JP2007134408A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007134408A
JP2007134408A JP2005323805A JP2005323805A JP2007134408A JP 2007134408 A JP2007134408 A JP 2007134408A JP 2005323805 A JP2005323805 A JP 2005323805A JP 2005323805 A JP2005323805 A JP 2005323805A JP 2007134408 A JP2007134408 A JP 2007134408A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
processing
opening
processing apparatus
processing tank
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005323805A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4545083B2 (ja
Inventor
Tomoaki Aihara
友明 相原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2005323805A priority Critical patent/JP4545083B2/ja
Priority to US11/552,744 priority patent/US20070045161A1/en
Priority to KR1020060107191A priority patent/KR100841826B1/ko
Priority to TW095140523A priority patent/TWI374487B/zh
Priority to CNB2006101436954A priority patent/CN100447947C/zh
Publication of JP2007134408A publication Critical patent/JP2007134408A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4545083B2 publication Critical patent/JP4545083B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/304Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like

Abstract

【課題】乾燥に寄与する空間を小さくすることにより、迅速に乾燥処理雰囲気にすることができ、イソプロピルアルコールの使用効率を高めることができる。
【解決手段】可動板23の下面からイソプロピルアルコールを含んだ窒素ガスが基板Wに流下するので、基板Wの乾燥が促進される。このときイソプロピルアルコールを含んだ窒素ガスが供給されるのは、処理槽1の内部と、開閉機構21とシール板25との間の小さな空間だけでよい。よって、チャンバ11の内部全体を乾燥処理雰囲気とする従来技術に比較して極めて小さな空間を乾燥処理雰囲気とするだけでよいので、空間を迅速に乾燥処理雰囲気とすることができ、イソプロピルアルコールの使用効率を高くできる。
【選択図】図4

