黒鉛、アセチレンブラックが特に好ましい。
導電剤の添加量は、特に限定されないが、正極活物質材料に対して1〜50質量%が好ましく、特に1〜30質量%が好ましい。カーボンやグラファイトでは、正極活物質材料に対して2〜15質量%が特に好ましい。
正極活物質層の形成に用いられる結着及び増粘効果を有する有機物としては、特に制限はなく、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂のいずれであっても良い。例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)、スチレンブタジエンゴム、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロエチレン共重合体、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体(FEP)、テトラフルオロエチレン−パーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体(PFA)、フッ化ビニリデン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体、フッ化ビニリデン−クロロトリフルオロエチレン共重合体、エチレン−テトラフルオロエチレン共重合体(ETFE樹脂)、ポリクロロトリフルオロエチレン(PCTFE)、フッ化ビニリデン−ペンタフルオロプロピレン共重合体、プロピレン−テトラフルオロエチレン共重合体、エチレン−クロロトリフルオロエチレン共重合体(ECTFE)、フッ化ビニリデン−ヘキサフルオロプロピレン−テトラフルオロエチレン共重合体、フッ化ビニリデン−パーフルオロメチルビニルエーテル−テトラフルオロエチレン共重合体、エチレン−アクリル酸共重合体又は前記材料の(Na)イオン架橋体、エチレン−メタクリル酸共重合体又は前記材料の(Na)イオン架橋体、エチレン−アクリル酸メチル共重合体又は前記材料の(Na)イオン架橋体、エチレン−メタクリル酸メチル共重合体又は前記材料の(Na)イオン架橋体を挙げることができ、これらの材料を単独又は混合物として用いることができる。これらの材料の中でより好ましい材料はポリフッ化ビニリデン(PVDF)、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)である。
正極活物質層には、前述の導電剤の他、更にフィラー、分散剤、イオン伝導体、圧力増強剤及びその他の各種添加剤を配合することができる。フィラーは、構成された電池において、化学変化を起こさない繊維状材料であれば何でも用いることができる。通常、ポリプロピレン、ポリエチレンなどのオレフィン系ポリマー、ガラス、炭素などの繊維が用いられる。フィラーの添加量は特に限定されないが、活物質層中の含有量として0〜30重量%が好ましい。
正極活物質スラリーの調製には、水系溶媒又は有機溶媒が分散媒として用いられる。水系溶媒としては、通常、水が用いられるが、これにエタノール等のアルコール類、N−メチルピロリドン等の環状アミド類等の添加剤を水に対して、30質量%以下程度まで添加することもできる。
また、有機溶媒としては、通常、N−メチルピロリドン等の環状アミド類、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド等の直鎖状アミド類、アニソール、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、ブタノール、シクロヘキサノール等のアルコール類が挙げられ、中でも、N−メチルピロリドン等の環状アミド類、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド等の直鎖状アミド類等が好ましい。これらは1種を単独で用いても良く、2種以上を併用しても良い。
正極活物質、結着剤である結着及び増粘効果を有する有機物及び必要に応じて配合される正極用導電剤、その他フィラー等をこれらの溶媒に混合して正極活物質スラリーを調製し、これを正極用集電体基板に所定の厚みとなるように塗布することにより正極活物質層が形成される。
なお、この正極活物質スラリー中の正極活物質の濃度の上限は通常70質量%以下、好ましくは55質量%以下であり、下限は通常30質量%以上、好ましくは40質量%以上である。正極活物質の濃度がこの上限を超えると正極活物質スラリー中の正極活物質が凝集しやすくなり、下限を下回ると正極活物質スラリーの保存中に正極活物質が沈降しやすくなる。
また、正極活物質スラリー中の結着剤の濃度の上限は通常30質量%以下、好ましくは10質量%以下であり、下限は通常0.1質量%以上、好ましくは0.5質量以上である。結着剤の濃度がこの上限を超えると得られる正極の内部抵抗が大きくなり、下限を下回ると正極活物質層の結着性に劣るものとなる。
