JP2007184566A - 半導体ナノワイヤを用いた半導体素子、それを用いた表示装置及び撮像装置 - Google Patents

半導体ナノワイヤを用いた半導体素子、それを用いた表示装置及び撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007184566A
JP2007184566A JP2006329405A JP2006329405A JP2007184566A JP 2007184566 A JP2007184566 A JP 2007184566A JP 2006329405 A JP2006329405 A JP 2006329405A JP 2006329405 A JP2006329405 A JP 2006329405A JP 2007184566 A JP2007184566 A JP 2007184566A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor
nanowire
junction
region
semiconductor element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006329405A
Other languages
English (en)
Inventor
Shunsuke Shiotani
俊介 塩谷
Sotomitsu Ikeda
外充 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2006329405A priority Critical patent/JP2007184566A/ja
Publication of JP2007184566A publication Critical patent/JP2007184566A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)

Abstract

【課題】ナノワイヤを用いて、発光または受光機能とスイッチング機能を兼ね備えた半導体素子を提供する。
【解決手段】PN接合またはPIN接合を備える第1の領域7と、電界効果型トランジスタ構造を備える第2の領域8とを有する半導体ナノワイヤ1と、半導体ナノワイヤ1の両端に接続される一対の電極(2,3)と、第2の領域の少なくとも一部に絶縁層5を介して設けられているゲート電極4とを備えている。更に、半導体ナノワイヤ1は、P型半導体部とN型半導体部とを有し、且つP型半導体部またはN型半導体部の一方は、第1及び第2の領域の構成要素となっている。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体ナノワイヤを用いた半導体素子に関する。また、本発明は、半導体ナノワイヤを用いて、PN又はPIN接合素子、及び電界効果トランジスタとを併せ持つ半導体素子に関するものである。更に、本発明は、前記半導体素子を用いた表示装置及び撮像装置に関する。
半導体ナノワイヤとは、半導体特性を示す直径数百nm程度以下の直径を有する構造のものを指す。そして、上記半導体ワイヤは、例えばVLS(Vapor-Liquid-Solid)法を用いて作製される。
VLS法とは基板上の金属微粒子と基板もしくは所望とする元素とが溶融化化合物合金を形成し、これがさらに原料ガスを分解することによりナノワイヤが成長する方法である。このVLS法は、ナノワイヤを始め、各種カーボンナノチューブ、酸化物ウィスカーの合成法として知られている。上記手法で作製された半導体ナノワイヤは移動度が数百cm2/Vs〜数千cm2/Vsと非常に高い移動度を示す。その為、上記半導体ナノワイヤをチャネル部位として用いた電界効果型トランジスタ(FET)に用いることが可能であり、実用化に向けて種々研究が行われている(例えば特許文献1)。
特許文献1では、上記半導体ナノワイヤを溶媒に分散させ、それを流力などにより基板上に配向させることによりナノワイヤ電界効果型トランジスタを作製している。特許文献1に示す作製手法では、塗布プロセスでトランジスタの形成を行うことが可能であるため、高移動度で大面積のTFTを作製することが可能となる。
従来のシリコンや化合物半導体トランジスタでは高移動度を有するが、大面積基板の用意が困難であったり、真空装置を必要としたりする為に大面積化が困難である。一方、有機トランジスタの場合、基板の制約が少ないうえ塗布プロセスを用いることができるため大面積のトランジスタを作製することは可能であるが、移動度が、〜0.1cm2/Vsと低くその用途は限られている。
上記半導体ナノワイヤトランジスタは上記2つのトランジスタの課題を同時に解決することが可能となるため、無機系のトランジスタの性能を維持したまま、TFTの大面積化、低コスト化、フレキシブル化などが可能となる。そのため、有機ELディスプレイ用TFTや、シートコンピューターなどへの応用を考えることができ、新しいエレクトロニクスデバイスの創出への強力なツールとなる可能性を秘めている。
一方、上記半導体ナノワイヤにおいて、図10に示すようにナノワイヤ中にP-N接合を有する半導体ナノワイヤ200が報告されている(例えば特許文献2)。特許文献2では、半導体ナノワイヤ中に存在するP-N接合を利用して、LEDや太陽電池、熱電素子への応用を提案している。
無機LEDは、有機ELと比較して効率が10 lm/W〜100 lm/Wと非常に高効率であり、寿命も数万時間以上と非常に長いため、各種照明等で既に実用化が始まっている。
また、太陽電池の分野では、有機太陽電池や色素増感太陽電池などの研究が進められているが、シリコン系や化合物半導体などの無機系太陽電池の効率には及ばず、実用化されているのは無機系太陽電池のみである。
しかしながら、上記無機LEDや無機系太陽電池では効率や寿命の点では実用化のレベルに達しているが、基板の制約や真空プロセスが必要なため、素子の大面積化・低コスト化が困難である。そのため、大面積化やコスト面では有機ELや有機太陽電池、色素増感太陽電池と比較して短所となってしまう。
そこで、特許文献2では、半導体ナノワイヤ200を、図11に示すように基板201上に配列させて、一対の電極202で挟むことにより素子化することが考えられている。このような構成の素子を作製すれば、無機の性能を維持したまま大面積化が容易な半導体素子を低コストで作製することができ、例えば大面積の照明や太陽電池を低コストで供給することができる可能性を秘めていると言える。
米国特許第6872645号明細書 米国特許第6882051号明細書
しかしながら、従来の技術では、上記ナノワイヤを用いて表示装置や撮像装置などを形成する必要がある場合、別途スイッチング部(例えば、電界効果型トランジスタ)を設ける必要があり装置構成が複雑になってしまう問題を有している。
本発明者らは、このような問題を踏まえ、受光領域あるいは発光領域として機能する部分と、スイッチング動作を行うための部分とを、同じナノワイヤを用いて構成しようという画期的なアイデアに到達したのである。