Description

本発明は、半導体ウエハや液晶表示装置用のガラス基板(以下、単に基板と称する)等の基板を処理液によって処理する基板処理装置に係り、特に、イソプロピルアルコール等の有機溶剤を含んだ窒素ガス等の不活性ガスを供給して乾燥処理を行う技術に関する。
従来、この種の基板処理装置として、処理液を貯留し、基板を収容して基板に対する処理を行う処理槽と、この処理槽の周囲を囲うチャンバと、基板を支持し、処理槽の内部にあたる処理位置と、処理槽の上方であってチャンバの内部にあたる待機位置とにわたって昇降する昇降支持機構と、チャンバの内部上方に取り付けられ、チャンバ内にイソプロピルアルコールを含んだ窒素ガスを供給するノズルとを備えているものが挙げられる(例えば、特許文献1参照)。
このように構成された装置では、例えば、純水を貯留している処理槽にて基板に対する洗浄処理を行った後、ノズルからイソプロピルアルコールを含んだ窒素ガスを供給してチャンバ内を乾燥処理雰囲気とする。そして、昇降支持機構により基板を処理槽の上方に引き上げ、基板に付着している純水をイソプロピルアルコールで置換して乾燥を促進する。
特開2004−63513号公報(図1)
しかしながら、このような構成を有する従来例の場合には、次のような問題がある。
すなわち、従来の装置は、チャンバ内で基板を昇降させる昇降支持機構がノズルと干渉することを避けるために、チャンバ内の高い位置にノズルを取り付けているので、基板の乾燥に寄与する空間を乾燥処理雰囲気にするのに時間を要するという問題がある。また、乾燥処理雰囲気にする必要がある空間の容量が大きいので、基板の乾燥処理におけるイソプロピルアルコールの使用効率が低いという問題もある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、乾燥に寄与する空間を小さくすることにより、迅速に乾燥処理雰囲気にすることができ、イソプロピルアルコールの使用効率を高めることができる基板処理装置を提供することを目的とする。
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、処理液により基板を処理する基板処理装置において、処理液を貯留し、基板を収容して処理液により基板に対する処理を行う処理槽と、前記処理槽の周囲を囲うチャンバと、基板を支持しつつ、前記処理槽内部の処理位置と、前記チャンバ内における前記処理槽の上方の待機位置とにわたって昇降する昇降支持機構と、前記処理槽の処理液を排出する排出部と、前記処理槽の上部を開閉する開閉機構と、前記開閉機構に設けられ、前記開閉機構が閉止され、かつ前記排出部から処理液を排出させた状態で、前記処理槽内部に向けて有機溶剤を含む不活性ガスを供給する下方ノズルと、を備えていることを特徴とするものである。
[作用・効果]請求項1に記載の発明によれば、開閉機構が閉止され、処理槽内の処理液が排出部から排出された状態で、処理槽の上部に配設された下方ノズルから不活性ガスが供給される。チャンバ内部全体を乾燥処理雰囲気とする従来技術に比較して極めて小さな空間を乾燥処理雰囲気とするだけでよいので、空間を迅速に乾燥処理雰囲気とすることができ、有機溶剤の使用効率を高くすることができる。
また、本発明において、前記開閉機構に設けられ、前記開閉機構が閉止され、かつ前記昇降支持機構を待機位置へ移動させた状態で、待機位置にある基板に向けて有機溶剤を含む不活性ガスを供給する上方ノズルをさらに備えていることが好ましい(請求項2)。待機位置に移動された基板に、さらに上方ノズルから有機溶剤を含んだ不活性ガスを供給するので、乾燥をさらに促進することができる。また、下方ノズルだけでは乾燥しづらい基板の下部を良好に乾燥させることができる。
また、本発明において、前記開閉機構より下方であって、前記処理槽と前記チャンバの内壁との間に設けられ、前記チャンバ内の下部位置を囲うシール板をさらに備えていることが好ましい(請求項3)。不活性ガスが供給される空間を開閉機構より下方にあたるチャンバ下部だけに限定でき、乾燥効率を向上することができる。
また、本発明において、前記開閉機構は、前記処理槽上部に対して開閉可能な一対の板状部材を備え、前記下方ノズルは、前記板状部材内部に形成され、有機溶剤を含む不活性ガスが供給される下方側供給路と、前記板状部材の前記処理槽側に形成され、前記下方側供給路に連通接続された複数の下方側供給口とを備えていることが好ましい(請求項4)。下方側供給路に不活性ガスを供給すると、複数の下方側供給口を通して不活性ガスが供給されるので、基板の上部に対してムラなく均一に供給できる。
また、本発明において、前記板状部材の前記処理槽側に設けられた多孔質部材をさらに備えていることが好ましい(請求項5)。下方側供給路に不活性ガスを供給すると、複数の下方側供給口及び多孔質部材を通して不活性ガスが供給されるので、基板の上部に対してより均一に供給できる。