正極用集電体基板には、例えば、電解液中での陽極酸化によって表面に不動態皮膜を形成する弁金属又はその合金を用いるのが好ましい。弁金属としては、周期表4族、5族、13族に属する金属及びこれらの合金を例示することができる。具体的には、Al、Ti、Zr、Hf、Nb、Ta及びこれらの金属を含む合金などを例示することができ、Al、Ti、Ta及びこれらの金属を含む合金を好ましく使用することができる。特にAl及びその合金は軽量であるためエネルギー密度が高くて望ましい。正極用集電体基板の厚みは特に限定されないが通常1〜50μm程度である。
[3−2]セパレータ
本発明の非水電解液二次電池においては、適宜、セパレータを用いるようにする。セパレータの形状や構造に制限は無く、公知のものを任意に用いることができる。中でも、非水電解液に対して安定で、保液性の優れた材料で構成されたものを用いることが好ましい。例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィンで構成された多孔性シートや不織布等を用いることが好ましい。
[3−3]形状
本発明の非水電解液二次電池の形状は特に制限されず、例えば、シート電極及びセパレータをスパイラル状にしたシリンダータイプ、ペレット電極及びセパレータを組み合わせたインサイドアウト構造のシリンダータイプ、ペレット電極及びセパレータを積層したコインタイプ等にすることができる。
[3−4]製造方法
非水電解液、負極及び正極を少なくとも有する本発明の非水電解液二次電池を製造する方法は、特に限定されず通常採用されている方法の中から適宜選択することができる。
本発明の非水電解液二次電池の製造方法の一例を挙げると、外缶上に負極を乗せ、その上に電解液とセパレータを設け、さらに負極と対向するように正極を乗せて、ガスケット、封口板と共にかしめて電池を組み立てる方法が挙げられる。
次に実施例により本発明を更に詳細に説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、これらの実施例によって何ら限定されるものではない。
なお、以下において、負極製造用の集電体基板としては、成膜面の平均表面粗さ(Ra)が0.3μm、引張強度が400N/mm、0.2%耐力が380N/mmで、厚さが18μmである、一方の面が成膜面として粗面化された圧延銅箔(以下「圧延銅箔A」と称す。)を用いた。
また、特に、後述のサイクル特性(B)評価用の負極の製造には、集電体基板として圧延銅箔Aの代りに、両面が粗面化されている圧延銅箔(以下「圧延銅箔B」と称す。)を用いた。この圧延銅箔Bは、両面が成膜面として平均表面粗さ(Ra)が0.3μmに粗面化されていること以外は、圧延銅箔Aと同様の物性及び厚さを有する。
[実施例1]
ターゲット材として、SiとCの混合物(原子比でSi:C=1:0.3)を用い、集電体基板として圧延銅箔Aを用い、RFスパッタ装置(徳田製作所社製「CFS−4ES」)にて成膜を行ない、集電体基板上に薄膜状負極材が形成された負極(以下「薄膜負極A」と称す。)を得た。
この時、圧延銅箔Aは水冷されたホルダーに取り付け、約25℃に維持し、チャンバーを予め2×10-3Paまで真空引き後、チャンバー内に高純度アルゴンガスを流して圧力を0.67Paの雰囲気としてから、電力密度8.8W/cmで90分間成膜を行った。このスパッタガスの酸素濃度は0.001%程度であった。
なお、成膜前に圧延銅箔A表面の酸化膜を除去する目的で逆スパッタを行い、基板表面のエッチングをした。
また、後述のサイクル特性(B)評価のために、圧延銅箔Aの代わりに圧延銅箔Bを用い、上記と同様の成膜を一方の面に施した後、圧延銅箔Bを裏返して更に他方の面に同様の成膜を行い、集電体基板の両面に薄膜状負極材が形成された負極(以下「薄膜負極B」と称す。)を製造した。
得られた薄膜負極A,Bの負極材の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)観察から、成膜された負極材の膜厚は6μmであった(図1(a)参照)。また、下記の方法に従ってXPSにて負極材の組成分析をしたところ、膜中に元素Cは24原子%含有されており、SiC中の元素C濃度に対するC濃度比Q(C)は0.49に相当した。また、原子濃度比で表すとSi/C/O=1.00/0.33/0.04であった。また、下記の方法に従ってラマン測定にて負極材のラマン値を求めたところ、RC=0.05、RSC=scピーク検出されず、RS=0.55であった。更にまた、下記の方法に従って負極材のX線回折測定を行ったところ、SiCの明確なピークは検出されずXIsz=0.38であった。
更に、下記の方法に従って電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)にて、負極材中の元素Cの分布を測定したところ、図1(c)に示すように、Si中に元素Cは1μm以下の大きさで均一に分布していた。
〈XPS測定〉