本発明に係る半導体素子は、PN接合またはPIN接合を備える第1の領域と、電界効果型トランジスタのチャネル領域、ゲート絶縁膜及びゲート電極を含む第2の領域とを有し、
少なくとも、前記PN接合またはPIN接合と前記チャネル領域とは半導体ナノワイヤに含まれ、
前記半導体ナノワイヤの両端に接続される一対の電極を備えた半導体素子であって、
前記半導体ナノワイヤは、P型半導体部とN型半導体部とを有し、且つ
前記P型半導体部または前記N型半導体部の一方は、前記第1及び第2の領域の構成要素であることを特徴とする。
また、別の本発明は、少なくとも1つのPN接合部を構成するP型半導体部とN型半導体部、又は少なくとも1つのPIN接合部を構成するP型半導体部と真性半導体部とN型半導体部とを有する第1の領域(PN接合部又はPIN接合部を有する。)と、前記第1の領域の前記PN又はPIN接合部を構成する前記P型半導体部又は前記N型半導体部が延長された第2の領域(FET構造を有する。)とを有する半導体ナノワイヤと、
前記半導体ナノワイヤの前記第2の部分の少なくとも一部に絶縁層を介して配置されたゲート電極と、
前記半導体ナノワイヤの両端に接続される一対の電極と、を備え、
前記第2の領域は電界効果トランジスタを構成していることを特徴とする。
また、別の本発明は、
少なくとも1つの接合部を構成する第1半導体部と第2半導体部とを有する第1の領域と、前記第1の部分の前記接合部を構成する前記第1半導体部又は前記第2半導体部が延長された第2の領域とを有する半導体ナノワイヤと、
前記半導体ナノワイヤの前記第2の領域の少なくとも一部に絶縁層を介して配置されたゲート電極と、
前記半導体ナノワイヤの両端に接続される一対の電極と、を備え、
前記第2の領域は電界効果トランジスタを構成する半導体素子であることを特徴とする。
本発明において、接合構造は、PN接合構造やPIN接合構造にかぎられず、ダブルへテロ構造や、量子井戸構造、PIPIN構造などの構造も含まれるものである。
本発明によれば、PN接合、PIN接合等の半導体接合による機能とFET機能を同時に発現させることができる。また、PN接合やPIN接合等の接合領域とFET領域間の接続抵抗を小さくすることが可能である。そのため、PN接合領域等の半導体接合領域で発光素子や受光素子を構成した場合、素子全体の発光効率や光電変換効率を高くすることができる。
以下、図面を参照しながら、本発明の実施の形態を詳細に説明するが、これによって本発明は限定されない。
図1に本発明の実施形態の一例を示す。図1(a)は本発明の一実施形態の半導体素子を示す平面図、(b)はその断面図、(c)は等価回路図である。
図1に示す半導体素子は、基板6上に設けられた、PN接合を有する半導体ナノワイヤ1と、半導体ナノワイヤ1の両端部に接続された一対の電極2,電極3(電極3はソース又はドレイン電極となる)を有する。また、ゲート電極4、ゲート絶縁層5を有する。半導体ナノワイヤ1は第1の領域となるP-N接合部7と、第2の領域となるFET8とから成り、FET8はP型伝導部(P型半導体部)もしくはN型伝導部(N型半導体部)のいずれか一方から成る。ここでは、P型伝導部からなる。
図1に示すような構成にすれば、FET領域でゲート電圧を操作することによりナノワイヤに流れる電流を制御することが可能となる。
半導体ナノワイヤ1は、P型伝導部とN型伝導部を有しており、直径数ナノメートル〜数百ナノメートルである。また、その長さは、特に制限されるものではないが、例えば、数十ナノメートル以上である。勿論、数マイクロメートル以上の長さであっても本発明における半導体ナノワイヤである。例えば、直径が、2nmから300nm、長さが、例えば、1μmから5μm程度の半導体ナノワイヤが挙げられる。
材料については、II−VI族化合物半導体、III−V族化合物半導体、I−V族化合物半導体、I−VI族化合物半導体、I−VII族化合物半導体、II−V族化合物半導体、II−VII族化合物半導体、III−VI族化合物半導体、IV−IV族化合物半導体などの化合物半導体、またはVI族半導体などが挙げることができる。さらに具体的な一例として、Si、Ge、SiGe、AlGaAs、ZnO、ZnS、ZnSe、ZnTe、CdS、CdSe、CdTe、GaAs、GaN、GaAs、GaP、InP、InN、InAs、カーボンナノチューブなどが例示される。
上記半導体ナノワイヤの作製方法は特に制限されないが、VLS法で作製することが好ましい。VLS(Vapor-Liquid-Solid)法とは基板上の金属微粒子(金、ニッケル、コバルト等)と基板もしくは所望とする元素とが溶融化化合物合金を形成し、これがさらに原料ガスを分解することによりナノワイヤが成長する方法である。この方法を用いて図2に示すように反応ガスの雰囲気を制御してドーピングを行うことにより、P型伝導部とN型伝導部の両方の部位を有するナノワイヤを提供することができる。VLS法ではワイヤの成長が選択的に触媒粒子9部分で起こるため、上記P-N構造やP-I-N構造を容易に作製することができる。
電極2、電極3、ゲート電極4は、導電性材料であれば特に限定されず、白金、金、銀、ニッケル、クロム、銅、鉄、錫、アンチモン鉛、タンタル、インジウム、アルミニウム、亜鉛、マグネシウム、およびこれらの合金を用いることができる。また、インジウム・錫酸化物等の導電性金属酸化物、あるいはドーピング等で導電率を向上させた無機および有機半導体を用いることができる。無機および有機半導体としては、例えばシリコン単結晶、ポリシリコン、アモルファスシリコン、ゲルマニウム、グラファイト、ポリアセチレン、ポリパラフェニレン、ポリチオフェン、ポリピロール、ポリアニリン、ポリチエニレンビニレン、ポリパラフェニレンビニレン等が挙げられる。電極の作製方法としてはスパッタ法、蒸着法、溶液やペーストからの印刷法、インクジェット法などが例示される。
ゲート絶縁層5は、絶縁性を有していれば何でもよいが、誘電率が高く、導電率が低いものが好ましい。例としては、酸化シリコン、窒化シリコン、酸化アルミニウム、酸化チタン、酸化タンタルなどの無機酸化物や窒化物、ポリアクリレート、ポリメタクリレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリイミド、ポリエーテル、シロキサン含有ポリマー等の有機高分子が挙げられる。また、上記絶縁材料の中でも、表面の平滑性の高いものが好ましい。更に、図3に示す様にゲート絶縁層として絶縁体10を被覆することにより、ゲート絶縁層を設けなくともトランジスタを形成することができ、このような構成にすることにより素子構成をより簡単にすることができる。この際の絶縁体については絶縁性を有するものであれば特に限定されることはない。例えば半導体ナノワイヤ表面を酸化・窒化させることで絶縁層を形成したり、PZTやY、ZrO、HfOなど半導体ナノワイヤと異なる材料で被覆したりすることができる。最初にナノワイヤ上に絶縁層を形成する場合には、絶縁層が形成されたナノワイヤの端部絶縁層を除去してからソース・ドレイン電極を形成する。