また、本発明において、前記開閉機構は、前記処理槽上部に対して開閉可能な一対の板状部材を備え、前記上方ノズルは、前記板状部材内部に形成され、有機溶剤を含む不活性ガスが供給される上方側供給路と、前記板状部材の前記処理槽側とは反対側に形成され、前記上方側供給路に連通接続された複数の上方側供給口とを備えていることが好ましい(請求項6)。上方側供給路に不活性ガスを供給すると、複数の上方側供給口を通して不活性ガスが供給されるので、基板の下部に対してムラなく均一に供給できる。
また、本発明において、前記板状部材の前記処理槽側とは反対側に設けられた多孔質部材をさらに備えていることが好ましい(請求項7)。上方側供給路に不活性ガスを供給すると、複数の上方側供給口及び多孔質部材を通して不活性ガスが供給されるので、基板の下部に対してより均一に供給できる。
請求項8に記載の発明は、処理液により基板を処理する基板処理装置において、処理液を貯留し、基板を収容して処理液により基板に対する処理を行う処理槽と、前記処理槽の周囲を囲うチャンバと、基板を支持しつつ、前記処理槽内部の処理位置と、前記チャンバ内における前記処理槽の上方の待機位置とにわたって昇降する昇降支持機構と、前記処理槽の上部を開閉する開閉機構と、前記開閉機構に設けられ、前記開閉機構が閉止され、かつ前記昇降支持機構を待機位置へ移動させた状態で、待機位置にある基板に向けて有機溶剤を含む不活性ガスを供給する上方ノズルと、を備えていることを特徴とするものである。
[作用・効果]請求項8に記載の発明によれば、開閉機構が閉止され、基板を待機位置に移動させた状態で、処理槽の上部に配設された上方ノズルから不活性ガスが供給される。チャンバ内部全体を乾燥処理雰囲気とする従来技術に比較して小さな空間を乾燥処理雰囲気とするだけでよいので、空間を迅速に乾燥処理雰囲気とすることができ、有機溶剤の使用効率を高くすることができる。また、基板に付着している液滴が流下してくる場所にあたる基板の下部は乾燥しづらいが、上方ノズルにより基板の下方から不活性ガスを供給することにより、基板の下部であっても良好に乾燥させることができる。
また、本発明において、前記開閉機構は、前記処理槽上部に対して開閉可能な一対の板状部材を備え、前記上方ノズルは、前記板状部材内部に形成され、有機溶剤を含む不活性ガスが供給される上方側供給路と、前記板状部材の前記処理槽側とは反対側に形成され、前記上方側供給路に連通接続された複数の上方側供給口とを備えていることが好ましく(請求項9)、前記チャンバは、前記昇降支持機構を待機位置へ移動させた状態で、待機位置にある基板に向けて有機溶剤を含む不活性ガスを供給する固定ノズルを備えているが好ましい(請求項10)。
本発明に係る基板処理装置によれば、処理槽内の処理液が排出される際に、処理槽の上部に配設された下方ノズルから処理槽内に不活性ガスが供給される。チャンバ内部全体を乾燥処理雰囲気とする従来技術に比較して極めて小さな空間を乾燥処理雰囲気とするだけでよいので、空間を迅速に乾燥処理雰囲気とすることができ、イソプロピルアルコールの使用効率を高くできる。
以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明する。
図1は、実施例に係る基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。
処理槽1は、処理液を貯留し、基板Wを内部に収容して、基板Wに対して処理液により洗浄、エッチング等の処理を行う。この処理槽1は、内槽3と外槽5とを備えている。内槽3は、底部両側に、処理液を内槽3内へ供給する一対の噴出管7を備え、底部中央に内槽3から処理液を排出するための排出部9を備えている。外槽5は、内槽3から溢れた処理液を回収して排出する。
処理槽1は、その周囲全体がチャンバ11で囲われている。チャンバ11は、その上部開口13がシャッタ15で開閉自在となっている。チャンバ11は、処理槽1の上方に、基板Wが乾燥処理のために一時的に位置される待機位置WPが形成できる内容量と高さを備えている。
昇降支持機構17は、内槽3の内部にあたる処理位置PPと、上記待機位置WPと、チャンバ11の上方にあたる待避位置OPとにわたり、保持部19を昇降移動させる。保持部19は、複数枚の基板Wを起立姿勢で保持する。
処理槽1の上部には、開閉機構21が配設されている。開閉機構21は、一対の可動板23で構成されている。各可動板23は、それぞれ一端辺を軸にして処理槽1の上部に対して開閉自在に構成されている。各可動板23は、一端辺がチャンバ11の内壁近くに配置されているが、チャンバ11内の気体等をある程度流下させる必要があるので、一定の隙間が意図的に設けられ、隙間なく完全に閉塞するものではない。詳細は後述するが、可動板23は、その上下面にノズルを備えている。