X線光電子分光法測定としては、X線光電子分光器(アルバック・ファイ社製「ESCA」)を用い、負極材(負極)の表面が平坦になるように試料台に載せ、アルミニウムのKα線をX線源とし、Arスパッタを行いながらデプスプロファイル測定を実施した。濃度一定になった深さ(例えば、200nm)での、Si2p(90〜110eV)とC1s(280〜300eV)とO1s(525〜545eV)のスペクトルを得た。得られたC1sのピークトップを284.5eVとして帯電補正し、Si2p、C1s、O1sのスペクトルのピーク面積を求め、更に装置感度係数を掛けて、Si、C、Oの原子濃度をそれぞれ算出した。得られたそのSiとCとOの原子濃度から、原始濃度比Si/C/O(Si原子濃度/C原子濃度/O原子濃度)を算出し、負極材の組成値Si/C/Oと定義する。
〈ラマン測定〉
ラマン測定としては、ラマン分光器(日本分光社製「ラマン分光器」)を用い、負極材(負極)を測定セルへセットし、測定はセル内のサンプル表面にアルゴンイオンレーザー光を照射させながら行った。
なお、ここでのラマン測定条件は次のとおりである。
アルゴンイオンレーザー波長:514.5nm
試料上のレーザーパワー:15〜40mW
分解能:10〜20cm−1
測定範囲:200cm−1〜1900cm−1
スムージング処理:単純平均、コンボリューション15ポイント
〈X線回折測定〉
X線回折測定としては、リガク社製「RINT2000PC」を用い、負極材(負極)を測定セルへセットし、Out-of-Plane法にて、2θ=10〜70度の範囲の測定を行った。バックグラウンドの補正は、2θ=15〜20度付近と、40〜45度付近を直線で結び行った。
〈EPMA測定〉
EPMAによる薄膜断面の分布分析としては、電子プローブマイクロアナライザー(JEOL社製「JXA−8100」)を用い、樹脂包埋を行わずにミクロトームで断面作成した負極材(負極)について、集電体から負極材表面までの元素分析を行った。
上記で製造された負極を用いて、下記の方法に従ってリチウム二次電池を作製し、この電池について、下記方法で放電容量(A)、充放電効率(A)、サイクル維持率(B)、200サイクル(B)時充放電効率、サイクル(B)後の電極膨張率の評価を行い、結果を表2に示した。
〈コイン型リチウム二次電池作製方法〉
上記方法で作製した集電体の片面に薄膜状負極材が形成されている薄膜負極Aを10mmφに打ち抜き、110℃で真空乾燥した後、グローブボックスへ移し、アルゴン雰囲気下で、電解液として4−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン(モノフルオロエチレンカーボネート)/ジエチルカーボネート(DEC)=4/6(質量比)の混合液を溶媒とした1mol/L−LiPF電解液と、セパレータとしてポリエチレンセパレータと、対極としてリチウムコバルト酸化物正極とを用い、コイン型電池(リチウム二次電池)を作製した。
(放電容量(A)評価)
1.23mA/cmの電流密度でリチウム対極に対して10mVまで充電し、更に、10mVの一定電圧で電流値が0.123mAになるまで充電し、負極中にリチウムをドープした後、1.23mA/cmの電流密度でリチウム対極に対して1.5Vまで放電を行なう充放電サイクルを5サイクル繰り返し、3〜5サイクル目の放電の平均値を放電容量とした。また、質量当りの放電容量とする場合は、負極材の活物質質量は負極質量から同面積に打ち抜いた銅箔の質量を差し引くことで求め、以下に従って計算した。
放電容量(mAh/g)
=3〜5サイクル目の平均放電容量(mAh)/活物質質量(g)
活物質質量(g)=負極質量(g)−同面積の銅箔質量(g)
(充放電効率(A)評価)
放電容量の測定時に、以下に従って計算した。
充放電効率(%)={初回放電容量(mAh)/初回充電容量(mAh)}×100
〈アルミラミネート型リチウム二次電池作製方法〉
上記方法で作製した集電体の両面に薄膜負極材が形成されている薄膜負極Bを30mm×40mmの大きさに切り抜き、85℃で真空乾燥した後、ドライルームに移し、乾燥空気雰囲気下で、電解液として4−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン(モノフルオロエチレンカーボネート)/ジエチルカーボネート(DEC)=4/6(質量比)の混合液を溶媒とした1mol/L−LiPF電解液と、セパレータとしてポリエチレンセパレータと、対極としてリチウムコバルト酸化物正極とを用い、前記負極が2枚の正極に挟まれているアルミラミネート型電池(リチウム二次電池)を作製した。
(サイクル維持率(B)評価)