基板6はガラス、セラミック、半導体、金属、プラスチックなど特に制限されることはないが、低コスト化が容易なガラス基板やプラスチック基板を用いることが好ましい。またプラスチック基板を用いる場合にはフレキシブルなトランジスタを提供することができるため、フレキシブルな表示装置を始めとする種々のフレキシブルデバイスを提供することが可能となる。
図1では、半導体ナノワイヤのPN接合部7は一つのPN接合の場合を示しているが、図4に示すようにPN接合を複数有する半導体ナノワイヤ11を用いてもよい。また、図5に示すようにP-I-N(Iは真性半導体部)構造を有する半導体ナノワイヤ12を用いてもよい。尚、上記接合構造には、ダブルへテロ構造や、量子井戸構造、PIPIN構造などの構造も含まれ、その用途に応じて適宜その種類を選択すれば良い。
半導体ナノワイヤ1の配列方法については特に制限されることはないが、ナノワイヤを溶媒に分散させ、それを流力や電界などの外部力を用いて配向させることが好ましい。尚、この際のナノワイヤを分散させる溶媒については、ナノワイヤの親水性・疎水性やゼータ電位に応じて分散しやすい溶媒を適宜選択すれば良い。
また、本実施形態では、図12示すように、触媒となる金属微粒子と選択的に結合又は配位する官能基を基板上にパターンニングすることで(パターンニングされた官能基をRで示す)、触媒微粒子を介してナノワイヤを基板上に固定することができる。このような手法を用いれば、図13に示すようにナノワイヤのP型やN型を所望の方向に配列させることができる。
尚、図1では電極2,3間に1本の半導体ナノワイヤのみ存在する場合を示したが、図6に示す様に複数の半導体ナノワイヤ1が電極2,3間に存在する場合も本発明の実施形態に含まれる。また、図1では基板上に半導体ナノワイヤ1が配列している構成であるが、基板6が存在しない場合も本発明の実施形態に含まれる。
また、本発明の実施形態の半導体素子は、図7に示す様にP-N接合部とFETの間に電極13を設けることにより、上記P-N接合部と上記FETに印加する電圧を独立で変化させることができる。
この様な構成にすることにより、P-N接合部とFETのそれぞれの部分でナノワイヤに印加される最適な電圧を選ぶことができ、より高性能な半導体素子を提供することが可能となる。
また、図8に示す様にFET部にのみ新たに半導体ナノワイヤ14を配列する構成にすれば、P-N接合部に流れる電流値を増加させることができる。本実施形態のPN接合領域7を発光素子に用いる場合、輝度を上げる為にはLEDに流れる電流を増加させることが求められる。その為、特に図8の構成はPN接合部7を発光素子に用いる場合に特に好適である。尚、図示はしないがP-N接合部のナノワイヤの本数を多くすることも当然可能である。
次に上記半導体素子を複数配列させ、一つ一つの素子のアドレスを行う場合について説明する。図9が複数の半導体素子が同一基板20上に複数存在する場合の一例を示す図である。ソースライン21に印加する電圧VSDを走査するのと同時にゲートライン22に電圧Vを印加することにより各素子のON・OFF制御を行う。例えば、図9中の半導体素子23のみをONにする場合、ソースライン21に電圧VSDが印加された時に、ゲートライン22に電圧Vを印加する。
本実施形態では各素子にFET機能を有しているため、P-N接合部にLEDの構成を作り込むことにより表示装置を提供することができる。特に、LEDに赤、緑、青の発光を示す材料をそれぞれ利用することにより、フルカラーの表示装置を提供することができる。
また、P-N接合部分にフォトダイオードの構成を作りこめば、撮像装置として用いることが可能となる。この際、上記撮像装置にカラーフィルターを具備することでカラー化が可能となる。
本実施形態の半導体素子はP-N接合部とFET部を有しているため、簡単な素子構成で表示装置及び撮像装置を作製することができる。尚、本発明の素子構成は図9に限られたものではなく、例えばキャパシタを別途有している構造であったり、複数のトランジスタを有している構造であったりしても良い。
また、FET領域8のP型伝導部に周囲からN型不純物を導入し、P型伝導部の周囲にPN接合部を形成するN型伝導部を形成し、そのN型伝導部上にゲート電極を形成することで、接合型FETを作成することもできる。
なお、半導体ナノワイヤは、塗布プロセスを用いて素子作製できるため、上述したように受光領域あるいは発光領域とスイッチング領域とを一つの塗布プロセスを用いて作製できる。
この様な構成にすることにより、該半導体ナノワイヤ中にPN接合又はPIN接合由来の機能を発現させるP−N接合部又はPIN接合部とトランジスタ機能を発現するFETの両方を設けることができる。
上記半導体素子の構成では、素子にスイッチング機能を発現させることが可能となる。そのため、該半導体素子を多数同一基板上に設ける場合においてTFTを別途設ける必要がなくとも各素子のアドレスを行うことが可能となり、素子の低コスト化に繋がる。また、PN接合領域、PIN接合領域を適宜選択することにより、発光や光電変換などPN接合、PIN接合に由来する所望の機能をより高効率で発現させることができる。
また、上記半導体ナノワイヤは触媒粒子を用いるVLS(Vapor-Liquid-Solid)法で作製することができる。VLS法では選択的に触媒粒子部分でナノワイヤの成長が起こるため、コアシェル構造になることなく上記P-N構造やP-I-N構造を容易に作製することができる。
また、上記半導体素子は上記第1の領域(PN接合又はPIN接合)と上記第2の領域(FET)の間に電極を設けることができる。
該電極を設けることにより、上記PN接合部又はPIN接合部と上記FETに印加する電圧を独立に変化させることができる。
そのため、上記PN接合部又はPIN接合部と上記FETのそれぞれの機能が発現する最適な電圧を印加することが可能となり、素子の高性能化が可能となる。また、上記PN接合部又はPIN接合部と上記FETのナノワイヤの本数を変化させることが可能となり、それぞれの領域に流れる電流値を容易に制御することが可能となる。
また、上記半導体素子は一対の電極に複数本の半導体ナノワイヤが並列接続するように構成することができる。上記構成にすることにより、PN接合部又はPIN接合部での機能発現領域の面積が増加するため、1本のみ半導体ナノワイヤが存在する場合と比較して、より高性能な半導体素子を提供することが可能となる。
また、上記第1の領域は発光素子とすることができる。PN接合又はPIN接合に発光機能を設けることにより、FET機能と発光機能の両方を有する半導体素子を提供することが可能となる。そして、同一の半導体ナノワイヤ上にFET機能と発光機能を具備することができるため、非常に簡単な構成でスイッチング機能を有する半導体素子を提供することができる。