上記の開閉機構21より下方であって、処理槽1とチャンバ11の内壁との間には、チャンバ11の下部空間を緩く囲うシール板25が配備されている。シール板25は、チャンバ11内の気体等がある程度流通するのを許容する必要があるので、完全に閉塞する構造ではない。このシール板25があることにより、後述するように、下方に向けて供給される不活性ガスがシール板25より下方の空間に大量に供給されるのが抑制されるので、より有機溶剤であるイソプロピルアルコールの使用効率を向上できる。
上述した噴出管7には、供給管27の一端側が連通接続され、その他端側が純水供給源29に連通接続されている。供給管27には、上流側から、ミキシングバルブ31と制御弁33が配設されている。ミキシングバルブ31は、複数種類の薬液を供給管27に注入し、制御弁33は、供給管27を流通する処理液の流量及びその流通を開閉制御する。
開閉機構21には、第1供給管35の一端側が連通接続され、その他端側が窒素ガス供給源37に連通接続されている。第1供給管35には、副供給管39が連通接続されている。この副供給管39は、イソプロピルアルコール(IPA)供給源41に連通接続されており、副供給管39に配設されている開閉弁43を開放することでイソプロピルアルコールが第1供給管35に注入されて窒素ガスに混合される。副供給管39が第1供給管35に連通されている箇所より上流側には、第1供給管35を流通する窒素ガスの流通を制御する開閉弁45が配設されている。第1供給管35における開閉弁45及び副供給管39の配設箇所よりも上流側の一部位には、第2供給管47が第1供給管35から分岐して設けられている。第2供給管47は、開閉機構21に連通接続されており、流通が開閉弁49で制御される。開閉弁49の下流側にあたる第2供給管47には、上記副供給管39が連通接続されており、開閉弁50によってイソプロピルアルコールの流通が制御される。
チャンバ11の上部には、チャンバ11の内部に窒素ガスまたはイソプロピルアルコールを含んだ窒素ガスを供給するための固定ノズル51が配設されている。固定ノズル51には、第3供給管53の一端側が連通接続され、その他端側が第1供給管35に連通接続されている。その連通箇所は、開閉弁45及び副供給管39の連通箇所より上流である。第3供給管53は、開閉弁55を備えており、開閉弁55の開閉により固定ノズル51からの窒素ガスの供給が制御される。開閉弁55の下流側にあたる第3供給管53には、副供給管39が連通接続されており、開閉弁54によってイソプロピルアルコールの流通が制御される。
次に、図2を参照して、上述した開閉機構21について詳細に説明する。なお、図2は、開閉機構の概略構成を示す縦断面図である。
開閉機構21を構成している一対の可動板23は、板状部材57を備えている。この板状部材57には、内部において処理槽1側には下方側供給路63が形成されているとともに、処理槽1とは反対側には上方側供給路65が形成されている。さらに、この板状部材57には、処理槽1側において下方側供給路63と連通接続された複数の下方側連通口67が形成されているとともに、処理槽1側と反対側において上方側供給路65と連通接続された複数の上方側連通口69が形成されている。
下方側供給路63には、第2供給管47が連通接続され、上方側供給路65には、第1供給管35が連通接続されている。板状部材57の処理槽1側には下方側多孔質部材59が設けられているとともに、処理槽1と反対側には上方側多孔質部材61が設けられている。開閉弁49,50(図1参照)が開放されると、イソプロピルアルコールを含む窒素ガスが第2供給管47から下方側供給路63へ供給され、さらに複数の下方側連通口67から下方側多孔質部材59を通して、下方に向けて噴射される。また、開閉弁43,45(図1参照)が開放されると、イソプロピルアルコールを含む窒素ガスが第1供給管35から上方側供給路65へ供給され、さらに複数の上方側連通口69から上方側多孔質部材61を通して、上方へ向けて噴射される。
なお、下方側供給路63、第2供給管47、下方側連通口67及び下方側多孔質部材59が本発明における下方ノズルに相当し、上方側供給路65、第1供給管35、上方側連通口69及び上方側多孔質部材61が本発明における上方ノズルに相当する。
次に、図3〜6を参照して、上述したように構成されている基板処理装置の動作について説明する。なお、図3〜6は、動作説明に供する図である。