0.2C(1C=80mA)の電流密度でリチウムコバルト正極に対して4.2Vまで充電し、更に、4.2Vの一定電圧で電流値が2mAになるまで充電し、負極中にリチウムをドープした後、0.2Cの電流密度でリチウムコバルト正極に対して3Vまで放電を行う充放電サイクルを4回繰り返して電池容量を安定化させ、続いて0.7Cの電流密度でリチウムコバルト正極に対して4.2Vまで充電し、更に、4.2Vの一定電圧で電流値が7mAになるまで充電し、負極中にリチウムをドープした後、1Cの電流密度でリチウムコバルト正極に対して3Vまで放電を行う充放電サイクルを200回繰り返し、以下に従ってサイクル維持率(B)を計算した。
サイクル維持率(B)(%)
={200サイクル後の放電容量(mAh)
/安定化後の5サイクル目の放電容量(mAh)}×100
(200サイクル(B)時充放電効率評価)
上述のサイクル維持率(B)の測定方法に従い、この充放電サイクルを200回繰り返し、200サイクル時(B)の充放電効率を計算した。
200サイクル時(B)の充放電効率(%)
={200回時の放電容量(mAh)/200回時の充電容量(mAh)}×100
(サイクル(B)後の電極膨張率測定)
上述のサイクル維持率(B)の測定後(200サイクル後)、放電状態のラミネート型電池をアルゴングローブボックス中で短絡させないように解体し、電極を取り出して、脱水したジメチルエーテル溶媒で洗浄、乾燥後、SEM観察にてサイクル後放電時の電極の厚み(銅箔除く)を測定した。電池作製前の電極の厚み(銅箔除く)を基準として、次式に基づいてサイクル(B)後の電極膨張率を求めた。
サイクル(B)後の電極膨張率(倍)
=(サイクル(B)後の電極厚み/充放電前の電極厚み)
また、下記の方法に従って、上述の放電容量(A)の測定後、更に45サイクルして負極を取り出し、活物質薄膜を剥離して赤外透過光測定を行ったところ、表2に示す通り、サイクル後IRsc=1.9であった。また、同様な方法で未充放電の薄膜負極について赤外透過光測定を行ったところ、IRsc=0.3であり、図2に示すように1600〜1650cm−1付近の透過は殆ど見られなかった。
〈赤外透過光測定〉
赤外分光光度計(サーモエレクトロン社製「Magna560」)を用い、充放電を行った後の薄膜負極Aから薄膜状負極材を剥離して測定セルにセットし、透過法により赤外透過光測定を行った。
なお、薄膜状負極材は、上記の放電容量(A)の測定後、更に45サイクルし、放電状態のコイン電池をアルゴングローブボックス中で短絡させないように解体し、負極を取り出して、脱水したジメチルエーテル溶媒で洗浄、乾燥後、集電体銅箔から剥離して測定に用いた。
バックグラウンドの補正は、図2に示すように、2000〜4000cm−1の範囲における最小値を結んだ直線を延長し、バックグラウンドを求め、その値を各強度から差し引くことで行った。
[実施例2]
実施例1と同じ負極を用い、電解液に4−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン(モノフルオロエチレンカーボネート)/エチレンカーボネート(EC)/ジエチルカーボネート(DEC)=2/1.8/6.2(質量比)の混合液を溶媒とした1mol/L−LiPF電解液を用いて実施例1と同様にしてコイン型電池、アルミラミネート型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。
[実施例3]
実施例1と同じ負極を用い、電解液にビス−(2,2,2−トリフルオロエチル)カーボネート/ジエチルカーボネート(DEC)=2/8(質量比)の混合液を溶媒とした1mol/L−LiPF電解液を用いて実施例1と同様にしてコイン型電池、アルミラミネート型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。
[実施例4]
ターゲット材として、SiとCの混合物(SiとCの面積比が大凡100対2の円板)を用いた以外は、実施例1と同様にして薄膜状負極材を成膜して薄膜負極A,Bを作製した。
得られた薄膜負極A,Bの負極材の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)観察から、成膜された負極材の膜厚は6μmであった。また、負極材の組成分析をしたところ、膜中に元素Cは6原子%含有されており、SiC中の元素C濃度に対するC濃度比Q(C)は0.13に相当した。また、原子濃度比でSi/C/O=1.00/0.07/0.08であった。また、負極材のラマン値を求めたところ、RC=cピーク検出されず、RSC=scピーク検出されず、RS=0.45であった。また、負極材のX線回折測定を行ったところ、SiCの明確なピークは検出されずXIsz=0.15であった。更にまた、EPMAで負極材中の元素Cの分布を測定したところ、実施例1と同様にSi中に元素Cは1μm以下の大きさで均一に分布していた。
この薄膜負極A,Bを用い、電解液に4−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン(モノフルオロエチレンカーボネート)/ジエチルカーボネート(DEC)=6/4(質量比)の混合液を溶媒とした1mol/L−LiPF電解液を用いて実施例1と同様にしてコイン型電池、アルミラミネート型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。