また、上記第1の領域は受光素子とすることができる。PN接合部又はPIN接合部にフォトダイオード機能を設けることにより、FET機能とフォトダイオード機能の両方を有する半導体素子を提供することが可能となる。そして同一の半導体ナノワイヤ上にFET機能とフォトダイオード機能を具備することができるため、非常に簡単な構成でスイッチング機能を有する半導体素子を提供することができる。
また、上記第1の部分が発光素子である半導体素子を一次元又は二次元状に配列して表示装置を提供することができる。上記半導体素子はFET機能も有しているため、上記半導体素子を一次元又は二次元状に配列させることにより、TFT機能を有する表示装置を提供することができる。この表示装置は、TFTを別途設けることが不要であるため、従来の表示装置と比較して非常に簡単な構成で表示装置を提供することが可能となる。
また、上記第1の部分が受光素子である半導体素子を一次元又は二次元状に配列して撮像装置を提供することができる。上記半導体素子はFET機能も有しているため、上記半導体素子を一次元又は二次元状に配列させることにより、TFT機能を有する表示装置を提供することができる。この撮像装置は、TFTを別途設けることが不要であるため、従来の撮像装置と比較して非常に簡単な構成で撮像装置を提供することが可能となる。
以下、実施例により具体的に説明するが本発明は以下に示すものに限られたものではない。
<実施例1>
本実施例は、本発明を表示装置として用いた場合である。半導体ナノワイヤはGaN系のものを用いる。ナノワイヤの作製はVLS法を用いて行いて作製する。
作製方法は、まず、サファイア基板上に粒径が50nmのAu微粒子を形成する。その後、トリメチルガリウム(TMGa)およびアンモニア雰囲気中において基板を900℃に加熱しバッファ層となるGaNナノワイヤを作製する。
その後、その上にN型GaNを作製するためにトリメチルガリウム(TMGa)、シランガス及びアンモニアの雰囲気中においてナノワイヤを成長させ、n-GaN:Si層を作製する。そして、その上に活性層としてトリメチルガリウム(TMGa)、トリメチルインジウム(TMIn)及びアンモニアの雰囲気中で活性層のInGaN層を作製する。最後にP型GaNを作製するために、シクロペンタジエニルマグネシウム(Cp2Mg)ガス、トリメチルガリウム(TMGa)、アンモニアの雰囲気中で基板を900℃に加熱することによってGaN:Mg層を形成する。最後に窒素雰囲気中において600℃でアニーリングを行うことによりLED構造を有する半導体ナノワイヤを得る。このようにして得られたナノワイヤのそれぞれの厚さはGaN:約5μm、n-GaN:Si:約10μm、InGaN:10 nm、p-GaN:Mg:10μmである。そして上記手法により得られたナノワイヤをエタノール溶液中に分散する。基板からのナノワイヤの切り離しは超音波を用いて行うことができる。
一方、基板側についてはガラス基板上にゲート電極をパターンニングし、その上にゲート絶縁層としてシリカ膜を形成する。
その後、図14における電極3の下部部分になるゲート絶縁層5に、図12に示すようにマイクロコンタクトプリンティング法により3−メルカプト−1−プロパノール(OHCSH)を選択的にパターンニングし、SH基をパターンニングする。図12において、RはパターンニングされたSH基を示す。
そして、上記手法で得られた基板上に上記ナノワイヤ分散溶液を流すことにより、図13のようにAu微粒子触媒が選択的にSH基と結合することで、図14に示すように、N型の部分が電極3に揃うようになる。その後、ソース・ドレイン電極であるTi/Au電極を蒸着により形成する。
以上のような手法によって、青色発光をする表示素子と電界効果型トランジスタが形成される。本実施例により作製される表示装置は、電界効果型トランジスタとLEDを一括で形成できるので簡単な構成の表示装置を提供することができる。
<実施例2>
本実施例は、本発明を2次元光センサー(撮像装置)として用いた場合である。半導体ナノワイヤはシリコンを用いる。ナノワイヤの作製はVLS法を用いて行いて作製する。作製方法は、まずシリコン基板上に粒径が50nmのAu微粒子を形成する。その後、SiHおよびPHガス雰囲気中で450℃で加熱することにより、PドープのN型Siナノワイヤを形成する。その後、SiHおよびB2H6ガス雰囲気中で450℃で加熱することにより、N型Siナノワイヤ上にP型Siナノワイヤを形成する。最後に窒素雰囲気中において500℃でアニーリングを行うことによりP-N接合を有するフォトダイオードナノワイヤを得る。このようにして得られたナノワイヤのそれぞれの厚さはN型10μm、P型:約30μmである。
そして上記手法により得られたナノワイヤをエタノール溶液中に分散する。
一方、基板側についてはガラス基板上にゲート電極をパターンニングし、その上にゲート絶縁層としてシリカ膜を形成する。
その後、図1における電極2の下部部分になるゲート絶縁層5に、図12に示すようにマイクロコンタクトプリンティング法により3−メルカプト−1−プロパノール(OHCSH)を選択的にパターンニングし、SH基をパターンニングする。
そして、上記手法で得られた基板上に上記ナノワイヤ分散溶液を流すことにより、Au微粒子触媒が選択的にSH基と結合することで、図1に示すように、N型の部分が電極2に揃うようになる。ナノワイヤを配列し、その後、ソース・ドレイン電極であるTi/Au電極を蒸着により形成する。
以上のような手法によって、P-N接合を有するフォトダイオードと電界効果型トランジスタが形成される。本実施例により作製される2次元光センサー(撮像装置)は、トランジスタとフォトダイオードを一括で形成できるので簡単な構成の2次元光センサー(撮像装置)を提供することができる。
(a)は本発明の一実施形態の半導体素子の一例を示す平面図、(b)はその断面図、(c)は等価回路図である。 VLS法による半導体ナノワイヤの合成方法を表す図である。 本発明の他の実施形態の半導体素子の一例を示す図である。 本発明の他の実施形態の半導体素子の一例を示す図である。 本発明の他の実施形態の半導体素子の一例を示す図である。 本発明の他の実施形態の半導体素子の一例を示す図である。 本発明の他の実施形態の半導体素子の一例を示す図である。 本発明の他の実施形態の半導体素子の一例を示す図である。 本発明の他の実施形態の半導体素子を複数配列させたときの一例を示す図である。 P-N接合を有する半導体ナノワイヤを示す図である。 P-N接合を有する半導体ナノワイヤに電極を備え付けた半導体素子の図である。 半導体ナノワイヤ1の配列方法を示す図である。 半導体ナノワイヤ1の配列方法を示す図である。 本発明の第1実施例の半導体素子の一例を示す図である。
符号の説明
1 半導体ナノワイヤ
2 ソース電極
3 ドレイン電極
4 ゲート電極
5 ゲート絶縁層
6 基板
7 P-N接合領域
8 FET領域
9 触媒粒子
10 絶縁体
11 半導体ナノワイヤ
12 半導体ナノワイヤ
13 電極
14 半導体ナノワイヤ
20 基板
21 ソースライン
22 ゲートライン
23 半導体素子
200 半導体ナノワイヤ
201 基板
202 電極