シャッタ15及び開閉機構21が開放され、昇降支持手段17が基板Wを支持した状態で待避位置OPから内槽3内の処理位置PPにまで下降する(図3)。なお、このとき開閉弁55だけが開放され、固定ノズル51から窒素ガスがチャンバ11内に供給されている。窒素ガスによりパージされるチャンバ11内の気体は、シール板25とチャンバ11との隙間等を通り、チャンバ11の底部にある排出部9を通してチャンバ11外へ排出される。基板Wが処理位置PPに移動された後、シャッタ15及び開閉機構21が閉止される。そして、薬液を含む処理液が一対の噴出管7から内槽3に供給されて基板Wに対する所定の処理が行われる。その後、処理液として純水だけが噴出管7から内槽3へ供給され、基板Wに対して純水による洗浄処理が所定時間にわたって行われる。
純水による洗浄処理が終わると、排出部9が開放され、内槽3内の純水が排出部9を通して急速に排出されるとともに、開閉弁49,50が開放される(図4)。すると、イソプロピルアルコールを含んだ窒素ガスが可動板23の板状部材57内の下方側供給路63に供給される。急速排水により、基板Wは純水から露出することになるが、下方側連通口67及び下方側多孔質部材59を通してイソプロピルアルコールを含んだ窒素ガスが基板Wに流下するので、基板Wに付着している純水の液滴がイソプロピルアルコールで置換されて乾燥が促進される。このときイソプロピルアルコールを含んだ窒素ガスが供給されるのは、処理槽1の内部と、開閉機構21とシール板25との間の小さな空間だけでよい。したがって、チャンバ11の内部全体を乾燥処理雰囲気とする従来技術に比較して極めて小さな空間を乾燥処理雰囲気とするだけでよいので、空間を迅速に乾燥処理雰囲気とすることができ、イソプロピルアルコールの使用効率を高くすることができる。
次に、開閉弁49,50を閉止するとともに、開閉機構21を開放し、昇降支持機構17を処理位置PPから待機位置WPまで上昇させる(図5)。次いで、開閉機構21を閉止するとともに、開閉弁43,45を開放する(図6)。すると、イソプロピルアルコールを含んだ窒素ガスが可動板23の板状部材57の上方側供給路65に供給され、イソプロピルアルコールを含んだ窒素ガスが、上方側連通口69及び上方側多孔質部材61を通して待機位置PPにある基板Wの下部に向けて下方から供給される。また、このとき、開閉弁54,55が開放され、イソプロピルアルコールを含んだ窒素ガスが固定ノズル51から待機位置PPにある基板Wの上部に向けて上方から供給される。これにより、基板Wの乾燥をさらに促進することができ、上方からの供給だけでは乾燥しづらい基板Wの下部を良好に乾燥させることができる。
上記のように基板Wを待機位置WPに所定時間だけ待機させた後、開閉弁43,45を閉止するとともに、シャッタ15を開放し、昇降支持機構17により基板Wを待機位置WPから待避位置OPに搬出する。これにより基板Wに対する洗浄及び乾燥処理が完了する。
本発明は、上述した実施形態だけに限定されるものではなく、以下のように変形実施することができる。
(1)開閉機構21には、上方ノズルと下方ノズルの両方を必ずしも備える必要はなく、下方ノズルだけやあるいは上方ノズルだけとしてもよい。上方ノズルだけとした場合には、基板Wを待機位置WPに移動した後に、イソプロピルアルコールを含んだ窒素ガスを供給して乾燥処理を行う。このような構成としても、チャンバ11の内部全体を乾燥処理雰囲気とする従来技術に比較して小さな空間を乾燥処理雰囲気とするだけでよいので、待機位置WPの空間を迅速に乾燥処理雰囲気とすることができ、イソプロピルアルコールの使用効率を高くすることができる。また、基板Wに付着している液滴が流下してくる場所にあたる基板Wの下部は乾燥しづらいが、基板Wの下方から供給する形態とすることにより、基板Wの下部であっても良好に乾燥させることができる
(2)開閉機構21は、閉止時にチャンバ11の下部を閉塞する大きさを備えているが、処理槽1の上部だけを閉塞する大きさとしてもよい。このように構成しても、窒素ガスを供給する空間が処理槽1だけとなり、上記同様の効果を奏する。
(3)イソプロピルアルコールを窒素ガスに混合したガスを供給するようにしているが、窒素ガスとは異なる不活性ガスを採用してもよい。
実施例に係る基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。 開閉機構の概略構成を示す縦断面図である。 動作説明に供する図である。 動作説明に供する図である。 動作説明に供する図である。 動作説明に供する図である。
符号の説明
W … 基板
1 … 処理槽
3 … 内槽
5 … 外槽
9 … 排出部
11 … チャンバ
WP … 待機位置
PP … 処理位置
17 … 昇降支持機構
21 … 開閉機構
23 … 可動板
25 … シール板
35 … 第1供給管
39 … 副供給管
41 … イソプロピルアルコール供給源
47 … 第2供給管
51 … 固定ノズル
59 … 下方側多孔質部材
61 … 上方側多孔質部材