[実施例5]
ターゲット材としてSiを用い、チャンバー内に高純度窒素ガスを流して圧力を0.034Paとし、続いて高純度アルゴンガスを流して圧力を0.67Paの雰囲気とした以外は、実施例1と同様にして薄膜状負極材を成膜して薄膜負極A,Bを作製した。
得られた薄膜負極A,Bの負極材の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)観察から、成膜された負極材の膜厚は6μmであった。また、負極材の組成分析をしたところ、膜中に元素Nは33原子%含有されており、SiN中の元素N濃度に対するN濃度比Q(N)は0.68に相当した。また、原子濃度比でSi/N/O=1.00/0.51/0.02であった。また、負極材のラマン値を求めたところ、RS=0.72であった。また、負極材のX線回折測定を行ったところ、Siの明確なピークは検出されずXIsz=0.91であった。更にまた、EPMAで負極材中の元素Nの分布を測定したところ、実施例1と同様にSi中に元素Nは1μm以下の大きさで均一に分布していた。
この薄膜負極A,Bを用い、電解液に4−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン(モノフルオロエチレンカーボネート)/エチレンカーボネート(EC)/ジエチルカーボネート(DEC)=1.5/2.5/6(質量比)の混合液を溶媒とした1mol/L−LiPF6に、更にビニレンカーボネート(VC)を2質量%添加した電解液を用いて実施例1と同様にしてコイン型電池、アルミラミネート型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。
[実施例6]
チャンバー内に高純度窒素ガスを流した時の圧力を0.015Pa、続いて高純度アルゴンガスを流して圧力を0.67Paの雰囲気とし、成膜時間を80分間に変えた以外は、実施例5と同様にして活物質薄膜を成膜して薄膜負極A,Bを作製した。
得られた薄膜負極A,Bの負極材の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)観察から、成膜された負極材の膜厚は5μmであった。また、負極材の組成分析をしたところ、膜中に元素Nは20原子%含有されており、SiN中の元素N濃度に対するN濃度比Q(N)は0.43に相当した。また、原子濃度比でSi/N/O=1.00/0.27/0.06であった。また、負極材のラマン値を求めたところ、RS=0.57であった。また、負極材のX線回折測定を行ったところ、Siの明確なピークは検出されずXIsz=0.94であった。更にまた、EPMAで負極材中の元素Nの分布を測定したところ、実施例5と同様にSi中に元素Nは1μm以下の大きさで均一に分布していた。
この薄膜負極A,Bを用い、電解液に4−フルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン(モノフルオロエチレンカーボネート)/エチレンカーボネート(EC)/ジエチルカーボネート(DEC)=0.5/3.5/6(質量比)の混合液を溶媒とした1mol/L−LiPFに、更にビニレンカーボネート(VC)を2質量%添加した電解液を用いて実施例1と同様にしてコイン型電池、アルミラミネート型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。
[実施例7]
約20μmのSi粒子と黒鉛を重量比で8対2の割合で混合、ペレットを作成し蒸着源とし、集電体基板として圧延銅箔Aを用い、ULVAC社製「EX−400装置」にて電子ビーム加熱蒸着を行って、集電体基板上に薄膜状負極材が形成された薄膜負極Aを得た。この時、チャンバーを予め9×10−5Paまで真空引き後、エミッション電流60mAで成膜を行った。
また、上記と同様にして圧延銅箔Bを用いて薄膜負極Bを得た。
得られた薄膜負極A,Bの負極材の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)観察から、成膜された負極材の膜厚は約7μmであった。また、負極材の組成分析をしたところ、負極材中に元素Cは18原子%含有されており、SiC中の元素C濃度に対するC濃度比Q(C)は0.43に相当した。また、原子濃度比でSi/C/O=1/0.28/0.26であった。また、負極材のラマン値を求めたところ、RC=0.10、RSC=0.15、RS=0.60であった。また、負極材のX線回折測定を行ったところ、SiCの明確なピークは検出されずXIsz=0.38であった。更にまた、EPMAで負極材中の元素Cの分布を測定したところ、実施例1と同様にSi中に元素Cは1μm以下の大きさで均一に分布していた。