Claims (6)

  1. PN接合またはPIN接合を備える第1の領域と、電界効果型トランジスタのチャネル領域、ゲート絶縁膜及びゲート電極を含む第2の領域とを有し、
    少なくとも、前記PN接合またはPIN接合と前記チャネル領域とは半導体ナノワイヤに含まれ、
    前記半導体ナノワイヤの両端に接続される一対の電極を備えた半導体素子であって、
    前記半導体ナノワイヤは、P型半導体部とN型半導体部とを有し、且つ
    前記P型半導体部または前記N型半導体部の一方は、前記第1及び第2の領域の構成要素であることを特徴とする半導体素子。
  2. 前記一対の電極には、複数本の前記半導体ナノワイヤが並列に接続されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子。
  3. 前記第1の領域は、発光領域であることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子。
  4. 前記第1の領域は、受光領域であることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子。
  5. 請求項3に記載の半導体素子が、一次元又は二次元状に配列していることを特徴とする表示装置。
  6. 請求項4に記載の半導体素子が、一次元又は二次元状に複数配列していることを特徴とする撮像装置。
JP2006329405A 2005-12-06 2006-12-06 半導体ナノワイヤを用いた半導体素子、それを用いた表示装置及び撮像装置 Pending JP2007184566A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006329405A JP2007184566A (ja) 2005-12-06 2006-12-06 半導体ナノワイヤを用いた半導体素子、それを用いた表示装置及び撮像装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005352571 2005-12-06
JP2006329405A JP2007184566A (ja) 2005-12-06 2006-12-06 半導体ナノワイヤを用いた半導体素子、それを用いた表示装置及び撮像装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007184566A true JP2007184566A (ja) 2007-07-19

Family

ID=38340342

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006329405A Pending JP2007184566A (ja) 2005-12-06 2006-12-06 半導体ナノワイヤを用いた半導体素子、それを用いた表示装置及び撮像装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007184566A (ja)