Claims (10)

  1. 処理液により基板を処理する基板処理装置において、
    処理液を貯留し、基板を収容して処理液により基板に対する処理を行う処理槽と、
    前記処理槽の周囲を囲うチャンバと、
    基板を支持しつつ、前記処理槽内部の処理位置と、前記チャンバ内における前記処理槽の上方の待機位置とにわたって昇降する昇降支持機構と、
    前記処理槽の処理液を排出する排出部と、
    前記処理槽の上部を開閉する開閉機構と、
    前記開閉機構に設けられ、前記開閉機構が閉止され、かつ前記排出部から処理液を排出させた状態で、前記処理槽内部に向けて有機溶剤を含む不活性ガスを供給する下方ノズルと、
    を備えていることを特徴とする基板処理装置。
  2. 請求項1に記載の基板処理装置において、
    前記開閉機構に設けられ、前記開閉機構が閉止され、かつ前記昇降支持機構を待機位置へ移動させた状態で、待機位置にある基板に向けて有機溶剤を含む不活性ガスを供給する上方ノズルをさらに備えていることを特徴とする基板処理装置。
  3. 請求項1または2に記載の基板処理装置において、
    前記開閉機構より下方であって、前記処理槽と前記チャンバの内壁との間に設けられ、前記チャンバ内の下部位置を囲うシール板をさらに備えていることを特徴とする基板処理装置。
  4. 請求項1に記載の基板処理装置において、
    前記開閉機構は、前記処理槽上部に対して開閉可能な一対の板状部材を備え、
    前記下方ノズルは、前記板状部材内部に形成され、有機溶剤を含む不活性ガスが供給される下方側供給路と、前記板状部材の前記処理槽側に形成され、前記下方側供給路に連通接続された複数の下方側供給口とを備えていることを特徴とする基板処理装置。
  5. 請求項4に記載の基板処理装置において、
    前記板状部材の前記処理槽側に設けられた多孔質部材をさらに備えていることを特徴とする基板処理装置。
  6. 請求項2に記載の基板処理装置において、
    前記開閉機構は、前記処理槽上部に対して開閉可能な一対の板状部材を備え、
    前記上方ノズルは、前記板状部材内部に形成され、有機溶剤を含む不活性ガスが供給される上方側供給路と、前記板状部材の前記処理槽側とは反対側に形成され、前記上方側供給路に連通接続された複数の上方側供給口とを備えていることを特徴とする基板処理装置。
  7. 請求項6に記載の基板処理装置において、
    前記板状部材の前記処理槽側とは反対側に設けられた多孔質部材をさらに備えていることを特徴とする基板処理装置。
  8. 処理液により基板を処理する基板処理装置において、
    処理液を貯留し、基板を収容して処理液により基板に対する処理を行う処理槽と、
    前記処理槽の周囲を囲うチャンバと、
    基板を支持しつつ、前記処理槽内部の処理位置と、前記チャンバ内における前記処理槽の上方の待機位置とにわたって昇降する昇降支持機構と、
    前記処理槽の上部を開閉する開閉機構と、
    前記開閉機構に設けられ、前記開閉機構が閉止され、かつ前記昇降支持機構を待機位置へ移動させた状態で、待機位置にある基板に向けて有機溶剤を含む不活性ガスを供給する上方ノズルと、
    を備えていることを特徴とする基板処理装置。
  9. 請求項8に記載の基板処理装置において、
    前記開閉機構は、前記処理槽上部に対して開閉可能な一対の板状部材を備え、
    前記上方ノズルは、前記板状部材内部に形成され、有機溶剤を含む不活性ガスが供給される上方側供給路と、前記板状部材の前記処理槽側とは反対側に形成され、前記上方側供給路に連通接続された複数の上方側供給口とを備えていることを特徴とする基板処理装置。
  10. 請求項1から9のいずれかに記載の基板処理装置において、
    前記チャンバは、前記昇降支持機構を待機位置へ移動させた状態で、待機位置にある基板に向けて有機溶剤を含む不活性ガスを供給する固定ノズルを備えていることを特徴とする基板処理装置。