この薄膜負極A,Bを用いて実施例1と同様にしてコイン型電池、アルミラミネート型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。
[実施例8]
実施例1と同じ負極を用い、電解液に4,5−ジフルオロ−1,3−ジオキソラン−2−オン/ジエチルカーボネート(DEC)=2/8(重量比)の混合液を溶媒とした1mol/L−LiPF電解液を用いて実施例1と同様にしてコイン型電池、アルミラミネート型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。
[比較例1]
ターゲット材にSiを用い、成膜時間を60分間とした以外は、実施例1と同様にして薄膜状負極材を成膜して薄膜負極A,Bを作製した。
得られた薄膜負極A,Bの負極材の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)観察から、成膜された負極材の膜厚は4μmであった。また、負極材の組成分析をしたところ、膜中に元素C、Nは含有されておらず、原子濃度比でSi/O=1.00/0.02であった。また、負極材のラマン値を求めたところ、RC=cピーク検出されず、RSC=scピーク検出されず、RS=0.30であった。
この薄膜負極A,Bを用いて実施例1と同様にしてコイン型電池、アルミラミネート型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。
[比較例2]
ターゲット材を、SiとNiの混合物(Si円板上に、SiとNiの面積比が大凡100対4となるように、Niのチップを貼りつけたもの)に変えた以外は、実施例1と同様にして薄膜状負極材を成膜して薄膜負極A,Bを作製した。
得られた薄膜負極A,Bの負極材の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)観察から、成膜された負極材の膜厚は6μmであった。また、負極材の組成分析をしたところ、膜中に元素Niは25原子%含有されており、NiSi中の元素Ni濃度に対するNi濃度比Q(Ni)は0.79に相当した。また、原子濃度比でSi/Ni/O=1.00/0.35/0.06であった。また、負極材のラマン値を求めたところ、RC=cピーク検出されず、RSC=0.04、RS=0.28、RSN=0.07であった。
この薄膜負極A,Bを用いて実施例1と同様にしてコイン型電池、アルミラミネート型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。
[比較例3]
成膜時の高純度アルゴンガス中の酸素濃度を0.15%に変えた以外は、実施例3と同様にして薄膜状負極材を成膜して薄膜負極A,Bを作製した。
得られた薄膜負極A,Bの負極材の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)観察から、成膜された負極材の膜厚は約5μmであった。また、負極材の組成分析をしたところ、膜中に元素Cは27原子%含有されており、SiC中の元素C濃度に対するC濃度比Q(C)は0.81に相当した。また、原子濃度比でSi/C/O=1.00/0.68/0.83であった。また、負極材のラマン値を求めたところ、RC=2.69、RSC=0.35、RS=0.84であった。更にまた、負極材のX線回折測定を行ったところ、XIsz=0.77であった。
この薄膜負極A,Bを用いて実施例1と同様にしてコイン型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。なお、放電容量(A)が小さかったため、アルミラミネート型電池でのサイクル評価は行なわなかった。
[比較例4]
ターゲット材のSiとCの面積比を100対1に、成膜時間を80分間に変えた以外は、実施例3と同様にして薄膜状負極材を成膜して薄膜負極A,Bを作製した。
得られた薄膜負極A,Bの負極材の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)観察から、成膜された負極材の膜厚は約5μmであった。また、負極材の組成分析をしたところ、膜中に元素Cは3原子%含有されており、SiC中の元素C濃度に対するC濃度比Q(C)は0.06に相当した。また、原子濃度比でSi/C/O=1.00/0.03/0.06であった。また、負極材のラマン値を求めたところ、RC=cピーク検出されず、RSC=scピーク検出されず、RS=0.41であった。また、負極材のX線回折測定を行ったところ、SiCの明確なピークは検出されずXIsz=0.13であった。
この薄膜負極A,Bを用いて実施例1と同様にしてコイン型電池、アルミラミネート型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。
[比較例5]