Cited By (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008072479A1 (ja) * 2006-12-13 2008-06-19 Panasonic Corporation ナノワイヤ及びナノワイヤを備える装置並びにそれらの製造方法
WO2009023148A3 (en) * 2007-08-10 2009-04-16 Zt3 Technologies Inc Nanowire electronic devices and method for producing the same
WO2009091176A2 (ko) * 2008-01-14 2009-07-23 Snu R & Db Foundation 이중 게이트로 조절되는 다이오드 구조를 이용하는 발광소자 및 이를 포함하는 반도체 장치
WO2009128777A1 (en) * 2008-04-15 2009-10-22 Qunano Ab Nanowire wrap gate devices
JP2009538533A (ja) * 2006-05-22 2009-11-05 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. 種々の用途にナノワイヤを利用すること
JP2009279750A (ja) * 2008-04-01 2009-12-03 Sharp Corp マルチ機能テープ
WO2010014099A1 (en) * 2008-07-31 2010-02-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Nano-wire optical block devices for amplifying, modulating, and detecting optical signals
KR100971716B1 (ko) 2008-01-14 2010-07-21 서울대학교산학협력단 이중 게이트로 조절되는 다이오드 구조를 이용한 발광소자
JP2011514656A (ja) * 2008-01-30 2011-05-06 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. ナノ構造、及び同構造を作成する方法
JP2011119586A (ja) * 2009-12-07 2011-06-16 Sharp Corp 棒状構造発光素子、バックライト、照明装置および表示装置
JP2011519331A (ja) * 2008-03-24 2011-07-07 ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア 異なる領域を有する複合体ナノロッド
JP2011520258A (ja) * 2008-05-05 2011-07-14 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. ナノワイヤベースのフォトダイオード
KR101059486B1 (ko) 2007-09-18 2011-08-25 한국과학기술원 나노 광 검출 소자 및 그 구동방법, 이를 구비한 이미지센서
JP2011211047A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Sharp Corp 表示装置、表示装置の製造方法および表示装置の駆動方法
WO2012008253A1 (ja) * 2010-07-14 2012-01-19 シャープ株式会社 微細な物体の配置方法、配列装置、照明装置および表示装置
WO2012140942A1 (ja) * 2011-04-11 2012-10-18 シャープ株式会社 発光装置、発光装置の製造方法、照明装置、バックライトおよび表示装置
JP2012222274A (ja) * 2011-04-13 2012-11-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> ナノピラーの作製方法
JP2013513253A (ja) * 2009-12-08 2013-04-18 ゼーナ テクノロジーズ,インク. ナノワイヤを有する垂直フォトゲート(vpg)ピクセル構造
JP2013135236A (ja) * 2011-12-22 2013-07-08 Qinghua Univ 太陽電池
US8658880B2 (en) 2005-12-09 2014-02-25 Zt3 Technologies, Inc. Methods of drawing wire arrays
JP2014518004A (ja) * 2011-04-05 2014-07-24 コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ 半導体構造体上の無触媒選択的成長方法
KR101442800B1 (ko) 2008-09-02 2014-09-23 서울대학교산학협력단 이중 게이트로 조절되는 다이오드 구조를 포함하는 반도체 장치
JP2014183316A (ja) * 2013-03-15 2014-09-29 Dow Global Technologies Llc マルチヘテロ接合ナノ粒子、その製造方法および同ナノ粒子を含む物品
JP2014209587A (ja) * 2013-03-15 2014-11-06 ダウ グローバル テクノロジーズ エルエルシー マルチヘテロ接合ナノ粒子、その製造方法および同ナノ粒子を含む物品
JP2014209625A (ja) * 2010-12-14 2014-11-06 ゼーナ テクノロジーズ, インク.Zena Technologies, Inc. イメージセンサ用の2つ組又は4つ組のシリコンナノワイヤを備えるフルカラー単一ピクセル
KR101481171B1 (ko) 2008-09-02 2015-01-09 서울대학교산학협력단 이중 게이트로 조절되는 다이오드 구조를 포함하는 반도체 장치
US9263613B2 (en) 2009-12-08 2016-02-16 Zena Technologies, Inc. Nanowire photo-detector grown on a back-side illuminated image sensor
US9299866B2 (en) 2010-12-30 2016-03-29 Zena Technologies, Inc. Nanowire array based solar energy harvesting device
US9304035B2 (en) 2008-09-04 2016-04-05 Zena Technologies, Inc. Vertical waveguides with various functionality on integrated circuits
US9312333B2 (en) 2010-11-22 2016-04-12 Samsung Electronics Co., Ltd. Resonator having terminals and a method for manufacturing the resonator
US9329433B2 (en) 2010-03-12 2016-05-03 Sharp Kabushiki Kaisha Light-emitting device manufacturing method, light-emitting device, lighting device, backlight, liquid-crystal panel, display device, display device manufacturing method, display device drive method and liquid-crystal display device
US9337220B2 (en) 2008-09-04 2016-05-10 Zena Technologies, Inc. Solar blind ultra violet (UV) detector and fabrication methods of the same
US9343490B2 (en) 2013-08-09 2016-05-17 Zena Technologies, Inc. Nanowire structured color filter arrays and fabrication method of the same
US9406709B2 (en) 2010-06-22 2016-08-02 President And Fellows Of Harvard College Methods for fabricating and using nanowires
US9410843B2 (en) 2008-09-04 2016-08-09 Zena Technologies, Inc. Nanowire arrays comprising fluorescent nanowires and substrate
US9429723B2 (en) 2008-09-04 2016-08-30 Zena Technologies, Inc. Optical waveguides in image sensors
US9478685B2 (en) 2014-06-23 2016-10-25 Zena Technologies, Inc. Vertical pillar structured infrared detector and fabrication method for the same
US9490283B2 (en) 2009-11-19 2016-11-08 Zena Technologies, Inc. Active pixel sensor with nanowire structured photodetectors
US9515218B2 (en) 2008-09-04 2016-12-06 Zena Technologies, Inc. Vertical pillar structured photovoltaic devices with mirrors and optical claddings
KR101834049B1 (ko) * 2015-12-29 2018-04-13 전자부품연구원 나노와이어를 이용한 이미지 센서 및 그의 제조방법
JP2019125735A (ja) * 2018-01-18 2019-07-25 日本電信電話株式会社 ナノワイヤ光デバイス
KR102063795B1 (ko) * 2017-10-12 2020-01-09 전자부품연구원 실리콘 나노와이어를 이용한 이미지 센서 및 그 제조방법

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002151702A (ja) * 2000-11-15 2002-05-24 Seiko Epson Corp 半導体装置及びその製造方法並びに電子機器
JP2004071654A (ja) * 2002-08-01 2004-03-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd カーボンナノチューブ半導体素子の作製方法
JP2004311733A (ja) * 2003-04-08 2004-11-04 Japan Science & Technology Agency ナノデバイス材料及びそれを用いたナノデバイス

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002151702A (ja) * 2000-11-15 2002-05-24 Seiko Epson Corp 半導体装置及びその製造方法並びに電子機器
JP2004071654A (ja) * 2002-08-01 2004-03-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd カーボンナノチューブ半導体素子の作製方法
JP2004311733A (ja) * 2003-04-08 2004-11-04 Japan Science & Technology Agency ナノデバイス材料及びそれを用いたナノデバイス