JP2005323805A 2005-08-11 2005-11-08 基板処理装置 Expired - Fee Related JP4545083B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005323805A JP4545083B2 (ja) 2005-11-08 2005-11-08 基板処理装置
US11/552,744 US20070045161A1 (en) 2005-08-11 2006-10-25 Substrate treating apparatus
KR1020060107191A KR100841826B1 (ko) 2005-11-08 2006-11-01 기판처리장치
TW095140523A TWI374487B (en) 2005-11-08 2006-11-02 Substrate treating apparatus
CNB2006101436954A CN100447947C (zh) 2005-11-08 2006-11-08 基板处理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005323805A JP4545083B2 (ja) 2005-11-08 2005-11-08 基板処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007134408A true JP2007134408A (ja) 2007-05-31
JP4545083B2 JP4545083B2 (ja) 2010-09-15

Family

ID=37865631

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005323805A Expired - Fee Related JP4545083B2 (ja) 2005-08-11 2005-11-08 基板処理装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20070045161A1 (ja)
JP (1) JP4545083B2 (ja)
KR (1) KR100841826B1 (ja)
CN (1) CN100447947C (ja)
TW (1) TWI374487B (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI406330B (zh) 2007-09-26 2013-08-21 Dainippon Screen Mfg 基板處理裝置及基板處理方法
CN102610489A (zh) * 2012-03-23 2012-07-25 冠礼控制科技(上海)有限公司 一种有机溶剂薄膜干燥装置
CN103046097B (zh) * 2012-12-31 2016-08-03 上海新阳半导体材料股份有限公司 晶圆处理装置
CN103994637B (zh) 2014-05-22 2016-04-13 京东方科技集团股份有限公司 一种基板干燥装置及基板干燥方法
JP6497587B2 (ja) 2015-08-18 2019-04-10 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置および基板処理方法
CN108682643A (zh) * 2018-06-06 2018-10-19 上海华力微电子有限公司 一种降低干燥槽引起的颗粒杂质的装置
JP7175122B2 (ja) * 2018-08-02 2022-11-18 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、および基板処理方法
JP7241568B2 (ja) * 2019-03-04 2023-03-17 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法および記憶媒体