チャンバー内に高純度窒素ガスを流した時の圧力を0.19Paに変えた以外は、実施例5と同様にして薄膜状負極材を成膜して薄膜負極A,Bを作製した。
得られた薄膜負極A,Bの負極材の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)観察から、成膜された負極材の膜厚は7μmであった。また、負極材の組成分析をしたところ、膜中に元素Nは53原子%含有されており、SiN中の元素N濃度に対するN濃度比Q(N)は1.07に相当した。また、原子濃度比でSi/N/O=1.00/1.15/0.02であった。また、負極材のラマンスペクトル分析をしたところ、ラマンピークは得られなかった。更にまた、負極材のX線回折測定を行ったところ、XIsz=1.18であった。
この薄膜負極A,Bを用いて実施例1と同様にしてコイン型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。なお、コイン電池で充放電出来なかったため、アルミラミネート型電池でのサイクル評価は行なわなかった。
[比較例6]
実施例1と同じ薄膜負極A,Bを用い、電解液にエチレンカーボネート(EC)/ジエチルカーボネート(DEC)=3.7/6.3(質量比)の混合液を溶媒とした1mol/L−LiPF電解液を用いて実施例1と同様にしてコイン型電池、アルミラミネート型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。
[比較例7]
実施例1と同じ薄膜負極A,Bを用い、電解液にエチレンカーボネート(EC)/ジエチルカーボネート(DEC)=3.7/6.3(質量比)の混合液を溶媒とした1mol/L−LiPF6に、更にビニレンカーボネート(VC)を2質量%添加した電解液を用いて実施例1と同様にしてコイン型電池、アルミラミネート型電池の作製及び評価を行い、結果を表2に示した。
Figure 2007188873
Figure 2007188873
表1,2より次のことが分かる。
比較例1の電池は、含フッ素エステルを含む非水電解液を用いているが、負極にSiを用いており薄膜状負極材中に元素Zが存在せず、本発明の規定範囲外であり、その結果、良いサイクル特性が得られず、且つ、サイクル後の電極膨張率が大きかった。
比較例2の電池は、含フッ素エステルを含む非水電解液を用い、負極にSi中に元素Niが非平衡的に存在した相を主成分とする負極材を用いているが、薄膜状負極材中に元素Zに相当する物が存在せず、本発明の規定範囲外であり、その結果、良いサイクル特性が得られなかった。
比較例3の電池は、含フッ素エステルを含む非水電解液を用い、負極にSi中に元素Cが非平衡的に存在した相を主成分とする負極材を用いているが、薄膜状負極材中の元素O量が本発明の規定範囲を上回っており、その結果、Siを含有している効果が現れず、Cのみが充放電し、且つ、O量が多い為に充放電効率が低く、高容量な電池特性を得ることはできなかった。
比較例4の電池は、含フッ素エステルを含む非水電解液を用い、負極にSi中に元素Cが非平衡的に存在した相を主成分とする負極材を用いているが、薄膜状負極材中の元素C量が本発明の規定範囲を下回っており、その結果、Cを含有している効果が少なく、電極膨張が大きくなり、良いサイクル特性が得られなかった。
比較例5の電池は、含フッ素エステルを含む非水電解液を用い、負極にSi中に元素Nが非平衡的に存在した相を主成分とする負極材を用いているが、薄膜状負極材中の元素N量が本発明の規定範囲を上回っており、一部Siが形成され、充放電しなかった。
比較例6の電池は、負極にSi中に元素Cが非平衡的に存在した相を主成分とする負極材を用いているが、含フッ素エステルを含まない非水電解液を用いており、本発明の規定範囲外であり、その結果、優れたサイクル特性が得られなかった。
比較例7の電池は、負極にSi中に元素Cが非平衡的に存在した相を主成分とする負極材を用いているが、含フッ素エステルを含まない非水電解液を用いており、本発明の規定範囲外であり、その結果、優れたサイクル特性が得られなかった。
これらに対して、実施例1〜8の本発明の電池は、含フッ素エステルを含む非水電解液を用いており、かつ、負極材が、特定の化合物SiZからなり、且つ、該元素Zは、C及び/又はN元素である、元素ZがSi中に非平衡的に存在した相の化合物を主成分とし、全てが本発明の規定範囲を満たしている。そして、このような電池であれば、放電容量が高く、初期及びサイクル中の充放電効率が高く、サイクル特性に優れ、サイクル後の電極膨張が抑えられた高性能な特性が得られる。
リチウムイオンを吸蔵・放出可能な正極及び負極、並びに非水溶媒にリチウム塩が溶解された非水電解液を備える非水電解液二次電池において、該負極として、一般式SiZ(式中Z、M、x、yは下記条件(1)〜(4)の通り)で表される、Si中に元素Zが非平衡的に存在した相の化合物を主成分とする負極材を有するものを用いると共に、該非水電解液として、フッ素を含有するエステル化合物を含むものを用いることにより、放電容量が高く、初期及びサイクル中の充放電効率が高く、サイクル特性に優れ、サイクル後の電極膨張が抑制された、優れた特性を有する非水電解液二次電池を実現することができる。このような本発明の非水電解液二次電池は、非水電解液二次電池が適用される電子機器等の各種の分野において好適に利用可能である。
(1)元素Zは、C及び/又はNよりなる元素である。
(2)元素Mは、Siと元素Z以外の元素から選ばれる元素の1種又は2種以上である。
(3)xは、Siに最も近い組成で平衡的に存在する化合物Si(式中a、pは整数)のZ濃度(p/(a+p))に対して、下記式で算出されるZ濃度比Q(Z)が0.10〜0.95となる値である。
Q(Z)=[x/(1+x)]/[p/(a+p)]
(4)yは、0≦y≦0.50の範囲の数である。
(a)図は、実施例1で得られた薄膜負極のSEM写真であり、(b)図、(c)図は、同EPMA測定から得られたSiとCの分布図である。 実施例1で得られた負極の薄膜状負極材の赤外透過光測定データを示す模式図である。

Claims (10)

  1. リチウムイオンを吸蔵・放出可能な正極及び負極と、非水溶媒にリチウム塩が溶解された非水電解液とを備える非水電解液二次電池において、該負極が、一般式SiZ(式中Z、M、x、yは下記条件(1)〜(4)の通り)で表される、Si中に元素Zが非平衡的に存在した相の化合物を主成分とする負極材を有し、且つ、該非水電解液が、フッ素を含有するエステル化合物を含むことを特徴とする非水電解液二次電池。
    (1)元素Zは、C及び/又はNよりなる元素である。
    (2)元素Mは、Siと元素Z以外の元素から選ばれる元素の1種又は2種以上である。
    (3)xは、Siに最も近い組成で平衡的に存在する化合物Si(式中a、pは整数)のZ濃度(p/(a+p))に対して、下記式で算出されるZ濃度比Q(Z)が0.10〜0.95となる値である。
    Q(Z)=[x/(1+x)]/[p/(a+p)]
    (4)yは、0≦y≦0.50の範囲の数である。
  2. 前記エステル化合物が、下記一般式(I)で表されるフッ素を含有する環状炭酸エステルを含むことを特徴とする請求項1に記載の非水電解液二次電池。
    Figure 2007188873
    (式(I)において、Xは、水素又は各種置換基を表し、2n個のXのうちの1つ以上がフッ素である。nは2以上の整数を表す。)
  3. 前記エステル化合物が、下記一般式(II)で表されるフッ素を含有する鎖状炭酸エステルを含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の非水電解液二次電池。
    Figure 2007188873
    (式(II)において、mは1〜3の整数を表し、Rは無置換又はフッ素で置換された鎖状炭化水素基を表す。)
  4. 前記非水電解液が、フッ素を含有する炭酸エステルを、リチウム塩を除いた非水電解液の質量に対して2〜80質量%含むことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池。
  5. 前記非水電解液が、ビニレンカーボネート、ビニルエチレンカーボネート、エチレンサルファイトからなる群より選ばれる1種以上を0.01〜10質量%含むことを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池。
  6. 前記負極材が、Si中に元素Zが分散した化合物からなることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池。
  7. 前記負極材のラマンスペクトル分析によるラマンRC値が0.0以上、2.0以下であり、且つ、ラマンRSC値が0.0以上、0.25以下であることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池。
  8. 前記負極材のラマンスペクトル分析によるラマンRS値が0.40以上、0.75以下であることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池。
  9. 前記一般式SiZにおいて、元素ZがCで、元素Mが酸素であり、x、yは、それぞれ0.053≦x≦0.90、0<y≦0.50の範囲の数であることを特徴とする請求項1ないし8のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池。
  10. 充放電を行った後に、前記負極の赤外分光光度計を用いた赤外透過光分析によるIRsc値が0.9以上、3.0以下であることを特徴とする請求項1ないし9のいずれか1項に記載の非水電解液二次電池。
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