Cited By (61)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8143151B2 (en) 2005-12-09 2012-03-27 Zt3 Technologies, Inc. Nanowire electronic devices and method for producing the same
US8658880B2 (en) 2005-12-09 2014-02-25 Zt3 Technologies, Inc. Methods of drawing wire arrays
US7767564B2 (en) 2005-12-09 2010-08-03 Zt3 Technologies, Inc. Nanowire electronic devices and method for producing the same
US7915683B2 (en) 2005-12-09 2011-03-29 Zt3 Technologies, Inc. Nanowire electronic devices and method for producing the same
JP2009538533A (ja) * 2006-05-22 2009-11-05 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. 種々の用途にナノワイヤを利用すること
US8390086B2 (en) 2006-05-22 2013-03-05 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Solar cell employing a nanowire
WO2008072479A1 (ja) * 2006-12-13 2008-06-19 Panasonic Corporation ナノワイヤ及びナノワイヤを備える装置並びにそれらの製造方法
US8198622B2 (en) 2006-12-13 2012-06-12 Panasonic Corporation Nanowire, device comprising nanowire, and their production methods
WO2009023148A3 (en) * 2007-08-10 2009-04-16 Zt3 Technologies Inc Nanowire electronic devices and method for producing the same
KR101500785B1 (ko) * 2007-08-10 2015-03-09 제트티쓰리 테크놀로지즈, 인크. 나노와이어 전자 장치 및 그 제조 방법
KR101059486B1 (ko) 2007-09-18 2011-08-25 한국과학기술원 나노 광 검출 소자 및 그 구동방법, 이를 구비한 이미지센서
KR100971716B1 (ko) 2008-01-14 2010-07-21 서울대학교산학협력단 이중 게이트로 조절되는 다이오드 구조를 이용한 발광소자
WO2009091176A3 (ko) * 2008-01-14 2009-11-05 서울대학교산학협력단 이중 게이트로 조절되는 다이오드 구조를 이용하는 발광소자 및 이를 포함하는 반도체 장치
WO2009091176A2 (ko) * 2008-01-14 2009-07-23 Snu R & Db Foundation 이중 게이트로 조절되는 다이오드 구조를 이용하는 발광소자 및 이를 포함하는 반도체 장치
US9272900B2 (en) 2008-01-30 2016-03-01 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Nanostructures and methods of making the same
JP2011514656A (ja) * 2008-01-30 2011-05-06 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. ナノ構造、及び同構造を作成する方法
KR101434238B1 (ko) 2008-01-30 2014-08-26 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피. 나노구조 및 그 형성 방법
JP2011519331A (ja) * 2008-03-24 2011-07-07 ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア 異なる領域を有する複合体ナノロッド
JP2009279750A (ja) * 2008-04-01 2009-12-03 Sharp Corp マルチ機能テープ
WO2009128777A1 (en) * 2008-04-15 2009-10-22 Qunano Ab Nanowire wrap gate devices
JP2011520258A (ja) * 2008-05-05 2011-07-14 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. ナノワイヤベースのフォトダイオード
JP2011529637A (ja) * 2008-07-31 2011-12-08 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. 光信号を増幅、変調及び検出するためのナノワイヤの光学的ブロック・デバイス
KR101510356B1 (ko) * 2008-07-31 2015-04-06 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피. 광학 신호들을 증폭, 변조 및 검출하기 위한 나노-와이어 광학 블록 디바이스들
US8873893B2 (en) 2008-07-31 2014-10-28 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Nano-wire optical block devices for amplifying, modulating, and detecting optical signals
CN102112901A (zh) * 2008-07-31 2011-06-29 惠普开发有限公司 用于放大、调制和检测光信号的纳米线光学块设备
WO2010014099A1 (en) * 2008-07-31 2010-02-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Nano-wire optical block devices for amplifying, modulating, and detecting optical signals
KR101442800B1 (ko) 2008-09-02 2014-09-23 서울대학교산학협력단 이중 게이트로 조절되는 다이오드 구조를 포함하는 반도체 장치
KR101481171B1 (ko) 2008-09-02 2015-01-09 서울대학교산학협력단 이중 게이트로 조절되는 다이오드 구조를 포함하는 반도체 장치
US9304035B2 (en) 2008-09-04 2016-04-05 Zena Technologies, Inc. Vertical waveguides with various functionality on integrated circuits
US9601529B2 (en) 2008-09-04 2017-03-21 Zena Technologies, Inc. Light absorption and filtering properties of vertically oriented semiconductor nano wires
US9515218B2 (en) 2008-09-04 2016-12-06 Zena Technologies, Inc. Vertical pillar structured photovoltaic devices with mirrors and optical claddings
US9429723B2 (en) 2008-09-04 2016-08-30 Zena Technologies, Inc. Optical waveguides in image sensors
US9410843B2 (en) 2008-09-04 2016-08-09 Zena Technologies, Inc. Nanowire arrays comprising fluorescent nanowires and substrate
US9337220B2 (en) 2008-09-04 2016-05-10 Zena Technologies, Inc. Solar blind ultra violet (UV) detector and fabrication methods of the same
US9490283B2 (en) 2009-11-19 2016-11-08 Zena Technologies, Inc. Active pixel sensor with nanowire structured photodetectors
JP2011119586A (ja) * 2009-12-07 2011-06-16 Sharp Corp 棒状構造発光素子、バックライト、照明装置および表示装置
US9263613B2 (en) 2009-12-08 2016-02-16 Zena Technologies, Inc. Nanowire photo-detector grown on a back-side illuminated image sensor
JP2013513253A (ja) * 2009-12-08 2013-04-18 ゼーナ テクノロジーズ,インク. ナノワイヤを有する垂直フォトゲート(vpg)ピクセル構造
JP2015097284A (ja) * 2009-12-08 2015-05-21 ゼーナ テクノロジーズ, インク.Zena Technologies, Inc. ナノワイヤを有する垂直フォトゲート(vpg)ピクセル構造
US9329433B2 (en) 2010-03-12 2016-05-03 Sharp Kabushiki Kaisha Light-emitting device manufacturing method, light-emitting device, lighting device, backlight, liquid-crystal panel, display device, display device manufacturing method, display device drive method and liquid-crystal display device
JP2011211047A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Sharp Corp 表示装置、表示装置の製造方法および表示装置の駆動方法
US9406709B2 (en) 2010-06-22 2016-08-02 President And Fellows Of Harvard College Methods for fabricating and using nanowires
WO2012008253A1 (ja) * 2010-07-14 2012-01-19 シャープ株式会社 微細な物体の配置方法、配列装置、照明装置および表示装置
US9181630B2 (en) 2010-07-14 2015-11-10 Sharp Kabushiki Kaisha Method for disposing fine objects, apparatus for arranging fine objects, illuminating apparatus and display apparatus
US9312333B2 (en) 2010-11-22 2016-04-12 Samsung Electronics Co., Ltd. Resonator having terminals and a method for manufacturing the resonator
US9543458B2 (en) 2010-12-14 2017-01-10 Zena Technologies, Inc. Full color single pixel including doublet or quadruplet Si nanowires for image sensors
JP2014209625A (ja) * 2010-12-14 2014-11-06 ゼーナ テクノロジーズ, インク.Zena Technologies, Inc. イメージセンサ用の2つ組又は4つ組のシリコンナノワイヤを備えるフルカラー単一ピクセル
US9299866B2 (en) 2010-12-30 2016-03-29 Zena Technologies, Inc. Nanowire array based solar energy harvesting device
JP2014518004A (ja) * 2011-04-05 2014-07-24 コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ 半導体構造体上の無触媒選択的成長方法
WO2012140942A1 (ja) * 2011-04-11 2012-10-18 シャープ株式会社 発光装置、発光装置の製造方法、照明装置、バックライトおよび表示装置
JP2012222274A (ja) * 2011-04-13 2012-11-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> ナノピラーの作製方法
JP2013135236A (ja) * 2011-12-22 2013-07-08 Qinghua Univ 太陽電池
JP2014209587A (ja) * 2013-03-15 2014-11-06 ダウ グローバル テクノロジーズ エルエルシー マルチヘテロ接合ナノ粒子、その製造方法および同ナノ粒子を含む物品
US10510924B2 (en) 2013-03-15 2019-12-17 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Multi-heterojunction nanoparticles, methods of manufacture thereof and articles comprising the same
JP2014183316A (ja) * 2013-03-15 2014-09-29 Dow Global Technologies Llc マルチヘテロ接合ナノ粒子、その製造方法および同ナノ粒子を含む物品
US9343490B2 (en) 2013-08-09 2016-05-17 Zena Technologies, Inc. Nanowire structured color filter arrays and fabrication method of the same
US9478685B2 (en) 2014-06-23 2016-10-25 Zena Technologies, Inc. Vertical pillar structured infrared detector and fabrication method for the same
US10063800B2 (en) 2015-12-29 2018-08-28 Korea Electronics Technology Institute Image sensor using nanowire and method of manufacturing the same
KR101834049B1 (ko) * 2015-12-29 2018-04-13 전자부품연구원 나노와이어를 이용한 이미지 센서 및 그의 제조방법
KR102063795B1 (ko) * 2017-10-12 2020-01-09 전자부품연구원 실리콘 나노와이어를 이용한 이미지 센서 및 그 제조방법
JP2019125735A (ja) * 2018-01-18 2019-07-25 日本電信電話株式会社 ナノワイヤ光デバイス

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7795686B2 (en) Semiconductor device using semiconductor nanowire and display apparatus and image pick-up apparatus using the same
JP2007184566A (ja) 半導体ナノワイヤを用いた半導体素子、それを用いた表示装置及び撮像装置
JP4731950B2 (ja) 半導体基板、これを具備した平板表示装置、半導体基板の製造方法、平板表示装置の製造方法
JP4476867B2 (ja) 薄膜トランジスタ,電子装置およびフラットパネルディスプレイ装置
US9793252B2 (en) Method of integrating inorganic light emitting diode with oxide thin film transistor for display applications
JP5060740B2 (ja) 集積回路装置およびその製造方法、ならびに表示装置
JP4885462B2 (ja) ドナーシート、ドナーシートの製造方法、ドナーシートを利用した薄膜トランジスタの製造方法、及びドナーシートを利用した平板表示装置の製造方法
KR101473288B1 (ko) 발광 다이오드 디스플레이 및 그 제조 방법
US11011571B2 (en) Nanowire light emitting switch devices and methods thereof
KR101718067B1 (ko) 발광소자 및 그 제조방법
KR20230038169A (ko) 마이크로 led 표시 패널 및 그 제조 방법
KR20050060080A (ko) 대형 나노 인에이블 매크로전자 기판 및 그 사용
US20060197436A1 (en) ZnO nanotip electrode electroluminescence device on silicon substrate
CN118173571A (zh) 一种led显示单元、显示器及其制造方法
CN1791987A (zh) 可调发光半导体器件
US9601340B2 (en) Electronic device having quantum dots and method of manufacturing the same
CN113241396A (zh) 发光二极管以及包括该发光二极管的显示装置
KR102005447B1 (ko) 나노 구조체 및 이를 포함한 소자
CN111834503B (zh) 一种基于垂直纳米结构的纳米三极发光管
TWI387134B (zh) 發光元件及其製造方法
US20240006554A1 (en) Light-emitting device, display apparatus including the same, and method of manufacturing the same
KR20120073508A (ko) 탄소 웨이퍼를 사용한 접촉식 발광다이오드 및 그 제조 방법
TW202404126A (zh) 發光元件及其製造方法
Nikoobakht et al. Horizontally grown ZnO nanowires and their application in addressable arrays of one-dimensional pn heterojunctions
CN113725315A (zh) 基于Micro-LED的片上传感集成装置

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20080207

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20090324

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20100201

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20100630

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101116

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110117

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110607