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH118218A (ja) * 1997-06-17 1999-01-12 Tokyo Electron Ltd 洗浄・乾燥処理方法及びその装置
JP2000005710A (ja) * 1998-06-24 2000-01-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板洗浄装置
JP2001077076A (ja) * 1999-09-06 2001-03-23 Toho Kasei Kk ウェハ乾燥装置用ミスト噴霧装置及びウェハ乾燥装置
JP2005123315A (ja) * 2003-10-15 2005-05-12 Tokyo Electron Ltd 熱処理装置及び熱処理方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2912538B2 (ja) * 1993-12-08 1999-06-28 大日本スクリーン製造株式会社 浸漬型基板処理装置
US5976198A (en) 1995-06-09 1999-11-02 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate transfer and bath apparatus
DE19541436C2 (de) * 1995-11-07 1998-10-08 Steag Micro Tech Gmbh Anlage zur Behandlung von Gegenständen in einem Prozeßtank
JP3343033B2 (ja) 1996-06-28 2002-11-11 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置
US5922138A (en) * 1996-08-12 1999-07-13 Tokyo Electron Limited Liquid treatment method and apparatus
US6413355B1 (en) * 1996-09-27 2002-07-02 Tokyo Electron Limited Apparatus for and method of cleaning objects to be processed
US6050275A (en) * 1996-09-27 2000-04-18 Tokyo Electron Limited Apparatus for and method of cleaning objects to be processed
KR100328797B1 (ko) * 1997-04-14 2002-09-27 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 기판건조장치및기판처리장치
US6354311B1 (en) * 1997-09-10 2002-03-12 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate drying apparatus and substrate processing apparatus
US20020174882A1 (en) * 2001-05-25 2002-11-28 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP2004063513A (ja) * 2002-07-25 2004-02-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体基板の洗浄乾燥方法
JP3560962B1 (ja) * 2003-07-02 2004-09-02 エス・イー・エス株式会社 基板処理法及び基板処理装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH118218A (ja) * 1997-06-17 1999-01-12 Tokyo Electron Ltd 洗浄・乾燥処理方法及びその装置
JP2000005710A (ja) * 1998-06-24 2000-01-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板洗浄装置
JP2001077076A (ja) * 1999-09-06 2001-03-23 Toho Kasei Kk ウェハ乾燥装置用ミスト噴霧装置及びウェハ乾燥装置
JP2005123315A (ja) * 2003-10-15 2005-05-12 Tokyo Electron Ltd 熱処理装置及び熱処理方法

Also Published As

Publication number Publication date
TWI374487B (en) 2012-10-11
US20070045161A1 (en) 2007-03-01
CN1963992A (zh) 2007-05-16
KR100841826B1 (ko) 2008-06-26
TW200807528A (en) 2008-02-01
CN100447947C (zh) 2008-12-31
KR20070049559A (ko) 2007-05-11
JP4545083B2 (ja) 2010-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4545083B2 (ja) 基板処理装置
JP5923300B2 (ja) 基板処理装置および基板処理方法
TW200535920A (en) Substrate processing equipment, substrate processing method, recording medium and software
KR102328464B1 (ko) 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
JP4749173B2 (ja) 基板処理装置
KR102254186B1 (ko) 기판 건조 장치
JP2006310759A (ja) 基板処理装置
US8882961B2 (en) Substrate treatment apparatus
KR102254187B1 (ko) 기판 건조 장치
JP4859703B2 (ja) 基板処理装置
JP4776479B2 (ja) 基板処理装置
KR102232495B1 (ko) 기판 건조 챔버
JP2008251657A (ja) 基板処理装置
KR20220014061A (ko) 기판 건조 챔버
JP4498190B2 (ja) 基板処理装置
KR102210830B1 (ko) 기판 건조 챔버
KR102285672B1 (ko) 기판 건조 챔버
KR102355357B1 (ko) 기판 건조 장치
KR102258986B1 (ko) 기판 건조 챔버
KR20190014319A (ko) 로드락챔버 및 이를 포함하는 기판 처리장치, 기판 처리방법
JP4895861B2 (ja) 基板処理装置
JP4859684B2 (ja) 基板処理装置
KR20220021491A (ko) 기판 건조 장치
JP2008159902A (ja) 基板処理装置
JP5480577B2 (ja) 基板処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071218

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091222

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100114

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100629

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100629

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130709

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4545083

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130709

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130709

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees